电磁屏蔽室效能检测
电磁屏蔽室效能检测
EMC 屏蔽效能的测试方案 实验原理：
GJB5792-2006 军用涉密信息系统电磁屏蔽体等级划分和测量方法： 指测试过程中，除了与特定设施有关的频率之外，为考核屏蔽室屏蔽效能而选取的典型测试频率范围，分以下三个频段(见表1)。
表1
GJB5792 屏蔽效能
1）在20-300MHz 频段内由于天线尺寸和屏蔽室的谐振效应，使测量结果常常会因测试方法的微小变动产生极不正常的变化，所以在该频段内未推荐测试方法。
如确有必要侧试，本标准的小环法或频段II 测试方法可供参考。
2)侮个频段仅测一个频率点，用以粗略估计屏蔽室的屏蔽效能。
屏蔽效能的表示：
在频段I ，屏蔽效能由右式表示:SE=20log
1
2
E E
→
→
，
在频段II ，屏蔽效能由右式表示:SE=20log
1
2
H
H →
→
，
在频段III ，屏蔽效能根据指示器方式的用右式表示:SE=10log
12
P P 。
测量的一般要求 一般要求
a.在正式侧量之前可对屏蔽室进行初测，找出性能差的门、接缝和安装不良的电源滤波器及通风孔，以便正式测量之前子以修补。
对于新建的屏蔽室，尤其有必要进行初测;
b.在测试之前，应把金属设备或带金属的设备搬走，如桌子、椅子、柜子和不用的仪器等;
c.屏蔽室的电源滤波器及室内电源线只给检测仪器及照明供电;
d.在测试中，所有的射频电缆、电源和其他平时要求进人屏蔽室
的设施均应按正常位置放置;
e.电磁环境应满足GJB5792的要求，检测仪器本身应满足抗干扰要求，
f.为了不致发生生理危害，应采取专门的预防措施，这对频段Ⅲ的测量尤为重要;
9.测量中，对各种导线、电缆的进出口、门、观察口及板与板之间的接缝应特别注意;
h.有些测试方法要求在不同的位置、不同的极化条件下对某一结构要素作多次测量，
i.测试报告应记录可接近的屏蔽壁数目、受试屏蔽壁的数目，以及局部测试区的数目和位置。
测试用天线
本标准对不同频段的测试天线规定如下:
a.频段I:环形天线，
b.频段I:偶极子天线，
c.频段III:微波喇叭及其等效天线。
测试系统基本组成：
实验仪器：
表2
其它设备名称：毫米刻度尺,电磁屏蔽用铜网,电磁屏蔽门.
测试方法与要求
基本测量方法是将壁面划为若干较小的区域，逐个照射并进行测试。
发射天线与屏蔽室之间距离的选择应使小区域上受到的照射相当均匀。
3 cm波段源天线的波束应有近似50°的宽度，对于2.5m ×2.5m 的区域能产生基本均匀的照射。
检测喇叭天线应与屏蔽室的邻近侧壁相距1.3m，并位于受照壁及其对壁的中分面上。
检测天线辐射轴的初始位置应与发射天线的辐射轴共轴。
使所有的区域都受到测试。
测试时，发射天线先垂直极化，然后水平极化。
在测试单层连续板构成的屏蔽室时，对于发射天线的每一种极化应采用下列试程序:检测天线面对受照射的区域，在保持天线增益不变的条件下对该区域进行搜索，然后把极化平面转动90°，重复测试。
为减小屏蔽室内驻波效应对测试结果的影响，在每次测试过程中，检测天线的几何位置都应在各个方向上大致移动λ/4的距离。
测试报告中，应记下每位置的最大透入场强或衰减器的读数。
在对多层板构成的屏蔽室的测试中。
如果屏蔽板层间距离是λ/4的奇数倍时，屏蔽效能最高，间距为λ/2的倍数时，屏蔽效能最低。
为检查这种与双层屏蔽壁间距尺寸有关的谐振特性，需要增加一项测试。
测试方法与对单层屏蔽板测试相同，不过应在测试中局部地连续改变屏蔽壁的层间距离。
方法是在被照内屏蔽壁的中央外附一根直径约l0mm长约lm的绝缘杆，在检测喇叭天线的每一个测试位置，通过垂直移动此绝缘杆改变屏蔽板层间距离。
对于两屏蔽壁层间距离不能变动的屏蔽室，则应选取比上述谐振频率增减5%的两个附加频率，按单层板屏蔽室测试方法重复测试。
应记录该项测量结果备查。
测试步骤
3.1屏蔽门的低频屏效能测试（100Hz~1MHz）
3.1.1测试系统配置
频谱仪,低频信号源,环形天线等.
3.1.2测试方法：
step1：自由空间校准（低频磁场）,将环形天线与低频信号源连接，
两个环形天线的距离根据GB/T12190-90,距离d=(60+t)cm,d1=30cm,d2=30cm. t指测试焊接板的厚度,本次实验焊接板厚度为10cm，取d=70cm.
Step2：打开低频信号源，调节低频信号源，使其输出频率为150000Hz，输出骚扰信号的功率为10dbm。
将环形天线水平放置，并记录频谱仪的接收频率；然后将环形天线垂直放置，再次记录频谱仪的接收频率。
Step3：用螺钉按上图把测试焊接板装在测试窗口，保持信号源频率和输出电平不变，记下接收机的读数P2(dBm)。
Step4：计算测试件的屏蔽效能SE= P1 -P2 (dBm)。
Step5：重复上述步骤可测得该焊接板在不同频率点的屏蔽效能。
3.3实验数据
表格 3屏蔽舱门的低频屏效测试数据记录
3.1.3数据处理与数据计算:
屏蔽效能：SE=20log
1
2E E
→
→
，SE=20log
1
2
H
H →
→
，SE=10log
12
P P ，带入屏蔽后的
数据中最小的值作为屏蔽效能计算数值：取屏蔽后接收功率的最大值，计算屏蔽效能。
max P =-72.8，min SE =-41.37-（-72.8）=31.43（dbm ）.
取屏蔽后接收功率的平均值：ave P =-84.85，ave SE =-41.37-（-84.85）=43.48
（dbm ）.
3.2屏蔽部件的微波段屏效测试(1.7~18GHz) 3.2.1测试系统配置：
喇叭天线，高频信号源，频谱仪。
3.2.2测试步骤：
Step1：将喇叭天线之间的距离调整为2.3m距离，并对准，然后打开高频发射源发射11.5GHZ，10dbm的电磁波，记录此时频谱仪的数据，以进行空间校准。
Step2：将信号源关闭，在不改变发射天线与接收天线之间的距离，将屏蔽设备加入到喇叭天线之间，并发射与空间校准时相同频率和功率的信号，记录频谱仪的读数。
Step3：重复上述步骤，多次测量，并记录数据。
表格 4数据记录：
3.2.3数据处理：
对一种确定的方法应记录最小屏蔽效能和平均屏蔽效能。
平均屏蔽效能取决于平均幅值。
对于n次测量，接收功率
P的平均幅值按下式
2
计算
:
=2av =1
1P =201og{n k n
k
按照上式计算得：
2
av
P =-47.35
铜网的屏蔽效能：
p S =-27.04--34.75=.(dbm)（）771 自动测试系统简介
注:根据GB/T12190-90,距离d=2.0m+w/2、d1=2.0m 、d2=w/2. w 指测试屏蔽室的宽度 检测实验体会
通过试验，对频谱仪的使用有了进一步的了解，学会识别高频、低频信号源，并使用不同的发射接收天线来测试高频、低频信号；信号
手动设置参数
发射信号
接收信号
自动
采集
显示并记录测
河南泰嵩恒环境监测服务有限公司-186******** 在未发射时，频谱仪上就有数字显示，但是没有峰值，当接收信号时有峰值信号出现，频谱仪上显示的是接收和发射信号的阈值。
试验结束后结合测试的知识做进一步的巩固和思考。
屏蔽效能实验的实验原理
屏蔽效能实验的实验原理屏蔽效能实验是一种广泛用于研究电磁波屏蔽性能的实验方法。
其基本原理是将待测试的电子设备（被称为“发射端”）和试验用的电磁波接收系统（被称为“接收端”）分别放置于屏蔽室内，然后分别测量发射端和接收端的电磁波信号强度，在不同的频率下进行比较，以此评估屏蔽效能。
本文将介绍屏蔽效能实验的详细步骤和注意事项，以及如何解释实验结果。
一、实验步骤1、选择实验设备：首先需要选择待测试的电子设备和电磁波接收系统。
建议在实验开始前对设备进行充分的调试和漏洞修复，确保实验的稳定性和准确性。
2、设置实验条件：将待测试的电子设备放置于一个特制的屏蔽机箱内，保证在测量期间完全隔离环境中的干扰源。
同时将电磁波接收系统放置于另一个屏蔽机箱内，以确保只有要测试的信号能够被接收到。
3、准备实验设备：在测试前需要将所有的设备进行标定和测试，并确保发射端和接收端的信号源频率相同。
4、开始测量：开始测试前，需要确定测试频率、测试距离以及输入功率等参数。
在测量过程中，需要记录下发射端和接收端的信号强度，并计算出屏蔽效率。
5、分析实验结果：根据实验数据，可以绘制出屏蔽效率与频率的关系曲线。
通过分析曲线可以了解到电磁波在测试条件下的传输特性和屏蔽效能的优劣。
二、注意事项1、实验室环境：要求实验室内干燥、温度稳定，避免杂波和电磁干扰因素的干扰。
2、测试距离：测试距离与测试结果的准确性直接相关，太近会忽略屏蔽效应，而太远则会有其他因素影响结果。
3、添加加噪声：如果需要更准确的测试结果，则可以添加一定程度的加噪声来模拟现实环境中的实际情况，提高实验结果的可信度。
三、结果分析1、屏蔽效率：最终结果以屏蔽效率值作为评价指标，屏蔽效率值越高，表示该屏蔽室的屏蔽效能越好。
2、频率谱分析：通过频率谱分析可以了解到不同频段屏蔽效能的表现，对于研究电磁波屏蔽特性具有指导意义。
结论：在实际生产中，电子设备的屏蔽性能是非常重要的。
屏蔽效能实验是评估电子设备屏蔽效能的标准方法。
电磁屏蔽室屏蔽效能质量控制检测操作细则 (2)
电磁屏蔽室屏蔽效能质量控制检测操作细则为规范实施电磁屏蔽室屏蔽效能质量控制检测，参照国标《电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法》（GB /T 12190-2006），结合我单位检测设备，制定《电磁屏蔽室屏蔽效能质量控制检测操作细则》。
1.目的规定各边尺寸不小于2.0m的电磁屏蔽室屏蔽效能的测量和计算方法。
2.范围测试频率范围为9kHz~18GHz。
根据需要，频率向两端可以扩展到50Hz和100GHz。
3.测量位置1）测量设备布置位置如图所示。
发射环与接收环离屏蔽室的距离均为0.3m，两者应共面并垂直于屏蔽墙、天花板或其他待测平面。
在每一个频点和测试位置,信号源的输出值为5.6.4中测量参考场在没有屏蔽室时，将接收环天线与发射环天线相距；0.6m与屏蔽室壁厚度之和，并且使两个环天线处于同一平面。
2）在测试过程中,通常使发射环天线固定不动，而将接收环天线升高或降低(至少在共平面上移动接.缝总长的1/4)，以保证测得最坏的情况。
应使用检测仪器的最大读数来确定屏蔽效能。
在寻找最坏的情况时允许发射环和接收环近似共面，但最终测量时应保证两者共面。
3）对单扇门，应在图2 a)和图2 b)所示的14个位置上进行小环测试。
环面应垂直于门缝。
对于水平门缝，要求环位于拐角和门缝的中间;对垂直门缝,要求环分别位于拐角、距门顶部和门底部的1/3处。
垂直接缝的上端和下端应按图2b)进行测试。
4）对多扇门，上述的测试位置分别应用于每扇门，见图2b)和图2c)。
5）对尺寸超过1.5mX2.5m的门，应再增加一些测试位置以保证两个测量点问距不超过1m.6）采用板材构件的屏蔽室,其接缝区域的电性能是不均匀的。
不连续区域是指用铆接、螺接、钎焊或熔焊连接的部位。
不连续处的测试方法与门的测试方法基本相同，只是这时不论水平还是垂直接缝，环的中心都应位于每一接缝的中点（见图2d）。
7 7）通风孔，接口板或连接器板的屏蔽性能测试与接缝的测试方法相似。
电磁屏蔽室检测方案
电磁屏蔽室检测方案引言电磁屏蔽室是一种专门用于进行电磁屏蔽实验的封闭环境，其目的是为了隔离外部电磁干扰对实验结果的影响。
为了保证电磁屏蔽室的有效性和稳定性，需要对其进行检测和评估。
本文将介绍一种电磁屏蔽室检测方案，以确保其满足相关的技术要求。
1. 电磁屏蔽室检测原理电磁屏蔽室主要通过在其内部建立静电屏蔽和磁场屏蔽来抵消外部电磁干扰，并提供一个稳定的实验环境。
在进行电磁屏蔽室的检测时，需要测试其是否能够有效地屏蔽外部电磁场。
针对电磁屏蔽室的检测，主要包括以下几个方面：1.1 静电屏蔽效果测试静电屏蔽主要通过采用金属材料来建立电磁屏蔽，通过测量电场强度来评估其屏蔽效果。
测试时可以使用电场强度测量仪来进行测量，将探头放置于屏蔽室内部，分别在不同位置进行测量，得到电场强度数据后进行比对分析，以评估静电屏蔽效果。
1.2 磁场屏蔽效果测试磁场屏蔽主要通过采用磁性材料来建立电磁屏蔽，通过测量磁场强度来评估其屏蔽效果。
测试时可以使用磁场强度测量仪来进行测量，将探头放置于屏蔽室内部，分别在不同位置进行测量，得到磁场强度数据后进行比对分析，以评估磁场屏蔽效果。
1.3 频率响应测试频率响应测试主要用于评估电磁屏蔽室在不同频率下的屏蔽效果。
测试时可使用信号发生器产生不同频率的信号源，将信号源放置于屏蔽室内，通过外部设备接收并测量信号源的输出信号强度，分析不同频率下的信号强度变化，以评估电磁屏蔽室的频率响应。
2. 电磁屏蔽室检测步骤电磁屏蔽室的检测通常需要进行以下步骤：2.1 静电屏蔽效果测试步骤1.在电磁屏蔽室内部选择不同位置，使用电场强度测量仪进行测量。
2.记录各个位置的电场强度数据。
3.对比各个位置的电场强度数据，评估静电屏蔽效果。
2.2 磁场屏蔽效果测试步骤1.在电磁屏蔽室内部选择不同位置，使用磁场强度测量仪进行测量。
2.记录各个位置的磁场强度数据。
3.对比各个位置的磁场强度数据，评估磁场屏蔽效果。
2.3 频率响应测试步骤1.使用信号发生器产生不同频率的信号源。
电磁屏蔽室屏蔽效能基本原理、数学公式、其他的有关信息、测量技术选择指南、初测和改进
附录A(资料性附录)基本原理A.1概述本标准规定的测量方法保证了技术的有效性，简化了测量过程，可以避免财力和物力的浪费。
这些明确规定的测量方法构成了本标准的基础。
A.2一些考虑A.2.1标准测量在标准频率范围内(表1)的测量结果可用来比较不同屏蔽室的屏蔽效能特性。
标准测量位置如下：1）屏蔽室入口屏蔽壁上预选的门缝和结合部位；2）所有屏蔽面上穿墙装置可接近的部位。
A.2.2初测在正式测量开始之前可以先进行初测，以便找到屏蔽效能比较差的部位。
如果屏蔽效能达不到要求，可以对其进行改进。
经验表明：在低频段，磁场屏蔽效能已经体现了最严格的要求，本标准没有给出电场屏蔽效能的测量方法，因此，低频段电场屏蔽效能可不测量。
A.2.3非线性特性在强发射情况下，可能出现显著的非线性特性,这将导致屏蔽效能的变化。
附录C提供了在规定照射范围内界定明显非线性特性的可选方法。
A.2.4扩展的频率范围按照本标准正文推荐的方法，并使用下面三个频率范围内的任何非典型频率，可得到附加的测量结果：——低频频段：50Hz～20MHz；——谐振频段：20MHz～300MHz；——高频频段：300MHz～100GHz。
A.3腔体谐振A.3.1腔体谐振的考虑在屏蔽室谐振频率范围内进行测量时，应考虑结果是否正确。
该频率范围大概从0.8r f到3r f, f是指屏蔽室的最低固有谐振频率。
在该频段测量时，应考虑采取专门的预防措施。
对尺寸比较r大的屏蔽室，其最低固有谐振频率可能在20MHz以下。
由于屏蔽室壁面呈电连续性，因此其是一个谐振腔体。
在一定条件下，当电磁波注入到屏蔽室内时，在高于其最低固有谐振频率r f的频段内将产生驻波。
由于驻波的影响，屏蔽室内部的电磁场不再均匀，出现了与该激励频率相关的极大值和极小值。
谐振频率和模式取决于屏蔽室的几何尺寸和形状。
几乎任何形状的屏蔽室都可以产生谐振，但通常只对相对简单的长方体、圆柱体和球体屏蔽室的谐振频率进行数学分析。
电磁屏蔽室测试区屏蔽效能测试方法探讨
基金项目:国家重点研发计划项目(2018YFF0212601)资助。
作者简介:赵敏(1973-)，女，高级工程师，大学本科，长期从事电子计量测试研究。
通信作者简介:常炜(1971-)，女，工程师，大学本科，长期从事测量测试管理工作。
电磁屏蔽室测试区屏蔽效能测试方法探讨Study on Test Method of Shielding Efficiency in the Work Area of Electromagnetic ShieldingRoom赵敏,常炜(工业和信息化部电子第五研究所,广东广州510610)Zhao Min,Chang Wei (The Fifth Electronics Research Institute of Ministry of Information Industry,Guangdong Guangzhou 510610)摘要：目前，电磁屏蔽室屏蔽效能测试依据《GB/T 12190-2006屏蔽效能的测量方法》进行，在靠墙位置查找电磁波泄漏情况，然后进行测试。
测试结果的屏蔽效能值偏小，且不确定性大，往往不满足使用要求。
测试实验室使用的区域远离墙壁，对屏蔽效能要求更高。
提出测试区屏蔽效能的概念，即以测试区25点测量结果的平均值作为屏蔽效能测试结果，认为更符合测试实验室需求。
并以高频段的(1~18)GHz 为例，通过电磁仿真及测试实例证明其科学性和有效性。
经不确定度评定，扩展不确定度为4dB。
关键词：电磁屏蔽室；测试区屏蔽效能；FEKO 仿真；扩展不确定度中图分类号：TM153+.5文献标识码：A文章编号：1003-0107(2021)05-0119-06Abstract:At present,the shielding effectiveness of electromagnetic shielding room is tested following GB/T 12190-2006shielding effectiveness measurement method.The maximum leakage of electromagnetic wave is found near the wall,and then the shielding effectiveness is gotten.Therefor the effectiveness value is small and uncertain,which does not meet the use requirements.The area used by the test laboratory is far away from the wall,which requires higher shielding effectiveness.The concept of shielding effectiveness of work area is put forward,that is to say,the average value of 25points in the work area is taken as the shielding effectiveness.Taking (1~18)GHz of high frequency band as an example,the scientific and effective of the method are proved through electromagnetic simulation and test examples.The expanded uncertainty is 4dB.Key words:Electromagnetic Shielding Room;Shielding Efficiency of Work Area;FEKO Simulation;Expanded UncertaintyCLC number:TM153+.5Document code:AArticle ID ：1003-0107(2021)05-0119-060引言在《GB/T 12190-2006电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法》中这样描述屏蔽室："使内部不受外界电、磁场的影响或使外部不受内部电磁场影响的一种结构，它通常由金属材料建成，在金属板接缝和门等处采取一定的措施以保证连续的电连接"[1]。
实验指导书1-屏蔽部件的屏蔽效能测试实验指导书
屏蔽部件的屏蔽效能测试实验指导书一、实验目的理解屏蔽的分类，加强对屏蔽效能概念理解，掌握屏蔽效能测试原理及方法。
二、实验原理屏蔽效能是同一地点无屏蔽存在时的电磁场强度与加屏蔽体后的电磁场强度之比。
（一）屏蔽效能计算方法后前P PSE lg 10=()12SE A A dB =－其中：SE 为屏蔽效能，P 前和A 1为自由空间校准接收功率值，P 后和A 2为屏蔽后接收到的接收功率值。
测量原理图如图1所示。
图1屏蔽效能测试原理图 （二）屏效测试使用天线测试频段 频率范围 标准测试天线 低频段100Hz~30MHz环形天线三、实验仪器1.电磁屏蔽室（含屏效测试窗口）2信号源SP1642B，信号源MG3694A；3.测试天线组：KSTM-1013环形天线，KSTM-2213对称振子天线，KSTH-0508微波喇叭天线（各一对）；4. 安捷伦N9020A微波频谱分析仪；5.测试电缆1#、2#、3#及附件；6.被试屏蔽材料样件。
四、实验内容及步骤实验内容：（一）磁场屏效测试（1）测试频点：250 kHz 、1MHz、30MHz（4）加屏蔽体后的测试。
（二）电场屏效测试（1）测试频点：300MHz、1GHz 。
（3）自由空间测试。
（4）加屏蔽体后的测试。
（三）平面波屏效测试（1）测试频点：4GHz、6GHz 。
（4）加屏蔽体后的测试。
测试具体步骤（以磁场频效测试为例）：1．按原理图连接测试系统，经检查系统连接正常后，将信号发生器的电源插头插入220V电源，按下“电源”开关，将信号源预热30分钟；2．自由空间测试，将信号源输出频率依次调为实验内容中的测试频点，输出功率为+20dBm；在每个频率点下，在频谱仪中读出接收到的相应频率点处的功率电平幅度dBm值记为A1；3．加屏蔽体后的测试，保持信号源输出功率不变，通过频谱仪读出有屏蔽时接收到的相应频率点处的功率电平dBm值记为A2；注：应保证受试屏蔽样件与屏蔽室测试窗口安装法兰的电连续，尤其注意安装螺栓的均匀紧固，减小安装孔缝对测试结果的影响。
材料屏蔽效能的测量方法
材料屏蔽效能的测量方法材料的屏蔽效能是指材料对外部电磁波或辐射的吸收和阻挡能力。
测量材料的屏蔽效能可以帮助人们了解和评估不同材料在防护电磁波和辐射方面的能力。
下面将介绍几种常用的材料屏蔽效能测量方法。
1.透射法测量透射法是一种常见的测量材料屏蔽效能的方法。
该方法通过分别测量原始电磁波或辐射源的电磁波强度和透过材料后的电磁波强度，计算出材料的透射系数，从而评估材料的屏蔽效能。
透射法的测量步骤一般包括：确定透射样品的尺寸和准备样品；将电磁波或辐射源放置在样品的一侧，测量源侧和接收侧的电磁波或辐射强度，计算透射系数。
2.散射法测量散射法是一种基于材料散射电磁波的测量方法。
该方法通过测量散射波的方向、强度和能谱，来评估材料的屏蔽效能。
散射法的测量步骤一般包括：将电磁波或辐射源照射到待测材料上，测量材料表面和散射波方向上的电磁波或辐射强度，计算材料的散射系数和散射横截面。
3.反射法测量反射法是一种通过测量待测材料对电磁波或辐射的反射来评估材料屏蔽效能的方法。
该方法一般包括：将电磁波或辐射源照射到材料上，测量材料的反射波方向、强度和能谱，并计算材料的反射系数和反射横截面。
4.射频测试方法射频测试方法主要用于测量材料对射频电磁波的屏蔽效能。
该方法通过将待测材料置于封闭的射频测试室内，测量材料表面和室内的电磁场强度和频谱，进而计算材料的屏蔽效能。
在射频测试中，常用的测量设备包括功率计、频谱分析仪等。
5.辐射损耗测试方法辐射损耗测试方法主要用于测量材料对高能辐射的屏蔽效能。
该方法通过将待测材料置于辐射源附近，测量源侧和样品侧的辐射能量，计算材料的辐射损耗。
总的来说，材料屏蔽效能的测量方法多种多样，具体选择哪种方法要根据待测材料的特性和需要测量的参数来决定。
以上介绍的测量方法只是其中的一部分，随着科技的不断发展，可能还会出现更加先进和精确的测量方法。
屏蔽机房的屏蔽效能及其测试方法
屏蔽机房的屏蔽效能及其测试方法屏蔽机房的屏蔽效能通常定义为：对于给定外干扰源进行屏蔽时，在屏蔽室某一点上进行干扰前后的电场强度或磁场强度之比。
我国目前各类高性能屏蔽室的屏蔽效能测量方法均采用MIL-STD-285和LEEE-299-1969标准。
在屏蔽效能测量时应注意的问题：
☆接收场强仪要有足够高的灵敏度和频率响应，目前国内能提供的场强仪特别在超高频和微波段灵敏度较差，以致于不能正常接收微弱信号。
☆微波频段的信号源要有足够的发射功率，喇叭天线要有很高的发射效率。
☆低频段磁环天线应严格遵守制作标准。
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电磁屏蔽室屏蔽效能基本原理、数学公式、其他的有关信息、测量技术选择指南、初测和改进
附录A(资料性附录)基本原理A.1概述本标准规定的测量方法保证了技术的有效性，简化了测量过程，可以避免财力和物力的浪费。
这些明确规定的测量方法构成了本标准的基础。
A.2一些考虑A.2.1标准测量在标准频率范围内(表1)的测量结果可用来比较不同屏蔽室的屏蔽效能特性。
标准测量位置如下：1）屏蔽室入口屏蔽壁上预选的门缝和结合部位；2）所有屏蔽面上穿墙装置可接近的部位。
A.2.2初测在正式测量开始之前可以先进行初测，以便找到屏蔽效能比较差的部位。
如果屏蔽效能达不到要求，可以对其进行改进。
经验表明：在低频段，磁场屏蔽效能已经体现了最严格的要求，本标准没有给出电场屏蔽效能的测量方法，因此，低频段电场屏蔽效能可不测量。
A.2.3非线性特性在强发射情况下，可能出现显著的非线性特性,这将导致屏蔽效能的变化。
附录C提供了在规定照射范围内界定明显非线性特性的可选方法。
A.2.4扩展的频率范围按照本标准正文推荐的方法，并使用下面三个频率范围内的任何非典型频率，可得到附加的测量结果：——低频频段：50Hz～20MHz；——谐振频段：20MHz～300MHz；——高频频段：300MHz～100GHz。
A.3腔体谐振A.3.1腔体谐振的考虑在屏蔽室谐振频率范围内进行测量时，应考虑结果是否正确。
该频率范围大概从0.8r f到3r f, f是指屏蔽室的最低固有谐振频率。
在该频段测量时，应考虑采取专门的预防措施。
对尺寸比较r大的屏蔽室，其最低固有谐振频率可能在20MHz以下。
由于屏蔽室壁面呈电连续性，因此其是一个谐振腔体。
在一定条件下，当电磁波注入到屏蔽室内时，在高于其最低固有谐振频率r f的频段内将产生驻波。
由于驻波的影响，屏蔽室内部的电磁场不再均匀，出现了与该激励频率相关的极大值和极小值。
谐振频率和模式取决于屏蔽室的几何尺寸和形状。
几乎任何形状的屏蔽室都可以产生谐振，但通常只对相对简单的长方体、圆柱体和球体屏蔽室的谐振频率进行数学分析。
建筑材料电磁屏蔽效能测试方法
建筑材料电磁屏蔽效能测试方法摘要：随着电子设备的广泛应用，电磁辐射对人体健康的影响日益受到关注。
为了保护人体免受电磁辐射的侵害，建筑材料的电磁屏蔽效能成为了一个重要的研究方向。
本文介绍了建筑材料电磁屏蔽效能测试的方法及其原理，以期为建筑材料的选择和设计提供参考。
1. 引言电磁辐射是指电磁波在空间中传播的过程中向周围环境传递能量的现象。
随着电子设备的普及和无线通信技术的发展，人们对电磁辐射的健康影响越来越关注。
电磁辐射不仅可能对人体造成生理和心理上的影响，还可能干扰电子设备的正常工作。
因此，对建筑材料的电磁屏蔽效能进行测试和评估显得尤为重要。
2. 测试方法2.1 电磁辐射源电磁辐射源是进行电磁屏蔽效能测试的关键设备。
常见的电磁辐射源包括电磁辐射发生器和天线。
电磁辐射发生器可以产生不同频率和功率的电磁波，而天线用于辐射电磁波。
2.2 试样准备试样准备是电磁屏蔽效能测试的第一步。
试样可以是建筑材料的样品，也可以是已经安装在建筑结构中的材料。
试样的准备应尽量保持与实际使用情况一致，以获得真实可靠的测试结果。
2.3 测试装置测试装置用于模拟真实的电磁辐射环境，并测量试样对电磁波的屏蔽效能。
测试装置包括电磁屏蔽箱、功率计、频谱分析仪等设备。
电磁屏蔽箱可以屏蔽外界电磁干扰，保证测试结果的准确性。
2.4 测试步骤（1）将试样放置在测试装置中，并确保其与电磁辐射源之间的距离符合测试要求。
（2）启动电磁辐射源，产生一定频率和功率的电磁波。
（3）使用功率计测量电磁波的功率，以评估试样的屏蔽效能。
（4）使用频谱分析仪分析电磁波的频谱特性，进一步评估试样的屏蔽效能。
3. 测试原理建筑材料的电磁屏蔽效能取决于其导电性、磁导率和厚度等因素。
导电性越好的材料具有更好的电磁屏蔽效能，而磁导率越高的材料对低频电磁波的屏蔽效能更好。
此外，材料的厚度也会影响其屏蔽效能，一般来说，厚度越大的材料屏蔽效能越好。
4. 结果分析通过测试，我们可以得到试样在不同频率和功率下的电磁屏蔽效能数据。