激光粒度仪技术要求
HL-2018型干法激光粒度分析仪技术指标1测量范围011200

HL-2018型干法激光粒度分析仪技术指标:1、测量范围:0.1~1200微米2、准确性误差:〈±1%(国家标准物质D50)3、重复性偏差:〈±1%(国家标准物质D50)4、电气要求:交流220±10V,50Hz, 200W5、外观尺寸:950×330×300mm6、重量:40KGHL-2018型干法激光粒度分析仪仪工作原理:HL-2018型干法激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。
颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。
有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律,再根据该规律反演出粒度分布。
这种运算相对比较简单,但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差,从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。
无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设,通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。
这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分级,给设备本身提出很高的要求。
HL-2018型干法激光粒度分析仪采用最优的非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分级,从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。
HL-2018型干法激光粒度分析仪技术特点:测试稳定的基础:只有系统能够提供稳定的光信号,才能够充分保证测试数据的稳定。
HL-2018型干法激光粒度分析仪选用He-Ne气体激光光源,波长0.6328微米,波长短,线宽窄,稳定性好,使用寿命大于25000小时,能够很好的为系统提供稳定的激光源信号。
数据可靠的保证:保证测试数据可靠首先是信号探测系统的设计合理,被测样品分散效果的优劣是得出真实结果的另一决定性因素。
探测器:光电探测系统设计独特,灵敏度高,主检测器一个,辅助检测器多个,采用非均匀性交叉三维扇形矩阵排列,最大检测角达到135度,充分保证了信号探测的全面性。
激光粒度仪mastersizer3000干法

激光粒度仪mastersizer3000干法
Mastersizer 3000是一种常用的激光粒度仪,可以用于测量各种颗粒物料的粒度分布。
该仪器可以采用湿法或干法进行测量。
在Mastersizer 3000中使用干法进行测量时,需要将样品放入特制的振动盘中,通过内置的振荡器将样品均匀地散布在探测器上。
然后,通过激光束照射样品,记录散射光的强度和角度,从而确定样品的粒度分布。
在干法测量中,需要注意以下几点:
1. 样品应当足够干燥,以避免水分对测量结果的影响。
2. 振动盘应当均匀地分布样品,并且震动幅度不宜过大,以避免样品聚集或飞散。
3. 在测量之前,应当对仪器进行校准,并根据样品的特性选择合适的参数,如激光强度、散射角度等。
4. 测量结束后,应当对数据进行处理和分析,以获得最终的粒度分布结果。
需要注意的是,由于样品的特性和测量条件的不同,不同的样品可能需要采用不同的测量方法和参数,以获得最准确的结果。
因此,在使用Mastersizer 3000进行干法测量时,建议参考仪器的操作手册,并根据具体情况进行调整和优化。
激光粒度分布仪粒径评价标准

激光粒度分布仪粒径评价标准
激光粒度分布仪粒径评价标准如下:
测量范围:激光粒度分布仪的测量范围一般在0.05-3000之间,不同型号的仪器测量范围不同。
准确性:仪器的准确性是评价其测量结果是否真实反映样品粒度分布的重要指标。
可以通过与标准样品进行比对测试来评估准确性。
重复性:仪器的重复性是指多次测量同一样品的重复性程度,是评价仪器稳定性的重要指标。
分辨率:仪器的分辨率是指能够区分最小粒径的能力,是评价仪器性能的重要指标。
测试速度:仪器的测试速度是指完成一次测量所需的时间,是评价仪器效率的重要指标。
英国马尔文激光粒度仪

英国马尔文激光粒度仪仪器简介:Mastersizer 2000 粒度仪是马尔文仪器公司的最新激光衍射系统,技术先进,操作既简单又直观。
采用模块化设计,配备一系列测量干湿样品的自动样品分散装置。
采用内置的 SOP 系统进行控制,提供简便的开发和传输方法Mastersizer 系列激光粒度仪经过不断的发展,能够满足工业和学术界用户粒度测量的需要。
Mastersizer 创造性地使用激光衍射技术,已成为世界上实验室粒度分析的首选产品。
它可以精确、无损伤地测量从亚微米到几毫米的范围广泛的颗粒粒度,湿法和干法分散均可使用。
主要特点:1,准确性和重复性精度:根据马尔文质量审核标准, Dv50具有± 1% 的精度。
仪器到仪器的重复性:根据马尔文质量审核标准, Dv50的重复性优于 1% RSD。
2,重复性保证由软件驱动的 SOP 消除了用户间的差异,并且可以全面共享。
所有测量参数自动嵌入结果文件,并可以通过电子邮件使收件人审阅。
测量可以通过遵循同样的 SOP而重复出来。
3,广泛的测量范围测量物质从0.02µm 到2000µm。
4,广泛的样品类型适用于乳化液、悬浮液和干粉的测量。
5,简单易用全自动,使用简单。
消除了不同用户间的的可变性。
减少对新用户的培训要求,并充分发挥熟练人员的潜力。
6,灵活性多种样品分散装置。
通过自动配置,快速地切换样品分散装置。
"即插即用"盒式系统允许同时连接两个样品分散装置。
7,规范符合性完整的 QSpec 验证文档,并符合 21 CFR 第 11 部分的规定要求。
8,界面友好的软件由软件驱动的标准操作规程 (SOP) 消除了用户间的差异。
SOP 创建向导帮助用户创建最佳的测量方法。
只需单击按钮便可获取执行测量的各个方面的在线帮助和建议。
屏幕说明引导用户完成测量过程。
SOP 可用于例行样品分析。
自定义报告设计程序允许每个用户根据需要配置屏幕布置和打印输出。
激光粒度仪湿法测定粒径时粉体的分散方法

激光粒度仪湿法测定粒径时粉体的分散方法1.搅拌粉体样品并加入适量的溶剂,使其充分分散。
Mix the powder sample and add an appropriate amount of solvent to ensure full dispersion.2.使用超声波或搅拌器对粉体样品进行处理,以增加其分散性。
Use ultrasonication or a stirrer to treat the powder sample to enhance its dispersibility.3.确保搅拌过程中不产生气泡或振动,以防止分散效果的降低。
Ensure that no bubbles or vibrations are created during the stirring process to prevent the reduction of dispersion effects.4.使用适当的分散剂来增强粉体样品的分散性能。
Use appropriate dispersants to enhance the dispersibility of the powder sample.5.将分散后的样品放置一段时间,使其达到稳定状态。
Allow the dispersed sample to stand for a period of time to reach a stable state.6.避免在分散过程中引入过多的能量,以免影响后续的粒径检测结果。
Avoid introducing too much energy during the dispersion process to avoid affecting the subsequent particle size measurement results.7.在分散后及时进行粒度检测,以确保分散状态的准确性。
Conduct particle size measurements promptly after dispersion to ensure the accuracy of the dispersion state.8.对于难分散的样品,可以考虑采用特殊的分散技术来提高其分散效果。
激光粒度仪 粒径仪

目录引言____________________________________________________________3激光粒度仪的原理________________________________________________3仪器介绍________________________________________________________4 1.HELOS激光系统特点________________________________________________4 2.RODOS干法分散系统技术特点_______________________________________4 3.数据处理系统_______________________________________________________8 4.仪器的精度_________________________________________________________9 5.实际样品的检测结果参考_____________________________________________9 结论______________________________________________________________________13引言在当今国际上,通常采用基于激光衍射原理(Laser Diffraction)的激光粒度仪来对各种物料和样品进行粒度检测,这种仪器的特点是能够在较短的时间内给出比较详细的粒度分布数据,很多行业如医药、水泥、涂料、油墨、化工、金属、陶瓷、材料、稀土等都需要用到激光粒度仪。
激光粒度仪的原理利用光的衍射现象,即大颗粒产生的衍射角小,小颗粒产生的衍射角大,通过计算探测器上收集到的不同衍射图形的光强分布,来给出颗粒的粒度大小和粒度分布。
(见下图)相同大小颗粒的衍射光强集中在探测器的相同部位,不同大小的颗粒的衍射光强集中在探测器的不同部位,根据在多元探测器上得到的衍射光强的分布,通过颗粒大小和光强分布之间的相关公式来计算得到颗粒的粒度分布:在实际测量中,不同形貌的颗粒所产生的衍射图形是不一样的。
激光粒度分析仪安全操作程序(三篇)

激光粒度分析仪安全操作程序一.操作程序1.确认供电各连接处是否正常,如果正常打开电源插座的电源开关进行下面操作。
2.打开仪器测量单元的电源开关,一般要等半小时以后,激光功率才能稳定,如果环境温度较低,等待时间还要延长。
半小时后进行下面各步骤。
3.打开循环进样器开关。
4.依次打开打印机、显示器、计算机主机,打开OMEC图标。
至此,开机完成。
5.系统对中。
旋转上下两个对中旋钮,使背景光能分布中零环最高,而其他环相对低。
6.根据不同样品通过参数设定选择适当的折射率、累积方向、分析模式、进样器、采样持续时间、采样开始时间、测试次数等,单击确认,系统参数设置完毕。
7.样品准备1)在50ml左右烧杯内盛25ml左右的悬浮液。
2)用取样勺有代表性地取适量的待测样品,投入烧杯中3)根据样品种类加分散剂。
4)将烧杯置入超声波清洗机中,分散样品,注意观察分散情况适当调整液面和机器。
5)关闭电源,取出烧杯。
8.背景测量。
9.样品测量。
10.关机过程1)关闭计算机主机2)依次关掉计算机显示器、激光粒度分析仪主机和打印机的电源开关。
3)将循环进样器清洗干净,将循环介质排光,关闭循环进样器电源。
4)关闭电源插座电源5)全套仪器罩上防尘罩。
二.安全事项1.激光安全注意事项1)激光是高强度、高相干性光源,因此严禁直接或间接去看激光束,以免伤害眼睛。
2)尽量避免打开仪器测量单元的外罩。
3)使用者应注意激光辐射,避免长时间呆在激光束经过的地方。
4)同激光有关的所有修理和维护工作必须由厂家人员进行。
2.电气安全注意事项1)仪器插电源线,或在仪器的各单元之间作电气或信号连接时,必须确保电源开关是关着的,否则有可能造成人体触电或仪器损坏。
2)必须保证电力供应与仪器电力要求的电压和频率一致。
3)换保险管时须保证其额定电流与标签一致。
4)仪器正在测量时不作电气连接,以免产生火花而爆炸。
5)可靠接地。
3.安全防护其他注意事项1)仪器的全套设备无论是否处于工作状态,都应放置在清洁干燥的环境中。
粒度分析仪简介及使用

实验7、粒度分析仪简介及使用纯牛奶粒度分布的测定(激光粒度法)一、实验目的:1.掌握粒度分析仪的测定原理及操作方法。
2.测定纳米粒子的粒度尺径及分布和Zeta电位性质。
二、实验原理:2.1 激光粒度仪介绍激光粒度分析仪仪是利用粒子的布朗运动,根据光的散射原理测量粉颗粒大小的,是一种比较通用的粒度仪。
其特点是测量的动态范围宽、测量速度快、操作方便,尤其适合测量粒度分布范围宽的粉体和液体雾滴。
对粒度均匀的粉体,比如磨料微粉,要慎重选用。
激光粒度仪集成了激光技术、现代光电技术、电子技术、精密机械和计算机技术,具有测量速度快、动态范围大、操作简便、重复性好等优点,现已成为全世界最流行的粒度测试仪器。
激光粒度仪作为一种新型的粒度测试仪器,已经在其它粉体加工与应用领域得到广泛的应用。
它的特点是测试速度快、重复性好、准确性好、操作简便。
对提高产品质量、降低能源消耗有着重要的意义。
2.2激光粒度仪的原理激光粒度仪是根据颗粒能使激光产生散射这一物理现象测试粒度分布的。
由于激光具有很好的单色性和极强的方向性,所以在没有阻碍的无限空间中激光将会照射到无穷远的地方,并且在传播过程中很少有发散的现象。
如图1所示。
图1,激光束在无阻碍状态下的传播示意图米氏散射理论表明,当光束遇到颗粒阻挡时,一部分光将发生散射现象,散射光的传播方向将与主光束的传播方向形成一个夹角θ,θ角的大小与颗粒的大小有关,颗粒越大,产生的散射光的θ角就越小;颗粒越小,产生的散射光的θ角就越大。
即小角度(θ)的散射光是有大颗粒引起的;大角度(θ1)的散射光是由小颗粒引起的,如图2所示。
进一步研究表明,散射光的强度代表该粒径颗粒的数量。
这样,测量不同角度上的散射光的强度,就可以得到样品的粒度分布了。
图2,不同粒径的颗粒产生不同角度的散射光为了测量不同角度上的散射光的光强,需要运用光学手段对散射光进行处理。
我们在光束中的适当的位置上放置一个富氏透镜,在该富氏透镜的后焦平面上放置一组多元光电探测器,不同角度的散射光通过富氏透镜照射到多元光电探测器上时,光信号将被转换成电信号并传输到电脑中,通过专用软件对这些信号进行处理,就会准确地得到粒度分布了,如图3所示。
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14 激光粒度仪技术要求:
激光粒度仪技术要求
1 设备名称及用途
1.1设备名称:激光粒度仪机
1.2 设备用途:利用光的衍射现象,即大颗粒产生的衍射角小,小颗粒产生的衍射角大,通过计算探测器上收集到的不同衍射图形的光强分布,给出颗粒的粒度大小和粒度分布。
1.3 设备数量:一台。
2 设备主要技术性能:
2.1 应用理论:采用米氏理论或费氏理论。
2.2 激光器:固体半导体激光器,波长750nm或氦-氖气态激光器主光源,波长633nm。
2.3 检测范围:0.1-2000µm。
2.4 检测器扫描速率:2000次/秒。
2.5 测试时间:10秒以内。
2.6 检测角度:0.015-135度。
2.7 准确性:≤±1%;重复性:≤0.5%。
3 设备构成
3.1 工作原理
样品经分散系统分散,然后使其通过激光光束,颗粒在激光光束的照射下发生散射现象。
散射光经透镜后成像在排列有多个检测器的焦平面上,散射光的能量分布与颗粒直径的分布直接相关。
通过接受和测量散射光的能量分布就可以得出颗粒的粒度分布特征。
3.2 设备组成
激光粒度仪系统主要由分散系统、光路系统、检测系统、数据分析系统等部分组成。
3.2.1 分散系统:采用干法分散或湿法分散。
3.2.1.1干法分散系统:分散压力在0.1-6Bar,具有振动进样功能,分散压力可调。
3.2.1.2湿法分散系统:具有内置超声分散器,离心泵和搅拌轮;泵速,搅拌速度和超声强度连续可调。
3.2.2 光路系统:设计合理,可自动进行光路对焦。
3.2.3 检测系统:由多个按一定排列的检测器组成。
3.2.4 数据分析系统
3.2.
4.1 能在Windows2000,XP和NT或更高版本下运行。
3.2.
4.2 使用方便简捷,仪器无须校准。
3.2.
4.3 屏幕报告格式设计软件。
3.2.
4.4 具有一般物质光学指数及测试结果数据库,有检索寻找功能。
3.2.
4.5 具有软件控制标准操作程序(SOP)。
3.2.
4.6 报告形式:能提供各种粒度统计数据,粒度体积百分比、数量百分比、表面积百分比、平均值、中值、峰值等,可根据用户需求打印报告。
3.2.
4.7 具有中文操作软件。
4 投标人的投标型号须为下表所指定型号。
投标人所投型号不符合下表指定型号要求,将被拒绝。
5 供货范围:
5.1 激光粒度仪主机;1套;
5.2 主流配置品牌电脑和A4激光打印机;各1套;
5.3 干法分散进样系统需提供空气压缩机;1套;
湿法分散进样系统需提供60W超声波清洗器;1套。
5.4 随机维修工具1套。
6 整机元器件
整机元器件均为国际或国内著名品牌,并注明品牌及型号。
7 备品备件
7.1 提供仪器验收及两年使用期备品备件。
7.2 提供外购件明细。
7.3 提供15-150µm玻璃珠标准样品,8瓶。
8 技术资料
9、节能措施
为满足政府《节能减排“十二五”规划》的要求,在制氮机设计、制造、安装、生产等过程中应充分考虑节能减排的措施,请列项说明。
10、供方业绩要求
具有符合第2条要求的激光粒度仪的制造经验(提供业绩清单)。
11、交货期要求
从合同签订至设备到买方现场时间为2个月。
12、付款
设备发货前一星期,卖方通知买方(附设备合格证的传真件或复印件),买方接到卖方发货通知,五个工作日内付30%,卖方在收到货款后,三个工作日内将设备发出;设备在需方现场安装调试并经买卖双方签字认可后付30%,质保期满付10%。
13、设备验收
13.1 设备验收标准
13.4.1 设备外观是否完好,供货范围是否完整。
13.4.2 主要性能验收
13.4.2.1 重复性考核
采用粒径范围约为15-150µm玻璃珠标准样品,连续分析5次,D10、D50、D90测定重复性均应小于0.5%。
13.4.2.2 准确性考核
采用粒径范围约为15-150µm玻璃珠标准样品,连续分析5次,每次测定的D10、D50、D90值的准确性均应小于标准值的1%。
13.4.2.3 再现性考核
采用粒径范围约为15-150µm玻璃珠标准样品,连续两天,每天连续分析5次,D10、D50、D90测定重复性均应小于0.5%。
13.4.4验收程序:在需方工厂进行最终验收,并出具最终验收报告。
14、运输和安装
14.1供方承担在供方拆卸、包装、装车、运输、保险等一切费用,直到设备安全到达需方现场。
14.2 设备到达需方现场后,由供需双方人员到场开箱,供方负责设备指导安装和调试,需方配合。
15、技术培训
15.1 供方负责对需方技术人员、操作人员进行现场免费培训,培训内容包括设备操作、
设备维护及简
单的设备维修等,直至技术人员、操作人员能够熟练掌握为止。
15.2 供方应在国内设有分析仪器教育中心,并为需免费提供2个名额的为期1周的集中
高级培训。
其
中包括仪器的基本原理、操作、日常维护及基础分析仪器理论课程。
16、质保期服务
16.1供方对设备性能、制造、质量以及部件提供12个月的质保期;质保期的计算是从设备终验收完成之日起。
供方在质保期结束后,连续三年,每年提供一次免费的售后工程师的技术回访。
16.2 在保质期内,设备出现故障,供方接到需方通知后24小时内须做出响应。
若需供方提供部件,供方须在2天内发运合格部件;若需供方到需方现场解决故障,最迟48小时内须到达需方现场;故障原因是需方责任,相关费用由需方负担;故障原因是供方责任,相关
费用由供方负担,保质期则按实际修理或更换所延误的时间做相应的延长。
更换的关键部件保质期为一年。
16.3 质保期外,供方负责长期优惠提供备品备件及优质的售后服务。