光学基本测量仪器

光学基本测量仪器
光学基本测量仪器

光学基本测量仪器

1 望远镜

1.1 结构

望远镜是用来观察远距离目标的一种助视光学仪器,其结构如图1所示。物镜L l是一块消色差复合正透镜,镶嵌在套筒M1的前端,M1套在镜筒N上,可前后移动。目镜L2通常由两块凸透镜组成,装在目镜筒M2的两端,靠近物镜的透镜称接场镜,靠近眼睛的称接目镜,M2可套入镜筒N并可前后移动。实验用测量望远镜在镜筒N内靠近物镜的一侧还装有十字准线K。

图1

望远镜的结构特点是两分立系统的光学间隔为零,即物镜的后焦平面和目镜的前焦平面重合。这样远处物体经物镜在其后焦平面上成一倒立缩小的实像,此像作为目镜的物再经目镜成一视角放大的虚像为眼睛接受。

1.2 调节方法

1.调节目镜即改变L2和K之间的距离,使得能清晰地看到十字准线像。

2.物镜调焦即改变L l和K之间的距离,使得能清晰地同时看到准线和观察物的像,且无视差。产生视差的原因,是观察物通过物镜所成的像与准线不在同一平面上,当左右或上下稍微改变视线方向时,可看到两个像之间有相对位移,这时称之为有视差。

2 读数显微镜

2.1 结构

和普通观察显微镜不同,测量用显微镜的物镜应在严格而准确的横向放大率下工作。为此,在预先确定放大率的物镜像平面处安置一块分划板,并与物镜固结为一个整体。为使各种视度眼睛的人都能使用,测量用显微镜的目镜必须可以进行视度调节。

读数显微镜由测微螺旋和测量用显微镜组成,可直接用来精密测量微小物体的长度、孔距、直径等。根据不同的测量要求,读数显微镜的量程、分度值和视角放大率等有不同的规格。常用的JCD-Ⅱ读数显微镜结构如图2所示。

图2 JCD-II型读数显微镜

1—目镜 2—调焦旋钮 3—方轴 4—接头轴

5—测微手轮 6—标尺 7—镜筒支架 8—物镜

9—旋手 10—弹簧压片 11—载物台 12—底座

图中1是目镜及显微镜镜筒。旋转测微手轮5,可使镜筒支架带动镜筒沿导轨移动。显微镜用调焦旋钮2调焦。测微装置分度值为0.01mm,其读数方法与螺旋测微计相同。测量架方轴可插入接头轴4的十字孔中,并可前后移动。接头轴可在底座内旋转、升降,并用旋手9固定。

2.2 调节方法

1)将被测物体置于载物台面玻璃上,用弹簧压片压紧,使其处于镜筒下方。

2)调节目镜,至看清十字分划板。

3)转动调焦旋钮调节物镜,使被测物体清晰可见,并消除与分划板的视差。调整被测量物,使其被测部分的横向和显微镜移动方向平行。

4)转动测微手轮,使十字分划板纵丝对准待测长度的起点,记下此时读数A,沿同一方向转动测微手轮,使分划板纵丝恰好止于待测长度的终点,记下读数B,则所测长度

A 。

L=B

2.3 注意事项

1)转动调焦旋钮时,注意应避免使显微镜与被测物相接触。正确的作法是首先使物镜接近被测物,然后调节镜筒缓慢上移。

2)测量过程中,测微手轮只能向一个方向转动,中途不能逆转,以免引入螺距误差。

3 测微目镜

3.1 结构

测微目镜一般用作光学仪器的附件,配在适当的光学仪器上可作各种用途的测量。也可用来直接测量微小长度。其结构如图3a所示。

图3a图3b

1—目镜 2—本体盒 3—丝杆 4—玻璃标尺 5—分划板

6—螺钉 7—接头套筒 8—读数鼓轮

带有目镜1的镜筒与本体盒2相连,而接头套筒7与另一带有物镜的镜筒(图中未画出)相套接,构成一台显微镜。靠近目镜焦平面的内侧,固定了一块量程为8mm、分度值为l mm 的玻璃标尺。与之相距0.1mm处平行地放置另一块玻璃分划板,其上刻有十字线和一组双线作为准线。在目镜中观察时,即可看到玻璃标尺上放大的刻线像及与其相叠的准线像(图3b)。因为分划板的框架与读数鼓轮带动的丝杆通过弹簧相连,故当读数鼓轮转动时,可推动分划板左右移动。鼓轮每转一圈,分划板上的准线移动l mm,而鼓轮轮周边刻有100个分格,因此鼓轮每转过一分格,准线相应地移动0.0l mm。

测量时,当准线对准被测物上某一位置时,该位置的读数,应为主尺上准线所指示的整数毫米值加上鼓轮上小数位读数值。

3.2 调节方法

1)调节目镜与分划板的间距,直到分划板上刻线清晰可见。

2)调节整个目镜筒与被测物的间距,使在视场中看到被测物的像也最清晰,并须仔细调节使准线像与被测物像之间无视差。

3)转动读数鼓轮,推动分划板,使分划板十字线的交点或双线对准被测物像的一端,记下读数;继续沿同一方向转动鼓轮,使十字线交点或双线对准被测物像的另一端,记下读数。两者之差即是被测的长度。

使用测微目镜测量,同样应注意消除丝杆的螺距误差,因此测量时只能沿同一方向转动鼓轮。

光学测量复习题

1.光学测量:对光学材料、零件及系统的参数和性能的测量。 2.直接测量:无需对被测的量与其他的实测的量进行函数关系的辅助计算,而直接得到被测值的测量。 3.间接测量:直接测量的量与被测的量之间有已知的函数关系,从而得到该被测量的测量。 4.测量误差原因:(测量装置误差)(环境误差)(方法误差)(人员误差)。 5.测量误差按其特点和性质,可分为(系统误差)、(偶然误差)和(粗大误差)。 6.精度:反应测量结果与真实值接近程度的量。 7.精度分为:①正确度:由系统误差引起的测量值与真值的偏离程度②由偶然误差引起......③由系统误差和偶然误差引起的...... 8.偶然误差的评价:(标准偏差)(极限误差)。 9.正态分布特征:(单峰性)(对称性)(有界性)(抵偿性)。 10.确定权的大小的方法:(根据测量次数确定)(由标准偏差确定)。 11.对准(横向对准)是指在垂直于瞄准轴方向上,使目标和比较标记重合或置中的过程,又称横向对准。 12.调焦(纵向对准)指目标和比较标记瞄准轴方向重合或置中的过程。 13..对准误差:对准残留的误差。 14.调焦误差:调焦残留的误差。 15.常用调焦方式:(清晰度法)、(消视差法)。 16.清晰度法:以目标象和比较标志同样清晰为准,其调焦误差由几何景深和物理景深决定。 17.消视差法:以眼睛垂直于瞄准轴摆动时看不出目标象和比较标志有相对错动为准,调焦误差受对准误差影响。 18.平行光管:是光学测量中最常用的部件,发出平行光,用来模拟无限远目标,主要由(望远物镜)和(安置在物镜焦平面上的分划板)构成。 19.调校平行光管的目的:是使分划板的分划面位于物镜焦平面上。调校方法:(远物法)、(可调前置镜法)、(自准直法)、(五棱镜法)和(三管法)。 20.自准直仪:(自准直望远镜)(自准直显微镜)。 21.自准直目镜是一种带分划板和分划板照明装置的目镜。一般不能单独使用,应与望远镜物镜配合构成自准直望远镜;与显微镜物镜配合构成自准直显微镜。它们统称自准直仪。 22.常用自准直目镜:(高斯目镜)、(阿贝目镜)、(双分划板式自准直目镜)。 23.剪切干涉法常见的平板式横向剪切干涉仪,它是以干涉条纹成无限宽,即干涉场中呈均匀一片作为判别光束准直性基准的。 24.双楔板剪切干涉法的原理? 解:假设楔板的棱边平行于x轴(棱边呈水平状态),并倾斜至于光路中。一离焦板的光波Kd(x2+y2)经楔板前,后面反射,则反射波沿x方向被横波向剪切。干涉条纹是一组与x轴倾斜的直线簇,在重叠区域形成的条纹可表示为(nkβ)y+(KDs)x=mπ 25.V棱镜法的检测原理:当单色平行光垂直的入射到V棱镜的ED面时,若被检玻璃折射率n与V棱镜折射率n0完全相同,则出射光不发生任何偏折的射出;若n与n0不等,则出射光相对入射光有一偏折角θ,若测出θ,就可计算出折射率。 26.V棱镜折光仪:主要用于平行光管、对准望远系统、读数显微镜系统和标准V块组成。 27.V棱镜折光仪的使用方法:平行光管分划板的刻线是在水平透光宽缝中间刻一细长线。由平行光管射出的单色平行光束经V棱镜和待检试样后,产生偏折角θ,转动望远镜对准平行光管的刻线象。当望远镜对准时,带动度盘转动。有读数显微镜读得角θ,其整数部分由度盘读出,小数部分由测微目镜读出。 28.最小偏向角法的测量原理:单色平行光沿MP方向射出,入射光与出射光的夹角δ为偏

测量仪器说明书

目录 一、GeoPluse浅地层剖面仪操作规程 (1) 1、仪器简介 (1) 1)功能简介 (1) 2)系统配置 (1) 2、GeoPluse浅地层剖面仪系统配置连接 (1) 1)换能器安装 (1) 2)5430A收发机与5210A接收机连接 (2) 3)接通电源 (4) 3、5210A与5430A收发机功能键简介 (4) 1)5430A收发机功能键简介 (5) 2)5210A接收机功能键简介 (5) 4、数据采集后处理 (7) 二、Knudsen 320Ms双频测深仪操作规程 (14) 1、仪器简介 (14) 1)工作原理 (14) 2)功能简介 (14) 2、系统配置连接 (15) 1)换能器连接 (15) 2)Knudsen 320Ms主机与电脑的连接 (15) 3)接通电源 (16) 3、Knudsen 320Ms菜单结构 (16) 4、数据采集后处理 (21) 三、TideMaster型潮位仪操作规程 (29) 1、仪器硬件设置 (29) 1)主要设备仪器 (29) 2)操作及安装使用 (31) 2、临时验潮站站址选择原则 (31) 3、仪器的软件设置 (31) 四、GPS操作规程 (41) 1、工作原理 (41) 2、基准站操作 (41) 1)仪器架设 (41) 2)用手簿启动基准站 (44) 3、Trimble SPS461 GPS罗经设置及使用说明 (46) 1)网络连接方法设置461 (46)

2)SPS461 信标机定位定向仪液晶屏设置说明 (51) 五、海底管线铺设导航、定位技术 (64) 1、GPS定位原理 (64) 2、海洋定位技术 (65) 1)差分GPS技术 (65) 2)信标差分技术 (65) 3、GPS 控制网及基准站的设立解算 (66) 1)基准站的选定和设立 (66) 2)GPS控制网的布设、施测和解算 (67) 3)测区的坐标七参数的解算 (68) 4)利用转化参数转换坐标 (69) 4、海底管道施工导航定位技术 (69) 1)海底管线临时定位桩施工 (69) 2)铺管船法海底管线铺设导航定位 (71) 六、海底管线预、后调查方案 (75) 1、概述 (75) 1)项目概述 (75) 2)海底管线状态简介 (75) 2、使用检测仪器进行海底管线铺设后调查内容 (76) 1)海底管线外观检查 (76) 2)经处理后的完工调查 (77) 3、后调查作业设备及选用原则 (77) 1)测深设备 (77) 2)旁侧声纳 (78) 3)浅地层剖面仪 (78) 4、调查作业施工 (79) 1)作业准备 (79) 2)计划线布设 (79) 3)作业方法和步骤 (80) 4)作业注意事项 (82) 5、数据采集、记录以及报告 (83) 1)数据采集 (83) 2)数据处理 (84) 6、组织机构与职责 (85)

基本测量仪器的使用

第19讲基本测量仪器的使用 单元复习目的 (一)知识和技能: 1.复习初中物理基本测量仪器的使用,使学生明白实验中一些基本的测量仪器的使用规则。 2.使学生通过复习明确测量仪器的不规则使用会造成的后果,并知道如何改正错误。 3. 熟悉中考在这部分的题型、热点考点的考查形式。 (二)过程和方法 1.通过复习和归纳,学会梳理知识的方法。 2.通过复习活动,进一步了解研究物理问题的方法。 (三)情感态度和价值观 通过教师和学生的双边活动,激发学生的学习的学习兴趣和对科学的求知欲望,使学生乐于探索生活中物理现象和物理原理。 重点、难点 重点:天平和量筒;弹簧测力计;温度计;电流表和电压表。 难点:刻度尺的估读。 复习内容 本专题重点梳理初中物理阶段基本测量仪器的使用,这部分内容在前面的章节复习中都复习过,在本专题中再重新作一个梳理,使学生对测量仪器的使用有一个整体的印象。 复习流程 一、复习引入 二、考点知识梳理

三、重点难点扫描 (一)热学——温度计 1.温度计的原理是。 2.温度计的使用: ⑴使用前,要观察温度计的量程和分度值; ⑵使用时:①温度计的玻璃泡要全部浸入被测液体中,不要碰到容器底和容器壁;②温度计玻璃泡浸入被测液体后要稍候一会儿,待温度计的示数稳定后再读数;③读数时温度计的玻璃泡要继续留在液体中,视线要与温度计液柱的上表面相平。 (二)电学——验电器 1.验电器的原理是:同种电荷互相排斥 2.验电器的结构:金属球、金属杆、金属箔片。 3.验电器的用途:检验物体是否带电。 4.验电器的使用方法:用待检验的物体是接触验电器的金属球,观察金属箔片是否张开。 (三)电学——电流表和电压表 1.天平: ⑴天平的原理:天平的两臂长度相等,当两个盘中物体的相同时,天平就会平衡。 ⑵天平使用的注意事项: ①被测物体的质量不能超过; ②向盘中加减砝码时要用,不能用手接触砝码,不能把砝码弄湿弄脏; ③不能直接放到天平盘中。 ⑶天平的使用方法: ①“放”:把天平放在,把游码放在; ②“调”:调节天平两端的平衡螺母,使指针指在分度盘的中线处,这时天平平衡;

各种测量仪器的使用方法

各种测量仪器的使用方法 水准仪及其使用方法 高程测量就是测绘地形图的基本工作之一,另外大量的工程、建筑施工也必须量测地面高程,利用水准仪进行水准测量就是精密测量高程的主要方法。 一、水准仪器组合: 1、望远镜 2、调整手轮 3、圆水准器 4、微调手轮 5、水平制动手轮 6、管水准器 7、水平微调手轮 8、脚架 二、操作要点: 在未知两点间,摆开三脚架,从仪器箱取出水准仪安放在三脚架上,利用三个机座 螺丝调平,使圆气泡居中,跟着调平管水准器。水平制动手轮就是调平的,在水平镜内通过三角棱镜反射,水平重合,就就是平水。将望远镜对准未知点(1)上的塔尺,再次调平管水平器重合,读出塔尺的读数(后视),把望远镜旋转到未知点(2)的塔尺,调整管水平器,读出塔尺的读数(前视),记到记录本上。 计算公式:两点高差=后视-前视。 三、校正方法: 将仪器摆在两固定点中间,标出两点的水平线,称为a、b线,移动仪器到固定点一端,标出两点的水平线,称为a’、b ’。计算如果a-b≠a’-b’时,将望远镜横丝对准偏差一半的数值。用校针将水准仪的上下螺钉调整,使管水平泡吻合为止。重复以上做法,直到相等为止。

四、水准仪的使用方法 水准仪的使用包括:水准仪的安置、粗平、瞄准、精平、读数五个步骤。 1、安置 安置就是将仪器安装在可以伸缩的三脚架上并置于两观测点之间。首先打开三脚架并使高度适中,用目估法使架头大致水平并检查脚架就是否牢固,然后打开仪器箱,用连接螺旋将水准仪器连接在三脚架上。 2、粗平 粗平就是使仪器的视线粗略水平,利用脚螺旋置园水准气泡居于园指标圈之中。具体方法用仪器练习。在整平过程中,气泡移动的方向与大姆指运动的方向一致。 3、瞄准 瞄准就是用望远镜准确地瞄准目标。首先就是把望远镜对向远处明亮的背景,转动目镜调焦螺旋,使十字丝最清晰。再松开固定螺旋,旋转望远镜,使照门与准星的连接对准水准尺,拧紧固定螺旋。最后转动物镜对光螺旋,使水准尺的清晰地落在十字丝平面上,再转动微动螺旋,使水准尺的像靠于十字竖丝的一侧。 4、精平 精平就是使望远镜的视线精确水平。微倾水准仪,在水准管上部装有一组棱镜,可将水准管气泡两端,折射到镜管旁的符合水准观察窗内,若气泡居中时,气泡两端的象将符合成一抛物线型,说明视线水平。若气泡两端的象不相符合,说明视线不水平。这时可用右手转动微倾螺旋使气泡两端的象完全符合,仪器便可提供一条水平视线,以满足水准测量基本原理的要求。注意?气泡左半部份的移动方向,总与右手大拇指的方向不一致。 5、读数 用十字丝,截读水准尺上的读数。现在的水准仪多就是倒象望远镜,读数时应由上而下进行。先估读毫米级读数,后报出全部读数。 注意,水准仪使用步骤一定要按上面顺序进行,不能颠倒,特别就是读数前的符合水泡调整,一定要在读数前进行。 五、水准仪的测量 测定地面点高程的工作,称为高程测量。高程测量就是测量的基本工作之一。高程测量按所使用的仪器与施测方法的不同,可以分为水准测量、三角高程测量、GPS高程测量与气压高程测量。水准测量就是目前精度最高的一种高程测量方法,它广泛应用于国家高程控制测量、工程勘测与施工测量中。 水准测量的原理就是利用水准仪提供的水平视线,读取竖立于两个点上的水准尺上的读数,来测定两点间的高差,再根据已知点高程计算待定点高程。 如下图所示,在地面上有A、B两点,已知A点的高程为HA、为求B点的高程HB,在A、B两点之间安置水准仪,A、B两点各竖立一把水准尺,通过水准仪的望远镜读取水平视线分别在A、B两点水准尺上截取的读数为a与b,可以求出A、B两点问的高差为:

实验1基本测量仪器的使用

实验1 基本测量仪器的使用 【实验目的】 1.熟悉米尺、游标卡尺、螺旋测微计、测量显微镜的构造、测量原理及使用方法,练习使用分析天平进行精密称衡; 2.学习有效数字和不确定度的计算,掌握误差理论与数据处理方法,熟悉精密称衡中的系统误差补正. 【实验仪器】 米尺、游标卡尺,螺旋测微计,测厚仪,分析天平,球体,圆柱等,金属块、玻璃块、有机被璃块等. 【实验原理】 一、米尺 “米”是国际公认的标准长度单位,历史上由保存在巴黎国际标准度量衡局的米原器二刻线间的长度决定。1983年第十七届国际计量大会通过的“米”的新定义为:1m是光在真空中于1/299792458s的时间内所传播的距离。 常用米尺(包括各种常用直尺)的分度值是1mm毫米,因此用米尺测量长度时可以读准到毫米级,估计到0.1毫米级(1/10毫米位)。 用米尺测量物体长度的要领是紧贴、对准、正视。米尺自身有一定的厚度,若不贴紧待测物,观测者从不同角度看去,将产生读数的差异,测量时应尽量减少视差。为避免端边磨损带来的误差,也可以不用零刻度线,而以某一刻度线(如1.00cm)作为测量起点,考虑到刻度的不均匀,可以不同刻度线为起点作多次测量而取其中平均值。 二、游标卡尺 (1)游标卡尺构造 游标卡尺的构造如图1-4所示,卡钳E和E'同刻有毫米的主尺A相连,游标框W上附有游标B以及卡钳F和F',推动游标框W可使游标B连同卡钳F、F'沿主尺滑动.当两对钳口E与F,E'与F'紧靠时,游标的零点(即零刻度线)与主尺的零点相重合.用游标卡尺测定物体长度时,用卡钳E F或E'F'卡着被测物体,显然此时游标零点与主尺零点间距离恰好等于卡钳E、F间或卡钳E'、F'的距离,所以从游标零点在主尺上的位置,根据游标原理就可测出物体的长度(卡钳E'F'部分是用来测量物体的内部尺寸,如管的内径等).图中螺钉C是用来固定油标框的,防止游标框在主尺上滑动以便于读数.

测量大神的全站仪的使用教程解说

全站仪,即全站型电子速测仪(Electronic Total Station),是一种集光、机、电为一体的高技术测量仪器,是集水平角、垂直角、距离(斜距、平距)、高差测量功能于一体的测绘仪器系统。因其一次安置仪器就可完成该测站上全部测量工作,所以称之为全站仪。广泛用于地上大型建筑和地下隧道施工等精密工程测量或变形监测领域。 电子全站仪由电源部分、测角系统、测距系统、数据处理部分(CPU)、通讯接口、显示屏、键盘等组成。 (1)同轴望远镜 全站仪的望远镜实现了视准轴、测距光波的发射、接收光轴同轴化。 使得望远镜一次瞄准即可实现同时测定水平角、垂直角和斜距等全部基本测量要素的测定功能。

棱镜杆 (2)双轴自动补偿 作业时若全站仪纵轴倾斜,会引起角度观测的误差,盘左、盘右观测值取中不能使之抵消。而全站仪特有的双轴(或单轴)倾斜自动补偿系统,可对纵轴的倾斜进行监测,并在度盘读数中对因纵轴倾斜造成的测角误差自动加以改正(某些全站仪纵轴最大倾斜可允许至 ±6′)。也可通过将由竖轴倾斜引起的角度误差,由微处理器自动按竖轴倾斜改正计算式计算,并加入度盘读数中加以改正,使度盘显示读数为正确值,即所谓纵轴倾斜自动补偿。 (3)键盘 键盘是全站仪在测量时输入操作指令或数据的硬件,全站型仪器的键盘和显示屏均为双面式,便于正、倒镜作业时操作。

(4)存储器 全站仪存储器的作用是将实时采集的测量数据存储起来,再根据需要传送到其它设备如计算机等中,供进一步的处理或利用,全站仪的存储器有内存储器和存储卡两种。 (5)通讯接口 全站仪可以通过BS–232C 通讯接口和通讯电缆将内存中存储的数据输入计算机,或将计算机中的数据和信息经通讯电缆传输给全站仪, 实现双向信息传输。 全站仪的使用步骤 (1)安置全站仪

0804仪器科学与技术一级学科简介

0804仪器科学与技术一级学科简介 一级学科(中文)名称:仪器科学与技术 (英文)名称:Instrumentation Science and Technology 一、学科概况 仪器科学与技术学科是一个古老而又极具生命力的学科。它伴随着人类最早的生产和社会活动的开始而萌生。古代的测量器具尽管简单,但也基本具备了测量单位、标准量和标准量与被测量比对过程等测量的基本属性,如我国氏族社会已有“结绳记事”、“契木计时”的记载;大禹治水时使用了准绳与规矩;公元前221年,我国秦朝已形成量值统一的度量衡制度和器具;《汉书·律历志》中用“累黍定尺”和“黄钟律管”对长度进行了定义,其中用发出固定音高的“黄钟律管”之长来定长度标准是我国古代伟大的发明创造,这种方法与几千年后的今天,世界上采用光波波长定义长度基准,从基本原理上有惊人的相似之处;此外还产生了朴素的测量方法,如利用平行光投影的相似现象间接地测量物体的长度;进而产生了以测量单位、标准量、测量量值与被测量值转换关系为基础的测量方法和测量仪器,如日晷和浑天仪等。在这个漫长的历史过程中,尽管该学科在促进生产力发展与社会进步中发挥了巨大作用,但仍处于学科的萌芽阶段。 直至1898年国际米制公约建立,初步形成了以米和公斤等为基本计量单位、相应的计量标准器与测量仪器、量值溯源方法与测量理论;进而衍生出作为该学科理论基础的测量误差理论和计量学等,学科基本理论框架初步形成。随着近代测量科学与仪器技术的学术价值和实验价值显著提升,近代测量科学逐渐从近代物理学和化学等基础学科中分离出来,并逐渐形成为一门独立的学科,成为近代科学的重

要基础学科之一。门捷列夫曾有著名论断:“科学是从测量开始的”,“没有测量就没有科学”,“测量是科学的基础”。 现代测量学是前沿科学领域中最活跃和最有生命力的学科之一。测量科学研究的重大突破性进展和新原理仪器的发明直接或间接地引发了前沿重大科学问题的突破。这在历届诺贝尔奖的研究成果中得到集中体现。到2011年为止,诺贝尔物理学奖、化学奖、生理学和医学奖获奖项目总数为352项,获奖总人数为547名,直接因测量科学研究成果或直接发明新原理仪器而获奖的项目总数为37(占 1 0.5%),总人数为50(占9.1%),如电子显微镜、质谱仪、CT断层扫描仪、扫描隧道显微镜和原子力显微镜等;同时69%的物理学奖、75%的化学奖、92%的生理学和医学奖都是借助于各种先进的高端仪器完成的。 仪器科学与技术的发展,一直与和物理学、化学、生理学和医学等基础学科和前沿学科的发展与重大前沿科学问题的突破紧密地联系在一起。每次科学技术研究取得的重大进展都会推动仪器科学与技术产生跨越式发展。传统仪器科学与技术以牛顿力学、电磁学、经典光学、热力学、化学等为理论基础,建立了长度、力学、热工、电磁、光学、声学、电子、时间频率、电离辐射等计量测试专业与相应的测量仪器技术产业。 现代仪器科学与技术以电动力学、量子力学、现代光学、电子学等为理论基础,同时借助于现代新技术的突破性进展,如微电子技术、计算机技术、激光技术、光子技术、光电子技术和超导技术等,使仪器科学与技术进入以量子计量为标志的新阶段,如激光干涉测量技术、原子频标计量技术、基于电子隧道效应的扫描隧道显微仪器技术、基于量子化霍尔效应的电参量计量技术研究等相继迅速取得突破,并发展成为新的仪器技术,进而促进仪器科学与技术的迅速发展。 仪器科学与技术学科具有与众多相关学科紧密交叉与融合的特

常用测量仪器的介绍

螺旋测微器 螺旋测微器又称千分尺(micrometer)、螺旋测微仪、分厘卡,是比游标卡尺更精密的测量长度的工具,用它测长度可以准确到0.01mm,测量范围为几个厘米。它的一部分加工成螺距为0.5mm的螺纹,当它在固定套管B的螺套中转动时,将前进或后退,活动套管C和螺杆连成一体,其周边等分成50个分格。螺杆转动的整圈数由固定套管上间隔0.5mm的刻线去测量,不足一圈的部分由活动套管周边的刻线去测量。 螺旋测微器简介 一种机械千分尺(螺旋测微器) 知名品牌:安一量具、哈量、成量、青量、上工、瑞士TESA、日本Mitutoyo等。 右图为一种常见的螺旋测微器。 螺旋测微器的分类 一种电子千分尺(螺旋测微器) 螺旋测微器分为机械式千分尺和电子千分尺两类。①机械式千分尺。简称千分尺,是利用精密螺纹副原理测长的手携式通用长度测量工具。1848年,法国的J.L.帕尔默取得外径千分尺的专利。1869年,美国的J.R.布朗和L.夏普等将外径千分尺制成商品,用于测量金属线外径和板材厚度。千分尺的品种很多。改变千分尺测量面形状和尺架等就可以制成不同用途的千分尺,如用于测量内径、螺纹中径、齿轮公法线或深度等的千分尺。②电子千分尺。也叫数显千分尺,测量系统中应用了光栅测长技术和集成电路等。电子千分尺是20世纪70年代中期出现的,用于外径测量。 螺旋测微器的组成

螺旋测微器组成部分图解 图上A为测杆,它的活动部分加工成螺距为0.5mm的螺杆,当它在固定套管B的螺套中转动一周时,螺杆将前进或后退0.5毫米,螺套周边有50个分格。大于0.5毫米的部分由主尺上直接读出,不足0.5毫米的部分由活动套管周边的刻线去测量。所以用螺旋测微器测量长度时,读数也分为两步,即(1)从活动套管的前沿在固定套管的位置,读出主尺数(注意0.5毫米的短线是否露出)。(2)从固定套管上的横线所对活动套管上的分格数,读出不到一圈的小数,二者相加就是测量值。 螺旋测微器的尾端有一装置D,拧动D可使测杆移动,当测杆和被测物相接后的压力达到某一数值时,棘轮将滑动并有咔咔的响声,活动套管不再转动,测杆也停止前进,这时就可以读数了。 不夹被测物而使测杆和小砧E相接时,活动套管上的零线应当刚好和固定套管上的横线对齐。实际操作过程中,由于使用不当,初始状态多少和上述要求不符,即有一个不等于零的读数。所以,在测量时要先看有无零误差,如果有,则须在最后的读数上去掉零误差的数值。 螺旋测微器原理和使用 螺旋测微器是依据螺旋放大的原理制成的,即螺杆在螺母中旋转一周,螺杆便沿着旋转轴线方向前进或后退一个螺距的距离。因此,沿轴线方向移动的微小距离,就能用圆周上的读数表示出来。螺旋测微器的精密螺纹的螺距是0.5mm,可动刻度有5 0个等分刻度,可动刻度旋转一周,测微螺杆可前进或后退0.5mm,因此旋转每个小分度,相当于测微螺杆前进或推后0.5/50=0.01mm。可见,可动刻度每一小分度表示0.01mm,所以以螺旋测微器可准确到0.01mm。由于还能再估读一位,可读到毫米的千分位,故又名千分尺。

光学膜厚测量仪

Filmetrics光学膜厚测量仪 产品名称: Filmetrics光学膜厚测量仪 产品型号: F20、F30、F40、F50、F70、F10-RT、PARTS 产品展商: 岱美有限公司 简单介绍 美国Filmetrics光学膜厚测量仪,测量膜层厚度从1nm到3.5mm。利用反射干涉的原理进行无损测量,可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率,测量迅速,操作简单,界面友好,是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线,波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的,透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。 Filmetrics光学膜厚测量仪的详细介绍 其可测量薄膜厚度在1nm到1mm之间,测量精度高达1埃,测量稳定性高达0.7埃,测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括:生物医学(Biomedical), 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovolt aics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。 通过Filmetrics膜厚测量仪最新反射式光谱测量技术,最多4层透明薄膜厚度、n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛,例如: 半导体工业: 光阻、氧化物、氮化物。 LCD工业: 间距(cell gaps),ito电极、polyimide 保护膜。 光电镀膜应用: 硬化镀膜、抗反射镀膜、过滤片。 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点,Filmetrics提供以下型号以供选择: F20 : 这简单入门型号有三种不同波长选择(由220nm紫外线区至1700nm近红外线区)为任意携带型,可以实现反射、膜厚、n、k值测量。 F30:这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头,同时测量三个样品,具紫外线区或标准波长可供选择。

光学基本测量仪器

光学基本测量仪器 1 望远镜 1.1 结构 望远镜是用来观察远距离目标的一种助视光学仪器,其结构如图1所示。物镜L l是一块消色差复合正透镜,镶嵌在套筒M1的前端,M1套在镜筒N上,可前后移动。目镜L2通常由两块凸透镜组成,装在目镜筒M2的两端,靠近物镜的透镜称接场镜,靠近眼睛的称接目镜,M2可套入镜筒N并可前后移动。实验用测量望远镜在镜筒N内靠近物镜的一侧还装有十字准线K。 图1 望远镜的结构特点是两分立系统的光学间隔为零,即物镜的后焦平面和目镜的前焦平面重合。这样远处物体经物镜在其后焦平面上成一倒立缩小的实像,此像作为目镜的物再经目镜成一视角放大的虚像为眼睛接受。 1.2 调节方法 1.调节目镜即改变L2和K之间的距离,使得能清晰地看到十字准线像。 2.物镜调焦即改变L l和K之间的距离,使得能清晰地同时看到准线和观察物的像,且无视差。产生视差的原因,是观察物通过物镜所成的像与准线不在同一平面上,当左右或上下稍微改变视线方向时,可看到两个像之间有相对位移,这时称之为有视差。 2 读数显微镜 2.1 结构 和普通观察显微镜不同,测量用显微镜的物镜应在严格而准确的横向放大率下工作。为此,在预先确定放大率的物镜像平面处安置一块分划板,并与物镜固结为一个整体。为使各种视度眼睛的人都能使用,测量用显微镜的目镜必须可以进行视度调节。 读数显微镜由测微螺旋和测量用显微镜组成,可直接用来精密测量微小物体的长度、孔距、直径等。根据不同的测量要求,读数显微镜的量程、分度值和视角放大率等有不同的规格。常用的JCD-Ⅱ读数显微镜结构如图2所示。

图2 JCD-II型读数显微镜 1—目镜 2—调焦旋钮 3—方轴 4—接头轴 5—测微手轮 6—标尺 7—镜筒支架 8—物镜 9—旋手 10—弹簧压片 11—载物台 12—底座 图中1是目镜及显微镜镜筒。旋转测微手轮5,可使镜筒支架带动镜筒沿导轨移动。显微镜用调焦旋钮2调焦。测微装置分度值为0.01mm,其读数方法与螺旋测微计相同。测量架方轴可插入接头轴4的十字孔中,并可前后移动。接头轴可在底座内旋转、升降,并用旋手9固定。 2.2 调节方法 1)将被测物体置于载物台面玻璃上,用弹簧压片压紧,使其处于镜筒下方。 2)调节目镜,至看清十字分划板。 3)转动调焦旋钮调节物镜,使被测物体清晰可见,并消除与分划板的视差。调整被测量物,使其被测部分的横向和显微镜移动方向平行。 4)转动测微手轮,使十字分划板纵丝对准待测长度的起点,记下此时读数A,沿同一方向转动测微手轮,使分划板纵丝恰好止于待测长度的终点,记下读数B,则所测长度 A 。 L=B 2.3 注意事项 1)转动调焦旋钮时,注意应避免使显微镜与被测物相接触。正确的作法是首先使物镜接近被测物,然后调节镜筒缓慢上移。 2)测量过程中,测微手轮只能向一个方向转动,中途不能逆转,以免引入螺距误差。 3 测微目镜 3.1 结构

工程测量仪器简述

工程测量仪器简述 工程建设的规划设计、施工及经营管理阶段进行测量工作所需用的各种定向、测距、测角、测高、测图以及摄影测量等方面的仪器。 经纬仪测量水平角和竖直角的仪器。由望远镜、水平度盘与垂直度盘和基座等部件组成。按读数设备分为游标经纬仪、光学经纬仪和电子(自动显示)经纬仪。经纬仪广泛用于控制、地形和施工放样等测量。中国经纬仪系列 有:DJ07、DJ1、DJ2、DJ6、DJ15、DJ60六个型号(“DJ”表示“大地测量经纬仪”,“07、1、2、……”分别为该类仪器以秒为单位表示的一测回水平方向的中误差)。在经纬仪上附有专用配件时,可组成:激光经纬仪、坡面经纬仪等。此外,还有专用的陀螺经纬仪、矿山经纬仪、摄影经纬仪等。 水准仪测量两点间高差的仪器。由望远镜、水准器(或补偿器)和基座等部件组成。按构造分:定镜水准仪、转镜水准仪、微倾水准仪、自动安平水准仪。水准仪广泛用于控制、地形和施工放样等测量工作。中国水准仪的系列标准有: DS05、DS1、DS3、DS10、DS20等型号(“DS”表示“大地测量水准 仪”,“05、1、3、……”分别为该类仪器以毫米为单位表示的每公里水准测量高差中数的偶然中误差)。在水准仪上附有专用配件时,可组成激光水准仪。 平板仪地面人工测绘大比例尺地形图的主要仪器。由照准仪、平板和支架等部件组成。在照准仪上附加电磁波测距装置,可使作业更为方便迅速。 电磁波测距仪应用电磁波运载测距信号测量两点间距离的仪器。测程在5~20公里的称为中程测距仪,测程在5公里之内的为短程测距仪。精度一般 为 5mm+5ppm,具有小型、轻便、精度高等特点。60年代以来,测距仪发展迅速。近年来,生产的双色精密光电测距仪精度已达 0.1mm+0.1ppm。电磁波测距仪已广泛用于控制、地形和施工放样等测量中,成倍的提高了外业工作效率和量距精度。 电子速测仪由电子经纬仪、电磁波测距仪、微型计算机、程序模块、存储器和自动记录装置组成,快速进行测距、测角、计算、记录等多功能的电子测量仪器。有整体式和组合式两类。整体式电子速测仪为各功能部件整体组合,可自动显示斜距、角度,自动归算并显示平距、高差及坐标增量,具有较高的自动化程度。组合式电子速测仪,即电子经纬仪,电磁波测距仪,计算机及绘图设备等分离元件,按需要组合,既有较高的自动化特性,又有较大的灵活性。电子速测仪适用于工程测量和大比例尺地形测量。并能为建立数字地面模型提供解析数据,使地面测量趋于自动化,还可对活动目标做跟踪测量,例如对于港口工程中的船舶进出港口的航迹观测。

化工仪表基础知识

五)、液位测量仪表 1、什么叫液位?什么叫料位? 在容器中液体介质的高低叫液位;容器中固体或颗粒状物质的堆积高度叫料位。2、物位仪表按工作原理可分为哪几类?可分为:直读式、差压式、浮力式、电磁式、核辐射式、声波式、光学式七大类。 3、玻璃液位计是根据(连通器)原理对液位进行测量的;浮力式液位计是利用(浮力) 原理对液位进行测量的;静压式液位计根据(流体静压平衡)原理工作的;电容式物位计是通过电容传感器把(物位)转换为(电容量)的变化来对物位进行测量的。 4、差压式液位计测量的原理是什么?浮力式液位测量的原理是什么? 差压式是利用液位或物料堆积对某定点产生压力的原理来工作的;浮力式是利用浮子高度随液位变化而改变或对沉筒的浮力随液位高度而变化的原理工作的。 5、电磁式液位计测量的原理是什么?电磁式液位测量的原理是将液位的变化转换为电量 的变化,通过测出的这些电量的变化来测知液位;核辐射式液位测量原理是利用核辐射透过 物料时,其强度随物质层厚度而变化的原理来工作的 6、电磁翻板式液位计由哪几部分构成? 电磁翻板液位计主要由液位计本体,内置定向磁性源程序的浮子和翻板箱等部件组成。

7、电磁翻板液位计的工作原理是什么?其原理是:液位计内的浮子,浮于介质的液面 上,当液位计的本体内的液位随容器液位同步变化时,浮于其上的浮子也相应发生变化,在定向磁性源磁能作用下,翻板箱上的翻板转向,翻板颜色显示不同的颜 色。翻板颜色界面的变化仅取决于浮子的位置,而不受介质压力的影响,适用于现场液位的测量。 8、常用的液位开关有外浮筒式、浮球式、电容式、电阻式、核辐射式、超声波式等。 一般液体可采用外浮筒式、浮球式、电容式、电阻式。外浮筒式液位开关的设定值在1-300mm 内连续可调,有高温型、高压型、耐腐蚀型等,在石化、化肥装置中使用较多。液/ 液界面使用电容式较好。泡沫液体可采用电容式或电阻式。浆状液体和腐蚀性液体可采用电容式核辐射式、超声波式。 (六)、自动调节仪表及阀门 1、什么叫自动调节系统?其组成是什么? 对生产中某些关键性参数进行自动调节,使它 们在受到外界干扰而偏离正 常状态时,能自动地调回到规定的数值范围内,为此目的而设置的系统称为自动调节系统。其组成为:调节对象、测量元件、变送器、自动调节器、执行器。 2、什么是调节对象?给定值和偏差? 自动调节系统中需调节其工艺参数的生产设备叫做调节对象,生产中要求保持的工艺指标称为给定值,在自动调节系统中,习惯上采用给定值减去测量值作为偏差,给定值大于测量值时为正偏差,而给定值小于测量值时称为负偏差。 3、什么叫控制回路?

自动光学检测仪

用在多层板的内外层或高密度双面板表面质量的检查。但是在其它方面的应用也比较多,特别是对高密度互连结构(HDI)微通孔和表面的检查。而且还应用在IC封装和装配中的印制板的检查。AOI很有效地应用诸多方面,为提高印制板的表面质量,发挥了重要的作用。 一.底片的检查 自动光学系统的设计是根据底片检查工艺特性,采用透射的模式即将需要检查的底片放置在玻璃桌台上,而不采用抽真空台面,而是通过玻璃桌面的下的光束透过玻璃进行对底片的扫描来检查底片相应位置上的缺陷。使用这种方法对底片进行表面质量的检查,为更加清晰的将印制板表面缺陷呈现出来,对该系统的放大装置作了很大的改进,达到了既是印制板表面的很小的缺陷都能检查出来。当在印制板生产过程中使用该系统时,就能将印制板面的5μm和5μm以下的缺陷检查出来,并且能够适当的区别错误的真假,就是采用高级的识别系统大大的减少故障缺陷的发生。 在反射模式将白色的纸放置在光具(底片)之下,介于光具透明和不透明范围之间,以提高其对比度。经过交替的变换达到或接近所使用的标准的AOI系统。这种方法不是通用的的,更多的倾向是由于微小的划伤,才会出现假的缺陷报告。另外,容易产生错误的是由于光具表面银粒子无光泽,再通过AOI的反射模式,特别是焦点不是在光具银乳胶膜上,就很容易出现假的读出。而表面无光泽的粒子致使真空度下降。这些粒子是甲基丙烯酸树脂,直径大约7微米,它能够使光发出散光。 如果AOI是开始并记录应该发现的缺陷,唯一的其缺陷的尺寸应比10微米要大,这样用它来检查就能解决所存在的质量问题,而且还有可能解决对精细导线(S/L=30/50微米)的检查。对于有阻抗要求的导线宽度公差控制不会比±5-10微米变化更大是可能的。而AOI的灵敏度不会记录这样的线宽变化。检查光具(即底片)通常应该在清洁的、黄光室内进行,不建议到AOI作业区进行检查,应此区域清洁度不够。因此,实际上AOI机不是检查内层或外层的光具膜的机器。. AOI实际上也可以检验玻璃底版的图像质量,即玻璃上镀铬膜。这些底版通常制作和检验是通过转包公司再送交PWB制造厂的。典型的要求就是底版上的缺陷的尺寸在5微米或更大些。许多使用玻璃底版的用户也使用检查玻璃的工具进行检查,以延长使用的寿命。但使用玻璃底版也很贵。 玻璃底版至少要曝光百次以上,最典型的次数为200-500次,就必须使用AOI对玻璃底版图像进行质量检查,还可以通过曝光试验,如底版的图像好就可以接着使用,或者进行修整。 二.覆盖有光敏抗蚀剂的板在进行显影前的潜像质量的检查 这一步最基本的想法就是在湿处理前,对板的图像与孔对准度进行检查,及早发现如有质量缺陷就很容

光学测量技术详解

光学测量技术详解(图文) 光学测量是生产制造过程中质量控制环节上重要的一步。它包括通过操作者的观察进行的快速、主观性的检测,也包括通过测量仪器进行的自动定量检测。光学测量既可以在线下进行,即将工件从生产线上取下送到检测台进行测量;还可以在线进行,即工件无须离开产线;此外,工件还可以在生产线旁接受检测,完成后可以迅速返回生产线。 人的眼睛其实就是一台光学检测仪器;它可以处理通过晶状体映射到视网膜上的图像。当物体靠近眼球时,物体的尺寸感觉上会增加,这是因为图像在视网膜上覆盖的“光感器”数量增加了。在某一个位置,图像达到最大,此时再将物体移近时,图像就会失焦而变得模糊。这个距离通常为10英寸(250毫米)。在这个位置上,图像分辨率大约为0.004英寸(100微米)。举例来说,当你看两根头发时,只有靠得很近时才能发现它们之间是有空隙的。如果想进一步分辨更加清楚的细节的话,则需要进行额外的放大处理。 本部分设定了隐藏,您已回复过了,以下是隐藏的内容 人的眼睛其实就是一台光学检测仪器;它可以处理通过晶状体映射到视网膜上的图像。本图显示了人眼成 像的原理图。 人眼之外的测量系统 光学测量是对肉眼直接观察获得的简单视觉检测的强化处理,因为通过光学透镜来改进或放大物体的图像,可以对物体的某些特征或属性做出准确的评估。大多数的光学测量都是定性的,也就是说操作者对放大的图像做出主观性的判断。光学测量也可以是定量的,这时图像通过成像仪器生成,所获取的图像数据再用于分析。在这种情况下,光学检测其实是一种测量技术,因为它提供了量化的图像测量方式。 无任何仪器辅助的肉眼测量通常称为视觉检测。当采用光学镜头或镜头系统时,视觉检测就变成了光学测量。光学测量系统和技术有许多不同的种类,但是基本原理和结构大致相同。

精密尺寸测量仪器知识介绍

精密尺寸测量仪器知识介绍 一、精密尺寸测量仪器概念 所谓的精密测量就是以微米为计量单位的测量技术,它是随着高标准的工业设计对加工制造行业提出越来越高的技术要求而形成的。所谓的尺 寸就是以几何元素点、直线、线段、圆、圆弧、角、面、球体等为基本要 素的几何关系。所以精密尺寸测量仪器就是以满足精益求精的设计及加工 制造的要求而形成的计量分析管控这种几何关系的仪器。 二、精密尺寸测量仪器分类 精密尺寸测量仪器种类很多,但大致可以分成接触式精以测量仪器和非接触式精密测量仪器。接触式精密测量仪器以三坐标为主,并衍生出一 维高度计和二维高度计。非接触式精密测量仪器早期以投影测量仪为代表,但是随着计算机软件技术和高像素光感传感器的飞速发展,投影测量仪逐 渐被淘汰,从而形成新的代表仪器——二次元影像测量仪。 三、仪器原理 1、三坐标测量机原理 三坐标测量机是由三个互相垂直的运动轴X,Y,Z建立起的一个直角坐标系,测头的一切运动都在这个坐标系中进行,测头的运动轨迹由测球中心来表示。测量时,把被测零件放在工作台上,测头与零件表面接触,三坐标测量机的检测系统可以随时给出测球中心点在坐标系中的精确位置。当测球沿着工件的几何型面移动时,就可以得出被测几何面上各点的坐标值。将这些数据送入计算机,通过相应的软件进行处理,就可以精确地计算出被测工件的几何尺寸,现状和位置公差等。

三坐标结构图测量侧头结构图 2、二次元影像测量仪原理 二次元影像仪通过的CCD光学传感器将光信号转化为数字信号记录影像 和光栅尺记录位移参数,再利用视频采集处理器和数据采集处理器将数字型号 传输至电脑,之后经过影像测量仪软件在电脑上由操作人员逆向绘图并测量。影像仪之所以被称之为二次元是因为它实际绘制测量出来的只是当时产品放 在仪器工作台上的俯视图,只能完成x和y方向上的二维尺寸测量或z方向 上的高度测量。 二次元影像测量仪结构图工作台结构图

常 用 元 器 件 及 测 量 仪 器 介 绍

常用元器件及测量仪器介绍 常用元、器件简介 [要点提示] 1、电阻器和电位器 2、电容器 3、电感器 [内容简介] 任何电子电路都是由元器件组成的。而常用的主要是电阻器、电容器、电感器和各种半导体(如二极管、三极管、场效应管、集成电路等)为了正确地选择和使用这些元、器件,就必须对它们的各种性能、结构与规格有一个完整的了解。 6.1.1电阻器和电位器 一、电阻器R 在电子设备中,电阻器是应用最广泛的一种元件。其主要用途是稳定和调节电路中电流和电压。其次还可作为分流器、分压器和消耗能量的负载等。常用电阻器有实心碳质电阻、薄膜电阻器、线绕电阻器和热敏电阻器等,其中又有固定电阻器和可变电阻器之分。 常用电阻器的外形和符号如图6.1.1所示。 图6.1.1电阻器的外形和符号

二、电位器W 电位器是一种具有三个接头的可变电阻器。其阻值可在一定范围内连续可调。 电位器的种类有以下几种: 按电阻体的材料可分为碳质、薄膜和线绕三种。它们的性能和特点与同材料的固定电阻器相似,所不同的只是电位器有可动的触点。因而使用电位器时需要考虑它的阻值变化特性、接触的可靠性、材料的耐磨性等等。一般,线绕电位器的误差小于±10%,非线性电位器的误差小于±20% 。其阻值、误差和型号均标在电位器上。 按调节机构的运动方式可分为;旋转式、直滑式。 按机构可分为单联、双联、带开关、不带开关等;开关式又有旋转式、推拉式、按键等。 按用途可分为普通电位器、精密电位器、功率电位器、微调电位器和专业电位器等。 按输出特性和函数关系可分为线性和非线性电位器,如图6.1.2所示。 线绕电位器的阻值变化特性一般都是直线式的。非线性电位器的阻值变化特性分为直线式(X型)、对数式(D型)、指数式(Z型)三种。所有X、D、Z字母符号一般印在电位器上,使用时应主意。常用电位器的外形和符号如图6.1.3所示。 图6.1.2输出特性和函数关系图6.1.3电位器的外形和符号 三、电阻器和电位器的命名法 电阻器和电位器的命名法如表6.1.1所示

光学瓦斯检测仪的正确使用方法

瓦斯检测程序及操作 (一)入井前的准备工作 1. 佩戴好瓦斯检查工特种作业人员操作证。 2、对携带的光学瓦斯检测仪的药品、气路及气密性、条纹进行检查,确认其性能良好。 ⑴对药品效能进行检查。吸收管内的干燥剂用氯化钙或变色硅胶。变色硅胶为蓝色颗粒状,直径2~3mm为宜,极易吸收水分而逐渐变为粉红色。吸湿变色后就应更换。但吸湿变色后的硅胶经过干燥处理后可以复用。 吸收二氧化碳的是钠石灰又名碱石灰,仪器使用的是含有变色指示剂的粉红色颗粒,吸收后变为淡黄色。药品颗粒粒度以3~5mm为宜。 ⑵对一起进行气密性检查。先检查吸气球是否漏气。检查方法是:一只手捏扁吸气球压出球内气体,另一只手压住球上的橡皮管,如球不膨胀还原,就证明不漏气,否则可以从气球是否损坏、活塞芯子是否清洁等方面来找原因。然后对仪器的气样通道进行检查。其检查方法与检查吸气球一样,只是把压住吸气球上的橡皮管改为堵住仪器的进气口,如漏气应对各连接部分分别检查,找出原因进行检修。 ⑶检查干涉条纹是否清晰。按下按钮由目镜观察,旋转保护玻璃座调整视度直到数字最清晰,再看干涉条纹是否清晰。如不清晰,可将光源灯泡盖打开,用调整灯泡的位置来改善。 ⑷用新鲜空气清洗气室。仪器在使用前必须在测定地区气温相差不超过10℃的新鲜空气中清洗气室,这是因为:第一,不同温度的气体的折射率是不同的,因此当对零和测定地点的温度差别太大时,会引起测量误差,第二,这种仪器对温度的变化是比较敏感的,温度变化会引起对好零的条纹移动(现场称为“跑正” 或“跑负”)。清洗气室一般在井底车场进行。清洗的方法是挤压五六次吸气球,让新鲜空气流经吸收管后进入气室。 ⑸干涉条纹的“0”位调定。清洗气室后在同一地点随即进行“0”位调定。其方法是:先按下微调按钮(上按钮),转动测微手轮,使刻度盘的“0”位与指标线重合,然后按下粗调按钮(下按钮),转动粗动手轮,从目镜中观察,把干涉条纹的两条黑线中的任意一条对准分划板上的零线,并记住所对的这条黑线,旋上护盖。此后护盖不得再旋动,以免“0”位变动。另外在旋护盖时不要拧的过紧,容易压迫仪器本体,使本体组件变形而造成“0”位移动。 上好护盖后要再看一下干涉条纹中对零的黑线是否移动,若移动需要重新调零。 二.瓦斯测定 一手将连接瓦斯入口的胶管按二氧化碳吸收剂管用探仗伸向测点(距离巷道顶板200mm以下处)手压气球10次以上,待测气体入气室,然后收回探仗,打开目镜护盖。观察光谱黑线在分划板上的移动位置,同时调整测微手轮,使光谱黑线在分划板上移到靠近的整数位置上。再观测测微刻度盘上指示的读数,将分划板

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