晶体光学实验指导书
晶体光学实验报告例文
一、实验目的1. 了解晶体光学的基本原理和实验方法。
2. 掌握晶体光学性质的测量方法，包括折射率、双折射率、光吸收等。
3. 通过实验，加深对晶体光学性质的理解，提高分析问题和解决问题的能力。
二、实验原理晶体光学性质是指晶体对光传播、折射、反射、吸收等现象的影响。
晶体具有各向异性，即在不同方向上的光学性质不同。
本实验主要研究晶体对光的折射、双折射和光吸收等性质。
三、实验仪器与材料1. 实验仪器：折射仪、双折射仪、光吸收仪、光学显微镜、光栅、光源等。
2. 实验材料：各种晶体样品、滤光片、透镜等。
四、实验步骤1. 折射率的测量（1）将晶体样品放在折射仪的样品台上，调整样品台，使晶体表面与折射仪的光束垂直。
（2）打开光源，调整光束，使其通过晶体样品。
（3）观察折射仪的读数，记录晶体的折射率。
2. 双折射率的测量（1）将晶体样品放在双折射仪的样品台上，调整样品台，使晶体表面与光束垂直。
（2）打开光源，调整光束，使其通过晶体样品。
（3）观察双折射仪的读数，记录晶体的双折射率。
3. 光吸收的测量（1）将晶体样品放在光吸收仪的样品台上，调整样品台，使晶体表面与光束垂直。
（2）打开光源，调整光束，使其通过晶体样品。
（3）观察光吸收仪的读数，记录晶体的光吸收系数。
4. 晶体光学性质的观测分析（1）使用光学显微镜观察晶体样品的形态、结构等特征。
（2）根据实验数据，分析晶体的光学性质，如折射率、双折射率、光吸收等。
五、实验结果与分析1. 折射率的测量结果：实验测得晶体样品的折射率为n = 1.532。
2. 双折射率的测量结果：实验测得晶体样品的双折射率为δ = 0.018。
3. 光吸收的测量结果：实验测得晶体样品的光吸收系数为α = 0.002。
4. 晶体光学性质的观测分析：通过光学显微镜观察，发现晶体样品具有明显的双折射现象，说明晶体具有各向异性。
结合实验数据，分析晶体样品的光学性质，得出以下结论：（1）晶体样品的折射率较高，有利于光的聚焦和传播。
晶体光学实验报告_详解(3篇)
第1篇实验名称：晶体光学性质观测分析实验日期：2023年11月10日实验地点：实验室晶体光学实验室一、实验目的1. 熟悉单轴晶体光学性质，包括晶体的消光现象、干涉色级序等。
2. 了解偏光显微镜原理，并掌握其使用方法。
3. 观察晶体的类别、轴向和光性正负等特征，估计晶片的光程差。
4. 通过实验加深对晶体光学性质的理解，为后续相关研究打下基础。
二、实验原理晶体光学性质是指晶体对光的传播、反射、折射等过程所表现出的特殊性质。
晶体中的原子、离子或分子按照一定的规律排列，形成周期性结构，导致光在晶体中传播时，表现出各向异性。
本实验通过观测和分析晶体光学性质，了解晶体内部结构对光传播的影响。
三、实验仪器与材料1. 仪器：偏光显微镜、光源、起偏器、检偏器、物镜、目镜、载物台、旋转台、光源控制器等。
2. 材料：各种晶体样品（如石英、方解石、云母等）。
四、实验步骤1. 准备工作：将晶体样品放置在载物台上，调整光源和显微镜的焦距，确保能够清晰地观察到样品。
2. 起偏器调节：将起偏器放置在显微镜的光路上，调整起偏器的角度，观察样品在不同偏振方向下的光学现象。
3. 观察消光现象：在起偏器固定位置下，旋转样品，观察消光现象。
记录消光位置，分析晶体的消光规律。
4. 观察干涉色级序：调整起偏器和检偏器的角度，观察样品在不同干涉级序下的颜色变化，记录干涉色级序。
5. 观察晶体类别、轴向和光性正负：通过偏光显微镜观察样品的晶面、晶轴和光性，记录观察结果。
6. 光程差测量：利用偏光显微镜测量晶片的光程差，计算晶片的光学厚度。
五、实验结果与分析1. 消光现象：在实验过程中，观察到晶体样品在不同偏振方向下呈现出消光现象。
根据消光位置，分析出样品的消光规律，进一步了解晶体内部结构。
2. 干涉色级序：在调整起偏器和检偏器角度的过程中，观察到样品在不同干涉级序下呈现出不同的颜色。
根据干涉色级序，分析出样品的光学性质。
3. 晶体类别、轴向和光性正负：通过偏光显微镜观察，确定了样品的晶体类别、轴向和光性正负。
晶体光学实验指导书
实验一偏光显微镜的调节和校正；解理的观察一.目的要求1．了解偏光显微镜的主要构造，装置，使用和保养方法。
2．学会偏光显微镜的一般调节和校正。
3．认识解理等级，测定解理夹角。
二.实验内容1．偏光显微镜的调节与校正1）调节照明2）调节焦距必须记住：通过下降物台来对焦．．．．．．．．．。
3）校正中心4）下偏光镜振动方向的确定和校正在单偏光镜下，找一具极完全解理的黑云母（12号薄片），置于视域中心。
转动物台，黑云母颜色最深时，黑云母解理缝方向为下偏光镜振动方向。
如黑云母颜色最深时，解理缝方向与十字丝横丝不平行，表明横丝未与下偏光镜振动方向一致。
转动物台，使黑云母解理缝平行横丝，然后转动下偏光镜，直至黑云母颜色最深。
此时，十字丝横丝与下偏光振动方向一致。
2．解理的观察1）解理的完全程度（1）极完全解理：解理缝细，密，长，且往往贯通整个晶体。
如云母类矿物。
（2）完全解理：解理缝之间的间距较宽，一般不完全连续。
如辉石类和角闪石类矿物。
（3）不完全解理：解理缝断断续续，有时仅见解理缝痕迹。
如橄榄石。
2）解理的组数和夹角黑云母一组（001）极完全解理。
普通角闪石和普通辉石（110）和（110）二组完全解理（解理夹角56°和87°）。
并测定普通角闪石两组解理的夹角。
方解石{1011}三组完全解理（解理夹角75°）。
实验二突起等级和多色性的观察一. 目的要求1．观察突起等级，认识不同等级突起的特征。
2．认识贝克线，学会利用贝克线移动规律，确定相邻两物质折射率的相对大小，确定突起正负。
3．观察造岩矿物的颜色，多色性与吸收性。
二. 实验内容1．比较普通辉石（高正突起）和斜长石（拉长石—正低突起）的边缘，糙面特征及突起高低（6号薄片）。
萤石的负高突起（25号薄片）。
观察贝克线移动规律。
2．观察方解石（30号大理岩薄片）的闪突起现象。
3．观察电气石的多色性，提交实验报告（写出多色性公式和吸收性公式，并绘出示意图）。
光学实验指导书
实验一 迈克耳逊干涉仪实验【目的与要求】1、了解迈克耳逊干涉仪的结构和工作原理，掌握其调整方法；调出非定域干涉等倾干涉、等厚干涉和白光干涉条纹。
2、 明确几种条纹的形成条件、花纹特点、变化规律及相互间的区别，加深对干涉理论的理解。
3、用迈克耳逊干涉仪测量气体折射率。
【仪器用具】迈克耳逊干涉仪，He-Ne 激光器及其电源，扩束透镜，小孔光栅、白帜灯，毛玻璃，小气室，打气皮囊，气压表。
【实验原理】一、M-干涉仪的光路M -干涉仪是一种分振幅双光束的干涉仪，它的光路如图1-1。
光源S 发出的一束照射到分光板G 1上，G 1板的后面镀有半反射膜，一般镀银，这个半反半透分成相互垂直的反射光束1和透射光束2，两者强度接近相等，此板称为分束板。
当激光束以45o 角射向G 1时，它被分为相互垂直两束光，这两束光分别垂直射到平面镜M 1和M 2上，再经M 1和M 2所反射各自沿原路返回到G 1的半反射膜上，又重新会集成一束光。
由于反射光1和透过光2为2两相干涉光束，因此我们可以在E 方向观测到干涉条纹。
Ｇ2为一补偿板，其物理性能与几何形状皆与Ｇ1全同的补偿作用（但是不镀膜），Ｇ1与Ｇ2平行，Ｇ2的作用是保证1、2两束光在玻璃中的光程完全相等。
反射镜M 2是固定不动的，M 1可在精密导轨上前后移动，从而改变1、2两束光之间的光程差。
精密导轨与Ｇ1成45o角。
为了使光束1与导轨平行，激光应垂直导轨方向射向M -干涉仪。
二、干涉花纹的图样图1-1中'2M 是2M 被1G 反射所成的虚像，从观察者看来，两相干光束是从1M 和'2M 反射而来，因此，我们把干涉仪产生的干涉等效为1M 、'2M 间的空气膜所产生的干涉来进行研究。
1、点光源照明----非定域干涉条纹激光通过短焦距透镜会聚后是一个强度很高的点光源S ，它发出的球面光波照射M-干涉仪，经Ｇ1分束及M 1，M 2反射后射向屏E 的光（参看图1-2）可以看成是由虚光源S 1、'2S 发出的。
晶体检验作业指导书RevB
晶体检验作业指导书RevBArk-LeCORPORATION(CHINA)Page1of2作业指导书:WI-5028发出日期:审核日期:09/02/2004版次:B编写人:TerryWu批准:晶体检验作业指导书1.目的和范围确定晶体检查步骤及方法，指导检验员进行晶体来料的品质检查。
具体检验项目参考《来料检验记录》。
2.定义:2.1不合格品:凡是不符合产品图纸、工艺文件和技术标准的产品、无任何标识的产品。
2.2AQL:可接收的质量水平。
2.3PlanC=0:零缺陷(样本经检验后是零缺陷方可接收)。
2.5SCAR:针对安联公司内部产生不合格品时，要求责任部门采取纠正预防措施的报告。
2.5ICAR:针对安联公司供应商产生不合格品时，要求供应商采取纠正预防措施的报告。
2.6NCS:异常通知单，用来报告不合格品的表格，同时请求处置和纠正预防措施。
3.职责3.1来料品质检查员负责抽样检验，鉴别产品是否符合品质标准要求。
3.2质量工程师根据异常通知单所反馈来料不良情况,确定处理意见。
4.授权4.1质保经理5.程序5.1目检：检查项目外观内容和要求1、引脚平直无脏污、生锈、氧化。
2、标识清晰，正确。
5.2引脚可焊性试验：方法为引脚上助焊剂，放入小锡炉(温度为235±10°C）3秒钟后拿出，引脚上锡覆盖面应大于95%以上。
若上锡后引脚表面有小气泡,或焊锡轻易剥落,为上锡不良，属严重缺陷。
5.3功能检测：1.如是陶瓷晶体用频率计数器测量振荡频率，应在规格要求内或与样板一致（与样板误差0.005MHZ);Ark-LeCORPORATION(CHINA)Page2of2作业指导书:WI-5028发出日期:审核日期:09/02/2004版次:B编写人:TerryWu批准:晶体检验作业指导书2.如是石英晶体,应用晶体测试仪测量其频率,串联谐振电阻静电容是否符合要求。
5.3功能检测：1.如是陶瓷晶体用频率计数器测量振荡频率，应在规格要求内或与样板一致(与样板误差0.005MHZ);2.如是石英晶体,应用晶体测试仪测量其频率,串联谐振电阻静电容是否符合要求。
实验指导书-晶体光学与光性矿物学12级
《晶体光学与光性矿物学》实验指导书地质工程学院2013.9.目录显微镜实验室学生实验守则 (1)显微镜实验室实验操作规程 (2)实验一偏光显微镜（2学时） (3)实验二解理、多色性、吸收性的测定（2学时） (8)实验三突起及闪突起的观察（2学时） (10)实验四光率体椭圆半径名称及干涉色级序的测定（2学时） (12)实验五消光类型、消光角及延性符号的测定（2学时） (16)实验六锥光镜下干涉图的观察与测定（2学时） (18)实验七透明矿物（普通角闪石）的系统鉴定（ 2 学时） (20)实验八常见深色造岩矿物鉴定（2学时） (22)实验九常见浅色造岩矿物鉴定（2学时） (24)实验十斜长石的认识和鉴定（2学时） (26)实验十一碱性长石的鉴定（2学时） (28)实验十二未知矿物鉴定（2学时） (30)显微镜实验室学生实验守则一、学生在实验课前应预习实验内容，明确实验目的要求及实验原理步骤。
二、学生进入实验室，应保持安静，严禁大声喧哗、随地吐痰、乱丢废物。
三、参加实验的学生固定座位，按学号对号入座，实验过程中未经教师允许不得随意调换座位或交换显微镜。
四、实验过程中要保持桌面简洁，与实验无关的物品应放置在实验桌下的隔板或抽屉内。
五、学生应爱护仪器设备，严格遵守操作规程，凡违章操作或个人不慎损坏设备和薄片者，应按规定赔偿。
六、不准在计算机内随意安装软件，使用移动存储设备时应及时杀毒，使用的临时文件要及时清除。
七、实验过程中要认真观察，做好实验记录，严禁编造和修改实验数据。
八、实验报告应使用学校统一的报告本，报告内容应准确客观，重点突出，书写应工整规范，并按规定时间上交实验报告，严禁抄袭他人实验报告。
九、实验完毕后要收好薄片及附件，关闭电源、盖好显微镜防尘罩，经指导教师检查后，方可离开。
十、因故不能按时上实验课的学生，应课前请假，并提出补做实验的申请，经指导教师同意后安排。
无故不参加实验者，实验成绩以零分计，累计缺课达三分之一者，不能参加考试。
晶体光学实验报告
晶体光学实验报告晶体光学实验报告引言晶体光学是研究晶体对光的传播和相互作用的学科，是光学领域的重要分支之一。
本次实验旨在通过实际操作，观察和研究晶体在光学方面的特性，并探索晶体光学的应用。
实验一：晶体的偏光特性在实验一中，我们使用了一块薄片状的晶体样品，通过调整入射光的偏振方向，观察晶体对光的偏振现象。
实验结果显示，当入射光的偏振方向与晶体的光轴方向垂直时，出射光完全消失，这种现象被称为偏光消光。
而当入射光的偏振方向与晶体的光轴方向平行时，出射光则不发生偏振现象。
通过这一实验，我们初步了解到晶体对光的偏振特性。
实验二：晶体的双折射现象在实验二中，我们使用了一块双折射晶体样品，通过观察入射光经过晶体后的出射光的方向和偏振状态，研究晶体的双折射现象。
实验结果显示，当入射光垂直于晶体的光轴方向时，出射光不发生偏振现象；而当入射光平行于晶体的光轴方向时，出射光则发生偏振现象。
这表明晶体对不同方向的光具有不同的折射率，从而导致了双折射现象的产生。
通过这一实验，我们深入了解到晶体的双折射特性。
实验三：晶体的光学轴在实验三中，我们使用了一块具有光学轴的晶体样品，通过观察入射光经过晶体后的出射光的方向和偏振状态，确定晶体的光学轴方向。
实验结果显示，当入射光平行于晶体的光学轴方向时，出射光不发生偏振现象；而当入射光垂直于晶体的光学轴方向时，出射光则发生偏振现象。
通过这一实验，我们成功确定了晶体的光学轴方向，并进一步认识到晶体在光学上的特性。
实验四：晶体的双折射角在实验四中，我们使用了一块双折射晶体样品，通过测量入射光和出射光的角度，计算晶体的双折射角。
实验结果显示，晶体的双折射角与入射光的偏振方向有关，当入射光平行于晶体的光轴方向时，双折射角最小；而当入射光垂直于晶体的光轴方向时，双折射角最大。
通过这一实验，我们进一步认识到晶体的双折射特性，并掌握了计算双折射角的方法。
结论通过本次实验，我们对晶体光学的基本特性有了更深入的了解。
晶体学实验指导书
晶体学实验指导书学院名称材料科学与工程学院课程名称晶体学I、Ⅱ开课实验室晶体学实验室编写人刘金海编写日期2007年4月16日目录实验一晶体的对称 (2)实验二单形和聚形分析 (4)实验三晶体定向与结晶符号 (5)实验四偏光显微镜的构造、调节与使用 (8)实验五单偏光镜下晶体的光学性质 (10)实验六正交偏光镜间晶体的光学性质 (11)实验七锥光镜下晶体的光学性质及未知矿物鉴定 (12)实验一晶体的对称（4学时）一、目的要求通过对理想晶体模型的分析，理解和巩固晶体对称的概念，了解晶体对称的特点。
学会在晶体上找寻对称要素，确定对称型、晶族和晶系，同时掌握对称要素的投影方法。
二、实验内容1、学会寻找对称面、对称中心、对称轴和旋转反伸轴（1）、对称面（P）对称面是把晶体平分为互为镜像的两个相等部分的假想平面。
在晶体中可以不存在对称面，也可以存在一个或多个对称面，最多可达9个。
对称面的描述方法为3P、9P等。
对称面在晶体中可能存在的位置：①垂直并平分晶面；②垂直晶棱并通过它的中心；③包含晶棱并平分晶面夹角。
寻找对称面的方法和步骤是：把模型固定在一个位置不要转动，以视线从各个不同的方向去观察。
首先寻找直立的对称面，然后再找水平方向的对称面，最后再找倾斜方向的对称面，以免重复或漏掉。
（2）、对称轴（L n）对称轴是通过晶体中心的一根假想直线，晶体围绕此直线旋转一定角度后，相同的晶面、晶棱、角顶能重复出现。
在一个晶体中，除了L1以外，可以没有、也可以有一种或多种对称轴，而每一种对称轴也可以有一个或多个。
表示为3L4、4L3、6L2等。
对称轴在晶体中可能出露的位置：①通过晶面的中心；②通过晶棱的中点；③通过角顶。
寻找对称轴的方法和步骤是：用两手指拿住轴的两端，使晶体旋转360°，看相同的晶面、晶棱、角顶重复出现几次即为几（n）次对称轴。
（3）、对称中心（C）对称中心是晶体内部的一假想点，通过该点作任意直线，则在此直线上距对称中心等距离的两端，必定可以找到对应点。
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晶体光学实验指导书赖健清编（地质工程专业A方向适用）中南大学地球科学与信息物理学院录实验一偏光显微镜的调节和校正；解理的观察 (1)一.目的要求 (1)二.实验内容 (1)实验二突起等级和多色性的观察 (3)一.目的要求 (3)二.实验内容 (3)实验一、二报告内容： (3)实验三干涉色级序特征的观察，矿片上光率体椭圆半径方向及名称的测定 (4)一．目的要求 (4)二．实验内容 (4)实验四干涉色级序及双折率的测定和双晶的观察 (5)一．目的要求 (5)二．实验内容 (5)实验三、四实验报告内容 (5)实验五一轴晶干涉图、二轴晶干涉图 (6)一．目的要求 (6)二．锥光镜下观察的操作程序 (6)三．实验内容 (6)实验六斜长石的牌码测定 (6)一、目的要求 (6)二、实验内容 (6)实验五报告内容 (9)实验六斜长石牌号的测定 (9)实验七主要造岩矿物的光性鉴定(一) (10)一．目的要求 (10)二．实验内容 (10)实验八主要造岩矿物的光性鉴定(二) (10)一、目的要求 (10)二、实验内容 (10)实验七、八主要造岩矿物的光性鉴定 (10)附：常见透明矿物光学性质（一） (12)常见透明矿物光学性质（二） (13)偏光显微镜的调节和校正；解理的观察一.目的要求1．了解偏光显微镜的主要构造，装置，使用和保养方法。
2．学会偏光显微镜的一般调节和校正。
3．认识解理等级，测定解理夹角。
二.实验内容1．打开光源为了延长光源灯泡寿命，打开光源及关闭光源之前，务必确认光源强度调至．．．．．．最小．．．．．．．．．．．。
临时离开不必关闭光源开关，只需将光源．．。
永远不要把光源强度开至最大强度调至最小。
2．偏光显微镜的调节与校正1）调节照明2）调节焦距必须记住：通过下降物台来对焦．．．．．．．．．。
3）校正中心4）下偏光镜振动方向的确定和校正在单偏光镜下，找一具极完全解理的黑云母（12号薄片），置于视域中心。
转动物台，黑云母颜色最深时，黑云母解理缝方向为下偏光镜振动方向。
如黑云母颜色最深时，解理缝方向与十字丝横丝不平行，表明横丝未与下偏光镜振动方向一致。
转动物台，使黑云母解理缝平行横丝，然后转动下偏光镜，直至黑云母颜色最深。
此时，十字丝横丝与下偏光振动方向一致。
2．解理的观察1）解理的完全程度极完全解理：解理缝细，密，长，且往往贯通整个晶体。
如云母类矿物。
完全解理：解理缝之间的间距较宽，一般不完全连续。
如辉石类和角闪石类矿物。
不完全解理：解理缝断断续续，有时仅见解理缝痕迹。
如橄榄石。
2）解理的组数和夹角黑云母一组（001）极完全解理。
普通角闪石和普通辉石（110）和（110）二组完全解理（解理夹角56°和87°）。
并测定普通角闪石两组解理的夹角。
方解石{1011}三组完全解理（解理夹角75°）。
突起等级和多色性的观察一. 目的要求观察突起等级，认识不同等级突起的特征。
认识贝克线，学会利用贝克线移动规律，确定相邻两物质折射率的相对大小，确定突起正负。
观察造岩矿物的颜色，多色性与吸收性。
二. 实验内容1．比较普通辉石（高正突起）和斜长石（拉长石—正低突起）的边缘，糙面特征及突起高低（6号薄片）。
萤石的负高突起（25号薄片）。
观察贝克线移动规律。
2．观察方解石（30号大理岩薄片）的闪突起现象。
3．观察电气石的多色性，提交实验报告（写出多色性公式和吸收性公式，并绘出示意图）。
实验一、二报告内容：1．如何判断显微镜下偏光镜的偏振方向？2．观察几种矿物的解理：黑云母。
测量辉石和角闪石的两组解理的夹角。
3．观察几种矿物的突起：石英、长石、黑云母、（萤石、电气石）。
观察方解石的闪突起。
4．观察黑云母的多色性和吸收性，写出其公式。
（石英、长石、黑云母见花岗岩或花岗闪长岩，角闪石见花岗闪长岩或闪长岩，辉石见辉长岩，方解石见大理岩）’干涉色级序特征的观察，矿片上光率体椭圆半径方向及名称的测定一．目的要求1．学会正交偏光镜的检查与校正方法。
2．认识1—3级干涉色及高级白干涉色的特征。
3．学会用石膏板测定矿片上光率体椭圆半径方向和名称的方法。
二．实验内容检查上，下偏光镜的振动方向是否正交，目镜十字丝是否与上，下偏光镜振动方向一致。
在正交偏光镜间，从试板孔缓缓插入石英楔，观察1—3级干涉色级序及各级的特征。
观察石英（12号薄片）的一级灰白，橄榄石（1或2号薄片）的2—3级干涉色，方解石（30号薄片）的高级白。
一级灰白与高级白可用插入石膏板来区别。
在具一级灰白干涉色的石英或钾长石矿片上，借助石膏板确定光率体椭圆半径方向及名称。
干涉色级序及双折率的测定和双晶的观察一．目的要求1．学会利用石英楔测定矿片的干涉色级序和双折率。
2．观察长石的几种常见双晶类型。
二．实验内容利用石英楔测定普通辉石的干涉色级序并借助干涉色色谱表确定双折率。
需多测几颗，取最大的。
实验三、四实验报告内容1．通过石英楔的干涉色的观察，写出干涉色级序的特征。
2．观察石英、橄榄石、方解石的干涉色，说明一级白和高级白的区别。
3．借助石膏板确定长石的光率体椭圆半径方向机名称，并绘图表示。
4．用石英楔测定普通辉石的干涉色级序，并借助干涉色色谱表确定双折率。
5．观察长石的双晶，绘图表示斜长石的聚片双晶、正长石的卡氏双晶和微斜长石的格子双晶。
一轴晶干涉图、二轴晶干涉图一．目的要求1．认识一轴晶、二轴晶干涉图不同类型干涉图的图像特点。
2．学会应用垂直光轴切面及斜交光轴切面干涉图，测定一轴晶矿物的光性符号。
3．观察应用垂直测定二轴晶光性符号。
二．锥光镜下观察的操作程序1．用中、低倍物镜，将选择的合适的矿物颗粒移至视域中心。
2．换用高倍镜（40×），仔细对焦。
特别注意不要把盖玻片朝下．．．．．．．．．．．．。
3．校正中心。
4．加上聚光镜，并把聚光镜升到最高位置。
注意不要顶住矿片。
5．加入上偏光镜，并一定要正交；加入勃氏镜。
此时可观察到干涉图。
三．实验内容1．观察黑云母（特制片）垂直光轴切面的干涉图图像特征，并利用石英楔测定其光性正负。
（黑云母属二轴晶，但其2V=0°—10°，因而有些黑云母可视作一轴晶。
）2．观察石英垂直光轴或斜交光轴切面干涉图特征。
3．观察白云母垂直Bxa切面干涉图特征。
实验六斜长石的牌码测定一、目的要求1．掌握斜长石主要光学性质及其与相似矿物碱性长石等的区别。
2．掌握测定斜长石种类的⊥（010）晶带最大消光角法。
二、实验内容1．了解斜长石种类的划分及测定种类的意义。
2．⊥（010）晶带最大消光角法测定斜长石种类的。
斜长石牌号简介斜长石（plagioclase）属于NaAlSi3O8(Ab)-CaAl2Si2O8(An)系列的长石矿物的总称。
共分为6个矿物种：钠长石（An0~10+Ab100~90)奥长石（An10~30+Ab 90~70，也称更长石）、中长石(An30~50+Ab70~50)、拉长石(An50~70+Ab50~30)、培长石(An70~90+Ab30~10)和钙长石(An90~100+Ab10~0)。
岩石学中将前二者统称为酸性斜长石，而将后三者统称为基性斜长石。
斜长石的成分还常用所含An 组分的摩尔百分数表示，称为斜长石的牌号。
如成分为An18+Ab80+Or2的奥长石，其牌号即为18。
在常温下，有些成分的斜长石并不是均匀的类质同象混晶，而是两相的交生体。
牌号为2～15的斜长石实际上是由<2号与25～30号两种成分的斜长石叶片平行交生而成，称为晕长石，因光在一系列叶片界面上反射并干涉而常显晕色，故名。
46±2～60±2号以及66～90号两个区间的斜长石也都是类似的两相交生体。
某些拉长石因此而可具有美丽的变彩，用作玉石材料。
此外,许多天然斜长石晶体的内核与外缘的牌号不一，形成所谓的环带状斜长石。
一般外缘的牌号大于内核的牌号，是为正常环带构造；也有内核牌号大于外缘的，称为反环带构造。
此外还有从内核到外缘的牌号，由小逐渐变大，然后突然变小，如此多次反复，形成韵律环带构造。
报告内容1．简述锥光镜的装置及操作程序。
2．通过石英、黑云母、白云母、方解石等矿物各种切面干涉图的观察，分析一轴晶与二轴晶的区别。
3．观察石英垂直光轴及斜交光轴切面的干涉图，并判断其光性正负。
实验六斜长石牌号的测定1．在辉长岩中找到待测斜长石，说明其特征要求；2．测定Np的方向（绘图表示）；3．测定两个单体的消光角，判断是否符合要求；4．取平均值，查表获得斜长石的牌号。
如有必要，还要测长石的突起类型。
七主要造岩矿物的光性鉴定(一)一．目的要求1．在单偏光镜下、正交偏光镜下测定以下几种常见浅色矿物的光学性质。
2．掌握以下几种矿物主要光学性质；并注意相似矿物的区别，二．实验内容石英（花岗岩中）、正长石（正长岩）、微斜长石（花岗岩）、斜长石（辉长岩、闪长岩）、白云母（石英白云母片岩）方解石（大理岩）。
实验八主要造岩矿物的光性鉴定(二)一、目的要求1．在单偏光镜下、正交偏光镜下测定以下几种常见暗色矿物的光学性质。
2．掌握以下几种矿物主要光学性质；并注意相似矿物的区别，如橄榄石与普通辉石的区别，普通辉石与普通角闪石的区别，普通角闪石与黑云母的区别。
二、实验内容橄榄石(橄榄岩)、普通辉石(辉长岩)、普通角闪石(闪长岩)、黑云母(花岗岩)。
实验七、八主要造岩矿物的光性鉴定报告内容：观察石英、钾长石（正长石、微斜长石）、斜长石、橄榄石、普通辉石、普通角闪石、黑云母、白云母、方解石等矿物的光性特征，分别描述和鉴定。
单偏光特征：形态特征，颜色，多色性和吸收性（公式），突起和糙面（闪突起），解理及解理角等；正交偏光特征：消光性质，干涉色级序，双晶特征，延长符号；综合特征：光性符号，轴性。
填以下表格：1常见透明矿物光学性质（一）二）。