光学测量仪器

光学测量仪器
光学测量仪器

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光学测量仪器

光学影像测量仪是集光学、机械、电子、计算机图像处理技术于一体的高精度、效率高、高可靠性的测量仪器。由光学放大系统对被测物体进行放大,经过CCD摄像系统采集影像特征并送入计算机后,可以效率高地检测各种复杂零部件的轮廓和表面形状尺寸、角度及位置,进行微观检测与质量控制。

在实际应用中,尽管光学计量仪器多种多样,但它们的光学原理却都基于四种基本原理,它们是:望远光学原理、显微光学原理、投影光学原理、干涉光学原理。基于应用不同的光学原理,光学计量仪器可分为:自准直类光学计量仪器、显微镜类光学计量仪器、投影类光学计量仪器、光干涉类光学计量仪器四大类。

光电探测技术是现代信息获取的主要手段之一,光电探测技术的发展是随着其他关键技术的发展而发展的,由于激光技术、光波导技术、光电子技术、光纤技术、计算机技术的发展,以及新材料、新器件、新工艺的不断涌现,光精密量仪测量工具传感器游标卡尺

https://www.360docs.net/doc/5e12372519.html, 电探测技术取得了巨大发展。近年来,光电探测技术引起了业内人士的普遍关注,在军事和民用领域占有越来越重要的地位。近年来涌现出的各种新型光电探测技术,包括微光探测、偏振探测、量子探测、单光子探测技术。

光学测量仪器选择首先要做到符合要求。比如,一台高精度的研发级别的光谱仪,并不一定适合日常对显示设备的校正,由于其精度高导致速度慢;由于光谱仪一般为非接触式的仪器,那么对环境要求就比较高。一个正确的流程应该是用低级的能保证测量速度和稳定性的色度计采集数据校正,用一台精度高符合标准的光谱仪来对色度计做一组校正数据(Offset),这样可以保证色度计在大部分亮度校正时的准确测量。

马尔测量始于1861年。19世纪的工业革命不仅促进了制造业快速发展,

同时唤起了对机械零件加工的精度要求。我们的工作就是确保测量结果的准确性。作为世界测量仪器的顶级生产商之一,多年以来,马尔的产品已涉及许多领域,并成为专业的测量应用专家。

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https://www.360docs.net/doc/5e12372519.html, 南京茂肯机电设备有限公司是马尔长期合作伙伴。南京茂肯机电设备有限公司是一家集科工贸一体的系统集成供应商。主要经销轴承、电机电器、电线电缆、阀门水泵、仪器仪表、机械、五金工具、起重机械及配件、金属材料、橡塑制品、办公用品、劳保用品。经销产品广泛用于电力、化工、汽车制造、机床设备、印刷机械、冶金等行业。

茂肯机电设备致力于企业的产品推广销售,为企业提供服务。公司始终以“诚信、创新、共赢”的经营理念,依托优良的产品品质和产品价格竞争力,为客户提供良好的售前、售后服务,提供轴承、导轨滑块、电机电器、电线电缆、阀门水泵、仪器仪表等机电设备产品一站式自动化解决方案。

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光学测量复习题

1.光学测量:对光学材料、零件及系统的参数和性能的测量。 2.直接测量:无需对被测的量与其他的实测的量进行函数关系的辅助计算,而直接得到被测值的测量。 3.间接测量:直接测量的量与被测的量之间有已知的函数关系,从而得到该被测量的测量。 4.测量误差原因:(测量装置误差)(环境误差)(方法误差)(人员误差)。 5.测量误差按其特点和性质,可分为(系统误差)、(偶然误差)和(粗大误差)。 6.精度:反应测量结果与真实值接近程度的量。 7.精度分为:①正确度:由系统误差引起的测量值与真值的偏离程度②由偶然误差引起......③由系统误差和偶然误差引起的...... 8.偶然误差的评价:(标准偏差)(极限误差)。 9.正态分布特征:(单峰性)(对称性)(有界性)(抵偿性)。 10.确定权的大小的方法:(根据测量次数确定)(由标准偏差确定)。 11.对准(横向对准)是指在垂直于瞄准轴方向上,使目标和比较标记重合或置中的过程,又称横向对准。 12.调焦(纵向对准)指目标和比较标记瞄准轴方向重合或置中的过程。 13..对准误差:对准残留的误差。 14.调焦误差:调焦残留的误差。 15.常用调焦方式:(清晰度法)、(消视差法)。 16.清晰度法:以目标象和比较标志同样清晰为准,其调焦误差由几何景深和物理景深决定。 17.消视差法:以眼睛垂直于瞄准轴摆动时看不出目标象和比较标志有相对错动为准,调焦误差受对准误差影响。 18.平行光管:是光学测量中最常用的部件,发出平行光,用来模拟无限远目标,主要由(望远物镜)和(安置在物镜焦平面上的分划板)构成。 19.调校平行光管的目的:是使分划板的分划面位于物镜焦平面上。调校方法:(远物法)、(可调前置镜法)、(自准直法)、(五棱镜法)和(三管法)。 20.自准直仪:(自准直望远镜)(自准直显微镜)。 21.自准直目镜是一种带分划板和分划板照明装置的目镜。一般不能单独使用,应与望远镜物镜配合构成自准直望远镜;与显微镜物镜配合构成自准直显微镜。它们统称自准直仪。 22.常用自准直目镜:(高斯目镜)、(阿贝目镜)、(双分划板式自准直目镜)。 23.剪切干涉法常见的平板式横向剪切干涉仪,它是以干涉条纹成无限宽,即干涉场中呈均匀一片作为判别光束准直性基准的。 24.双楔板剪切干涉法的原理? 解:假设楔板的棱边平行于x轴(棱边呈水平状态),并倾斜至于光路中。一离焦板的光波Kd(x2+y2)经楔板前,后面反射,则反射波沿x方向被横波向剪切。干涉条纹是一组与x轴倾斜的直线簇,在重叠区域形成的条纹可表示为(nkβ)y+(KDs)x=mπ 25.V棱镜法的检测原理:当单色平行光垂直的入射到V棱镜的ED面时,若被检玻璃折射率n与V棱镜折射率n0完全相同,则出射光不发生任何偏折的射出;若n与n0不等,则出射光相对入射光有一偏折角θ,若测出θ,就可计算出折射率。 26.V棱镜折光仪:主要用于平行光管、对准望远系统、读数显微镜系统和标准V块组成。 27.V棱镜折光仪的使用方法:平行光管分划板的刻线是在水平透光宽缝中间刻一细长线。由平行光管射出的单色平行光束经V棱镜和待检试样后,产生偏折角θ,转动望远镜对准平行光管的刻线象。当望远镜对准时,带动度盘转动。有读数显微镜读得角θ,其整数部分由度盘读出,小数部分由测微目镜读出。 28.最小偏向角法的测量原理:单色平行光沿MP方向射出,入射光与出射光的夹角δ为偏

测量仪器说明书

目录 一、GeoPluse浅地层剖面仪操作规程 (1) 1、仪器简介 (1) 1)功能简介 (1) 2)系统配置 (1) 2、GeoPluse浅地层剖面仪系统配置连接 (1) 1)换能器安装 (1) 2)5430A收发机与5210A接收机连接 (2) 3)接通电源 (4) 3、5210A与5430A收发机功能键简介 (4) 1)5430A收发机功能键简介 (5) 2)5210A接收机功能键简介 (5) 4、数据采集后处理 (7) 二、Knudsen 320Ms双频测深仪操作规程 (14) 1、仪器简介 (14) 1)工作原理 (14) 2)功能简介 (14) 2、系统配置连接 (15) 1)换能器连接 (15) 2)Knudsen 320Ms主机与电脑的连接 (15) 3)接通电源 (16) 3、Knudsen 320Ms菜单结构 (16) 4、数据采集后处理 (21) 三、TideMaster型潮位仪操作规程 (29) 1、仪器硬件设置 (29) 1)主要设备仪器 (29) 2)操作及安装使用 (31) 2、临时验潮站站址选择原则 (31) 3、仪器的软件设置 (31) 四、GPS操作规程 (41) 1、工作原理 (41) 2、基准站操作 (41) 1)仪器架设 (41) 2)用手簿启动基准站 (44) 3、Trimble SPS461 GPS罗经设置及使用说明 (46) 1)网络连接方法设置461 (46)

2)SPS461 信标机定位定向仪液晶屏设置说明 (51) 五、海底管线铺设导航、定位技术 (64) 1、GPS定位原理 (64) 2、海洋定位技术 (65) 1)差分GPS技术 (65) 2)信标差分技术 (65) 3、GPS 控制网及基准站的设立解算 (66) 1)基准站的选定和设立 (66) 2)GPS控制网的布设、施测和解算 (67) 3)测区的坐标七参数的解算 (68) 4)利用转化参数转换坐标 (69) 4、海底管道施工导航定位技术 (69) 1)海底管线临时定位桩施工 (69) 2)铺管船法海底管线铺设导航定位 (71) 六、海底管线预、后调查方案 (75) 1、概述 (75) 1)项目概述 (75) 2)海底管线状态简介 (75) 2、使用检测仪器进行海底管线铺设后调查内容 (76) 1)海底管线外观检查 (76) 2)经处理后的完工调查 (77) 3、后调查作业设备及选用原则 (77) 1)测深设备 (77) 2)旁侧声纳 (78) 3)浅地层剖面仪 (78) 4、调查作业施工 (79) 1)作业准备 (79) 2)计划线布设 (79) 3)作业方法和步骤 (80) 4)作业注意事项 (82) 5、数据采集、记录以及报告 (83) 1)数据采集 (83) 2)数据处理 (84) 6、组织机构与职责 (85)

IOL Master光学生物测量仪

眼视光特检技术十二 2007-06-1508:52A.M. 第十二章IOLMaster光学生物测量仪 光学干涉生物测量的原理和概念,眼轴长度、角膜曲率测量、前房深度测量、角膜直径测定和人工晶状体度数计算的操作方法,资料分析和临床应用,晶状体常数优化等技术,操作注意事项。 第一节概述 一、光学生物测量的原理 激光干涉生物测量是基于部分干涉测量的原理,采用半导体激光发出的一束具有短的干涉长度(160μm)的红外光线(波长780nm),并将其分成两束,使之具有相干性;同时,两束光分别经过不同的光学路径后,都照射到眼球,而且都经过角膜和视网膜反射回来。干涉测量仪的一端对准被测量的眼球,另一端装有光学感受器,当两束光相遇时,如果这两束光线路径距离的差异小于干涉长度,光学感受器即能测出干涉信号,根据干涉仪内的反射镜的位置测出的距离就是角膜到视网膜的光学路径(图12-1)。 图12-1利用IOLMaster进行光学生物测量 图中,眼球轴长即是角膜前表面到视网膜色素上皮层的光学路径距离。光学测量曲线显示光学感受器接收到与眼底位置相关的干涉信号曲线。最强的峰值可以认是视网膜色素上皮层;最强峰值旁对称的次级峰是半导体激光的。 二、IOLMaster光学生物测量仪 IOLMaster(图12-2)是一种计算人工晶状体度数进行眼球轴长测量而设计的仪器,它将角膜曲率、角膜直径(white-to-white,白到白角膜直径(white-to-white,白到白)图12-2IOLMaster光学生物测量仪、前房深度、眼球轴长的测量集中于一体,同时还提供足量资料用于眼轴监测,前房型IOL植入术术前检查。 IOLMaster眼球轴长的测量沿着视轴的方向,获得从角膜前表面到视网膜色素上皮层的光学路径距离。它是一种非接触性的测量方法,因探头无需接触角膜,故角膜无需表麻、不会造成角膜上皮损伤和感染;因不需要使用浸入法超声测量所用的罩杯,故患者易接受;能自动判断眼别,方便测量且无眼别错误。检测时患者采取坐位,操作过程与其它生物学测量相似。 该仪器的测量范围:角膜曲率从5mm~10mm(角膜前表面半径),前房深度1杄5mm~6杄5mm,眼球轴长14mm~40mm,根据显示幕所设定的缩放比例,测量结果精确度可达到±0杄02mm。内置软件提供计算人工晶状体度数的公式包括:SRKⅡ、SRK/T、HolladayI、HofferQ以及Haigis五种,可根据不同眼轴进行选择。同时它提供20种不同类型人工晶状体的资料。 第二节操作技术

AOI自动光学检测仪维护保养手册—范文

AOI 自动光学检测仪维护保养手册—范文 一、使用安全注意事项为安全使用本设备请注意以下事项严格遵守: 1 .操作人员必须接受相关的安全和操作培训。 2 .供给电源必须符合设备铭牌指定的工作电压、电流及赫兹,地线必须接地。 3 .在插接电源电缆时注意插牢,防止接触不良或脱落。 4 .设备整体移动过程中注意不要使设备受到强烈震动和撞击。 5 .移动设备电脑,注意轻挪轻放,防止电脑内部板卡震动松懈。 6 .不能频繁开关设备主电源、电脑电源。 7 .软件在启动过程中,应避免用手接触PCB 夹具,防止夹伤手指。 8 .PCB 夹具固定适当,注意防止检测过程中PCB 脱落。 9 .若检测过程中发生紧急情况,请迅速按“ 急停” 按钮。待解除紧急情况后,复位“急停” 按钮后按提示操作。 1 0 .若发现设备检测运动异常,立即停止检测,在排除操作人员程序错误后,请直接与本公司或授权销售商联系。 1 1 .请注意设备工作环境,保养和及时维护。 二、设备正常工作环境 为了确保设备正常工作,保证检测的准确性和延长设备使用寿命,请注意提供设备正常工作所需要的工作环境。 1 . 设备放置位置已调整水平(1 米+/-0.0 2 米)。 2 . 周围温度5-40 度内,湿度在35-80 %范围内。 3 . 没有阳光直射,不会结露。 4 . 少粉尘,无飞溅液体喷出。 5 . 设备安装时应在前后留有足够的空间,以供操作、设备散热及维修等方便。

6 . 保持设备外观的清洁,不允许使用腐蚀性的溶剂擦拭表面。 7 . 设备在工作过程中不允许受到剧烈震动或撞击。 三、维护保养内容 1. 工具和保养消耗品:天那水,工业酒精,N46, 3 #,真空吸尘器,T形六角棒,刷子,无尘纸, 除锈剂 2. 用碎布清洁机器表面. 3. 用无尘布清洁机器内部 4. 检查及清洁各个传感器. 5. 检查并用无尘布清洁照相机. 6. 检查传送皮带有无破损松动及皮带滑轮有无松动,必要时更换. 7. 测试各项功能控制系统是否正常. 8. 清洁所有防尘盖,控制箱和冷却风扇灰尘,风扇过滤器. 擦拭干净所有盖板油污。 9. 检查轴承,螺丝等活动连线部分是否有松动现象,如有松动需紧固。 10. 校正机器参数和做备份。(参考操作手机) 11. 清洁、润滑传送轨道的导轨与丝杆。 四、维护保养目的: 为了能使机器更加稳定快速的运行, 提高产品品质与效率,并能延长机器使用寿命。 五、注意事项 1 . 使用环境 如:由于粉尘过多或其他垃圾会造成换气孔等堵塞,有腐蚀性物品接触产品表面,造成的故障。 由于移动中震动或撞击造成的故障。 2 . 保养机器时如有必要,一定要先关掉机器电源。 3 . 在保养时,当发现有部件即将损坏时应立即更换。 4 . 任何部件拆卸过必须做相应的校正。 5 . 做保养后须暖机20 分钟.

儿童屈光不正光学生物测量的探讨

Hans Journal of Ophthalmology 眼科学, 2017, 6(2), 67-73 Published Online June 2017 in Hans. https://www.360docs.net/doc/5e12372519.html,/journal/hjo https://https://www.360docs.net/doc/5e12372519.html,/10.12677/hjo.2017.62012 文章引用: 孙建初, 姚婷婷. 儿童屈光不正光学生物测量的探讨[J]. 眼科学, 2017, 6(2): 67-73. A Discussion about Children with Refractive Errors of Optical Biological Measure Jiancun Sun, Tingting Yao Wuxi Xinshijie Eye Hospital, Wuxi Jiangsu Received: May 22nd , 2017; accepted: Jun. 25th , 2017; published: Jun. 28th , 2017 Abstract Objective: To study the relationship between the children’s eye axis, corneal curvature and refrac-tive errors. Methods: By using mydriatic retinoscopy and intraocular len-master, we have a total of 44 cases with 88 eyes of refractive errors degree, eye axis, corneal curvature, anterior chamber depth and other parameters. According to the refractive errors degree, it can be divided into hyperopia group, emmetropia group, and the myopia group, and then we used statistical methods to compare the relationship between the refractive errors and refraction parameters. Results: the eye axis: Hyperopia group was 21.58 ± 0.90 mm; emmetropia group was 23.33 ± 0.88 mm; myopia group was 24.62 ± 1.30 mm (P < 0.05). Corneal curvature radius: Hyperopia group was 7.90 ± 0.33; emmetropia group was 7.77 ± 0.29; myopia group was 7.75 ± 0.38 (P > 0.05). AL/CR: Hyperopia group was 2.74 ± 0.13 mm; the result is less than 3 (P < 0.05); Emmetropia group was 3.00 ± 0.03; the result equals to 3; Myopia group was 3.18 ± 0.12; the result is more than 3. At the same time, we also found that using AL/CR to assess the sensitivity of refractive errors and specificity degree was better. Youden index is 0.68; it prompts the titer of diagnosis was better. Conclusion: Through the detection of AL/CR (≤3 or >3), we can well predict the development trend of refractive errors, and provide prospective for myopia prevention and early intervention of guidance. Keywords Refractive Errors, Eye Axis, Corneal Curvature Radius 儿童屈光不正光学生物测量的探讨 孙建初,姚婷婷 无锡新视界眼科医院,江苏 无锡 收稿日期:2017年5月22日;录用日期:2017年6月25日;发布日期:2017年6月28日

0804仪器科学与技术一级学科简介

0804仪器科学与技术一级学科简介 一级学科(中文)名称:仪器科学与技术 (英文)名称:Instrumentation Science and Technology 一、学科概况 仪器科学与技术学科是一个古老而又极具生命力的学科。它伴随着人类最早的生产和社会活动的开始而萌生。古代的测量器具尽管简单,但也基本具备了测量单位、标准量和标准量与被测量比对过程等测量的基本属性,如我国氏族社会已有“结绳记事”、“契木计时”的记载;大禹治水时使用了准绳与规矩;公元前221年,我国秦朝已形成量值统一的度量衡制度和器具;《汉书·律历志》中用“累黍定尺”和“黄钟律管”对长度进行了定义,其中用发出固定音高的“黄钟律管”之长来定长度标准是我国古代伟大的发明创造,这种方法与几千年后的今天,世界上采用光波波长定义长度基准,从基本原理上有惊人的相似之处;此外还产生了朴素的测量方法,如利用平行光投影的相似现象间接地测量物体的长度;进而产生了以测量单位、标准量、测量量值与被测量值转换关系为基础的测量方法和测量仪器,如日晷和浑天仪等。在这个漫长的历史过程中,尽管该学科在促进生产力发展与社会进步中发挥了巨大作用,但仍处于学科的萌芽阶段。 直至1898年国际米制公约建立,初步形成了以米和公斤等为基本计量单位、相应的计量标准器与测量仪器、量值溯源方法与测量理论;进而衍生出作为该学科理论基础的测量误差理论和计量学等,学科基本理论框架初步形成。随着近代测量科学与仪器技术的学术价值和实验价值显著提升,近代测量科学逐渐从近代物理学和化学等基础学科中分离出来,并逐渐形成为一门独立的学科,成为近代科学的重

要基础学科之一。门捷列夫曾有著名论断:“科学是从测量开始的”,“没有测量就没有科学”,“测量是科学的基础”。 现代测量学是前沿科学领域中最活跃和最有生命力的学科之一。测量科学研究的重大突破性进展和新原理仪器的发明直接或间接地引发了前沿重大科学问题的突破。这在历届诺贝尔奖的研究成果中得到集中体现。到2011年为止,诺贝尔物理学奖、化学奖、生理学和医学奖获奖项目总数为352项,获奖总人数为547名,直接因测量科学研究成果或直接发明新原理仪器而获奖的项目总数为37(占 1 0.5%),总人数为50(占9.1%),如电子显微镜、质谱仪、CT断层扫描仪、扫描隧道显微镜和原子力显微镜等;同时69%的物理学奖、75%的化学奖、92%的生理学和医学奖都是借助于各种先进的高端仪器完成的。 仪器科学与技术的发展,一直与和物理学、化学、生理学和医学等基础学科和前沿学科的发展与重大前沿科学问题的突破紧密地联系在一起。每次科学技术研究取得的重大进展都会推动仪器科学与技术产生跨越式发展。传统仪器科学与技术以牛顿力学、电磁学、经典光学、热力学、化学等为理论基础,建立了长度、力学、热工、电磁、光学、声学、电子、时间频率、电离辐射等计量测试专业与相应的测量仪器技术产业。 现代仪器科学与技术以电动力学、量子力学、现代光学、电子学等为理论基础,同时借助于现代新技术的突破性进展,如微电子技术、计算机技术、激光技术、光子技术、光电子技术和超导技术等,使仪器科学与技术进入以量子计量为标志的新阶段,如激光干涉测量技术、原子频标计量技术、基于电子隧道效应的扫描隧道显微仪器技术、基于量子化霍尔效应的电参量计量技术研究等相继迅速取得突破,并发展成为新的仪器技术,进而促进仪器科学与技术的迅速发展。 仪器科学与技术学科具有与众多相关学科紧密交叉与融合的特

新型生物测量仪Al-Scan及IOLMaster测量白内障患者眼球生物参数的比较研究

新型生物测量仪AL.Scan与IOLMaster测量白内障患者 眼球生物参数的比较研究 摘要 目的:评估新型光学生物测量仪AL.Scan测量白内障患者眼球结构参数的重复性、再现性及其与IOLMaster测量结果的一致性,为临床使用提供依据。 方法:前瞻性对照研究。2名观测者运用AL.Scan分别测量68例(68眼)白内障患者的中央角膜厚度(CCT)、前房深度(ACD)、角膜曲率(包括角膜中央区直径2.4mm和3.3mm范围的平坦子午线曲率Kf,陡峭子午线曲率Ks和曲率平均值Km)、眼轴长度(AL)、角膜白到白距离(WTW)和瞳孔直径 (PD);同时,其中一名观测者运用IOLMaster重复测量ACD、K值、AL和WTW:随后根据4种人工晶状体(IOL)度数计算公式将上述参数带入计算,并比较2种仪器的计算结果;眼别的选择采用随机方式。对AL.Scan测量结果的重复性和再现性评价采用组内标准差(Sw)、试验重复性系数(TRT)、变异系数(COV)和组内相关系数(ICCs)等统计学参数,AL.Scan和IOLMaster测量结果的一致性通过采用Bland.Altman统计分析方法,计算一致性区间 (LoA)来评价。 结果:除WTW和PD外,AL.Scan测量结果具有较高的重复性和再现性。 Bland.Altman分析发现,对于AL、ACD和大部分K值的测量,AL.Scan和 IOLMaster具有很好的一致性。同时,2种仪器测量角膜中央区直径2.4mm范围K值的95%一致性区间(LoA)比直径3.3mm区域的更小。然而,2种仪器测量WTW的95%LoA较宽,为(.1.18~0.63ram)。此外,与采用直径3.3ram范围K值计算IOL度数相比,AL.Scan根据直径2.4mm范围K值计算的IOL度数与IOLMaster计算结果更相近。 结论:除了WTW和PD,AL.Scan测量眼球生物参数均具有良好的重复性和再现性。AL.Scan和IOLMaster测量结果除WTw外,均具有较好的一致性。AL.Scan选择角膜中央区直径2.4mm范围K值来计算IOL度数更可靠。 关键词:眼球生物参数;部分光学相干生物测量仪;Scheimpflug成像;重复性;再现性;一致性

光学膜厚测量仪

Filmetrics光学膜厚测量仪 产品名称: Filmetrics光学膜厚测量仪 产品型号: F20、F30、F40、F50、F70、F10-RT、PARTS 产品展商: 岱美有限公司 简单介绍 美国Filmetrics光学膜厚测量仪,测量膜层厚度从1nm到3.5mm。利用反射干涉的原理进行无损测量,可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率,测量迅速,操作简单,界面友好,是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线,波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的,透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。 Filmetrics光学膜厚测量仪的详细介绍 其可测量薄膜厚度在1nm到1mm之间,测量精度高达1埃,测量稳定性高达0.7埃,测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括:生物医学(Biomedical), 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovolt aics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。 通过Filmetrics膜厚测量仪最新反射式光谱测量技术,最多4层透明薄膜厚度、n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛,例如: 半导体工业: 光阻、氧化物、氮化物。 LCD工业: 间距(cell gaps),ito电极、polyimide 保护膜。 光电镀膜应用: 硬化镀膜、抗反射镀膜、过滤片。 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点,Filmetrics提供以下型号以供选择: F20 : 这简单入门型号有三种不同波长选择(由220nm紫外线区至1700nm近红外线区)为任意携带型,可以实现反射、膜厚、n、k值测量。 F30:这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头,同时测量三个样品,具紫外线区或标准波长可供选择。

常用测量仪器的介绍

螺旋测微器 螺旋测微器又称千分尺(micrometer)、螺旋测微仪、分厘卡,是比游标卡尺更精密的测量长度的工具,用它测长度可以准确到0.01mm,测量范围为几个厘米。它的一部分加工成螺距为0.5mm的螺纹,当它在固定套管B的螺套中转动时,将前进或后退,活动套管C和螺杆连成一体,其周边等分成50个分格。螺杆转动的整圈数由固定套管上间隔0.5mm的刻线去测量,不足一圈的部分由活动套管周边的刻线去测量。 螺旋测微器简介 一种机械千分尺(螺旋测微器) 知名品牌:安一量具、哈量、成量、青量、上工、瑞士TESA、日本Mitutoyo等。 右图为一种常见的螺旋测微器。 螺旋测微器的分类 一种电子千分尺(螺旋测微器) 螺旋测微器分为机械式千分尺和电子千分尺两类。①机械式千分尺。简称千分尺,是利用精密螺纹副原理测长的手携式通用长度测量工具。1848年,法国的J.L.帕尔默取得外径千分尺的专利。1869年,美国的J.R.布朗和L.夏普等将外径千分尺制成商品,用于测量金属线外径和板材厚度。千分尺的品种很多。改变千分尺测量面形状和尺架等就可以制成不同用途的千分尺,如用于测量内径、螺纹中径、齿轮公法线或深度等的千分尺。②电子千分尺。也叫数显千分尺,测量系统中应用了光栅测长技术和集成电路等。电子千分尺是20世纪70年代中期出现的,用于外径测量。 螺旋测微器的组成

螺旋测微器组成部分图解 图上A为测杆,它的活动部分加工成螺距为0.5mm的螺杆,当它在固定套管B的螺套中转动一周时,螺杆将前进或后退0.5毫米,螺套周边有50个分格。大于0.5毫米的部分由主尺上直接读出,不足0.5毫米的部分由活动套管周边的刻线去测量。所以用螺旋测微器测量长度时,读数也分为两步,即(1)从活动套管的前沿在固定套管的位置,读出主尺数(注意0.5毫米的短线是否露出)。(2)从固定套管上的横线所对活动套管上的分格数,读出不到一圈的小数,二者相加就是测量值。 螺旋测微器的尾端有一装置D,拧动D可使测杆移动,当测杆和被测物相接后的压力达到某一数值时,棘轮将滑动并有咔咔的响声,活动套管不再转动,测杆也停止前进,这时就可以读数了。 不夹被测物而使测杆和小砧E相接时,活动套管上的零线应当刚好和固定套管上的横线对齐。实际操作过程中,由于使用不当,初始状态多少和上述要求不符,即有一个不等于零的读数。所以,在测量时要先看有无零误差,如果有,则须在最后的读数上去掉零误差的数值。 螺旋测微器原理和使用 螺旋测微器是依据螺旋放大的原理制成的,即螺杆在螺母中旋转一周,螺杆便沿着旋转轴线方向前进或后退一个螺距的距离。因此,沿轴线方向移动的微小距离,就能用圆周上的读数表示出来。螺旋测微器的精密螺纹的螺距是0.5mm,可动刻度有5 0个等分刻度,可动刻度旋转一周,测微螺杆可前进或后退0.5mm,因此旋转每个小分度,相当于测微螺杆前进或推后0.5/50=0.01mm。可见,可动刻度每一小分度表示0.01mm,所以以螺旋测微器可准确到0.01mm。由于还能再估读一位,可读到毫米的千分位,故又名千分尺。

自动光学检测仪

用在多层板的内外层或高密度双面板表面质量的检查。但是在其它方面的应用也比较多,特别是对高密度互连结构(HDI)微通孔和表面的检查。而且还应用在IC封装和装配中的印制板的检查。AOI很有效地应用诸多方面,为提高印制板的表面质量,发挥了重要的作用。 一.底片的检查 自动光学系统的设计是根据底片检查工艺特性,采用透射的模式即将需要检查的底片放置在玻璃桌台上,而不采用抽真空台面,而是通过玻璃桌面的下的光束透过玻璃进行对底片的扫描来检查底片相应位置上的缺陷。使用这种方法对底片进行表面质量的检查,为更加清晰的将印制板表面缺陷呈现出来,对该系统的放大装置作了很大的改进,达到了既是印制板表面的很小的缺陷都能检查出来。当在印制板生产过程中使用该系统时,就能将印制板面的5μm和5μm以下的缺陷检查出来,并且能够适当的区别错误的真假,就是采用高级的识别系统大大的减少故障缺陷的发生。 在反射模式将白色的纸放置在光具(底片)之下,介于光具透明和不透明范围之间,以提高其对比度。经过交替的变换达到或接近所使用的标准的AOI系统。这种方法不是通用的的,更多的倾向是由于微小的划伤,才会出现假的缺陷报告。另外,容易产生错误的是由于光具表面银粒子无光泽,再通过AOI的反射模式,特别是焦点不是在光具银乳胶膜上,就很容易出现假的读出。而表面无光泽的粒子致使真空度下降。这些粒子是甲基丙烯酸树脂,直径大约7微米,它能够使光发出散光。 如果AOI是开始并记录应该发现的缺陷,唯一的其缺陷的尺寸应比10微米要大,这样用它来检查就能解决所存在的质量问题,而且还有可能解决对精细导线(S/L=30/50微米)的检查。对于有阻抗要求的导线宽度公差控制不会比±5-10微米变化更大是可能的。而AOI的灵敏度不会记录这样的线宽变化。检查光具(即底片)通常应该在清洁的、黄光室内进行,不建议到AOI作业区进行检查,应此区域清洁度不够。因此,实际上AOI机不是检查内层或外层的光具膜的机器。. AOI实际上也可以检验玻璃底版的图像质量,即玻璃上镀铬膜。这些底版通常制作和检验是通过转包公司再送交PWB制造厂的。典型的要求就是底版上的缺陷的尺寸在5微米或更大些。许多使用玻璃底版的用户也使用检查玻璃的工具进行检查,以延长使用的寿命。但使用玻璃底版也很贵。 玻璃底版至少要曝光百次以上,最典型的次数为200-500次,就必须使用AOI对玻璃底版图像进行质量检查,还可以通过曝光试验,如底版的图像好就可以接着使用,或者进行修整。 二.覆盖有光敏抗蚀剂的板在进行显影前的潜像质量的检查 这一步最基本的想法就是在湿处理前,对板的图像与孔对准度进行检查,及早发现如有质量缺陷就很容

光学基本测量仪器

光学基本测量仪器 1 望远镜 1.1 结构 望远镜是用来观察远距离目标的一种助视光学仪器,其结构如图1所示。物镜L l是一块消色差复合正透镜,镶嵌在套筒M1的前端,M1套在镜筒N上,可前后移动。目镜L2通常由两块凸透镜组成,装在目镜筒M2的两端,靠近物镜的透镜称接场镜,靠近眼睛的称接目镜,M2可套入镜筒N并可前后移动。实验用测量望远镜在镜筒N内靠近物镜的一侧还装有十字准线K。 图1 望远镜的结构特点是两分立系统的光学间隔为零,即物镜的后焦平面和目镜的前焦平面重合。这样远处物体经物镜在其后焦平面上成一倒立缩小的实像,此像作为目镜的物再经目镜成一视角放大的虚像为眼睛接受。 1.2 调节方法 1.调节目镜即改变L2和K之间的距离,使得能清晰地看到十字准线像。 2.物镜调焦即改变L l和K之间的距离,使得能清晰地同时看到准线和观察物的像,且无视差。产生视差的原因,是观察物通过物镜所成的像与准线不在同一平面上,当左右或上下稍微改变视线方向时,可看到两个像之间有相对位移,这时称之为有视差。 2 读数显微镜 2.1 结构 和普通观察显微镜不同,测量用显微镜的物镜应在严格而准确的横向放大率下工作。为此,在预先确定放大率的物镜像平面处安置一块分划板,并与物镜固结为一个整体。为使各种视度眼睛的人都能使用,测量用显微镜的目镜必须可以进行视度调节。 读数显微镜由测微螺旋和测量用显微镜组成,可直接用来精密测量微小物体的长度、孔距、直径等。根据不同的测量要求,读数显微镜的量程、分度值和视角放大率等有不同的规格。常用的JCD-Ⅱ读数显微镜结构如图2所示。

图2 JCD-II型读数显微镜 1—目镜 2—调焦旋钮 3—方轴 4—接头轴 5—测微手轮 6—标尺 7—镜筒支架 8—物镜 9—旋手 10—弹簧压片 11—载物台 12—底座 图中1是目镜及显微镜镜筒。旋转测微手轮5,可使镜筒支架带动镜筒沿导轨移动。显微镜用调焦旋钮2调焦。测微装置分度值为0.01mm,其读数方法与螺旋测微计相同。测量架方轴可插入接头轴4的十字孔中,并可前后移动。接头轴可在底座内旋转、升降,并用旋手9固定。 2.2 调节方法 1)将被测物体置于载物台面玻璃上,用弹簧压片压紧,使其处于镜筒下方。 2)调节目镜,至看清十字分划板。 3)转动调焦旋钮调节物镜,使被测物体清晰可见,并消除与分划板的视差。调整被测量物,使其被测部分的横向和显微镜移动方向平行。 4)转动测微手轮,使十字分划板纵丝对准待测长度的起点,记下此时读数A,沿同一方向转动测微手轮,使分划板纵丝恰好止于待测长度的终点,记下读数B,则所测长度 A 。 L=B 2.3 注意事项 1)转动调焦旋钮时,注意应避免使显微镜与被测物相接触。正确的作法是首先使物镜接近被测物,然后调节镜筒缓慢上移。 2)测量过程中,测微手轮只能向一个方向转动,中途不能逆转,以免引入螺距误差。 3 测微目镜 3.1 结构

工程测量仪器简述

工程测量仪器简述 工程建设的规划设计、施工及经营管理阶段进行测量工作所需用的各种定向、测距、测角、测高、测图以及摄影测量等方面的仪器。 经纬仪测量水平角和竖直角的仪器。由望远镜、水平度盘与垂直度盘和基座等部件组成。按读数设备分为游标经纬仪、光学经纬仪和电子(自动显示)经纬仪。经纬仪广泛用于控制、地形和施工放样等测量。中国经纬仪系列 有:DJ07、DJ1、DJ2、DJ6、DJ15、DJ60六个型号(“DJ”表示“大地测量经纬仪”,“07、1、2、……”分别为该类仪器以秒为单位表示的一测回水平方向的中误差)。在经纬仪上附有专用配件时,可组成:激光经纬仪、坡面经纬仪等。此外,还有专用的陀螺经纬仪、矿山经纬仪、摄影经纬仪等。 水准仪测量两点间高差的仪器。由望远镜、水准器(或补偿器)和基座等部件组成。按构造分:定镜水准仪、转镜水准仪、微倾水准仪、自动安平水准仪。水准仪广泛用于控制、地形和施工放样等测量工作。中国水准仪的系列标准有: DS05、DS1、DS3、DS10、DS20等型号(“DS”表示“大地测量水准 仪”,“05、1、3、……”分别为该类仪器以毫米为单位表示的每公里水准测量高差中数的偶然中误差)。在水准仪上附有专用配件时,可组成激光水准仪。 平板仪地面人工测绘大比例尺地形图的主要仪器。由照准仪、平板和支架等部件组成。在照准仪上附加电磁波测距装置,可使作业更为方便迅速。 电磁波测距仪应用电磁波运载测距信号测量两点间距离的仪器。测程在5~20公里的称为中程测距仪,测程在5公里之内的为短程测距仪。精度一般 为 5mm+5ppm,具有小型、轻便、精度高等特点。60年代以来,测距仪发展迅速。近年来,生产的双色精密光电测距仪精度已达 0.1mm+0.1ppm。电磁波测距仪已广泛用于控制、地形和施工放样等测量中,成倍的提高了外业工作效率和量距精度。 电子速测仪由电子经纬仪、电磁波测距仪、微型计算机、程序模块、存储器和自动记录装置组成,快速进行测距、测角、计算、记录等多功能的电子测量仪器。有整体式和组合式两类。整体式电子速测仪为各功能部件整体组合,可自动显示斜距、角度,自动归算并显示平距、高差及坐标增量,具有较高的自动化程度。组合式电子速测仪,即电子经纬仪,电磁波测距仪,计算机及绘图设备等分离元件,按需要组合,既有较高的自动化特性,又有较大的灵活性。电子速测仪适用于工程测量和大比例尺地形测量。并能为建立数字地面模型提供解析数据,使地面测量趋于自动化,还可对活动目标做跟踪测量,例如对于港口工程中的船舶进出港口的航迹观测。

光学测量技术详解

光学测量技术详解(图文) 光学测量是生产制造过程中质量控制环节上重要的一步。它包括通过操作者的观察进行的快速、主观性的检测,也包括通过测量仪器进行的自动定量检测。光学测量既可以在线下进行,即将工件从生产线上取下送到检测台进行测量;还可以在线进行,即工件无须离开产线;此外,工件还可以在生产线旁接受检测,完成后可以迅速返回生产线。 人的眼睛其实就是一台光学检测仪器;它可以处理通过晶状体映射到视网膜上的图像。当物体靠近眼球时,物体的尺寸感觉上会增加,这是因为图像在视网膜上覆盖的“光感器”数量增加了。在某一个位置,图像达到最大,此时再将物体移近时,图像就会失焦而变得模糊。这个距离通常为10英寸(250毫米)。在这个位置上,图像分辨率大约为0.004英寸(100微米)。举例来说,当你看两根头发时,只有靠得很近时才能发现它们之间是有空隙的。如果想进一步分辨更加清楚的细节的话,则需要进行额外的放大处理。 本部分设定了隐藏,您已回复过了,以下是隐藏的内容 人的眼睛其实就是一台光学检测仪器;它可以处理通过晶状体映射到视网膜上的图像。本图显示了人眼成 像的原理图。 人眼之外的测量系统 光学测量是对肉眼直接观察获得的简单视觉检测的强化处理,因为通过光学透镜来改进或放大物体的图像,可以对物体的某些特征或属性做出准确的评估。大多数的光学测量都是定性的,也就是说操作者对放大的图像做出主观性的判断。光学测量也可以是定量的,这时图像通过成像仪器生成,所获取的图像数据再用于分析。在这种情况下,光学检测其实是一种测量技术,因为它提供了量化的图像测量方式。 无任何仪器辅助的肉眼测量通常称为视觉检测。当采用光学镜头或镜头系统时,视觉检测就变成了光学测量。光学测量系统和技术有许多不同的种类,但是基本原理和结构大致相同。

AOI光学检测仪的原理

由于对AOI光学检测仪的原理不是很理解,有哪位高手帮忙翻译一下以下的原理与简介?在这里先说声谢谢了! 悬赏分:20 |提问时间:2008-12-2 10:42 |提问者:hamigua200708 人认识物体是通过光线反射回来的量进行判断,反射量多为亮,反射量少为暗。AOI与人判断原理相同。AOI通过人工光源LED灯光代替自然光,光学透镜和CCD代替人眼,把从光源反射回来的量与已经编好程的标准进行比较、分析和判断。目前最常用的图像识别算法为灰度相关算法,通过计算归一化的灰度相关(normalized greyscale correlation)来量化检测图像和标准图像之间的相似程度。灰度相关的取值介于“0”和“1000”之间,“1000”代表图像完全相同,“0”代表图像完全不同,一般通过设定一个临界相关值(如650)来判断检测图像是否发生变化。相关值大于或等于临界相关值的为正常图像(元件或焊点正常),而小于临界相关值的为异常图像(元件或焊点异常)本社导入的AOI设备采用归一化的彩色相关算法(normalized color correlation),以RGB三基色的阶调度进行计算相似度。 AOI简介 ( 1)强大的检测功能 Otek 自动光学检测仪采用自主开发的归一化的彩色相关算法(normalized color correlation) 来代替一般使用的灰度相关算法。由于彩色相关算法充分利用彩色图像中的红绿兰(RGB)三基色的全部信息,所以比灰度相关算法具有更高的识别准确性和稳定性。彩色相关算法所利用的信息量比灰度相关算法多2倍,所以彩色相关的运算速度也减慢2倍,但是通过采用专门为多媒体应用所开发的专门运算指令集(MMX)技术使得Otek自动光学检测仪可以在同样或者更短的时间内搜索更多的图像信息。该设备依靠特殊的光源设置,可以使焊点在少锡和多锡时的图像与正常情况时图像的明暗程度发生明显变化,从而可以检测出焊锡错误。Otek的焊锡检测算法具有检测准确度高、误检低的特点。 推荐答案 1 引言 在激烈的市场竞争中,电子产品制造厂商必须确保产品的质量,为了保证产品的质量,在产品制造过程中对各个生产环节半成品或成品进行质量监测尤为重要,随着表面组装技术(SMT)中使用的印制电路板线路图形精细化、SMD元件微型化及SMT组件高密度组装、快速组装的发展趋势,采用目检或人工光学检测的方式检测已不能适应,自动光学检测(AOI)技术作为质量检测的技术手段已是大势所趋。 2 AOI工作原理 SMT中应用AOI技术的形式多种多样,但其基本原理是相同的(如图1所示),即用光学手段获取被测物图形,一般通过一传感器(摄像机)获得检测物的照明图像并数字化,然后以某种方法进行比较、分析、检验和判断,相当于将人工目视检测自动化、智能化。 2.1 分析算法

仪器仪表行业概况

仪器仪表行业概况 (一)仪器仪表行业市场需求对象及覆盖范围 仪器仪表应用领域广泛,覆盖了工业、农业、交通、科技、环保、国防、文教卫生、人民生活等各方面,在国民经济建设各行各业的运行过程中承担着把关者和指导者的任务。由于其地位特殊、作用大,对国民经济有巨大倍增和拉动作用,有着良好的市场需求和巨大的发展潜力。具体的需求对象可以从以下几个方面进行表述: 1、在人类社会进入知识经济时代、信息技术高速发展的背景下,仪器仪表及其测量控制技术得到日益广泛应用,给仪器仪表行业的快速发展提供了良好契机。仪器仪表是信息产业的源头和组成部分,是信息技术的重要基础。钱学森院士对新技术革命有如下论述:"新技术革命的关键技术是信息技术,信息技术是测量技术、计算机技术、通讯技术三部分组成,测量技术则是关键和基础。"国际上也将信息技术生产行业定性为计算机、通讯、仪器仪表三个行业。 2、仪器仪表广泛应用于装备、改造传统产业的工艺流程的测量和控制,是现代化大型重点成套装备的重要组成部分,是信息化带动工业化的重要纽带。据有关资料显示,随着装备水平的提高,仪器仪表在工程设备总投资中的比重已达到18%左右;现代化的宝钢技术装备投资中,有1/3的经费用于购置仪器和自控系统。 3、高水平科学研究和高新技术产业的发展迅速提高了对仪器仪表的需求,仪器仪表在实施科教兴国、知识创新和技术创新的过程中,正发挥十分重要的作用。各项高水平的科学实验是不能离开科学仪器的,现代科学的进步也越来越依靠尖端仪器的发展。现代生物、医学、生态环境保护、新材料(纳米材料等)、现代农业的发展等,同样是建立在尖端精密仪器科技的发展基础上。 4、仪器仪表已成为现代国防建设技术装备的重要组成部分,我国航天工业的固定资产1/3是仪器仪表和计算机;运载火箭的仪器开支占全部研制经费的1/2左右;导弹的高精度制导、控制,航天精纬测量和红外成像、专用高温实验设备等都是国防装备中的重点产品。 5、仪器仪表在探索人类社会可持续发展、抵御自然灾害、依法治国并实施有关法律(质量、商检、计量、环保等)的过程中作为重要实施手段和保障工业被普遍采用。 (二)行业分类 按照新修订的《国民经济行业分类》国家标准(GB/T4754-2002),仪器仪表大行业包括工业自动控制系统装置、电工仪器仪表、绘图、计算及测量仪器、实验分析仪器、试验机、供应用仪表及其他通用仪器制造、环境监测专用仪器仪表、汽车及其他用计数仪表、导航、气象及海洋专用仪器、农林牧渔专用仪器仪表、地质勘探和地震专用仪器、教学专用仪器、核子及核辐射测量仪器、电子测量仪器、其他专用仪器、钟表与计时仪器、光学仪器、其他仪器仪表的制造及修理、衡器、医疗诊断监护及治疗设备等20个小行业。按产品的主要服务对象和领域分,通常把仪器仪表大行业概括为生产过程测量控制仪表及系统、科学测试仪器、专用仪器仪表、仪表材料和元器件四大类。

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