微电子工艺课件分析

  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

1、外延生长
2、初始氧化生长
3、第一层掩膜,n阱注入
4、n阱注入(高能)
5、退火
微电子工艺课件分析
9.3 CMOS制作步骤—1双阱工艺
闩锁效应:由NMOS的 有源区、P衬底、N阱、 PMOS的有源区构成的 n-p-n-p结构产生的,当 其中一个三极管正偏 时,就会构成正反馈形 成闩锁。它的存在会使 VDD和GND之间形成一 低阻抗通路,产生大电 流。 措施:减小衬底和N阱 的寄生电阻。
CMOS反相器,由2个晶体管组成—一个nMOS和一个 pMOS,步骤如下:
1、双阱工艺
8、局部互连工艺
2、浅槽隔离工艺
9、通孔1和金属塞1的形成
3、多晶硅栅结构工艺
10、金属1互连的形成
4、轻掺杂漏(LDD)注入 11、通孔2和金属塞2的形成
工艺
12、金属2互连的形成
5、侧墙的形成
13、制作到压点及合金的
STI槽刻蚀4个主要步骤: 1、隔离氧化层 barrier oxide 2、氮化物淀积 3、第三层掩膜,浅槽隔离 4、STI槽刻蚀
微电子工艺课件分析
9.3 CMOS制作步骤—2浅槽隔离工艺
微电子工艺课件分析
9.3 CMOS制作步骤—2浅槽隔离工艺
STI氧化物填充的基本步骤:1、沟槽衬垫氧化硅(侧 壁)trench liner oxide;2、沟槽CVD氧化物填充
微电子工艺课件分析
9.3 CMOS制作步骤—2浅槽隔离工艺
STI氧化物氧化层抛光—氧化物去除:1、沟槽氧化 物抛光(CMP);2、氮化物去除(磷酸)
微电子工艺课件分析
9.3 CMOS制作步骤—3多晶硅栅结构工艺
栅结构的制作是最关键的一步,包括栅氧的热氧化生长 以及多晶硅栅的刻印和刻蚀,后者是整个集成电路工艺 中物理尺度最小的结构,多晶硅栅的宽度通常是整个硅 片上最关键的CD线宽。
微电子工艺课件分析
9.3 CMOS制作步骤—1双阱工艺
微电子工艺课件分析
9.3 CMOS制作步骤—1双阱工艺
形成p阱的3个步骤:1、第二层掩膜,p阱注入;2、p阱 注入(高能);3、退火
微电子工艺课件分析
9.3 CMOS制作步骤—2浅槽隔离工艺
浅槽隔离工艺(STI,Shallow Trench isolation)是一种 在衬底上制作的晶体管有源区之间隔离区的一种可选工 艺。之前的隔离工艺是硅的局域氧化工艺(LOCOS)
6、漏/源注入工艺
金属3
7、掺杂
14、参数测试
微电子工艺课件分析
微电子工艺课件分析
9.3 CMOS制作步骤—1双阱工艺
定义MOSFET有源区,双阱包括一个n阱和p阱。采用 倒掺杂技术来优化晶体管的电学特性—利用高能量、大 剂量的注入。随后的阱注入在相同区域进行,能量剂量 都大幅度减小。
形成n阱的5个主要步骤
Cathode electrode
Flow of byproducts and process gases
Exhaust to vacuum pump
微电子工艺课件分析
9.2.1 硅片制造厂的分区概述—离子注入
微电子工艺课件分析
9.2.1 硅片制造厂的分区概述—离子注入
FqvB F qvB
F mv2 r
W 1 mv2 2
r mv qB
v
2W m
r
2mW qB
微电子工艺课件分析
9.2.1 硅片制造厂的分区概述—薄膜生长
微电子工艺课件分析
9.2.1 硅片制造厂的分区概述—薄膜生长 (金属化)
微电子工艺课件分析
薄膜生长CVD Processing System
Process chamber
Gas inlet
微电子工艺课件分析
9.2 CMOS工艺流程
微电子工艺课件分析
9.2.1 硅片制造厂的分区概述
Wafer Fabrication (front-end)
Wafer Start
Unpatterned Wafer
Thin Films
Polish
Completed Wafer
Diffusion
Photo
Heater 1 Heater 2 Heater 3
Three-zone Heating Elements
微电子工艺课件分析
Pressure controller
Exhaust
9.2.1 硅片制造厂的分区概述—光刻
微电子工艺课件分析
9.2.1 硅片制造厂的分区概述—光刻
装片台
气相成 底膜
涂胶
湿影清 洗
第九章 集成电路制造工艺概况
学习目标:
1、画出典型的亚微米CMOS集成电路制造流 程图
2、掌握6种主要工艺 3、描述CMOS制造工艺14个步骤的主要目的 4、讨论每一步CMOS制造流程的关键工艺和
设备
微电子工艺课件分析
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
9.2 CMOS工艺流程
薄膜制作(layer) 刻印 (pattern) 刻蚀 掺杂
去边 传送台
步进光刻机((对准)t/曝光系统 )
片架
硅片传送系统
软烘
冷板
冷板
坚膜
9.2.1 硅片制造厂的分区概述—刻蚀
Gas distribution baffle Anode electrode
Etchant gas entering gas inlet
Electromagnetic field Free electron
Etch
Test/Sort
Implant
微电子工艺课件分析
9.2.1 硅片制造厂的分区概述—扩散
Temperature controller
Thermocouple measurements
Gas flow controller
Process gas
Quartz tube
Temperaturesetting voltages
Ion sheath
ee-
e-
+ Chamber wall
Positive ion
R
Radical chemical
Vacuum line
High-frequency energy
RF coax cable Photon Glow discharge (plasma) Vacuum gauge Wafer
Capacitivecoupled RF input
CVD cluster tool
Chemical vapor deposition
Wafer Susceptor
Heat lamps
微电子工艺课件分析
Figure 9.7
Exhaust
9.2.1 硅片制造厂的分区概述—抛光
微电子工艺课件分析
9.3 CMOS制作步骤
相关文档
最新文档