物探-电剖面法
物探--3电阻率剖面法

对于倾斜的脉体其深 度:以用切线法求得,在 顶点的切线与侧面弯曲 线的渐近线之间的距离 为m
则H=0.6m 中梯法在探测某地高阻
体脉岩得到良好效果, 在武安寻找石英矿也取 得较好效果。
五、偶极剖面法
偶极剖面法(ABMN ),选MN的中点O′。如果AB与MN互换,以 O点为记录中点则得出的结果完全相同,这是最大优点,类似联剖, 但又甩掉了联剖无穷远笨重设备,对地表不均匀体反映灵敏,在地 质构造复杂时ρs形态复杂,当AB过界面时,将出现一些异常,增 加了解释的难度,也是偶极剖面法不如联剖应用广泛的原因。
2.15r0 2.65 r0 2.09 r0 1.70 r0
上表是实验而得,实际上探测深度可以加大。
3.横向分辨能力 当测线方向有多个地电异常体存在时,
电阻率剖面法是否能发现和对其进行区分, 这主提出横向分辨能力问题。
当相邻地电体间的距离小于其埋深时, 只出现一个综合异常。这时任何一种装置都 无法确切地区分。因此,分辨力与装置形成 及极距大小有关。
六、电阻剖面法几个问题讨论
1、各种电剖面法比较 每种方法都有自己的优缺点,也有使用范围,也
有使用习惯等。
2. 勘探深度 勘探深度指在特定条件下查明探测目标的最大深度。
制约因素: ①仪器性质:灵敏度,稳定性,抗干扰能力。 ②装置类型的合理选择:根据任务和地质条件选
择合理的形式和极距。 ③观测精度:提高观测精度可以提示勘探深度,
可不按比例尺)
比例
线距(m)
点距(m)
1:25000
250
100
1:10000
100-200
50-80
物探工作方法技术

1:5000激电中梯剖面测量1:5000激电中梯剖面测量采用长导线,针对重要异常带、矿化带进行,为寻找隐伏矿提供依据。
1、1:5000剖面敷设剖面端点用全站仪或GPS RTK布设,用木桩标记;测点采用GPS RTK分段控制、罗盘定向、测绳量距布设,用带有编号的红布标记。
质量检查按“一同三不同”的原则进行,检查点在空间上、时间上大致均匀,总检查量不低于5%,精度要求达到“B级”精度要求,即在相应比例尺图上平面点位限差<±2.5mm,点位中误差不超过12.5m;相邻点距误差限差10%,均方相对误差不超过5%。
2、野外工作方法激电剖面法采用中间梯度装置,AB=1200米,MN=40米,点距=20米。
采用时间域激电测量,正反向标准直流脉冲供电,脉冲宽度2秒。
以上参数可根据野外实际情况,通过现场试验进行适当调整。
激电观测参数为一次电位Vp、供电电流强度I及视充电率Ms,计算视电阻率ρs。
观测时,测量电极MN在供电电极AB的2/3区间移动,旁线距小于AB/5。
全区装置大小、观测参数设置应保持一致。
一条剖面不能在一个供电装置内完成时,每个装置接头处应有三个以上的重复观测点。
供电电流应使二次电位观测值大于最小可靠值,一般应使一次电位观测的观测值绝大部分在30mV以上。
野外要经常检查仪器、导线的漏电情况,对突变点、异常点应进行重复观测和加密观测,确保观测数据可靠。
3、电性参数测定电性参数测定主要采用露头法测定,有条件时,应采集一定的岩矿石标本,用标本法测定,并分别统计。
每类岩(矿)石标本不少于30块,参数测定的质量评定应以采用某一种岩性测定的全部标本检查结果来衡量,即用基本观测统计出来的常见值与检查观测结果统计出来的常见值相对误差不得超过20%。
4、质量标准视电阻率观测精度(<±7%),视充电率观测精度(<±12%),达到B 级精度;电性参数总平均相对误差≤±20%。
5、执行标准《时间域激发极化法技术规定》(DZ/T 0070-93);《物化探工程测量规范》(DZ/T0153—95)。
第三章 电法勘探:电剖面法(2)

(2)工作效率高(一线供电,多线测量)
(三)对称剖面法 1、装置形式及 S 公式
A
A'
M O
N
B'
B
A、B、M、N四个电极排列在一条直线上,并且相对 于MN的中点O对称分布,AO=BO,NO=MO,AMNB 又称为“对称四极剖面法”。
U MN s k I
AM AN k MN
还可以对称于“O”点再增加两个供电电极A′和B′, 且AB>A′B′该装置称为“复合对称四极剖面法”。
某古河道两侧以及下 部岩石由砂粘土组成, 电阻率较低。而古河 床中充填的砂卵石则 为高阻。
例2. 用复合对称四极剖面法确定基岩的相对起伏
某地为查明基岩起伏以便为工程地质提供有用资料, 为此做了复合对称四极剖面法见下图。
两个异性点电源:两个异性点源场的叠加 (电位为标量叠加;电场强度为 矢量叠加;电流密度为矢量叠加)
五、装置与装置系数
复 习 : 几 个 基 本 概 念
装置:供电电极(A、B)及测量电极(M、 N)的排列形式和移动方式 装置系数k:表征各电极空间位置的物理量, 单位m,k
V k I
k
2 1 1 1 1 AM AN BM BN
五、视电阻率(2):
复 习 : 几 个 基 本 概 念
V 测量公式: s k I jMN MN 微分形式: s j0
影响因素:
(1)电极装置类型及电极距
J0为地下介质均匀时 的电流密度; jMN为 MN电极间的实际电 流密度; ρMN为MN 电极间的真电阻率;
(2)测点位置(装置相对于地质体的位置) (3)电场作用范围内地质体的分布(形状、大小埋深、 厚度及相互关系) (4)地质体实际电阻率的大小 (5)地形起伏
5电法勘探2电剖面

A s
AMN 和MNB
C
sB
MON
A
1
2
jMN s MN j0
B
B 用同样的方法可以分析 s 曲线
当电极M、N、B在良导脉体右侧并与良导脉体相距较远时, 良导脉体对电流分布的影响很小,因此 jMN = j0 ,由于 MN = 1 , 所以由视电阻率微分公式,得 sB = 1 当电极M、N、B逐渐移近良导脉体时,脉体“吸引”由B极发 B j j 出的电流,使MN间的电流密度增大,即 MN > 0 ,故 s > 1 , sB 曲线开始上升
A B
sA sB
1
2
一些具体的问题(水槽试验): 直立低阻脉体 铜板:30cm×15cm×0.2cm
AMN 和MNB
C
A
MON
B
联剖的ρs曲线有明显异常, 有较强的反映地质体的能力。 这是因为供电电极A(或B) 与测量电极MN横跨直立低 阻脉体两侧时,低阻脉体对 供电电流有较强的“屏蔽作 用”造成的。故电阻率联剖 被认为是寻找陡立良导薄矿 脉或追索直立低阻破碎带时 最有效的方法之一
sA sB
AMN 和MNB
C
1
2ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
A
MON
B
jMN s MN j0
上式说明:视电阻率和测量电极所在地层的真电阻率成正比,其 比例系数等于M、N间电流密度真值jMN和j0之比。 j0为介质完全 是均匀介质时的电流密度
当电极A、M、N在良导脉体左侧并与良导脉体相距较远时, 良导脉体对电流分布的影响很小,因此 jMN = j0 ,由于 MN = 1 , 所以由视电阻率微分公式,得 sA = 1 当电极A、M、N逐渐移近良导脉体时,脉体“吸引”由A极 A j j 发出的电流,使MN间的电流密度增大,即 MN > 0 ,故 s > 1, sA 曲线开始上升
第二讲:电剖面法

( 二) 脉状体上的中梯ρS 异常
(三)起伏地形引起的视电阻率异常
(四)中间梯度法的应用
联合剖面装置仍取 MN 中点作为记录点。
(4) 对称四极装置(AMNB) 这种装置的特点是 AM=NB ,记录点取在 MN 的中点,其ρs表达式为: U MN AB S K AB I 式中 当取AM=MN=NB=a时,这种对称等距排列称为温纳 (Wenner)装置。其装置系数为: KW 2 a
反交 点
正交点, 并向倾向 一侧移动
(三)球体上的视电阻率异常
1.视电阻率表达式
根据点源场中存在导电球体的场论问题 可写出M的电位表达式
同理得N点电位表达式;即可得到:
2. 视电阻率剖面曲线
联剖:反交 点 四极:极大 值 联剖:正交 点 四极:极小 值
(四)联合剖面法的干扰分析及校正
1.比值参数的概念及应用 比值(F)参数
2 K x A 12 S (1,1) 1 1 2 2 d x
2 1 2 (1,2) 1 2
A S
2 K x A 12 S ( 2,2) 2 1 2 2d x
同理,对于MNB三极装置而言,当MN→0 时, ρ sB的计算公式也有以下三种情 况:
因此,二极装置实际上是一种测量电位的装置。 其ρs表示式为: UM S K AM I 式中装置系数
K AM 2 AM
二极装置通常取AM中点作为记录点。
(2)三极装置(AMN)(pole-dipole ) 当只将供电电极B置于“无穷远”,而将AMN沿 测线排列并进行逐 点观测时,便称为三极装置。 其ρ s表示式为: AMN U MN S K AMN I
电法勘探——传导类电法 电测剖面法

N
B
MN -B
装置相对笨重,地形 影响大。解释时具体 分析。
AO=BO﹥3h; MN=1/3~1/5AO
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4
Aபைடு நூலகம்S
kA
U
A MN
IA
B S
kB
U
B MN
IB
kA
kB
2
AM • AN MN
(AMN∞) (∞ MNB )
在测量时,C极固定不动,AMNB间保持距离不变,四个极沿测线同时移 动,逐点进行测量,测点为M、N的中点O。每个点测量两次,得到两个
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25
第四节:偶极剖面法
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AB=MN=a OO’=3~5h a=1/4~1/10 OO’
26
低阻体
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27
低阻体
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28
高阻体
2020/5/24
29
16
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17
寻找地下水
K
A
M
N
井
断层构造
C
“无穷远”
B
水
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地层起伏构造
18
第二节:对称四级剖面法
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19
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20
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21
第三节:中间梯度法
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22
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23
低阻体
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24
高阻体
电法勘探——传导类电法
一、电阻率法的基础知识
二、电测剖面法
三、电测深法
四、充电法
电剖面法(焕军)
3-2 电剖面法电剖面法是探测地下同一深度范围内导电性有差异的地质体沿着剖面方向的分布情况的方法。
在电剖面法工作中,一般采用不变的电极距并使整个装置沿着剖面方向移动,逐点观测△V MN和I AB,求出视电阻率ρs值。
然后以测点为横坐标,ρs为纵坐标,作出ρs剖面图。
由于电极距固定不变,勘探深度就基本上不变,因而ρs剖面图可以把地下某一深度以上不同电阻率的地质体沿剖面方向的分布情况反映出来。
电剖面法根据供电电极A、B和测量电极M、N的排列方式不同又有一系列的变种。
目前常用的有“联合剖面法”,“对称剖面法”和“中间梯度法”。
一、联合剖面法联合剖面法是两个三极排列AMN∞和∞MNB的联合。
所谓三极列是指供电电极之一位于无穷远的排列。
如图3-7所示,采用联合剖面装置时,可以用A电极,也可以用B电极供电,而A和B有一个共同的无穷远电极C。
也就是当A或B供电时,供电回路中另一电极C 位于无穷远。
如果以O表示测量电极M和N的中点,则在联合剖面装置时,四个电极A、M、N、和B位于同一直线上,(这条直线就是测线),且AO=BO。
无穷远电极C一般敷设在测线的中垂测线上,与侧线之间的距离大于AO的五倍(CO>5·AO)。
工作中将AMNB四个电极沿测线一起转动,并保持各电极间距离不变,中点O就作为测点的位置。
在每个测点上分别测出AMN∞排列和∞MNB排列的△V MN和I,并按(3-10)式求得两个视电阻率值:△V AρA S=K A (AMN∞装置) I△V BρB S= K B (∞MNB装置)Ir AM·r ANK A = K B=2πr MN因此,联合剖面法的剖面图上有两条视电阻率曲线ρA S和ρB S。
(一)联合剖面法ρs曲线分析联合剖面法主要用于寻找陡倾的层状或脉状低电阻矿体或断裂破碎带。
这些地质体可以近似地看作是薄板状良导体,因此在这里主要分析反映良导体薄板的联合剖面ρs曲线的特点。
电剖面法
(1)二极装置 这种装置的特点是供电电极B 这种装置的特点是供电电极B和测量电 极N均置于无穷远处接地
二级装置取AM中点作为观测结果的记录点 二级装置取AM中点作为观测结果的记录点
(3)三极装置: 三极装置: 只将供电电极B置于无穷远, 只将供电电极B置于无穷远,而将 AMN沿测线排列进行逐点观测。 AMN沿测线排列进行逐点观测。 沿测线排列进行逐点观测
第六章 电剖面法
电剖面法是用以研究地电断面横向电性变 化的一类方法。一般采用固定的电极距, 化的一类方法。一般采用固定的电极距,并使 电极装置沿剖面移动, 电极装置沿剖面移动,这样便可观测到在一定 深度范围内视电阻率沿剖面的变化。 深度范围内视电阻率沿剖面的变化。根据装置 形式的不同,剖面法又分二极装置 三极装置、 二极装置、 形式的不同,剖面法又分二极装置、三极装置、 联合剖面装置、对称四极装置、偶极装置等 联合剖面装置、对称四极装置、偶极装置等。
当两个三极排列(AMN,MNB) 当两个三极排列(AMN,MNB)位于 模型左侧时,低阻体对电流线的吸引,使A 模型左侧时,低阻体对电流线的吸引, 极在MN间产生的电流密度 极在MN间产生的电流密度jMN >j0, ρsA>ρ0。 间产生的电流密度j 同时使B极在MN间所产生的电流密 同时使B极在MN间所产生的电流密jMN<j0。 间所产生的电流密j 因而ρ 因而ρsB <ρ0 。当电极排列越靠近模型,这种 当电极排列越靠近模型, 作用便越强烈, 作用便越强烈,因而在模型左侧便出现 ρsA >ρsB情况。 情况。
直立低阻脉上联合剖 曲线及λ 面ρs曲线及λ曲线
右图为低阻直立 薄板上方联合剖面曲 线与比值( 曲线, 线与比值(λ)曲线, 显然, 显然,在低阻直立薄 板上方形成了( 板上方形成了(λ) 参数的单蜂异常, 参数的单蜂异常,在 模型两侧出现负值, 模型两侧出现负值, 远离模型异常迅速下 降并逐渐趋于背景值。 降并逐渐趋于背景值。
物探常规电法勘探--地大
电阻率测深法:测量电极MN固定,不断增大供电 电极AB电极距,逐次观测。 特点:随供电电极距的加大,逐次观测的视电阻率 反映了地下电性层随深度增大变化的分布特 征。但在实际测量中, AB极距不断加大, 测 量电极MN固定不变,UMN 将逐渐小到不可测, 通常要求:
1 1 AB MN AB 3 30
岩、矿石电阻率的测定:由电阻定义及欧姆定律,
得:
U RS S ( MN ) L I L
均匀大地电阻率的测定:
当地表由两个异性点电源A(+I)、B(-I)供电时,地表测点 M、N处的电位:
UM UN
I 1 1 ( ) 2 AM BM I 1 1 ( ) 2 AN BN
1 2 3
Q 型: 1 2 3
K型: 1 2 3
3、电测深曲线的解释 (1)电测深曲线类型分析 (2)电测深曲线特征研究 (3)断层在电测深曲线上的反映 (4)电测深曲线的定量解释 4、电测深定性图件的绘制及解释 (1)曲线类型图 (2)等视电阻率断面图 (3)等视电阻率平面图 5、电测深法的应用
1
物探方法能查明地质构造的原因
组成地壳的各种岩石具有不同的物理性质,因而, 不同岩石、地层对地面的各种仪器就有不同的作用 (响应),所以,根据仪器的测量结果就可反推地下 的地质构造情况。
2
地球物理勘探方法的特点
• 1。组成地壳的各种岩石必须具有不同的物 理性质(有差异); • 2。必须使用专门的仪器在地表或地下接收 信号;
二极装置(AM):
特点:将B、N极置于“无穷 远”处接地。取AM中 点为记录点。
K AM 2 AM
s K AM
UM I
物探电法磁法剖面技术说明
物探激电中梯测量技术说明根据地质或化探成果确定的成矿有利部位开展电法测量工作。
根据本区地形、地质特点及工作目的,本次电法工作采用激电中梯剖面测量,测量参数为视极化率ηs和视电阻率ρs,对于具有找矿意义的激电异常,选择综合剖面或激电测深工作。
激电剖面测量也采用大功率短导线中梯装置,激电测深采用对称四极装置测量,主要用于有意义的物探异常和重要矿点的检查评价。
要求工作细致,完整地测量出剖面的异常形态,并能突出异常,以便深入研究。
因此其装置大小和技术参数不一定与面积观测相同。
要求在检查的异常(或矿点)中心,首先进行激电测深工作(沿剖面拉线),根据测深结果,确定最佳供电极距。
为突出异常应加长供电周期。
1、激电中梯测量技术要求及指标(1)技术要求激电测量技术要求严格按照国家地矿行业《时间域激发极化法技术规程(DZ/T0070-93)》之有关技术标准进行。
激电中梯剖面测量采用大功率短导线中梯装置,AB极距≥2000米、MN=40~80米,观测段AB2/3,供电系统采用发电机输出220V~240V交流电,经整流变压后输出,供电常数为:供电周期32S,延迟时间200mS,取样宽度40mS,叠加次数为1~2。
接收激电仪,接收正反向二次场信号直读ηs及V1,控制站观测每次工作的供电电流I,室内计算各物理点视电阻率ρs。
测网布设:测线方向应尽量与化探异常或矿化蚀变带走向垂直(或大于60°)。
工作中应尽量采取措施,改善接地条件.例如,采用铁电极作为供电电极,提前2-4小时,浇上含洗衣粉的盐水,以保证接触良好。
加大供电电流,以取得准确可靠的原始数据,观测中对一次电位小于5mv 的测点要求重复观测,两次观测结果相对误差应小于10%,对畸变点、异常点也应重复观测。
每个排列观测开始之前应进行漏电检查,要求导线与地之间的绝缘电阻大于2M Ω/km 。
阴雨天和地面潮湿地段也应对MN 线路进行漏电检查。
供电导线绝缘电阻应大于30M Ω;供电电极采用铁电极。
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1 MN ( 1 ~ 3 10 ) AO
U MN s k I AM AN k MN
二、曲线分析
在对称条件下: AB=2AO=2BO
均匀介质中,按两个点电源场规律,AB的中心O
点处的电流密度为:
AB
jo
s AB
AB
jo jo 2 jo 2 jo
A B
A
B
2
A
③ 界面附近ρ
s
s
特点可判断界面位置
(二)良导薄脉上的联合剖面ρ S曲线
ρ1> ρ2,A极在MN的左 侧,用视电阻率公式:
3
A
M N
B
ρs=(JMN/Jo) ρMN分析曲线
的变化规律。
A
1
2
5
4
M O N
B
ρ
0
① 1~2段——装置远离在ρ2
ρ
ρ2
1
ρ
1
s 1
A
B s
② 2~3段(2~4段)——装置 AMN&MNB均在良导体ρ2左 侧
1 2
5 3
A
M N
B
正交点
=ρ S
B,曲线相交。
4
A
M O N
B
ρ
0
⑤ 交点右侧的分析与左侧相反, 即 ρS A < ρS B 良导脉上方的交点被称
ρ
1
ρ2
ρ
1
作正交点。交点左侧ρSA >
ρSB、右侧ρSA <ρSB。
说明:当良导薄脉直立时,曲线正交点两侧对称,交点位
于脉体上方;当良导薄脉非直立时,正交点向倾向一侧移
一、工作方法和装置
极距选择:
AO=BO=AB/2=(3~5)H MN=(1/3~1/10)AO OC>5AO(要垂直测线)
A
点距=H/3~H(一般=MN)
计算公式: 装置系数:
U MN s k I
2 AM AN k MN
测试方法:每测点先观测AMN,计算ρsA ;
再观测BMN,计算ρsB
第六章
电剖面法
本章要求
了解联合剖面法的工作原理及野外工作方法 掌握地下各种地质异常体在联合剖面曲线上
的特征
掌握联合剖面法资料的定性解释、图件绘制
了解对称剖面的工作方法和资料解释
电剖面法是研究地电断面横向电性变 化的电阻率法。
测试方法:采用固定的电极距,沿剖面方向按一
定点距逐点观测ρs 值,得到反映地层某一深度内 地电按测线方向变化的ρs曲线。
B
⑥ 6~7段——装置在ρ2中且离 分界面很远, ρ1 对ρ2无影
ρ1
>
ρ2
响,此时 ρsA =ρ2
对于ρsB(虚线)的分析方法同
上。
ρs
s
3
A
极大
21 1 2
2
需要注意的是:O点跨界面时 ρsB有极小值:
A
M N
B
1
2 4 BO
s A
5 AO
2 1 2 1 2
道、连通的干溶洞有关;
4. 无一定走向的局部高、低阻异常,一般与地下不均匀 体、人工体有关。
三、异常的解释
1. 断层的产状及宽度; 2. 异常体埋深。
四、应用
寻找基岩裂隙水(见P124) 地质填图(见P126)
地热调查(见P221~223)
(四)高阻直立脉上的联合剖面ρ S曲线
薄脉曲线特征:
1. 脉体上方有一交点,左侧 ρSA<ρSB、右侧ρSA>ρSB, 称为反交点 2. 交点两侧分离带不明显 3. 曲线同步上升或下降 4. 交点两侧对称
ρ1 ρ2 ρ1
A M O N B
反交点
ρ2 >ρ1
高阻厚脉曲线特征:
相当于两个不同岩 层接触带的曲线组 合,反交点两侧有 明显的分离带
A
地层为均匀时, ρsA= ρsB;
非均匀地层, ρsA≠ ρsB
曲线绘制方法:
ρs
A
M N
B
注意:前进方向的电极
为B极
ρ ρ
s
B
s
A
L
测线布置原则:测线应垂直构造线方向; 追踪异常体最少有三条测线
二、联合剖面ρ s曲线特征
(一)两种岩石垂直接触面上联合剖面曲线
首先来讨论没有覆盖层时 两种岩石垂直接触面上联合剖
何地质体四极法对异常的反映均不如联剖法,且联
合剖面法有两条曲线可分析。 ② 四极剖面对低阻体的分辨尤其低,一般只对高阻体 或基岩起伏反映良好,如古河道等。
四、复合四极剖面法
小极距
大极距
O
A A’ M N B’ B
a 高阻向斜构造
b 低阻背斜构造
§6-3 中间梯度法
一、装置
四极、保持AB不动,MN在AB中间1/3的范围内沿测 线移动,同时还可以跨出测线两侧AB/6的范围测量。
B
极小
22 1 2
2
M O N
B
ρ1
>
ρ2
s
A
极大
2 1 1 2
2
③ 3~4段——当MN跨界面时,由于 界面两边j1n=j2n原理,jMNA无大变 化,但ρMN从高阻ρ1,到了低阻的 ρ2中,所以ρsA下降了ρ 1/ρ 2倍
s
A
极大
ρs
3
21 1 2
A
B
jMN jMN jMN MN MN AB A B jo jo jo jMN jMN MN A 2 jo 1 A B (s s ) 2
A B
四极对称的视电阻率:
s
AB
1 A B (s s ) 2
为联合剖面法的平均值,无需专门计算理论曲线 良 导 薄 脉 四 极 对 称 曲 线
ρ1
反交点
ρ2
ρ2 >ρ1
(五)高阻球体的联合剖面ρ S曲线
(六)联合剖面ρ S曲线的影响因素
1. 表层不均匀的影响及消除
表层的不均匀表现在ρMN的变化,根据视电阻率公式:
jMN s MN jo
ρs可随 ρMN跳动,即不均匀的地表将使ρs曲线呈锯齿状
理论上证明,当AO大于不均匀体半径 的5倍时,其影响为ρsA、 ρsB呈同步跳动 消除方法:比值法
(D为MN轴线距AB轴线的垂直距离)
二、中间梯度法曲线特征
§6-4 电剖面法资料整理及解释
一、成图
A M N B
1. 电测剖面曲线图
ρs
ρ ρ
B s
s
A
L
2. 电测剖面平面图
3. 等ρs平面图(四极对称法)
注意: 电阻率 只表示 测区内 某一深
度的值
二、异常的确定(针对上面三个图件)
1. 一定走向延伸的低阻带(四极法)或低阻正交点(联 剖)的连线一般与断层破碎带有关; 2. 一定走向的阶梯状异常是岩性高低阻接触带的反映; 3. 一定走向的高阻异常多与高阻岩脉、岩墙、地道、隧
2. 地形对曲线的影响(角域地形)
地形影响的特点:
① 地形异常主要发生在角域顶点(山顶、谷); ② 正地形出现低阻反交点,负地形出现高阻正交点; ③ 顶点两侧曲线出现分离带。
§6-2 四极对称剖面法
一、装置
AO BO AB 5 H
AB
MO NO
工作时保持各极距 不变,因此测量深 度不变
三、几种典型的四极对称剖面曲线
AB=10H ρ2=9ρ1
AB=10H ρ2=9ρ1
ρ1
ρ2
ρ1
ρ2
ρ1
垂直接触面
直立高阻薄层
低阻球体
直立低阻薄层
H=2R
ρ2<ρ1
ρ1
ρ2
H
ρ1
ρ2
ρ1
ρ2<ρ1
AB=10H ρ2=9ρ1
ρ1
ρ2 直立低阻厚层
ρ1
ρ2
ρ1
直立高阻厚层
四极对称剖面的曲线特征:
① 四极对称剖面法曲线为联剖法的平均值,因此对任
s
A
极大
ρs
3
21 1 2
2
⑤ 5~6段——装置在ρ2中且离 分界面很近,高阻排斥电流
1 2 4 BO AO
A
M N
B
s A
5
使jMNA>joA( ρ2中),曲线下
降且ρ
A s >ρ 2
2 1 2 1 2
6
7
s
B
极小
22 1 2
2
A
M O AN M BO N
2
A
M N
B
1
2 4 BO
s A
5 AO
2 1 2 1 2
由 s
A
极大
2 1 2
2 1
A
6
7
s
A
B
极小
变为 s
2 1 2 1 2
22 1 2
2
M AO M N O BN
B
ρ1
>
ρ2
④ 4~5段——从MN跨过界面起,到A极跨过 界面止(长为AO),虽然A越近界面电流 被低阻吸引的越强,但由于积累电荷的影响 (j1n=j2n),jMNA无大变化,曲线为平直段, 长度=AO
AB 10H MN 点距 U MN s k I
A
AB/3 M M N N B
装置系数K值计算:
MN位于测线上
AM AN BM BN k 2 MN ( AM AN BM BN )
MN位于测线外
[( AM 2 D 2 )( AN 2 D 2 )(BM 2 D 2 )(BN 2 D 2 )]1/ 2 k 2 MN[( AM 2 D 2 )( AN 2 D 2 ) ( BM 2 D 2 )(BN 2 D 2 )]1/ 2