天线测试方法介绍
天线测试方法介绍
天线测试方法介绍对天线与某个应用进行匹配需要进行精确的天线测量。
天线工程师需要判断天线将如何工作，以便确定天线是否适合特定的应用。
这意味着要采用天线方向图测量(APM)和硬件环内仿真(HiL)测量技术，在过去5年中，国防部门对这些技术的兴趣已经越来越浓厚。
虽然有许多不同的方法来开展这些测量，但没有一种能适应各种场合的理想方法。
例如，500MHz以下的低频天线通常是使用锥形微波暗室(anechoic chamber)，这是20世纪60年代就出现的技术。
遗憾的是，大多数现代天线测试工程师不熟悉这种非常经济的技术，也不完全理解该技术的局限性(特别是在高于1GHz的时候)。
因此，他们无法发挥这种技术的最大效用。
随着对频率低至100MHz的天线测量的兴趣与日俱增，天线测试工程师理解各种天线测试方法(如锥形微波暗室)的优势和局限的重要性就愈加突出。
在测试天线时，天线测试工程师通常需测量许多参数，如辐射方向图、增益、阻抗或极化特性。
用于测试天线方向图的技术之一是远场测试，使用这种技术时待测天线(AUT)安装在发射天线的远场范围内。
其它技术包括近场和反射面测试。
选用哪种天线测试场取决于待测的天线。
为更好地理解选择过程，可以考虑这种情况：典型的天线测量系统可以被分成两个独立的部分，即发射站和接收站。
发射站由微波发射源、可选放大器、发射天线和连接接收站的通信链路组成。
接收站由AUT、参考天线、接收机、本振(LO)信号源、射频下变频器、定位器、系统软件和计算机组成。
在传统的远场天线测试场中，发射和接收天线分别位于对方的远场处，两者通常隔得足够远以模拟想要的工作环境。
AUT被距离足够远的源天线所照射，以便在AUT的电气孔径上产生接近平面的波阵面。
远场测量可以在室内或室外测试场进行。
室内测量通常是在微波暗室中进行。
这种暗室有矩形的，也有锥形的，专门设计用来减少来自墙体、地板和天花板的反射(图1)。
在矩形微波暗室中，采用一种墙面吸波材料来减少反射。
天线测试方法
天线测试方法一、测试依据。
天线是将传输线中的电磁能转化成自由空间的电磁波，或将空间电磁波转化成传输线中的电磁能的专用设备。
在移动网络通信中从基站天线到用户手机天线，或从用户手机天线到基站天线的无线连接，它的运行质量在整个网络运行质量中所占的位置是十分明显的。
因此, 移动网络的好坏也就自然与天线密切相关。
为了便于介绍天线测试方法先从天线的几个基本特性谈起。
1、天线辐射的方向图天线辐射电磁波是有方向性的，它表示天线向一定方面辐射电磁波的能力。
反之，作为接收天线的方向性表示了它接收不同方向来的电磁波的能力。
我们通常用垂直平面及水平平面上表示不同方向辐射（或接收）电磁波功率大小的曲线来表示天线的方向性，并称为天线辐射的方向图。
同时用半功率点之间的夹角表示了天线方向图中的水平波束宽度及垂直波束见度。
2、天线的增益天线通常是无源器件，它并不放大电磁信号，天线的增益是将天线辐射电磁波进行聚束以后比起理想的参考天线，在输入功率相同条件下，在同一点上接收功率的比值，显然增益与天线的方向图有关。
方向图中主波束越窄，副辩尾辩越小，增益就越高。
可以看出高的增益是以减小天线波束的照射范围为代价的。
3、天线的驻波比天线驻波比表示天馈线与基站（收发信机）匹配程度的指标。
驻波比的产生，是由于入射波能量传输到天线输入端B未被全部吸收（辐射）、产生反射波，迭加而形成的. VSWR越大，反射越大，匹配越差.那么，驻波比差，到底有哪些坏处?在工程上可以接受的驻波比是多少? 一个适当的驻波比指标是要在损失能量的数量与制造成本之间进行折中权衡的。
4、天线的极化天线辐射电磁波中电场的方向就是天线的极化方向。
由于电磁波在自由空间传播时电场的取向有垂直线极化的水平线极化的圆极化的，因而天线也就相应的垂直线极化的天线水平线极化的天线。
特别值得一提的双极化天线，它是在一副天线罩下水平线极化与垂直线极化两副天线做在一起的天线。
二、测试方法用移动基站给待测天线发送一个GSM频段中的频点，并且配合天线转台匀速旋转一周同时用高灵敏度频率扫描仪为数据采样接收机采集所用频点的场强。
天线测试方法
天线测试方法天线测试是指对天线的性能进行评估和验证的过程。
天线测试的目的是为了确保天线在设计和制造过程中能够达到预期的性能指标，以及在实际应用中能够正常工作。
天线测试方法包括天线参数测试、天线辐射测试、天线阻抗测试等多个方面。
下面将分别介绍这些测试方法。
首先，天线参数测试是对天线的基本参数进行测量和评估的过程。
这些参数包括天线的增益、方向性、频率响应、极化特性等。
通过天线参数测试，可以了解天线在不同频段下的性能表现，为天线的设计和优化提供参考。
其次，天线辐射测试是对天线的辐射特性进行评估的过程。
这包括天线的辐射图案、辐射功率、辐射效率等参数的测试。
通过天线辐射测试，可以了解天线在空间中的辐射特性，以及其与周围环境的相互作用。
另外，天线阻抗测试是对天线的输入阻抗进行测量和分析的过程。
天线的输入阻抗对于天线的匹配和功率传输至关重要。
通过天线阻抗测试，可以确定天线的输入阻抗特性，为天线的匹配网络设计和优化提供依据。
除了以上介绍的测试方法外，天线测试还包括天线的耐压测试、耐候性测试等。
这些测试方法可以全面评估天线在不同环境条件下的性能表现，为天线的可靠性和稳定性提供保障。
在进行天线测试时，需要选择合适的测试设备和测试环境。
常用的天线测试设备包括天线分析仪、频谱分析仪、天线辐射室等。
测试环境应尽可能模拟实际应用场景，以确保测试结果的准确性和可靠性。
总之，天线测试是确保天线性能和可靠性的重要手段。
通过合理选择测试方法和设备，可以全面评估天线的性能表现，为天线的设计、制造和应用提供可靠的技术支持。
希望本文介绍的天线测试方法对您有所帮助。
天线辐射测试
天线辐射测试
天线辐射测试是通过对天线辐射功率进行测量，来评估天线辐射性能和安全性的过程。
在天线辐射测试中，常用的方法包括以下几种：
1. 直接功率测量法：利用功率计等仪器直接测量天线输出的辐射功率。
2. 堆积场法：将待测天线安装在电磁宿主中，通过在宿主中产生一个叠加的电磁场，通过测量场的幅度和相位，再反推出待测天线的辐射性能。
3. 标准天线方法：通过将待测天线与一个已知性能的标准天线进行对比，测量它们之间的辐射量差，以评估待测天线的辐射性能。
4. 收发通信测试方法：通过对天线进行发射和接收信号的测试，评估其辐射效果和通信质量。
天线辐射测试的目标是评估天线的辐射性能和安全性，以确保天线在实际使用中不会对人体和其他设备造成危害。
同时，天线辐射测试也可以用来验证天线设计的合理性和优化天线的性能。
天线测试方案
天线测试方案随着无线通信技术的不断发展，天线作为一个重要的无线传输器件，其性能和质量要求也越来越高。
因此，天线测试方案的制定和实施显得十分重要。
本文将介绍天线测试方案的设计与优化，并且就如何有效地评估和测试天线的性能进行探讨。
一、天线性能测试的基本原则天线的性能测试主要包括信号波形、频谱和辐射方向图等方面的测试。
这些测试主要依靠测试仪器来完成，包括矢量网络分析仪、频谱分析仪、天线分析仪等。
其中，矢量网络分析仪主要用于测试天线的反射系数和传输系数，可以检测天线的匹配性、输入阻抗和增益等性能指标；频谱分析仪主要用于检测天线的频谱分布，可以监测天线发出的电磁波是否符合相关标准；天线分析仪则是专门用来测量天线的辐射特性和天线的方向图等性能。
在测试天线性能时，应该遵循一些基本原则。
首先，要选择合适的测试环境，避免地面和建筑物等障碍物对信号传输的影响。
同时，要保证测试设备的精准度和稳定性，保证测试结果的可靠性和准确性。
最后，要了解相关标准和技术规范，为测试工作提供依据和标准化。
二、天线性能测试的具体流程在进行天线性能测试前，应先了解天线的基本信息，如工作频率、增益、输入阻抗等参数，这些都是测试的重要指标。
其次，要选择合适的测试环境，开展测试前进行天线校准。
在天线测试过程中，应先用矢量网络分析仪对天线进行匹配网络测试，确定天线的输入阻抗是否符合要求。
接着，使用频谱分析仪测量天线的频谱分布，分析天线发出的电磁波是否满足相关的频带要求。
最后，使用天线分析仪，测量天线的辐射特性和方向图等参数，分析天线的性能是否良好。
三、天线测试方案的优化为了提高天线的测试效率和测试准确性，可以通过以下几种方法进行优化：1. 使用自动化测试工具，可以对天线进行快速测试和数据分析，提高测试质量和效率。
2. 引入仿真技术，可以预测天线的性能和参数，减少测试时间和成本。
3. 对于射频和微波测试，可以使用高端测试设备，提高测试仪器的精度和灵敏度，进而提高测试数据的准确性。
天线测试方法
天线测试方法天线是无线通信系统中不可或缺的组成部分，它的性能直接影响着通信质量和覆盖范围。
因此，对天线进行有效的测试是非常重要的。
本文将介绍一些常用的天线测试方法，希望能对大家有所帮助。
首先，我们来谈谈天线的VSWR测试。
VSWR（Voltage Standing Wave Ratio）即驻波比，是衡量天线匹配度的重要参数。
VSWR测试可以通过天线分析仪来实现，通过测量输入输出端口的反射系数，从而得到VSWR值。
通常情况下，VSWR值越小，说明天线的匹配度越好，性能也越稳定。
其次，天线增益测试也是非常重要的。
天线的增益直接影响信号的传输距离和覆盖范围。
增益测试可以通过天线测试仪器来实现，一般通过将天线放置在标准测试环境中，然后测量天线的辐射功率和参考天线的辐射功率，从而计算出天线的增益值。
另外，天线的方向图测试也是必不可少的。
方向图测试可以帮助我们了解天线辐射功率随方向的变化情况，这对于确定天线的辐射范围和覆盖方向非常重要。
通常情况下，方向图测试需要使用天线测试仪器，并在不同方向进行测量，最终得到天线的辐射功率分布图。
此外，天线的极化测试也是天线测试的重要内容之一。
天线的极化状态直接影响着信号的传输效果，因此需要对天线的极化特性进行测试。
极化测试可以通过天线测试仪器来实现，一般通过测量天线在不同极化状态下的辐射功率，从而得到天线的极化特性。
最后，我们还需要对天线的耐压和耐候性进行测试。
耐压测试主要是测试天线在额定工作电压下的性能，以及在异常情况下的耐压能力。
而耐候性测试则是测试天线在不同环境条件下的性能表现，例如高温、低温、潮湿等环境下的性能稳定性。
综上所述，天线测试是确保无线通信系统正常运行的重要环节，通过对天线的VSWR、增益、方向图、极化、耐压和耐候性等方面进行全面测试，可以有效地保证天线的性能稳定性和可靠性。
希望本文介绍的天线测试方法对大家有所帮助，也希望大家在实际工作中能够重视天线测试工作，确保通信系统的稳定运行。
微波天线测试方法
微波天线测试方法导语：微波天线是无线通信系统中的重要组成部分，它的性能直接影响到无线信号的传输质量。
因此，对微波天线进行准确的测试和评估是非常重要的。
本文将介绍几种常用的微波天线测试方法，以帮助读者了解微波天线测试的基本原理和步骤。
一、频率响应测试频率响应测试是微波天线测试的基础，通过测试微波天线在不同频段下的增益、方向性和波束宽度等参数，可以评估天线的性能。
常用的频率响应测试方法有：扫频测试法、窄带测试法和宽带测试法。
1. 扫频测试法：通过在一定频率范围内改变输入信号的频率，然后测量天线输出的功率来确定天线在不同频率下的增益和方向性。
这种方法适用于天线的频率响应较为平坦的情况。
2. 窄带测试法：通过在单一频率上进行测试，测量天线的增益和方向性。
这种方法适用于天线频率响应存在明显波动的情况。
3. 宽带测试法：通过在一定频率范围内进行测试，测量天线在不同频率下的增益和方向性。
这种方法适用于天线频率响应变化范围较大的情况。
二、辐射特性测试辐射特性测试是评估微波天线效果的重要方法，通过测试天线在不同方向上的辐射功率和辐射图案，可以评估天线的辐射特性。
常用的辐射特性测试方法有：场点测试法、转动法和自动扫描法。
1. 场点测试法：在一定的距离上设置多个场点，测量每个场点上天线的辐射功率，并绘制成辐射图案。
这种方法适用于天线辐射图案变化较大的情况。
2. 转动法：通过固定测试点，旋转天线来测量不同方向上的辐射功率，并绘制成辐射图案。
这种方法适用于天线辐射图案变化较小的情况。
3. 自动扫描法：通过使用自动扫描仪器，对天线进行全方位扫描，测量不同方向上的辐射功率，并绘制成辐射图案。
这种方法适用于对天线辐射图案进行全面评估的情况。
三、天线效率测试天线效率是评估天线性能的重要指标之一，它反映了天线将输入功率转换为辐射功率的能力。
常用的天线效率测试方法有：功率比较法和功率回收法。
1. 功率比较法：通过将待测试天线与参考天线进行功率比较，来测量待测试天线的效率。
天线增益测试方法
天线增益测试方法引言：天线增益是天线在特定方向上辐射或接收无线信号的能力。
在无线通信系统中，天线增益的测试是非常重要的，因为它直接影响到信号的传输和接收质量。
本文将介绍几种常用的天线增益测试方法。
一、理论计算法理论计算法是一种基于数学模型的天线增益测试方法。
它通过天线的物理特性参数以及信号传输的理论模型，计算出天线在特定方向上的增益值。
这种方法通常需要天线的几何参数、频率、天线材料等信息，并结合天线辐射方向图和功率密度图进行计算。
理论计算法具有较高的精度和准确性，但需要掌握天线理论知识和专业计算工具。
二、场强测试法场强测试法是一种实测天线增益的方法。
它通过在特定位置上设置场强测试仪器，测量天线接收到的信号强度，然后与参考天线进行对比，计算出天线的增益值。
场强测试法可以直接测量天线的实际性能，适用于各种类型的天线。
但需要在实际测试中考虑到环境因素对测试结果的影响。
三、标称增益测试法标称增益测试法是一种基于天线制造商提供的标称增益值进行测试的方法。
它通过查阅天线的规格书或制造商提供的技术资料，找到天线的标称增益值，并在实际使用中进行验证。
这种方法简单直接，适用于无法进行准确测量的情况。
但需要注意，标称增益值是制造商提供的理论值，实际性能可能会有一定差异。
四、比较测试法比较测试法是一种通过对比不同天线的性能进行测试的方法。
它通过选择一组具有不同增益的天线，在相同条件下进行测试，然后比较它们的信号强度，计算出增益值。
这种方法简单易行，适用于快速测试和筛选天线。
但需要注意选择合适的参考天线和测试环境，以保证测试结果的准确性。
五、模拟仿真法模拟仿真法是一种使用电磁场仿真软件进行天线增益测试的方法。
它通过在仿真软件中建立天线模型、设定工作频率和辐射方向，进行电磁场仿真计算，得出天线的增益值。
这种方法可以模拟不同工作条件下的天线性能，提前评估天线的性能。
但需要具备电磁场仿真软件的使用技能和较高的计算资源。
六、实测法实测法是一种直接在实际应用环境中进行天线增益测试的方法。
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天线测试方法介绍
来源：Vince Rodriguez公司
对天线与某个应用进行匹配需要进行精确的天线测量。
天线工程师需要判断天线将如何工作，以便确定天线是否适合特定的应用。
这意味着要采用天线方向图测量(APM)和硬件环内仿真(HiL)测量技术，在过去5年中，国防部门对这些技术的兴趣已经越来越浓厚。
虽然有许多不同的方法来开展这些测量，但没有一种能适应各种场合的理想方法。
例如，500MHz 以下的低频天线通常是使用锥形微波暗室(anechoic chamber)，这是20世纪60年代就出现的技术。
遗憾的是，大多数现代天线测试工程师不熟悉这种非常经济的技术，也不完全理解该技术的局限性(特别是在高于1GHz的时候)。
因此，他们无法发挥这种技术的最大效用。
随着对频率低至100MHz的天线测量的兴趣与日俱增，天线测试工程师理解各种天线测试方法(如锥形微波暗室)的优势和局限的重要性就愈加突出。
在测试天线时，天线测试工程师通常需测量许多参数，如辐射方向图、增益、阻抗或极化特性。
用于测试天线方向图的技术之一是远场测试，使用这种技术时待测天线(AUT)安装在发射天线的远场范围内。
其它技术包括近场和反射面测试。
选用哪种天线测试场取决于待测的天线。
为更好地理解选择过程，可以考虑这种情况：典型的天线测量系统可以被分成两个独立的部分，即发射站和接收站。
发射站由微波发射源、可选放大器、发射天线和连接接收站的通信链路组成。
接收站由AUT、参考天线、接收机、本振(LO)信号源、射频下变频器、定位器、系统软件和计算机组成。
在传统的远场天线测试场中，发射和接收天线分别位于对方的远场处，两者通常隔得足够远以模拟想要的工作环境。
AUT被距离足够远的源天线所照射，以便在AUT的电气孔径上产生接近平面的波阵面。
远场测量可以在室内或室外测试场进行。
室内测量通常是在微波暗室中进行。
这种暗室有矩形的，也有锥形的，专门设计用来减少来自墙体、地板和天花板的反射(图1)。
在矩形微波暗室中，采用一种墙面吸波材料来减少反射。
在锥形微波暗室中，锥体形状被用来产生照射。
图1：这些是典型的室内直射式测量系统，图中分别为锥形(左)和矩形(右)测试场。
近场和反射测量也可以在室内测试场进行，而且通常是近场或紧缩测试场。
在紧缩测试场中，反射面会产生一个平面波，用于模拟远场行为。
这使得可以在长度比远场距离短的测试场中对天线进行测量。
在近场测试场中，AUT被放置在近场，接近天线的表面上的场被测量。
随后测量数据经过数学转换，即可获得远场行为(图2)。
图3显示了在紧缩测试场中由静区上的反射面产生的平面波。
图2：在紧缩测试场，平坦波形是由反射测量产生。
一般来说，10个波长以下的天线(中小型天线)最容易在远场测试场中测量，这是因为在可管理距离内往往可以轻松满足远场条件。
对大型天线(electrically large antenna)、
反射面和阵列(超过10个波长)来说，远场通常在许多波长以外。
因此，近场或紧缩测试场可以提供更加可行的测量选项，而不管反射面和测量系统的成本是否上升。
假设天线测试工程师想要在低频下进行测量。
国防部门对此尤感其兴趣，因为他们需要研究诸如在低频下使用天线等事项，以便更好地穿透探地雷达(GPR)系统中的结构(针对工作在400MHz范围的射频识别(RFID)标签)，以及支持更高效的无线电设备(如软件定义无线电(SDR))和数字遥感无线电设备。
在这种情况下，微波暗室可以为室内远场测量提供足够好的环境。
矩形和锥形是两种常见的微波暗室类型，即所谓的直接照射方法。
每种暗室都有不同的物理尺寸，因此会有不同的电磁行为。
矩形微波暗室处于一种真正的自动空间状态，而锥形暗室利用反射形成类似自由空间的行为。
由于使用了反射的射线，因此最终形成的是准自由而非真正自由的空间。
众所周知，矩形暗室比较容易制造，在低频情况下的物理尺寸非常大，而且随着频率的提高工作性能会更好。
相反，锥形暗室制造起来较复杂，也更长一些，但宽度和高度比矩阵暗室要小。
随着频率的提高(如2GHz以上)，对锥形暗室的操作必须十分小心才能确保达到足够高的性能。
通过研究每种暗室中使用的吸波措施可以更清楚地认识矩形和锥形暗室之间的区别。
在矩形暗室中，关键是要减小被称为静区(QZ)的暗室区域中的反射能量。
静区电平是进入静区的反射射线与从源天线到静区的直接射线之差，单位是dB。
对于给定的静区电平，这意味着后墙要求的正常反射率需等于或大于要达到的静区电平。
由于矩形暗室中的反射是一种斜入射，这会使吸波材料的效率打折扣，因此侧墙非常关键。
但是，由于存在源天线的增益，只有较少的能量照射到侧墙(地板和天花板)，因此增益差加上斜入射反射率必须大于或等于静区反射率水平。
通常只有源和静区之间存在镜面反射的侧墙区域需要昂贵的侧墙吸波材料。
在其它的例子中(例如在位于源后面的发射端墙处)，可以使用更短的吸波材料。
在静区周围一般使用楔形吸波材料，这样有助于减少任何后向散射，并防止对测量造成负面影响。
锥形暗室中采用什么吸波措施呢?开发这种暗室的最初目的是为了规避矩形暗室在频率低于500MHz时的局限性。
在这些低频频段，矩形暗室不得不使用低效率天线，而且必须增
加侧墙吸波材料的厚度来减少反射并提高性能。
同样，必须增加暗室尺寸以适应更大的吸波材料。
采用较小的天线不是解决之道，因为更低的增益意味着侧墙吸波材料仍必须增大尺寸。
锥形暗室没有消除镜面反射。
锥体形状使镜面区域更接近馈源(源天线的孔径)，因此镜面反射成为照射的一部分。
镜面区域可以用来通过形成一组并行射线入射进静区，从而产生照射。
如图3所示，最终的静区幅度和相位锥度接近自由空间中的期望值。
图3：在紧缩测试场中由静区上的反射面产生的平面波。
使用阵列理论可以更清楚地解释锥形暗室的照射机制。
考虑馈源由真实的源天线和一组映像组成。
如果映像远离源(在电气上)，那么阵列因子是不规则的(例如有许多纹波)。
如果映像比较靠近源，那么阵列因子是一个等方性图案。
对位于(远场中的)AUT处的观察者来说，他看到的源是源天线加上阵列因子后的图案。
换句话说，阵列将看起来像是自由空间中的独立天线。
在锥形暗室中，源天线非常关键，特别是在较高频率时(如2GHz以上)，此时暗室行为对细小的变化更加敏感(图4)。
整个锥体的角度和处理也很重要。
角度必须保持恒定，因为锥体部分角度的任何变化将引起照射误差。
因此测量时保持连续的角度是实现良好锥形性能的关键。
图4：在典型的锥形暗室中，吸波材料的布局看起来很简单，但离源天线较近的区域(锥形暗区域)非常重要。
与矩形暗室一样，锥形暗室中的接收端墙体吸波材料的反射率必须大于或等于所要求的静区电平。
侧墙吸波材料没有那么重要，因为从暗室立方体部分的侧墙处反射的任何射线会被后墙进一步吸收(后墙处有性能最好的吸波材料)。
作为一般的“经验之谈”，立方体上的吸波材料的反射率是后墙吸波材料的一半。
为减少潜在的散射，吸波材料可以呈45度角或菱形放置，当然也可以使用楔形材料。
表中提供了典型锥形微波暗室的特性，可以用来与典型的矩形暗室作比较。
较少量的锥形吸波材料意味着更小的暗室，因此成本更低。
这两种暗室提供基本相同的性能。
不过需要注意的是，矩形暗室要想达到与锥形暗室相同的性能，必须做得更大，采用更长的吸波材料和数量更多的吸波材料。
图5：一个用于天线测试的200MHz至40GHz小型锥形暗室。
虽然从前面的讨论中可以清楚地知道，在低频时锥形暗室可以比矩形暗室提供更多的优势，但测量数据表明锥形暗室具有真正的可用性。
图5 是一个200MHz至40GHz的小型锥形暗室，外形尺寸为12×12×36英尺，静区大小为1.2米。
这里采用了一个双脊宽带喇叭天线照射较低频率的静区。
然后利用安捷伦(Agilent)公司的N9030A PXA频谱分析仪以一个对数周期天线测量静区。
在200MHz点测得的反射率大于30Db(如图6所示)。
图7 和图8分别显示了馈源顶部的源天线和静区中的扫描天线。
图6：从图中可以看出，在200MHz点测得的反射率大于30dB。
图7：图中测试采用双脊喇叭作为源。
有许多像APM和HiL那样的不同方法可进行天线测量。
测量技巧在于选择正确的天线测试场，具体取决于待测的天线。
对于中型天线(10个波长大小)，推荐使用远场测试场。
另一方面，锥形暗室可以为低于500MHz的频率提供更好的解决方案。
它们也可以用于2GHz 以上的频率，但操作时需要备加小心才能确保获得足够好的性能。
通过了解锥形微波暗室的正确使用，今天的天线测试工程师可以使用非常有用的工具开展100MHz至300MHz以及UHF 范围的天线测量。
图8：图中测试采用一个对数周期天线来扫描QZ以测量反射率。