实验3.19 等厚干涉的应用
等厚干涉及应用的实验原理
等厚干涉及应用的实验原理原理介绍等厚干涉作为一种光学干涉现象，在光学实验和工程应用中被广泛使用。
等厚干涉是基于光波相干性和干涉原理而产生的干涉现象，通过通过控制光波的相位差来实现光干涉的控制和测量。
原理实验材料和仪器•单色光源•干涉仪（例如Michelson干涉仪）•微调台•透镜•平板实验设置1.将单色光源设置在适当的位置，并通过角度调节来确保光线充分的平行。
2.将干涉仪的反射镜和透镜等进行调节，以确保光线在干涉仪内进行反射和折射。
3.调整干涉仪的透明玻璃平板，使其与光线垂直，并与反射光束相交。
4.使用微调台将透明玻璃平板移动至一定距离，使其形成干涉图案。
实验观察1.通过观察干涉图案，我们可以看到一系列由明暗相间的等厚条纹组成的图案。
这些条纹由光干涉效应形成，显示出光波相位差的变化。
2.当透明玻璃平板的等厚度发生变化时，条纹的间距也随之变化。
这表明干涉图案是根据等厚度的变化而变化的。
实验分析根据等厚干涉原理，我们可以通过测量干涉图案中条纹的间距，来确定透明玻璃平板的等厚度变化。
因此，等厚干涉技术常被应用于材料测量、薄膜技术和光学工艺中。
应用领域等厚干涉的应用领域非常广泛，以下是一些常见的应用案例：1.材料测量：等厚干涉可以应用于材料的厚度、折射率和质量的测量。
通过测量干涉条纹的间距和变化，可以精确测量材料的物理特性。
2.薄膜技术：等厚干涉可以用于薄膜的制备和测试。
通过测量干涉图案的变化，可以控制薄膜的厚度和均匀性。
3.光学工艺：等厚干涉技术被广泛应用于光学工艺中，例如光学透镜的制造和光学元件的加工。
通过测量干涉图案，可以确定透镜的形状和质量。
实验注意事项在进行等厚干涉实验时，需要注意以下几点：•单色光源要够强，以确保干涉图案的清晰度。
•干涉仪的调节要准确，以免影响干涉图样的形成。
•透明玻璃平板的移动应平稳，以避免形成不规则的干涉图案。
结论通过等厚干涉实验，我们可以观察和测量光波的干涉现象。
等厚干涉原理的应用广泛，可用于材料测量、薄膜技术和光学工艺中。
等厚干涉的应用的实验原理
等厚干涉的应用的实验原理1. 简介等厚干涉是一种基于光的干涉现象的实验方法，可以用来研究光的波动性质以及材料的光学性质。
本文将介绍等厚干涉的实验原理及其应用。
2. 等厚干涉的实验原理2.1 干涉现象的基本原理干涉是指两个或多个波源产生的波相互叠加形成干涉图样的现象。
当两个波源的波峰或波谷同时到达同一点时，会出现干涉增强的现象，而当两个波源的波峰和波谷错开时，会出现干涉消失的现象。
2.2 光的等厚干涉光的等厚干涉是一种在光通过厚度不均匀的介质时产生的干涉现象。
当光通过介质时，如果介质的厚度不均匀，会导致光程差的变化，从而引起干涉图样的变化。
2.3 等厚干涉的实验原理等厚干涉实验基于光的折射定律和干涉现象的基本原理。
实验中需要使用一块厚度不均匀的透明材料作为样品，以及一束单色光源。
光通过样品时，由于材料的厚度不均匀，会导致光程差的变化，从而产生干涉图样。
在等厚干涉实验中，我们可以使用干涉条纹的间距来推测材料的厚度差异。
当干涉条纹间距变大时，表示材料厚度变厚；反之，当干涉条纹间距变小时，表示材料厚度变薄。
3. 等厚干涉的应用3.1 材料表面质量检测等厚干涉可以用于检测材料表面的平整度和质量。
通过观察干涉条纹的变化，可以分析材料表面的高低差异，从而评估材料的质量。
3.2 材料厚度测量等厚干涉也可以用于测量透明材料或薄膜的厚度。
通过测量干涉条纹的间距，可以精确地计算出材料的厚度。
这对于研究材料的光学性质和制备薄膜具有重要意义。
3.3 光学元件设计与优化等厚干涉可以用于设计和优化光学元件，如透镜、棱镜等。
通过观察干涉条纹的变化，可以调整材料的厚度和形状，以实现预期的光学效果。
3.4 光学显微镜的改进等厚干涉可以应用于光学显微镜的改进。
传统的光学显微镜对透明样品的观察受到了材料的不均匀厚度的影响，而使用等厚干涉技术可以消除这种影响，提高观测的清晰度和准确性。
4. 总结等厚干涉是一种基于光的干涉现象的实验方法，可以用来研究光的波动性质和材料的光学性质。
等厚干涉原理与应用实验报告doc
等厚干涉原理与应用实验报告篇一：等厚干涉实验—牛顿环和劈尖干涉等厚干涉实验—牛顿环和劈尖干涉要观察到光的干涉图象，如何获得相干光就成了重要的问题，利用普通光源获得相干光的方法是把由光源上同一点发的光设法分成两部分，然后再使这两部分叠如起来。
由于这两部分光的相应部分实际上都来自同一发光原子的同一次发光，所以它们将满足相干条件而成为相干光。
获得相干光方法有两种。
一种叫分波阵面法，另一种叫分振幅法。
1．实验目的（1）通过对等厚干涉图象观察和测量，加深对光的波动性的认识。
（2）掌握读数显微镜的基本调节和测量操作。
（3）掌握用牛顿环法测量透镜的曲率半径和用劈尖干涉法测量玻璃丝微小直径的实验方法（4）学习用图解法和逐差法处理数据。
2．实验仪器读数显微镜，牛顿环，钠光灯3．实验原理我们所讨论的等厚干涉就属于分振幅干涉现象。
分振幅干涉就是利用透明薄膜上下表面对入射光的反射、折射，将入射能量(也可说振幅)分成若干部分，然后相遇而产生干涉。
分振幅干涉分两类称等厚干涉，一类称等倾干涉。
用一束单色平行光照射透明薄膜，薄膜上表面反射光与下表面反射光来自于同一入射Rre(a)(b)图9-1 牛顿环装置和干涉图样光，满足相干条件。
当入射光入射角不变，薄膜厚度不同发生变化，那么不同厚度处可满足不同的干涉明暗条件，出现干涉明暗条纹，相同厚度处一定满足同样的干涉条件，因此同一干涉条纹下对应同样的薄膜厚度。
这种干涉称为等厚干涉，相应干涉条纹称为等厚干涉条纹。
等厚干涉现象在光学加工中有着广泛应用，牛顿环和劈尖干涉就属于等厚干涉。
下面分别讨论其原理及应用：（1）用牛顿环法测定透镜球面的曲率半径牛顿环装置是由一块曲率半径较大的平凸玻璃透镜和一块光学平玻璃片(又称“平晶”)相接触而组成的。
相互接触的透镜凸面与平玻璃片平面之间的空气间隙，构成一个空气薄膜间隙，空气膜的厚度从中心接触点到边缘逐渐增加。
如图9-1（a）所示。
当单色光垂直地照射于牛顿环装置时(如图9-1)，如果从反射光的方向观察，就可以看到透镜与平板玻璃接触处有一个暗点，周围环绕着一簇同心的明暗相间的内疏外密圆环，这些圆环就叫做牛顿环，如图9-1（b）所示．在平凸透镜和平板玻璃之间有一层很薄的空气层，通过透镜的单色光一部分在透镜和空气层的交界面上反射，一部分通过空气层在平板玻璃上表面上反射，这两部分反射光符合相干条件，它们在平面透镜的凸面上相遇时就会产生干涉现象。
等厚干涉原理的应用
等厚干涉原理的应用1. 等厚干涉原理简介等厚干涉原理是指在光路上存在等厚的光程差的情况下，光波会发生干涉现象。
等厚干涉原理是波动光学的基本原理之一，它广泛应用于干涉测量、光学元件设计、成像系统等领域。
2. 等厚干涉原理的应用2.1 干涉测量•光栅测量：等厚干涉原理可用于测量光栅线数、光栅常数等参数。
•薄膜厚度测量：利用等厚干涉原理，可以非常精确地测量薄膜的厚度，广泛应用于材料科学研究和生产制造领域。
•缺陷检测：利用等厚干涉原理，可以检测物体表面的微小缺陷，如薄膜划痕、表面凹凸等。
2.2 光学元件设计•等厚干涉原理可用于设计光学元件，如反射镜、透镜等。
通过精确控制等厚干涉条件，可以实现对光学元件的波前调控，改变光学特性。
•制备光学薄膜：等厚干涉原理可用于光学薄膜的设计和制备。
通过控制薄膜的厚度和材料特性，可以实现对光的干涉效应的精确调控。
2.3 光学信息存储•光学存储器：利用等厚干涉原理，可以设计制造光学存储器，存储和读取大量的信息内容。
•光学传感器：等厚干涉原理可用于设计制造高灵敏度的光学传感器，用于物质成分分析、生物检测等领域。
2.4 激光干涉测量•激光干涉仪：等厚干涉原理可用于设计制造激光干涉仪，用于测量物体形状、表面粗糙度等。
激光干涉测量具有高精度、高灵敏度的特点，广泛应用于工业制造、地质勘探、生物医学等领域。
2.5 光学传输系统•等厚干涉原理可用于光学传输系统的设计和优化。
通过精确控制光程差，可以实现对光信号的调制和控制，提高光学传输的性能。
3. 总结等厚干涉原理是波动光学中一种重要的干涉现象，具有广泛的应用。
在干涉测量、光学元件设计、光学信息存储、激光干涉测量、光学传输系统等领域，等厚干涉原理都发挥着重要的作用。
未来随着技术的发展，等厚干涉原理在光学科学和工程领域的应用将会更加广泛和深入。
等厚干涉的原理特点应用
等厚干涉的原理、特点和应用1. 等厚干涉的原理等厚干涉是一种光学干涉现象，指的是光线在具有两个或多个等厚介质间传播时发生的干涉效应。
它基于菲涅尔（Fresnel）原理，即光线在介质边界上发生反射和折射的规律，导致光线的相位差引起干涉现象。
2. 等厚干涉的特点•等厚等相位线：等厚干涉的最显著特点是产生一系列彼此平行的等厚等相位线。
在等厚干涉图上，等厚线呈现为彩虹色的同心圆。
•颜色分布规律：等厚干涉中，不同颜色的环呈现特定的分布规律。
通常，中心为黑白交替的暗环，向外围逐渐过渡为彩虹色的明亮环。
•相位差的影响：等厚干涉的颜色变化与光线在相邻等厚介质中的相位差有关。
相位差的大小决定了干涉环的颜色与宽度。
3. 等厚干涉的应用3.1 表面形貌测量等厚干涉可用于表面形貌测量，通过观察干涉图案的等厚等相位线变化，可以推断出被测表面的形状和曲率。
这被广泛应用于光学元件的制造、光学仪器的校准以及微小器件的表面测量。
3.2 涂层薄膜分析等厚干涉也可以用于涂层薄膜的分析。
由于不同材料的折射率不同，涂层的厚度会导致光线的相位差，从而形成干涉图案。
通过观察和分析这些干涉图案，可以测量涂层薄膜的厚度、折射率和均匀性等参数。
3.3 正交偏光干涉等厚干涉可与正交偏光干涉相结合，用于材料的应力分析。
通过在光路中加入一个用于改变光线偏振方向的偏光片，可以观察到具有不同偏振方向的光线在材料中传播产生的干涉图案。
通过分析多组干涉图案，可以推断材料中的应力分布和应力状态。
3.4 光学显微镜等厚干涉技术在光学显微镜中得到了广泛应用。
基于等厚干涉的光学显微镜可以实现高分辨率的成像，对于材料的微观结构和表面形貌进行观察和分析。
在生物学、材料科学和纳米科技等领域中，该技术被广泛用于微观结构与性能的研究。
结论等厚干涉作为一种光学干涉现象，通过光线的相位差引起干涉图案的形成，具有等厚等相位线、颜色分布规律等特点。
其重要应用包括表面形貌测量、涂层薄膜分析、正交偏光干涉和光学显微镜等领域。
等厚干涉原理及应用实验
等厚干涉原理及应用实验干涉是光学中的重要现象，根据等厚干涉原理，当平行光束通过一个明线与暗线交替的干涉条纹板时，由于光线在两个不同介质中传播时产生相位差，会形成干涉条纹。
等厚干涉原理也可以应用于其他介质的干涉实验。
在等厚干涉实验中，我们可以使用一块透明的平板作为干涉条纹板，如玻璃、水、油等。
当平行入射光线照射到物体上时，一部分光线会直接透过物体，另一部分光线会发生反射。
当透射光线再次到达观察屏幕时，会与原始光线发生干涉，形成干涉条纹。
等厚干涉实验可以通过调整光源、调整入射角度等方法来观察和调控干涉条纹的变化。
我们可以用干涉条纹的形状、间距等参数来分析介质的性质和光的不同特性。
在实际应用中，等厚干涉原理可以用于测量物体的厚度、密度和表面形貌。
比如，在透明平板的干涉实验中，当我们观察到干涉条纹的变化时，可以通过测量干涉条纹的间距来计算出介质的厚度。
这种方法在材料科学、地质勘探等领域有重要的应用。
另外，等厚干涉原理也可以用于制作干涉滤波器。
通过控制干涉光的相位差，我们可以选择性地通过或反射特定波长的光线，从而制作出具有特定波长的干涉滤波器。
这种滤波器在光学仪器中广泛应用，例如光谱仪、激光器等。
此外，等厚干涉原理还可以用于制作光学元件，如透镜、光栅等。
通过在光学元件的表面上制造出特定的等厚条纹，可以改变入射光线的相位和干涉条件，从而实现光的调制和控制。
这种方法在光学器件制造和应用中具有重要意义。
总结起来，等厚干涉原理与应用实验在光学领域具有广泛的应用价值。
通过观察和分析干涉条纹的变化，我们可以获得有关介质性质、光线特性等方面的重要信息。
这些信息对于材料科学、仪器制造和光学应用等领域都具有重要意义。
因此，等厚干涉原理及应用实验是光学研究和实践中的重要内容之一。
等厚干涉及其应用实验报告
等厚干涉及其应用实验报告嘿，大家好！今天咱们聊聊等厚干，听起来是不是有点高大上，其实呢，它就是一种在材料科学里特别好用的小工具。
等厚干这东西，简单来说就是把材料做得均匀厚度，然后进行各种测试，看看它的性能到底咋样。
你说，这和咱们日常生活有什么关系呢？其实关系可大了！就像咱们吃的蛋糕，切得均匀了，才能每块都好吃嘛！如果你吃到一块特别厚的，那简直就是悲剧。
咱们的实验就是围绕这个“等厚”来展开的。
我们准备了一些样品，材料各不相同，有金属，有塑料，还有那些神秘的合金，简直是五花八门。
然后就开始了我们的大显身手。
为了确保厚度均匀，我们用上了各种仪器，测量得跟精细的厨师做蛋糕一样。
哎呀，那感觉真是紧张兮兮的，生怕一不小心就搞错了。
就像玩游戏打boss一样，稍微出错就得重来。
实验的过程中，我们有个小伙子，叫小明。
他特热衷于用一些生动的比喻来形容这些材料。
小明说，这金属就像个硬汉，强壮得不得了，而塑料就像个柔情似水的姑娘，虽然轻巧但很容易变形。
哈哈，大家都乐了，这比喻真形象！小明每次发言都能把大家逗笑，轻松的氛围让实验也变得更顺利了。
接下来的步骤就是对这些样品进行一系列的测试，看看它们的耐压、耐温和抗腐蚀能力。
我们一边测试，一边讨论，现场气氛那叫一个火热。
测试的时候，有个同学把样品弄掉了，砸到了桌子上，发出“咣当”的一声。
大家瞬间都停下来了，心想这下完了，材料肯定要报废。
结果一看，居然没事，真是个意外之喜，大家都松了一口气。
等我们把所有数据都收集齐后，开始分析结果。
这时候，才真是见证了团队的力量。
每个人都在各自的领域里发挥着作用，像一台高效的机器，转起来就停不下来。
我们用各种图表、公式把数据整合在一起，像拼图一样，慢慢拼出一个个有趣的发现。
最有意思的是，有些材料的表现出乎意料，真是让人大开眼界。
我们总结了一下这次实验的收获。
不仅学到了等厚干的应用，也意识到团队合作的重要性。
就像打麻将，四个人齐心协力，才能赢得漂亮。
等厚干涉的工作原理和应用
等厚干涉的工作原理和应用工作原理等厚干涉是一种光学干涉现象，它基于光线在介质中传播时的干涉效应。
在等厚干涉中，当光线通过一块具有等厚的透明介质时，光线会发生干涉，形成明暗条纹。
这些明暗条纹的出现是由于光线在通过介质时以不同的相位到达观察者的眼睛。
等厚干涉的原理等厚干涉的原理基于光线传播过程中的两个基本原理：光的波动性和叠加原理。
光的波动性是指光可以被看作是波动的电磁场。
光线在介质中传播时，会发生折射和反射，这些过程都可以看作是波动的电磁场沿特定方向的传播。
叠加原理是指当两个或多个波相遇时，它们会叠加在一起形成一个新的波。
在等厚干涉中，当光线从不同路径通过透明介质时，它们会叠加在一起形成明暗条纹。
发生等厚干涉的条件等厚干涉发生的条件包括：1.光源必须是连续的、单色的光源。
单色光指的是波长相同的光，例如激光器发射的光。
2.介质必须是透明的、具有相同的厚度。
只有具有相同厚度的介质才能使光线以相同的相位到达观察者的眼睛。
3.光线必须以一定的角度穿过介质。
当光线以特定角度穿过介质时，才会发生干涉。
应用等厚干涉在光学测量中的应用等厚干涉在光学测量中有广泛的应用，其中包括：1.表面形貌测量。
通过观察等厚干涉条纹的形态变化，可以测量表面的形貌和形变，从而利用这些信息进行表面质量评估和产品检测。
2.薄膜厚度测量。
等厚干涉可以用来测量透明材料的薄膜厚度，例如涂层、薄膜和玻璃等。
通过分析等厚干涉条纹的间距，可以计算出薄膜的厚度。
3.材料折射率测量。
等厚干涉可以用来测量材料的折射率，即光线在材料中的传播速度。
通过分析等厚干涉条纹的位置和形态变化，可以计算出材料的折射率。
等厚干涉在光学成像中的应用等厚干涉在光学成像中也有一些重要的应用，包括：1.厚度图像生成。
通过观察等厚干涉条纹的形态和分布，可以生成物体的厚度图像。
这对于材料的质量控制和产品的检测非常有价值。
2.目标定位和跟踪。
等厚干涉可以用来定位和跟踪目标。
通过观察等厚干涉条纹的变化，可以精确确定目标的位置和运动状态。
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3．观察劈尖产生的干涉，利用劈尖干涉测量细丝的直径（薄膜厚 度）
自行设计实验步骤，利用（3.19.7）式完成薄膜厚度的测量。 【注意事项】
1. 为消除螺距差，应保证测量的数据是显微镜向一个方向移动时 所测得的数据，中途不可倒转。
2．用劈尖测量薄膜厚度（或细丝直径） 将两块平板玻璃迭放在一起，一端夹入厚度为的薄膜（或细丝）， 则二平板玻璃间形成一劈尖形空气薄膜，如图3.19.2。当光由上方垂直 入射时，劈尖上、下表面反射的两束光产生干涉，由于光程差相等的地 方是与两平板玻璃交线平行的直线，所以干涉条纹是一组与交线平行且 等间距的直条纹。
设入射光是波长为λ的单色光，与C相距处的空气膜厚,则空气膜 上、下表面反射的两束光之间的光程差（空气折射率近似为1）为：
（3.19.1）
其中是光由DCE表面反射时，发生的半波损失。由图3.19.1中几何关系
知
（3.19.2）
当
，
（3.19.3）
时，产生暗条纹。将（3.19.2）式代入（3.19.3）式，得第级暗环的半
轮，使镜筒慢慢由下向上移动（为什么？），同时从目镜中观察，直至看到 清晰的干涉条纹为止。观察并记录牛顿环产生的干涉条纹特征。
2.3 调节读数显微镜叉丝使竖叉丝与显微镜筒移动方向垂直。转动 刻度手轮使显微镜筒位于行程的中间位置。轻移牛顿环使叉丝对准牛顿 环的中心。
2.4 转动刻度手轮，观察能够清楚看到干涉条纹的级数范围（比 如30级），移过30级，反方向移动显微镜，退到第25环，依次记下第 25、24…20级、第15、14…10级暗环环心左侧位置、右侧位置，计算各 级干涉圆环的直径，利用逐差法求时对应的直径平方差
镜ACB，以凸
图3.19.1 面相接触，除了接触点外，两玻璃间便形成一厚度不均匀的空气膜层， 其厚度相等的地方是以接触点为中心的同心圆。如果光由上方垂直入 射，则空气薄膜上、下表面反射的两束光之间发生干涉现象。光程差相 等的地方是以C点为中心的同心圆，因此干涉条纹是一族以C为中心的同 心圆环，称为牛顿环。
本实验通过牛顿环测平凸透镜的曲率半径，劈尖测量薄膜的厚 度，加深对光的波动性和等厚干涉的理解，掌握光干涉法测量的基本思 想。 【实验目的】
1．观察光的等厚干涉现象并熟悉其特点。 2．掌握用牛顿环测量球面曲率半径的原理和方法。 3．掌握等厚干涉法测量微小直径或薄膜厚度的方法。 4．熟悉读数显微镜的调整和使用方法。 【预习思考题】 1．用牛顿环测球面的曲率半径时，能否先测得某一圆环的直径， 用公式计算值?为什么? 2．使用读数显微镜时要注意哪些问题？如何用读数显微镜测量牛 顿环的直径？ 【实验仪器】 钠光灯、牛顿环仪、，劈尖，读数显微镜。 【实验原理】 1．用牛顿环测定透镜的曲率半径 如图3.19.1，在平板玻璃DCE上，放置一块曲率半径R很大的平凸透
（3.19.5） 式中：和分别为第级和第级暗环的直径。由式（3.19.5）可知，只要数 出所测各环的环序差，而无需确定各环的级数。此外，为了减小测量误 差，应选取距中心较远的、比较清晰的两个环来测量，且使值取大些。 这样将成倍地减小读数显微镜的测量叉丝与干涉条纹对准时产生的定位 误差，提高测量的精密度。
2. 测量数据时，叉丝竖线应与干涉环相切，注意消除视差，正确 读取有效数字。 【数据记录与处理】 表 牛顿环直径的测量
环序
25
24
23
22
21 20
环位置/
环直径/ 环序
15 14 13 12 11 10
环位置/
环直径/
/ /
/
令；
；
；
；
；
；
。
【思考题】
1．用什么方法可以判断出待测面是平面还是球面?若是球面．又如
径。
（3.19.4） 若已知，由实验测量出第级暗环的半径，就可由式（3.19.4）算出。但 由于平凸透镜和平面玻璃板的接触处附有尘埃而未能接触或接触时受力
产生了形变，故接触处不可能是一个几何点，而是一个圆斑，以致难以 判定干涉环的中心和级次，因此要利用（3.19.4）式来测量实际上是不 可能的。在实际测量中，常将（3.19.4）式变为如下形式：
1．熟悉读数显微镜的结构、调节原理及方法。
图3.19.3
1．目镜调焦手轮 2．镜筒 3．物镜调焦手轮 4．立柱 5．横杆 6．刻度手轮 7．物镜 8．透反镜 9．载物台
2．用牛顿环仪测量平凸透镜的曲率半径 2.1 将牛顿环仪置于读数显微镜载物台上，调节钠灯高度，使其与 物镜下方的透反 镜等高。点燃钠光灯，翻转载物台下方反射镜，使之不能反射钠光，转 动物镜下方透反 镜，使显微镜视场中亮度大且光场分布均匀。 2.2 转动目镜调焦手轮使目镜视场中叉丝清晰，然后转动物镜调焦手
3.19 等厚干涉的应用
【实验简介】 光的干涉是重要的光学现象之一。同一光源发出的光被分成两束
光，它们经过不同的路径相遇时，一般会产生干涉现象。对相邻两干涉 条纹来说，形成干涉条纹的两束光的光程差的变化等于相干光的波长。 因此，测量干涉条纹数目和间距的变化，可以知道光程差的变化，从而 可以推知以光波波长为单位的微小长度变化或微小折射率差值等。所 以，干涉现象在科学研究和工业测量中得到广泛的应用，如测量光波波 长，测量微小角度或薄膜厚度，检验光学表面加工质量，测量液体折射 率等。
何判定该球面是凸面还是凹面？
2．实验中遇到下列情况，对实验结果是否产生影响？为什么？
（1）牛顿环中心是亮斑而非暗斑。
（2）测牛顿环直径时，叉丝交点未通过3.19.2 设入射光是波长λ的单色光，由（3.19.1）和（3.19.3）式可得
（3.19.6） 一般来说值很大，且干涉条纹细密，直接数出干涉条纹数难免出现
差错，因此可先测出单位长度上的条纹数，再测出薄膜（或细丝）与两
玻璃板交线的距离L，则总的干涉条纹数代入（3.19.6）式得薄膜（或 细丝）直径为 （3.19.7） 【实验内容与步骤】