霍尔效应
霍尔效应高考知识点总结
霍尔效应高考知识点总结霍尔效应是近几年高考中的一个重要知识点，涉及到电磁感应和导电材料的相关原理和应用。
本文将对霍尔效应进行总结和归纳，帮助学生更好地理解和掌握这一知识点。
1. 霍尔效应的基本原理霍尔效应是指当导电材料中有电流通过时，垂直于电流方向的方向上会产生一定的电势差。
这种现象是由磁场对电子的偏转效应引起的。
当电子在导体中运动时，磁场施加的力使得电子受到侧向偏转，导致电子在一个方向上聚集，产生电势差。
2. 霍尔效应的公式和参数霍尔效应可以通过一个简单的公式来描述：VH = B × I × RH。
其中VH表示霍尔电压，B表示磁场的强度，I表示电流的大小，RH表示霍尔系数。
霍尔系数是一个与导体特性相关的参数，通过测量霍尔电压和磁场以及电流的值可以计算出来。
3. 霍尔效应的应用霍尔效应在实际中有着广泛的应用。
其中最常见的是磁场传感器的应用。
磁场传感器通过测量霍尔电压的变化来检测磁场的强度和方向。
这种传感器在自动控制、磁力计、电流测量等领域都得到了广泛的应用。
4. 良导体和劣导体中的霍尔效应差异在不同的导体中，霍尔效应呈现出不同的特点。
在良导体中，电子的运动能力较强，电流通过后霍尔电压较大；而在劣导体中，电子的运动能力较差，电流通过后霍尔电压较小。
这是因为良导体中自由电子的浓度较高，受到磁场作用后偏转偏大；而劣导体中自由电子的浓度较低，受到磁场作用后偏转偏小。
5. 霍尔效应的探究与实验学生在学习和掌握霍尔效应时，可以通过一些简单的实验来加深理解。
例如，可以利用霍尔效应进行磁场的测量，通过改变电流大小和磁场强度，观察霍尔电压的变化规律。
还可以探究不同材料的导电性质对霍尔效应的影响，比较不同材料产生的霍尔电压的差异。
6. 霍尔效应在电子设备中的应用霍尔效应在电子设备中有着广泛的应用。
例如，在手机和平板电脑里的磁场传感器，可以通过测量霍尔电压的变化来检测屏幕是否翻盖。
在电动车和电磁炉中，也用到了霍尔效应来检测电流的大小和方向，对设备的安全性和控制起到了重要作用。
什么是霍尔效应
什么是霍尔效应什么是霍尔效应？它通常是指电子在受到磁场作用时，内部的电子密度随磁场增加的现象。
这种效应叫磁场效应。
简单的说，就是磁场效应使电子密度改变时，电子具有不均匀分布的特性，会出现这种现象叫做霍尔效应。
1、电磁感应磁场对电子产生作用时会产生电子感应现象，它在磁场中作用时，电子可产生各种不同的电磁感应现象。
其中很重要的一种，就是人们常说到的电磁感应现象。
根据电磁学中描述电磁感应现象的电磁感应定律，其基本单位为欧姆）。
当电流通过某种物体时，可产生感应电流。
这就是电磁感应现象。
在某些电子系统中，若利用磁场产生交变电流，这一交变电流可以改变其磁场，将影响磁场的方向或强度。
因此当磁场强度变大时，感应强度变化幅度也就越大，这种现象称为“磁效应”。
2、电磁场与磁场相互作用电荷的质量与大小不会随磁场大小变化。
电磁场强度有关，可以用TS表示。
当发生在电子设备中时，会使磁场方向发生变化。
通常认为是由磁场引起的，也可以认为是磁致伸缩。
.由于电流通过磁化轨道，使磁化方向发生了变化。
所以电磁场间的相互作用和电磁场与电子之间相互作用是相互影响的。
由于电荷在分子间作用力可以把电荷从原子转移到自由电子上而不会使电子变得不能再存在，这就是人们常说到的电流效应和霍尔效应。
3、霍尔效应对电磁系统的影响对于电磁系统，霍尔效应的作用是十分明显的。
当磁场作用于绝缘体上时，随着磁场的增大，绝缘体上电子密度也随之增加。
当外加电压大于导体电流密度和电阻率时，电子就会沿着这个路径移动直至到达导体的边缘。
在感应电路中电子随磁场移动也是一个常见特征，而且这种现象可分为以下几种情况:(1)电磁感应定律与霍尔效应都是在导体中发生。
当一个导体受到外力时电荷会产生相互作用，而引起电荷传递反应的电流则可以沿着被施加磁性物体的磁道方向通过。
4、霍尔效应现象的解释因为电子和质子之间没有运动，所以电子的轨道在磁场中运动的方向是不受磁场控制的。
当磁场比较强或者比较弱时（特别是电子),它会导致周围离子发生电离，这时电子的轨道不在一个固定的区域内了。
半导体物理基础霍尔效应
离子注入造成的杂质浓度分布曲线一般如下：
浓 度
深度
深度
特点：①杂质浓度最高处位于体内； ②在注入后一般要采取加热圆片（退火）的方法， 来消除损伤和激活注入杂质
离子注入工艺示意图：
衬底
生长外延层 制作掩膜 刻蚀 离子注入掺杂
【实验】
磁场对运动电荷有力的作用——这个力叫洛仑兹力。
【推理与猜想】 磁场对电流有安培力的作用，而电流是由电荷定向运动
扩散工艺所得杂质分布总是表面浓度高、体内浓度低，而 且对扩散系数太低的杂质难于得到要求的杂质浓度。离子 注入工艺可以很好的解决以上问题。
离子注入工艺原理：
在真空中，由高压使杂质离子加速，射向硅表面，加速后 的离子动能很高，能够进入硅中实现掺杂。
离子注入工艺掺杂后其杂质分布特点：
在离开表面一定距离处杂质浓度最高，在其附近呈高斯分 布。如下页图：
• 扩散的方法（扩散工艺）
• 离子注入法
扩 散 工 艺
在物理中我们学过，由于分子热运动和浓度差，在气体、 液体和固体中，都会产生扩散现象。扩散现象在气体和液 体中尤其明显。
那么在硅片中进行掺杂的原理和上面基本一样，可以简单 的画图描述一下，见黑板
扩散工艺造成的杂质浓度分布曲线一般如下：
浓 度 体浓度
形成的。所以磁场对电流的安培力可能是磁场对运动电荷的
作用力的宏观表现。即： 1.安培力是洛伦兹力的宏观表现．
2.洛伦兹力是安培力的微观本质。
一.洛伦兹力的方向
洛伦兹力的方向符合左手定则： ——伸开左手，使大拇指跟其余四指垂直，且处于同一平 面内，把手放入磁场中，磁感线垂直穿过手心，四指指向 正电荷运动的方向(即电流方向)，那么，拇指所指的方向 就是正电荷所受洛伦兹力的方向． 若是负电荷运动的方向，那么四指应指向其反方向。
霍尔效应(Hall Effect)
8
外加一磁场沿正y轴
在动并A1受，正A2Z间方加向一磁电场位作差用使力电F洞B 以q漂v流速B 度沿正x方向运
因材料原呈电中性，故有相等之负电荷累积在材料下 方并产生负Z方向静电力Fe＝qE
稳定态时，FB=FE 即 qvB＝qE
E=vB
此时上下两侧之电压差即为霍尔电压
归零
使用按钮上方英文字
所提示功能时，须先 按住SHIFT键才可使 用。
选取单位
数值撷取
范围设定
11
实验仪器
探针置入位置
测
厚 压 克 力 垫
磁 场 测 试 板
探 针
试 板 放 置 处
片
待
磁
测
铁
半
架
导
体
材料12如 Nhomakorabea量测磁场
先将高斯计执行 归零程序。
依操作说明找出磁 鐵N、S极。
量测示意图
将实验器材架设好，
14
9
计算
J nev I I A ab
v B E VH b
n IB aeVH
n : 載子濃度 e : 電荷電量 v: 漂移速度 J : 電流密度 B : 外加磁場 VH : 霍爾電壓 a : 樣品厚度(y方向) b : 樣品高度(z方向) A : 電流通過之樣品截面積
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实验仪器-----高斯计(量测磁场使用 )
多数载子为电洞，少数载子为电子。
三价杂质通常为硼(B) 、鋁(Al)、鎵(Ga)、 銦(In)。
6
N型半导体
在纯硅中加入五价元素杂質，使每个硅原子与五价 杂质结合成共价键时多一电子，即为N型半导体。
多数载子为电子，少数载子为电洞。 五价杂质通常为磷(P)、
霍尔效应
量子霍尔效应实际上给处在微观世界的 电子订了一个 “交通规则”：电子在这 种强磁场中，只能沿着边缘的一维通道 中走。本来这是一个导体，加上一个很 强的磁场后，这个材料的绝大部分变成 绝缘的，电子只能在边缘沿着一个个通 道运动，而且只能做单向运动，不能返 回。
霍尔传感一种磁场传感器。 霍尔效应是磁电效应的一种 实验测定的霍尔，通过器是 根据霍尔效应制作的霍尔效 。 应系数，能够判断半导体材 料的导电类型、载流子浓度 及载流子迁移率等重要参数。
霍尔器件具有许多 优点，它们的结构 牢固，体积小，重 量轻，寿命长，安 装方便，功耗小， 频率高（可达 1MHZ），耐震动， 不怕灰尘、油污、 水汽及盐雾等的污 染或腐蚀。
汽车点火系统，设计者将霍尔传感器放 在分电器内取代机械断电器，用作点火 脉冲发生器。这种霍尔式点火脉冲发生 器随着转速变化的磁场在带电的半导体 层内产生脉冲电压，控制电控单元 （ECU）的初级电流。相对于机械断电 器而言，霍尔式点火脉冲发生器无磨损 免维护，能够适应恶劣的工作环境，还 能精确地控制点火正时，能够较大幅度 提高发动机的性能，具有明显的优势 Nhomakorabea。
利用霍尔传感器对浮子位移进行检测的 基本原理以及霍尔传感器输出信号处理 系统的基本构成和功能，分析了这种新 型金属管转子流量计的主要特点。实际 测量表明:该流量计具有准确度高、可靠 性高、结构简单、智能化等特点。
霍尔效应
一· 定义及解释
二· 在生活和生产方面的应用 三· 科技及前景
• 在导体上外加与电流方向垂直的磁场，会使得导体中的电 子与电洞受到不同方向的洛伦兹力而往不同方向上聚集， 定义：霍尔效应是磁电效应的一种，这一现象是美国物理 学家霍尔（A.H.Hall，1855—1938）于1879年在研究金属的 导电机构时发现的。当电流垂直于外磁场通过导体时，在 导体的垂直于磁场和电流方向的两个端面之间会出现电势 差，这一现象便是霍尔效应 • 在聚集起来的电子与电洞之间会产生电场，此一电场将会 使后来的电子电洞受到电力作用而平衡掉磁场造成的洛伦 兹力，使得后来的电子电洞能顺利通过不会偏移，此称为 霍尔效应。而产生的内建电压称为霍尔电压。
名词解释霍尔效应
名词解释霍尔效应
霍尔效应(霍尔效应)是一种量子效应,涉及到电子在磁场中的运动。
当电子在磁场中受到一个电场的作用时,它们会受到洛伦兹力,从而改变它们的运动状态。
这种改变可以导致电子的霍尔系数(霍尔系数)发生变化,从而指示电子在磁场中的运动方向和速度。
霍尔效应最初被发现是在20世纪50年代。
当时,研究人员发现,如果将一个霍尔传感器放置在一个磁场中,它可以通过检测电子的霍尔系数来测量磁场强度。
这种技术被广泛应用于各种电子设备中,例如磁共振成像设备、硬盘驱动器和传感器等。
霍尔效应的应用范围非常广泛,但它也有一些限制。
例如,在强磁场中,霍尔传感器可能会受到损坏。
此外,霍尔系数也受到温度和湿度等因素的影响,因此需要对它们进行校准。
除了用于测量磁场外,霍尔效应还可以用于控制电流。
例如,可以使用霍尔传感器来检测电流的方向,从而控制电路中的电流。
霍尔效应技术还被应用于许多其他领域,例如量子计算、量子存储和量子通信等。
霍尔效应是一个非常重要的量子效应,它的应用将推动计算机科学和技术的发展。
随着技术的不断发展,霍尔效应的应用前景将越来越广阔。
霍尔效应
霍尔效应的本质是：固体材料中的载流子在外加磁场中运动时，因为受到洛仑兹力的作用而使轨迹发生偏移，并在材料两侧产生电荷积累，形成垂直于电流方向的电场，最终使载流子受到的洛仑兹力与电场斥力相平衡，从而在两侧建立起一个稳定的电势差即霍尔电压。
正交电场和电流强度与磁场强度的乘积之比就是霍尔系数。
平行电场和电流强度之比就是电阻率。
大量的研究揭示：参加材料导电过程的不仅有带负电的电子，还有带正电的空穴。
霍尔效应在应用技术中特别重要。
霍尔发现，如果对位于磁场(B)中的导体(d)施加一个电压(Iv)，该磁场的方向垂直于所施加电压的方向，那么则在既与磁场垂直又和所施加电流方向垂直的方向上会产生另一个电压(UH)，人们将这个电压叫做霍尔电压，产生这种现象被称为霍尔效应。
好比一条路, 本来大家是均匀的分布在路面上, 往前移动. 当有磁场时, 大家可能会被推到靠路的右边行走. 故路(导体) 的两侧, 就会产生电压差. 这个就叫“霍尔效应”。
根据霍尔效应做成的霍尔器件，就是以磁场为工作媒体，将物体的运动参量转变为数字电压的形式输出，使之具备传感和开关的功能。
讫今为止，已在现代汽车上广泛应用的霍尔器件有：在分电器上作信号传感器、ABS系统中的速度传感器、汽车速度表和里程表、液体物理量检测器、各种用电负载的电流检测及工作状态诊断、发动机转速及曲轴角度传感器、各种开关，等等。
例如汽车点火系统，设计者将霍尔传感器放在分电器内取代机械断电器，用作点火脉冲发生器。
这种霍尔式点火脉冲发生器随着转速变化的磁场在带电的半导体层内产生脉冲电压，控制电控单元（ECU）的初级电流。
相对于机械断电器而言，霍尔式点火脉冲发生器无磨损免维护，能够适应恶劣的工作环境，还能精确地控制点火正时，能够较大幅度提高发动机的性能，具有明显的优势。
用作汽车开关电路上的功率霍尔电路，具有抑制电磁干扰的作用。
许多人都知道，轿车的自动化程度越高，微电子电路越多，就越怕电磁干扰。
霍尔效应
霍尔效应一、简介霍尔效应是磁电效应的一种，这一现象是霍尔（A.H.Hall ，1855—1938）于1879年在研究金属的导电机构时发现的。
后来发现半导体、导电流体等也有这种效应，而半导体的霍尔效应比金属强得多，利用这现象制成的各种霍尔元件，广泛地应用于工业自动化技术、检测技术及信息处理等方面。
霍尔效应是研究半导体材料性能的基本方法。
通过霍尔效应实验测定的霍尔系数，能够判断半导体材料的导电类型、载流子浓度及载流子迁移率等重要参数。
流体中的霍尔效应是研究“磁流体发电”的理论基础。
二、理论知识1． 1． 霍尔效应将一块半导体或导体材料，沿Z 方向加以磁场B，沿X 方向通以工作电流I ，则在Y 方向产生出电动势H V ，如图1所示，这现象称为霍尔效应。
H V 称为霍尔电压。
(a) (b)图1 霍尔效应原理图实验表明，在磁场不太强时，电位差H V 与电流强度I 和磁感应强度B 成正比，与板的厚度d 成反比，即d IB R V HH =(1)或 IB K V H H =(2)式（1）中H R 称为霍尔系数，式（2）中H K 称为霍尔元件的灵敏度，单位为mv / (mA ·T)。
产生霍尔效应的原因是形成电流的作定向运动的带电粒子即载流子（N 型半导体中的载流子是带负电荷的电子，P 型半导体中的载流子是带正电荷的空穴）在磁场中所受到的洛仑兹力作用而产生的。
如图1（a ）所示，一快长为l 、宽为b 、厚为d 的N 型单晶薄片，置于沿Z 轴方向的磁场B中，在X 轴方向通以电流I ，则其中的载流子——电子所受到的洛仑兹力为j eVB B V e B V q F m -=⨯-=⨯=(3)式中V为电子的漂移运动速度，其方向沿X 轴的负方向。
e 为电子的电荷量。
m F 指向Y轴的负方向。
自由电子受力偏转的结果，向A 侧面积聚，同时在B 侧面上出现同数量的正电荷，在两侧面间形成一个沿Y 轴负方向上的横向电场H E （即霍尔电场），使运动电子受到一个沿Y 轴正方向的电场力e F，A 、B 面之间的电位差为H V （即霍尔电压），则 jb V e j eE E e E q F H H H H e ==-==(4)将阻碍电荷的积聚，最后达稳定状态时有0=+e m F F=+-j b V e j eVB H即b V eeVB H= 得 VBb V H =(5)此时B 端电位高于A 端电位。
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第三章 霍尔效应计算公式在本章开始之前，我们首先来回顾一下霍尔效应的几个参数。
霍尔效应主要有面电阻率，体电阻率，面霍尔系数，体霍尔系数，面载流子浓度，体载流子浓度，霍尔迁移率这么几个参数。
体电阻率是材料直接通过泄漏电流的能力的度量。
体电阻率定义为边长1厘米的立方体材料的电阻，单位为。
面电阻率定义为材料表面的电阻，单位为（通常称为方块电阻）。
体霍尔系数，它表示材料产生霍尔效应的本领大小，单位为。
面霍尔系数单位为。
体载流子浓度单位为，面载流子浓度单位为。
霍尔迁移率指载流子（电子或空穴）在单位电场作用下的平均漂移速度，即载流子在电场作用下运动速度的快慢的量度，单位为。
霍尔效应的测量主要使用两种单位制：国际单位制（SI）和被称为“实验室单位”的单位制、实验室单位制混合了国际单位制、CGS静电制和CGS电磁制。
下文的公式都采用实验室单位制。
在测试软件里，为了数据录入更方便，一般都使用实验室单位制。
在所有的例子中，电压以伏特（V）为单位，电流以安培（A）为单位，电阻为欧姆（Ω）为单位。
其他量的单位都以括号内的为准。
以下是标号的含义。
，V表示电压，左上角的表示施加在样品上的电流正负方向；右下角前两个数字ij表示电流从电极i流进（I+），从电极j流出（I-）；后两个数字表示电极k（V+）和电极l（V-）之间的电压之差，即；括号内表示施加在样品上的磁场大小和方向。
，I表示电流，左上角表示电流方向，右下角两个数字ij表示电流从电极i流进（I+），从电极j流出（I-）；括号内表示施加在样品上的磁场大小和方向，方向定义见图3.1，即从上面观测，磁场方向垂直于样品且指向观测者，这个方向为正。
图3.1 磁场方向定义下面分别介绍Van der Pauw法和Hall Bar法的实际测量计算公式。
3.1 Van der Pauw法1958年，范德堡（Van der Pauw,L.J）发表了两篇论文，《A method of measuring specific resistivity and Hall effect of discs of arbitrary shape》和《A method of measuring specific resistivity and Hall coefficient on lamellae of arbitrary shape》，阐述了一种测量了电阻率和霍尔系数的新的方法，从理论上证明了这种针对单连通任意形状均匀等厚薄片样品的测量方法。
Van Der Pauw法能计算出一个任意形状但扁平的样品的电阻率，载流子浓度和迁移率，当然样品需要满足以下条件，接触点在样品的周围；接触点从分的小；样品厚度均匀；样品单一连接，即中间没有穿孔。
Van Der Pauw法的优点是，只需要4个接触点；不需要测量样品的宽度或接触点的间距；能用形状不规则的样品。
Van Der Pauw法的缺点是，需要将近两倍的测量次数；当用形状不规则的样品时，接触点的大小和位置所引起的误差将会非常显著。
3.1.1电阻率Van der Pauw法测量电阻率需要围绕样品进行8次测量。
电极12加电流电极43测电压，和电极23加电流电极14测电压，得到的电阻率称之为；接下来电极34加电流电极21测电压，和电极41加电流电极32测电压，得到的电阻率称之为。
如果样品均匀，和会比较接近，求它们的平均值将能得到样品的电阻率。
图3.2 Van der Pauw电阻率测量为什么要进行8次测量，这是为了消除源误差和副效应误差，在后面一节我们将讨论这个问题。
A部分和B部分的电阻率计算公式分别为……………………………（3.1）……………………………（3.2）系数和与形状因子和有关，和分别为………………………（3.3）………………………（3.4）注意，一定要大于1 ，如果和小于1，则下式的就用它们的倒数。
下式表示了与的函数关系………………………………………………（3.5）和的差值应该在10%以内，如果超过这个范围，就说明样品不均匀，不能准确地测量出电阻率，应当放弃使用Van der Pauw法。
如果在这个范围，那么样品电阻率取它们的平均值…………………………………………………………（3.6）为了区别于磁阻效应，以上电阻率都是样品在0磁场环境下测试得到的。
3.1.2磁阻效应如果希望计算磁阻效应，可以依据以下公式，…………（3.7）…………（3.8）系数和的计算方法和0磁场环境下的计算方法是一样的，且整个样品在非0磁场环境下的电阻率也是和的平均值。
……………………………………………………………（3.9）在范德堡样品上测量磁阻效应是粗糙的，软件可以选择不测量磁阻效应。
3.1.3霍尔系数Van der Pauw法测量霍尔系数同样需要围绕样品进行8次测量。
电极3和电极1之间加电流，然后电极4和电极2之间测量电压，得到的霍尔系数称之为；接下来电极4和电极2加电流，电极1和电极3之间测量电压，得到的霍尔系数称之为。
（3.10）（3.11）和的差值应该在10%以内，如果超过这个范围，就说明样品不均匀，不能准确地测量出霍尔系数，应当放弃使用Van der Pauw法。
如果在这个范围，那么样品霍尔系数取它们的平均值……………………………………………………（3.12）3.1.4载流子浓度（） …………………………（3.13）3.1.5霍尔迁移率……………………………………………………（3.14）其中取相应磁场环境下（磁阻效应）测得的电阻率，如果没有测试磁阻效应，那么就取0磁场环境下测得的电阻率。
3.2 Hall Bar 1-2-2-1法Hall Bar法是测量霍尔效应的理想方法。
因为这种方法可以使电流沿着长轴流过样品，而电流正好垂直于外部磁场。
Hall Bar法常常用在测量磁阻和低电阻的霍尔迁移率当中。
Hall bar法也有缺点，缺点包括：要测量迁移率最少需要6个接触点，电阻率的测量精度对于样品的形状十分敏感，Hall bar公式当中的样品宽度和接触点间距都很难精确测量。
当然，通过延长接触点的长度可以提高测量的精度，但是这样的形状很难在易碎的样品上做出来。
一个理想的六电极1-2-2-1样品是均匀的，见图3.3 。
样品两边的电极间距a和b相等，且电极关于样品长轴的正中心对称。
这种样品在进行电阻率和霍尔系数的测量时，允许两次等价的测量来检查样品的均匀性。
然而，由于测量霍尔电压的电极都靠近样品的头尾两部，即电流电极，这样会减小霍尔电压，同时也就低估了霍尔系数。
尽管这样，1-2-2-1法包含在ASTM标准F76里，只是这里的电极定义与标准不一样。
图3.3六电极1-2-2-1样品3.2.1电阻率如果不测磁阻效应，那么电阻率就在0磁场环境下测试，………………………………………（3.15）………………………………………（3.16）和的差值应该在10%以内，如果超过这个范围，就说明样品不均匀。
如果在这个范围，那么样品的电阻率就取它们的平均值。
（见公式3.6）3.2.2磁阻效应………………（3.17）………………（3.18）整个样品在非0磁场环境下的电阻率也是和的平均值。
（见公式3.9）。
3.2.3霍尔系数（3.19）（3.20）和的差值应该在10%以内，如果超过这个范围，就说明样品不均匀。
如果在这个范围，那么样品的霍尔系数就取它们的平均值（见公式3.12）。
3.2.4载流子浓度（见公式3.13）3.2.5霍尔迁移率（见公式3.14）3.3 Hall Bar 1-3-1-1法理想的1-3-1-1样品，它的电极2和电极4正好位于长轴中心的两侧，电极1和电极3位于电极2一侧且关于它对称。
这种样品不允许均匀性检测，但在样品正中心处检测霍尔电压有助于减小由于电流电极带来的霍尔电压衰减。
这种方法不在ASTM标准F76里。
图3.4六电极1-3-1-1样品3.3.1电阻率如果不测磁阻效应，那么电阻率就在0磁场环境下测试，…………………………………………（3.21）3.3.2磁阻效应…………………（3.22）3.3.3霍尔系数（3.23）3.3.4载流子浓度（见公式3.13）3.3.5霍尔迁移率（见公式3.14）3.4 Hall Bar 1-3-3-1法八电极1-3-3-1样品是理想的最对称的Hall Bar形状。
样品两侧各有3个电极，它们分布均匀，且关于长轴两两对称。
其中电极2和电极4正好位于长轴中心两侧。
电极1到4作为电压测量端，电流从电极5流进，从电极6流出。
八个电极中只有六个用于测量。
剩余的两个电极没有命名，只用于保证样品的完全对称。
八电极Hall Bar法结合了1-2-2-1法的均匀性检测和1-3-1-1法的中心测量霍尔电压两种优势。
它允许两次电阻率测量来检测均匀性，但是霍尔系数测量只有一次测量。
1-2-2-1法和1-3-1-1法都可以使用八电极的公式，只需要把它们的电极移置到相似位置即可。
八电极Hall Bar法包含在ASTM标准F76里，只是这里的电极定义与标准不一样。
图3.5 八电极1-3-3-1样品3.4.1电阻率如果不测磁阻效应，那么电阻率就在0磁场环境下测试，………………………………………（3.24）………………………………………（3.25）和的差值应该在10%以内，如果超过这个范围，就说明样品不均匀。
如果在这个范围，那么样品的电阻率就取它们的平均值。
（见公式3.6）3.4.2磁阻效应（请见公式3.17, 3.18, 3.9）3.4.3霍尔系数（3.26）3.4.4载流子浓度（见公式3.13）3.4.5霍尔迁移率（见公式3.14）。