xrf测试仪
xrf光谱仪测试范围
xrf光谱仪测试范围
XRF光谱仪的测试范围通常涵盖原子序数为12～92之间的元素，包括镁（Mg）、铝（Al）、硅（Si）、磷（P）、硫（S）、氯（Cl）、钾（K）、钙（Ca）、钪（Sc）、钛（Ti）、钒（V）、铬（Cr）、锰（Mn）、铁（Fe）、钴（Co）、镍（Ni）、铜（Cu）、锌（Zn）、砷（As）、硒（Se）、锶（Sr）、钇（Y）、锆（Zr）、铌（Nb）、钼（Mo）、钌（Ru）、铑（Rh）、钯（Pd）、银（Ag）、镉（Cd）、铟（In）、锡（Sn）、锑（Sb）、铪（Hf）、钽（Ta）、钨（W）、铼（Re）、锇（Os）、铱（Ir）、铂（Pt）、金（Au）、汞（Hg）、铊（Tl）、铅（Pb）以及铋（Bi）等至少46种元素，但不限于上述元素。
XRF光谱仪的检测限大约在200ppm，对于低于这个浓度的元素，测试结果可能不太准确。
另外，如果样品中含碳元素超过10%，需要先对样品进行烧成灰处理再测试。
如果样品量过少或粘度低、硬度高等原因导致测试时必须用硼酸压片，需另行支付压样成本费。
xrf测试原理
xrf测试原理XRF测试原理一、引言XRF（X射线荧光光谱仪）是一种常用的非破坏性分析仪器，主要用于分析样品中的元素成分。
本文将介绍XRF测试的基本原理及其应用。
二、XRF测试原理XRF测试基于X射线荧光原理。
当样品被照射时，样品内的原子会因为X射线的能量而发生电离和激发。
激发后的原子会迅速返回基态，并释放出特定能量的荧光X射线。
这些荧光X射线的能量和强度与样品中元素的种类和含量相关联。
三、XRF测试仪器的组成一个典型的XRF测试仪器主要由以下组成部分构成：1. X射线源：产生高能量的X射线。
2. 样品台：放置需要测试的样品。
3. 荧光探测器：用于测量荧光X射线的能量和强度。
4. 数据分析系统：对荧光X射线进行分析和处理，并得出元素成分的结果。
四、XRF测试过程1. 准备样品：将需要测试的样品放置在样品台上，并确保其表面平整和干净。
2. 照射样品：打开X射线源，照射样品表面，使其发生电离和激发。
3. 收集荧光X射线：荧光探测器会收集样品发出的荧光X射线，并测量其能量和强度。
4. 数据分析：通过数据分析系统对荧光X射线进行处理和分析，得出样品中元素的含量和成分。
五、XRF测试的优点1. 非破坏性：XRF测试不需要破坏样品，可以对宝贵的文物和艺术品进行分析。
2. 快速准确：XRF测试可以在短时间内得到准确的元素成分分析结果。
3. 多元素分析：XRF测试可以同时分析多种元素，无需进行样品的分解处理。
4. 适用范围广：XRF测试可用于各种类型的样品，包括固体、液体和气体。
六、XRF测试的应用1. 材料分析：XRF测试可用于金属、陶瓷、玻璃等材料的成分分析。
2. 地质勘探：XRF测试可用于矿石、岩石等地质样品的元素含量分析。
3. 环境监测：XRF测试可用于土壤、水体等环境样品的重金属污染分析。
4. 文化遗产保护：XRF测试可用于文物和艺术品的材料分析和鉴定。
5. 制药行业：XRF测试可用于药品中的元素含量分析和质量控制。
XRF测试常识-合金分析仪
XRF测试常识a) X-射线荧光光谱：作为一种比较分析技术，在较严格的条件下用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射特征X射线。
这些特征X射线的能量对应于各特定元素，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。
该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF。
两个关于XR光谱仪的实际例子是波长散射型(WDXRF)荧光光谱和能量散射型(EDXRF)荧光光谱仪。
b) X-射线激发源：通常是X-射线管或放射性同位素。
c) X-射线探测器：检测X射线光子的装置，并能把它的能量按照光子的振幅比例来转化为具有电子能量的脉冲。
X-射线荧光光谱仪(XRF)：由X-射线激发源、样品测试台、X-射线检测器、数据处理器和控制系统。
XRF 所用的射线对人体有害，所以所有产生射线的设备应该按照严格的安全程序来操作，另外要做好对试验人员的健康防护。
光谱仪准备按照仪器的工作指南给仪器通电，加热设备，并按照厂家的指导说明使仪器稳定。
确保测试稳定，按厂家的指导使检测器稳定。
校准e/ja) 根据仪器用户手册的说明，按照7节中的描述去选择参比样品作为校准样品。
样品中元素的T9E5?7M(u%w C.}六西格玛品质论坛浓度必须各不相同。
如果校准覆盖了很多元素，浓度范围跨度很大，就需要很多校准样品。
校准样品的数量因以下原因减少：—用基本参数法校准(元素少于标准物)—用基本参数法校准(用一个相似元素的标准物).—用基本参数法分析加上经验来校准分析方法校准考虑到光谱的干扰、基体效应和其它效应，这些都会影响到光谱中荧光散射强度的确定。
这些影响的列表可以在这章的附件中找到。
为了保证对每个测量元素合格的分析性能，必需通过选择合适的激发参数使仪器处于最佳的测量条件。
这些条件是仪器特有的。
具有代表性地，这些信息可以分析者的指导手册中找作为一般的指导，建议方法的使用者知道相互元素光谱的干扰和样品间的基体的变化会充分影响到每个分析物结果的准确度、精密度和最小检测限。
XRF 操作指引
设置标准中，本公司按
照客户指令要求设置各
3).
个元素的限值，而并非
RoHS指令的限值。
2).
1).测试员按照相关要求 制作各部门的测试报 14 表，并装订好交由管理 员审核数据、判定结果 。
1).测试完毕，关闭流 15 程为：关软件 → 关
仪器 → 关电脑
2).
1).
1).打开仪器门，放入标
样EC681，选择曲线CrCl
。
2).点击
3
参数设置，选择测量时 间，将测量时间设定为
1000S。 3).点击开
始测试按钮，在测试过
程中对仪器进行预热。
预热仪器对于刚开启的
仪器是必不可少的。预
1).
热可以让仪器更好的进
入工作状态，从而保证
仪器测量状态的稳定
性，测量结果的可靠性
2).
3).点击参数设置，选择
测量时间，输入200S。
10 4).点击开始测试按钮开
始测试。
5).测试完成后，比对Sb
、Ba、Se的结果与标准
5).
值的偏差。 如偏差小于
±5％，则OK，打印出结
果保存。反之再次进行9
、10步骤。
1).将需要测试的样品放
入仪器内，通过视频图
像摆正位置。
2).根据所测样品的材质
。
1).预热完成后，点击分 析报告，会出现分析报 4 告保存路径对话框，输 入相关信息，选择当日 的保存文件夹。
按照当日的实际情况输 入操作员姓名、并选择 正确的分析报告保存路 径。
3).
1).打开仪器门，放入纯 银片，从视频中对准测 试部位。关好机仓门。 5 2).选择曲线：测塑胶及 其它。 3).点击参数设置，选择 初始化，点击OK。
XRF芯体扫描仪简介
X荧光芯体扫描仪（XRF）一、XRF芯体扫描仪简介Itrax芯体扫描仪是瑞典COX公司提供的一种平直束X射线扫描仪，2013年开始正式运行，主要用于湖芯、岩石等柱样剖面的原位、无损、快速、高分辨表面分析。
二、仪器主要功能和技术指标1、RGB光学图像，反映样品表面形貌。
2、显微X光图像，可以反映样品的密度情况，最高分辨率200μm。
3、元素组成，不同的X光管元素测量范围不一样，按需选择，最高分辨率200μm。
4、磁化率分析，也可用于样品段拼接，最高分辨率4mm。
三、仪器使用注意事项1、每周至少开机一次，记录Radiographic Signal信号，对比前一次结果，偏差应小于10%，如发现偏差较大，联系COX公司。
记录标准Silica板Ref Spectra，定期发给COX公司检查。
2、主机打开前先打开循环水开关，防止X光管过热关闭。
3、做XRF和MS分析前样品必须覆膜，防止样品水分丢失及污染仪器。
4、磁化率探头通常处于悬挂固定状态，测样前应松开探头。
5、如需做MS分析，样品做XRF分析样品放置时应空出10cm，XRF结束后做原位分析。
选择扫描区间时，前后应至少各空出4mm小段，防止探头高度骤变。
6、仪器XRF扫描最大间隔为1mm，更大的扫描间隔可能损坏检测器。
7、长岩芯分段扫描过程中不要改变仪器参数，否则将导致数据无法拼接。
8、每三个月为光管端高压电缆接头涂抹P4硅脂，每六个月为高压电源端电缆接头涂抹P4硅脂。
9、样品剖开后应立即上机，防止样品表面形貌变化。
样品扫描完毕后可进行分样，进行其他分析。
amplifier andmulti-channelanalyserenergy (KeV)channelcountssampleX-raytubedetector。
XRF光谱仪基本原理及结构资料
微区X-荧光能谱仪：从事材料的平均成份分析，可对微区选择的分析，价格较高。
1.2 X射线荧光光谱仪的种类（按原理分）：
类型
WDRXRF:波长X 线荧光光谱仪
所以存在一定的光谱干扰
WDXRF可以很好的降低 样品分析时的背景值
EDXRF通过使用滤光片 或二次靶来降低样品的背 景值
1.4 XRF仪器品牌： SeiKo (日本精工)：台式 Horiba（日本掘场）：台式 Skyray（中国天瑞）：台式 Niton （美国尼通）：手持式 Innov（美国伊洛维）：手持式 Shimadzu（日本岛津）：台式 1.5 XRF测试的优势：
wdxrfwdxrfedxrfedxrf解析度解析度取决于仪器中的分光晶体取决于仪器中的分光晶体和光学设计与和光学设计与edxrfedxrf相比相比wdxrfwdxrf解析度非解析度非常好有较少的光谱干扰常好有较少的光谱干扰和较低的背景值和较低的背景值仪器采用的侦测器的种类仪器采用的侦测器的种类决定了决定了edxrfedxrf的解析度的解析度光谱干扰光谱干扰wdxrfwdxrf是对光谱进行扫是对光谱进行扫描分析在大多数情况下描分析在大多数情况下无需对光谱进行修正每无需对光谱进行修正每种元素即可得到很好的信种元素即可得到很好的信edxrfedxrf的设计是对多元的设计是对多元素同时进行分析仪器需素同时进行分析仪器需要采用要采用数学模型数学模型对光谱进对光谱进行修正这种数学模型很行修正这种数学模型很可能导致成倍的误差产生可能导致成倍的误差产生所以存在一定的光谱干扰所以存在一定的光谱干扰背景值背景值wdxrfwdxrf可以很好的降低可以很好的降低样品分析时的背景值样品分析时的背景值edxrfedxrf通过使用滤光片通过使用滤光片或二次靶来降低样品的背或二次靶来降低样品的背14xrf仪器品牌
xrf光谱仪使用注意事项
XRF光谱仪使用注意事项一、样品清洁在使用XRF光谱仪进行测量前，必须确保样品表面清洁，无杂质和污染物，以避免对测量结果产生影响。
样品表面应干燥，无水渍或油渍。
二、样品测量1. 在测量前，应确定合适的测量位置，确保样品表面平整，无凸起或凹陷。
2. 调整XRF光谱仪的参数，如电压、电流等，以确保测量的准确性和稳定性。
3. 在测量过程中，应避免外界干扰，如人员走动、震动等。
4. 对于不同种类的样品，应选择合适的测量模式和参数，以确保测量结果的准确性。
三、多次测试为了获得更准确的测量结果，建议对每个样品进行多次测量。
在每次测量前，应对样品进行清洁和表面处理，以确保结果的可靠性。
四、数据比对1. 在获得测量数据后，应将其与标准数据进行比对，以确定样品的成分和含量。
2. 如果测量结果存在较大误差，应重新调整参数或更换仪器部件，并进行再次测量。
3. 在比对数据时，应注意单位换算和数据处理，确保结果的准确性。
五、选取标样1. 在测量前，应选取具有代表性的标准样品进行校准，以确保测量结果的准确性。
2. 标准样品应与待测样品具有相似的成分和结构，以避免误差的产生。
3. 在选取标准样品时，应注意其纯度和制备工艺，以确保其具有可靠的参考价值。
六、表面处理对于某些样品，可能需要先进行表面处理才能进行XRF光谱仪测量。
在进行表面处理时，应注意以下几点：1. 根据样品材质和性质选择合适的处理方法，如酸洗、碱洗、打磨等。
2. 在处理过程中，应注意保护样品表面不受损伤或污染。
3. 在处理后，应对样品进行清洁和干燥，以确保其表面无杂质和污染物。
XRF-X-射线荧光光谱仪
X-射线与Auger电子产生过程
原子在X-射线激发下，发射荧光还是Auger是相互竞争的过程，原子序 数小于11的元素，以发射Auger为主，重元素主要发射X-射线荧光。故 X-射线射线荧光对轻元素的灵敏度很低。
1.1.1基础理论
利用X-射线荧光进行元素定性、定
量分析工作，需要以下三方面的理 论基础知识：
对X-射线的总检测效率比波谱高，可以使用小功率X光管激发荧光X-射线；
机械机构简单，工作稳定，体积也小。 缺点：能量分辨率差，探测器必须在低温下保存，对轻元素检测困 难。
三、XRF应用
3.1 定性与定量分析
3.1.1 定性分析 精确测量荧光线的能量或波长，由波长与元素序数间的关系，通过比
较元素的特征谱线是否存在来进行元素定性。对于波长分散型仪器获得 的谱图，可查谱线-2θ表确定待测元素。 但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时，仍需人工鉴别。 首先识别出 X-射线管靶材的特征X-射线和强峰的伴随线，然后根据2θ角 标注剩斜谱线。在分析未知谱线时，要同时考虑到样品的来源，性质等 因素，以便综合判断。 例： 以 LiF 作为分光晶体，试样在 2θ=44.59º 处有一强峰，谱线 -02θ 表 显示为Ir(Kα)，试样中含Ir（铱）。
1.2 XRF仪器介绍
1.2.1生产厂家：美国热电集团瑞士ARL公司
仪器型号：ADVANTXP； 主要附件 ： CWY-II-10kVA 稳压电源、循环 水冷却机、 YYJ-40 压片机、 ZM-1 振动研磨 机 、 CLAISSE 熔 样 机 ； 联 想 计 算 机 ； HP1200激光打印机；
式中，Is为Wi=100%时，该元素的荧光X射线的强度。
使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似，否则试样的基体 效应或共存元素的影响，会给测定结果造成很大的偏差。
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XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。
所以X射线荧光仍是X射线。
一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。
X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。
受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。
探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。
然后，莱雷科技仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
X射线照在物质上而产生的次级X射线被称为X射线荧光。
利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。
在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素（F）到92号元素（U）。
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。
X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。
一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。
其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，释放出的电子会导致该电子壳层出现相应当电子空位。
这时处于高能量电子壳层的电子（如：L层）会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应的电子空位。
由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。
这一个过程就是我们所说的
X射线荧光（XRF）。
波长
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：
λ=K(Z? s) ?2
式中K和S是常数。
能量
而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为：
E=hν=h C/λ
式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。
因此，只要测出荧光X射线的波长或者能量，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。
此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
分类
不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的
测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。
同时样品受激发后发射某一元素的特征X射线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。
因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：
波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF)
优点
a) 分析速度高。
测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。
（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。
特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。
波长变化用于化学位的测定。
c) 非破坏分析。
在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。
同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
d) X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
e) 分析精密度高。
f) 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
缺点
a）难于作绝对分析，故定量分析需要标样。
b）对轻元素的灵敏度要低一些。
c）容易受相互元素干扰和叠加峰影响。
按应用分类
1、矿石分析仪
2、合金分析仪
3、rohs分析仪
4、油品分析仪
5、贵金属分析仪
6、重金属分析仪。