材料结构与表征复习整理(周玉第三版)
第7章-哈工大-第三版-材料分析测试-周玉讲解
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图7-12 多晶铝的衍射图 a) 铝粉 b) 冷轧铝板
第二节 织构的种类和表示方法
一、极图 织构可用极图、反极图和取向分布函数3种方法表示，极 图常用于描述板织构 多晶体中某晶面001法向，在空间分布的极射赤面投影图称 001极图， 板织构取轧面为宏 观坐标面的投影面，而丝织构取 与丝轴平行或垂直的平面 图7-10是轧制纯铝板以轧面为投 影面的极图，用不同级别的等密 度线表示极点密度的分布
2 1 2 1 2 1 2 2 2 2 2 2
与点
阵常数无关，标准投影图对于不同点阵常数的立方晶体普 遍适用；因立方晶系同名的晶面和晶向垂直，其标准投影 图同时可用于晶面和晶向 非立方晶系的晶面间夹角与点阵常数有关，故无法制作普 遍适用的标准衍射图 12
第一节 极射赤面投影法
三、单晶体的标准投影图 图7-9为立方晶系标准投影图，落在同一大圆弧和直线上的极 点对应的晶面法线在同一平面上， 此平面的法线为这些晶面 的交线。相交于同一直线的晶面属于同一晶带， 其交线称为 晶带轴，用[uvw]表示，晶面指数(hkl)和[uvw]满足晶带定律
图7-7 极点绕倾斜轴转动
10
第一节 极射赤面投影法
二、乌氏网 5) 投影面的转换 在乌氏网上将极点绕确定轴转动到新位置
如图7-8， K、P、Q是以 O 为
投影面的极点， 将K转到投影 面基圆中心， P、Q 随之作相 同的转动，沿其各自的纬线到 达新位置 P1、Q1，这就是 P、
Q点以K为新投影面的位置
h : k : l a sin cos : b sin sin : c cos
冷压磷钢 板的ODF截面图
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第三节 丝织构指数的测定
高二化学选修3《物质结构与性质》模块复习材料
高中化学选修3《物质结构与性质》模块复习学案原子结构与性质一.认识原子核外电子运动状态，了解电子云、电子层（能层）、原子轨道(能级）的含义.1.电子云:用小黑点的疏密来描述电子在原子核外空间出现的机会大小所得的图形叫电子云图．离核越近,电子出现的机会大，电子云密度越大；离核越远，电子出现的机会小，电子云密度越小．电子层(能层)：根据电子的能量差异和主要运动区域的不同,核外电子分别处于不同的电子层.原子由里向外对应的电子层符号分别为Ｋ、L、M、N、Ｏ、P、Q．原子轨道(能级即亚层):处于同一电子层的原子核外电子,也可以在不同类型的原子轨道上运动,分别用s、p、d、f表示不同形状的轨道,s轨道呈球形、p轨道呈纺锤形,d轨道和ｆ轨道较复杂.各轨道的伸展方向个数依次为1、3、5、7.例1.下列关于氢原子电子云图的说法正确的是Ａ.通常用小黑点来表示电子的多少,黑点密度大，电子数目大B．黑点密度大,单位体积内电子出现的机会大C.通常用小黑点来表示电子绕核作高速圆周运动D．电子云图是对运动无规律性的描述例2．下列有关认识正确的是A．各能级的原子轨道数按s、p、ｄ、f的顺序分别为1、3、５、7B.各能层的能级都是从s能级开始至f能级结束C．各能层含有的能级数为n －1D.各能层含有的电子数为2n22.构造原理了解多电子原子中核外电子分层排布遵循的原理，能用电子排布式表示1~36号元素原子核外电子的排布．(1).原子核外电子的运动特征可以用电子层、原子轨道（亚层)和自旋方向来进行描述．在含有多个核外电子的原子中,不存在运动状态完全相同的两个电子.(2）.原子核外电子排布原理.①.能量最低原理:电子先占据能量低的轨道,再依次进入能量高的轨道.②.泡利不相容原理:每个轨道最多容纳两个自旋状态不同的电子.③.洪特规则:在能量相同的轨道上排布时,电子尽可能分占不同的轨道，且自旋状态相同. 洪特规则的特例:在等价轨道的全充满(p6、d10、ｆ14）、半充满(p3、d5、ｆ7)、全空时(p0、d0、ｆ0)的状态,具有较低的能量和较大的稳定性.如24Cr ［Aｒ]３d５４s１、29Cu［Ar］３ｄ104s1.(3)．掌握能级交错图和1-3６号元素的核外电子排布式.①根据构造原理，基态原子核外电子的排布遵循图⑴箭头所示的顺序。
材料表征-01
Materials Science and Technology, Characterization of Materials Part II, Vol. 2
Eric Lifshin (Editor)
John Wiley & Sons, Incorporated
材料现代表征方法－内容 和课程结构
第一部分 基础（ ）（6hrs） 基础（Basics）（ ）（ ）
Basics
材料（ 材料（Materials） ）
？
狭义地讲，用以制造有用物件的物质。广 狭义地讲，用以制造有用物件的物质。 义地讲，任何物质都可以称为材料。 义地讲，任何物质都可以称为材料。 从原始的石器时代到现代金属材料、 从原始的石器时代到现代金属材料、无机 非金属材料、高分子材料、复合材料、 非金属材料、高分子材料、复合材料、生 物材料、纳米材料等。 物材料、纳米材料等。
绪论 材料结构基础 电磁辐射、粒子（ 电磁辐射、粒子（束）与材料的相互作用 表征方法的共性基础与概述
材料现代表征方法－内容 和课程结构
进阶（ 第二部分 进阶（Progress）（39hrs） ） ）
衍射分析方法 显微分析方法 能谱分析方法 光谱分析方法 色谱分析方法 质谱分析方法 核磁共振分析方法 电化学分析 热分析
材料现代表征方法
关于我
66782215 lixg@主要参考书题名 作者 出版社 索取号 材料分析测试技术： 材料分析测试技术： 材料X射线衍射与 周玉， 材料 射线衍射与 周玉，武高辉编著 电子显微分析 哈尔滨： 哈尔滨：哈尔滨 TB302.1/8 工业大学出版社， 工业大学出版社， 13 1998 TB302/917 TB303/436
XRF、UV-Vis、MS、XPS、IR、XRD… 、 、 、 、 、
材料分析方法 第3版 教学课件 ppt 作者 周玉 部分课后习题答案 部分课后习题答案
第一章X射线物理学基础2、若X射线管的额定功率为1.5KW，在管电压为35KV时，容许的最大电流是多少？答：1.5KW/35KV=0.043A。
4、为使Cu靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6，求滤波片的厚度。
答：因X光管是Cu靶，故选择Ni为滤片材料。
查表得：μmα＝49.03cm2／g，μmβ＝290cm2／g，有公式，，，故：，解得:t=8.35um t6、欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？答：eVk=hc/λVk=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv)λ0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm)其中h为普郎克常数，其值等于6.626×10-34e为电子电荷，等于1.602×10-19c故需加的最低管电压应≥17.46(kv)，所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。
7、名词解释：相干散射、不相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应答：⑴当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫振动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。
⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射χ射线长的χ射线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。
⑶一个具有足够能量的χ射线光子从原子内部打出一个K电子，当外层电子来填充K空位时，将向外辐射K系χ射线，这种由χ射线光子激发原子所发生的辐射过程，称荧光辐射。
或二次荧光。
⑷指χ射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量，如入射光子的能量必须等于或大于将K电子从无穷远移至K层时所作的功W，称此时的光子波长λ称为K系的吸收限。
材料分析方法课后答案周玉
材料分析方法课后答案周玉【篇一：材料分析方法考试重点】纹衍射的图样，条纹间距随小孔尺寸的变大，衍射的图样的中心有最大的亮斑，称为埃利斑。
2、差热分析是在程序的控制条件下，测量在升温、降温或恒温过程中样品和参比物之间的温差。
3、差示扫描量热法（dsc）是在程序控制条件下，直接测量样品在升温、降温或恒温过程中所吸收的或放出的热量。
4、倒易点阵是由晶体点阵按照一定的对应关系建立的空间点阵，此对应关系可称为倒易变换。
5、干涉指数在（hkl）晶面组（其晶面间距记为dhkl）同一空间方位，设若有晶面间距为dhkl/n（n为任意整数）的晶面组（nh，nk，nl）即（h,k,l）记为干涉指数。
6、干涉面简化布拉格方程所引入的反射面（不需加工且要参与计算的面）。
7、景深当像平面固定时（像距不变）能在像清晰地范围内，允许物体平面沿透镜轴移动的最大距离。
8、焦长固定样品的条件下，像平面沿透镜主轴移动时能保持物象清晰的距离范围。
9、晶带晶体中，与某一晶向【uvw】平行的所有（hkl）晶面属于同一晶带，称为晶带11、数值孔径子午光线能进入或离开纤芯（光学系统或挂光学器件）的最大圆锥的半顶角之余弦，乘以圆锥顶所在介质的折射率。
12、透镜分辨率用物理学方法(如光学仪器)能分清两个密切相邻物体的程度 13 衍射衬度由样品各处衍射束强度的差异形成的衬度成为衍射衬度。
15质厚衬度由于样品不同区间存在原子序数或厚度的差异而形成的非晶体样品投射电子显微图像衬度，即质量衬度，简称质厚衬度。
制造水平。
（√）二、填空题6）按入射电子能量的大小，电子衍射可分为（高能电子衍射）、（低能电子衍射）及（反射式高能电子衍射）。
18）阿贝成像原理可以简单地描述为两次（干涉）：平行光束受到有周期性特征物体的衍射作用形成（衍射波），各级衍射波通过（物镜）重新在像平面上形成反映物的特征的像。
12）按照出射信号的不同，成分分析手段可以分为两类：x光谱和电子能谱），出射信号分别是（x射线，电子）。
赵品《材料科学基础教程》(第3版)笔记和课后习题(含考研真题)详解 第1章 材料的结构【圣才出品】
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这些点代表原子（分子或离子）的中心，也可是彼此等同的原子群或分子群的中心，各点的 周围环境相同。这种点的空间排列称为空间点阵，简称点阵，这些点称为阵点。
（1）晶胞 从点阵中取出一个仍能保持点阵特征的最基本单元称为晶胞。 （2）晶格 将阵点用一系列平行直线连接起来，构成一空间格架称为晶格。 （3）晶胞选取条件 ①晶胞几何形状充分反映点阵对称性。 ②平行六面体内相等的棱和角数目最多。 ③棱间呈直角时，直角数目应最多。 ④满足上述条件，晶胞体积应最小。
工程材料的结合键范围示意在四面体上，如图 1-1-1 所示。
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图 1-1-1 工程材料键性
二、晶体学基础 1．晶体与非晶体 （1）原子排列的三个等级（不考虑原子的结构缺陷） 无序排列，短程有序和长程有序。 （2）晶体 ①定义 物质的质点（分子、原子或离子）在三维空间作有规律的周期性重复排列所形成的物质 称为晶体。 ②特点 a．晶体具有一定的熔点。 b．晶体具有各向异性：晶体的某些物理性能和力学性能在不同方向上具有不同的数值。 （3）非晶体 ①定义 在整体上是无序的，但原子间也靠化学键结合在一起，故在有限的小范围内观察还有一 定规律，即近程有序，这样的物质称为非晶体。 ②特点 a．非晶体不具有一定的熔点，它实质上是一种过冷的液体结构，往往被称为玻璃体。 b．非晶体具有各向同性。 2．空间点阵 将晶体看成是无错排的理想晶体，忽略其物质性，抽象为规则排列于空间的无数几何点。
轴在底面上，其夹角为 120°，确定晶向指数的方法同前。 ③六方系按两种晶轴系所得的晶向指数的相互转换关系如下
（5）晶带 ①定义 所有相交于某一晶向直线或平行于此直线的晶面构成一个晶带，此直线称为晶带轴。 ②立方系某晶面（hkl）以[uvw]为晶带轴必有的关系式
选修3+物质结构与性质复习提纲最新
选修3 《物质结构与性质》复习提纲（最新）第一章原子结构与性质第一节原子结构一、按要求完成下表原子序数元素符号和名称元素的位置基态原子核外电子排布式简化形式价层电子排布式价层电子排布图（轨道表示式）原子结构示意图1 H（氢）一、IA1s11s1 23456789101112131415161718192021222324 [Ar]3d54s12526272829 [Ar]3d104s1303132333435 1s22s22p63s23p63d104s24p536常见考试题眼：见元素推断。
如：一种运动状态即一个电子。
第二节原子结构与元素的性质一、请前四周期元素补充完整，并画出金属与非金属的分界线。
二、元素周期律1、电离能：①概念：第一电离能I1；态电性基态原子失去个电子，转化为气态基态正离子所需要的叫做第一电离能。
从一价气态基态正离子中再失去一个电子所需消耗的能量叫做第二电离能(用I2表示)，依次类推，可得到I3、I4、I5……同一种元素的逐级电离能的大小关系：I1<I2<I3<I4<I5……即一个原子的逐级电离能是逐渐增大的。
这是因为随着电子的逐个失去，阳离子所带的正电荷数越来越大，再要失去一个电子需克服的电性引力也越来越大，消耗的能量也越来越多。
第一电离能越小，越易失电子，金属活动性越。
因此碱金属元素的第一电离能越小，金属的活泼性就越强。
②递变规律：周一周期同一族第一电离能从左往右，第一电离能呈增大的趋势从上到下，第一电离能呈增大趋势。
特例：Be有价电子排布为2s2，是全充满结构，比较稳定，而B的价电子排布为2s22p1，比Be不稳定，因此失去第一个电子B比Be容易，第一电离能小。
镁的第一电离能比铝的大，磷的第一电离能比硫的大，为什么呢？Mg：1s22s22p63s2P:1s22s22p63s23p3那是因为镁原子、磷原子最外层能级中，电子处于半满或全满状态，相对比较稳定，失电子较难。
第5章-哈工大-第三版-材料分析测试-周玉.
第一节 定性分析
二、粉末衍射卡片(PDF) 粉末衍射卡片是物相定性分析必不可少的资料，卡片出 版以经历了几个阶段，
1) 1941年起由美国材料试验协会ASTM出版
2) 1969年由起粉末衍射标准联合委员会JCPDF出版 3) 1978年起JCPDF与国际衍射资料中心联合出版，即 JCPDF/ICDD 4) 1992 年后的卡片统一由ICDD出版，至 1997年已有卡片47 组，包括有机、无机物相约67,000个 图5-1为1996年出版的第46组PDF(ICDD)卡片，卡片中各栏 的内容见图5-2的说明
9
第一节 定性分析
四、定性分析过程 (二) 可能遇到的问题 一般情况下，允许d 值偏离卡片数据，误差约0.2%， 不能超过1%，尽管如此，有些物相的鉴定仍会遇到很多 困难和问题 在混合样品中， 含量过少的物相不足以产生自身完整的 衍射图，甚至不出现衍射线 由于晶体的择优取向，其衍射花样可能只出现一两条极 强的衍射线，确定物相也相当困难 多相混合物的衍射线可能相互重叠 点阵相同且点阵参数相近的物相，衍射花样极其相似， 若要区分也有一定困难 10
Ij = Cj fj /l
(5-2)
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第二节 定量分析
一、单线条法 通过测定样品中j 相某条衍射线强度并与纯 j 相同一衍射 线强度对比，即可定出 j 相在样品中的相对含量。此为单线 条法，也称外标法或直接对比法 若样品中所含n相的线吸收系数及密度均相等，则由式(5-2)可 得 j 相的衍射线强度正比于其质量分数wj，即 Ij = C wj (5-3)
11
第二节 定量分析
物相定量分析的依据是各相衍射线的相对强度 用X射线衍射仪测量时，只需将式(4-6)稍加修改则可用 于多相物质。设样品有n 相组成，其总的线吸收系数为 l， 则 j 相的HKL衍射线强度公式为
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材料结构与表征2017-2018复习整理2018-1-4暨南大学——D.S2017-2018材料结构与表征重点整理目录绪论 (1)第一章 X射线物理学基础 (2)第二章 X射线衍射方向 (3)第三章 X射线衍射强度 (3)第四章多晶体分析方法 (4)第五章物相分析及点阵参数精确测定 (5)第六章（不考） (5)第七章（不考） (5)第八章电子光学基础 (5)第九章透射电子显微镜 (6)第十章电子衍射 (7)第十一章晶体薄膜衍衬成像分析 (7)第十二章（不考） (8)第十三章扫描电子显微镜 (8)第十四章（不考） (8)第十五章电子探针显微镜分析 (8)第十六章 (9)参考文献 (10)2017-2018材料结构与表征重点整理绪论1.组织结构与性能本书主要介绍X射线衍射和电子显微镜分析材料的微观结构。
材料的组织结构与性能：a.结构决定性能；b.通过一定方法控制其显微组织形成条件。
加工齿轮实例：a.预先将钢材进行退火处理，使其硬度降低，以满足容易铣等加工工艺性能要求；b.加工好后再进行渗碳处理，使其强度、硬度提高，以满足耐磨损等使用性能的要求。
2. 显微组织结构分析表征：a.表面形貌观察（形态、大小、分布和界面状态等——光学显微镜、电子显微镜、原子力显微镜等；b.晶体结构分析（物相，晶体缺陷，组织结构等）——X射线衍射、电子衍射、热谱分析；c.化学成分分析（元素与含量、化学价态、分子量、分子式等）——光谱分析，能谱分析等。
3.传统测试方式a.光学显微镜——分辨率200nm——只能观察表面形态而不能观察材料内部的组织结构，更不能进行对所观察的显微组织进行同位微区分析；b.化学分析——能给出试样的平均成分，不能给出元素分布，和光谱分析相同。
4.X射线衍射与电子显微镜1.XRD——分辨率mm级——是利用X射线在晶体中的衍射现象来分析材料的晶体结构、晶格参数、晶体缺陷（位错等）、不同结构相的含量及内应力的方法，可以计算样品晶体晶体结构与晶格参数。
2.电子显微镜透射电子显微镜——分辨率0.1nm——通过透过样品的电子束成像，可以观察微观组织形态并对观察区域进行晶体结构鉴定；扫描电子显微镜——分辨率1nm——利用电子束在样品表面扫描激发出的代表样品表面特征的信号成像，观察表面形貌（断口）和成分分布；电子探针显微分析——利用聚焦很细的电子束打在样品微观区域，激发出特征X射线，可以确定样品微观区域的化学成分，可与扫描电镜同时使用进行化学成分同位分析。
第一章 X射线物理学基础X射线是一种波长很短的电磁波。
X射线产生条件：a.产生自由电子；b.使电子定向高速运动；c.在电子运动的路径上安置使其突然减速的障碍物。
当X射线管仅产生连续谱时，管电压越高，阳极靶材的原子序数越大，X射线管效率越高特征X射线产生前提：原子内层电子被击出场造成空位。
莫塞莱定律表明：阳极靶材的原子序数越大，相应于同一系的特征谱波长越短。
特征谱强度随管电压（U）和管电流（i）的提高而增大。
X射线与物质的相互作用物质原子序数越大，对X射线的吸收能力越强；对于一定的吸收体，X射线的波长越短，穿透能力越强，表现为吸收系数的下降；每种物质都有其特定的吸收限，这种带有特征吸收限的吸收系数曲线称为该物质的吸收限，吸收限的存在暴露了吸收的本质。
吸收限：指χ射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量，如入射光子的能量必须等于或大于将 K 电子从无穷远移至 K 层时所作的功 W，称此时的光子波长λ 称为 K 系的吸收限光电效应：当入射光量子的能量等于或略大于吸收原子某壳层电子的结合能，此光电子就很容易被电子吸收，获得能量的电子从内层溢出，成为自由电子，称为光电子，原子则处于相应的激发态，这种原子被入射辐射电离的现象即为光电效应。
（解释吸收系数突变）荧光辐射：由入射X射线所激发出来的特征X射线称为荧光辐射（荧光X射线，二次X射线）俄歇效应：原子中一个K层电被入射光电子击出后，L层的一个电子跃入K层填补空位，此时多余的能量不足以辐射X光电子的方式放出，而是另一个L层电子获得能量跃出吸收体，这样的一个K层空位代替的过程称为俄歇效应，跃出的L层电子称为俄歇电子。
滤波片：利用吸收限两侧吸收系数差很大的现象制成，用以吸收不需要的辐射而得到基本单色的光源。
相干散射（经典散射）：当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫振动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。
原子散射因素取决于原子中电子分布密度以及散射波的波长和方向。
不相干散射：当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射χ射线长的χ射线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。
第二章 X射线衍射方向单位晶胞选取原则：a.晶胞应最能反应点阵的对称性；b.基本矢量长度a、b、c相等的数目最多，三个方向的夹角尽可能为直角；c.单位体积最小注意p22页的晶面间距公式前提条件。
布拉格方程：2dsinθ=nλ电子散射线干涉的总结果被称为衍射波的干涉：振动方向相同，波长相同，相位差恒定反射级数n，干涉面指数（HKL），掠射角θ（0-90°），衍射角2θ应用：电子探针晶体衍射花样：单晶：规则排列的衍射斑点多晶：一个个对应不同面族的同心圆、同心圆形的衍射环、一系列衍射弧段、一系列衍射谱线非晶：只含有一个或两个非常弥散的衍射环X射线衍射方法：劳埃法、周转晶体法、粉末法、聚焦照相法，可用电离计数器测定X射线衍射第三章 X射线衍射强度晶体是原子三维的周期性堆砌，而X射线衍射则是以电子对波的散射和干涉作为基础消光问题（必考）：由于衍射线的相互干涉，某些方向的强度将会加强，而某些方向的强度将会减弱至消失，这种规律习惯称为消光。
简单点阵、体心点阵和面心点阵衍射线的系统消光规律：a.简单点阵不存在系统消光；b.体心点阵衍射线的系统消光规律是 (h+k+l)偶数时出现反射， (h+k+l)奇数时消光；c.面心点阵衍射线的系统消光规律是h,k,l 全奇或全偶出现反射，h,k,l 有奇有偶时消光。
结构因数：表征了单胞的衍射强度，反应了单胞中原子种类、原子数目及原子位置对（HKL）晶面衍射方向上衍射强度的影响。
结构因数只与原子种类及单胞中的位置有关，而不受单胞的形状和大小的影响。
面心点阵只有指数为全奇或全偶的晶面才能产生衍射对于衍射线的积分强度曲线累积强度：每个衍射圆锥是数目巨大的微晶体反射X射线形成，底片上的衍射线是相当长的时间曝光后得到的，所得的衍射强度为累积强度。
衍射积分强度：分布曲线所围成的面积称为衍射积分强度多重性因数：我们称某种晶面的等同晶面数为影响衍射强度的多重性因数P，与晶面对称性和晶面指数有关吸收因数：为修正试样本身对X射线的吸收导致衍射强度的实测值与计算值不符这一影响，引入吸收因数，吸收因数与试样的形状、大小、形成以及衍射角有关。
温度因数：原子热振动使晶体点阵原子排列的周期性受到破坏，使得原来严格满足布拉格条件的相干散射产生附加的相差，从而使衍射强度减弱，为修正温度带来的影响，引入温度因数。
晶体原子的热运动减弱了布拉格方向上的衍射强度，却增加了非布拉格方向上的散射强度，其结果造成衍射花样背底加重，随θ角增大趋向严重。
第四章多晶体分析方法德拜-谢乐法：粉末样品，需用玛瑙研钵研细，粒度在微米数量级，做好的粉末样其直径为0.2-1mm，长10-15mm。
立方系物质德拜相的计算;a.对各弧对标号 b.测量有效周长G0 c.测量并计算弧对的间距 d.计算θ e.计算d f.估计各线条的相对强度值I/I1g.查卡片 h.标注衍射线指数（标化） i.计算点阵参数。
其他照相法对称聚焦照相法、背射平板照相法、晶体单色器X射线衍射仪组成;X射线发生器、测角仪（仪器的中心）、辐射探测器、测角仪、辐射探测器、记录单元或自动控制单元等试样：粒度为几微米-几十微米。
粒度不能太大也不能太小，因为太大时没有统计性，部分不出峰，太小时衍射峰宽化计数器：计数管有玻璃外壳，内充惰性气体；计数器的主要功能是将X射线的能量转换成电脉冲信号；计数率计的功能是把脉冲高度分析器传来的脉冲信号转换为与单位时间脉冲数成正比的直流电压值输出衍射强度的测量：连续扫描（用于物相定性分析）、步近扫描（用于精确测量衍射峰的积分强度、位置或提供线形分析所需要的数据）、衍射强度公式（衍射仪采用平板试样，在任何位置时，入射角与反射角均相等）实验参数的选择：狭缝宽度（增加狭缝宽度可使衍射线强度增高，但却导致分辨率下降）、扫描速度（提高扫描速度，可节约时间，但导致强度和分辨率下降，使衍射峰的位置向扫描方向偏移并使衍射峰不对称宽化）、时间常数（增大时间常数可使衍射峰轮廓及背底变得不平滑，但同时将降低强度和分辨率，并使衍射峰向扫描方向偏移，造成峰的不对称宽化）过低的扫描速度导致测试时间延长，过小的时间常数使背底波动加剧，从而使弱线难以识别。
第五章物相分析及点阵参数精确测定X射线衍射定性物相分析原理：衍射方向和强度由布拉格方程和晶体结构决定。
每一个物相对应唯一的X射线衍射谱。
通过测量材料的X射线衍射谱，可以唯一的确定材料的物相。
鉴定物相的标志：某种物质的多晶体衍射线条的数目、位置以及强度，是该种物质的特征。
单相材料的鉴定实验步骤如下：1. 样品的制备，2. X射线衍射谱的采集，3. 数据处理（解谱），4. PDF标准卡片的对照。
物相定性分析的依据：各相的衍射线的强度随该相含量的增加而提高。
内标法（用于粉末物）缺点：首先是绘制定标曲线时需配置多个复合样品，工作量大，且有时纯样品很难提取；其次是要求加入样品中的标准物数量恒定，所绘制的定标曲线又随实验条件而变化。
直接对比法：钢中残余奥氏体含量测定，既适用于粉末，又适用于块状多晶试样点阵参数测定误差：相机的半径误差，底片的伸缩误差，试样的偏心误差以及试样的吸收误差（衍射仪测量时还有仪器调整误差）非晶态物质（短程有序、长程无序）：主要包含氧化玻璃、金属玻璃、非晶半导体、非晶催化剂、非晶超导体、非晶聚合物和非晶陶瓷。
它们具有优异的力学、电学、磁学、声学、光学及化学性质。
非晶态在热力学上属于一种亚稳态，其自由能比相应的结晶态要高，发生晶化之前的细微结构变化称为结构弛豫。
第六章（不考）第七章（不考）第八章电子光学基础分辨率：指成像物体（试样）上能分辨出来的两个物点间的最小距离（λ为照明光源波长），光学显微镜极限分辨率为200nm。
透射电子显微镜中用磁场来使电子聚焦成像的装置是电磁透镜。
电磁透镜的像差和分辨率分辨率由衍射效应和球面像差来决定，目前分分辨率达0.1nm，如日本的0.18nm几何像差（球差和像散）：透镜磁场几何形状上的缺陷而造成的色差：电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的球差（球面像差）：由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的。