涂膜测厚仪TT220
涂层测厚仪使用方法
涂层测厚仪使用方法简介涂层测厚仪是一种用于测量涂层膜厚度的仪器。
在工业生产和质量控制领域，涂层测厚仪被广泛应用于检测涂层的质量和性能。
本文将介绍涂层测厚仪的使用方法，包括准备工作、操作步骤和注意事项。
准备工作在使用涂层测厚仪之前，我们需要先做一些准备工作，确保仪器能够正常工作并获得准确的测量结果。
1.仪器校准：在开始测量之前，需要对涂层测厚仪进行校准。
校准过程通常需要参照标准样品或者校准片来确定仪器的准确度。
校准的频率和方法需要根据具体的仪器型号和生产厂家的指导文档进行。
2.适应环境：确保测量环境稳定和适宜。
避免强烈的光线干扰和空气流动。
在室外环境下使用涂层测厚仪时，需避免风力过大或有雨雪的天气。
3.准备样品：根据需要测量的涂层对象，准备好待测样品。
确保样品表面清洁、干燥、平整，以确保测量的准确性。
操作步骤准备工作完成后，我们可以开始使用涂层测厚仪进行测量了。
下面是一般的操作步骤：1.开机：按下仪器的电源开关，等待仪器开机完成。
在开机过程中，可以根据显示屏上的指示来了解仪器的状态。
2.选择测量模式：根据待测涂层的性质选择合适的测量模式。
常见的测量模式包括磁性涂层、非磁性涂层、单点测量和连续测量等。
3.设置参数：根据实际需求，设置适当的测量参数。
例如，选择测量单位、设置测量范围、调整亮度等。
4.测量点选取：在样品的不同位置选取几个代表性的测量点。
尽量避免测量点过于接近或过于集中在一起，以保证测量结果的可靠性。
5.测量：将涂层测厚仪的探头对准待测样品，轻轻按下触发按钮开始测量。
注意保持探头与样品表面垂直，并保持一定的接触力。
在测量过程中，涂层测厚仪会发出声音或显示测量结果。
6.记录结果：仪器显示测量结果后，可以将结果记录下来。
建议在不同测量点上进行多次测量，然后取平均值来提高结果的准确性。
7.关闭仪器：测量完成后，按下仪器的电源开关，关闭仪器。
注意事项在使用涂层测厚仪进行测量时，需要注意以下事项以确保测量的准确性和仪器的可靠性：1.避免干扰物：在测量过程中，避免与其他金属物体接触，以防止干扰测量结果。
TT220涂层测厚仪使用方法
二、进行二点校准
覆层测厚仪使用方法
2.将测覆盖厚度（102μm) 的标准片放于基体表面进 行一次测量。
二、进行二点校准
覆层测厚仪使用方法
4.使其达到标准片的 标准值。即完成校准。
3.用调节键修正屏示读数，
二、进行二点校准
如果需要精确进行二次校准，可以重复 进行，以提高校准精度，减少偶然误差。
TT220 覆层测厚仪的使用方法
液晶显示屏 充电口
打印口
调节键 测头
MODE键（功能键）
开关机键
覆层测厚仪示意图
充电器
基体
标准片
覆层测厚仪配件示意图
覆层测厚仪测量范围及技术参数
示值误差 工作原理 测量范围（μm） 低限分辩力（μm） （μm）
磁感应 0--40°C 0--1250 湿度 1 20%---90%RH@ 铁基 ±（3%H+ห้องสมุดไป่ตู้） 无磁场环境
型号
TT220 使用环 境
适用基体
覆层测厚仪使用方法
1.开机后首先将测头 接触基体1次，在基体 上进行一次测量。
2.仪器显示数据。
一、进行零点校准
覆层测厚仪使用方法
4.屏显《0.00um》， 即完成校准。
3.按一下“ON/C键
一、进行零点校准
覆层测厚仪使用方法
1.选择检测厚度大致等于预计待测覆盖厚度的标准片， 放于基体上。标准片的厚度（102μm)
涂层测厚仪操作方法说明书
涂层测厚仪操作方法说明书一、引言在涂装行业中，涂层测厚仪是一种非常重要的工具，它用于测量涂层的厚度，以确保涂层的质量符合要求。
本操作方法说明书将详细介绍涂层测厚仪的操作指南，以帮助操作人员正确、高效地进行测量。
二、准备工作在使用涂层测厚仪之前，需要进行以下准备工作：1. 确保涂层测厚仪已经校准并处于正常工作状态。
2. 检查测量探头的清洁程度，如果探头脏污，则使用干净的棉布轻轻擦洗。
3. 确保被测涂层表面的清洁程度，如果有污垢或油脂，应先清除。
三、操作步骤请按照以下步骤正确操作涂层测厚仪：1. 打开涂层测厚仪的电源开关，并在屏幕上确认测量范围和单位是否正确。
2. 将探头轻轻放置在被测涂层表面上，确保探头与被测表面垂直接触。
3. 按下测量按钮进行测量，涂层测厚仪会发出声音或显示测量结果。
4. 如果需要连续测量多个区域，可自行选择扫描模式或连续测量模式，并按照测量范围进行移动。
5. 在测量完毕后，将涂层测厚仪的探头清洁干净，并关闭电源开关。
四、注意事项为确保准确测量和安全使用涂层测厚仪，请注意以下事项：1. 在使用涂层测厚仪之前，务必仔细阅读并理解操作说明书，熟悉设备的功能和操作步骤。
2. 在测量过程中，保持探头与被测涂层表面的垂直接触，并保持探头稳定不晃动。
3. 如发现测量结果异常或不准确，应及时检查涂层测厚仪的探头和设备，确保其正常工作。
4. 避免将涂层测厚仪置于高温、潮湿或腐蚀性环境中，以免影响仪器的使用寿命。
5. 仪器长时间不使用时，应存放在干燥、通风的地方，并注意保护仪器的探头，避免受损。
五、维护保养为延长涂层测厚仪的使用寿命，需要进行定期的维护保养工作：1. 每次使用完毕后，用干净的棉布轻轻擦拭涂层测厚仪的表面，确保其干净无尘。
2. 定期检查涂层测厚仪的电池电量，并及时更换电池。
3. 如发现涂层测厚仪有异常，应及时送修维护，不要私自拆卸或修理设备。
4. 在存放涂层测厚仪时，应注意避免碰撞和摔落，同时保持仪器处于干燥的环境中。
泵站检测项目汇总
泵站检测项目一、土建工程实体质量检测1. 主要检测项目内容（1）建筑物外观检查：表面是否平整，边线是否顺直，主体结构是否有裂缝,砼表面有无蜂窝、麻面、露筋等缺陷等。
（2）混凝土强度检测；（3）主体结构钢筋保护层厚度检测；（4）主体结构表面平整度检测;（5）主体结构垂直度检测；（6）主要部位结构尺寸检测；(7）主要部位层面高程检测；（8）回填土质量检测；（9）护坡结构层厚度的检测。
2。
检测方法（1）通过目测法结合仪器对建筑物外观进行检查；(2)采用回弹法（必要时钻芯法或超声法）对结构混凝土强度进行检测；（3)利用磁感仪检测钢筋保护层厚度；(4)利用钢尺、工程检测尺、三维激光定向仪、水准仪和全站仪等工具对构筑物尺寸、平整度、垂直度、层面高程等进行检测；（5）通过现场挖探坑取样室内试验的方法检测建筑物周边及连接段回填土的压实度；（6)通过凿洞或钻芯法检测护坡厚度、强度、密实性等。
土建工程主要检测内容、方法及仪器见表1.1。
3．抽检频率按单元工程抽检20%，主要部位可以适当加密。
4．检测工作安排(1）工程开工初期和重要阶段抽检工程原材料质量；（2）砼浇筑结束并到一定龄期后，抽检砼强度;（3）回填土回填结束后，抽检回填土质量;（4）工程水下验收前,对土建部分进行一次综合性检测；（5)泵站厂房、控制室及管理房在主体结构粉刷前，对框架结构砼强度、外形尺寸、钢筋保护层厚度等进行检测.（6)泵站厂房、控制室及管理房装饰工程完成后，对装饰工程质量进行检测。
5．检测依据检测主要依据设计图纸和相关文件以及相应的规程、规范和标准：（1）《水闸施工规范》SL 27—91；(2）《泵站施工规范》SL 234-1999;（3）《水工混凝土试验规程》DL/T 5150—2001；（4)《混凝土结构施工质量验收规范》GB 50204-2002;（5）《土工试验规程》SL 237—1999;（6)《回弹法检测混凝土抗压强度技术规程》JGJ/T 23—2001；(7）《钻芯法检测混凝土强度技术规程》CECS03：2007;（8）《超声－回弹综合法检测混凝土强度技术规程》CECS02：2005;（9）《水利水电工程施工质量检验与评定规程》SL176-2007;（10)《泵站设计规范》GB/T 50265—97；(11）《陕西省水利工程施工质量检验评定标准》。
涂层测厚仪操作规程
涂层测厚仪操作规程
《涂层测厚仪操作规程》
一、设备准备
1. 确保涂层测厚仪已满电或已充足接入电源。
2. 确保涂层测厚仪所需的传感器已经安装好并处于正常状态。
需要注意传感器的清洁和保护，避免受到外部损坏。
二、测量前的准备
1. 将涂层测厚仪放置在平稳的台面上，并保持稳定。
2. 开启涂层测厚仪并等待设备自检完成。
3. 调整涂层测厚仪的测量参数，包括选择合适的测量模式、单位等。
三、测量操作
1. 将传感器贴合在待测涂层上，并尽量保持垂直。
2. 按下涂层测厚仪上的测量按钮，开始测量。
3. 在测量过程中，保持涂层测厚仪和传感器的稳定，避免外部干扰。
4. 当测量完成后，涂层测厚仪会显示测量结果，包括涂层厚度等相关信息。
四、测量后的处理
1. 将涂层测厚仪保存在干燥通风的环境中，避免受潮和高温。
2. 清洁涂层测厚仪和传感器，确保设备处于良好的工作状态。
3. 将测量结果记录在相关文件中，以备日后查阅。
五、安全注意事项
1. 使用涂层测厚仪时，避免将传感器和设备放置在潮湿或有腐蚀性气体的环境中。
2. 不要在涂层测厚仪上进行非相关操作，以防止损坏设备。
3. 使用完涂层测厚仪后，请及时关闭设备，并拔掉电源线。
以上就是关于涂层测厚仪操作规程的详细介绍，希望能够对使用者有所帮助。
涂层测厚仪的技术参数介绍
涂层测厚仪的技术参数介绍涂层测厚仪是一种常见的检测医疗器械、电子器件、汽车及船舶、涂料和油漆等尺寸和厚度的工具。
涂层测厚仪的技术参数是选择涂层测厚仪时必不可少的因素。
以下是介绍涂层测厚仪的技术参数的详细内容。
仪表原理磁性涂层测厚原理磁性涂层通过在表面应用预先存在的磁场。
形成的磁场没有场效应，只能穿透在它的上面的金属或非金属表面。
通过涂层测厚仪的探头的磁场，来测量涂层厚度，当涂层越厚时，磁场的反转点会越远，并且反转点会在涂层中心和底面之间。
涂层测厚光学原理涂层测厚光学原理利用反射和折射原理。
通过涂层测厚仪的探头以45度的角度，与被测试表面碰撞，从而使光反射回探头上。
探头会测量出反射回来的时间，从而计算出涂层的厚度。
技术参数测试范围测试范围指涂层测厚仪使用特定探头测量涂层厚度的范围。
涂层厚度通常通过微米或毫米来衡量。
仪表精度仪表精度是指涂层测厚仪测量结果的精度。
这个值通常以微米或毫米为单位。
在选择涂层测厚仪时，需要特别注意此参数，因为它将直接影响到测试结果的准确性。
显示分辨率显示分辨率是指涂层测厚仪显示涂层厚度的最小单位。
该值通常以微米或毫米为单位。
对于微小涂层的测量，需要使用分辨率更高的涂层测厚仪。
测量模式涂层测厚仪通常具有不同的测量模式，包括单点模式、扫描模式和统计模式等。
这些不同的模式可以应用于不同的测量应用。
数据存储涂层测厚仪通常具有数据存储功能，可以存储多个涂层测量结果以备将来查证。
不同的仪器可支持不同数量和格式的数据存储。
温度范围涂层测厚仪使用和存储时的环境温度范围。
需要特别注意涂层测厚仪在不同温度下的精确度，因为温度的变化可能会对精确度产生影响。
涂层磁性针对磁性涂层测量需要特别注意涂层测厚仪所需要的磁场强度和探头直径。
总结在选择涂层测厚仪时，我们必须要了解并考虑到仪表的技术参数，以确定涂层测厚仪是否适合我们的检测应用。
涂层测厚仪的技术参数主要包括测试范围、仪表精度、显示分辨率、测量模式、数据存储、温度范围和涂层磁性等。
涂层测厚仪如何选择 测厚仪常见问题解决方法
涂层测厚仪如何选择测厚仪常见问题解决方法涂层测厚仪分磁性测厚法和涡流测厚法，磁性是在磁性的基体测试非磁性的涂层，好比钢上的油漆，钢是磁性，油漆非磁性，涡流是在有色金属的基体测试非导电的绝缘涂层涂层测厚仪分磁性测厚法和涡流测厚法，磁性是在磁性的基体测试非磁性的涂层，好比钢上的油漆，钢是磁性，油漆非磁性，涡流是在有色金属的基体测试非导电的绝缘涂层。
好比铝上的油漆，铝是有色金属，油漆非导电。
在选择产品的时候，很多客户不知道本身需要哪款需要哪个来测试本身的产品，市场的产品太多，简单混乱，下面为大家讲解几种情况：1、测试什么（是产品的厚度？还是产品上面那层油漆的厚度）第一步分清楚需要时涂层测厚仪还是测试基体整体的厚度。
2、测试的底材（是磁性（钢、铁、合金和硬磁性钢等）还是铝（如铜、铝、锌、锡等）第二步是区分底材是什么？这样可辨别能不能测。
3、测试的表面是什么材料第三步是了解涂层的材料是什么，是磁性还是非磁性或者导电，有利选择产品。
4、测试的参数第四部就是测试的涂层大约是多厚，产品能否实现测量。
5、产品的价格第五步就是客户对产品的售后和价格趋向通过以上的分析我盟不但认得了涂层测厚仪的作用，也大约了解了应当怎么去选用，关于涂层的应用范围，远远不止是制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
我们在将来的世界里，它的显现，代表着一个专业化得改革。
—专业分析仪器服务平台,试验室仪器设备交易网,仪器行业专业网络宣扬媒体。
相关热词：等离子清洗机,反应釜,旋转蒸发仪,高精度温湿度计,露点仪,高效液相色谱仪价格,霉菌试验箱,跌落试验台,离子色谱仪价格,噪声计,高压灭菌器,集菌仪,接地电阻测试仪型号,柱温箱,旋涡混合仪,电热套,场强仪万能材料试验机价格,洗瓶机,匀浆机,耐候试验箱,熔融指数仪,透射电子显微镜。
德国菲希尔涂层测厚仪校准方法德国菲希尔涂层测厚仪的校准过程简单的来说就是开机—基底校准—有数值按ZERO归零，再次测试基地，假如显示数值为o，就可以开始测量产品。
五种常见镀层测厚仪类型及测厚方法
五种常见镀层测厚仪类型及测厚方法镀层测厚仪是一种常用的工具，用于测量各种物体表面的镀层厚度。
常见的镀层测厚仪类型有磁性涂层测厚仪、涡流涂层测厚仪、超声波涂层测厚仪、光学涂层测厚仪和放射性测厚仪。
下面将逐一介绍这些类型的测厚仪及其测厚方法。
1.磁性涂层测厚仪磁性涂层测厚仪主要用于测量金属表面的非磁性涂层厚度，如油漆、漆膜等。
它通过测量在测量位置上的磁场强度来确定涂层的厚度。
测厚仪工作时，将磁性涂层测厚仪放置在被测物体表面，仪器会产生一定强度的磁场，当磁场通过被测涂层时，由于涂层的存在，磁场会发生变化，通过测量磁场变化的大小，就可以确定涂层的厚度。
2.涡流涂层测厚仪涡流涂层测厚仪是用于测量金属表面涂层的工具。
它通过感应涡流的大小来确定涂层的厚度。
在测量过程中，测厚仪与被测物体表面接触，仪器会生成一定频率的交流电磁场，通过测量交流电磁场感应出来的涡流大小，就可以确定涂层的厚度。
3.超声波涂层测厚仪超声波涂层测厚仪是通过超声波的传播速度来确定涂层厚度的。
仪器会发射超声波，当超声波通过涂层时，会反射回来，通过测量超声波的传播时间和速度，就可以计算出涂层的厚度。
4.光学涂层测厚仪光学涂层测厚仪是用于测量透明涂层（例如玻璃、塑料等材料）的厚度。
测厚仪会发射一束可见光，当光线穿过透明涂层时，会发生反射和折射，通过测量反射和折射光的强度和角度，就可以计算出涂层的厚度。
5.放射性测厚仪放射性测厚仪是一种使用放射性同位素进行测量的测厚仪。
测厚仪内部放置有一个放射性同位素源，放射性同位素通过射线照射被测物体表面，当射线穿过涂层时，会发生衰减，通过测量射线衰减的程度，就可以确定涂层的厚度。
综上所述，常见的镀层测厚仪类型有磁性涂层测厚仪、涡流涂层测厚仪、超声波涂层测厚仪、光学涂层测厚仪和放射性测厚仪。
每种测厚仪都有其适用于不同材料和涂层类型的测厚方法，选择合适的测厚仪和测厚方法可以提高测量的准确性和精度。
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价格：2000元本仪器是磁性便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。
既可用于实验室，也可用于工程现场。
本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
是材料保护专业必备的仪器。
本仪器符合以下标准：GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性方法JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》特点：第 1 页●采用了磁性测厚方法，可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度●设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；●可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；●具有存贮功能：可存贮500个测量值；●具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；●可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；并可用直方图对一批测量值进行分析；●具有与PC机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至PC机，以便对数据进行进一步处理(选配)；●具有电源欠压指示功能；●操作过程有蜂鸣声提示；●具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示；●设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式；第 2 页1.1测量原理本仪器采用了磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)。
a)磁性法(F型测头)当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。
第 3 页1.2标准配置及可选件1.2.1标准配置1.2.2第 5 页1.3仪器各部分名称1.3.1仪器各部分名称1.4技术参数1.4.1测量范围及测量误差（见附录1）第 6 页1.4.2使用环境温度：0℃～40℃湿度：20%RH～90%RH无强磁场环境1.4.3电源可充电锂电池1.4.4外型尺寸和重量外形尺寸：150mm*56mm*24mm重量：约100g2仪器的使用使用本仪器前，请务必仔细阅读第3章(校准)和第4章(影响测量精度的因素)2.1基本测量步骤a)准备好待测试件（参见第4章）；第7 页b)将测头置于开放空间，按一下“ON/OFF”键，开机；开机时正常情况下，开机后显示上次关机前的测量值；如：c)是否需要校准仪器，如果需要，选择适当的校准方法进行（参见第4章）；d)测量:迅速将测头与测试面垂直地接触并轻压测头定位套，随着一声鸣响，屏幕显示测量值，提起测头可进行下次测量；e)关机:在无任何操作的情况下，大约2 3min后仪器自动关机。
按一下“ON/OFF”键，立即关机。
说明: 1. 如果在测量中测头放置不稳，显示一个明显的可疑值，可删除该值；2.重复测量三次或更多次后，可显示五个统计量，即：平均值（MEAN）、标准偏差（S.DEV）、测量次数（NO.）、最大测量值（MAX）、最小测量值（MIN）。
第8 页2.2各项功能及操作方法2.2.1工作方式（直接方式 成组方式）●直接方式此方式用于随意性测量，测量值暂存在内存单元（共有100个存贮单元），当存满100个存贮单元时，新的测量值将替掉旧的测量值,就是说总是最新的100个测量值参与统计计算。
●成组方式此方式便于用户分批记录所测试的数据，一组最多存100个数值，总共五组，可存500个数值。
每组当存满100个数值时，屏幕将显示“存储器满”，此时，仍可进行测量，但是测量值只显示不存储，也不参与统计计算。
需要时，可删除该组数据，再进行新的测量。
每组内设有一个校准值，即该组下各个数据都是基于这个校准值测得的。
每组内可设限界，即可对该组中的测量结果进行超限报警。
成组方式下，每个测量值都自动进入统计程序参与统计计算。
因为成组方式下，可存贮几套基于不同校准值的测量数据，因此该方式特别适合于现场测量。
注意：所有测量值都将自动输入统计。
第9 页第 10 页两种方式的转换方法：⊙仪器开机后，自动进入直接工作方式。
同时按下“MODE 和☐”键进入“统计值”界面，此时按下“ ☐”键进入“选项”界面，此时在同时按下“MODE 和☐”键进入“Fe ”界面，此时在“ ☐”键进入“工作方式”界面，此时在同时按下“MODE 和☐”键进入“批组”界面，此时按“☐或❑”可选择需要批组。
同时按下“MODE 和❑”键可退出该页面。
如下图：注意：“0”组代表直接方式；1-5组代表成组方式说明： “*” 表示该组中已有校准值；2.2.2统计计算本仪器对测量值自动进行统计处理，它需要至少三个测量值来产生5个统计值：平均值（MEAN）、标准偏差（S.DEV）、测试次数（No.）、最大测试值（MAX）、最小测试值（MIN）。
参加统计计算的测量值⊙ 在直接方式下所有测量值（包括关机前的测量值）均参加统计计算。
注意：当存满100个数值时，新的测量值将替代上次的测量值。
⊙ 在成组方式下，参加统计计算的测量值仅限于本组内的数据。
注意：每组当存满100个数值时，尽管测量能继续，但不能修改统计值。
需要时，可清除内存单元，再进行新的测量；●显示统计值显示单次测量值a)仪器开机后，自动进入直接工作方式。
同时按下“MODE和☐”键进入“统计值”界面，此时按下“❑”键进入“显示测量值”界面，此时同时按下“MODE和☐”键进入“单次测量数据”界面，此时按下“☐或❑”可查询单次测量值。
同时按下“MODE和❑”键可退出该页面。
如图：第11 页b)仪器开机后，自动进入直接工作方式。
同时按下“MODE和☐”键进入“统计值”界面，此时按下“MODE和☐”键进入“平均值”界面，此时按下“☐或❑”可依次查看平均值、最小值、最大值、标准偏差值。
同时按下“MODE和❑”键可退出该页面。
如图：注意：如需查看成组数据请先选择进入该组。
2.2.3删除a)同时按下“☐与❑”键即可删除单次测量数据。
b)同时按下“☐+❑+MODE”键即可删除所有测量数据。
注意：在未选择成组状态下只删除当前数据，选择成组状态下删除改组数据。
第12 页2.2.4关于测量和误差的说明⊙ 如已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差范围内(见附录1)；⊙ 根据统计学的观点，一次读数是不可靠的。
因此任何由ST220显示的测量值都是五次“看不见”的测量的平均值。
这五次测量是在几分之一秒的时间内由测头和仪器完成的；⊙为使测量更加精确，可利用统计程序在一个点多次测量，对误差较大的测量值可在测量后立即删除。
最后覆层的厚度为：CH = M+S+δ其中:CH：覆层厚度M：多次测量的平均值S：标准偏差δ：仪器允许误差3仪器的校准为使测量准确，应在测量场所对仪器进行校准。
第13 页3.1校准标准片（包括箔和基体）已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。
简称标准片。
a)校准箔对于磁性方法，“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。
对于涡流方法，通常采用塑料箔。
“箔”有利于曲面上的校准，而且比用有覆盖层的标准片更合适。
b)有覆盖层的标准片采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。
对于磁性方法，覆盖层是非磁性的。
3.2基体a)对于磁性方法，标准片基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体金属与待测试件基体金属上所测得的读数进行比较。
b)如果待测试件的金属基体厚度没有超过表一中所规定的临界厚度，可采用下面两种方法进行校准：1)在与待测试件的金属基体厚度相同的金属标准片上校准；第14 页2)用一足够厚度的，电学性质相似的金属衬垫金属标准片或试件，但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。
对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法。
c)如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准，则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率，应与试样的曲率相同。
3.2.1零点校准a)在基体上进行一次测量，屏幕显示＜×.×µm＞。
b)按MENU键，屏显<0.0>。
校准已完成，可以开始测量了。
c)重复上述a、b步骤可获得更为精确的零点，高测量精度。
零点校准完成后就可进行测量了。
3.2.1.1在喷沙表面上校准喷沙表面的特性导致了测量值大大偏离真值，其覆盖层厚度大致可用下面的方法确定。
方法一：a)仪器要用3.3.1或3.3.2.1的方法在曲率半径和基材相同的平滑表面校准好。
b)在未涂覆的经过同样喷沙处理的表面测量10次左右，得到平均值Mo。
c)然后，在已涂覆的表面上测量10次得到平均值Mm。
第15 页d)（Mm—Mo）±S即是覆盖层厚度。
其中S（标准偏差）是SMm和SMo中较大的一个。
方法二：a)用直接方式下的单次测量法测量。
b)先用两试片法校准仪器。
c)在试样上测量5～10次。
其平均值即是覆层厚度。
说明：在温度变化极大的情况下，如冬季或盛夏在室外操作时，应在与待测箔厚度接近的标准片上进行校准。
校准时的环境温度应与使用时的环境温度一致。
注意: 1. 出现下列情况，必需重新校准。
____校准时，输入了一个错误值____操作错误2.在直接方式下，如果输入了错误的校准值，应紧接着做一次测量，随后再做一次校准，即可获取新值消除错误值；3. 每一组单元中，只能有一个校准值。
4.零点校准可以重复多次，以获得更为精确的校准值，提高测量精度但此过程中一旦有过一次测量，则校准过程便告结束。
第16 页4影响测量精度的因素4.1影响因素相关表第17 页4.2影响因素的有关说明a)基体金属磁性质磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。
b)基体金属电性质基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。
使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
c)基体金属厚度每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。
大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。
本仪器的临界厚度值见附表1。
d)边缘效应本仪器对试件表面形状的陡变敏感。
因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
e)曲率试件的曲率对测量有影响。
这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。
因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
第18 页f)试件的变形测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上不能测出可靠的数据。
g)表面粗糙度基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。
粗糙程度增大，影响增大。