两种 DC-DC 转换器原理产生的噪声特性比较
两种 DC-DC 转换器原理产生的噪声特性比较
Robert Marchetti，高级产品经理
Vicor 公司，美国 Andover，MA
目前，大部份的 DC-DC 转换器己普遍以高频率的开关技术为基础。而在开关转换器中，有效的高频率开关一直被视为模块功率密度大小，性能表现优劣的关键。开关频率高，所用的磁性元件和电容愈小，反应时间更快，噪声更低，滤波要求较小。
尽管 DC-DC 转换器所产生的噪声是比之前改善了，但是所有 DC-DC 转换器还是会产生 EMI 或者其它噪声的。而所产生的噪声水平，不论是共模的，差模的或者是辐射噪声，会因为不同的生产厂，或者是采用不同的转换方法而产生很大的差异。虽然市面上有上百种的 DC-DC 转换器，各有不同的设计和拓扑结构，大体可以归为两大类: 固定频率的脉宽调制式 (PWM) 和变频的准谐振零电流开关(ZCS) 两种。设计师在选择 DC-DC 转换器时必须先了解两种原理的噪声表现。
脉宽调制式 (PWM) 模块由于不能够解决开关损耗问题，故此，它需要在工作效率和开关效率间作取舍。开关元件在瞬时导通和关断时，使电感电流产生不连续性的状态，因而产生热量和噪声。由于功耗来自开关损耗，它会随着脉宽调制式模块的开关频率增高而增大，直至它变为一个显著的耗损成因，达到了那一点，效率会迅速减低，开关元件所承受的热及电气应力变得无法处理。这种开关损耗的属性，变为开关频率障碍，限制了转换器提升功率密度的能力。除了所产生的噪声有差别，另一个脉宽调制式与零电流/零电压开关技术的分别是准谐振转换器的波形是一正弦波，而不是脉宽调制式的方波。由于电流的波形没有近乎垂直上升和下降的尖削部份，减少电抗组件的应力，减低寄生噪声。相反，PWM的输入电压开关频率是固定的(一般是数百kHz)，做成一连串的脉冲，利用调节脉冲的宽度来为负载提供正确的输出电压及足够的电流。满载时，电流的波形是一个方波(图1)。
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图1 - 零电流开关和脉宽调制式架构的电流波形!
很多电源工程师都以为，滤掉固定频率转换器所产生的噪声比滤掉变频率转换器的来得容易，这恰好是错的。事实刚好相反1。这只是“固定频率”这名词带来的错觉。基本上是个“误称”，因为两个架构都同时拥有固定频率的元素，也同时有因应操作点需要而改变的不固定元素。
图1 比较电流流到主开关的波型图。准谐振转换器的频宽或导通时间 T1 是固定的，而开关频率 T2是可变的。相反，PWM 转换器的开关周期是固定的，而频宽是可变的。这两个架构的上升和下降时间 (T3)，同样地都是固定的。!
准谐振的零电流开关 (ZCS/ZVS) 转换器采用正向开关拓朴，只在电流经过零的时候才开关，克服了开关频率障碍。每个开关周期传送等量的“能量包”到模块的输出端。每个“开”与“关”都在零电流及零电压的瞬间进行，形成一种近于没有功耗的开关。零电流开关转换器的工作频率可超出 1 MHz。它避免了传统拓朴结构那不连续性电流的特性；零电流及零电压开关架构，实现“无功耗”的把能量由输入传输至输出，大大减低传导和辐射噪声。
变频的设计，由于它是一个半正弦波，因此，不会产生高噪声水平，在波型图显示，变频转换器波型频谱幅度较低，带宽也较窄。!
图2 显示这两个拓扑产生的噪声图谱。在 PWM 转换器，大部分能源是在固定频率和奇数倍数（谐波）的。一个 100 kHz 的 PWM 变换器，它的传导噪声主要在 100 kHz ，有一些在 300 和500 kHz ，因为它是方波, 在10 – 30 MHz ，有明显的谐波，高的di/dt 激发了转换器内的寄生元件。需要较大的输入滤波器来滤掉满载时的 100 kHz 噪声。在固定频率的波形，频谱噪声水平较高，谐波分布范围较广。
级控制元件和次级控制元件间，透过铜板产生寄生电容，因而形成更高幅度的共模噪声。
图3 便是一个好例子，它显示一个变频准谐振零电流开关 DC-DC 转换器加上旁路电容器的波型。
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显然，对于一个要求低噪声的应用，如要尽量减少DC-DC 转换器的噪声。第一个步骤应是选择一个合适的，固有共模噪声较低的拓扑，如零电流开关。此外，在噪声敏感应用，应避免使用具以下特性的转换器。如把控制器件安装在铜板，这样会使把初
虽然，功率模块通常会带内部输入和输出滤波器; 但如要满足系统要求，或需要符合认可的规格如FCC ，以及欧盟有关电源系统传导到电网的噪声标准，便需要外加滤波器。许多电源工程师会自己动手设计方案，大部份的 DC-DC 转换器制造商会提供详细的应用笔记，并派出知识和经验均十分丰富的应用工程师协助解决这些问题。此外，还有一些DC–DC 转换器的供货商，提供交流前端和 EMI 滤波器模块。使用这些过滤器不仅节省时间，而且质量，性能比较有保证。!
图3 - 传导噪声与负载电流 DC-DC 转换器（48 V 输入，5V 输出，30 A 负载），没有滤波器
图2 – PWM (上图）和零电流开关（下图）的电流波形和频谱。注：波形并不按比例绘制。
这些 EMI 滤波器是专为配合供货商的转换器模块而设计的，只要布线妥当，把转换器模块和滤波器配套使用，保证能满足特定的EMC 规格。!
在美国和欧洲，传导噪声是按 FCC 和 VDE 标准A 级和B 级限制严格规管的。在美国，工业设备的传导噪声应满足 FCC 标准 A 级要求，家用电器的传导噪声应满足更严格的 FCC B 级要求。在欧洲，所有国家均要求工业设备和家用电器的传导噪声辐射应满足 VDE B 级标准。
开关电源的开关频率一般在 100 kHz 至 1 MHz 之间。反射到电网之传导噪声频谱上的主要尖峰来自开关频率之基频及其谐波分量。按 EN55011 及
EN55022 的要求，反射到电网之传导噪声在 150 kHz 至 300 MHz 幅度间需附合规定之上限。要符合这些要求，所有传导噪声，即频谱上的尖峰部份，必须低于规定的限度。!
!图4 – 符合EN55022，B级标准的EMI输入滤波器!
这些 EMI 滤波器通常是造成一个器件，(配置与图4 相似) 。它是一个带穿孔引脚的器件，内配共模扼流圈和 Y-电容器(线到地)，另加两个电感器和一个
X-电容器（线到线）。由 Z1 提供瞬变保护，这样子的滤波器有足够的衰减能力，可以符合级别 B 的传导噪声限制。!
图5 比较了零电流开关 (ZCS) 及脉宽调制 (PWM)转换器的传导噪声。请注意，零电流开关转换器的噪声，即使在未加滤波器的情形下(图3) 都优于带滤波器的 PWM 转换器。
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图 5 – 带共模扼流圈的零电流开关转换器(图上) 和带滤波器的脉宽调制转换器(图下) 的频谱。
转换器规格: 48 V 输入，5 V 输出，30A。!
1. L. Hsiu, M. Goldman, R. Carlsten, A. Witulski, and W. Kerwin, “Characterization and Comparison of Noise Generation for Quasi-Resonant and
Pulsewidth-Modulated Converters”, IEEE Transactions
on Power Electronics, Vol. 9, No. 4, July 1994
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产生制动噪音的原因
产生制动噪音的原因 制动器在制动过程中发出一种尖锐、刺耳的啸叫声，产生这种制动噪音的主要原因有以下几方面。 1．盘式制动器制动噪音产生的原因 (1)制动轮缸活塞回位的密封圈弹力不足而引起拖磨，因盘式制动器不象蹄式制动器有专用的制动蹄回位弹簧，其回位靠轮内活塞密封圈的变形弹力回位。经回位后摩擦片与制动盘的单边间隙为0.05～0.25mm，而蹄式制动器的制动间隙一般为0.3～0.6mm。当活塞密封圈的材料有问题时，如硬度较低将影响到活塞回位而引起拖磨，在制动盘表面有较深的磨痕出现，制动时会使接触表面接触不好，制动过程中发生跳跃、振动而引起尖叫 (2)减振垫片脱落或失效在箍式制动器的两个摩擦块衬板和轮缸活塞之间一般都附上一块减振垫片，减振垫片一般都由0．5～0．8mm淬火冷轧钢板制成．两面涂有橡胶层，起缓冲减振作用，能降低制动时摩擦块的振动频率。若此减振片脱落或失效，则会引起制动尖叫声音的增大。 (3)摩擦块表面磨出釉光摩擦块表面出现脆化光亮的釉光层，比正常摩擦块的摩擦系数要低，不仅会产生尖叫，而且还会降低制动效果。一般情况下，釉光现象是因为频繁地紧急制动而产生的，也有可能是摩擦片表面沾有油污而造成的。因此，平时应注意轮缸活塞密封圈、缸体、轮毂等是否有损坏而漏油。 (4)制动盘制动时工作面跳动量超过0.05mm，制动盘变形或表面有缺陷而引起尖叫。 2．蹄式制动器制动噪音产生的原因 制动蹄的形状如敞口喇叭，只要有轻微的噪音便会被扩大而变得格外刺耳。 (1)摩擦片材质差。若对摩擦片生产的各种材料配方不当，将会大大降低摩擦性能。摩擦片过硬，配料不均、摩擦系数偏高、摩擦片与制动蹄磨合一致性较差等都会引起局部接触，制动时瞬时温度较高，表面易出现碳化、釉质化，制动时因不平顺而产生自激性振动噪音(2)制动蹄工作面精度低、全跳动量超过0.15mm、动平衡不好等都会使摩擦过程不平顺引起间歇性振动而产生噪音： (3)制动后回位不及时主要是：制动蹄回位弹簧失效、轮缸活塞卡滞不回、连续频繁紧急制动产生的高温使轮缸制动油汽化(又称气阻)等而使制动疲软，容易拖磨；制动蹄与底部的凸台或平面周围锈蚀，或机械损伤．都有可能引起回位滞后拖磨，装配时应涂耐l20℃高温的锂基润滑脂，以改善滑动性；领从蹄式制动器大都为制动间隙可自动调整，在连续下长坡或频繁制动，制动鼓温度超过1O0 ℃时．将使制动鼓涨大，出现制动性能下降的机械衰退，这时制动蹄自动跟着调大，冷缩后制动蹄不能退回而出现拖磨。
IC测试原理解析
I C测试原理解析 Document serial number【UU89WT-UU98YT-UU8CB-UUUT-UUT108】
IC测试原理解析3 存储器和逻辑芯片的测试? ?存储器芯片测试介绍? ?存储器芯片是在特定条件下用来存储数字信息的芯片。存储的信息可以是操作代码，数据文件或者是二者的结合等。根据特性的不同，存储器可以分为以下几类，如表1所示：? ? ?存储器术语的定义? ?在讨论存储器芯片测试之前，有必要先定义一些相关的术语。? ?写入恢复时间(Write?Recovery?Time):一个存储单元在写入操作之后和正确读取之前中间必须等待的时间。? ? ;?保持时间(Hold?Time):输入数据电平在锁存时钟之后必须保持的时间间隔。? ?Pause?Test:存储器内容保持时间的测试。? ?刷新时间(Refresh?Time):存储器刷新的最大时间间隔。? ?建立时间(Setup?Time):输入数据电平在锁存时钟之前必须稳定保持的时间间隔。? ?上升和下降时间(Rise?and?Fall?Times)：功能速度测试是通过重复地进行功能测试，同时改变芯片测试的周期或频率来完成的。测试的周期通常使用二进制搜索的办法来进行改变。这些测试能够测出芯片的最快运行速度。? ?写入恢复(Write?Recovery):一个存储单元在写入操作之后和下一个存储单元能正确读取之前中间必须等待的时间。? ?读取时间(Access?time):通常是指在读使能，片选信号或地址改变到输出端输出新数据的所需的最小时间。读取时间取决于存储器读取时的流程。?
?存储器芯片测试中的功能测试? ?存储器芯片必须经过许多必要的测试以保证其功能正确。这些测试主要用来确保芯片不包含一下类型的错误：? ?存储单元短路：存储单元与电源或者地段路? ?存储单元开路：存储单元在写入时状态不能改变相邻单元短路：根据不同的短路状态，相邻的单元会被写入相同或相反的数据地址? ?开路或短路：这种错误引起一个存储单元对应多个地址或者多个地址对应一个存储单元。这种错误不容易被检测，因为我们一次只能检查输入地址所对应的输出响应，很难确定是哪一个物理地址被真正读取。? ?存储单元干扰：它是指在写入或者读取一个存储单元的时候可能会引起它周围或者相邻的存储单元状态的改变,也就是状态被干扰了。? ?存储器芯片测试时用于错误检测的测试向量? ?测试向量是施加给存储器芯片的一系列的功能，即不同的读和写等的功能组合。它主要用于测试芯片的功能错误。常用的存储器测试向量如下所示，分别介绍一下他们的执行方式以及测试目的.? -------------------------------------------------------------------------------- ?全”0”和全”1”向量:?4n行向量? ?执行方式：对所有单元写”1”再读取验证所有单元。对所有单元写”0”再读取验证所有单元。? ?目的：检查存储单元短路或者开路错误。也能检查相邻单元短路的问题。?
齿轮传动噪声产生原因及控制
齿轮传动噪声产生原因及控制 摘要:结合多年的实际工作经验，分析齿轮传动噪音的产生的原因，同时，就如何控制和减少噪音，提出了一些比较实用的方法，仅供相关人士参考。 关键词：齿轮传动、噪音、消除、共振、渐开线 齿轮传动的噪音是很早以前人们就关注的问题。但是人们一直未完全解决这一问题，因为齿轮传动中只要有很少的振动能量就能产生声波形成噪音。噪音不但影响周围环境，而且影响机床设备的加工精度。由于齿轮的振动直接影响设备的加工精度，满足不了产品生产工艺要求。因此，如何解决变速箱齿轮传动的噪音尤为重要。下面谈谈机械设备设计和修理中消除齿轮传动噪音的几种简单方法。 1 噪音产生的原因 1.1 转速的影响 齿轮传动若转速较高，则齿轮的振动频率增高，啮台冲击更加频繁，高频波更高。据有关资料介绍，转速在1400转/分钟时产生的振动频率达5000H。产生的声波达88dB形成噪音软。一般光学设备变速箱输出轴的转速都较高。高达2000~2800转/分钟。因此，光学设备要解决噪音问题是需要研究的。 1.2 载荷的影响 我们将齿轮传动作为一个振动弹簧体系，齿轮本身作为质量的振动系统。那么该系统由于受到变化不同的冲击载荷，产生齿轮圆周方向扭转振动，形成圆周方向的振动力。加上齿轮本身刚性较差就会产生周期振幅出现噪音。这种噪音平稳而不尖叫。 1.3 齿形误差的影响 齿形误差对齿轮的振动和噪音有敏感的影响。齿轮的齿形曲线偏离标准渐开线形状，它的公法线长度误差也就增大。同时齿形误差的偏离量使齿顶与齿根互相干扰，出现齿顼棱边啮合，从而产生振动和噪音。 1.4 共振现象的影响 齿轮的共振现象是产生噪音的重要原因之一。所谓共振现象就是一个齿轮由于刚性较差齿轮本身的固有振动频率与啮合齿轮产生相同的振动频率，这时就会产生共振现象。由于共振现象的存在，齿轮的振动频率提高，产生高一级的振动噪音。要解决共振现象的噪音问题，只有提高齿轮的刚性。 1.5 啮合齿面的表面粗糙度影响 齿轮啮合面粗糙度会激起齿轮圆周方向振动，表面粗糙度越差，振动的幅度越大，频率越高，产生的噪音越大。 1.6 润滑的影响 对啮合齿轮齿面润滑良好可以减少齿轮的振动力，它与润滑的方法有关。据有关资料介绍，齿轮箱中企图增加润滑油的数量，提高润滑油面的高度或用润滑粘度较高的润滑油来减少齿轮箱的振动和噪音其收效甚少。若采用齿轮啮合面上充分注入润滑的方法进行强制性润
IC测试原理
IC测试原理解析(第一部分) 本系列一共四章，下面是第一部分，主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理， 内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。 第一章 数字集成电路测试的基本原理 器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这 样器件被测试的条件类似于将来应用的环境。 首先有一点必须明确的是，测试成本是一个很重要的因素，关键目的之一就是帮助降低器件的生产成本。甚至在优化的条件下，测试成本有时能占到器件总体成本的40%左右。良品率和测试时间必须达到一个平衡，以取得最好的成本效率。 第一节 不同测试目标的考虑 依照器件开发和制造阶段的不同，采用的工艺技术的不同，测试项目种类的不同以及待测器件的不同，测试技术可以分为很多种类。 器件开发阶段的测试包括: ? 特征分析：保证设计的正确性，决定器件的性能参数; ? 产品测试：确保器件的规格和功能正确的前提下减少测试时间提高成本效率 ? 可靠性测试：保证器件能在规定的年限之内能正确工作; ? 来料检查：保证在系统生产过程中所有使用的器件都能满足它本身规格书要求，并能正确工作。 制造阶段的测试包括: ?圆片测试：在圆片测试中，要让测试仪管脚与器件尽可能地靠近，保证电缆，测试仪和器件之间的阻抗匹配，以便于时序调整和矫正。因而探针卡的阻抗匹配和延时问题必须加以考虑。 ? 封装测试：器件插座和测试头之间的电线引起的电感是芯片载体及封装测试的一个首要的考虑因素。 ? 特征分析测试，包括门临界电压、多域临界电压、旁路电容、金属场临界电压、多层间电阻、金属多点接触电阻、扩散层电阻、 接触电阻以及FET寄生漏电等参数测试。 通常的工艺种类包括: ? TTL
IC测试原理 IC设计必备宝典
第1章认识半导体和测试设备 更多.. 1947年，第一只晶体管的诞生标志着半导体工业的开始，从那时起，半导体生产和制造技术变得越来越重要... 第1节 晶圆、晶片和封装 第3节 半导体技术 第5节 测试系统的种类 第7节 探针卡（ProbeCard） 第2节 自动测试设备 第4节 数字和模拟电路 第6节 测试负载板（LoadBoard）... 第2章半导体测试基础 更多.. 半导体测试程序的目的是控制测试系统硬件以一定的方式保证被测器件达到或超越它的那些被具体定义在器件规格书里的设计指标... 第1节 基础术语 第3节 测试系统 第5节 管脚电路 第2节 正确的测试方法 第4节 PMU 第6节 测试开发基本规则 第3章基于PMU的开短路测试 更多.. Open-Short Test也称为Continuity Test或Contact Test，用以确认在器件测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路... 第1节 测试目的 第2节 测试方法 第4章DC参数测试 更多.. 测试程序流程中的各个测试项之间的关系对DC测试来说是重要的，很多DC测试要求前提条件... 第1节基本术语 第3节VOL/IOL 第5节Static IDD 第7节IIL / IIH 第11节High Impedance Curren... 第2节VOH/IOH 第4节Gross IDD 第6节IDDQ & Dynamic IDD 第8节Resistive Input & Outpu...
第12节IOS test 第5章功能测试 更多.. 功能测试是验证DUT是否能正确实现所设计的逻辑功能，为此，需生成测试向量或真值表以检测DUT中的错误，真值表检测错误的能力可用故障覆盖率衡量，测试向量和测试时序组成功能测试的核心... 第1节基础术语 第3节输出数据 第5节Vector Data 第7节Gross Functional Test an... 第9节标准功能测试 第2节测试周期及输入数据 第4节Output Loading for AC Te... 第6节Functional Specification... 第8节Functionally Testing a D... 第6章AC参数测试 更多.. 第1节 测试类型 第1节 晶圆、晶片和封装
斑点噪声的形成原理与斑点噪声模型
第二章相干斑点噪声的形成原理与斑点噪声模型 相干斑点噪声是SAR影像的重要特征之一。要进行新滤波器的设计和开发，有必要了解斑点噪声的形成原理和斑点噪声模型以及其他相关知识，因此本章就斑点噪声的形成原理，概率分布函数、自相关函数、功率谱以及人们比较公认的斑点噪声模型做一个简要的介绍。 2.1 斑点噪声的形成原理 SAR影像上的斑点噪声是这样形成的[31]，即当雷达波照射一个雷达波长尺度的粗糙表面时，返回的信号包含了一个分辨单元内部许多基本散射体的回波，由于表面粗糙的原因，各基本散射体与传感器之间的距离是不一样的，因此，尽管接收到的回波在频率上是相干的，回波在相位上已不再是相干的；如果回波相位一致，那么接收到的是强信号，如果回波相位不一致，则接收到的是弱信号。一幅SAR影像是通过对来自连续雷达脉冲的回波进行相干处理而形成的。其结果是导致回波强度发生逐像素的变化，这种变化在模式上表现为颗粒状，称为斑点噪声（Speckle）。SAR影像上斑点噪声的存在产生了许多后果，最明显的后果就是用单个像素的强度值来度量分布式目标的反射率会发生错误。 斑点噪声在SAR影像上表现为一种颗粒状的、黑白点相间的纹理。例如，对于一个均匀目标，如一片草覆盖的地区，在没有斑点噪声影响的情况下，影像上的像素值会呈现淡的色调（图2.1 A）；然而，每个分辨单元内单个草的叶片的回波会导致影像上某些像素比平均值更亮，而另外一些像素则比平均值更暗（图2.1 B），这样，该目标就表现出斑点噪声效果[32]。 图2.1 斑点噪声的影响效果 2.2 斑点噪声的特征[33]
2.2.1 斑点噪声的概率分布函数 2.2.1.1单视SAR 图像 前人在光学和SAR 影像斑点噪声的理论分析上已经做了大量工作[31]、[34] 。单视图像的斑点噪声服从负指数分布，对均匀的目标场景，图像的像素强度的概率分布为： I I I I p ) /exp()(-= (2.1) 若以振幅A 或分贝值D 来表示，它们与强度I 的关系为 I=A 2 (2.2) I I D ln 10 ln 10log 1010== (2.3) 所以强度概率分布可以直接转化为下式： )/e x p (2)(2I A I A A p -= (2.4) I K I K D K D D p ))/e x p (e x p ()(-= (2.5) 其中k=10/ln10。它们均为Rayleigh 分布。 2.2.1.2多视SAR 图像 为了提高图像的信噪比要进行多视处理，多视处理是对同一场景的n 个不连续的子图像的平均。n 个独立子图像非相干迭加将改变斑点噪声的概率分布，强度I 的概率分布变成Gamma 分布： )/e x p ()!1()(1 I nI I n I n I p n n n --=- (2.6) )/e x p ()!1(2)(21 2I nA I n A n A p n n n --=- (2.7) ))/e x p (e x p ()!1()(I K D n K nD I n K n D p n n --= (2.8) 2.2.2 斑点噪声的自相关函数 斑点噪声的自相关函数具有指数分布形式如图2.2[33]，可以看出在初始处有较宽的范围及噪声谱的非均匀性，即斑点噪声非白噪声。这可以用成像时邻域像素的相互干扰来解释。 2.2.3斑点噪声的功率密度谱 斑点噪声的功率谱密度如图2.3[33]所示呈椭圆结构，可用经验方程表示：
变压器现场噪音的产生原因
变压器现场噪音的产生原因 变压器噪声是变压器运行时的固有特性，国家相关标准对其有严格的声级限值规定，但随着用户环保意识的提高，反映变压器现场噪音偏大的投诉也逐渐增多，并且反映的噪音水平也往往比工厂出厂测试数据偏大不少，我司根据一些现场处理经验，分析有以下原因，以供参考： 1、电压问题 原因：电压高，会使变压器过励磁，响声增大且尖锐，直接严重影响变压器的噪音。 判断方法：先看看低压输出电压，不能看低压柜上的电压表，该电压表只起指示作用，应该采用较为准确的万用表进行测量。 解决方法：现在城市里的10KV电压普遍偏高，根据低压侧输出电压，这时应该把分接档放在适合档位。在保证低压供电质量的前提下，尽量把高压分接向上调（低压输出电压降低），以此消除变压器的过励磁现象，同时降低变压器的噪音。 2、风机、外壳、其他零部件的共振问题 原因：风机、外壳、其他零部件的共振将会产生噪音，一般会误认为是变压器的噪音。 判断方法：1）外壳：用手按一下外壳铝板（或钢板），看噪音是否变化，如发生变化就说明，外壳在共振。 2）风机：用干燥的长木棍顶一下每个风机的外壳，看噪音是否变化，如发生变化就说明，风机在共振。 3）其他零部件：用干燥的长木棍顶一下变压器每个零部件（如：轮子、风机支架等），看噪音是否变化，如发生变化就说明零部件在共振。 解决方法：1）看外壳铝板（或钢板）是否松动，有可能安装时踩变形，需要紧一下外壳的螺丝，将外壳的铝板固定好，对变形的部分进行校正。 2）看风机是否松动，需要紧一下风机的紧固螺栓，在风机和风机支架之间垫一小块胶皮，可以解决风机振动问题。 3）如变压器零部件松动，则需要固定。 3、安装的问题
IC测试基本原理
本系列一共四章，下面是第一部分，主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理，内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。 器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这样器件被测试的条件类似于将来应用的环境。 首先有一点必须明确的是，测试成本是一个很重要的因素，关键目的之一就是帮助降低器件的生产成本。甚至在优化的条件下，测试成本有时能占到器件总体成本的40%左右。良品率和测试时间必须达到一个平衡，以取得最好的成本效率。 第一节不同测试目标的考虑 依照器件开发和制造阶段的不同，采用的工艺技术的不同，测试项目种类的不同以及待测器件的不同，测试技术可以分为很多种类。 器件开发阶段的测试包括: ·特征分析：保证设计的正确性，决定器件的性能参数; ·产品测试：确保器件的规格和功能正确的前提下减少测试时间提高成本效率 ·可靠性测试：保证器件能在规定的年限之内能正确工作; ·来料检查：保证在系统生产过程中所有使用的器件都能满足它本身规格书要求，并能正确工作。 制造阶段的测试包括: ·圆片测试：在圆片测试中，要让测试仪管脚与器件尽可能地靠近，保证电缆，测试仪和器件之间的阻抗匹配，以便于时序调整和矫正。因而探针卡的阻抗匹配和延时问题必须加以考虑。 ·封装测试：器件插座和测试头之间的电线引起的电感是芯片载体及封装测试的一个首要的考虑因素。·特征分析测试，包括门临界电压、多域临界电压、旁路电容、金属场临界电压、多层间电阻、金属多点接触电阻、扩散层电阻、接触电阻以及FET寄生漏电等参数测试。 通常的工艺种类包括: · TTL · ECL · CMOS · NMOS · Others 通常的测试项目种类: ·功能测试：真值表，算法向量生成。 ·直流参数测试：开路/短路测试，输出驱动电流测试，漏电电源测试，电源电流测试，转换电平测试等。·交流参数测试：传输延迟测试，建立保持时间测试，功能速度测试，存取时间测试，刷新/等待时间测试，上升/下降时间测试。 第二节直流参数测试 直流测试是基于欧姆定律的用来确定器件电参数的稳态测试方法。比如，漏电流测试就是在输入管脚施加电压，这使输入管脚与电源或地之间的电阻上有电流通过，然后测量其该管脚电流的测试。输出驱动电流测试就是在输出管脚上施加一定电流，然后测量该管脚与地或电源之间的电压差。
详解风机噪音产生的原因及有关公式
详解风机噪音产生的原因及有关公式 风机产生噪音的原因及公式 风机产生噪音的原因及公式： 噪音是一种使人感觉吵杂厌烦的声音，其程度有时是随人的心情而异。但连续的噪音，也会使週遭受到污染。但连续的噪音，也会使周遭受到污染。一般风机产生噪音之塬因可分述如下：一般风机产生噪音之塬因可分述如下： 1.因叶片回转而产生噪音 叶片旋转时会与空气产生摩擦，或发生衝击。叶片旋转时会与空气产生摩擦，或发生冲击。转速愈快，接解空气频率愈高，其噪音愈尖锐。转速愈快，接解空气频率愈高，其噪音愈尖锐。叶片之宽度或厚度增加，此现象更为明显。叶片之宽度或厚度增加，此现象更为明显。噪音的频率是由多种频率复合而成，这些频率均与风机之转速有关。噪音的频率是由多种频率复合而成，这些频率均与风机之转速有关。 轴流风机若有动翼与静翼的配置时，两者之叶片数最好不等，以免造成更大的噪音共鸣。轴流风机若有动翼与静翼的配置时，两者之叶片数最好不等，以免造成更大的噪音共鸣。但无论是轴流式或离心式风机，凡是风速快的、风压高的，其产生之噪音也大。但无论是轴流式或离心式风机，凡是风速快的、风压高的，其产生之噪音也大。 2.因叶片产生涡流时也会产生噪音 在风机运转期间，其动翼之背面会产生涡流，此涡流不但会降低风机的效率，而且会产生噪音。在风机运转期间，其动翼之背面会产生涡流，此涡流不但会降低风机的效率，而且会产生噪音。为减低此现象，叶片的安装角不得过大，且扇叶弯曲需平滑，切勿突然变化太大。为减低此现象，叶片的安装角不得过大，且扇叶弯曲需平滑，切勿突然变化太大。 3.因乱流而产生噪音 空气在流动时，若碰到尖锐的障碍物，极易发生乱流。此乱流虽然与涡流的情况不同，同样会产生噪音，或频率甚高的啸音，对风机而言亦会造成效率损失。此乱流虽然与涡流的情况不同，同样会产生噪音，或频率甚高的啸音，对风机而言亦会造成效率损失。 4.与风管外壳产生共振而发生噪音 风管与风机外壳的内面接缝处要平整，避免粗糙不平，造成撕裂声。风管与风机外壳的内面接缝处要平整，避免粗糙不平，造成撕裂声。而由于接连的管路会产生共振，使细微的声音变大，造成更大的噪音。而由于接连的管路会产生共振，使细微的声音变大，造成更大的噪音。在设计时，有时可以在风管外面覆以防音材料，可以降低噪音。在设计时，有时可以在风管外面覆以防音材料，可以降低噪音。 5.风机以外引起的噪音
IC测试原理解析 第三部分-混合信号芯片
IC测试原理解析(第三部分) 芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是第三章。我们在第一章介绍了芯片测试的基本原理；第二章讨论了怎么把这些基本原理应用到存储器和逻辑芯片的测试上；本文主要介绍混合信号芯片的测试；接下来的第四章将会介绍射频/无线芯片的测试。 第三章混合信号芯片测试基础 基于DSP的测试技术 利用基于数字信号处理(DSP)的测试技术来测试混合信号芯片与传统的测试技术相比有许多优势。这些优势包括： 由于能并行地进行参数测试，所以能减少测试时间； 由于能把各个频率的信号分量区分开来(也就是能把噪声和失真从测试频率或者其它频率分量中分离出来)，所以能增加测试的精度和可重复性。 能使用很多数据处理函数，比如说求平均数等，这对混合信号测试非常有用 采样和重建 采样用于把信号从连续信号(模拟信号)转换到离散信号(数字信号)，重建用于实现相反的过程。自动测试设备(A TE)依靠采样和重建给待测芯片(DUT)施加激励信号并测量它们的响应。测试中包含了数学上的和物理上的采样和重建。图1中说明了在测试一个音频接口芯片时用到的各种采样和重建方法。 采样和重建在混合信号测试中的应用
纯数学理论上，如果满足某些条件，连续信号在采样之后可以通过重建完全恢复到原始信号，而没有任何信号本质上的损失。不幸的是，现实世界中总不能如此完美，实际的连续信号和离散信号之间的转换总会有信号的损失。 我们周围物理世界上的许多信号，比如说声波、光束、温度、压力在自然界都是模拟的信号。现今基于信号处理的电子系统都必须先把这些模拟信号转换为能与数字存储，数字传输和数学处理兼容的离散数字信号。接下来可以把这些离散数字信号存储在计算机阵列之中用数字信号处理函数进行必要的数学处理。 重建是采样的反过程。此过程中，被采样的波形(脉冲数字信号)通过一个数模转换器(DAC)和反镜象滤波器一样的硬件电路转换为连续信号波形。重建会在各个采样点之间填补上丢失的波形。DAC和滤波器的组合就是一个重建的过程，可以用图2所示的冲击响应p(t)来表示。 由一个数据序列重建连续时间波形 混合信号测试介绍 最常见的混合信号芯片有：模拟开关，它的晶体管电阻随着数字信号变化；可编程增益放大器(PGAs)，能用数字信号调节输入信号的放大倍数；数模转换电路(D/As or DACs)；模数转换电路(A/Ds or ADCs)；锁相环电路(PLLs)，常用于生成高频基准时钟或者从异步数据流中恢复同步时钟。
风机噪音产生的原因及有关公式
风机噪音产生的原因及有关公式 风机产生噪音的原因及公式 风机产生噪音的原因及公式： 噪音是一种使人感觉吵杂厌烦的声音，其程度有时是随人的心情而异。但连续的噪音，也会使週遭受到污染。但连续的噪音，也会使周遭受到污染。一般风机产生噪音之塬因可分述如下：一般风机产生噪音之塬因可分述如下： 1.因叶片回转而产生噪音 叶片旋转时会与空气产生摩擦，或发生衝击。叶片旋转时会与空气产生摩擦，或发生冲击。转速愈快，接解空气频率愈高，其噪音愈尖锐。转速愈快，接解空气频率愈高，其噪音愈尖锐。叶片之宽度或厚度增加，此现象更为明显。叶片之宽度或厚度增加，此现象更为明显。噪音的频率是由多种频率复合而成，这些频率均与风机之转速有关。噪音的频率是由多种频率复合而成，这些频率均与风机之转速有关。 轴流风机若有动翼与静翼的配置时，两者之叶片数最好不等，以免造成更大的噪音共鸣。轴流风机若有动翼与静翼的配置时，两者之叶片数最好不等，以免造成更大的噪音共鸣。但无论是轴流式或离心式风机，凡是风速快的、风压高的，其产生之噪音也大。但无论是轴流式或离心式风机，凡是风速快的、风压高的，其产生之噪音也大。 2.因叶片产生涡流时也会产生噪音 在风机运转期间，其动翼之背面会产生涡流，此涡流不但会降低风机的效率，而且会产生噪音。在风机运转期间，其动翼之背面会产生涡流，此涡流不但会降低风机的效率，而且会产生噪音。为减低此现象，叶片的安装角不得过大，且扇叶弯曲需平滑，切勿突然变化太大。为减低此现象，叶片的安装角不得过大，且扇叶弯曲需平滑，切勿突然变化太大。 3.因乱流而产生噪音 空气在流动时，若碰到尖锐的障碍物，极易发生乱流。此乱流虽然与涡流的情况不同，同样会产生噪音，或频率甚高的啸音，对风机而言亦会造成效率损失。此乱流虽然与涡流的情况不同，同样会产生噪音，或频率甚高的啸音，对风机而言亦会造成效率损失。 4.与风管外壳产生共振而发生噪音 风管与风机外壳的内面接缝处要平整，避免粗糙不平，造成撕裂声。风管与风机外壳的内面接缝处要平整，避免粗糙不平，造成撕裂声。而由于接连的管路会产生共振，使细微的声音变大，造成更大的噪音。而由于接连的管路会产生共振，使细微的声音变大，造成更大的噪音。在设计时，有时可以在风管外面覆以防音材料，可以降低噪音。在设计时，有时可以在风管外面覆以防音材料，可以降低噪音。 5.风机以外引起的噪音
IC测试原理解析 第一部分-芯片测试
IC测试原理解析 主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理，内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。 第一章数字集成电路测试的基本原理 器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。因此，测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口，懂得怎样模拟器件将来的电操作环境，这样器件被测试的条件类似于将来应用的环境。 首先有一点必须明确的是，测试成本是一个很重要的因素，关键目的之一就是帮助降低器件的生产成本。甚至在优化的条件下，测试成本有时能占到器件总体成本的40%左右。良品率和测试时间必须达到一个平衡，以取得最好的成本效率。 第一节不同测试目标的考虑 依照器件开发和制造阶段的不同，采用的工艺技术的不同，测试项目种类的不同以及待测器件的不同，测试技术可以分为很多种类。 器件开发阶段的测试包括: ?特征分析：保证设计的正确性，决定器件的性能参数; ?产品测试：确保器件的规格和功能正确的前提下减少测试时间提高成本效率 ?可靠性测试：保证器件能在规定的年限之内能正确工作; ?来料检查：保证在系统生产过程中所有使用的器件都能满足它本身规格书要求，并能正确工作。 制造阶段的测试包括: ?圆片测试：在圆片测试中，要让测试仪管脚与器件尽可能地靠近，保证电缆，测试仪和器件之间的阻抗匹配，以便于时序调整和矫正。因而探针卡的阻抗匹配和延时问题必须加以考虑。 ?封装测试：器件插座和测试头之间的电线引起的电感是芯片载体及封装测试的一个首要的考虑因素。 ?特征分析测试，包括门临界电压、多域临界电压、旁路电容、金属场临界电压、多层间电阻、金属多点接触电阻、扩散层电阻、接触电阻以及FET寄生漏电等参数测试。 通常的工艺种类包括:
空调产生噪音的4种原因等
空调产生噪音的4种原因等 1.空调产生噪音的4种原因 2.如何解决中央空调清洗问题 3.空调室外支架需五年一更换 4.空调安装需遵循的要点 空调产生噪音的4种原因 1.空调面板的松动 空调面板的松动。当长期使用空调后，空调的面板很容易因为各种原因造成松动，这样，空调在运转时产生的震动就会让面板互相的摩擦，从而产生噪音。 2.空调室内机的安装 空调室内机的安装与室外机连接的连接情况也影响空调的时机使用与噪音。如果室内机安装的不够稳定，当室外机运转后，铜管连接着室内机，室内机不够稳固后就会受到压缩机的影响，从而导致室内机共振。 3.压缩机运转 空调室外压缩机。这也是空调噪音的来源之一，压缩机的噪音值过大也会影响我们正常用户的使用与休息。
4.空调出风口 空调的主要噪音来源就是空调的出风口，当空调开启的风速越大，空调的噪音值当然也就慢慢变大，这是空调的主要噪音值来源之一。 如何解决中央空调清洗问题 据中国空调平台获悉，中央空调清洗不干净，容易导致空调病等“办公室综合征”增多。这种病之所以危险，还在于它的诊断有一定的难度，因为要明确诊断必须对患者痰液做七天以上的培养，由于要求很高，所以普通医院不具备此能力。虽然患上“军团”病的概率相对于其他空调病种要低，但一旦患上“军团杆菌”肺炎将非常可怕。此病在没有免疫缺陷的正常人中，死亡率为30％，经过治疗后死亡率可降低为5％。而如果是有免疫缺陷的人，该数字将激升至70％。 每逢炎夏，医院都收治不少空调病患者，多数表现为鼻塞、头昏、打喷嚏、喉咙干、耳鸣、眼睛刺痛、皮肤过敏等症状。看起来似乎是室内外温差过大造成的，但真正的致病原其实就是在中央空调里乱蹿的细小颗粒，当然也包括今年备受关注的PM2.5。长时间不清洗中央空调，PM2.5将会长时间留存在公共场所，不仅容易导致“空调病”，还能产生其他危害。南京一位呼吸科专家说，“如果有人吸烟，那么情况会
IC测试原理：存储器和逻辑芯片测试
１ 存储器芯片测试 存储器芯片是在特定条件下用来存储数字信息的芯片。存储的信息可以是操作代码，数据文件或者是二者的结合。根据特性的不同，存储器可以分为以下几类，如表１所示。大允许时间间隔。 建立时间（Ｓｅｔｕｐ Ｔｉｍｅ）：输入数据电平在锁存时钟之前必须稳定保持的时间间隔。 速度（Ｓｐｅｅｄ）：功能速度测试是通过重复地进行功能测试，同时改变芯片测试的周期或频率来完成的。测试的周期通常使用二进制搜索的办法来进行改变。这些测试能够测出芯片的最快运行速度。 读取时间（Ａｃｃｅｓｓ ｔｉｍｅ）：通常是指在读使能，芯片被选中或地址改变到输出端输出新数据的所需的时间。读取时间取决于存取单元排列次序。 ３ 存储器芯片所需的功能测试存储器芯片必须经过许多必要的测试以保证其功能正确。这些测试主要用来确保芯片不包含以下任何一种类型的错误： 存储单元短路：存储单元与电源或者地短路。 存储单元开路：存储单元在写入时状态不能改变。 相邻单元短路：根据不同的生产工艺，相邻的单元会被写入相同或相反的数据。 地址开路或短路：这种错误引起一个存储单元对应多个地址或者多个地址对应一个存储单元。这种错误不容易被检测，因为我们一次只能检查输入地址所对应的输出响应，很难确定是哪一个物理地址被真正读取。 存储单元干扰：它是指在写入或者读取一个存储单元的时候可能会引起它相邻的存储单元状态的改变，也就是状态被干扰了。 ４ 存储器芯片测试时用于错误检 测的测试向量 测试向量是施加给存储器芯片的一系列的功 ＩＣ测试原理－存储器和逻辑芯片的测试 许伟达 （科利登系统有限公司） 存储器的种类 闪存（Ｆｌａｓｈ） 只读存储器（ＲＯＭ） 静态随机读取存储器 （ＳＲＡＭ） 电可编程只读存储器（ＥＰＲＯＭ） 电可编程可擦除编程只读存 储器（ＥＥＰＲＯＭ） 动态随机读取存储器（ＤＲＡＭ） 特性 低成本，高密度，速度快；低功耗，高可靠性 成熟的技术，高密度，可靠的，低成本；写入速度慢，适用于固定代码存储的批量产品 速度最快，高功耗，低密度；较低的密度关系使其生产成本上升较高 高密度；必须通过紫外线照射来擦除内存数据 以字节方式进行电擦除；低可靠性，高成本，密度最低 高密度，低成本，高速度，高功耗 表１ 存储器的种类与特性 ２ 存储器术语的定义 在讨论存储器芯片测试之前，有必要先定义一 些相关的术语。 写入恢复时间（Ｗｒｉｔｅ Ｒｅｃｏｖｅｒｙ Ｔｉｍｅ）：一个 存储单元在写入操作之后到能正确读取之前这中间 必须等待的时间。 锁存时间（Ｈｏｌｄ Ｔｉｍｅ） ：输入数据电平在锁存 输入时钟之后必须保持的时间间隔。 数据保存时间（Ｐａｕｓｅ Ｔｅｓｔ）：存储器单元 能保持它们状态的时间，也是存储器内容能保持时 间的测试。 刷新时间（Ｒｅｆｒｅｓｈ Ｔｉｍｅ） ：存储器刷新前的最 半导体技术第３１卷第５期２００６年５月350
轴承噪声的产生原因和控制办法
轴承噪声的产生原因和控制办法 轴承的振动噪声，是考核轴承综合质量的主要指标之一。轴承噪声不仅直接影响主机的性能，而且过大的噪声还会对操作者造成噪声疲劳。随着我国机械工业的高速发展，提供低噪声的轴承，是轴承行业的一项重要任务，也是我公司的努力方向。1．产生原因： 噪声来源主要有以下几种。一种是轴承的结构形式、套圈壁厚、原始游隙、保持架形状、滚动体数量等固有因素所引起。另一种是因轴承零件制造时所产生的种种缺陷（如套圈和滚动体波纹、内圈滚道宽度不一致、保持架底高变动量超差、成品清洁度不好、滚道磕碰伤、中外径斜面磕碰以及残磁超标等）。 2．应对措施： （1）对设计方案进一步研究，力求设计更合理。 （2）加强对车加工产品质量的控制，特别是对小挡边宽度的控制，确保滚道宽度的一致性。从现在起，车加工产品的滚道宽度作为一个必检项目，从严进行控制，确保滚道宽度符合产品图的要求。 （3）加强对保持架质量的控制，对没有光饰的保持架或虽光饰但毛刺很大的保持架，坚决拒收。对保持架底高变动量超标的保持架也坚决拒收。 (4)加强工序间产品质量的控制，杜绝滚道磕碰伤，最大限度
地降低滚动面（内外圈滚道和滚子表面）的振纹，降低波纹度。 (5)加强工艺研究，提高产品的加工工艺水平，特别是内圈壁厚差的控制要符合要求。 (6)加强对设备的维护和保养，确保关键设备的加工能力和质量，确保关键设备的能力保障系数Cpk≥1.33。 (7)提高操作工的技能，提高他们调整机床的操作技能，使产品的加工精度有一个质的飞跃。 (8)配备应有的工位器具，减少运输过程中的磕碰伤，尽量减少产品返工，减少装卸次数。加强转运过程中的管理，做到轻拿轻放，杜绝人为磕碰。 (9)提高成品的清洁度，首先从提高零件清洁度开始，清洗剂和清洗煤油要按规定定期更换。 各单位要加强管理，树立“质量第一”思想。头脑中始终牢记质量是企业的生存之本，立足之根，发展之源。质量就是效益，没有质量，企业就没有效益，质量是企业追求的永恒主题，时刻抓牢质量这根弦。各单位主管是质量的第一责任人，质量的好坏，主要取决于部门主管的思想认识。部门主管重视，产品质量就好;部门主管不重视，或者重视不够，产品质量就不可能好。我们一定要花大力气，积极引导全体员工，切实把提高产品质量放在事关企业生存和发展的战略高度上来，确保产品质量的稳定合格。
电机振动噪音的原因及对策
电机振动噪音的原因及对策 发表时间：2019-09-17T09:08:06.447Z 来源：《基层建设》2019年第18期作者：赖桂青 [导读] 摘要：世界经济的发展和制造自动化的提高，电机的用量与日俱增。 广东松下环境系统有限公司 528305 摘要：世界经济的发展和制造自动化的提高，电机的用量与日俱增。尤其是在新能源汽车、家电及工业等领域内得到广泛应用，但是由于电机噪音的不合格引起相关产品的振动、噪音问题，会影响电机的可靠性和安全性。关于电机噪音的研究十分复杂，其中涉及机械振动、物理声学、数学、电磁等多个领域，它不仅仅受电机某个运动部件的影响，还要考虑电机的整体。根据噪音产生的原因，通常将电机噪音分为电磁噪音、机械噪音和空气动力噪声。 关键词：电机噪音、原因、对策 引言 振动与噪音是电机重要的技术指标，如何降低电机的振动与噪音是中小型电机行业中普遍存在的问题。根据噪音产生的原因，通常将电机噪音分为电磁噪音、机械噪音和通风噪音。 1 电磁噪音 电机电磁噪声产生原因分析电磁噪声是由在时间上和空间上作变化，并由电机各部分之间作用的磁拉力引起的。 对于异步电机电磁噪声的形成的原因可以归为： （1）气隙空间的磁场是一个旋转力波，它的径向力波使定子和转子发生径向变形和周期性震动，产生了电磁噪声。 （2）气隙磁场中除了电源基波分量外，还有高次谐波分量，高次谐波的径向力波也都分别作用于定转子铁心上，使它们产生径向变形和周期震动，在一般情况下，对高次谐波来说，电动机转子刚度相对较强，定子铁心的径向变形是主要的，可能产生较大的噪声。（3）定子铁心不同阶次谐波的变形，有不同的固有频率，当径向力波的频率与铁心的某个固有频率接近或相等时，就会引起“共振”。在这种情况下，即使径向力的波幅不大，也会导致铁心变形、周期性震动和产生较大噪声。 （4）定子变形后引起周围空气振动，从而产生噪声。这时，定子相当于一个声辐射器。 （5）当铁心饱和时，将会使磁场正弦分布的顶部变得平坦，在磁场分布中加大了三次谐波分量，将使电磁噪声增加。 （6）定转子的槽都是开口的，气隙磁导在旋转时也是在变化和波动的。气隙磁场中出现了很多由于槽开口引入的谐波。 1.1电磁噪音的降低对策 （1）定子、转子的槽数配合。对电机振动和噪音起主要作用的是振动阶数较低、幅值较大的力波，高阶数或磁场幅值较小的力波可以不用考虑。 （2）采用斜槽，不管空载还是负载状态下，斜一个槽距以上的电磁噪音明显低于直槽。这是由于定子或转子采用斜槽能有效地削弱谐波磁场引起的附加转矩和电磁噪音，所以电机转子往往采用斜槽，而且对电机其他性能影响很小，但会使径向力沿轴向长度相位不同，产生了扭转力矩，导致铁心扭转振动，产生噪音。 （3）增大电机气隙。定转子间气隙长度δ增大，气隙磁道降低，可降低气隙谐波磁通密度，由于声功率近似与振幅平方成正比，振动幅值和径向力成正比，径向力与气隙磁密平方成正比，磁通密度与气隙δ成反比。因此，增大气隙长度可降低电磁噪音，但会使电机的功率系数降低，空载电流增大，基本损耗增加，需综合考虑。 2.机械噪音 机械噪音是由电机运转部分的摩擦、撞击、不平衡以及结构共振形成的。还有很大机械噪音都是由轴承引起的。由于轴承随电机转子一起旋转，因滚珠、内圈、外圈表面的不光滑，它们之间有间隙，滚珠的不圆或内部混合杂物，而引起它们间互相碰撞产生振动与噪声。其产生的噪声值与滚珠、内外圈沟槽的尺寸精度、表面粗糙度及形位公差等有很大关系。有人认为，只要采用精密轴承就可以降低轴承噪声，殊不知使用后，反而使噪声增加。原因是轴与轴承内圈的配合过紧，使精密轴承的内圈变形大于普通轴承的变形量，因而跳动、振动加大，噪声上升。所以轴承与轴承室、轴的配合也是非常重要的。 2.1机械噪音的降低对策 （1）根据电机的性质、规格和使用环境严格选择电机转子的平衡精度，减少转子铁芯偏心产生的噪音。 （2）一般应采用密封轴承，防止杂物进入； （3）轴承生产厂在轴承装配前，对滚珠、内圈、外圈的机加工一定要达到设计要求，在装配时，应有严格的退磁清选工序，洗去油污与铁屑。 事实证明，清洗后的轴承比清洗前的轴承噪声一般降低3dB。润滑脂一定要清洁干净，绝不能含有任何铁屑、灰尘和杂质； （4）轴承外圈与轴承室的配合、内圈与轴的配合，一般不宜太紧。轴承外圈与轴承室的配合，其径向间隙宜在3～9μm 的范围内；（5）为消除转子的轴向间隙，必须对轴承施加适当的压力。一般选用波形弹簧垫圈或三点式弹性垫圈，且以放在轴伸端为宜；（6）在装配轴承前，应对轴承进行清洗和消磁，并涂抹相应型号的润滑油，装配时采热胀法，并且轴承压入时应使轴承内圈受力，外圈不能受力，否则会产布氏压痕，从而产生轴承噪音。 3.空气动力噪声 电机的空气动力噪声是由旋转的转子及随轴一起旋转的扇叶，造成空气的流动与变化所产生的。扇叶和转子上某些凸出部位使空气产生冲击和摩擦形成通风噪音，且随扇叶和转子圆周速度的增高而增大，强度与扇叶和通风道的设计好坏有关。也和风道截面的变化和风道形状有关。扇叶噪声在电机的噪声中往往占主要地位。 3.1空气动力噪声降低对策 （1）扇叶的设计风叶采用奇数叶片，最好采用不等分的叶片间距；风叶采用后倾式，并用圆角过渡；合理选择叶片形状；扇外径与端盖间的距离为扇叶外径的10％-15％；扇叶应具有良好的动平衡。 （2）风道中尽量减少障碍物，有专用风道的宜采用流线形风道，风道 的截面变化不要突然；风道的设计合理设计风路系统，降低空气阻尼；改变风道方向时，采用大的半径；风道截面积应逐渐变化。
CPU芯片测试技术
CPU芯片测试技术
目录 第一章 CPU芯片封装概述 1.1 集成电路的发展 (4) 1．1．1 世界集成电路的发展 (4) 1．1．2 我国集成电路的发展 (5) 1．1．3 CPU芯片的发展 (6) 1.2 CPU构造原理 (10) 1．3 .1 CPU工作原理 (11) 1．3．2 CPU的工作流程 (12) 1.4 CPU性能指标 (12) 第二章测试 2.1 可靠性测试 (23) 2.2 测试分类 (24) 2.3 测试过程 (24) 2.4 电性能测试 (25) 2.5 电功能测试 (26) 2.6 测试环境条件 (26) 第三章 CPU芯片测试设备 3.1 测试设备介绍 (28) 3．1．1 Handler(传送机)介绍 (28) 3．1．2 Tester(测试机)介绍 (29) 3．1．3 Chiller(温控设备)介绍 (29) 3.2 测试系统 (30) 3．2．1 SUMMIT ATC 2.13 (温度控制系统) (30) 3．2．2 T2000( 测试系统) (31) 3．2．3 其它相关系统 (31) 第四章测试实例分析 4.1 等级测试 (32) 4.2 实例分析 (32) 致谢....................................................................................。.. (42) 参考文献 (43)
摘要 为什么要测试？ 可以通过测试对产品中的带有缺陷的不合格的产品及时筛选出来。 可以通过测试对产品的性能作出优良等级的评定。 可以通过测试对产品，还在工厂中时，随时监控，及时找出存在的问题，解决问题。 可以通过测试对产品，及时监控，把最新动态反馈给工程师，从而不断的改进和完善工艺。 关键字：测试可靠性中央处理器传送机测试机 Abstract Why should we test ？ Can pass the test product with a defect in the standard filter out of the product in time. Can test the performance of the product to make a good level of assessment. Can pass the test product, is still at the factory at any time to monitor, identify problems in a timely manner, to solve the problem. Can pass the test product, timely monitoring, the latest feedback to the engineers, so as to continuously improve and perfect the process Keywords: Test,reliability,CPU(Central Processing Unit),Handler,Tester