材料屏蔽效能的测量方法

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屏蔽效能实验的实验原理

屏蔽效能实验的实验原理

屏蔽效能实验的实验原理屏蔽效能实验是一种广泛用于研究电磁波屏蔽性能的实验方法。

其基本原理是将待测试的电子设备(被称为“发射端”)和试验用的电磁波接收系统(被称为“接收端”)分别放置于屏蔽室内,然后分别测量发射端和接收端的电磁波信号强度,在不同的频率下进行比较,以此评估屏蔽效能。

本文将介绍屏蔽效能实验的详细步骤和注意事项,以及如何解释实验结果。

一、实验步骤1、选择实验设备:首先需要选择待测试的电子设备和电磁波接收系统。

建议在实验开始前对设备进行充分的调试和漏洞修复,确保实验的稳定性和准确性。

2、设置实验条件:将待测试的电子设备放置于一个特制的屏蔽机箱内,保证在测量期间完全隔离环境中的干扰源。

同时将电磁波接收系统放置于另一个屏蔽机箱内,以确保只有要测试的信号能够被接收到。

3、准备实验设备:在测试前需要将所有的设备进行标定和测试,并确保发射端和接收端的信号源频率相同。

4、开始测量:开始测试前,需要确定测试频率、测试距离以及输入功率等参数。

在测量过程中,需要记录下发射端和接收端的信号强度,并计算出屏蔽效率。

5、分析实验结果:根据实验数据,可以绘制出屏蔽效率与频率的关系曲线。

通过分析曲线可以了解到电磁波在测试条件下的传输特性和屏蔽效能的优劣。

二、注意事项1、实验室环境:要求实验室内干燥、温度稳定,避免杂波和电磁干扰因素的干扰。

2、测试距离:测试距离与测试结果的准确性直接相关,太近会忽略屏蔽效应,而太远则会有其他因素影响结果。

3、添加加噪声:如果需要更准确的测试结果,则可以添加一定程度的加噪声来模拟现实环境中的实际情况,提高实验结果的可信度。

三、结果分析1、屏蔽效率:最终结果以屏蔽效率值作为评价指标,屏蔽效率值越高,表示该屏蔽室的屏蔽效能越好。

2、频率谱分析:通过频率谱分析可以了解到不同频段屏蔽效能的表现,对于研究电磁波屏蔽特性具有指导意义。

结论:在实际生产中,电子设备的屏蔽性能是非常重要的。

屏蔽效能实验是评估电子设备屏蔽效能的标准方法。

屏蔽效能测试方案

屏蔽效能测试方案

屏蔽室屏蔽效能 测试频率
测试频率应该参考国家或军队无线电管理机构提供的频率列表
建议从供工业、科学和医疗设备(ISM)使用的频率或推荐频率表选择
屏蔽室 低频段测量(9kHz-20MHz)
屏蔽室 谐振频段测量(20MHz-300MHz)
屏蔽室 高频段测量(300MHz-1GHz)
屏蔽室 高频段测量(1GHz-18GHz)
DSA800+TG 或DSA1000+TG
方案二 2
DR-S01+测试支架 北京鼎容实创
DR-S02
3
Rigol
RF Attenuator Kit
4
Rigol
CB-NM-NM-75-L-12G
设备名称 频谱分析仪 射频信号源 法兰同轴屏蔽效能测试装置 法兰同轴屏蔽效能测试仪 10dB衰减器*2 射频连接电缆*2
应用领域
应用领域
什么是屏蔽效能(Shielding Effectiveness)?
定义:在同一激励电平下,有屏蔽材料与无屏蔽材料时所接收到的功率 或电压之比,并以对数表示。
SE = 20lg(V0/V1) = 10lg(P0/P1 )
式中,SE—屏蔽效能,dB; V0—无屏蔽材料时的接收电压; V1—有屏蔽材料时的接收电压; P0—无屏蔽材料时的接收功率; P1—有屏蔽材料时的接收功率。
屏蔽效能 典型测试结果
标准法规
SJ 20524:1995 材料屏蔽效能的测量方法 GJB 6190:2008 电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法 GB/T 25471:2010 电磁屏蔽涂料的屏蔽效能测量方法 GB/T 12190:2006 电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法 GJB 6785-2009 军用电子设备方舱屏蔽效能测试方法 GJB 3039:1997 舰船屏蔽舱室要求和屏蔽效能测试方法 IEEE Std 299:2006 IEEE standard method for measuring the effectiveness of electromagnetic shielding enclosures. ASTM D4935:2010 Standard Test Method for Measuring the Electromagnetic Shielding Effectiveness of Planar Materials. IEEE Std 1302:2008 IEEE Guide for the Electromagnetic Characterization of Conductive Gaskets in the Frequency Range of DC to 18 GHz. MIL-DTL-83528C:2001 Gasketing Material,Conductive,Shielding Gasket, Electronic,Elastomer,EMI/RFI. SAE ARP 1173:2004 Test procedure to measure the RF shielding characteristics pf EMI gaskets. SAE ARP 1705A:2006 Coaxial test procedure to measure the RF shielding characteristics of EMI gasket materials. DESC 92017 DEF STAN 59-103

实验指导书1-屏蔽部件的屏蔽效能测试实验指导书

实验指导书1-屏蔽部件的屏蔽效能测试实验指导书

屏蔽部件的屏蔽效能测试实验指导书一、实验目的理解屏蔽的分类,加强对屏蔽效能概念理解,掌握屏蔽效能测试原理及方法。

二、实验原理屏蔽效能是同一地点无屏蔽存在时的电磁场强度与加屏蔽体后的电磁场强度之比。

(一)屏蔽效能计算方法后前P PSE lg 10=()12SE A A dB =-其中:SE 为屏蔽效能,P 前和A 1为自由空间校准接收功率值,P 后和A 2为屏蔽后接收到的接收功率值。

测量原理图如图1所示。

图1屏蔽效能测试原理图 (二)屏效测试使用天线测试频段 频率范围 标准测试天线 低频段100Hz~30MHz环形天线三、实验仪器1.电磁屏蔽室(含屏效测试窗口)2信号源SP1642B,信号源MG3694A;3.测试天线组:KSTM-1013环形天线,KSTM-2213对称振子天线,KSTH-0508微波喇叭天线(各一对);4. 安捷伦N9020A微波频谱分析仪;5.测试电缆1#、2#、3#及附件;6.被试屏蔽材料样件。

四、实验内容及步骤实验内容:(一)磁场屏效测试(1)测试频点:250 kHz 、1MHz、30MHz(4)加屏蔽体后的测试。

(二)电场屏效测试(1)测试频点:300MHz、1GHz 。

(3)自由空间测试。

(4)加屏蔽体后的测试。

(三)平面波屏效测试(1)测试频点:4GHz、6GHz 。

(4)加屏蔽体后的测试。

测试具体步骤(以磁场频效测试为例):1.按原理图连接测试系统,经检查系统连接正常后,将信号发生器的电源插头插入220V电源,按下“电源”开关,将信号源预热30分钟;2.自由空间测试,将信号源输出频率依次调为实验内容中的测试频点,输出功率为+20dBm;在每个频率点下,在频谱仪中读出接收到的相应频率点处的功率电平幅度dBm值记为A1;3.加屏蔽体后的测试,保持信号源输出功率不变,通过频谱仪读出有屏蔽时接收到的相应频率点处的功率电平dBm值记为A2;注:应保证受试屏蔽样件与屏蔽室测试窗口安装法兰的电连续,尤其注意安装螺栓的均匀紧固,减小安装孔缝对测试结果的影响。

屏蔽机房的屏蔽效能及其测试方法

屏蔽机房的屏蔽效能及其测试方法

屏蔽机房的屏蔽效能及其测试方法屏蔽机房的屏蔽效能通常定义为:对于给定外干扰源进行屏蔽时,在屏蔽室某一点上进行干扰前后的电场强度或磁场强度之比。

我国目前各类高性能屏蔽室的屏蔽效能测量方法均采用MIL-STD-285和LEEE-299-1969标准。

在屏蔽效能测量时应注意的问题:
☆接收场强仪要有足够高的灵敏度和频率响应,目前国内能提供的场强仪特别在超高频和微波段灵敏度较差,以致于不能正常接收微弱信号。

☆微波频段的信号源要有足够的发射功率,喇叭天线要有很高的发射效率。

☆低频段磁环天线应严格遵守制作标准。

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屏蔽效能测试方案

屏蔽效能测试方案

推荐配置
DSA800/1000 频谱分析仪 DSG3000 射频信号源 射频功放(可选) 天线: 低频:环天线 谐振:双锥天线 高频300MHz-1GHz: 发射:半波长偶极子天线 接收:八分之一波长偶极子天线 高频1GHz-18GHz: 喇叭天线
典型测试案例-IC芯片封装(集成电路天线测量法)
• ASTM-ES-7双屏蔽盒测试法(近场) • ASTM-ES-7同轴传输线测试法(远场) • 改进的MIL-STD-285测试法(近场)
法兰同轴测试法(频谱分析仪+射频信号源)
频率范围:30MHz~1.5GHz 试样厚度:小于等于10mm 可测试电磁屏蔽材料对平面波的屏蔽效能
参考试样 负载试样
屏蔽效能 典型测试结果
标准法规
SJ 20524:1995 材料屏蔽效能的测量方法 GJB 6190:2008 电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法 GB/T 25471:2010 电磁屏蔽涂料的屏蔽效能测量方法 GB/T 12190:2006 电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法 GJB 6785-2009 军用电子设备方舱屏蔽效能测试方法 GJB 3039:1997 舰船屏蔽舱室要求和屏蔽效能测试方法 IEEE Std 299:2006 IEEE standard method for measuring the effectiveness of electromagnetic shielding enclosures. ASTM D4935:2010 Standard Test Method for Measuring the Electromagnetic Shielding Effectiveness of Planar Materials. IEEE Std 1302:2008 IEEE Guide for the Electromagnetic Characterization of Conductive Gaskets in the Frequency Range of DC to 18 GHz. MIL-DTL-83528C:2001 Gasketing Material,Conductive,Shielding Gasket, Electronic,Elastomer,EMI/RFI. SAE ARP 1173:2004 Test procedure to measure the RF shielding characteristics pf EMI gaskets. SAE ARP 1705A:2006 Coaxial test procedure to measure the RF shielding characteristics of EMI gasket materials. DESC 92017 DEF STAN 59-103

建筑材料电磁屏蔽效能测试方法

建筑材料电磁屏蔽效能测试方法

建筑材料电磁屏蔽效能测试方法摘要:随着电子设备的广泛应用,电磁辐射对人体健康的影响日益受到关注。

为了保护人体免受电磁辐射的侵害,建筑材料的电磁屏蔽效能成为了一个重要的研究方向。

本文介绍了建筑材料电磁屏蔽效能测试的方法及其原理,以期为建筑材料的选择和设计提供参考。

1. 引言电磁辐射是指电磁波在空间中传播的过程中向周围环境传递能量的现象。

随着电子设备的普及和无线通信技术的发展,人们对电磁辐射的健康影响越来越关注。

电磁辐射不仅可能对人体造成生理和心理上的影响,还可能干扰电子设备的正常工作。

因此,对建筑材料的电磁屏蔽效能进行测试和评估显得尤为重要。

2. 测试方法2.1 电磁辐射源电磁辐射源是进行电磁屏蔽效能测试的关键设备。

常见的电磁辐射源包括电磁辐射发生器和天线。

电磁辐射发生器可以产生不同频率和功率的电磁波,而天线用于辐射电磁波。

2.2 试样准备试样准备是电磁屏蔽效能测试的第一步。

试样可以是建筑材料的样品,也可以是已经安装在建筑结构中的材料。

试样的准备应尽量保持与实际使用情况一致,以获得真实可靠的测试结果。

2.3 测试装置测试装置用于模拟真实的电磁辐射环境,并测量试样对电磁波的屏蔽效能。

测试装置包括电磁屏蔽箱、功率计、频谱分析仪等设备。

电磁屏蔽箱可以屏蔽外界电磁干扰,保证测试结果的准确性。

2.4 测试步骤(1)将试样放置在测试装置中,并确保其与电磁辐射源之间的距离符合测试要求。

(2)启动电磁辐射源,产生一定频率和功率的电磁波。

(3)使用功率计测量电磁波的功率,以评估试样的屏蔽效能。

(4)使用频谱分析仪分析电磁波的频谱特性,进一步评估试样的屏蔽效能。

3. 测试原理建筑材料的电磁屏蔽效能取决于其导电性、磁导率和厚度等因素。

导电性越好的材料具有更好的电磁屏蔽效能,而磁导率越高的材料对低频电磁波的屏蔽效能更好。

此外,材料的厚度也会影响其屏蔽效能,一般来说,厚度越大的材料屏蔽效能越好。

4. 结果分析通过测试,我们可以得到试样在不同频率和功率下的电磁屏蔽效能数据。

电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法

电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法

电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法一、简介电磁屏蔽室的屏蔽效能测量是检测电磁屏蔽室对外部电磁场的屏蔽效果的重要手段,其目的是为了判定电磁屏蔽室是否能够达到预期的屏蔽效能。

二、屏蔽效果的测量原理屏蔽效能的测量是利用电磁屏蔽室内部的电压池及电流池在外部电磁场的作用下产生的失真电压与失真电流,使用示波器来测量电压与电流的正常电压和电流,从而计算出屏蔽室内的失真电压和失真电流,从而计算出屏蔽室内的屏蔽效能。

三、测量方法1、准备工作:安装相应的测试设备,如示波器、屏蔽室内部的电压池及电流池,外部电磁场生成装置等。

2、测量步骤:(1)用示波器记录电压池及电流池内的正常电压与电流;(2)打开外部电磁场生成装置,记录放电后屏蔽室内的电压池及电流池内的失真电压与失真电流;(3)计算出屏蔽室内的屏蔽效能。

四、实际测量在实际测量中,主要采用的方法是幅度法、相位法和峰值法。

它们的具体测量步骤如下:(1)幅度法:①首先,设定一定的频率。

②然后,用示波器记录屏蔽室内电压池及电流池内的正常电压与电流。

③将外部电磁场的强度依次增大,当外部电磁场的强度达到某一固定值时,记录屏蔽室内的电压池及电流池内的失真电压与失真电流,然后计算出屏蔽室内的屏蔽效能。

(2)相位法:①首先,设定一定的频率,用示波器记录屏蔽室内电压池及电流池内的正常电压与电流。

②然后,将外部电磁场的强度依次增大,当外部电磁场的强度达到某一固定值时,记录屏蔽室内的电压池及电流池内的失真电压与失真电流,并计算它们的相位差,最后计算出屏蔽室内的屏蔽效能。

(3)峰值法:①首先,设定一定的频率,用示波器记录屏蔽室内电压池及电流池内的正常电压与电流。

②然后,将外部电磁场的强度依次增大,当外部电磁场的强度达到某一固定值时,计算屏蔽室内失真电压与失真电流的峰值,然后计算出屏蔽室内屏蔽效能。

五、总结电磁屏蔽室的屏蔽效能的测量是植基于外部电磁场对其内部的影响,通过测量电压池及电流池内的正常电压与电流,以及外部电磁场影响下的失真电压与失真电流计算出屏蔽室内的屏蔽效能。

平面材料同轴法兰屏蔽效能测试方法

平面材料同轴法兰屏蔽效能测试方法

DR-S02平面材料屏蔽效能测试仪产品手册使用本产品前请仔细阅读本手册;本装置内部为精密机械机构,使用或运输途中切忌猛烈碰撞,以免影响仪器性能;本装置出厂前已调试至最佳性能状态,用户不可随意拆卸,使用如有问题请致电本公司,本公司将提供及时的技术支持与维修服务。

如用户私自拆卸或由于私自拆卸造成的问题,本公司一律不给予提供保修服务。

非经本公司书面许可,任何单位和个人不得擅自摘抄、复制本手册内容的部分或全部,并不得以任何形式传播。

本手册中的信息可能变动,恕不另行通知。

DR-S02平面材料屏蔽效能测试仪核心部件为完全按照ASTM 4935标准规定的同轴法兰测试装置(DR-S01),结合精巧结构设计,解决同轴法兰装置测试笨重难操作的问题,同时高精密加工的同轴法兰部件在测试频率范围内具有非常小的驻波比和非常低的插入损耗(见附录),有效的保证了测试结果的真实性与准确性;适用于屏蔽织物、金属薄板、非导电材料表面涂层或镀层、金属网、导电膜、导电玻璃、导电介质板等平板型电磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的测量。

适用标准:ASTM 4935、GJB 6190-2008和SJ20524-1995。

主要参数AC220V/ 50Hz 电源≤1dB 插入损耗(IL )≤1.3(同轴测试装置)最大驻波比(VSWR )660mm ×420mm ×380mm (H ×W ×D )外形尺寸N 型接头输入/输出约35kg重量30MHz ~1.5GHz ,(可在9kHz ~3GHz 内使用,最大驻波比不大于2)频率范围说明主要参数装箱单—1产品手册2—1合格证3防震泡沫箱包装1DR-S02测试仪1备注数量名称序号配套选件DC~3GHz ,1W ,6dB 或10dB 2同轴衰减器2根据客户要求定制功能1屏蔽效能测试软件3进口同轴电缆2测试电缆1备注数量名称序号图2 典型插入损耗图1 典型驻波比附录同轴屏蔽效能测试装置的典型驻波比和插入损耗。

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材料屏蔽效能的测量方法
材料的屏蔽效能是指材料对外部电磁波或辐射的吸收和阻挡能力。

测量材料的屏蔽效能可以帮助人们了解和评估不同材料在防护电磁波和辐射方面的能力。

下面将介绍几种常用的材料屏蔽效能测量方法。

1.透射法测量
透射法是一种常见的测量材料屏蔽效能的方法。

该方法通过分别测量原始电磁波或辐射源的电磁波强度和透过材料后的电磁波强度,计算出材料的透射系数,从而评估材料的屏蔽效能。

透射法的测量步骤一般包括:确定透射样品的尺寸和准备样品;将电磁波或辐射源放置在样品的一侧,测量源侧和接收侧的电磁波或辐射强度,计算透射系数。

2.散射法测量
散射法是一种基于材料散射电磁波的测量方法。

该方法通过测量散射波的方向、强度和能谱,来评估材料的屏蔽效能。

散射法的测量步骤一般包括:将电磁波或辐射源照射到待测材料上,测量材料表面和散射波方向上的电磁波或辐射强度,计算材料的散射系数和散射横截面。

3.反射法测量
反射法是一种通过测量待测材料对电磁波或辐射的反射来评估材料屏蔽效能的方法。

该方法一般包括:将电磁波或辐射源照射到材料上,测量材料的反射波方向、强度和能谱,并计算材料的反射系数和反射横截面。

4.射频测试方法
射频测试方法主要用于测量材料对射频电磁波的屏蔽效能。

该方法通过将待测材料置于封闭的射频测试室内,测量材料表面和室内的电磁场强
度和频谱,进而计算材料的屏蔽效能。

在射频测试中,常用的测量设备包括功率计、频谱分析仪等。

5.辐射损耗测试方法
辐射损耗测试方法主要用于测量材料对高能辐射的屏蔽效能。

该方法通过将待测材料置于辐射源附近,测量源侧和样品侧的辐射能量,计算材料的辐射损耗。

总的来说,材料屏蔽效能的测量方法多种多样,具体选择哪种方法要根据待测材料的特性和需要测量的参数来决定。

以上介绍的测量方法只是其中的一部分,随着科技的不断发展,可能还会出现更加先进和精确的测量方法。

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