X射线衍射晶体结构分析实验报告
x射线晶体衍射实验报告
x射线晶体衍射实验报告X射线晶体衍射实验报告引言：X射线晶体衍射实验是一种重要的实验方法，通过将X射线照射到晶体上，利用晶体的结构特性，可以观察到衍射图样，从而了解晶体的结构和性质。
本文将介绍X射线晶体衍射实验的原理、实验装置和实验结果，并分析实验中的一些问题和改进方法。
一、实验原理X射线晶体衍射是基于布拉格方程的原理。
当X射线照射到晶体上时，晶体中的原子会对X射线进行散射，形成衍射波。
根据布拉格方程，衍射波的相位差与入射波的入射角、晶格常数和衍射角有关。
通过测量衍射角和入射角的关系，可以计算出晶格常数和晶体结构的一些信息。
二、实验装置实验中使用的装置主要包括X射线发生器、单晶样品、衍射仪和探测器。
X射线发生器产生高能的X射线，单晶样品是实验中的研究对象，衍射仪用于收集和聚焦衍射波，探测器用于测量衍射波的强度。
三、实验步骤1. 准备工作：调整X射线发生器的参数，使其产生适合实验的X射线能量。
选择合适的单晶样品，并将其固定在衍射仪上。
2. 调整衍射仪：通过调整衍射仪的入射角和出射角，使得衍射波能够被探测器收集到。
3. 开始实验：打开X射线发生器，照射X射线到单晶样品上。
同时，探测器开始测量衍射波的强度。
4. 数据处理：根据探测器测得的衍射波强度，计算出衍射角，并绘制衍射图样。
5. 结果分析：根据衍射图样，计算出晶格常数和晶体结构的一些信息，并与已知数据进行对比。
四、实验结果在实验中，我们选择了某晶体样品进行研究。
通过测量和计算，得到了该晶体的衍射图样和晶格常数。
通过与已知数据对比，我们确认了该晶体的结构和性质。
五、问题与改进在实验过程中，我们遇到了一些问题，并提出了一些改进方法。
首先，由于X射线的能量和强度有限，可能会导致衍射图样的强度较弱，影响数据的准确性。
为了解决这个问题，可以尝试增加X射线的能量和强度，或者使用更灵敏的探测器。
其次，实验中的样品制备和固定也需要一定的技巧和经验，可以通过改进样品制备方法和优化固定装置来提高实验效果。
9.X射线衍射法测定晶体结构
X射线衍射法测定晶体结构一、实验目的1．了解X射线衍射的基本原理及仪器装置；2．理解粉末衍射的XRD分析测试方法，并应用XRD 数据进行物相分析。
二、实验原理X射线衍射分析（X-ray diffraction，简称XRD），是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。
将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。
X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等。
晶体对X射线的衍射，归根结底是晶体中原子的电子对X射线的相干散射。
当X射线电磁波作用于电子后，电子在其电场力作用下，将随着X射线的电场一起震动，成为一个发射电磁波的波源，其震动频率与X射线频率相同。
一个单原子能使一束X射线向空间所有方向散射。
但数目很大的原子在三维空间里呈点阵形式排列成晶体时，由于散射波之间的互相干涉，所以只有在某些方向上才产生衍射。
衍射方向取决于晶体内部结构周期重复的方式和晶体安置的方位。
测定晶体的衍射方向，可以求得晶胞的大小和形状。
联系衍射方向和晶胞大小形状间关系的方程有两个：Laue（劳）方程和Bragg（布拉格）方程。
前者以直线点阵为出发点，后者以平面点阵为出发点，这两个方程是等效的，可以互推。
晶体的X射线衍射图像实质上是晶体微观结构的一种精细复杂的变换，每种晶体的结构与其X射线衍射图之间都有着一一对应的关系，其特征X 射线衍射图谱不会因为它种物质混聚在一起而产生变化，这就是X射线衍射物相分析方法的依据。
制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化，将待分析物质的衍射花样与之对照，从而确定物质的组成相，就成为物相定性分析的基本方法。
三、仪器设备本实验使用的仪器是Rigaku Ultima X射线衍射仪。
主要由冷却循环水系统、X射线衍射仪和计算机控制处理系统三部分组成。
x射线衍射分析实验报告
x射线衍射分析实验报告X射线衍射分析实验报告。
实验目的：本实验旨在通过X射线衍射技术对晶体结构进行分析，以了解晶体的结构和性质，并掌握X射线衍射技术的基本原理和操作方法。
实验仪器与设备：1. X射线衍射仪，用于产生X射线，并测量样品对X射线的衍射情况。
2. 样品，需要进行分析的晶体样品。
3. 数据处理软件，用于处理和分析实验得到的数据。
实验步骤：1. 样品制备，取得晶体样品，进行必要的处理和制备。
2. 实验仪器准备，打开X射线衍射仪，调试仪器参数，确保仪器正常工作。
3. 进行X射线衍射，将样品放置在X射线衍射仪中，进行X射线衍射实验。
4. 数据处理与分析，使用数据处理软件对实验得到的数据进行处理和分析，得出样品的晶体结构信息。
实验结果与分析：通过本次实验，我们成功得到了样品的X射线衍射图谱，并进行了数据处理和分析。
根据X射线衍射图谱的特征峰值和衍射角度，我们确定了样品的晶体结构信息，包括晶格常数、晶胞结构等。
通过对实验数据的分析，我们得出了样品的晶体结构参数，并对样品的性质进行了初步了解。
实验结论：本次实验通过X射线衍射技术对样品的晶体结构进行了分析，得出了样品的晶体结构信息，并初步了解了样品的性质。
实验结果表明，X射线衍射技术是一种有效的手段，可用于分析晶体结构和性质。
通过本次实验，我们对X射线衍射技术有了更深入的了解，并掌握了X射线衍射技术的基本原理和操作方法。
实验总结：本次实验对我们了解晶体结构分析技术具有重要意义，通过实际操作，我们深入掌握了X射线衍射技术的原理和方法。
同时，本次实验也为我们今后的科研工作奠定了基础，为我们进一步深入研究晶体结构和性质打下了良好的基础。
希望通过今后的努力，能够更深入地探索X射线衍射技术在晶体结构分析中的应用，为科学研究做出更大的贡献。
通过本次实验，我们不仅学习到了X射线衍射技术的基本原理和操作方法，还对晶体结构分析有了更深入的了解。
我们相信，通过不断的学习和实践，我们一定能够运用所学知识，取得更加丰硕的科研成果。
X射线衍射结构分析实验报告
X 射线衍射结构分析实验【摘要】在一定条件下，每一种物质在被电子流轰击时都会产生特定的X 射线。
而X 射线的波长很小，可利用晶体这个天然的光栅使X 射线发生衍射。
本实验通过轰击钼靶产生一定波长的X 射线，并将NaCl 晶体作为光栅使其发生衍射。
通过一级衍射峰θ的值的测量，可测定NaCl 晶体的晶格结构。
【关键词】X 射线 衍射 布拉格方程 晶格常树引言：X 射线是波长介于紫外线和γ射线之间的电磁辐射，是一种波长很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。
X 射线最早是由德国科学家伦琴在1895年在研究阴极射线发现，它具有很强的穿透性，又因为X 射线是不带电的粒子流，所以在电磁场中不偏转。
1912年劳厄等人发现了X 射线在晶体中的衍射现象，证实了X 射线本质上是一种波长很短的电磁辐射，其波长约为10nm 到10–2nm 之间，与晶体中原子间的距离为同一数量级，用已知的X 射线可测定各种晶体的晶格结构。
也可以用已知晶体结构的晶体来测定未知X 射线的波长，从而确定未知物质的成分。
正文： 1、实验目的：1. 了解X 射线的产生、特点和应用；2. 了解X 射线衍射仪的结构和工作原理3. 掌握X 射线衍射物相定性分析的方法和步骤2、实验原理：1、由于X 光的波长与一般物质中原子的间距同数量级，因此X 光成为研究物质微观结构的有力工具。
当X 光射入原子有序排列的晶体时，会发生类似于可见光入射到光栅时的衍射现象。
1913年英国科学家布拉格父子（W.H.Bragg 和W.L.Bragg ）证明了X 光在晶体上衍射的基本规律为(如图2所示)：λθn d =sin 2 (1)根据布拉格公式，既可以利用已知的晶体（d 已知）通过测量θ角来研究未知X 光的波长，也可以利用已知的X 光（λ已知）来测量未知晶体的晶面间距。
本实验利用已知钼的X 光特征谱线来测量氯化钠（NaCl ）晶体的晶面间距，从而得到其晶体结构。
X射线衍射晶体结构分析实验报告
X射线衍射晶体结构分析实验报告X射线衍射晶体结构分析实验预习报告摘要：本实验通过采⽤与X射线波长数量级接近的物质即晶体这个天然的光栅来作狭缝，从⽽研究X射线衍射。
本实验将了解到X射线的产⽣、特点和应⽤；理解X射线管产⽣连续X射线谱和特征X射线谱的基本原理；⽤三种个⽅法研究X射线在NaCl单晶上的衍射，并通过测量X射线特征谱线的衍射⾓测定X射线的波长和晶体的晶格常数。
关键词：布拉格公式晶体结构波长衍射 X射线引⾔：1895年德国科学家伦琴（W.C.R?ntgen）在⽤克鲁克斯管研究阴极射线时，发现了⼀种⼈眼不能看到，但可以使铂氰化钡屏发出荧光的射线，称为X射线。
X射线是⼀种波长很短(约为20～0.06埃)的电磁波，能穿透⼀定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、⽓体电离。
在⽤⾼能电⼦束轰击⾦属“靶”材产⽣X射线，它具有与靶中元素相对应的特定波长，称为特征（或标识）X射线。
如通常使⽤的靶材对应的X射线的波长⼤约为1.5406埃。
考虑到X射线的波长和晶体内部原⼦⾯间的距离相近，1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出⼀个重要的科学预见：晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当⼀束 X射线通过晶体时将发⽣衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些⽅向上加强，在其他⽅向上减弱。
分析在照相底⽚上得到的衍射花样，便可确定晶体结构。
这⼀预见随即为实验所验证。
X射线衍射在⾦属学中的应⽤X射线衍射现象发现后，很快被⽤于研究⾦属和合⾦的晶体结构，出现了许多具有重⼤意义的结果。
如韦斯特格伦（A.Westgren）(1922年)证明α、β和δ铁都是⽴⽅结构，β-Fe并不是⼀种新相;⽽铁中的α─→γ转变实质上是由体⼼⽴⽅晶体转变为⾯⼼⽴⽅晶体，从⽽最终否定了β-Fe硬化理论。
随后,在⽤X射线测定众多⾦属和合⾦的晶体结构的同时，在相图测定以及在固态相变和范性形变研究等领域中均取得了丰硕的成果。
如对超点阵结构的发现，推动了对合⾦中有序⽆序转变的研究，对马⽒体相变晶体学的测定，确定了马⽒体和奥⽒体的取向关系；对铝铜合⾦脱溶的研究等等。
x射线粉末衍射实验报告
x射线粉末衍射实验报告X射线粉末衍射实验报告引言：X射线粉末衍射是一种重要的实验方法，广泛应用于材料科学、物理学和化学等领域。
本实验旨在通过X射线粉末衍射实验，研究晶体结构和晶体的晶格常数。
实验原理：X射线粉末衍射是利用X射线通过晶体时，由于晶体的周期性结构，X射线会被晶体中的原子散射，并形成一系列衍射斑。
这些衍射斑的位置和强度可以提供关于晶体结构的信息。
实验中使用的X射线源通常是一台X射线衍射仪，而样品则是粉末状的晶体。
实验步骤：1. 准备样品：将晶体样品研磨成粉末状，并均匀地撒在玻片上。
2. 调整仪器：将样品放置在X射线衍射仪的样品台上，并调整仪器使得X射线能够垂直照射到样品上。
3. 开始测量：打开X射线衍射仪，开始测量衍射图样。
4. 数据处理：将测量得到的衍射图样进行分析，确定衍射斑的位置和强度。
5. 结果分析：根据衍射斑的位置和强度，计算晶体的晶格常数和晶体结构。
实验结果：通过对样品进行X射线粉末衍射实验，我们得到了一张衍射图样。
在图样中，我们观察到了一系列的衍射斑，这些斑点的位置和强度提供了关于晶体结构的重要信息。
根据衍射斑的位置和强度，我们可以计算出晶体的晶格常数和晶体结构。
晶格常数是晶体中原子排列的基本单位长度，而晶体结构则描述了晶体中原子的排列方式。
通过对实验结果的分析，我们可以得到晶体的晶格常数和晶体结构。
这些结果对于理解晶体的性质和应用具有重要意义。
讨论与结论：X射线粉末衍射实验是一种非常有用的方法，可以用来研究晶体结构和晶体的晶格常数。
通过实验，我们可以获得关于晶体的重要信息，对于材料科学、物理学和化学等领域的研究具有重要意义。
然而，X射线粉末衍射实验也存在一些限制。
首先，样品必须是粉末状的晶体，这对于某些晶体样品来说可能是困难的。
其次，实验结果的分析和解读需要一定的专业知识和经验。
综上所述，X射线粉末衍射实验是一种重要的实验方法，可以用来研究晶体结构和晶体的晶格常数。
通过实验，我们可以获得关于晶体的重要信息，对于材料科学、物理学和化学等领域的研究具有重要意义。
xrd分析实验报告
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XRD分析实验报告
引言
X射线衍射（XRD）是一种常用的材料分析技术，通过分析材料的晶体结构和
晶体衍射图谱，可以获得材料的结构信息、晶体学参数和晶体质量等重要信息。
本实验旨在利用XRD技术对样品进行分析，以获得材料的晶体结构信息和晶体
学参数。
实验目的
通过XRD分析，获取样品的晶体结构信息和晶体学参数。
实验仪器
X射线衍射仪（XRD）
实验方法
1. 准备样品，将样品制成粉末状。
2. 将样品放置在X射线衍射仪中，进行XRD分析。
3. 分析样品的XRD图谱，获得样品的晶体结构信息和晶体学参数。
实验结果
通过XRD分析，获得了样品的XRD图谱，根据图谱分析得到了样品的晶体结
构信息和晶体学参数。
讨论
通过XRD分析，我们得到了样品的晶体结构信息和晶体学参数，这些信息对于
研究材料的性质和应用具有重要意义。
通过对XRD图谱的分析，我们可以进一
步研究样品的晶体结构和晶体学性质，为材料的研究和应用提供了重要的参考
依据。
结论
通过XRD分析，我们成功获得了样品的晶体结构信息和晶体学参数，这将为材料的研究和应用提供重要的参考依据。
总结
XRD分析是一种非常重要的材料分析技术，通过对样品的XRD图谱进行分析，可以获得材料的晶体结构信息和晶体学参数，为材料研究和应用提供重要的参考依据。
在今后的研究中，我们将继续利用XRD技术对材料进行深入分析，为材料的研究和应用提供更多的有益信息。
X射线衍射晶体结构分析实验报告
近代物理实验报告X射线衍射晶体结构分析学院数班级姓名学号时间 2013年10月12日--------------------------可以编辑的精品文档，你值得拥有，下载后想怎么改就怎么改---------------------------X射线衍射晶体结构分析【摘要】本实验通过采用与X射线波长数量级接近的物质即晶体这个天然光栅来作狭缝，从而研究X射线衍射。
由布拉格公式以及实验中采用的NaCl晶体的结构特点即可在知道晶格常数条件下测量计算出X射线的波长。
并通过已知波长来测定其他晶体的晶格结构。
主要是测量氯化钠的特定的晶面距。
【引言】 X射线是波长介于紫外线和γ射线间的电磁辐射。
由德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现，故又称伦琴射线。
波长小于0.1埃的称超硬X射线，在0.1～1埃范围内的称硬X射线，1～10埃范围内的称软X射线。
伦琴射线具有很高的穿透本领，能透过许多对可见光不透明的物质，如墨纸、木料等。
这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光，使照相底片感光以及空气电离等效应，波长越短的X射线能量越大，叫做硬X射线，波长长的X射线能量较低，称为软X射线。
实验室中X射线由X射线管产生，X射线管是具有阴极和阳极的真空管，阴极用钨丝制成，通电后可发射热电子，阳极（就称靶极）用高熔点金属制成（一般用钨，用于晶体结构分析的X射线管还可用铁、铜、镍等材料）。
用几万伏至几十万伏的高压加速电子，电子束轰击靶极，X射线从靶极发出。
电子轰击靶极时会产生高温，故靶极必须用水冷却，有时还将靶极设计成转动式的。
本实验通过对X 射线衍射实验的研究来进一步认识其性质。
【实验方案】一、实验原理1、布拉格公式：光波经过狭缝将产生衍射现象。
狭缝的大小必须与光波的波长--------------------------可以编辑的精品文档，你值得拥有，下载后想怎么改就怎么改-----------------------------------------------------可以编辑的精品文档，你值得拥有，下载后想怎么改就怎么改---------------------------同数量级或更小。
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14.3
3
19.3
21.9
（pm） 59.93
61.52 62.14
（pm） 67.76
69.66 70.12
实验总结 对于x射线的衰变与吸收物质厚度关系的实验，x射线不是简单的用
吸收系数来描述。在其他条件相同的条件下，厚度越大，衰变越厉害。 但通过相同厚度的吸收物质，没装锆滤片比装锆滤片能量要高。对于波 长一定时，线吸收系数随原子序数的增加而增加，但到z=40时，线吸收 系数骤减，然后在增加。这里我存在一个疑问，为什么原子序数为6时 的强度反而比没有阻挡时还要高。X射线在Nacl晶体中的衍射实验，测
数据记录：
原子序 数
R/s-1
R/s-1
T=R/R0 T=R/R0
（Z） （无Zr）（Zr） （无Zr） （Zr）
（无Zr） （Zr）
0 110.23 29.63 1.0000 1.0000 6 122.83 32.27 1.1141 1.0892 13 73.73 16.63 0.6689 0.5614 26 14.503 4.157 0.1316 0.1402 29 1.387 0.567 0.0126 0.0194 40 10.033 4.797 0.0910 0.1624 47 8.543 1.547 0.0775 0.0522
数据记录：
厚度d/mm
R/s-1 （无Zr）
R/s-1 （Zr）
T=R/R0 （无Zr）
T=R/R0 （Zr）
0
40.72
42.53
1.0000
1.0000
0.5
17.99
17.60
0.4418
0.4138
1.0
9.18
7.84
0.2254
0.1844
1.5
4.32
3.62
0.1061
0.0851
2.0
a． 设置X光管的高压U=21KV，电流I=0.05mA，角步幅，测量 时间。
b． 按TARGET键，用ADJUST旋钮，使靶的角度为（每转动吸收 体厚度增加0.5mm）。
c． 按SCAN键进行自动扫描。 d． 扫描完毕后，按REPLAY键，读取数据。 e． 按TARGET键，用ADJUST旋钮，使靶的角度依次
0.000 -0.216 8.043 40.564 87.509 47.933 51.149
0.000 -1.707 11.552 39.280 79.124 36.416 59.049
布拉格公式
一束波长为λ的X射线射到间距为d的晶体上，入射角与面族成θ 角，如图9-2所示，在晶面A被原子散射，其散射波必定互相干涉，并在 某特定方向形成加强的衍射线束，可以认为晶体是由一族晶面叠成的， 不管各原子在晶面上如何排列，只要衍射波束在入射平面内，而且他对 晶面的夹角等于入射束与晶面的夹角，则从同一晶面上各原子发出的在 该方向上的衍射波位相是相同的。当满足条件 时晶面A与B的散射波的位相一致，称为产生衍射的条件，也就是布拉格 公式，它说明了X射线的基本关系。对一波长为λ的X射线，射到间距为 d的晶面族上，掠射角为θ，当满足条件时发生衍射，衍射线在晶面的 的反射线方向。因不同晶体晶面族的间距不同，就要改变掠射角以使其 发生衍射，如果测出某衍射线的晶面族的掠射角θ，找出其对应的n 值，就可以由布拉格公式求出该晶面族的面间距d，从而计算出晶体的 晶格常数。 实验内容 X射线在NaCl晶体中的衍射 按要求安装实验仪器，使靶台和直准器间的距离为5cm，和传感器的距 离为6cm。将NaCl单晶固定在靶台上，启动软件“X-ray Apparatus”按
琴[3]于1895年发现，故又称伦琴射线。波长小于0.1埃的称超硬X射 线，在0.1～1埃范围内的称硬X射线，1～10埃范围内的称软X射线。 实验室中X射线由X射线管产生，X射线管是具有阴极和阳极的真空 管，阴极用钨丝制成，通电后可发射热电子，阳极（就称靶极）用高 熔点金属制成（一般用钨，用于晶体结构分析的X射线管还可用铁、 铜、镍等材料）。用几万伏至几十万伏的高压加速电子，电子束轰击 靶极，X射线从靶极发出。电子轰击靶极时会产生高温，故靶极必须 用水冷却，有时还将靶极设计成转动式的。
d. 按SCAN键进行自动扫描。
e. 扫描完毕后，按REPLAY键，读取数据。
f. 设置X光管的高压U=30KV，电流I=1.00mA，角步幅，测量
时间。 g. 按TARGET键，用ADJUST旋钮，使靶的角度依次
为、、、、。 h. 按SCAN键进行自动扫描。
扫描完毕后，按REPLAY键，读取数据。
度时被吸收的比率，则有（图2—1）：
（2.1）
考虑边界条件并进行积分，则得：
（2.2）
透射率 ，则得：
（2.3）
（2.4）
式中μ称为线衰减系数，x为试样厚度。我们知道，衰减至少应被 视为物质对入射线的散射和吸收的结果，系数μ应该是这两部分作用之 和。但由于因散射而引起的衰减远小于因吸收而引起的衰减，故通常直 接称μ为线吸收系数，而忽略散射的部分。 实验内容： 1.研究X射线的衰减与吸收体厚度的关系 （1）直准器前没安装锆滤片（Zr）
幅，测量时间。 3. 按TARGET键，用ADJUST旋钮，使靶的角度依次
为、、。（每转动约吸收体物质发生改变）。 4. 按SCAN键进行自动扫描。 5. 扫描完毕后，按REPLAY键，读取数据。 6. 设置X光管的高压U=30KV，电流I=1.00mA，角步
幅，测量时间。 7. 按TARGET键，用ADJUST旋钮，使靶的角度依次
2.46
1.99
0.0604
0.0468
2.5
1.52
1.32
0.0373
0.0310
3.0
1.20
0.94
0.0294
0.0221
根据公式，通过作图算出斜率，得到无Zr时，有Zr时 2.研究X射线的衰减与吸收体物质（Z）的关系 （1）直准器前没安装锆滤片（Zr）
1. 按ZERO键，使测角器归零 2. 设置X光管的高压U=30KV，电流I=0.02mA，角步
得波长较为准确。
X射线仪器 B1
B2
B4
B5
B3 A0 A1 A2 A3 A4 监控区 X光管 实验区
图4—5 X射线实验仪
线吸收系数
假设入射线的强度为R0，通过厚度dx的吸收体后 ，由于在吸收体
内受到“毁灭性”的相互作用，强度必然会减少，减少量dR显然正比于
吸收体的厚度dx，也正比于束流的强度R，若定义μ为X射线通过单位厚
X射线衍射晶体结构分析实验报告
物理072 陈焕 07180217 摘要：介绍了布拉格公式的具体内容，用劳厄法测定单晶的晶格常数， 以及X射线仪器的介绍，还介绍了测定晶格常数、晶格结构、晶面间距 的实验方案。 关键字：布拉格公式 劳厄法 X射线仪器 实验方案
引言： 波长介于紫外线和γ射线间的电磁辐射。由德国理学家W.K.伦
为、、、、、，进行实验。 f． 记录数据。（如表1） （2）直准器前安装锆滤片（Zr） a．按ZERO键，使测角器归零 b．设置X光管的高压U=21KV，电流I=0.15mA，角步幅，测量时 间。 c． 按TARGET键，用ADJUST旋钮，使靶的角度依次
为、、、、、、。 d． 按SCAN键进行自动扫描。 e． 扫描完毕后，按REPLAY键，读取数据。
或F4键清屏；设置X光管的高压U=35.0KV，电流I=1.00mA测量时间，角 步幅，按COUPLED键，再按键，设置下限角为 4.0o, 上限角为24o；按 SCAN键进行自动扫描；扫描完毕后，按
或F2键存储文件 3s
4s
5s
6s
数据处理
根据布拉格公式，
n
（）
（）
1
6.1
6.9
2
12.6
为、、、。 8. 按SCAN键进行自动扫描。 9. 扫描完毕后，按REPLAY键，读取数据。
（2）直准器前安装锆滤片（Zr） a. 按ZERO键，使测角器归零 b. 设置X光管的高压U=30KV，电流I=0.02mA，角步幅，测量
时间。
c. 按TARGET键，用ADJUST旋钮，使靶的角度依次为、、。