实验五-光无源器件特性测试实验(精)
光无源器件参数测试实验
光无源器件参数测试实验光无源器件参数测试实验是光电类实验中的一种重要实验，用于测试和研究光无源器件的性能和特性。
光无源器件主要包括光电二极管、光敏电阻、光敏晶体管等。
实验目的：1.理解光无源器件的工作原理和性能特点；2.学会使用光无源器件测试仪器进行参数测试；3.掌握测试光无源器件的光电特性，如响应特性、光电流特性、电光转换效率等。
实验仪器和材料：1.光无源器件测试仪器：光源、光功率计、电源、模拟电压源、示波器等；2.光无源器件样品：光电二极管、光敏电阻、光敏晶体管等；3.光源：激光器、LED灯等。
实验步骤：1.准备工作：a.将光无源器件样品插入到测试仪器中的测试接口；b.打开测试仪器，进行仪器的预热和校准。
2.测试光线响应特性：a.将光源对准光无源器件，并调节光源的强度。
b.测量光无源器件的输出电流或电压随光源强度变化的关系曲线。
c.记录数据并分析光无源器件的响应特性。
3.测试光电流特性：a.将光源对准光无源器件，并固定光源的强度。
b.根据不同的实验要求，设置不同的电压源输出电压，测量光无源器件的输出电流。
c.记录数据并分析光无源器件的光电流特性。
4.测试电光转换效率：a.选取适当的光源和光无源器件样品。
b.测试光无源器件的光电转换效率，即测量光无源器件输出功率与输入光功率之比。
c.记录数据并分析光无源器件的电光转换效率。
5.分析实验结果：根据实验数据，进行曲线拟合、数据处理和结果分析，探讨光无源器件的性能和特点。
实验注意事项：1.实验时应注意光无源器件的灵敏度，避免直接光照到器件。
2.使用仪器和光源时要遵守相关的安全操作规程，避免产生辐射伤害。
3.实验过程中的参数设置和测试条件应根据实际需要进行调整。
通过光无源器件参数测试实验，可以深入了解光无源器件的性能和特性，为光电器件的设计、研究和应用提供了有力的支持。
同时，此实验也可以帮助学生掌握光电技术的基本原理和实验技能，培养实验观察、数据处理和问题分析解决能力。
光电器件特性测试实验报告
光电器件特性测试实验报告实验目的本实验旨在通过对光电器件特性的测试，探究其性能和特点，从而进一步了解光电器件的工作原理和应用。
实验器材和材料•光电器件（例如光电二极管、光敏电阻等）•光源（例如白炽灯、激光器等）•直流电源•数字多用表•电阻箱•连接线实验步骤1. 实验前准备1.将光电器件准备好，并根据需要选择合适的工作电源。
2.准备好光源和测量设备，并将其连接好。
2. 光电器件的静态特性测试1.将光电器件与电源和数字多用表连接好，确保电路连接正确。
2.调节电源电压，记录下对应的电流和电压值。
3.重复上述步骤，测量不同电压下的电流和电压值，以获得光电器件的电流-电压（I-V）特性曲线。
4.根据测量结果，分析光电器件的导通电压、正向电阻和反向电流等特性。
3. 光电器件的动态特性测试1.将光电器件与光源连接好，确保光线能够照射到器件上。
2.在恒定光照条件下，调节电源电压，记录下对应的电流和电压值。
3.重复上述步骤，测量不同光照强度下的电流和电压值，以获得光电器件的光照强度-电流（L-I）特性曲线。
4.根据测量结果，分析光电器件的响应时间、光电流增益和饱和光照强度等特性。
实验结果与分析根据所获得的实验数据，我们可以绘制出光电器件的电流-电压特性曲线和光照强度-电流特性曲线。
通过分析这些曲线，我们可以得出以下结论：1.光电器件的电流-电压特性曲线呈现出非线性关系，且存在导通电压和正向电阻。
导通电压是器件开始导通的最低电压，正向电阻则是导通状态下的电阻值。
2.光电器件的光照强度-电流特性曲线呈现出线性关系，且存在饱和光照强度和光电流增益。
饱和光照强度是器件光电流增加最快的光照强度，光电流增益则是光照强度每增加1单位时的电流增加量。
3.光电器件的响应时间是指器件由无光状态到达饱和光照强度所需的时间。
通过实验测量和分析，我们可以得出光电器件的响应时间，并进一步评估其在实际应用中的响应速度。
实验结论通过光电器件特性的测试实验，我们深入了解了光电器件的工作原理和特点。
光无源器件原理与实验
参考文献:
常用光无源器件
1.林学煌，光无源器件，人民邮电出版社。
光通信系统中的无源和有源器件(子系统)
活动连接 光功率放 光隔离器 光调制器 光合波器 大器(BA)
光源
光纤
固定连接 光接 光探 收机 测器 光前置放 大器(PA) 光线路放 大器(LA)
光纤
光纤
光分路器 光探测器 监控系统
第一节 光纤连接器
β=
β1 + β 2
2 2 ( β1 − β 2 ) −1/ 2 F = [1 + ] 2 4C
平均传播常数
可通过改变 β1 和 β2 来改变F。
Cz P ( z ) = A1 ( z ) = 1 − F sin ( ) 1 F 2 2 2 Cz P2 ( z ) = A2 ( z ) = F sin ( ) F
• 980/1550、1480/1550泵浦/信号波分复用 器（全光纤熔融拉锥型）。 • 1310/1550波分复用器（全光纤熔融拉锥 型）。 • 1550波段内粗波分复用器（有可能用全光 纤熔融拉锥方法实现）。
密集波分复用器DWDM 一、干涉滤光膜型波分复用器
a、 分 波 器
干涉滤光膜
输入光纤
λ0 (监管信道)
M-Z型光开关
• MEMS
第六节 光衰减器
• 光衰减器是对光功率进行预定量衰减的器件，分 为可变光衰减器和固定光衰减器。前者主要用于 调节光线路、设备等的功率电平，后者主要用于 电平过高的光纤通信线路。 • 光衰减器的类型很多，传统的光衰减器实现方法 包括位移型（分为横向位移型和纵向位移型）、 直接镀膜型、衰减片型和液晶型。 随着光电子 技术和材料技术的发展，又出现了热光型、电光 型、MEMS型等多种结构。
实验五光器件性能测量实验
实验五光器件性能测量实验一、实验目的1．了解光衰减器的指标要求,掌握光衰减器的测试方法.2.了解光分路器的指标要求, 掌握光分路器的测试方法.二、实验仪器1.光纤通信实验箱2.20M双踪示波器3.FC-FC单模尾纤 1根4.信号连接线 2根5．光衰减器,6．光分路器7．光功率计三、基本原理（一）光衰减器光衰减器可分为固定光衰减器和可变光衰减器。
光衰减器是一种可根据工程需要提供不同衰减量的精密器件，主要的用途是：（1）调整光中继器之间的增益，以便建立适当的光输出；（2）光传输系统设备的损耗评价及各种试验测试要求。
可变光衰减器的结构原理图如图5.1所示。
可旋转衰耗板光固定/可调衰减器测量结构示意图，如图5.2所示。
图5.2 平均光功率测试结构示意图（二）光分路器光分路器主要是从光纤传输线路上取出一部分光信号做监测使用，其连接示意图见图5.3。
图5.3 1310波长光分路器应用连接示意图本实验系统提供了1310nm、1550nm两个工作波长光源，所以配置的光分路器也必须是这两个工作波长的分路器。
中心波长1310nm或者1550nm，分光比建议为50：50。
（一）主、支路插入损耗测量（选用1310nm波分复用器）用光功率计首先测量1310nm光源经尾纤输出在“a”点的光功率Pa，然后将信号接入光分路器的输入端口；用光功率计测量支路“b”点光功率Pb。
记录测量结果，填入表格表5.1。
再用光功率计测量支路“c”点光功率Pc。
记录测量结果，填入表格5.1，计算光分路器主、支路插入损耗值。
（5.1）表5.1（二）分光比测量利用上述测量结果，计算光分路器分光比。
（5.1）（三）波长特性测量将测量光源改变为1550nm，分路器不变。
重复上述第1和第2步实验步骤。
见图5.4所示。
记录测量结果，填入表格5.2。
分析1310nm波长分路器使用在其它波长时的影响结果。
图5.4 光分路器性能1550波长测试连接示意图四、实验步骤（一）光衰减器的性能指标测量1.关闭系统电源，按照前面实验中的图5.2将1310nm光发射端机的TX1310法兰接口、FC-FC单模尾纤、光功率计连接好，注意收集好器件的防尘帽。
器件特性实验实验报告
一、实验目的1. 了解并掌握基本电子器件（如二极管、三极管、电阻、电容、电感等）的伏安特性测试方法。
2. 分析不同电子器件的伏安特性曲线，理解其工作原理和应用。
3. 熟悉实验室常用仪器设备的使用方法，提高实验操作技能。
二、实验原理电子器件的伏安特性是指器件两端电压与通过器件的电流之间的关系。
通过测量器件在不同电压下的电流值，可以绘制出器件的伏安特性曲线，从而了解器件的特性。
三、实验仪器与设备1. 直流稳压电源2. 数字万用表3. 电阻4. 电容5. 电感6. 二极管7. 三极管8. 电路板9. 连接线四、实验步骤1. 电阻伏安特性测试（1）将电阻连接到电路板上，确保电路连接正确。
（2）调节直流稳压电源输出电压，从0V开始逐渐增加，记录不同电压下的电流值。
（3）将电压和电流值绘制成伏安特性曲线。
2. 电容伏安特性测试（1）将电容连接到电路板上，确保电路连接正确。
（2）调节直流稳压电源输出电压，从0V开始逐渐增加，记录不同电压下的电流值。
（3）将电压和电流值绘制成伏安特性曲线。
3. 电感伏安特性测试（1）将电感连接到电路板上，确保电路连接正确。
（2）调节直流稳压电源输出电压，从0V开始逐渐增加，记录不同电压下的电流值。
（3）将电压和电流值绘制成伏安特性曲线。
4. 二极管伏安特性测试（1）将二极管连接到电路板上，确保电路连接正确。
（2）调节直流稳压电源输出电压，从0V开始逐渐增加，记录不同电压下的电流值。
（3）将电压和电流值绘制成伏安特性曲线。
5. 三极管伏安特性测试（1）将三极管连接到电路板上，确保电路连接正确。
（2）调节直流稳压电源输出电压，从0V开始逐渐增加，记录不同电压下的电流值。
（3）将电压和电流值绘制成伏安特性曲线。
五、实验结果与分析1. 电阻伏安特性电阻的伏安特性曲线是一条通过坐标原点的直线，斜率为电阻值。
这符合欧姆定律，即电压与电流成正比。
2. 电容伏安特性电容的伏安特性曲线是一条曲线，随着电压的增加，电流逐渐增大。
光无源器件测试方法
光无源器件测试方法光无源器件是指在光通信系统中，不需要外部能源供应而能够实现光信号的传输和控制的器件。
典型的光无源器件包括光纤、光栅、光分路器、光耦合器等。
为了确保光无源器件在正常工作条件下能够稳定可靠地传输光信号，需要进行严格的测试和验证。
本文将从光纤、光栅、光分路器和光耦合器等不同类型的光无源器件入手，介绍其测试方法。
1.光纤测试方法光纤是光通信系统中最基础、最重要的光无源器件。
常用的光纤测试方法包括：（1）衰减测试：通过测试光信号从光纤中的衰减情况，来评估光纤功率损失情况。
（2）反射测试：测试光纤接口的反射损耗，确保光信号不会因为接口反射而引起干扰或损失。
（3）纤芯直径测试：测试光纤纤芯直径的尺寸，以确保光信号能够正常传输。
2.光栅测试方法光栅是一种具有周期性折射率变化的光无源器件，常用于光波的衍射和光谱分析等应用。
光栅的测试方法包括：（1）频率响应测试：测试光栅的响应频率范围和频率分辨率，以评估其衍射性能。
（2）衍射效率测试：测试光栅的衍射效率，即测试输入光功率和输出光功率之间的关系。
（3）波长选择测试：测试光栅的波长选择性能，即测试不同波长的光信号在光栅中的传输效果和衍射效率。
3.光分路器测试方法光分路器是一种能够将入射光信号分成两个或多个输出的光无源器件。
光分路器的测试方法包括：（1）分光比测试：通过测试输入光功率和输出光功率之间的关系，来评估光分路器的分光比性能。
（2）均匀性测试：测试光分路器的不同输出通道之间的功率均匀性，以确保光信号在分路器中能够平衡地分布。
4.光耦合器测试方法光耦合器是一种能够将两个或多个光纤的光信号耦合在一起的光无源器件。
光耦合器的测试方法包括：（1）插损测试：通过测试耦合器输入光功率和输出光功率之间的差异，来评估光耦合器的插损性能。
（2）均匀性测试：测试耦合器不同输出通道之间的功率均匀性，以确保光信号在耦合器中能够均匀地分布。
综上所述，光无源器件的测试方法主要包括衰减测试、反射测试、频率响应测试、衍射效率测试、波长选择测试、分光比测试、均匀性测试和插损测试等。
光纤通信实验报告
实验1 数字发送单元指标测试实验一、实验目的1.了解数字光发端机平均输出光功率的指标要求2.掌握数字光发端机平均输出光功率的测试方法3.了解数字光发端机的消光比的指标要求4.掌握数字光发端机的消光比的测试方法二、实验仪器1.ZYE4301G型光纤通信原理实验箱1台2.光功率计1台3.FC/PC-FC/PC单模光跳线1根4.示波器1台5.850nm光发端机1个6.ST/PC-FC/PC多模光跳线1根三、实验原理四、实验内容1.测试数字光发端机的平均光功率2.测试数字光发端机的消光比3.比较驱动电流的不同对平均光功率和消光比的影响五、实验步骤Ａ、1550nm数字光发端机平均光功率及消光比测试1.伪随机码的产生：伪随机码由CPLD下载模块产生，请参看系统简介中的CPLD下载模块。
将PCM编译码模块的4.096MH Z时钟信号输出端T661与CPLD下载模块的NRZ信号产生电路的信号输入端T983连接，NRZ信号输出端T980将产生4M速率24－1位的伪随机信号，用示波器观测此信号。
将此信号与1550nm光发模块输入端T151连接，作为信号源接入1550nm光发端机。
2.用FC-FC光纤跳线将光发端机的输出端1550T与光功率计连接，形成平均光功率测试系统，调整光功率计，使适合测1550nm信号。
3.用K60、K90和K15接通PCM编译码模块、CPLD模块和光发模块的电源。
4.用光功率计测量此时光发端机的光功率，即为光发端机的平均光功率。
5.测消光比用数字信号源模块输出的NRZ码作为信号源。
用K60接通电源，用用示波器从T504观测此信号，将K511接1、2或2、3可观测到速率的变化，将此信号接到T151，作为伪随机信号接入光发端机。
6.用数字信号源模块的K501、K502、K503将数字信号拨为全“1”，测得此时光功率为P1，将数字信号拨为全“0”，测得此时光功率为P0。
7.将P1，P0代入公式2-1式即得1550nm数字光纤传输系统消光比。
十光纤无源器件特性测试
实验十光纤无源器件特性测试实验
一、实验目的
1、了解光纤无源器件，如活动连接器、Y型分路器、星型耦合器等器件的工作原理及
结构。
2、了解它们对光纤通信系统的影响。
3、掌握它们的正确使用方法。
4、掌握其主要特性参数。
二、预习要求
1、阅读光纤通信系统有关无源光器件的章节。
2、熟悉待测器件。
三、实验框图
图12-1 光纤无源器件特性测试框图
四、实验内容
1、测量光纤活动连接器的插入损耗。
读者可根据图12-1光纤无源器件特性测试框图将
光纤活动连接器接入系统进行测试，图中标注“光波信号输入”，可输入任一数字信号做光纤传输。
测量记录并填写下表：
在测试中，可通过调节发射电流来调节发射功率，也可改变输入的码元调节发射功率。
2、测量Y型分路器的插入损耗及回波损耗。
3、测量星型耦合器的插入损耗及光串扰。
五、实验要求
1、对每一器件写出测试步骤。
2、将测试结果进行记录整理。
六、无源器件结构图
Y型分路器
星型耦合器
七、实验仪器
光功率计、光无源器件。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
常用光纤器件特性测试实验
实验五光无源器件特性测试实验
一、实验目的
1、了解光无源器件, Y 型分路器以及波分复用器的工作原理及其结构
2、掌握它们的正确使用方法
3、掌握它们主要特性参数的测试方法
二、实验内容
1、测量 Y 型分路器的插入损耗
2、测量 Y 型分路器的附加损耗
3、测量波分复用器的光串扰
三、预备知识
1、光无源器件的种类,有哪些?重点学习几个特性。
四、实验仪器
1、 ZY12OFCom13BG3型光纤通信原理实验箱 1台
2、 FC 接口光功率计 1台
3、万用表 1台
4、 FC-FC 法兰盘 1个
5、 Y 型分路器 1个
6、波分复用器
2个
7、连接导线
20根
五、实验原理
光通信系统的构成, 除需要光源器件和光检测器件之外, 还需要一些不用电源的光通路元、部件,我们把它们统称为无源器件。
它们是光纤传输系统的重要组成部分。
光无源器件包括光纤活动连接器 (平面对接 FC 型、直接接触 PC 型、矩形SC 型、光衰减器、光波分复用器、光波分去复用器、光方向耦合器(例如:Y 型分路器、星型耦合器、光隔离器、光开关、光调制器……
本实验重点介绍 Y 型分路器和光波分复用器,下一实验重点讲光纤活动连接器。
在应用这些无源器件时必须考虑无源器件的各项指标,如 Y 型分路器 (1分 2的光耦合器的插入损耗, 分光比, 波分复用器的光串扰等。
下面对 Y 型分路器插入损耗及附加损耗及其分光比、波分复用器的光串扰分别进行测试。
Y 型分路器的技术指标一般有插入损耗(Insertion Loss 、附加损耗(Excess Loss 、分光比和方向性、均匀性等, 在实验中主要测试 Y 型分路器的插入损耗, 附加损耗及分光比。
就 Y 型分路器而言, 插入损耗定义为指定输出端口的光功率相对全部输入光功率的减少值。
插入损耗计算公式为 5-1式。
lg(10. IN outi P P Li I -=
(5-1
其中, I.Li 为第 i 个输出端口的插入损耗, P outi 是第 i 个输出端口测到的光功率值, P IN
是输入端的光功率值。
Y 型分路器的附加损耗定义为所有输出端口的光功率总和相对于全部输入光功率的减小值。
附加损耗计算公式为 9-2式。
IN
OUT
P P
L E ∑-=lg
10.
(5-2
对于 Y 型分路器, 附加损耗是体现器件制造工艺质量的指标, 反映的是器件制作过程带来的固有损耗; 而插入损耗则表示的是各个输出端口的输出光功率状况, 不仅有固有损耗的因素, 更考虑了分光比的影响。
因此不同类型的光纤耦合器, 插入损耗的差异, 并不能反映器件制作质量的优劣,这是与其他无源器件不同的地方。
分光比是光耦合器件所特有的技术术语,它定义为耦合器各输出端口的输出功率的比值,在具体应用中通常用相对输出总功率的百分比来表示。
%
100. ⨯=
∑
OUT
OUTi
P P R
C
(5-3
例如对于 Y 型分路器, 1:1或 50:50代表了输出端相同的分光比。
即输出为均分的器件。
在实际工程应用中, 往往需要各种不同分光比的器件, 可以通过控制制作方法来改变光耦合器件的分光比。
测试 Y 型分路器的插入损耗、附加损耗和分光比时,其测试实验框图如图 9-1所示。
测试方法为:先测试出光源输出的光功率 P 0,将 Y 型分路器接入其中组成图 9-1所示
图 5-1 Y型分路器性能测试实验框图
测试系统后,分别测出 Y 型分路器输出端的光功率 P 1和 P 2,代入 9-1, 9-2, 9-3式即可得到待测 Y 型分路器的性能指标。
波分复用器的光串扰(隔离度 ,为波分复用器输出端口的光进入非指定输出端口光能量的大小。
其测试原理图如图 5-2所示。
图 5-2 波分复用器光串扰测试原理图
上图中波长为 1310nm 、 1550nm 的光信号经波分复用器复用以后输出的光功率分别为 P 01、
P 02, 解复用后分别输出的光信号, 此时从 1310窗口输出 1310nm 的光功率为 P 11, 输出 1550nm 的光功率为 P 12;从 1550窗口输出 1550nm 的光功率为 P 22,输出1310nm 的光功率为 P 21。
将各数字代入下列公式:
21
0112lg
10P P L = (5-4
12
0221lg
10P P L = (5-5
上式中 L 12 、 L 21即为相应的光串扰。
由于便携式光功率计不能滤除波长 1310nm 只测 1550nm 的光功率,同时也不能滤除 1550nm 只测 1310nm 的光功率。
所以改用下面的方法进行光串扰的测量。
测量 1310nm 的光串扰的方框图如 5-3(a 所示。
测量 1550nm 的光串扰的方框图如 5-3(b 所示:
在这种方法中,光串扰计算公式为:
12112lg
10P P L = (5-6 21
221lg
10P P L = (5-7
上式中 L 12, L 21即是光波分复用器相应的光串扰。
六、注意事项
1、字迹工整 , 原理分析透彻
2、记录各实验数据,根据实验结果计算 Y 型分路器插入损耗和附加损耗。
3、根据实验结果,计算获得波分复用器光串扰。
4、分析实验结果,误差分析正确。
七、实验步骤
A、 Y 型分路器性能测试
λ2
无图 5-3(b 1310nm光串扰测试框图
图 5-3(a 1310nm光串扰测试框图
1、用 FC-FC 光跳线将 1310nm 光发端机与光功率计相连,组成简单光功率测试系统。
2、连接导线:PCM 编译码模块 T661与 CPLD 下载模块 983连接, T980与光发模块输入端 T101连接。
3、将拨码开关 BM1、 BM2和 BM3分别拨到数字、 1310nm 和 1310nm 。
4、接上交流电源线,先开交流开关,再开直流开关 K01, K02,五个发光二极管全亮。
5、接通 PCM 编译码模块 (K60、 CPLD 下载模块(K90 ,光发模块 (K10的直流电源。
6、用万用表监控 R110两端电压 (红表笔插 T103, 黑表笔插 T104 , 调节半导体激光器驱动电流,使之为 25mA 。
7、用光功率计测得此时光功率为 P。
8、拆除 FC-FC 光纤跳线,将 Y 型分路器按照图 9-1中方法组成测试系统。
9、用光功率计分别测出 Y 型分路器输出两端光功率 P 1 和 P 2。
10、关掉各直流开关,以及交流电开关。
拆除导线以及各光学元件,将实验箱还原。
B 、波分复用器性能测试
1、连接导线:PCM 编译码模块 T661与 CPLD 下载模块 983连接, T980与光发模块输入端 T101连接。
2、波分复用器连接:
(1将波分复用器 (A 标有“ 1310nm ” 的光纤接头插入“ 1310nm ” 光发端(1310nmT 。
(2将波分复用器(A 标有“ 1550nm ”的光纤接头用保护帽遮盖起来。
(3用 FC-FC 法兰盘将两个波分复用器“ IN ”端相连。
3、拨码开关 BM1、 BM2和 BM3分别拨到数字、 1310nm 和 1310nm 。
4、接上交流电源线,先开交流开关,再开直流开关 K01, K02,五个发光二极管全亮。
5、接通 PCM 编译码模块 (K60、 CPLD 下载模块(K90 ,光发模块 (K10的直流电源。
6、用万用表监控 R110两端电压 (红表笔插 T103, 黑表笔插 T104 , 调节半导体激光器驱动电流,使之为 25mA 。
7、用光功率计测得此时波分复用器 (B 标有“ 1310nm ” 端光功率为 P
11
, 测得标有 1550nm
端光功率为 P
12。
8、拆除波分复用器“ IN ”端 FC-FC 法兰盘,测得波分复用器(A 标有“ IN ”端输出光
功率为 P
1。
9、 . 依次关闭各直流电源、交流电源,拆除导线,拆除波分复用器。
10、根据 5-3(b 测试框图和上述波分复用器 1310nm 光功率串扰步骤,设计步骤并测试 1550nm 光串扰。
11、将所得光功率数据代入公式 5-6和 5-7计算波分复用器的光串扰。
八、实验报告
1、字迹工整
2、原理分析透彻。
3、记录各实验数据,根据实验结果计算 Y 型分路器插入损耗和附加损耗。
4、根据实验结果,计算获得波分复用器光串扰。
5、分析实验结果,误差分析正确。
九、思考题
1、试设计实验测量波分复用器的插入损耗。
2、对波分复用器光串扰测试进行误差分析。
3、查阅相关文献,比较 Y 型分路器和波分复用器内部结构差异。