可靠性筛选
可靠性环境应力筛选试验
筛选试验是一种对产品进行全数检验的非破坏性试验。
其目的是为选择具有一定特性的产品或剔早期失效的产品，以提高产品的使用可靠性。
产品在制造过程中，由于材料的缺陷，或由于工艺失控，使部分产品出现所谓早期缺陷或故障，这些缺陷或故障若能及早剔除，就可以保证在实际使用时产品的可靠性水平。
可靠性筛选试验的特点是：
A.这种试验不是抽样的，而是100%试验；
B.该试验可以提高合格品的总的可靠性水平，但不能提高产品的固有可靠性，即不能提高每个产品的寿命；
C.不能简单地以筛选淘汰率的高低来评价筛选效果。
淘汰率高，有可能是产品本身的设计、元件、工艺等方面存在严重缺陷，但也有可能是筛选应力强度太高。
淘汰率低，有可能产品缺陷少，但也可能是筛选应力的强度和试验时间不足造成的。
筛选试验可以在元件、器件、连接器等产品或整机系统中进行，根据要求不同可以有不同的应力筛选试验，环境应力筛选的主要试验为：
电应力筛选：加电工作试验、加电加负荷试验
温度应力筛选：高温、低温、高温工作或低温工作
环境应力筛选：温度变化
机械应力筛选：冲击或振动
其他筛选：参数筛选、一致性筛选
筛选试验也可分为普通筛选
参照标准：
MIL-STD-2164-85
GJB1032－90“电子产品环境应力筛选方法”GJB451-90
MIL-STD-721C-81
MIL-STD-785B-80。
市场调研中的样本筛选技巧如何确保调研结果的可靠性
市场调研中的样本筛选技巧如何确保调研结果的可靠性市场调研是企业制定战略和决策的重要依据之一。
在进行市场调研时，合理的样本筛选技巧能够确保调研结果的可靠性。
本文将介绍几种常用的样本筛选技巧，并分析它们对调研结果的意义和影响。
一、随机抽样随机抽样是一种常用的样本筛选技巧。
它可以通过随机选择调研对象，使得样本具有代表性。
例如，对于某种产品的市场调研，可以在全国范围内随机选择一定数量的消费者进行调查。
通过随机抽样，可以尽可能地避免调研结果的主观偏差，提高调研结果的可靠性。
二、分层抽样分层抽样是一种根据样本的特点进行筛选的技巧。
在市场调研中，不同的样本可能具有不同的特征和需求。
通过分层抽样，可以将样本按照一定的特征进行分类，然后在每个分类中进行抽样。
例如，对于某种化妆品品牌的市场调研，可以根据不同的年龄段和地域进行分层抽样，以获取更准确的需求和偏好信息。
三、配额抽样配额抽样是一种根据特定要求进行样本分配的技巧。
在市场调研中，可能存在一些特定的要求，如性别比例、年龄分布等。
通过配额抽样，可以在样本中按照一定的比例进行分配，以满足这些要求。
例如，对于某种服装品牌的市场调研，可以根据男女比例和不同年龄段的比例进行配额抽样，以获取更全面的消费者需求。
四、样本容量的确定样本容量是指进行市场调研时需要选择的样本数量。
样本容量的确定对调研结果的可靠性至关重要。
一方面，如果样本容量太小，可能无法覆盖全面的样本特征，导致调研结果的局限性；另一方面，如果样本容量太大，不仅会增加调研的成本，还可能造成无谓的浪费。
因此，在确定样本容量时，需要综合考虑样本的代表性、调研的精确度和成本的控制等因素。
五、质量控制在进行市场调研时，质量控制是确保调研结果可靠性的关键环节。
质量控制包括调研人员的培训、问卷的设计和调研过程的监督等。
调研人员需要具备专业的知识和技能，能够准确地收集和记录数据。
问卷设计需要简洁明了，并避免语义歧义。
调研过程需要进行监督和检查，确保调研结果的真实性和准确性。
如何评估和筛选可靠的参考文献
如何评估和筛选可靠的参考文献参考文献在学术研究和论文写作中扮演着至关重要的角色。
在进行研究过程中，评估和筛选可靠的参考文献是确保研究成果准确性和可信度的关键步骤。
本文将介绍一些常用的评估和筛选参考文献的方法和技巧。
一、确定来源的可靠性在评估和筛选参考文献时，首先要确保来源的可靠性。
以下几个要素可以帮助你确定一篇文献的来源是否可靠：1.作者资质：了解文献作者的背景和专业资质，确定他们是否具备研究该领域的资格和能力。
2.期刊声誉：查阅文献发表的期刊的排名和影响因子等指标，了解期刊在该领域的学术地位和影响力。
3.学术机构背景：了解文献作者所在的学术机构是否受到广泛认可，并具备较高的研究实力。
4.文献引用：查阅该文献被其他学者引用的情况，引用次数多且被广泛引用的文献往往具有一定的可靠性和重要性。
二、检查研究方法和数据来源评估文献可靠性的另一个重要方面是检查研究方法和数据来源。
以下几个要素可以帮助你了解一篇文献的研究方法和数据来源的可靠性：1.研究设计：了解文献所采用的研究设计，例如实验、调查、观察等，判断该设计是否科学且可靠。
2.样本规模：了解文献所使用的样本规模大小，并判断其是否足够代表总体，以及是否具备一定的统计学意义。
3.数据收集方法：了解文献中所描述的数据收集方法和工具，确保数据的收集过程严谨可靠。
4.数据分析方法：了解文献中所采用的数据分析方法，判断其是否与研究问题相匹配，并且常用的分析方法是否正确应用。
三、评估研究结果和结论最后一个步骤是评估文献中的研究结果和结论的可靠性。
以下几个要素可以帮助你进行评估：1.数据一致性：检查文献中的数据和结果是否一致，是否与研究问题相符合。
2.结论合理性：评估文献中的结论是否具备逻辑合理性，是否能够回答研究问题。
3.结论支持：检查文献中是否提供了足够的证据和数据来支持其结论，是否考虑了其他可能的解释和变量。
4.学术讨论：评估文献中是否有深入的学术讨论，是否引用了其他相关的研究，并对其进行了综合分析。
第五章-可靠性筛选试验
• 可靠性筛选的目的和意义 • 可靠性筛选的特点 • 可靠性筛选的分类 • 可靠性筛选条件的选择 • 常用的筛选方法及其效果 • 筛选试验技术
可靠性筛选的目的和意义
可靠性筛选目的：就是设法在一批元器件中剔除 那些由于原材料、设备、工艺等 (包括人的因素) 方面潜在的不良因素所造成的有缺陷元器件— —早期失效元器件，而把具有一定特性的合格 元器件挑选出来。
②筛选工作应在质量验收合格后才能进行。 ③筛选工作要有适当的标准，应该根据产品的需要规定合格或被淘
汰的标准，要特别注意避免“合格不合用”的现象发生。 ④可靠性筛选与性能分挡应区别开来 ⑤筛选要有针对性 ⑥加强筛选工作的管理，要特别强调筛选的工作质量。 ⑦要加强筛选工作的数据统计和分析工作 ⑧对筛选工作人员一定要加强可靠性筛选理论和方法的培训与教育，
• 丁级：适用于一般民用设备所用的电子元器件
常用的筛选方法
• 镜检筛选 • 红外线筛选 • X射线筛选 • 密封性筛选 • 高温储存筛选 • 功率老化筛选 • 温度循环和热冲击筛选 • 离心加速度筛选 • 监控振动和冲击 • 精密筛选
镜检筛选
• 定义：产品在封装以前用显微镜检查。 • 特点：无损筛选 • 设备：30—150x立体显微镜
同时加强工作人员的责任心教育，提高工作人员的质量意识与技 术业务水平。
可靠性筛选意义：一批元器件由于通过筛选剔除 了早期失效的产品，就可提高该批产品的可靠 性水平。在正常情况下，失效率可以降低半个 到一个数量级，个别的甚至可降低两个数量级。
可靠性筛选的特点
• 无论是电子元器件，还是电子设备，其失效机理在产品制造出来 以后就已经固定。所以，可靠性筛选不能改变其失效机理，不能 改变单个产品的固有可靠性水平。但是，通过筛选，可剔除早期 失效产品，从而提高成批产品总体的可靠性水平。或者说，筛选 不能 提高产品的固有可靠性，只能提高产品的使用可靠性。
电子元器件可靠性老化筛选规定
电子产品及元器件可靠性老化筛选规定1 范围为了规范电子产品及元器件可靠性老化筛选符合产品设计要求特制订本企业标准。
本标准规定了电子产品高温老化试验及外购电子元器件进厂后，进行可靠性老化筛选的项目、条件及筛选后的检查、处理。
剔除早期失效的器件，提高产品的可靠性。
本标准适用于所有装有电子元器件的产品，除非产品另有规定。
2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款。
凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本规范。
然而鼓励根据本规范达成协议的各方研究是否使用这些文件的最新版本。
凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本规范。
GB/T 2828-87 抽样检验标准3 老化筛选项目及条件3.1 半导体器件、集成电路低温贮存：非工作状态下，将器件贮存在温度一25± 3C的低温箱中，保持4h，常温下测试电参数。
高温贮存：非工作状态下，将器件贮存在温度+ 125± 3C的高温箱中，保持4h，常温下测试电参数。
3.2 继电器低温运行：将继电器置于温度一25± 3C的低温箱中，保持 1 h,通电工作后测量低温下的释放电压，然后在此低温下，触点回路中加阻性负载，以（2〜5）次/s的速率动作200次后，检测每对触点的接触电压或接触电阻。
高温运行。
将继电器置于温度+ 70± 3C的高温箱中，保持 1 h,通电工作后测量高温下的释放电压，然后在此温度下触点回路中加阻性负载，以（2〜5）次/s的速率动作200次后，检测每对触点的接触电压或接触电阻。
注：以上筛选设备条件如暂时不具备时，可由工艺人员根据现有设备条件实施。
4 筛选检查4.1 文件编制元器件老化筛选由工艺人员编制筛选工艺，规定老化筛选程序、使用设备、测量仪器、工艺装置及操作、检测方法和要求。
4.2 检验种类对进行老化的元器件实行全检。
4.3 检验电性能的项目4.3.1 电阻器4.3.1.1 电阻器的额定功率2006-07-08 发布2006-07-28 实施1 ° 颜色标志及代表意义第一色圈代 表有效数字第二色圈 代表有效 数字第三色圈代 表乘数第四色圈代 表允许偏差第五色圈代表需要时 作第三位有效数字黑 0 0 10° / 0 棕 1 1101 +1% 1 红 22102 + 2% 2 橙 3 3 103 / 3 黄 4 4 104 / 4 绿 5 5 105 / 5 蓝 6 6 106 / 6 紫 7 7107 / 7 灰 8 8108 / 8 口 9 9 109 / 9 金色 / / 101+ 5% / 银色 / / 10-2 + 10% / 无色///+ 20%/示图倍允率差4.3.1.4电阻器允许偏差的标志符号 电阻器允许偏差的标志符号见表3。
可靠性筛选试验课件ppt
二、目的 设法在一批元器件中剔除那些由于原 材料、设备、工艺等（包括人的因素） 方面潜在的不良因素的所有缺陷元器 件——早期失效元器件，而把具有一 定特性的合格元器件挑选出来。
三、特点
可靠性筛选试验具有以下特点： （1）可靠性筛选主要考虑将来在使用中产品 是否也能符合规定的要求。因此，要对经质 量检验合格的产品施加适当应力，后再结合 有关的检验标准加以检测，判断好坏； （2）筛选试验是一种非破坏性试验，是一 个挑选过程，对产品进行100%的筛选检查； （3）不应影响整批产品失效机理和失效分布；
（4）对于可靠性要求较高的产品，还要检测和记录筛选前后 参数的变化，并根据它决定取舍和分级使用，及时发现并剔除 一些参数发生变化有“隐患”的产品； （5）对单个产品来说，可靠性筛选试验不能提高其可靠性， 相反，若筛选项目和所用的“应力”水平选择不当，还会使 单个产品的可靠性降低，同时，对于生产部门来说，可靠性筛 选试验好要付一定的代价（成品率降低、成本增加、生产周期 加长等），但由于通过可靠性筛选试验剔除了整批产品中的 早期失效产品，因此可提高整批产品的可靠性；
尽可能多的剔除早期失效元件，要求 具有早期失效的元器件寿命T≥ t S 的概率为 P{T≥ t S}=α，试中的α为给定的小数，对于 特殊要求的器件α可以更小。
（2）计算样本均值 t 及方差 S 通过可靠性筛选摸底试验，得出n个早期失效的元 件故障时间 t 1 ， t ，… t n ，由此计算样本均值及样 本方差为
可靠性试验 - 分类方法
1. 如以环境条件来划分,可分为包括各种应力条件下 的模拟试验和现场试验； 2. 以试验项目划分，可分为 环境试验、 寿命试验、 加速试验和各种特殊试验； 3. 若按试验目的来划分，则可分为筛选试验、鉴定 试验和验收试验； 4. 若按试验性质来划分，也可分为破坏性试验和非 破坏性试验两大类。 5. 但通常惯用的分类法，是把它归纳为五大类: A. 环境试验 B. 寿命试验 C. 筛选试验 D. 现场使用试验 E. 鉴定试验
电子元器件可靠性老化筛选规定
电子产品及元器件可靠性老化筛选规定1范围为了规范电子产品及元器件可靠性老化筛选符合产品设计要求特制订本企业标准。
本标准规定了电子产品高温老化试验及外购电子元器件进厂后，进行可靠性老化筛选的项目、条件及筛选后的检查、处理。
剔除早期失效的器件，提高产品的可靠性。
本标准适用于所有装有电子元器件的产品，除非产品另有规定。
2规范性引用文件下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款。
凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本规范。
然而鼓励根据本规范达成协议的各方研究是否使用这些文件的最新版本。
凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本规范。
GB/T 2828-87 抽样检验标准3老化筛选项目及条件3.1 半导体器件、集成电路低温贮存：非工作状态下，将器件贮存在温度－25±3℃的低温箱中，保持4h，常温下测试电参数。
高温贮存：非工作状态下，将器件贮存在温度＋125±3℃的高温箱中，保持4h，常温下测试电参数。
3.2 继电器低温运行：将继电器置于温度－25±3℃的低温箱中，保持1h，通电工作后测量低温下的释放电压，然后在此低温下，触点回路中加阻性负载，以(2～5)次/s的速率动作200次后，检测每对触点的接触电压或接触电阻。
高温运行。
将继电器置于温度＋70±3℃的高温箱中，保持1h，通电工作后测量高温下的释放电压，然后在此温度下触点回路中加阻性负载，以(2～5)次/s的速率动作200次后，检测每对触点的接触电压或接触电阻。
注: 以上筛选设备条件如暂时不具备时，可由工艺人员根据现有设备条件实施。
4筛选检查4.1 文件编制元器件老化筛选由工艺人员编制筛选工艺，规定老化筛选程序、使用设备、测量仪器、工艺装置及操作、检测方法和要求。
4.2 检验种类对进行老化的元器件实行全检。
4.3 检验电性能的项目4.3.1 电阻器4.3.1.1 电阻器的额定功率电阻器的额定功率系指电阻器在直流或交流电路中，当大气压力为750±30mmHg ，在产品标准中规定的温度下，长期连续负荷所允许消耗的最大功率。
第八章 可靠性试验
解： ①求F(t) 累积失效概率
查表8-1得： F ( t ) = 28%
②求投入试验的样品数
可靠性设计
>20
应投入试验的样品数为71个。
3、产品寿命试验的截止时间 • 截止时间与样品数及希望达到的失效数有关：
试验时间： ln n
n 1
• 截止时间与产品累积失效概率有关
ti
ln 1
1F(ti)
可靠性设计
可靠性设计
4、寿命试验和加速寿命试验 寿命实验是评价分析产品寿命特征的试验。通过寿
命试验可以获得失效率、平均寿命等可靠性特征量。
模仿正常工作应力进行的寿命试验，需要较长的时间，代价很高。
加速寿命试验就是在不改变产品失效机理、不引 入新的失效因子的前提下，提高试验应力，加速产品 失效进程，再根据加速试验结果，预计正常应力下的 产品寿命。
可靠性设计
（2）产品研制定型中，进行可靠性鉴定 判断产品的设计和生产工艺是否符合可靠性要求，
确定能否进行批量生产。 （3）产品的生产过程中控制产品的质量
可靠性设计
8.1 可靠性试验分类及方法
一、可靠性试验的分类
按试验项目
筛选试验
环境试验
可靠性提高试验
可靠性增长试验
寿命试验（可靠性的评价试验）
1、可靠性筛选试验
通过实验结果对故障特征机理进行分析，找出改 进措施，进一步提高产品可靠性。使产品可靠性接近 设计规定固有可靠性水平。
（1）环境条件 气候环境条件 温 湿 气 风 雨 雪 水 露 霜 沙 盐 油游离等
度度压
雪 尘 雾 雾气体
机械环境条件
可靠性设计
振 冲 离 碰 跌 摇 静 失 声 爆 冲等
动击心撞落摆力重振炸击 辐射条件
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9.4-9.5 筛选方法及方案的设计
1.筛选项目的的确定 半导体集成电路:GJB548 半导体分立器件:GJB33 常用元件
2.筛选应力强度的确定
3.筛选参数的确定 4.电参数测量周期的确定 5.筛选判据的确定 合格/不合格判据,参数漂移极限判据
9.6 筛选效果的评价Fra bibliotek1.筛选剔除率Q
Q
n 100 % N
第九章 可靠性筛选
9.1 可靠性筛选的定义与目的 定义：为选择具有一定特性的产品或剔除早期 失效的产品而进行的一系列检查和试验。 目的：一是把符合要求的产品挑出来； 二是剔除早期失效的产品。
9.2 可靠性筛选的特点
①对于不存在缺陷而性能良好的产品来说是一种非破坏性试验，而对于有潜在缺陷 的产品来说应能诱发其失效。 ②可靠性筛选是100%的试验，而不是抽样检验。经过筛选试验，对批产品不应增加 新的失效模式和机理、
0.6
ln(e V ) N
3
9.7 特殊使用条件下的筛选
•二次筛选 元器件的筛选分为“一次筛选”和“二次筛选”。交付用户按元器件产品规 范进行的筛选为“一次筛选”。使用方在采购以后根据使用所进行的再次筛 选为“二次筛选”(补充筛选)。 目的：使用方通过检查或试验来挑选出满足使用方要求的元器件
③可靠性筛选不能提高产品的固有可靠性，但它可以提高批产品的可靠性。
④可靠性筛选一般由多个可靠性试验项目组成。
常见组成：显微检查、颗粒碰撞噪声检测、高温贮存、温度循环、功率老炼、电性 能测试及密封性试验等。
9.3 可靠性筛选的分类
常规筛选
显微镜检查筛选 红外线检查筛选 ①检查筛选 颗粒碰撞噪声检测 X射线检查筛选
PDA的实施步骤有四个： 1、 确定控制点。
先选定某一实验项目为进行PDA控制的试验 项目，则该试验项目称为PDA控制点。
2、确定控制值即PDA值。
元器件批允许不及格率的值。
3、计算批缺陷率p1值。 经规定的控制点筛选后，定义是效率p1： p1=r1/N 式中，N为在该控制点参加该试验项目筛选 的器件总数，r1为失效数。 4、比较p1与PDA 如果p1大于PDA，则该批拒收；如果p1小于 PDA，则通过该试验。
9.7.2 升级筛选 9.7.2.1 升级筛选的定义及必要性 定义： 将原来处于一定质量等级的元器件，通过一 系列的筛选试验，使它应用于高于其质量 等级的应用中。
必要性： 最初塑封器件的设计宗旨是面向易于进行设备维修 和替换的良好的应用环境，而非针对严酷工作环 境的军用特别是航空、航天的高可靠应用领域， 加之塑封条件的本质特征，仍存在潮气容易侵入、 耐温度性能差等可靠性问题，用户能以了解有关 塑封的可靠性特征，因此，在将塑封器件应用于 航空航天领域时，应采取有效的可靠性保证手段， 升级筛选就是其中之一。
9.7.2.2 塑封微电路升级筛选项目与程序 塑封装微电路（PEM）经升级筛选后可 以应用在较高的风险级别项目中—— 如NASA-GSFC工程项目。
NASA-GSFC工程项目定义了三个风险级别。 一级风险、二级风险、三级风险。
9.7.2.3 升级筛选与元器件的质量等级
升级筛选并不能提高元器件个体的质量等级。 它是解决低质量等级的元器件用于高可靠 性领域的一种可靠性保证手段。
•升级筛选
定义：所谓升级筛选是指将原来处于一定质量等级的元器件，通过一系列的筛选试 验，使它应用于高于其质量等级的应用中。
9.7.1 二次筛选 9.7.1.1 二次筛选的目的
目的：
使用方通过检查或试验来挑选出满足使 用方要求的器件。
9.7.1.2 二次筛选的试验项目和程序
确定筛选项目先后顺序的原则：
1、 费用低的试验项目应排在较前。 2、恒定加速度、PIND、老炼，这是国 外的排列顺序。 3、安排在前的筛选项目应有利于元器 件在后一个筛选项目中暴露其缺陷。 4、密封和最终电测试两项试验谁先谁 后，需要慎重考虑。
9.7.1.3 二次筛选中PDA控制
PDA（Percent Defective Allowable）：“批 允许不及格率”，即为元器件检验批经受 规定的二次筛选试验后，接受该批时所允 许的不及格品的最大百分比。
n s 100% n
筛选前产品失效率
n
s
筛选后产品失效率
4.筛选度—产品存在对某一特定筛选敏感的潜在缺陷时,该筛选将该缺陷以失效形 式析出的概率
上限温度(Tu)、下限温度（TL）、变化速率（V）、上限温度保温时间 （tu）、下限温度保温时间（tL）、循环次数（N）
SS 1 exp 0.0017 ( R 0.6)
常温老炼 ③老炼筛选 高温老炼
液浸检漏筛选 ②密封性筛选氦质谱检漏筛选 放射性示踪检漏筛选
振动加速度筛选 机械冲击筛选 恒定加速度筛选 ④环境应力筛选 温度循环筛选 热冲击筛选 高温贮存筛选 低温贮存筛选
特殊环境筛选
抗辐射筛选、冷热超高真空筛选、盐雾筛选、霉菌筛选和油雾筛选等
n 为被剔除的产品数,N为参加筛选的产品总数.
在有可靠性的产品标准中规定剔除率Q上限值 2.筛选效率
r nr 1 R N R
n为通过筛选被剔除的产品数;N为参与筛选试验的产品总数;R为受试样 品中所含早期失效产品数;r为被剔除样品中所含早期失效产品数 3.筛选效果