结合抖动测试方法

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SDH设备抖动测试

SDH设备抖动测试

SDH设备抖动测试佚名【摘要】Transmission equipment has undergone several generations of updates, and it has been gradually completed the transition from analog devices to the PDH and SDH equipment. There are many advantage of SDH equipment that PDH equipment can not match, but it also has some defects, such as jitter induced by pointer adjustment. The jitter of the transmission equipment is very important for the quality of communication, for this reason, through theoretical analysis, combined with the actual test, the jitter measurements in transmission equipment engineering acceptance are discussed in detail.% 传输设备经历了几代更新,已逐步完成了模拟设备到PDH设备和SDH设备的过渡。

SDH有许多PDH 设备所不能比拟的优点,但也存在一些缺陷,比如指针调整引起的抖动。

由于传输设备的抖动对通信质量至关重要,文中通过理论分析,结合实际测试,对传输设备工程验收中抖动指标的测量进行了详细的论述。

【期刊名称】《物联网技术》【年(卷),期】2013(000)007【总页数】4页(P57-59,61)【关键词】SDH数字设备;相位噪声;抖动测量;通信【正文语种】中文【中图分类】TP212通信技术的迅猛发展,使得网络的核心部分发生了巨大的变化,越来越多的数字传输设备逐渐取代了原有的模拟设备。

丢包延迟抖动测试方法

丢包延迟抖动测试方法

丢包延迟抖动测试方法一、引言丢包延迟抖动测试是网络性能测试中常用的一种方法。

通过测试网络的丢包率、延迟和抖动情况,可以评估网络的稳定性和性能。

本文将介绍丢包延迟抖动测试的方法和步骤,以帮助读者更好地了解和应用这一测试方法。

二、丢包测试丢包是指在网络传输过程中丢失的数据包。

丢包率是衡量网络稳定性的重要指标之一。

为了测试网络的丢包率,可以使用ping命令。

在命令行中输入“ping IP地址”,系统会向目标地址发送数据包,并等待目标地址返回响应。

通过统计发送和接收的数据包数量,可以计算出丢包率。

在进行丢包测试时,需要注意以下几点:1. 测试时应选择合适的目标地址,可以选择与本地网络相连的服务器或路由器。

2. 测试时应选择合适的数据包大小,一般来说,较小的数据包更容易丢失,较大的数据包更能反映网络的真实情况。

3. 测试时应选择合适的测试时间,通常建议测试时间不少于1分钟,以获取更准确的丢包率。

三、延迟测试延迟是指数据包从发送端到接收端所需的时间。

延迟测试可以通过ping命令或专业的网络测试工具来进行。

在ping命令中,可以通过“ping -n 次数IP地址”来指定测试次数,系统会向目标地址发送数据包,并记录下每个数据包的往返时间。

通过统计这些时间,可以计算出平均延迟。

在进行延迟测试时,需要注意以下几点:1. 测试时应选择合适的目标地址,可以选择与本地网络相连的服务器或路由器。

2. 测试时应选择合适的测试次数,通常建议测试次数不少于100次,以获取更准确的延迟值。

3. 测试时应选择合适的时间段,避免网络繁忙时进行测试,以保证测试结果的准确性。

四、抖动测试抖动是指网络延迟的变化波动。

抖动测试可以通过专业的网络测试工具来进行。

这些工具可以记录下每个数据包的往返时间,并计算出延迟的变化范围。

通常,抖动较小的网络延迟更稳定,抖动较大的网络延迟更不稳定。

在进行抖动测试时,需要注意以下几点:1. 测试时应选择合适的目标地址,可以选择与本地网络相连的服务器或路由器。

如何通过实时示波器进行抖动测试和分析

如何通过实时示波器进行抖动测试和分析
ZhangKai, Tektronix China
器配合 TDSJIT3 抖动分析软件进行抖动测试和分析。图 1 是 TDSJIT3 实时抖动测试结果。
图 1 TDSJIT3 进行高速数据的抖动测试和抖动分解
3. 抖动测试
抖动可以描述为相邻脉冲边沿、甚至非相邻脉冲边沿周期或相位的定时变化。这些指标适 合检定长期和短期的时钟和数据稳定性。通过更加深入地分析抖动指标,利用抖动测试结果, 预测复杂系统的数据传输性能。
测量误差可能会高达50 ps峰值,RMS结果将受到类似的影响,因为时基误差是确定的。在 这种情况下,我们看到在测量时间更长时,常数0.3所决定的短期抖动效应变得不如时基校准和 稳定性对长时间结果的影响明显。在泰克示波器中,采用一种独有硬件技术保证更高的时间测 试精度,称为实时内差模式,它作用在示波器采集前端,通过sinx/x内差算法在ADC的样点间插 入样点,并且可以调节插入的样点数目,最小样点间隔为500fs。
检验JNF的方法之一是测量没有噪声的、完美定时的信号。尽管完美信号非常少见,但适
ZhangKai, Tektronix China
当良好的信号源是存在的,可以用来表征抖动本底噪声。一般用于这一测试的常用仪器是具有 低相位噪声的高精度RF发生器。
泰克示波器使用时间间隔误差(TIE)来测量JNF。TIE是最优方法,因为它测试出信号中的任 何相位误差,而不管误差具有高频特点还是低频特点,是单次事件误差还是累积误差。此外, 在实时示波器中,TIE方法可以将计算得到的完美时钟作为参考时钟源。
对于数字示波器而言,典型的抖动测试方法主要有 2 种: 1) 采用数字存储示波器的等效采样模式或直接使用采样示波器,通过直方图统计测量累计定
时抖动。等效采样的缺点是无法消除示波器自身的触发抖动对测试结果的影响,并且由于 它采用的是多次触发,多次采集,累计显示的工作方式,对于电路设计和调试而言受到较 多的限制,无法进行深层的抖动分析。另一个限制是该方法抖动测试参数有限,例如不能 测试周期间抖动。 2) 3) 更为流行的方法是采用数字存储示波器的实时捕获模式,单次触发,连续采集大量数据, 配合相应的抖动测试软件进行抖动测试。当通过实时采集模式时,由于示波器工作在单次 触发模式,连续实时采集所有信号,所以它不受仪器多次触发带来的触发抖动影响。并且 它可以通过复杂的抖动分析和抖动分解得到每一个抖动分量,帮助设计和测试人员分析抖 动产生的原因,甚至通过抖动分解估算系统的误码率。例如,在美国国家信息标准委员会 (INCITS)下属的 T11.2 组织在有关抖动和信号完整性方法论(MJSQ)中,推荐泰克实时示波

示波器抖动的完美测量 示波器如何操作

示波器抖动的完美测量 示波器如何操作

示波器抖动的完美测量示波器如何操作对抖动完美测量的一半工作量都在于如何设置示波器。

我们的目标是捕获并显示出信号在系统环境下的真实情况。

由于每个试验室都有实时示波器,有必要知道如何去操作它对抖动完美测量的一半工作量都在于如何设置示波器。

我们的目标是捕获并显示出信号在系统环境下的真实情况。

由于每个试验室都有实时示波器,有必要知道如何去操作它们。

抖动测量对环境特别敏感,所以要想方法针对各种抖动优化测试环境。

首先要选取具备合适带宽的设备。

假如带宽太窄,测试得边沿速率就会很低。

低的沿速率会将幅度噪声更多的转化为时域错误。

但是,假如带块太大,也只会加添测试中的热噪声和散粒噪声从而提高噪底。

在NRZ码流来讲,一个阅历规定就是选取带宽为码率的1.8倍。

是信号最高基频的两倍;实际上,捕获过程中的模拟信号整形和数据变换会留有余量,因此示波器真正需要的采样速率是最高基频的2.5到3倍。

所以,示波器的带宽采样速率比大约为1到3.对于减小ADC量化误差来讲增大仪器的纵向解析度很紧要。

调整电压/刻度旋钮直到图形正好进入屏幕的垂直范围。

过度就会使ADC变化饱和,不满就会减低SNR.测量TIE抖动时时基设置也很紧要,由于这项设置相当于可调的高通滤波器。

时基会设置捕获时的最小TIE频率(示波器带宽决议最高抖动频率)。

同样,确定测试数据码型中包含有正确的频谱成分范围,并且只含有实数频谱成分。

当接受PRBS码型时,码型长度要充分长保证捕获到低频重量,同时又不能超过仪器的存储范围。

始终削减触发与第一个采样点间的延时。

信号被触发后,定时的不确定与时基等待采样数据的长短成正比。

削减延时降低了这种不确定性,因此减低了被测抖动值。

避开示波器均化波形,选择sin(x)/x在数据点间插值,并使用大幅度的快速触发。

最后,在知道实际系统接收器门限电平的情况下将触发电平设置与其一致,否则,设置为波形值的一半。

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Jitter_数字信号抖动的测试

Jitter_数字信号抖动的测试
f 右上方显示光标值
f 此图是频谱图,从图上
可以很容易的分析出抖 动的频率分布情况,从 而帮助找到抖动的根 源,去除抖动,指导电 路调试。
35
浴盆曲线分析
f 水平轴显示 BER Eye
Opening,垂直轴为累 积的bit数
f 此图显示误码率及累积
次数的曲线图,从图上 可以很容易的分析出 BER必须使用很 长存储深度捕获数据, 才能发现数据的变化规 律
29
周期趋势统计分析
f 水平轴显示每一个测量
点,垂直轴为测量的数 值
f 右上方显示光标值
f 此图可呈现每一个周期
的抖动偏移量,从而了 解此时钟信号的周期趋 势
30
抖动滤波(Jitter3 V2新功能)
31
滤波器模型
可以根据需要设置滤波器模型的 参数,对时间趋势图或周期趋势图 进行低通滤波,带通滤波,高通滤 波分析不同频段的抖动趋势。
32
抖动滤波应用:用5MHz的截止频率进行低通滤波
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抖动滤波应用: 用35K的截止频率进行低通滤波
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抖动频谱统计分析-追溯抖动根源
f 水平轴显示抖动频率,
垂直轴为每一个频率点 抖动幅度
直方图(Histogram)统计分析 时间趋势(Time Trend)统计分析 周期趋势(Cycle Trend)统计分析 抖动频谱(Spectrum)统计分析 浴盆曲线(BathTub)统计分析
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测量参数
f TDS7000系列示波器配合
TDSJit3应用软件
f 测量参数包括: – 时钟(10项) – 数据(4项) – 时钟-数据(3项) – 通用(8项) 共 4类25项参数 f 一次可同时测量任意6项参
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抖动测量与分析

抖动测量与分析

抖动的测量与分析一、时钟抖动时钟是广泛用于计算机、通讯、消费电子产品的元器件,包括晶体振荡器和锁相环,主要用于系统收发数据的同步和锁存。

如果时钟信号到达接收端时抖动较大,可能出现:并行总线中数据信号的建立和保持时间余量不够、串行信号接收端误码率高、系统不稳定等现象,因此时钟抖动的测量与分析非常重要。

1、时钟抖动的分类时钟抖动通常分为时间间隔误差(Time Interval Error,简称TIE),周期抖动(Period Jitter)和相邻周期抖动(cycle to cycle jitter)三种抖动。

TIE又称为phase jitter,是信号在电平转换时,其边沿与理想时间位置的偏移量。

理想时间位置可以从待测试时钟中恢复,或来自于其他参考时钟。

Period Jitter是多个周期内对时钟周期的变化进行统计与测量的结果。

Cycle to cycle jitter是时钟相邻周期的周期差值进行统计与测量的结果。

2、时钟抖动的测量对于每一种时钟抖动进行统计和测量,可以得到其抖动的峰峰值和RMS值(有效值),峰峰值是所有样本中的抖动的最大值减去最小值,而RMS值是所有样本统计后的标准偏差。

3种时钟抖动可以调用示波器的抖动包中的TIE、Period和Cycle to cycle函数进行测试。

3、时钟抖动的应用范围在三种时钟抖动中,在不同的应用范围需要重点测量与分析某类时钟抖动。

TIE抖动是最常用的抖动指标,在很多芯片的数据手册上通常都规定了时钟TIE抖动的要求。

对于串行收发器的参考时钟,通常测量其TIE抖动。

在并行总线系统中,通常重点关注Period Jitter和Cycle to cycle jitter。

4、时钟抖动的分析在时钟抖动测量时,可以在三个域分析抖动,即在时域分析抖动追踪(jitter track/trend)、在频域观察抖动的频谱、在统计域分析抖动的直方图。

二、串行数据抖动1、数据抖动的分类和来源业界通常把串行数据的抖动分解为:在力科SDA系列示波器中使用了‘normalized Q-scale method’(简称NQ-Scale方法)来求解Tj。

抖动产生及测试

抖动产生及测试

抖动产生及测试一、信号完整性测试手段抖动测试、波形测试、眼图测试,是三种常用的信号完整性测试。

1.抖动测试:抖动测试现在越来越受到重视,因为专用的抖动测试仪器,比如TIA(时间间隔分析仪)、SIA3000,价格非常昂贵,使用得比较少。

使用得最多是示波器加上软件处理,如TEK 的TDSJIT3 软件。

通过软件处理,分离出各个分量,比如RJ 和DJ,以及DJ 中的各个分量。

对于这种测试,选择的示波器,长存储和高速采样是必要条件,比如2M 以上的存储器,20GSa/s 的采样速率。

不过目前抖动测试,各个公司的解决方案得到结果还有相当差异,还没有哪个是权威或者行业标准。

2.波形测试首先是要求主机和探头一起组成的带宽要足够。

基本上测试系统的带宽是测试信号带宽的3 倍以上就可以了。

实际使用中,有一些工程师随便找一些探头就去测试,甚至是A 公司的探头插到B 公司的示波器去,这种测试很难得到准确的结果。

波形测试是信号完整性测试中最常用的手段,一般是使用示波器进行,主要测试波形幅度、边沿和毛刺等,通过测试波形的参数,可以看出幅度、边沿时间等是否满足器件接口电平的要求,有没有存在信号毛刺等。

由于示波器是极为通用的仪器,几乎所有的硬件工程师都会使用,但并不表示大家都使用得好。

波形测试也要遵循一些要求,才能够得到准确的信号。

其次要注重细节。

比如测试点通常选择放在接收器件的管脚,如果条件限制放不到上面去的,比如BGA封装的器件,可以放到最靠近管脚的PCB 走线上或者过孔上面。

距离接收器件管脚过远,因为信号反射,可能会导致测试结果和实际信号差异比较大;探头的地线尽量选择短地线等。

最后,需要注意一下匹配。

这个主要是针对使用同轴电缆去测试的情况,同轴直接接到示波器上去,负载通常是50 欧姆,并且是直流耦合,而对于某些电路,需要直流偏置,直接将测试系统接入时会影响电路工作状态,从而测试不到正常的波形。

3.眼图测试眼图测试是常用的测试手段,特别是对于有规范要求的接口,比如E1/T1、USB、10/100BASE-T,还有光接口等。

抖动测试原理范文

抖动测试原理范文

抖动测试原理范文抖动测试是指通过在特定环境下对设备进行震动、振动等物理力的作用下的稳定性和可靠性进行测试的一种方法。

它旨在验证设备在实际使用过程中是否能够正常工作以及抵抗振动和震动的能力。

抖动测试的原理主要基于以下几个方面:1.场景模拟:抖动测试需要根据设备实际使用环境的振动和震动情况进行模拟。

通过对各种振动源进行分析和实测,选择合适的振动频率、振动幅度和振动形式,以模拟设备在真实使用中所遇到的各种振动环境。

2.负载检测:抖动测试需要考虑设备在振动状态下所承受的负载情况。

通过在设备上施加一定的力或负载,连同振动作用在设备身上产生动力学效应,以模拟设备在振动状态下的实际工作负载。

3.频率和振幅控制:抖动测试需要对振动频率和振幅进行精确控制。

频率是指振动的重复次数,通常以赫兹(Hz)为单位表示,而振幅则指振动的最大位移,通常以米(m)为单位表示。

通过控制振动平台或振动系统的运行参数,可以精确控制设备所受到的振动频率和振幅。

4.数据采集与分析:在抖动测试中,需要对设备在振动状态下的各种参数进行数据采集和分析。

通过加速度传感器、应变计等测量仪器,可以记录设备在不同振动频率和振幅下的响应。

然后通过数据分析工具对采集到的数据进行处理和分析,得出设备在振动状态下的工作性能及其可靠性。

5.故障模式和评估:抖动测试主要用于验证设备在振动状态下的可靠性和稳定性。

通过不断调整振动频率和振幅来测试设备的抗振能力,进而观察设备是否出现性能下降、失效或故障等情况。

同时,对设备进行故障模式和评估,可以帮助发现潜在的问题和改进设备设计。

抖动测试通过模拟设备在实际使用中所遇到的振动环境,对设备的性能及可靠性进行验证。

通过合理的场景模拟、负载检测、频率和振幅控制、数据采集与分析以及故障模式和评估等步骤,可以全面评估设备在振动状态下的工作能力和可靠性,从而为设备的设计、生产和使用提供科学依据。

抖动测试在许多领域都有广泛的应用,例如汽车、航空航天、电子产品等。

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ANT-20E结合抖动测试方法(仅供内部使用)拟制:日期:审核:日期:yyyy/mm/dd 审核:日期:yyyy/mm/dd 批准:日期:yyyy/mm/dd华为技术有限公司版权所有不得复制目录1 结合抖动的定义和指标描述 (3)1 E1信号结合抖动测试方法和步骤 (4)2 E3信号结合抖动测试方法和步骤 (11)3 E4信号结合抖动测试方法和步骤 (16)结合抖动的定义和指标描述SDH设备的结合抖动是支路映射和指针调整结合作用,在设备解复用侧的PDH支路输出口所产生的抖动。

在ITU-T规范的四种特定指针调整序列下的结合抖动指标见下表。

测试用指针序列a、b、c、d分别定义如下:a-极性相反的单指针;b-规则指针加一个双指针;c-漏掉一个指针的规则单指针;d-极性相反的双指针。

下面以2M信号为例,解释各个指针序列的定义:a指针序列:比如说目前的指针值为522相隔T1时间后将指针值减一即为521,再相隔T1时间后将指针值在加一即为522,就这样循环往复就形成了指针序列a。

b指针序列:比如说目前的指针值为522相隔T2时间后将指针值加一即为523,再相隔T2时间后将指针值加一即为524,如此循环4次后再隔T3的时间将指针值加一。

就这样按照四个T2加一个T3为一个循环周期,循环往复就形成了指针序列b。

c指针序列:比如说目前的指针值为522相隔T2时间后将指针值加一即为523,再相隔T2时间后将指针值加一即为524,如此循环4次后再隔T2的时间指针值不变。

就这样按照五个T2为一个循环周期,循环往复就形成了指针序列c。

d指针序列:比如说目前的指针值为522相隔T3时间后将指针值加一即为523,再相隔T1时间后将指针值减一即为522,再相隔一个T3时间后将指针值加一即为521,再相隔一个T1时间后将指针值加一即为522。

就这样以两个T1加T3为周期,循环往复就形成了指针序列d。

1E1信号结合抖动测试方法和步骤1、按下图接好电路和仪表。

图12、选择“Instruments”下拉式菜单,在此菜单中选择“Add&Remove...”选项,见图2。

图2点击此项会进入“Add&Remove Instruments”窗口,在“Instruments available”框中所提供的选项中选择“Signal Structure”,“O.172 Jitter Generator/Analyzer”,“PDH Generator/Analyzer”,“Point Generator”几项,逐一按“Add”键添加到“Instruments used”框中。

见图3。

图33、利用网管将被测试系统进行配置,把业务配在被测试的端口。

将SDH分析仪设置为相应的接口速率(以测试E1的结合抖动为例);在桌面上打开“Signal Structure”窗口,选择“Edit”菜单,选择“Signal Structure...”选项,会进入“Edit Signal Structure - TX”窗口,选择合适的信号结构。

见图4。

图4再点击此窗口中的“RX”按钮,进入“Edit Signal Structure - RX”窗口,选择合适的信号结构。

见图5。

图5仪表时钟设置为自由振荡,设备跟踪仪表时钟,观察SDH分析仪告警和误码情况〔应无任何误码和告警〕,待系统稳定几分钟后开始测试。

4、选择3种指针调整测试序列之一,同时按PDH支路输出口速率等级,并依照指标定义的规定设置指针序列参数T1,T2,T3;〔这里ANT20E并没有直接给出这3种指针,所以只能自己将各种指针结合起来组成这3种指针。

具体方法如下:(1)a指针序列:先打开“Point Generator”设置窗口,在“Unit”下拉菜单中选择“Second”,在此窗口下的“TU Pointer”选项中选择“INC/DEC”选项,在“n”的选项中选择“1”,“T1/s”中设置为“10.00”,在“Mode”的选项中选择“Cont”,设置“T4/s”为“20.00”。

按下“TU on”按钮即把指针加入到信号中;见图6。

图6(2)b指针序列:先打开“Point Generator”设置窗口,在“Unit”下拉菜单中选择“Millisecond”在此窗口下的“TU Pointer”选项中选择“INC”选项,在“n”的选项中选择“4”,“T2/ms”中设置为“750.00”。

在“Add〔INC,DEC〕”中打“√”设置“T3/ms”为“2.00”。

在“Mode”的选项中选择“Cont”,设置“T4/ms”为“3750.00”。

按下“TU on”按钮即把指针加入到信号中;见图7。

图7:(3)c指针序列:先打开“Point Generator”设置窗口,在“Unit”下拉菜单中选择“Millisecond”在此窗口下的“TU Pointer”选项中选择“INC”选项,在“n”的选项中选择“4”,“T2/ms”中设置为“750.00”。

在“Cancel〔INC,DEC〕”中打“√”设置“T5/ms”为4倍T2的值为“3000.00”。

在“Mode”的选项中选择“Cont”,设置“T4/ms”为“60000.00”。

按下“TU on”按钮即把指针加入到信号中;见图8。

图85、SDH分析仪在PDH支路输出口连续进行不少于120秒的测试,读出抖动峰峰值的最大值;打开“O.172 Jitter Generator/Analyzer”窗口即可读出抖动的峰峰值。

6、在SDH分析仪发送侧加一定的频偏,通常选取±5ppm,±10ppm,±15ppm……重复上一步骤,将得到不同频偏的一组抖动数据;在这组数据中在某个特定的频偏下,抖动会较大,进一步在特定频偏附近以较小的频偏步阶例如1ppm,重复上一步骤,留意找到最大的结合抖动。

记录数据;打开“PDH Generator/Analyzer”窗口,在“TX”选项中的“Offset”选项可以调整发送的频偏值。

2E3信号结合抖动测试方法和步骤1、测试系统连接图见图1。

2、仪表业务配置参见图9和图10。

仪表时钟设置为自由振荡,设备跟踪仪表时钟,观察SDH分析仪告警和误码情况〔应无任何误码和告警〕,待系统稳定几分钟后开始测试。

图9图103、选择4种指针调整测试序列之一,同时按PDH支路输出口速率等级,并依照指标定义的规定设置指针序列参数T1,T2,T3;具体方法如下:(1)a指针序列:先打开“Point Generator”设置窗口,在“Unit”下拉菜单中选择“Second”,在此窗口下的“TU Pointer”选项中选择“INC/DEC”选项,在“n”的选项中选择“1”,“T1/s”中设置为“10.00”,在“Mode”的选项中选择“Cont”,设置“T4/s”为“20.00”。

按下“TU on”按钮即把指针加入到信号中;见图11。

图11(2)b指针序列:先打开“Point Generator”设置窗口,在“Unit”下拉菜单中选择“Millisecond”在此窗口下的“TU Pointer”选项中选择“INC”选项,在“n”的选项中选择“4”,“T2/ms”中设置为“34.00”。

在“Add〔INC,DEC〕”中打“√”设置“T3/ms”为“0.50”。

在“Mode”的选项中选择“Cont”,设置“T4/ms”为“170.00”。

按下“TU on”按钮即把指针加入到信号中;见图12。

图12:(3)c指针序列:先打开“Point Generator”设置窗口,在“Unit”下拉菜单中选择“Millisecond”在此窗口下的“TU Pointer”选项中选择“INC”选项,在“n”的选项中选择“4”,“T2/ms”中设置为“34.00”。

在“Cancel〔INC,DEC〕”中打“√”设置“T5/ms”为4倍T2的值为“136.00”。

在“Mode”的选项中选择“Cont”,设置“T4/ms”为“2720.00”。

按下“TU on”按钮即把指针加入到信号中;见图13。

图13(4)d指针序列:先打开“Point Generator”设置窗口,在“Unit”下拉菜单中选择“Millisecond”在此窗口下的“TU Pointer”选项中选择“INC/DEC”选项,在“n”的选项中选择“2”,“T1/ms”中选择“10000.00”,“T2/ms”中设置为“0.50”。

在“Mode”的选项中选择“Cont”,设置“T4/ms”为“20001.00”。

按下“TU on”按钮即把指针加入到信号中;见图14。

图144、SDH分析仪在PDH支路输出口连续进行不少于120秒的测试,读出抖动峰峰值的最大值;打开“O.172 Jitter Generator/Analyzer”窗口即可读出抖动的峰峰值。

5、在SDH分析仪发送侧加一定的频偏,通常选取±5ppm,±10ppm,±15ppm……重复上一步骤,将得到不同频偏的一组抖动数据;在这组数据中在某个特定的频偏下,抖动会较大,进一步在特定频偏附近以较小的频偏步阶例如1ppm,重复上一步骤,留意找到最大的结合抖动。

记录数据;打开“PDH Generator/Analyzer”窗口,在“TX”选项中的“Offset”选项可以调整发送的频偏值。

3E4信号结合抖动测试方法和步骤1、测试系统连接图见图1。

2、仪表业务配置参见图15和图16。

仪表时钟设置为自由振荡,设备跟踪仪表时钟,观察SDH分析仪告警和误码情况〔应无任何误码和告警〕,待系统稳定几分钟后开始测试。

图15图163、选择4种指针调整测试序列之一,同时按PDH支路输出口速率等级,并依照指标定义的规定设置指针序列参数T1,T2,T3;具体方法如下:(1)a指针序列:先打开“Point Generator”设置窗口,在“Unit”下拉菜单中选择“Second”,在此窗口下的“AU Pointer”选项中选择“INC/DEC”选项,在“n”的选项中选择“1”,“T1/s”中设置为“10.00”,在“Mode”的选项中选择“Cont”,设置“T4/s”为“20.00”。

按下“AU on”按钮即把指针加入到信号中;见图17。

图17(2)b指针序列:先打开“Point Generator”设置窗口,在“Unit”下拉菜单中选择“Millisecond”在此窗口下的“AU Pointer”选项中选择“INC”选项,在“n”的选项中选择“4”,“T2/ms”中设置为“34.00”。

在“Add〔INC,DEC〕”中打“√”设置“T3/ms”为“0.50”。

在“Mode”的选项中选择“Cont”,设置“T4/ms”为“170.00”。

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