实用电容测量仪设计

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电容电阻电感测量仪设计报告

电容电阻电感测量仪设计报告

简易数字式电阻、电感和电容测量仪摘要本系统主控制部分采用TI公司的16位超低功耗单片机MSP430F149。

以自制电源作为LRC测量模块和各个主要控制芯片的输入电源,测量原理是通过测量电阻、电容或者电感和标准电阻各自的引起的频率变化,利用频率与电阻、电容、电感的函数关系推算出电阻值、电容值或者电感值。

测量的原理是LM311组成的LC震荡器的震荡回路的频率由单片机采样,然后再依据震荡频率计算出对应的电容或电感值,以及由NE555多谐振荡电路实现对电阻的测量。

软件设计部分使用C语言编程编写了包括控制测量程、按键处理、电阻电感电容计算、液晶显示程序。

利用MSP430F149单片机控制测量和计算结果,测量结果采用12864液晶模块实时显示。

关键词: MSP430F149、NE555芯片、LRC测量、12864液晶目录1 系统总体方案设计 (1)1.1系统方案选择 (1)1.2系统软硬件总体设计 (1)1.2.1硬件部分 (1)1.2.2软件部分 (2)2系统模块设计 (3)2.1硬件模块设计 (3)2.1.1电感电容测量模块 (3)2.1.2电阻测量模块 (4)2.1.3主控制模块 (5)2.1.4 AD采样模块 (5)2.1.5 液晶显示模块 (5)2.2软件模块设计 (5)2.2.1 控制测量程序模块 (5)2.2.2按键处理程序模块 (6)2.2.3电阻电感电容计算程序 (7)2.2.4液晶显示程序模块 (7)3系统测试 (8)3.1测试原理 (8)3.2测试方法 (8)3.3测试结果 (8)3.4测试分析 (9)4系统总结 (9)参考文献: (10)1 系统总体方案设计1.1系统方案选择方案一.基于模拟电路的测量仪利用模拟电路,电阻可用比例运算器法和积分运算器法,电容可用恒流法和比较法,电感可用时间常数法和同步分离法等,虽然避免了编程的麻烦,但电路复杂,所用器件较多,灵活性差,测量精度低,现在已较少使用。

简单的电容测量仪设计

简单的电容测量仪设计

电子技术课程设计评分标准电子技术课程设计任务书设计题目:电容测量仪学生姓名:学号:专业班级: 09自动化一、设计条件1.可选元件(1)双运放芯片(),二极晶体管;(2)电阻、电容、电位器等;(3)引脚插座,排针。

2.可用仪器万用表,示波器,直流稳压电源。

二、设计任务及要求1.设计任务根据电路技术要求的指标,制作一个简易电容测量装置,完成选题电路的设计、装配、焊接与调试。

2.设计要求(1)电容测量的范围:1uf~1000uf,100nf~1uf;(2)选择电路方案,完成对确定方案电路的设计。

包括:计算电路元件参数、选择元件、画出总体电路原理图;(3)用软件仿真整体或部分核心实验电路,得出适当结果;(4)装配、调试作品,按规定格式写出课程设计报告书。

三、时间安排1.第9周:布置设计任务,讲解设计要求、实施计划、设计报告等要求,完成选题。

2.第10~14周:完成资料查阅、作品设计、模拟仿真,领取元件、实际制作。

3.第15~16周:制作并调试设计作品。

4.第17周:作品检查、评价、验收,撰写设计报告。

5.第18周:抽选作品答辩,提交设计报告。

指导教师签名:年月日目录摘要 (1)关键词 (1)1 绪论 (1)2 需求分析 (1)2.1 设计任务及要求 (1)2.1.1 设计任务 (1)2.1.2 设计要求 (1)2.2 设计思想 (1)3 设计方案 (1)3.1 方案论证 (1)3.1.1 文氏桥振荡电路 (2)3.1.2 反向比例运算电路 (3)3.1.3 C/ACV转换电路 (3)3.1.4 有源滤波电路 (4)3.2 工作原理 (5)4 电路详细设计 (5)4.1 文氏桥振荡电路分析 (5)4.2 反向比例运算以及C/ACV转换电路分析 (6)4.3 有源滤波电路分析 (7)5 实验结果 (7)5.1 文氏桥振荡实验 (7)5.2 反向比例电路实验 (8)5.3 有源滤波实验 (8)5.4 结果分析 (9)5.4.1 文氏桥振荡以及反向比例运算电路分析 (9)5.4.2 有源滤波以及C/ACV电路分析 (9)6 结论 (10)6.1 设计成果 (10)6.2 设计特点 (10)6.3 存在问题及改进方法 (10)参考文献 (10)致谢 (10)附录A 电路全图 (11)附录B 元器件清单 (11)题目摘要本文主要通过用容抗法来完成一个电路对电容值的测量。

毕业设计 基于单片机的电容测量仪设计

毕业设计 基于单片机的电容测量仪设计

前言基于单片机的电容测试仪设计前言目前,随着电子工业的发展,电子元器件急剧增加,电子元器件的适用范围也逐渐广泛起来,在应用中我们常常要测定电容的大小。

在电子产品的生产和维修中,电容测量这一环节至关重要,一个好的电子产品应具备一定规格年限的使用寿命。

因此在生产这一环节中,对其产品的检测至关重要,而检测电子产品是否符合出产要求的关键在于检测其内部核心的电路,电路的好坏决定了电子产品的好与坏,而电容在基本的电子产品的集成电路部分有着其不可替代的作用。

同样,在维修人员在对电子产品的维修中,电路的检测是最基本的,有时需要检测电路中各个部件是否工作正常,电容器是否工作正常。

因此,设计可靠,安全,便捷的电容测试仪具有极大的现实必要性。

基于单片机的电容测试仪设计1选题背景1.1电容测试仪的发展历史及研究现状当今电子测试领域,电容的测量已经在测量技术和产品研发中应用的十分广泛。

电容通常以传感器形式出现,因此,电容测量技术的发展归根结底就是电容传感器的发展。

由最初的用交流不平衡电桥就能测量基本的电容传感器。

最初的电容传感器有变面积型,变介质介电常数型和变极板间型。

现在的电容式传感器越做越先进,现在用的比较多的有容栅式电容传感器,陶瓷电容压力传感器等。

电容测量技术发展也很快现在的电容测量技术也由单一化发展为多元化。

现在国内外做传感器的厂商也比较多,在世界范围内做电容传感器做的比较好的公司有:日本figaro、德国tecsis、美国alphasense。

中国本土测量仪器设备发展的主要瓶颈。

尽管本土测试测量产业得到了快速发展,但客观地说中国开发测试测量仪器还普遍比较落后。

每当提起中国测试仪器落后的原因,就会有许多不同的说法,诸如精度不高,外观不好,可靠性差等。

实际上,这些都还是表面现象,真正影响中国测量仪器发展的瓶颈为:1.测试在整个产品流程中的地位偏低。

由于人们的传统观念的影响,在产品的制造流程中,研发始终处于核心位置,而测试则处于从属和辅助位置。

毕业设计论文电容测试仪设计

毕业设计论文电容测试仪设计

编号毕业设计题目电容测试仪设计学生学号系部专业班级指导教师电容测试仪设计摘要随着电子工业的发展,电子元器件急剧增加,电子元器件的适用围也逐渐广泛起来,在应用中我们常常要测定电容的大小。

因此,设计可靠,安全,便捷的电容测试仪具有极大的现实必要性。

在系统硬件设计中,以STC89C52RC单片机为核心的电容测试仪,使用对应的振荡电路转化为频率实现参数的测量。

电容是采用555多谐振荡电路产生的,将振荡频率送入STC89C52RC的计数端端口,通过定时并且计数可以计算出被测频率,再通过该频率计算出被测参数。

在系统软件设计中,是以Keil4.0为仿真平台,使用C语言编程编写了运行程序;包括主程序模块、显示模块、电容测试模块。

最后,实际制作了一台样机,在实验室里进行了测试,结果表明该样机的功能和指标得到了设计要求。

关键词:单片机,555多谐振荡电路,1602液晶屏The design of Capacitance testerAbstractWith the development of electronic industry,electronic components rapidly increased the scopeof electronic components widely up gradually,in applications we often measured capacitors size.Therefore,the design of reliable,safe,convenient capacitance tester of great practical necessity.In the system hardware design,take the MCS-51 monolithic integrated circuit as the core resistance,the use correspondence's oscillating circuit transforms for the frequency realizes each parameter survey. And the electric capacity is use 555 multi resonant circuits to produce,the oscillation frequency will send STC89C52RC the counting to be neat,through and fixed time counts may calculate by the frequency measurement rate,figures out again through this frequency meter is measured the parameter.In system's software design is take Keil4.0 as the simulation platform,used the C language programming has compiled the system application software;including master routine module,display module,display module,electric capacity test module and inductance test module.Finally,the actual production of a prototype,tested in the laboratory results show that the prototype of the functions and indicators are the design requirements.Key Words:Single slice of machine;555 multi resonant circuit; 1602 dynamic display module目录摘要 (ⅰ)Abstractⅱ第一章引言 (1)1.1 设计背景及意义 (1)1.2 电容测试仪的发展历史和研究现状 (1)1.3 本设计所做的工作 (1)第二章电容测试仪的系统设计 (3)2.1 电容测试仪设计方案比较 (3)2.2 系统的原理框图 (4)第三章电容测试仪系统的硬件设计 (5)3.1 RC振荡电路的设计 (5)3.1.1 555定时器简介 (5)3.1.2 RC振荡电路的设计 (8)3.2 单片机电路的设计 (9)3.2.1 单片机的选择-STC89C52RC (9)3.2.2 单片机时钟电路设计 (11)3.2.3 单片机复位电路设计 (13)3.2.4 单片机定时器/计数器设置 (15)3.3 显示电路的设计 (16)3.3.1 液晶显示器的选择 (16)3.3.2 显示电路设计 (17)第四章电容测试仪系统的软件设计 (18)4.1 主程序流程图 (18)4.2 频率参数计算的原理 (18)第五章PCB板的设计及系统的调试 (20)5.1 Protel99SE介绍与PCB板的设计 (20)5.2 系统的调试 (22)5.3 系统的测试 (23)第六章总结与展望 (25)6.1 工作总结 (25)6.2 技术展望 (25)参考文献 (27)致 (28)附录 (29)附录系统原理图及PCB (29)第一章引言1.1 设计背景及意义目前,随着电子工业的发展,电子元器件急剧增加,电子元器件的适用围也逐渐广泛起来,在应用中我们常常要测定电容的大小。

课程设计-简易电容测量仪

课程设计-简易电容测量仪

简易电容测试仪一、系统简介本文设计了一套简易电容系统,能够在误差允许的范围内测量普通电容的容值,并在液晶界面上显示相关信息。

二、系统实现原理系统分模拟部分和数字部分。

模拟部分是由集成运放结电阻和所测电容构成的方波发生器,产生的方波频率与所测试的电容具有函数关系。

因此只要知道产生方波的频率,就能反推出电容的容值。

此外,在方波发生器后面我们添加稳压电路和半波整形电路,使得方波的输入幅度在5V 以下且为正值,而不改变方波的频率。

数字部分是FPGA 作为主控的,负责频率的测量以及液晶的显示。

下面介绍测量频率的原理。

FPGA 测量频率有两种算法,就是常说的测频和测周。

测频是在一段闸门时间内对输入信号周期进行计数,而测周则相反,是在输入信号的时段内,对标准信号周期进行计数。

一般的原则是,高频测频,低频测周。

本系统用的是测频的方法。

我们可以用低频时钟的两个上升沿之间的那段时间作为闸门,对上升沿时间内输入信号周期进行计数。

最后通过计算得到频率。

显示部分我们使用1602液晶屏,通过FPGA 状态机驱动显示。

三、系统结构框图四、硬件电路设计 方波发生器 整形电路 FPGA LCD 显示图示电路产生方波的频率符合f=12R1Cln(1+2R3R2)的关系式,其中C为待测电容。

而且经稳压电路和半波整流电路后的幅度为0~3.3V,能直接输入给FPGA,符合要求。

五、程序设计//顶层文件//top.v`include “cepin.v”`include ”1602.v”module top(clkin,datain,rst,clkout,cnt,fre,rem,clk_LCD, LCD_EN,RS,RW,DB8);fre m1(.clkin(clkin),.datain(datain),.clkout(clkout),.cnt(cnt),.fre(fre),.rem(rem)); LCD_Driver m2(.clkin(clkin), .rst(rst),.fre( fre), .clk_LCD(clk_LCD),.LCD_EN (LCD_EN),.RS(RS),.RW(RW),.DB8(DB8));endmodule//测频模块://cepin.vmodule fre(clkin,datain,clkout,cnt,fre,rem);input clkin; //100Minput datain;output reg clkout = 1'b1;output reg [7:0] cnt = 8'b0;output wire [7:0] fre;output wire [7:0] rem;parameter N=100000; //1khzreg [1:0] datatmp = 0; //不初始化计数会仿真错误reg [15:0] clktmp = 0;reg [7:0] cnttmp = 0;//分频always @(posedge clkin)beginif(clktmp == N/2-1)beginclkout <= ~clkout;clktmp <= 16'b0;endelseclktmp <= clktmp+1'b1;end//拼接符号检测上升沿always @(posedge datain)datatmp = {clkout,datatmp[1]}; //捕获沿的方法//对慢时钟上升沿间的输入信号计数,为高频测频always @(posedge datain)beginif(datatmp == 2'b10) //上升沿begincnt <= cnttmp+1'b1; //加1补偿cnttmp <= 8'b0;endelsecnttmp <= cnttmp +1'b1;end//调用除法核计算电容,参数确定,公式确定LPM_DIVIDa m(.denom(…),.numer(…),.quotient(…),.remain(…)); //……endmodule//显示模块//1602.vmodule LCD_Driver(clkin, rst, fre, clk_LCD,LCD_EN,RS,RW,DB8);input clkin,rst,fre; //rst为全局复位信号(高电平有效)output clk_LCD;output LCD_EN,RS,RW;//LCD_EN为LCD模块的使能信号(下降沿触发)//RS=0时为写指令;RS=1时为写数据//RW=0时对LCD模块执行写操作;RW=1时对LCD模块执行读操作output [7:0] DB8; //8位指令或数据总线reg [7:0] DB8;reg [111:0] Data_First_Buf,Data_Second_Buf; //液晶显示的数据缓存reg RS,LCD_EN_Sel;reg [3:0] disp_count; //用来判断是否已经写满一行reg [3:0] state; //状态机格式//状态机编码parameter Clear_Lcd = 4'b0000, //清屏并光标复位Set_Disp_Mode= 4'b0001, //设置显示模式:8位2行5x7点阵Disp_On =4'b0010, //显示器开、光标不显示、光标不允许闪烁Shift_Down =4'b0011, //文字不动,光标自动右移Write_Addr =4'b0100, //写入显示起始地址Write_Data_First= 4'b0101, //写入第一行显示的数据Write_Data_Second= 4'b0110, //写入第二行显示的数据Idel =4'b0111; //空闲状态parameter Data_First = "频率", //液晶显示的第一行的数据//Data_Second = “” ; //液晶显示的第二行的数据assign RW = 1'b0; //RW=0时对LCD模块执行写操作assign LCD_EN = LCD_EN_Sel ? clk_LCD : 1'b0; //通过LCD_EN_Sel信号来控制LCD_EN的开启与关闭//省去分频部分//……always @(posedge clk_LCD or negedge rst)beginif(!rst)beginstate <=Clear_Lcd; //复位:清屏并光标复位RS <=1'b0; //复位:RS=0时为写指令;DB8 <=8'b0; //复位:使DB8总线输出全0LCD_EN_Sel<= 1'b1; //复位:开启夜晶使能信号disp_count<= 4'b0;endelsecase(state) //初始化LCD模块Clear_Lcd:beginstate <=Set_Disp_Mode;DB8 <=8'b00000001; //清屏并光标复位endSet_Disp_Mode:beginstate <=Disp_On;DB8 <=8'b00111000; //设置显示模式:8位2行5x8点阵endDisp_On:beginstate <=Shift_Down;DB8 <=8'b00001100; //显示器开、光标不显示、光标不允许闪烁endShift_Down:beginstate <=Write_Addr;DB8 <=8'b00000110; //文字不动,光标自动右移endWrite_Addr:beginstate <=Write_Data_First;DB8 <=8'b10000001; //写入第一行显示起始地址:第一行第二个位置Data_First_Buf<= Data_First; //将第一行显示的数据赋给Data_First_Buf endWrite_Data_First: //写第一行数据beginif(disp_count== 14) //disp_count等于14时表示第一行数据已写完beginDB8 <=8'b11000001; //送入写第二行的指令RS <=1'b0;disp_count<= 4'b0;//Data_Second_Buf<= Data_Second;Data_Second_Buf<= fre;state <=Write_Data_Second; //写完第一行进入写第二行状态endelsebeginDB8 <=Data_First_Buf[111:104];Data_First_Buf<= (Data_First_Buf << 8);RS <=1'b1; //RS=1表示写数据disp_count<= disp_count + 1'b1;state <=Write_Data_First;endendWrite_Data_Second: //写第二行数据beginif(disp_count == 14)beginLCD_EN_Sel<= 1'b0;RS <=1'b0;disp_count<= 4'b0;state <=Idel; //写完进入空闲状态endelsebeginDB8 <=Data_Second_Buf[111:104];Data_Second_Buf<= (Data_Second_Buf << 8);RS <=1'b1;disp_count<= disp_count + 1'b1;state <=Write_Data_Second;endendIdel:beginstate <=Idel; //在Idel状态循环enddefault: state <= Clear_Lcd;//若state为其他值,则将state置为Clear_Lcd endcaseendendmodule六、测试验证方法在方波发生电路的电容处设计为插孔式,能插上不同容值的电容。

stm32电容测量仪实验报告

stm32电容测量仪实验报告

stm32电容测量仪实验报告
实验目的:
本实验旨在设计并实现一个基于STM32的电容测量仪,通过测量电容值来评估电容器的性能。

实验原理:
电容是一种存储电荷的元件,它由两个导体板之间的绝缘介质组成。

电容的大小与导体板之间的距离和绝缘介质的介电常数有关。

本实验采用了简单的充放电方法来测量电容值。

实验步骤:
1. 搭建电路:将待测电容器与STM32开发板相连,利用STM32的GPIO 口来控制充放电电路。

2. 设计程序:根据测量电容的原理,设计一个程序来控制充放电过程,并测量充电时间和放电时间。

3. 采集数据:通过程序获取充放电时间,并计算出电容值。

4. 显示结果:将测量得到的电容值通过串口或LCD显示出来,以便用户查看。

实验结果与分析:
经过多次实验,我们成功地测量了不同电容器的电容值。

实验结果表明,测量值与实际值之间存在一定的误差,这可能是由于电路中的电
阻和电感等元件的影响导致的。

因此,在实际应用中,我们需要对测量结果进行修正。

实验总结:
通过本实验,我们深入了解了电容测量的原理与方法,并成功地设计并实现了一个基于STM32的电容测量仪。

我们还发现了测量中可能存在的误差,并提出了对测量结果进行修正的建议。

这将有助于我们在实际应用中更准确地测量电容值,并评估电容器的性能。

展望:
在今后的研究中,我们可以进一步改进电容测量仪的设计,提高测量精度,并尝试应用更复杂的测量方法来提高测量效率。

另外,我们还可以将电容测量仪与其他传感器结合起来,构建一个多功能的电子测量系统,以满足不同应用领域的需求。

简易数字电容测量仪

简易数字电容测量仪

电子技术课程设计报告——简易数字电容测量仪得设计设计题目:简易数字电容测量仪班级学号:学生姓名:目录一、预备知识.................... 错误!未定义书签。

二、课程设计题目:简易数字电容测量仪得设计错误!未定义书签。

三、课程设计目得及基本要求...... 错误!未定义书签。

四、设计内容提要及说明.......... 错误!未定义书签。

4、1设计内容..................................... 错误!未定义书签。

4、2设计说明..................................... 错误!未定义书签。

五、原理图及原理说明 ........................ 错误!未定义书签。

5、1功能模块电路原理图.................. 错误!未定义书签。

5、2模块工作原理说明...................... 错误!未定义书签。

六、调试、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、、错误!未定义书签。

七、设计中涉及得实验仪器与工具.... 错误!未定义书签。

八、课程设计心得体会 ........................ 错误!未定义书签。

九、参考文献 ........................................ 错误!未定义书签。

一、预备知识关于数字式简易数字电容测试仪得设计,我们提出了三种设计方法与思路。

在具体操作中,经过对资料得收集、分析,研究与对比,最终选择了简单易懂,而且精度较高得方法,即门控法。

本方法得基本理论就是单稳态触发器电路得输出脉宽wt与电容C成正比,再通过一系列得控制,计数,锁存,显示电路实现了对电容得一般测试与数字显示。

在本次数电课程设计得同时,对于中大规模集成电路从认识到分析、再到整体框图设计、单元模块设计、最终到电路得模拟与实际电路得成形有了一定得认识,同时使我们在电子设计方面有了一定得实际动手能力,也为这次数电课程设计打下了坚实得基础。

stm32 电容测量仪 毕业设计

stm32 电容测量仪 毕业设计

【文章标题:深度探讨STM32电容测量仪的设计与应用】一、引言在现代电子技术领域,STM32单片机是一种非常常见且功能强大的微控制器,并且电容测量仪是电子工程领域中重要的测量仪器之一。

在毕业设计中选择使用STM32单片机设计电容测量仪是具有广泛实用价值和丰富技术含量的设计课题。

本文将深入探讨STM32电容测量仪的设计与应用。

二、STM32单片机的特点1. 引脚数量众多,丰富的外设资源STM32单片机具有丰富的引脚数量和多样的外设资源,且支持多种通信协议,适合用于设计电容测量仪。

2. 高性能的处理器和丰富的存储资源STM32单片机内置高性能处理器和丰富的存储资源,能够满足电容测量仪对数据处理和存储的需求。

3. 成熟的开发生态和丰富的资料支持STM32的开发生态非常成熟,配套有丰富的开发工具和资料支持,为设计电容测量仪提供了便利条件。

三、电容测量仪的原理与设计1. 电容测量原理电容测量仪是通过施加不同的电压或电流信号,来测量被测电容的大小。

利用STM32单片机的ADC模块,采集测量信号,并通过一定的算法计算出被测电容的数值。

2. 设计要点(1)选择合适的电压或电流信号源(2)设计合适的采样电路和ADC接口电路(3)编写数据处理算法和存储功能四、毕业设计中的应用与实现1. 电容测量仪的硬件设计(1)选择STM32单片机作为主控芯片,并搭建外围电路(2)设计精确的参考电压源和采样电路2. 电容测量仪的软件设计(1)编写ADC采样程序(2)编写数据处理算法和显示功能(3)实现对数据的存储和导出功能五、个人观点与总结STM32单片机作为主控芯片的电容测量仪,具有设计灵活、性能稳定、成本低廉等优点,适合在毕业设计中进行研究与实践。

设计与应用STM32电容测量仪,不仅可以提升学生对单片机和电子测量仪器的理解与掌握,同时也具有实际的工程应用意义。

六、结语通过本文的深入探讨,相信读者对STM32电容测量仪的设计与应用有了更深入的了解。

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图3.5 LCD1602引脚图
1602采用标准的16脚接口,其中:
第1脚:VSS为地电源
第2脚:VDD接5V正电源
第3脚:V0为液晶显示器对比度调整端,接正电源时对比度最弱,接地电源时对比度最高,对比度过高时会产生“鬼影”,使用时可以通过一个10K的电位器调整对比度
第4脚:RS为寄存器选择,高电平时选择数据寄存器、低电平时选择指令寄存器。
这次的设计采用MCS-51的内部时钟方式。因为外部时钟方式是用外部振荡脉冲信号,用于多片MCS-51单片机同时工作。在这次设计中只用一个MCS-51单片机,不需要振荡脉冲信号。
3.3 555芯片电路
555芯片电路的应用电路很多,如:多个单稳、多个双稳、单稳和无稳,双稳和无稳的组合等。在实际应用中,除了单一品种的电路外,还可组合出很多不同电路。本次设计中应用的电路是直接反馈型无稳类电路。电路如图3.4所示。
图3.2 内部时钟电路
MCS-51单片机内部有一个用与构成振荡器的高增益反相放大器,该高增益反相放大器的输入端为芯片引脚XTAL1,输出端为引脚XTAL2。这两个引脚接石英晶体振荡器和微调电容,就构成一个稳定的自激振荡器电路。
电路中的电容C1和C2典型值通常选择为30PF左右。对外接电容的值虽然没有严格的要求,但是电容的大小会影响振荡器频率的高低、振荡器的稳定性和起振的快速性。晶体的振荡频率的范围通常是在1.2MHz—12MHz之间。晶体的频率越高,则系统的时钟频率也就越高,单片机的运行速度也就越快。为了提高温度稳定性,应采用温度稳定性能好的NPO高频电容。MCS-51单片机常选择振荡频率6MHz或12MHz的石英晶体。
为了编写程序的方便,我们只计算 ,后面的单位可以根据使用的量程自行添加。测量范围的大小0.001uF~655.35uF。
4.2 软件设计流程图
图4.2为整个程序设计的流程。
图4.2 软件设计流程图
4.3 编写程序
根据上面的流程图,编写程序:
#include "reg51.h"
#include"intrins.h"//库函数
6 设计总结………………………………………………………………………22
7 参考文献
1功能说明:基于AT89C51单片机和555芯片的数显式电容测量。该方案主要是根据555芯片的应用特点,把电容的大小转变成555输出频率的大小,进而可以通过单片机对555输出的频率进行测量,再通过该频率计算出被测参数。在系统软件设计中,是以Proteus为仿真平台,使用C语言编程编写了运行程序。该测量仪具有结构简单,成本低廉,精度较高,方便实用等特点。
图3.4 555芯片电路
555芯片芯片输出的频率为 ,只要我们改变电阻R,就可以达到改变电阻量程的目的,图中提供了四组电阻,所以说有四组的电容测量量程,每个量程之间的跨度是10倍的关系。
在555芯片输出方波后,由于硬件的原因,输出的方波会有很多毛刺,为了去除这些毛刺本设计中使用了一个两输入与门(74HC08),让信号通过74HC08后会使输出的波形毛刺减少很多,使单片机的测量结果变得精确。
2 整体方案设计
本设计的整体思路是:基于AT89C51单片机和555芯片的数字式电容测量。该方案主要是根据555芯片的应用特点,把电容的大小转变为555输出频率的大小,进而可以通过单片机对555输出的频率进行测量。
2.1 方案论证
设计中采用了两个方案,具体的方案见方案一和方案二。
方案一:利用多谐振荡原理如图2.1所示。电容C电阻R和555芯片构成一个多谐振荡电路。在电源刚接通时,电容C上的电压为零,多谐振荡器输出V0为高电平V0通过R对电容C充电。当C上冲得的电压Vc=Vr时,施密特触发器翻转,V0变为低电平,C又通过R放电,Vc下降。当Vc=Vr时施密特触发器又翻转,输出Vc又变为高电平,如粗往复产生震荡波形。
图3.6 按键电路
3.6 系统总电路图
当各个部分的电路设计完成后,下面的工作就是组合成一个总的电路图。
图3.7 总电路图
4 软件设计
4.1 软件设计原理及所用工具
本次设计所选用Keil C51中的编译/连接器软件Keil uVision2作为编译器/连接工具。
整个程序设电容的大小。在前面的介绍中我们知道:555时基芯片的输出频率跟所使用的电阻R和电容C的关系是:
实用电容测量仪设计
姓名:刘立鹏
专业:电子信息工程
班级:电子10
学号:
时间:2013年4月8日
1功能说明………………………………………………………………………3
2 整体方案设计…………………………………………………………………4
2.1 方案论证……………………………………………………………………4
2.2 方案选择……………………………………………………………………6
3 单元模块设计
通过简单的系统框图,系统主要由四个主要部分组成:单片机,晶振电路设计,555芯片电路设计,显示电路设计,复位电路设计。
3.1
本设计的核心是单片机电路,考虑到需要一个中断输入,存储容量、外部接口对单片机端口的需要以及兼顾到节约成本的原则,选用了常用的AT89C51单片机。AT89C51是低功耗、高性能、经济的8位CMOS微处理器,工作频率为0—24MHz,内置4K字节可编程只读闪存,128x8位的内部RAM,16位可编程I/O总线。它采用Atmel公司的非易储器制造技术,与MCS51的指令设置和芯片引脚可兼容。AT89C51可以按照常规方法进行编程,也可以在线编程。其将通用的微处理器和Flash存储器结合在一起,特别是可反复擦写的Flash存储器可有效地降低开发成本。AT89C51工作的最简单的电路是其外围接一个晶振和一个复位电路,给单片机接上电源和地,单片机就可以工作了。其最简单的工作原理图如下图。
第15~16脚:空脚
3.5
按键是实现人机对话的比较直观的接口,可以通过按键实现人们想让单片机做的不同的工作。键盘是一组按键的集合,键是一种常开型开关,平时按键的两个触点处于断开状态,按下键是它们闭合。键盘分编码键盘和非编码键盘,案件的识别由专用的硬件译码实现,并能产生键编号或键值的称为编码键盘,而缺少这种键盘编码电路要靠自编软件识别的称为非编码键盘。在单片机组成的电路系统及智能化仪器中,用的更多的是非编码键盘。图3.6就是一种比较典型的按键电路,在按键没有按下的时候,输出的是高电平,当按键按下去的时候,输出的低电平。
3 单元模块设计
3.1 AT89C51单片机工作电路…………………………………………………6
3.2系统时钟电路………………………………………………………………7
3.2.1内部时钟电路……………………………………………………………7
3.2.2外部时钟电路……………………………………………………………8
图3.1单片机工作电路
3.2
时钟在单片机中非常重要,单片机各功能部件的运行都是以时钟频率为基准。时钟频率直接影响单片机的速度,时钟电路的质量也直接影响单片机系统的稳定性。常用的时钟电路有两种方式,一种是内部时钟方式,另一种为外部时钟方式。
3.2.1内部时钟电路
内部时钟方式:内部时钟方式电路图如下图3.2所示。
#define DATA P0
sbit RW=P2^1;//1602写数据
sbit RS=P2^0;//1602写地址
sbit EN=P2^2; //1602工作使能
sbit b_test=P3^7; //开始测量电容的按键输入
sbit _reset=P3^5; //555时基芯片工作控制信号
unsigned int T_flag,N,C,i,Dis1,Dis0;
又因为 ,所以
即:
如果单片机采用12M的晶振,计数器T0的值增加1,时间就增加1μS,我们采用中断的方式来启动和停止计数器T0,中断的触发方式为脉冲下降沿触发,第一次中断到来启动T0,计数器的值为 ,第二次中断到来停止T0,计数器器的值为 ,则测量方波的周期为 ,如何开始时刻计数器的值 ,则 。
简单时序图如下。
图2.3 基于AT89C51单片机和555芯片构成的多谐振荡电路电容测量
2.2 方案选择
通过对上述方案的比较,已知方案三不仅硬件结构简单,而且软件设计业简便。能够满足测量精度高、易于实现自动化测量等设计需要,而且单片机构成的应用系统有较大的可靠性、系统扩展、系统配置灵活,容易构成各种规模的系统。所以选择方案三。
for(i=100;i>0;i--);
}
/***************检查忙否*****************/
图2.1 多谐振荡原理图
这种方法是利用了一个参考的电容实现,虽然硬件结构简单,软件实现却相对比较复杂。
方案二:直接根据充电放电时间判断电容值
这种电容测量方法主要利用了电容的充放电特性Q=UC,放电常数r=RC,通过测量与被测电容相关电路的充放电时间来确定电容值。一般情况下,可设计电路使T=ARC(T为振荡周期或处罚时间;A为电路常数与电路参数有关)。这种方法中应用于555芯片组成的单稳态触发器,在秒脉冲的作用下产生触发脉冲,来控制门电路实现计数,从而确定脉冲时间,通过设计合理的电路参数,使计数值与被测电容相对应。其原理如图2.2所示.
图2.2 根据充电放电时间判断电容值原理
这种方法硬件结构相对复杂,实际上是通过牺牲硬件部分来减轻软件部分的负担,但在具体设计中会碰到很大的问题,而且硬件一旦设计好,可变性不大。
方案三:基于AT89C51单片机和555芯片构成的多谐振荡电路电容测量
这种电容测量方法主要是通过一块555芯片来测量电容,让555芯片工作在直接反馈无稳态的状态下,555芯片输出一定频率的大小跟被测量的电容之间的关系是:f=0.772/(R*Cx),我们固定R的大小,其公式就可以写为:f=k/C x,只要我们能测量出555芯片输出的频率,就可以计算出测量的电容。如图2.3所示。
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