实沸点AET计算
LED结温热阻计算方法详解
LED结温热阻计算方法详解.Ta: 环境温度Rsa：铝基散热装置的热阻、散热器与环境间的热阻Ts: 散热装置的温度. Rms：铝基板到铝散热装置的热阻Tm: 铝基板的温度. Rcm：引脚到铝基板的热阻Tc: 引脚的温度. Rjc：PN结到引脚的热阻、结壳间的热阻Rja：PN结点到环境的热阻 Tj：晶体管的结温、芯片PN结最大能承受之温度( 100-130℃)P表示功耗 Rcs表示晶体管外壳与散热器间的热阻，L50: LED光源亮度降至50%的寿命L70: LED光源亮度降至70%的寿命结温计算的过程：1.热阻与温度、功耗之间的关系为： Ta=Tj-*P(Rjc+Rcs+Rsa)=Tj-P*Rja，2.当功率晶体管的散热片足够大而且接触足够良好时，壳温Tc=Ta晶体管外壳与环境间的热阻Rca=Rcs+Rsa=0。
此时Ta=Tj-*P(Rjc+Rcs+Rsa)演化成公式Ta=Tc=Tj-P*Rjc。
厂家规格书一般会给出，最大允许功耗Pcm、Rjc及(或) Rja等参数。
一般Pcm 是指在Tc=25℃或Ta=25℃时的最大允许功耗。
当使用温度大于25℃时，会有一个降额指标。
3.以ON公司的为例三级管2N5551举个实例：1)2N5551规格书中给出壳温Tc=25℃时的最大允许功耗是1.5W，Rjc是83.3度/W。
2)代入公式Tc=Tj- P*Rjc有：25=Tj-1.5*83.3可以从中推出最大允许结温Tj为150度。
一般芯片最大允许结温是确定的。
所以，2N5551的允许壳温与允许功耗之间的关系为：Tc=150-P*83.3。
3)比如，假设管子的功耗为1W，那么，允许的壳温Tc=150-1*83.3=66.7度。
4)注意，此管子Tc =25℃时的最大允许功耗是1.5W，如果壳温高于25℃,功率就要降额使用。
规格书中给出的降额为12mW/度(0.012W/度）。
5)我们可以用公式来验证这个结论。
假设壳温为Tc，那么，功率降额为0.012*(Tc-25)。
熔点及沸点测定
熔点及沸点测定熔点、沸点测定1、熔点的测定化合物的熔点就是所指在常压下用物质的遏―液两二者达至均衡时的温度。
但通常把晶体物质熔化后由固态转变为液态时的温度做为该化合物的熔点。
清澈的液态有机化合物通常都存有紧固的熔点。
在一定的外压下，固液两态之间的变化就是非常灵敏的，自初熔至全系列熔(称作熔程)温度不少于0.5-1℃。
若混有杂质则熔点存有明晰变化，不但熔点距不断扩大，而且熔点也往往上升。
因此，熔点就是晶体化合物纯度的关键指标。
有机化合物熔点通常不少于350℃，更易测量，故需借测量熔点去辨别未明有机物和推论有机物的纯度。
在鉴定某未知物时，如测得其熔点和某已知物的熔点相同或相近时，不能认为它们为同一物质。
还需把它们混合，测该混合物的熔点，若熔点仍不变，才能认为它们为同一物质。
若混合物熔点降低，熔程增大，则说明它们属于不同的物质。
故此种混合熔点试验，是检验两种熔点相同或相近的有机物是否为同一物质的最简便方法。
熔点装置图：沸点装置图：2、沸点的测定2、沸点测量液体的分子由于分子运动有从表面逸出的倾向，这种倾向随着温度的升高而增大，进而在液面上部形成蒸气。
当分子由液体逸出的速度与分子由蒸气中回到液体中的速度相等，液面上的蒸气达到饱和，称为饱和蒸气。
它对液面所施加的压力称为饱和蒸气压。
实验证明，液体的蒸气压只与温度有关。
即液体在一定温度下具有一定的蒸气压。
当液体的蒸气甩减小至与外界其行液面的总压力（通常就是大气压力）成正比时，就存有大量气泡从液体内部逸出，即为液体融化。
这时的温度称作液体的沸点。
通常所说的沸点是指在101.3kpa下液体沸腾时的温度。
在一定外压下，纯液体有机化合物都有一定的沸点，而且沸点距也很小（0.5－1℃）。
所以测定沸点是鉴定有机化合物和判断物质纯度的依据之一。
测定沸点常用的方法有常量法（蒸馏法）和微量法（沸点管法）两种。
五、实验步骤1、熔点的测量毛细管法：o①准备工作熔点管：将毛细管截成6～8cm长，将一端用酒精灯外焰封口（与外焰成40角旋转冷却）。
高中化学 有机化合物的标准热力学数据
CH3SH
l
-46.4
-7.7
169.2
90.5
g
-22.3
-9.3
255.2
50.3
26
甲 胺
CH5N
l
-47.3
35.7
150.2
102.1
g
-22.5
32.7
242.9
50.1
27
甲 肼
CH6N2
l
54.0
180.0
165.9
134.9
g
94.3
187.0
278.8
71.1
28
三氯乙腈
C2Cl3N
有机化合物的标准热力学数据
Standard Thermodynamic Data of Organic Compounds
下表中的标准热力学数据是以温度25.0℃（298.15K）处于标准状态的1摩尔纯物质为基准的。
物质状态表示符号为：g——气态，l——液态，cr——晶体。
△HfΘ——物质的标准生成焓（298.15K），单位为kJ/mol；
序号
(No.)
名称
(Name)
分子式
(Molecular formula)
状态
(State)
△HfΘ
/(kJ/mol)
△GfΘ
/(kJ/mol)
SΘ
/[J/(mol•K)]
CpΘ
/[J/(l•K)]
1
溴氯二氟甲烷
CBrClF2
g
-
-
318.5
74.6
2
二溴二氯甲烷
CBr2Cl2
g
-
-
347.8
87.1
按照爱因斯塔模型,求出单原子晶体的晶格热容量,并求出高低温极限情况下的表达式
按照爱因斯塔模型,求出单原子晶体的晶格热容量,并求出
高低温极限情况下的表达式
根据爱因斯塔模型，单原子晶体的晶格热容量可以用以下公式表示：
Cv = 3R
其中，Cv为晶格热容量，R为气体常数，其值约为8.314 J/(mol·K)。
在高温极限情况下，可以使用经典统计物理学中的杜隆-珀蒂定律来求解晶格热容量。
根据该定律，高温下的晶格热容量与晶格振动频率有关，表达式如下：
Cv = 3NR
其中，N为晶格中的原子数。
在低温极限情况下，由于晶格振动的量子性质开始显现，需要考虑量子力学效应。
在低温下，晶格热容量可由爱因斯坦固体模型来描述，其表达式如下：
Cv = 3NR[ (θE/T)^2 * exp(θE/T) / (exp(θE/T) - 1)^2 ]
其中，θE为爱因斯坦温度，T为绝对温度。
需要注意的是，以上表达式仅适用于单原子晶体，并且在实际应用中可能会存在一定的误差。
碳材料达恩公式
碳材料达恩公式
碳材料的达恩公式表示的是在恒定温度下，碳材料的热导率与频率和温度的关系。
其公式为：
k=∑(εi/λi)Gi
其中，k表示热导率，εi表示第i个组分的体积分数，λi表示第i个组分的热导率，Gi 表示第i个组分的热容。
需要注意的是，达恩公式只适用于恒定温度下的碳材料，且组分的热导率和热容也需要已知。
同时，该公式假设碳材料的热导率是由各个组分的热导率加权平均得到的，忽略了碳材料中可能存在的其他效应，如声子散射等。
因此，在实际应用中，需要结合具体的情况进行分析和修正。
实验指导书(一)-第一性原理方法计算
《计算材料学导论》实验指导书实验一：第一性原理方法计算模拟化合物的晶体结构和电子结构实验目的：1）近十年来，随着计算机技术和材料科学的发展，基于密度函数理论的第一性原理方法计算在材料科学中的应用十分普遍和活跃，发展异常迅速。
其应用领域涉及材料晶体结构优化，态密度和能带结构等电子结构，掺杂效应，相变热力学、光、电磁学性质的计算和设计。
量子化学计算软件包较多，如免费软件包ABINIT(详见教材), 商业化软件包V ASP, CASTEP，GAUSSIAN。
本实验运用VASP4.6软件包，计算AB型的ZnS或相似结构的晶体结构和电子结构。
实验要求：2）首先完成下列基础知识的问答填空，然后运用运用V ASP4.6软件包，计算AB型的ZnS或相似结构的晶体结构和电子结构，并画出图形。
实验内容:(一) 基础填空1) 简述第一性原理方法（或从头算）的基本概念。
（）2）简述第一性原理方法在材料科学中有哪些具体应用？（）3) 什么叫多粒子体系的总能？（）4) 什么叫能带结构？它是如何形成的？（）（二）第一性原理方法计算模拟AB型化合物（如ZnS）的晶体结构和电子结构。
1.ZnS具有多种晶形，如闪锌矿结构(The Zincblende (B3) Structure)和纤锌矿结构（The Wurtzite (B4)Structure）,与之结构相同的化合物还有很多，不少化合物具有独特的光电特性。
请根据计算指南和模板，计算ZnS或者ZnO, SiC, AlN, CdSe，AgI, AlAs, AlP, AlSb, BAs, BN, BP, BeS, BeSe, BeTe, CdS,CdSe,CdTe, CuBr, CuCl, CuF, CuI, GaAs, GaP, GaSb, HgS, HgSe, HgTe, INAs, InP, MnS, MnSe, SiC, ZnSe, ZnTe)的晶体结构（含晶胞参数a,b,c,V，原子位置的可变内部参数），电子结构(含态密度（含总态密度，分态密度）和能带结构。
熔、沸点的测定-实验一bp、mp的测定.pdf
熔、沸点的测定一、实验目的1、了解熔、沸点测定的意义。
2、掌握用b 形管测定熔、沸点的原理和方法。
二、实验原理为什么测熔、沸点？1、作为特定物理常数，在化合物的初步鉴定、分离和纯化过程中具有重要的意义。
2、可用于初步判断化合物的纯度。
熔点：在标准大气压下，物质的固态和液态处于平衡时的温度，即为该物质的熔点。
通常只有纯净的物质才有固定的熔点，并且熔化范围极短，约为0.5～1℃；而不纯的物质由于杂质的存在，而使熔点降低，熔化温度范围变宽；通常把物质从开始熔化到完全熔化的温度范围称为熔程。
物质的杂质越多，其熔程就越大，不同的化合物有不同的熔程。
因此，通过熔程的测定，可用于化合物的初步鉴定，同时也可根据熔程的长短来定性的判断有机化合物的纯度。
常用毛细管法、显微熔点仪来测定。
沸点：当化合物受热时，其蒸气压升高，当蒸汽压达到与外界压力（通常为1个大气压，0.1Mpa ，760mmHg ）相等时，液体开始沸腾的温度，就是该物质的沸点。
由于物质的沸点与外界大气压的有关，因此，在讨论或报道一个化合物的沸点时，一定要注明测定时的外界大气压，如果没注明，就是默认的一个大气压。
纯液态有机化合物在蒸馏过程中沸点范围很小（0.5～1℃），常用微量法（毛细管法）和常量法（蒸馏法）来测量。
当用毛细管法测定时，先加热到内管有连续气泡快速逸出后，停止加热，使温度自行下降，气泡逸出速度逐渐减慢，当最后一个气泡刚要缩进内管而还没有缩进，即与内管管口平行时，这时待测液体的蒸气压就正好等于外界大气压，这时的温度就是待测液体的沸点。
三、药品及物理常数待测物质分子量(mol wt)比重 (d 420) 熔点 （℃）沸点 （℃）性状 折光率ｎD 水溶解度（g/100g ）二苯胺 169.10 1.160 52.5-53.5302 无色晶体稍溶 丙酮 58.05 0.7898 -94.6 56.5 无色液体1.359 易溶 未知液体未知固体四、仪器装置图熔点、沸点测定装置b形管温度计固体样品液体样品温度计沸点外管沸点内管温度计五、实验流程1、熔点测定2、沸点测定六、注意事项：1、制作毛细管时，封端头不能带尖，不能弯曲，应整体一样粗细，端头熔成一个小玻璃球。
测定熔点的方法
测定熔点的方法熔点是一种重要的物理性质，对于确定化学物质的纯度，确认其身份以及研究其结构具有重要意义。
测定熔点的方法有许多种，其中最常用的方法是热差法、热量仪法和显微镜法。
一、热差法热差法是一种常见的测定固体熔点的方法。
该方法基于热量传导的原理，通过记录样品加热以及融化的温度差来测定样品的熔点。
具体操作如下：1. 准备样品：取适量的样品，将其在研钵中加热至液态状态，然后迅速倒入冷却的研钵中，至少重复此步骤三次，使样品充分均匀。
2. 放置样品：准备热差装置，将预备好的样品放置在装置的样品缸中。
3. 开始加热：开启加热源，向样品缸中加热。
使用专业的温度计进行温度监测。
4. 记录温度：当样品开始融化时，记录它的温度。
随着加热的继续，继续记录样品温度，直到样品完全融化。
5. 差值计算：计算样品融化前后的温度差，这个差值即为该样品的熔点。
二、热量仪法热量仪法是一种测定固体或液体熔点的方法，它基于样品吸收或放出热量的原理，通过测量样品的温度变化和吸放热量的大小来测定样品的熔点。
具体操作如下：1. 准备样品：取适量的样品，称重，放入样品室中。
注意样品应该足够纯净。
2. 开始实验：打开热量仪系统并将其预热。
启动系统并选择适当的程序，以便得到准确的热量曲线。
3. 加热样品：使用电热加热系统加热样品，加热速率应该足够慢，使得温度每次提高1-2℃。
4. 记录数据：当样品开始融化时，热量仪系统会显示一个明显的热峰。
记录该峰的时间和温度，以及热量的值。
5. 数据分析：通过分析热量曲线，并计算样品吸放热量的大小，可以精确确定样品的熔点。
三、显微镜法显微镜法是一种测定熔点的标准方法。
该方法利用显微镜来观察样品的熔化过程，并测定其熔点。
具体操作如下：1. 准备样品：取适量的样品，将其以均匀的方式放置在熔点计的平台上。
确保样品呈现连续的片状。
可以使用特定的工具将样品压片，以使其具有符合要求的形态。
2. 启动实验：打开显微镜，并调整它的焦距，以便清楚观察样品的反射性质。