1310nm和1550nm波长光对光纤弯曲损耗的影响

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OTDR

OTDR

OTDR,高效的光纤检测工具光缆作为当前通信网络主干的主要载体,有着传输距离远、容量大、质量高等优点。

随着光通讯设备生产成本的逐年降低,基于光纤的以太网技术正在向通信网络传统的“最后一公里”渗透。

近年,随着10G的EPON标准的确定,以及正在席卷中华大地的三网合一进程,光纤正在取代传统的双绞线,成为家庭乃至企业接入英特网络的通道。

如何在生产、施工、使用、维护中检测光纤通路,是光纤应用领域中最广泛、最基本的一项专门技术。

从目前的光纤链路的测试来看,主要分为OLTS和OTDR两种测试,OLTS即O ptical Loss Test Set的缩写,意即传统的标准光源与光功率计(光表)相结合,测量光链路损耗的测试方法,OLTS的测试设备价格低廉、使用简便,能快速评估光链路成效,但不能描述光链路故障点和故障原因。

而OTDR则是光纤测试技术领域中另外一个重要的仪表,它可进行光纤长度、光纤的传输衰减、接头衰减和故障定位等的测量,具有测试时间短、速度快、精度高等优点。

什么是OTDOTDR是Optical Time Domain Reflectometer的缩写,中文全名为“光时域反射仪”。

光在光纤中传播时会发生瑞利散射(Rayleigh backscattering)以及菲涅尔反射(Fresnel reflection),OTDR就是利用了光这一特点,采集光脉冲的在通路中的背向散射及反射而制成的高科技、高精密的光电一体化仪表。

这种测量方法由M. Bar noskim 和M. Jensen 在1976发明的。

瑞利散射是由英国物理学家瑞利的名字命名的。

它是半径比光的波长小很多的微粒对入射光的散射。

瑞利散射光的強度和入射光波长λ的4次方成反比:其中是入射光的光強分布函数,也就是说,波长较短的蓝光比波长较长的红光更易散射,这就可以解释天空为什么是蓝色的——白天,当日光经过大气层时,与空气分子(其半径远小于可见光的波长)发生瑞利散射,因为蓝光比红光波长短,瑞利散射发生的比较激烈,被散射的蓝光布满了整个天空,从而使天空呈现蓝色,但是太阳本身及其附近呈现白色或黄色,是因为此时你看到更多的是直射光而不是散射光,所以日光的颜色(白色)基本未改变——波长较长的红黄色光与蓝绿色光(少量被散射了)的混合。

光纤的波长(光纤的损耗主要来自四个部分)

光纤的波长(光纤的损耗主要来自四个部分)

单模光纤的波长一般只有1310nm和1550nm,为什么不选其他波长的呢?
第一是物质的本征吸收,分为紫外吸收和红外吸收
第二是杂质离子的吸收,主要是金属阳离子和OH-
第三是散射损耗,主要是Rayleigh散射,SRS和SBS。

最后是因为接续,弯曲和光纤本身结构的缺陷问题等带来的损耗。

这几个因素里面,第四点和光的波长的关系最小,可以先忽略。

Rayleigh散射的散射光圈和入射光波长的四次方成反比,波长太短的话散射现象会比较严重。

第二个问题里面,在光纤制作提纯的时候用化学提纯能到⑨个9的程度,一般的金属阳离子都是可以去掉的,
但OH-比较麻烦,不巧的是在这段波有两个OH-吸收峰,必须避开。

第一个问题要看石英的本征吸收问题,在1.2μm以上的时候紫外外比较明显,1.6μm以上的时候红外吸收明显,
也要避开。

70年代的时候人们也用850nm窗口的多模光纤进行通信,损耗比较大,
但对于近距离(约2-3英里)来说设备更经济,1310nm是色散和损耗都比较小的窗口,
1550nm有理论的最低损耗窗口。

1310nm和1550nm波长光对光纤弯曲损耗的影响

1310nm和1550nm波长光对光纤弯曲损耗的影响
综上所述 ,可以看出接头附加损耗与光工作波 长几乎无关 。 1. 2 光纤弯曲损耗与工作光波长的关系
把一盘光纤将其中部分别盘绕在半径 R 为 14 , 13 ,12 ,11 ,10 ,9 ,8 ,7 ,6 ,5mm 的圆柱体上 ,用稳定化 光源 、光功率计法和 O TDR 背向散射法分别测得在 1550nm 和 1310nm 波长时 ,由于光纤弯曲而产生的 附加损耗如表 2 ,3 所示 ,由表 2 、表 3 可看出在相同
0. 050 0. 031 0. 030 0. 020 0. 040 0. 030 0. 110 0. 111
(2) O TDR 背向散射法 图 1 是用 O TDR 法在一实际光缆线路测试时
得到的损耗曲线 ,图 1 中的 (a) , (c) 图分别为工作在 1550nm 光波长情况下 A →B 方向和 B →A 方向的
U2 + W2 = V 2
(2)
(2) 式中 , V 为归一化频率 ,且有 :
0 ≤ V ≤2. 405
(3)
当 V > 2. 405 时 ,将出现相邻的第二阶模 (L P11模) , 称不使 L P11模出现的波长为单模光纤的截止波长 。 可以导出纤芯半径为 α的单模光纤截止波长可由
(4) 式求出 :
胡 庆 :1310nm 和 1550nm 波长光对光纤弯曲损耗的影响
时大 ,因而用 1550nm 和 1310nm 波长光测得的接头 盒损耗值便会出现很大的不同 。
1 光缆接头盒损耗分析
在光缆实际敷设接续中 ,光缆接头熔接后是封 装在接头盒中的 。为了便于熔接和日后检修 ,接头 盒中一般会有一定长度的光纤盘放在盒内 ,因此 ,光 缆接头盒损耗应由两部分构成 :一部分是光纤熔接 后产生的接头附加损耗 ;另一部分是由盘放在接头 盒内的光纤余长弯曲产生的弯曲损耗 。为了解释接 头盒损耗与工作光波长的关系 ,下面分别讨论光纤 接头附加损耗和光纤弯曲损耗与工作光波长的关 系。

光波段1310、1550区别

光波段1310、1550区别

1310nm和1550nm是光纤在传输光信号时对光信号损耗较小的两个光波段,又叫窗口,早期曾使用800nm光波段,虽然设备简单、价格便宜,但由于光纤在这个窗口损耗太大,目前除在极少数场合使用外,在广播电视系统已基本被淘汰。

在普通单模光纤中,1310nm波段的传输损耗理论值约为0.25dB/km,在工程上已可以做到(0.3-0.35)dB/km,而1550nm波段的传输损耗理论值约为0.15dB/km,工程上也已做出小于(0.2-0.25)dB/km的光纤网络。

1550nm波段比1310nm波段的光信号在光纤中传输损耗要小得多。

光纤的色散特性也称光纤的带宽特性,它直接影响光波信号在光纤中传输的带宽平坦度。

色散由多模色散、材料色散和结构色散3部分构成,在单模光纤中,多模色散为零,材料色散在1310nm波段也几近为零,而光纤结构色散在1310nm波段要比1550nm波段小得多,因此,用1310nm波段传输模拟宽带信号时,在理论上可得到较平坦的带宽特性,实际使用时带宽性能也比1550nm波段略胜一筹。

两个光窗口的适用范围是,在1310nm波段,广泛使用发光二极管作为激光源,理论和实践证明,1310nm波段设备简单、直接调制线性较好,适宜于对线性要求较高的模拟有线广播电视网络使用。

在实践中,用1310nm设备组成的宽带网在带宽达5-1000MC范围内可以做到基本平坦,各地用1310nm设备组成的城市HFC网也取得比较满意的效果。

在1550nm波段,目前大都使用DFB激光器作为激光源,应用这类激光器采用直接调制的方法目前还很难得到较好的线性,因此,在1550nm波段,大都采用外调制加光放大的方法来改善光信号的线性和提高光输出功率,这势必又增加了设备的复杂性和造价。

即使如此,1550nm波段在光纤传输中损耗要比1310nm波段小得多,因此系统规模较大、光接收点较多的有线广播电视网络和传输距离较远、对线性要求不太高的数字传输电路应用比较广泛。

弯曲损耗不敏感单模光纤G657A1

弯曲损耗不敏感单模光纤G657A1

弯曲损耗不敏感单模光纤 G657A1/A2/B2G657A1 企标 1310nm 衰减系数 1383nm(加氢老化) 1550nm 1625nm 衰减不均匀性 衰减不连续性 衰减波长特性 1310nm、1550nm 1310nm、1550nm 1288~1330nm 1525~1575nm 零色散波长 nm 零色散斜率 光学 传输 性能 色散特性 1288~1339nm 1271~1360nm 1550nm 1625nm 光纤的偏振模色散 光缆截止波长 宏弯损耗(10 圈,30mm) (10 圈,30mm) (1 圈,20mm) (1 圈,20mm) (1 圈,15mm) (1 圈,15mm) 模场直径 翘曲度 包层直径 尺寸 参数 芯/包同心度 包层不圆度 涂层直径 包层/涂层同心度 涂层不圆度 筛选应变 抗拉强度(10m 标距) 机械 性能 抗疲劳参数 Nd 涂层峰值剥离力 N 涂层平均剥离力 N 环 温度循环附加衰减 (-60℃ ~ +85℃) dB/km@1310nm, 境 1550nm, 1625 nm 15% 韦伯断裂概率 50% 韦伯断裂概率 1550nm 1625nm 1550nm 1625nm 1550nm 1625nm 1310nm ≤0.35 ≤0.35 ≤0.21 ≤0.23 ≤0.03 ≤0.03 ≤0.05 ≤0.05 1300~1324 ≤0.092 ≤3.5 ≤5.3 ≤18 ≤22 ≤0.1 ≤1260 ≤0.2dB ≤0.5dB ≤0.3dB ≤1.0dB 8.8± 0.4 ≥4.0 125 ± 0.7 ≤0.5 ≤1.0% 243± 5 ≤8 ≤3% ≥1.05% 2.76 3.45 ≥ 22 1.0~8.9 1.0~5.0 ≤ 0.05 G657A2/B2 企标 ≤0.35 ≤0.35 ≤0.21 ≤0.23 ≤0.05 ≤0.05 ≤0.05 ≤0.05 1300~1324 ≤0.092 ≤3.5 ≤5.3 ≤18 ≤22 ≤0.1 ≤1260 ≤0.03 ≤0.1 ≤0.1 ≤0.2 ≤0.5 ≤1.0 8.6± 0.4 ≥4.0 125 ± 0.7 ≤0.5 ≤1.0% 243± 5 ≤8 ≤3% ≥1.05% 2.76 3.45 ≥ 22 1.0~8.9 1.0~5.0 ≤ 0.05类别 描述性 湿热老化(+85± 2℃, 85%RH,30 天) dB/km@1310nm, 能 1550nm, 1625 nm 高温老化(85± 2℃,30 天 ) dB/km @1310nm,1550 nm, 1625 nm 浸水附加衰减 (23± 2℃,30 天 ) dB/km @1310nm,1550 nm, 1625 nm≤ 0.05 ≤ 0.05 ≤ 0.05≤ 0.05 ≤ 0.05 ≤ 0.05。

对otdr测试中一般性问题的探讨

对otdr测试中一般性问题的探讨

对O TD R测试中一般性问题的探讨覃友杰(柳州铁道职业技术学院信息工程系广西柳州545007)【摘要】笔者以多年从事通信光缆线路施工、雏护工作的经验,针对光纤测试中有关O T D R测试的一般性问题,诸如O T D R测试参教的设置、测试光缆成端接头损耗、测试光纤接头损耗出现正增益、测量长度时的固有误差分析等方面进行探究,为测试设计、测试执行人员在进行光缆线路测试时提供一种思路。

【关键词】O T D R;St l备;;光缆线路;损耗【中图分类号]T N913.33【文献标识码】A[文章编号】1008—7656(2010)01—0042—02业7[时域反射仪(O T D R,O pt i cal T i m e D om ai n R e fl ect om e rt er)是光缆线路维护工作中最重要也是使用率最高的测试仪表。

它能将光纤链路的完好情况和故障状态,以曲线的形式清晰地显示出来。

根据曲线上所反映的事件情况,能确定故障点的位置并判断障碍的性质及类别。

用O TD R所作的最主要也是最重要的测试是光纤长度测试和损耗测试。

精确的光纤长度测试有助于光缆线路或光纤链路的障碍定位,O TD R光纤损耗测试能反映出光纤或光纤链路全程或局部的质量(包括光缆敷设质量、光纤接续质量以及光纤本身质量等)。

在日常的光缆线路维护和工程施工中人们已经积累了大量的有关O T D R的使用经验和技巧,但是一些一般性问题和注意事项还是值得进一步探讨,供使用O T D R测试光缆线路时参考。

l O T D R几个测试参数的设置使用O TD R测试光缆线路或光纤链路时,首先要根据被测光纤线路情况设置恰当的测试波长、光纤折射率、脉冲宽度、测试量程和平均化时间等主要参数,方能测得比较精确的数据。

1-1测试波长选择在测试前选择测试波长,根据需要选择1310nm 波长或选择1550nm波长。

由于1550nm波长对光纤弯曲损耗的影响比1310nr a波长敏感得多,不管是光缆线路施工还是光缆线路维护,用O TD R对某条【收稿日期】2009—08—1542光缆或某光纤传输链路进行全程光纤背向散射信号曲线测试,一般选用1550nm波长。

光缆损耗问题

光缆损耗问题

长途通信光缆线路工程建设有关技术问题一、长途通信光缆线路工程建设的有关技术问题(一)通信光缆中光纤的主要技术指标目前通信建设工程使用的光纤主要有两种,即ITU-T G.655(简称G.655)和 ITU-T G.652(简称 G.652)建议的单模光纤。

G.655 为非零色散位移单模光纤。

一个工程(至少是一个中继段)所用的光缆应为同一型号和同一来源(即同一工厂、同一材料和同一制造方法)。

光缆中的同一种光纤( G.655 或 G.652)应为同一来源(同一工厂、同一材料和同一制造方法和同一折射率分布)。

每盘光缆中的光纤不应有接头。

1310nm1550nm 波长干线本地网干线本地网平均损耗0.32-0.340.33-0.360.18-0.220.22-0.25现将 G.652 和 G.655 光纤的主要技术标准分别介绍如下:1、G.652 光纤(1)模场直径( 1310nm波长)标称值: 8.8-9.5 μm之间取一定值偏差:不超过取定值的± 0.5 μm(2)包层直径标称值: 125μm偏差:不超过取定值的± 1.0 μm(3)1310nm波长的模场同心度偏差:不大于 0.8 μm(4)包层不圆度:小于 2%(5)截止波长截止波长应满足λ cc 及λc 的要求:λc(在 2 米光纤上测试) <1260nm;λc c(在 20 米光缆 +2 米光纤上测试) <1270nm。

(6)光纤衰减系数①在 1310nm波长上的最大衰减系数为: 0.36dB/km 。

光纤衰减曲线应有良好的线性并且无明显台阶。

用OTDR检测任意一根光纤时,在1285~1339nm波长范围内,任一波长上光纤的衰减系数与1310nm 波长上的衰减系数相比,其差值不超过0.03dB/km 。

②在 1550nm波长上的最大衰减系数为:0.23dB/km 。

光纤衰减曲线应有良好的线性并且无明显台阶。

用 OTDR检测任意一根光纤时,在 1480~1580nm波长范围内,任一波长上光纤的衰减系数与 1550nm波长上的衰减系数相比,其差值不超过 0.05dB/km。

几种OTDR异常曲线分析

几种OTDR异常曲线分析

几种OTDR异常曲线分析1.曲线平直但衰减大OTDR测试正常曲线应该是返回的信号电平符合线性变化,即曲线平直。

测试曲线平直,但整体衰减值偏大,对于此情形,首先应调查相应的本色光纤的衰减值。

通常情况下本色光纤经着色后,其衰减值几乎没有变化;如果本色光纤本身的衰减值偏大,可以根据着色光纤的衰减值,降级使用或做其他处理;如果本色光纤衰减值良好:首先,观察其表面排线是否良好,排线过紧(即收放线张力过大)会使光纤产生较大的内应力,进而造成着色光纤在1550nm波长产生较大的附加衰减;其次,检查其固化度,固化不良或固化过度均会造成光纤的衰减增大,通常检查固化度的简单方法是用丙酮擦拭。

2.曲线“弯曲”所谓的测试曲线弯曲即指不同位置光纤衰减分布不均匀。

在实际生产中,由于光纤材料成分不完全均匀,衰减值会有细微的偏差;另外,下机后的着色光纤在不同位置受到的内应力不尽相同,造成光纤各处衰减不完全相同,即OTDR测试曲线不再是平直的。

对于1550nm波长测试曲线“弯曲”的情况,首先应查看其在1310nm波长的测试曲线,再进行判断。

(a)如果1310nm波长的测试曲线良好,即线性变化。

通常将该光纤放置一段时间,或通过复绕处理等方法使其内应力释放。

造成该现象的原因是由于1550nm波长对应力变化比较敏感,因此在1550nm波长的测试曲线变化比较明显。

在生产中,如果连续出现这种情况,大多数是因为导轮或模具上有污物,造成光纤在着色中受力不均。

作业人员应及时清洗模具和擦拭导轮。

如果收放线张力不稳定,光纤抖动大同样会使光纤受力不均,导致测试曲线弯曲的现象,所以工艺人员应定期的对设备的收放线张力进行确认核对。

(b)如果1310nm波长的测试曲线不再成线性关系,而呈现“弯曲”状。

通常比较快捷的判断方法是询问作业人员,在生产中有无异常,比如掉轮,堵模现象。

如果是掉轮造成的:由于光纤在硬质物体上滑过,使光纤受损,必将在1310nm和1550nm波长的测试曲线均出现类似“弯曲”曲线。

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很大测不出
3. 570
弯曲半径情况下 ,1550nm 波长光引起的附加损耗 大于 1310nm 波长光引起的附加损耗 ; 而且随着弯 曲半径的减小 ,相对 1310nm 波长光而言 ,1550nm
表 1 稳定化光源 、光功率计法接头损耗测试数据
实验 序号
波长 (nm)
热缩保护前接 头损耗 (dB)
热缩保护后 接头损耗 (dB)
1a
1550
1b
1310
2a
1550
2b
1310
3a
1550
3b
1310
4a
1550
4b
1310
0. 040 0. 054 0. 060 0. 040 0. 040 0. 050 0. 100 0. 113
胡 庆 :1310nm 和 1550nm 波长光对光纤弯曲损耗的影响
时大 ,因而用 1550nm 和 1310nm 波长光测得的接头 盒损耗值便会出现很大的不同 。
1 光缆接头盒损耗分析
在光缆实际敷设接续中 ,光缆接头熔接后是封 装在接头盒中的 。为了便于熔接和日后检修 ,接头 盒中一般会有一定长度的光纤盘放在盒内 ,因此 ,光 缆接头盒损耗应由两部分构成 :一部分是光纤熔接 后产生的接头附加损耗 ;另一部分是由盘放在接头 盒内的光纤余长弯曲产生的弯曲损耗 。为了解释接 头盒损耗与工作光波长的关系 ,下面分别讨论光纤 接头附加损耗和光纤弯曲损耗与工作光波长的关 系。
2 所示的弯曲波导 ,并假设 : (1) 弯曲半径
为 R 时, 光波导场 分布与平板波导近 2a
似; (2) 满足弱导
条件 n1≈ n2 。 若弯曲波导沿轴向 两侧辐射的单位长 度功率损耗系数为
n1
n2
R rad R
0
图 2 弯曲波导示意图
2αe ,其定义为 :
2αe
=
P辐 P
=
L ·S r
P
=
r/ R ·S r
本文通过实验和理论分析证明了产生上述现象 的原因是光纤接头盒里光纤余长盘放而造成的光纤 弯曲使光纤产生了弯曲损耗 ,当光纤弯曲半径相同 时 ,其弯曲损耗在 1550nm 波长时比在 1310nm 波长
Ξ 胡 庆 重庆邮电学院电信工程系工程师 ,曾参与完 成国家 、部 、市级科研项目多项并曾获部 、市科研成果奖 。已 公开发表论文数篇 。现主要从事光通信 、光器件等方面的教 学和科研工作 。 3 收稿日期 :1998 - 02 - 19
0. 780km dB
0. 20 dB Gain (接头损耗值 ) 40
30
20
10
0
0. 000 1. 000
2. 000
3. 000
km
图 1 (a) 1550nm波长 、A B方向
0. 781 km dB
0. 18 dB Gain (接头损耗值 ) 40
30
20
10
0
0. 000 1. 000
综上所述 ,可以看出接头附加损耗与光工作波 长几乎无关 。 1. 2 光纤弯曲损耗与工作光波长的关系
把一盘光纤将其中部分别盘绕在半径 R 为 14 , 13 ,12 ,11 ,10 ,9 ,8 ,7 ,6 ,5mm 的圆柱体上 ,用稳定化 光源 、光功率计法和 O TDR 背向散射法分别测得在 1550nm 和 1310nm 波长时 ,由于光纤弯曲而产生的 附加损耗如表 2 ,3 所示 ,由表 2 、表 3 可看出在相同
·12 ·
波长光引起的弯曲附加损耗增加更快 。亦即当接头 盒内光纤余长盘放半径较小时 ,1550nm 波长光将 产生较大的附加弯曲损耗 。
2 弯曲损耗的理论分析
用严格的数学描述方法对单模光纤的弯曲损耗 进行定量分析是非常复杂的 。下面用对称状介质平 板波导近似的模型 ,通过讨论基模 (L P01模) 在弯曲 波导中的辐射损耗来研究 1550nm 波长和 1310nm 波长光在光纤波导中的损耗问题 。
在实践中 ,为了在已敷设的光缆线路上扩容 ,通 常要对原光缆线路的损耗特性进行重新测试 。在测 试中可能会发现 :采用 1550nm 波长测得的传输损 耗要比用 1310nm 波长测得的损耗值大得多 。众所
·10 ·
周知 ,目前通信用的 B1 类单模光纤对 1550nm 波长 的损耗低于对 1310nm 波长的损耗 ,那么是什么原 因导致上述现象的出现呢 ? 进一步分析和测试表明 其问题出在接头盒上 ,用 O TDR 沿光纤测量光纤接 头盒损耗 ,会发现其损耗用 1550nm 波长测得值要 比用 1310nm 波长的测得值大得多 。
关键词 附加损耗 、波长 、弯曲损耗 中图法分类号 TN 929. 11
The Effect Concerning 1310nm and 1550nm Light Waves on Optical Fiber Bending Loss Hu Qing
( Depart ment of Telecom m unication Engi neeri ng , Chongqi ng U niversity of Posts and Telecom m unications , Chongqi ng 400065)
0. 050 0. 031 0. 030 0. 020 0. 040 0. 030 0. 110 0. 111
(2) O TDR 背向散射法 图 1 是用 O TDR 法在一实际光缆线路测试时
得到的损耗曲线 ,图 1 中的 (a) , (c) 图分别为工作在 1550nm 光波长情况下 A →B 方向和 B →A 方向的
30
20
10
0
0. 000 1. 000
2. 000
3. 000
km
图 1 (d) 1310nm波长 、B A方向
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1998 年第 2 期 重庆邮电学院学报 CU PT
损耗 曲 线 ; 图 1 中 的 ( b) , ( d) 图 分 别 为 工 作 在 1310nm 光波长情况下 A →B 方向和 B →A 方向的 损耗曲线 。由此可以看出在二种光波长时 ,测出的 接头附加损耗基本相同 。
0 引 言 Ξ
随着宽带业务种类的增多和非话业务量的迅速 增长 ,现有的光缆传输网络的容量已开始饱和 。在 已敷设的光缆线路上进一步扩容的要求亦越来越强 烈 ,为了适应此需求 ,采用光波分复用方式在已敷设 的光缆线路上实现更大容量传输无疑是一种有效而 可靠的方法 。目前 ,1550nm/ 1310nm 二波分复用系 统已应用于传输干线上 ;1550nm/ 1310nm CA TV 系 统也上了本地网 。
Abstract This paper is referred to discussion on t he effect related to t he optical fiber bending loss in t heory and practice at 1310nm and 1550nm light waves. It is showed t hat t he optical fiber bending loss at 1550nm wavelengt h is larger t han t hat at 1310nm wavelengt h under t he same bending radius. Key words extrinsic loss , wavelengt h , bending loss
假设单模光纤为理想的阶跃型光纤 ,在满足弱 导近似条件时 ,可得基模的特征方程为 :
U
J1 ( U) J0( U)
=
W
K1 ( W ) K0 ( W )
(1)
(1) 式中 : J m 为 m 阶贝塞尔函数 ; Km 为 m 阶第二 类修正的贝塞尔函数 ; U 为导波的径向归一化相位
常数 ; W 为导波的径向归一化衰减常数 ;并且满足 :
第 10 卷 ,第 2 期 重 庆 邮 电 学 院 学 报 1998 年 6 月 Vol. 10 No. 2 Journal of Chongqing University of Posts and Telecommunications J un. 1998
2. 000
3. 000
km
图 1 (b) 1310nm波长 、A B方向
0. 811 km dB
0. 25 dB Gain (接头损耗值 ) 40
30
20
10
0
0. 000 1. 000
2. 000
3. 000
km
图 1 (c) 1550nm波长 、B A方向
0. 811 km dB
0. 25 dB Gain (接头损耗值 ) 40
我们采用稳定化光源 、光功率计法和 O TDR 背 向散射法两种方法做了多次实验 ,研讨了上述二类 损耗与光工作波长的关系 。 1. 1 光纤接头损耗与光工作波长的关系
(1) 稳定化光源 、光功率计法 采用一盘长 2300m 的光纤 ,在两端用互换性较 好的活动接头分别接入稳定化光源和光功率计 ,调 节光源分别用 1550nm 和 1310nm 波长光输入 ,测出 通过光纤的光功率值 ;然后在光纤中部剪断并熔接 , 再分别测出此时用 1550nm 和 1310nm 波长光输入 通过光纤的光功率 ,通过计算剪断熔接前后光功率 值的差得出光纤接头附加损耗值如表 1 所示 。可以 看出 ,在这两种工作光波长情况下的接头附加损耗 值几乎一致 。
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