第3章 异质结构

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异质结结构基本概念

异质结结构基本概念

异质结结构基本概念
异质结是一种半导体器件结构,由两种或多种材料的不同能带类型组成。

在异质结结构中,通常有一个n型区和一个p型区,两个区之间有一个结界。

n型区富集了电子,p型区富集了空穴。

在结界处,电子从n型区向p型区扩散,而空穴从p型区向n型区扩散。

这样就形成了电子向空穴扩散的电流,称为结流。

异质结结构具有以下几个基本概念:
1. 正向偏置:当p型区的电压高于n型区时,就会在异质结上施加一个正向偏置电压。

在正向偏置下,电子和空穴更容易通过结界扩散,电流增加。

2. 反向偏置:当p型区的电压低于n型区时,就会在异质结上施加一个反向偏置电压。

在反向偏置下,结界处会形成一个电势垒,阻碍电子和空穴的扩散,电流减小。

3. 整流作用:由于结界的电势垒,异质结在正向偏置下可以允许电流通过,而在反向偏置下会阻止电流通过,这种性质被称为整流作用。

这使得异质结可以用作整流器件,如二极管。

4. 光电效应:异质结结构中,当光照射到结界处时,光子能量可以激发电子和空穴,从而形成电流。

这种现象被称为光电效应,使得异质结可以用作光电器件,如光电二极管。

异质结结构的具体性质和应用取决于所使用的材料和设计参数。

异质结在电子学和光电子学领域有广泛的应用,如二极管、太阳能电池、激光二极管等。

异质结构态密度计算

异质结构态密度计算

异质结构态密度计算引言:异质结构是指由不同材料组成的复合材料,其性能和结构特点与单一材料的性能和结构特点截然不同。

在材料科学和工程中,了解异质结构的性质和特点对于设计和制造高性能材料至关重要。

而计算异质结构的态密度是一种重要的方法,可以帮助我们了解材料的电子结构和力学性质。

本文将介绍异质结构态密度计算的原理和方法。

一、异质结构态密度的概念异质结构态密度是指在给定能级范围内,单位能量和单位体积内的态数。

在材料科学中,态密度是描述材料的电子结构特性的重要参数。

对于异质结构而言,由于不同材料之间的界面效应和相互作用,其电子结构和态密度往往会发生变化。

因此,计算异质结构的态密度可以帮助我们理解材料的电子行为和性能。

二、计算方法计算异质结构的态密度需要进行复杂的计算,下面将介绍常用的两种计算方法。

1. 第一性原理计算方法第一性原理计算方法是一种基于量子力学原理的计算方法,可以准确地计算材料的电子结构和态密度。

该方法利用密度泛函理论和平面波基组,通过求解薛定谔方程来计算材料的电子结构。

对于异质结构而言,需要将不同材料的晶胞进行合理的构建,并考虑界面效应和相互作用。

通过第一性原理计算,可以得到异质结构的电子能带结构和态密度分布。

2. 原子尺度模拟方法原子尺度模拟方法是一种基于经典力学原理的计算方法,可以模拟材料的原子结构和力学性质。

对于异质结构而言,可以通过分子动力学模拟或蒙特卡洛模拟来模拟材料的结构和性能。

在模拟过程中,需要考虑不同材料的原子相互作用和界面效应。

通过原子尺度模拟,可以得到异质结构的原子结构和力学性质,并进一步计算其态密度。

三、应用和意义异质结构态密度的计算对于材料科学和工程具有重要的应用价值和意义。

1. 材料设计与优化通过计算异质结构的态密度,可以帮助科学家们了解材料的电子行为和性能。

对于新材料的设计与优化而言,了解其电子结构和态密度分布是十分重要的。

通过计算,可以预测和优化材料的能带结构和能级分布,进而调控其电子性质和物理性能。

异质结

异质结

异质结百科名片异质结,两种不同的半导体相接触所形成的界面区域。

按照两种材料的导电类型不同,异质结可分为同型异质结(P-p结或N-n结)和异型异质(P-n 或p-N)结,多层异质结称为异质结构。

通常形成异质结的条件是:两种半导体有相似的晶体结构、相近的原子间距和热膨胀系数。

利用界面合金、外延生长、真空淀积等技术,都可以制造异质结。

异质结常具有两种半导体各自的PN结都不能达到的优良的光电特性,使它适宜于制作超高速开关器件、太阳能电池以及半导体激光器等。

目录[隐藏][编辑本段]基本特性所谓半导体异质结构,就是将不同材料的半导体薄膜,依先后异质结次序沉积在同一基座上。

例如图2所描述的就是利用半导体异质结构所作成的雷射之基本架构。

半导体异质结构的基本特性有以下几个方面。

(1) 量子效应:因中间层的能阶较低,电子很容易掉落下来被局限在中间层,而中间层可以只有几十埃(1埃=10-10米)的厚度,因此在如此小的空间内,电子的特性会受到量子效应的影响而改变。

例如:能阶量子化、基态能量增加、能态密度改变等,其中能态密度与能阶位置,是决定电子特性很重要的因素。

(2) 迁移率(Mobility)变大:半导体的自由电子主要是由于外加杂质的贡献,因此在一般的半导体材料中,自由电子会受到杂质的碰撞而减低其行动能力。

然而在异质结构中,可将杂质加在两边的夹层中,该杂质所贡献的电子会掉到中间层,因其有较低的能量(如图3所示)。

因此在空间上,电子与杂质是分开的,所以电子的行动就不会因杂质的碰撞而受到限制,因此其迁移率就可以大大增加,这是高速组件的基本要素。

(3)奇异的二度空间特性:因为电子被局限在中间层内,其沿夹层的方向是不能自由运动的,因此该电子只剩下二个自由度的空间,半导体异质结构因而提供了一个非常好的物理系统可用于研究低维度的物理特性。

低维度的电子特性相当不同于三维者,如电子束缚能的增加、电子与电洞复合率变大,量子霍尔效应,分数霍尔效应[1]等。

异质结

异质结

Dai Xianying
化合物半导体器件
3.2 异质结的电学特性
3.2.1 突变异质结的I-V特性
突变异质结I-V模型:扩散模型、发射模型、发射-复合模 型、隧道模型、隧道复合模型。 同质结I-V模型:扩散和发射模型
两种势垒尖峰: (a)低势垒尖峰负反向势垒 (b)高势垒尖峰正反向势垒
Dai Xianying
3.11 突变同型nn异质结平衡能带图
Dai Xianying
化合物半导体器件
3.1 异质结及其能带图
3.1.2 异质结的能带图
2)突变同型异质结能带图
3.12 突变同型pp异质结平衡能带图
Dai Xianying
化合物半导体器件
3.1 异质结及其能带图
3.1.2 异质结的能带图
2、考虑界面态时的能带图
Dai Xianying (a)单量子阱
(b)多量子阱
(c)超晶格 化合物半导体器件
3.4 多量子阱与超晶格
多量子阱(a)和超晶格(b)中电子的波函数
Dai Xianying
化合物半导体器件
3.4 多量子阱与超晶格
3.4.1 复合超晶格
1、Ⅰ型超晶格
Dai Xianying
化合物半导体器件
3.4 多量子阱与超晶格
化合物半导体器件
3.1 异质结及其能带图
3.1.2 异质结的能带图
3、渐变异质结能带图
1)渐变的物理含义 2)渐变异质结的近似分析:能带的叠加 3)渐变能级
Dai Xianying
化合物半导体器件
3.1 异质结及其能带图
3.1.3 突变反型异质结的接触势垒差及势垒区宽度
推导过程参考刘恩科等著 《半导体物理》第9章

异质结

异质结

金属-半导体接触的能带图
间隙为零 ΔÆ0
qφBn0达到极限 空间电荷区W
qVbi半导体内 建势
对n型半导体,势垒高度的 极限值为金属功函数和半导
qφ Bn = q (φ m − χ )
体电子亲合势之差:
对P型半导体,势垒高度的 q φ Bp = E g − q (φ m − χ )
极限值: 肖特基模型
假设导带中电子能量全部为动能假设导带中电子能量全部为动能电流由能量足以克服势垒的电子浓度和它在电流由能量足以克服势垒的电子浓度和它在xx方向的运动速度给出方向的运动速度给出42设输运沿设输运沿xx方向积分范围方向积分范围零偏压下的内建势零偏压下的内建势为克服势垒在为克服势垒在输运方向需要输运方向需要的最低速度的最低速度这是速度在这是速度在之间分布在所有方向上的单位体积中的电子数之间分布在所有方向上的单位体积中的电子数x方向速度对应的动方向速度对应的动能必须大于势垒高度能必须大于势垒高度其中其中为速率若考虑到不同运动方向可用三个速度分量来表示并且为速率若考虑到不同运动方向可用三个速度分量来表示并且ktqvktktqvkt势垒高度势垒高度bibi热电子发射的有效里查孙常数热电子发射的有效里查孙常数电子向真空发电子向真空发a中将自由电子质量用有效质中将自由电子质量用有效质量来代替量来代替
表面看作一薄层, 在禁带中具有能量连续分布的局域态,由 于表面处电荷的填充,有自己的平衡费米能级EFS0
EF EFS0
若表面态密度Æ∞,体内电
子填充表面能级,且不显著
改变表面费米能级位置,体 内EF下降与EFS平齐,造成 能带弯曲,形成空间电荷区。
在表面态密度很大时, EFS~EFS0, 费米能级定扎。
3。考虑界面复合
在异质结的制备和处理过程中,必然会有悬键存在,还存在各种缺陷 态,这些都可能构成禁带中的界面态,有界面复合电流存在。

范德瓦尔斯异质结构建模型

范德瓦尔斯异质结构建模型

范德瓦尔斯异质结构建模型全文共四篇示例,供读者参考第一篇示例:范德瓦尔斯异质结构是一种新型的材料结构,由两种或多种不同的原子层堆叠而成。

它的特性在于在层间和层内的相互作用相对较弱,因此具有许多独特的物理性质。

范德瓦尔斯异质结构最初是由荷兰物理学家范德瓦尔斯提出的,其特点是由非共价键相互作用而形成的。

范德瓦尔斯异质结构在电子学、光电子学、热电子学等领域有着广泛的应用。

它的独特结构和性质为我们提供了一种全新的材料设计思路。

在范德瓦尔斯异质结构中,通过合理设计原子层的排列和选择不同的原材料,可以实现许多优异的电子和光学性能,比如量子点、量子阱、异质结构等。

范德瓦尔斯异质结构的建模是研究这种新型材料的关键。

建模可以帮助我们更深入地了解其内部结构和物理性质,从而为材料的设计和性能优化提供指导。

下面我们将介绍一种常用的范德瓦尔斯异质结构建模方法。

范德瓦尔斯异质结构建模的方法之一是第一性原理计算。

该方法基于量子力学原理,通过求解薛定谔方程来描述材料的电子结构和性质。

通过第一性原理计算,可以计算出材料的能带结构、电子密度分布、原子间相互作用等关键参数,进而预测材料的电子输运性质、光学性能等。

第一性原理计算是一种基于数学和物理的理论方法,需要借助计算机进行大量的计算。

首先需要确定材料的晶体结构,然后建立晶体结构模型,确定原子的位置和化学键的类型。

接着通过求解薛定谔方程,计算出材料的波函数和能带结构。

最后根据得到的结果,分析材料的性质和行为。

除了第一性原理计算外,还可以通过分子动力学模拟、密度泛函理论等方法进行范德瓦尔斯异质结构的建模。

这些方法可以帮助我们更全面地了解材料的结构和性质,为材料的设计和性能优化提供依据。

第二篇示例:范德瓦尔斯异质结构是一种常见的纳米材料,具有多种应用价值,因此其建模研究具有重要意义。

近年来,科学家们通过理论模拟和实验研究,不断探索范德瓦尔斯异质结构的性质和应用,取得了一系列突破性进展。

异质结构与表界面研究

异质结构与表界面研究

异质结构与表界面研究一、异质结构类型异质结构是指由两种或多种材料组成,在空间上相互结合的结构。

根据材料的不同,异质结构可以分为金属-金属、金属-半导体、金属-绝缘体等多种类型。

根据空间排列方式的不同,异质结构可以分为平面异质结、体异质结和多异质结等。

二、界面相互作用机制界面相互作用是指不同材料在相互接触时,由于表面能、电荷转移等因素引起的相互作用。

这种相互作用会导致界面处产生应力、应变和电荷分布的变化,从而影响材料的物理、化学和电学性能。

深入理解界面相互作用机制有助于优化异质结构的设计和制备。

三、表面能与润湿性表面能是指固体表面分子间的结合力,是影响物质润湿、吸附、扩散等性质的重要因素。

不同材料的表面能不同,当两种不同表面能的材料接触时,会产生润湿或浸润现象。

了解表面能与润湿性的关系有助于研究异质结构表面的反应机理和优化表面的浸润性。

四、表面形貌与粗糙度表面形貌是指表面的微观结构和形状,而粗糙度是指表面凹凸不平的程度。

异质结构的表面形貌和粗糙度对其性能产生重要影响,如电学性能、光学性能和机械性能等。

通过调控表面形貌和粗糙度,可以优化异质结构的性能。

五、界面分子吸附与排列界面分子吸附是指分子在界面处的吸附和排列现象。

不同分子在界面处的吸附和排列方式不同,这会影响分子的扩散、反应活性等性质。

了解界面分子吸附与排列的规律,有助于调控异质结构的化学和物理性质。

六、异质界面电荷传输特性异质界面电荷传输特性是影响异质结构电学性能的重要因素。

当电流通过异质界面时,会产生电荷的注入、传输和复合等现象。

这些现象受到多种因素的影响,如材料的能带结构、界面粗糙度等。

研究异质界面电荷传输特性有助于优化异质结构在太阳能电池、传感器等领域的实际应用。

七、界面介导的光学与电学性能界面介导的光学与电学性能是指界面处由于光学和电学性质的变化,对材料的光学和电学性能产生影响。

这种影响可能是由于材料之间的相互作用、电荷转移等因素引起的。

异质结构 光催化 界面-概述说明以及解释

异质结构 光催化 界面-概述说明以及解释

异质结构光催化界面-概述说明以及解释1.引言1.1 概述概述部分:异质结构光催化界面是当前光催化材料研究领域的一个重要方向。

光催化作为一种能够将光能转化为化学能的创新技术,被广泛应用于能源转换、环境净化、有机合成等领域。

然而,传统的光催化材料在提高吸光能力和光催化效率方面还存在着一定的局限性。

为了克服这些局限性,研究人员开始将异质结构应用于光催化界面的设计和构建中。

异质结构是指由两种或多种不同材料组成的界面结构,其中每一种材料都具有独特的物理和化学性质。

通过调控异质结构的组成、形貌和结构,可以实现光吸收的增强、光生载流子的分离和传输的优化,并提高光催化反应过程的效率。

因此,异质结构在光催化界面的应用具有重要的意义。

本文将首先介绍异质结构的定义和特点,包括组成材料的选择、界面结构的构建方式和特殊的物理化学性质。

接着,我们将探讨光催化的原理和应用,重点介绍光催化反应的基本过程和常用的光催化材料。

最后,本文将总结异质结构光催化的潜在优势,包括提高光催化反应速率、增强光稳定性和光催化材料的可重复使用性等方面。

文章的最后,我们将展望异质结构光催化的发展前景和应用前景,为读者提供对未来研究方向的参考。

通过本文的阐述,我们旨在全面了解和掌握异质结构光催化界面的基本原理和应用前景。

同时,通过对异质结构光催化的深入研究,我们有望为光催化技术的改进和应用提供一些新的思路和方法。

1.2 文章结构文章结构部分的内容如下:文章结构部分旨在介绍本文的整体组织和主要部分。

本文主要分为引言、正文和结论三个部分。

引言部分首先对整篇文章进行了概述,简要介绍了异质结构光催化界面的研究领域以及其重要性和应用前景。

接着,引言部分介绍了文章的结构安排,明确指出本文包含的各个章节及其内容。

正文部分是整篇文章的核心,分为第2.1节和第2.2节。

第2.1节详细阐述了异质结构的定义和特点,包括异质结构的组成、形貌、结构特征以及其在光催化领域中的应用。

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2
1
突变结:在异质结界面附近,两种材料的组
分、掺杂浓度发生突变,有明显的空间电荷 区边界,其厚度仅为若干原子间距。
缓变结:在异质结界面附近,组分和掺杂浓
度逐渐变化,存在有一过渡层,其空间电荷 浓度也逐渐向体内变化,厚度可达几个电子 或空穴的扩散长度。
同型异质结:导电类型相同的异质结
如:N‐AlxGa1‐xAs/n‐GaAs, p‐GexSi1‐x/p‐Si
EC1
EC2 EC2
VDN EV 2 EV2
VDp Eg2
EDp Eg Eg2
EC
2
eND 2 2
eNA ( 21 xN 2
xp x)2 (xN x)2
x xp xp ≤x 0
0 x ≤xN xN x
x xp xp ≤x 0 0 x ≤xN
eV D F1 F2 F
依据这一分析,很容易发现异质结界面无论是导带还是价 带都会出现不连续性。导带底和价带顶的这种不连续性 分别为EC和EV:
Eg Ec Ev (Eg 2 Eg1)
Ec 1 2 Ev Eg Ec Eg
1. 异质结的带隙差等于导带差同价带差之和。 2. 导带差是两种材料的电子亲和势之差。 3. 而价带差等于带隙差减去导带差。
16
8
17
自建电场E的作用下,电子和空穴的飘移电流分别为:
ins n E ne n E
ips p E pe p E
从泊松(Poisoon)方程出发,利用‫׏‬D =‫׏‬(E)=式,推导出 电子和空穴的扩散电流分别为:
i nd
eDn
dn dx
i pd
eD p
dp dx
流经异质i结n 界i面ns 的i空nd 穴 电ne流 n等E于空eD穴n的ddn飘x 移电流:
3.5 异质结的电学性质 3.5.1 异质结的伏‐安特性 3.5.2 异质结的C‐V电压特性 3.5.3 异质结对载流子的限制 作用
3.5.4 异质结的高注入比 3.5.5 异质结的超注入现象
3.6 异质结的光学特性 3.6.1异质结对光的限制作用 3.6.2窗口效应
1
3.1 半导体异质结概念
同质结 (Homojection):禁带宽度相同但
常数的乘积成反比。
22
11
在p区和N区的耗尽层内价带边的大小为:
EV1 VDN VDp EV
EV1
EV 2
VDN VDN
VDp
eN 2
D 2
EV xN 2
eNA 21 (xN
(
xp x)
2
x)2
EV 2 VDN VDp EV
在p边和N边四个区域中导带的表达式:
EC1 EV1 Eg1 VDN VDp Eg2 EC
26
13
3.4.4 同型突变异质结
27
3.4.5 双异质结
N Al0.3Ga0.7As‐p‐ GaAs‐P‐Al0.3Ga0.7As 双异质结的能带图
(a)零偏压, (b)加1.43V 正偏压
28
14
3.5 异质结的电学性质
3.5.1 异质结的伏‐安特性
电子和空穴在能级E上的占有几率满足费米‐狄拉克分布:
能带结构的变化:1,出现了空间电荷区。 2,空间电荷区中能带发生弯曲。 34,,出导现带了差导是带以和“价尖带峰的”不的连形续式性出现EC的和,E而V 价。带差 是 以 断开的形式出现的。
12
6
价带不连续性
如果两种材料相接组成异质结,它们就将处于平衡态,整 个异质结构的费米能级处处相同。为了维持各自原有的 电子亲合势和功函数不变,就会形成空间电荷区,异 质电别结子:的电两荷边,出VD为现接自触建电电势场,,e相V应D的的大势小垒等高于度费为米能eV级D,的e差为
中),空间电荷的符号相反、大小相等; 3,异质结界面两边的介电常数分别为1和2,
12,界面处的电场不连续: 1E1=2E2 E1 E2。
9
功函数 电子亲和势
功函数:电子由费米能级至自由空间所需的 能量,=E0‐F
电子亲和势:电子由导带底跃迁到真空能级 所需的能量,=E0‐Ec
当两种单晶材料组成在一起构成异质结后,
第三章 半导体异质结构
3.1 半导体异质结概念
3.2 能带的形成
3.3 半导体异质结构的能带图 3.3.1 半导体的能带图 3.3.2 安德逊能带模型
3.4 几种异质结的能带图 3.4.1 异型异质结的能带图 3.4.2 异型突变异质结 3.4.3 缓变异质结 3.4.4 同型突变异质结 3.4.5 双异质结
4
2
当原子相互接近形成晶体时,不同原子的电子轨道 发生交叠,晶体中原子的外层电子不再局限于一 定的原子,而是能够从一个原子转移到邻近的原 子上去,电子可以在整个晶体中运动,这一重要 的特性叫做电子的共有化运动。
原子结合成晶体时原子将周期性地排列,它们的原 子核构成周期性的势场。每个原子的外层电子, 除了受其所属的原子核的势场的吸引外,还会受 整个周期势场的作用。最外层的价电子受束缚最 弱,它同时受到原来所属原子和其他原子的共同 作用,已很难区分究竟属于哪个原子,实际上是 被晶体中所有原子所共有,这就是共有化。
异型异质结:导电类型不同的异质结
如:N‐AlxGa1‐xAs/p‐GaAs, p‐GexSi1‐x/n‐Si 异质结构 (Heterostructures): 含有异质结的二 层以上的器件结构。
3
3.2 能带的形成
(a)能带的形成,(b)金刚石结构中s态和p台的重新组合
孤立原子的外层电子呈分立形式的能级。气体中各 个原子的外层电子只受它本身的原子的作用,不 同原子的外层电子处在同一能级上,因此外层电 子的能级是简并的。
它们处于平衡态,费米能级应当相同。为
了维持各自原有的功函数和电子亲和势
不变,就会形成空间电荷区,在结的两旁
料出电的子现费电静米荷电能,势级V,D差为相:接应e触的VD电势=F2势垒‐F1。高它度等为于eV两D,种e
为 材
10
5
未此无形关成联异。质以结真之空前中,它的们能有级各为自基不准同绘制的出费它米们能分级立F1的和能F2,带图彼。 它们形成异质结构时,它们的费米能级处处相同。以费米能 级为基准,重新绘制的能带图
15
3.4.2 异型突变异质结
p‐GaAs‐N‐AlxGa1‐xAs突变结 (a)能带图 (b)耗尽层中的电荷分布 (c)电场分布 (d)自建势垒 组成异质结后费米能级应该 处处相同。为了维持各自原 有的电子亲合势和功函数 不变,就会形成空间电荷 区,出现自建电场,相应的 势垒高度为:
eV D F1 F2 F
13
3.4 几种异质结的能带图
3.4.1 异型异质结的能带图
四 种 异 型 异 质 结 的 能 带 图
14
7
上图(a)中,窄带隙材料的电子亲合势1同其带隙宽度Eg1之 和大于宽带隙材料的电子亲合势,更大于窄带隙材料的 电子亲合势,+ Eg111,而窄带隙材料的功函数1大 于宽带隙材料的功函数2,12。在这种情况下,它 们共同构成半导体光子器件中常用的pN异型异质结。
因掺杂型号不同或虽型号相同但掺杂浓度 不同组成界体界面。
如:n‐GaAs/p‐GaAs, n‐GaAs/n+‐GaAs
异质结 (Heterojunction): 由两种禁带宽
不同的单晶材料组成的晶体界面。 如: AlxGa1‐xAs/GaAs, GexSi1‐x/Si 材料1:Eg1,材料2:Eg2, Eg1 ≠ Eg2
d 2V (x) dx2
19
求解泊松Poisoon方程可得异质结的自建电压的大小为:
自VV建Np ((势xx))垒V等(2De于1 )(总N2eA的2()xN自p(D建xxN)势2垒x)2减去N边的自0xp建≤x势≤x 垒xN0:
总V自D建(0)电势VD可p 以(2表e1达)N为AxVp2DVVDDpV(2DeN 。2 )N可D以xN推2 导得:
p‐GaAs‐N‐ Al0.4Ga0.6As渐变 异质结的带边尖 峰变化图 有人提出用双曲正切函数来描述导带差的这种渐变: 如果的渐变主EC要(x发) 生在2EC宽[1带区tan,h(则x上l x式0 )可] 以简化为: 缓变异质结的Ec能(x带) 图也Ec变 t成an缓h(变xl )的。常用III‐V族半导体异 质结材料的这种变化主要发生在导带中。其界面对导带 的影响比对价带的影响更大一些。
6
3
3.3半导体异质结构的能带图 3.3.1半导体的E‐关系能带图
三种III‐V族半导体的能带结构: (a)GaAs (b)GaP 和(c)InP。
7
GaAs的能带图
8
4
3.3.2 安德森(Anderson)能带模型 假定:
1,在异质结界面处不存在界面态和偶极态; 2,异质结界面两边的空间电荷层(或耗尽层
exp
(Ec kT
Fc
)
Ec和Fc分别为导带底能级和费米能级。将上式代入
前一式,推导得出内建电场同位置x的关系为: E(x) 1 dEc e dx
代入‫׏‬D =‫׏‬(E)=可以将上式化简得
dE(x)
dx
众所周知,电场同电压之间的关系为:
E(x) dV(x)
将上式代入前一式就dx可得:
大小相等,由此电中性条件可以推导出:
p
2 e
N
A
N ( 1
D1 V2 D NA 2
N
D
)
12
N
2
e
N
P
N
A
1
2
Vp D
(1N A 2 N
D
)
12
空间电荷区的总宽度为:
d = p
N
2 1 2 (N eN A N D (
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