接触阻抗测试方法
安规测试面面观-浅谈人体阻抗模型(MD) & 接触电流测试方法
安规测试面面观–浅谈人体阻抗模型(MD) & 接触电流测试方法前言：在华仪电子前几期的电子报中曾经为各位介绍有关电源泄漏电流测试(Line Leakage Current Test, LLT)或是现在根据IEC60990所描述专为人体的泄漏电流测试称为”接触电流测试(Touch Current Test ,TC Test)”的应用和测试方法。
但在这一期的的电子报中我们将为各位介绍有关接触电流测试不可少的部份就是人体阻抗模型(Measuring Device, MD)，我们要知道因为是模拟人体的阻抗，所以会有男生和女生的差异，还有也会因为生病，人体的阻抗结构也会有所改变，当然外在因素如:触电的电压/频率、触电时间、接触面积、湿度环境都会有着绝对密切的关系。
人体阻抗模型Measuring Device(MD)人体的阻抗基本上可分为两种，一是皮肤阻抗(Skin Impedance)，一为人体内部阻抗(Internal Impedance)，所以总的人体阻抗(ZT)的定义为皮肤阻抗(Zp)与人体内部阻抗(Zi)的向量和。
人体阻抗的等效电路就如(图一)所示，其中Zp1及Zp2代表人身上任何两处，Zi代表人体内部的阻抗，人体阻抗分为皮肤阻抗和人体内阻抗的原因，乃是因为这两种阻抗无论是阻抗值或特性均有很大的差异：(图一)人体阻抗的等效电路(1) 皮肤阻抗Zp (Skin Impedance)人体的皮肤阻抗基本上是非常近似一个电阻和一个电容并联的等效阻抗，影响皮肤阻抗的因素很多如: 电压、频率、触电时间、接触面积、接触力度、皮肤湿度，甚至呼吸的状况都有关系。
底下将说明电压高低、频率大小、时间长短和湿度对人体皮肤阻抗的影响。
电压的影响：当电压在50V 以下时，皮肤的阻抗明显受到接触面积、室温及呼吸状况的影响；但当电压在50V以上时，皮肤阻抗则明显下降到几乎可以忽视的地步。
频率的影响：'当频率越高时，皮肤阻抗则越低，这也是为什么皮肤的阻抗等效电路会采用一个电容和一个电阻并联的原因。
连接器规范和测试要求
【技术&知识】连接器规范和测试要求文：Knight Chen / CACT 工程部连接器依照其产品功能和使用环境，将规范要求分为四大部分。
1. 电气规范要求2. 机械规范要求3. 环境规范要求4. 环保要求一、电气规范要求电气特性是连接器实现连接功能的主要特性。
确定连接器的电气特性，以保证连接器满足连接功连接器的电气特性有：1. 接触阻抗（Contact Resistance）目的：维持连接器在使用期限内的接触阻抗，以减少信号和能量在传输过程中的损失或衰减。
测试方法：EIA-364-23 (EIA-364-06) or MIL-STD-1344A,。
测试要点：a. 测试电流/电压100mA@20mV，被测试连接器（连接系统）无负载。
b. 测试电流为低电流是为了避免接触阻抗受到端子（导体）热电效应影响。
c. 测试电压为低电压是为了避免端子（导体）之间接触界面绝缘薄膜被击穿和熔化。
规范要求：一般要求50m?（initial）；100m?（final，即在寿命测试或环境测试後）。
定义接触阻抗此参数是为了减少信号和能量在传输过程中的损失或衰减，电流就像水流一样。
阻小，能量的损失和衰减就越少。
就连接器的接触处而言，影响其阻抗大小的因素有正向力（对於弹性接触结构而言），接触环境端子（导体）的表面粗糙度，表面处理方式（如电镀的金属特性和致密性），端子与端子（或其他导的结合方式（是焊接or铆合or弹性接触等）。
从电学理论角度来说，接触阻抗为C点绿色圈接触处的阻抗；在客人使用角度来说，连接器提供到B点的导通（连接），所以客人要的阻抗应包含从A点到B点的所有导体本身的阻抗和接触处的阻抗括焊接、铆合等接触方式）如图一示。
（图一）2. 耐电压(Withstanding Voltage)目的：确认两导体（或两回路）之间的绝缘介质（包含气体）及其间距是否适合和足够，以确保器在开关冲击电压或意外过载（一定时间内的过电压）状态下能维持正常功能，确保安全性。
eis接触阻抗
eis接触阻抗电化学阻抗谱（EIS）是一种广泛应用于电化学界的测试技术，用于表征电化学体系中的阻抗响应。
在电化学体系中，EIS通过对交流电信号的响应来测量阻抗。
接触阻抗是EIS的一个重要参数，用于研究材料在接触界面上的电荷传递和离子传输过程。
本文将讨论EIS接触阻抗的基本原理、测试方法以及在材料研究领域中的应用。
一、EIS接触阻抗的基本原理EIS通过在电化学体系中施加一个交流电信号，然后测量电流和电压之间的响应来分析材料的电化学行为。
在接触阻抗分析中，我们通常使用一个等效电路模型来描述材料的电化学特性。
等效电路模型由多个电容、电感和电阻组成，每个元件代表了材料中的不同电化学过程。
接触阻抗可以通过模型中的电阻值来计算得到。
二、EIS接触阻抗的测试方法进行EIS接触阻抗测试时，我们通常使用电化学工作站或电化学频率响应分析仪。
测试前，样品需制备成合适的形状和尺寸，并在实验室环境中进行表面清洁。
在测试过程中，通过施加交流电信号并测量响应的电流和电压，我们可以获取电阻抗谱。
电阻抗谱可以表示为频率的函数，用于分析材料和接触界面的电化学动力学行为。
三、EIS接触阻抗在材料研究中的应用1. 金属腐蚀研究：EIS接触阻抗可以用于研究金属材料的腐蚀行为。
通过测量金属材料在腐蚀介质中的接触阻抗变化，可以评估材料的耐腐蚀性能，并进一步优化材料设计。
2. 锂离子电池研究：EIS接触阻抗被广泛应用于锂离子电池的研究中。
锂离子电池的性能和寿命与材料的电化学界面密切相关。
通过分析电池材料的接触阻抗，可以评估电极材料的电荷传输特性和界面稳定性，从而提高电池性能。
3. 腐蚀保护研究：在腐蚀保护领域，EIS接触阻抗可用于评估涂层和防护层的质量和效果。
通过分析接触阻抗的变化，可以监测涂层的附着性、耐腐蚀性和防护性能，为腐蚀保护策略的制定提供依据。
四、总结EIS接触阻抗是一种重要的电化学测试技术，用于研究材料在接触界面上的电化学行为。
通过测量交流电信号的响应，我们可以获得电阻抗谱，从而评估材料的电化学特性。
EIA-364-23A接触阻抗实验规范
电子连接器接触电阻测试方法公告EIA工程标准和出版物是为服务于公众利益而制定的,它是为了消除生产者和购买者之间的误解,促进产品的交流和提高,并帮助购买者在最短时间内挑选到他所需要的满意的产品﹒该标准的提出会促使EIA的成员在生产和销售产品时遵循该标准﹐而它也可以由国内外非EIA成员自愿使用﹒对于推荐标准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在选取时未考虑其专利内容,故在此过程中EIA对任何专利所有者不承担责任﹐对任何采用该标准的机构也不承担责任﹒电子工业协会（EIA）工程部出版2001年华盛顿D.C.20006，N.W.Eye大街。
1985年印刷EIA版权所有U.S.A印制电子工业协会测试方法#23A电子连接器的接触电阻测试方法此EIA推荐标准是基于国际电子技术委员会(IEC)的技术内容;推荐512—2, 测试2a, 接触电阻－毫伏测试方法,1976.它符合此IEC推荐的所有必要方面.电子工业协会测试方法#23A电子连接器低等位接触电阻测试方法(摘自EIA建议标准NO.1654-A﹐EIA P-5.1工作组组织提出﹒)注：此TP-23早期颁布EIA RS-3641.0 TP-23低等位接触电阻2.0 目的本方法是介绍一种在标准方法测量一配套端子，在绝缘层没有被破坏或熔化的情况下的接触电阻。
3.0 样品准备3.1 测试样品由一对配合的端子组成，如一个锡脚和一焊座﹐极性相反的相配套端子或印刷电路板和它的配合端子。
3.2 用规格中所说明的电线按图2A所示进行联机﹐端子配合如图2B所示﹒3.3 测试样品应组装成能进行正常工作的连接器﹐不能安装成连接器的样品不得以任何其它方法强行安装，若强行安装会影响相配端子内接触面的强力。
4.0 测试方法4.1 测试仪器测试仪器包括﹕4.1.1满偏量程精确至±2％或确切读数精确至±10％的合适范围的毫伏表。
4.1.2一个低等位回路具备传递和准确测量最大电流100mA和最大开路电位20mV的能力。
连接器功能测试
连接器功能测试连接器功能测试是一种验证连接器在不同条件下的性能和可靠性的测试方法。
连接器是一种常见的电子组件，用于将电子设备中的电气和信号连接起来。
连接器功能测试的目的是确保连接器能够正常连接并传输电力或信号，以保证整个系统的正常运行。
1.接触阻抗测试：连接器的接触端子应具有低接触阻抗，以确保信号或电流能够正常传输。
测试方法包括使用万用表或示波器测量连接器端子之间的电阻或电压降。
2.插拔力测试：连接器的插拔力应在一定范围内，既不能太松也不能太紧。
测试方法包括使用力传感器或力测量仪测量连接器插拔时所需的力。
3.拔出力测试：连接器在正常使用情况下，应能够经受一定的拔出力，以保证连接的可靠性。
测试方法包括使用力传感器或力测量仪测量连接器拔出时所需的力。
4.阻燃性测试：连接器应具有阻燃性能，即在发生火灾时能够防止火势扩散。
测试方法包括将连接器暴露在一定温度下，并观察是否会产生明火或大量烟雾。
5.耐电压测试：连接器在规定的电压下应具有一定的耐电压能力，以确保系统安全。
测试方法包括在连接器的两个接点之间施加一定的电压，观察是否会出现击穿或漏电现象。
6.耐环境测试：连接器应能够在不同的环境条件下正常工作，包括高温、低温、湿度、振动等。
测试方法包括将连接器暴露在不同的环境条件下，并观察其性能是否受到影响。
7.振动测试：连接器应能够在正常振动条件下保持连接的可靠性。
测试方法包括将连接器置于振动台上，并观察其连接是否松动或出现异常。
8.冲击测试：连接器应能够在一定的冲击条件下保持连接的可靠性。
测试方法包括将连接器暴露在一定的冲击力下，并观察其连接是否松动或损坏。
9.寿命测试：连接器应具有一定的使用寿命，以确保其可靠性和持久性。
测试方法包括进行连接插拔次数的测试，以模拟实际使用条件下的连接器寿命。
10.封装性能测试：连接器应具有良好的封装性能，以防止灰尘、水汽等外界物质进入导致故障。
测试方法包括将连接器暴露在灰尘或水汽环境中，并观察其性能是否受到影响。
轻触开关接触电阻测试方法
轻触开关接触电阻测试方法：
轻触开关接触电阻的测试方法主要包括以下步骤：
1.准备工具和材料：轻触开关、万用表、探头、导线等。
2.将轻触开关的两个引脚与万用表的两个探头连接。
在这个过程中，需要注意将万用
表调整到电阻测量模式，并选择合适的量程。
3.按下轻触开关，观察万用表上的电阻数值。
如果电阻数值为零或非常接近零，说明
轻触开关正常工作。
如果电阻数值非常大或无穷大，说明轻触开关存在故障。
4.如果需要进一步测试轻触开关的接触电阻，可以多次按下轻触开关，观察每次测量
的电阻数值是否一致，如果一致则说明轻触开关的接触电阻正常。
什么是接触电阻？连接器接触阻抗测试方法
什么是接触电阻？连接器接触阻抗测试方法在显微镜下观察连接器接触件的表面，尽管镀金层十分光滑，则仍能观察到5-10微米的凸起部分。
会看到插合的一对接触件的接触，并不整个接触面的接触，而是散布在接触面上一些点的接触。
实际接触面必然小于理论接触面。
根据表面光滑程度及接触压力大小，两者差距有的可达几千倍。
实际接触面可分为两部分：一是真正金属与金属直接接触部分。
即金属间无过渡电阻的接触微点，亦称接触斑点，它是由接触压力或热作用破坏界面膜后形成的。
部分约占实际接触面积的5-10%；二是通过接触界面污染薄膜后相互接触的部分。
因为任何金属都有返回原氧化物状态的倾向。
实际上，在大气中不存在真正洁净的金属表面，即使很洁净的金属表面，一旦暴露在大气中，便会很快生成几微米的初期氧化膜层。
例如铜只要2-3分钟，镍约30分钟，铝仅需2-3秒钟，其表面便可形成厚度约2微米的氧化膜层。
即使特别稳定的贵金属金，由于它的表面能较高，其表面也会形成一层有机气体吸附膜。
此外，大气中的尘埃等也会在接触件表面形成沉积膜。
因而，从微观分析任何接触面都是一个污染面。
综上所述，真正接触电阻应由以下几部分组成：1) 集中电阻电流通过实际接触面时，由于电流线收缩（或称集中）显示出来的电阻。
将其称为集中电阻或收缩电阻。
2) 膜层电阻由于接触表面膜层及其他污染物所构成的膜层电阻。
从接触表面状态分析；表面污染膜可分为较坚实的薄膜层和较松散的杂质污染层。
故确切地说，也可把膜层电阻称为界面电阻。
3) 导体电阻实际测量电连接器接触件的接触电阻时，都是在接点引出端进行的，故实际测得的接触电阻还包含接触表面以外接触件和引出导线本身的导体电阻。
导体电阻主要取决于金属材料本身的导电性能，它与周围环境温度的关系可用温度系数来表征。
为便于区分，将集中电阻加上膜层电阻称为真实接触电阻。
而将实际测得包含有导体电阻的称为总接触电阻。
在实际测量接触电阻时，常使用按开尔文电桥四端子法原理设计的接触电阻测试仪（毫欧计），其专用夹具夹在被测接触件端接部位两端，故实际测量的总接触电阻R由以下三部分组成，可由下式表示：R= RC + Rf + Rp,式中：RC—集中电阻；Rf—膜层电阻；Rp—导体电阻。
连接器接触阻抗
连接器接触阻抗连接器是电子设备中常用的元件之一，它用于连接不同部件或设备，传递信号或电力。
而连接器的接触阻抗则是衡量连接器性能的一个重要指标。
本文将从接触阻抗的定义、影响因素以及测试方法等方面进行探讨。
接触阻抗是指连接器接触部分的电阻。
在连接器的接触界面上，存在着微小的间隙和不完美的接触情况，这就导致了接触部分会有一定的电阻。
接触阻抗的大小直接影响着连接器的信号传输质量和功耗。
因此，对于高性能连接器来说，接触阻抗的控制至关重要。
那么接触阻抗受到哪些因素的影响呢？首先，连接器接触材料的选择对接触阻抗有着重要的影响。
一般来说，导电性能好且表面光滑的材料能够更好地减小接触阻抗。
其次，连接器接触部分的接触面积也会对接触阻抗产生影响。
较大的接触面积可以降低接触阻抗，提高信号传输效果。
此外，连接器接触部分的形状和结构也会影响接触阻抗。
设计合理的接触形状和结构可以减小接触阻抗，提高连接器的性能。
为了准确测量连接器的接触阻抗，需要使用专门的测试方法。
目前常用的测试方法有直流电阻测试、交流电阻测试和频率扫描测试等。
直流电阻测试是通过施加直流电压来测量连接器的接触电阻，适用于低频信号传输。
交流电阻测试则是通过施加交流电压来测量连接器的接触阻抗，适用于中高频信号传输。
频率扫描测试则是通过在一定频率范围内不断变化测试信号的频率，并测量连接器的阻抗响应，可以得到连接器在不同频率下的接触阻抗。
在实际的应用中，连接器的接触阻抗对信号传输有着重要的影响。
较大的接触阻抗会导致信号损耗加大，从而影响信号的传输质量。
因此，在设计和选择连接器时，需要考虑接触阻抗的因素，并选择合适的连接器来满足特定的应用需求。
连接器的接触阻抗是衡量连接器性能的一个重要指标。
它受到连接器材料、接触面积、形状和结构等因素的影响。
通过适当的测试方法可以准确测量连接器的接触阻抗。
在实际应用中，合理控制接触阻抗可以提高连接器的信号传输质量，并满足不同应用需求。
因此，对于电子设备的设计和应用来说，连接器接触阻抗的理解和控制至关重要。
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接触阻抗测试方法
接触阻抗测试方法是用来测量电极与测试物质之间的接触质量的一种测试方法。
在许多领域中，如医疗设备、生物传感器、电化学分析等，接触阻抗是一个重要的参数，它可以影响到电流传输和信号传感的效果。
因此，准确地测试接触阻抗对于保证设备和传感器的性能至关重要。
接触阻抗测试方法可以采用多种技术，下面将介绍其中几种常见的方法。
1. 四电极法（Four-electrode method）
四电极法是一种常用的接触阻抗测试方法。
该方法使用两对电极，一对电极用于施加电流，另一对电极用于测量电压。
通过测量电压和电流的关系，可以计算出接触阻抗的值。
四电极法的优点是能够准确测量接触阻抗，而不受电极电阻的影响。
2. 微分阻抗法（Differential impedance method）
微分阻抗法是一种基于频率扫描的接触阻抗测试方法。
该方法通过施加不同频率的电流信号，并测量相应的电压响应，然后根据频率和相位差的变化来计算接触阻抗。
微分阻抗法的优点是可以快速测量大范围的接触阻抗，并且对于复杂的接触体系也适用。
3. 电化学阻抗谱法（Electrochemical impedance spectroscopy, EIS）
电化学阻抗谱法是一种基于交流电信号的接触阻抗测试方法。
该方法通过施加交变电压或电流信号，并测量相应的电压和电流响应，然后利用频率和相位差的变化来计算接触阻抗。
电化学阻抗谱法的优点是可以准确测量接触阻抗，并且对于液体和固体接触体系都适用。
4. 接触电阻法（Contact resistance method）
接触电阻法是一种简单直接的接触阻抗测试方法。
该方法通过测量电极之间的电压和电流来计算接触阻抗。
接触电阻法的优点是仪器简单易用，测试速度快，但对于高接触阻抗的测试物质可能不够准确。
以上介绍了几种常见的接触阻抗测试方法，每种方法都有其适用的场景和优缺点。
在选择测试方法时，需要根据具体的应用需求和测试对象的特性来进行选择。
同时，在测试过程中需要注意保持测试环境的稳定和准确，避免外界干扰对测试结果的影响。
接触阻抗测试方法是一种重要的测试手段，可以用于评估电极与测试物质之间的接触质量。
通过选择合适的测试方法，可以准确地测量接触阻抗，并为相关领域的研究和应用提供有力支持。