第八章 可测性设计技术与故障容错设计技术的融合研究
可测性设计

准的集成电路。 ➢ 优先选用同时支持IEEE1149.1和IEEE1532标准的可编程
集成电路。IEEE1532标准能使来自不同厂家的可编程逻 辑集成电路使用相同软件进行编程。
可测性设计
边界扫描技术
❖ 设计边界扫描链
➢ 由于LATTICE、XILINX、ALTERA、TI和AD公司的编程 软件工具不兼容,因此,为了便于使用各自的编程软件 工具进行编程,不同公司的可编程集成电路应放置在不 同的扫描链上,每一个扫描链提供一个独立的用于编程 和测试的JTAG接口。根据IEEE1149.1标准,JTAG测试 接口包括TMS、TCK、TRST、TDI和TDO等5种信号。 为了适应多JTAG接口的要求,边界扫描测试系统应提供 多个JTAG接口,例如ScanWorks最多能提供16个JTAG 接口。
可测性设计
边界扫描技术
➢
可测性设计
边界扫描技术
❖ 特殊功能引脚的连接方法 ➢ 某些支持边界扫描测试的集成电路有一些特殊功能引脚,
这些引脚影响边界扫描测试功能。 ➢ 当进行边界扫描测试时,需要将这些引脚设置到特定的
状态。 ➢ 在使用集成电路之前,应仔细阅读该集成电路的BSDL文
件,然后按照特殊功能引脚的使用要求进行合理的连接。 ➢ BSDL文件是由集成电路制造商提供的描述该芯片边界扫
可测性设计
边界扫描技术
❖ 内部扫描设计技术有两种: ➢ 全扫描技术,将电路中所有的触发器用特殊设计的具有
扫描功能的触发器代替,使其在测试时链接成一个或几 个移位寄存器; ➢ 部分扫描技术,只选择一部分触发器构成移位寄存器, 降低了扫描设计的硬件消耗和测试响应时间。 ❖ 边界扫描测试方法于1990年成为IEEE的标准,即IEEE Std 1149.1-1990,目前最新的版本为IEEE1149.12001[2] 。该标准由JTAG(Joint Test Action Group) 组织制订。边界扫描测试技术的基本思想是从集成电路 本身的测试性设计入手,解决数字电路板的测试问题。
复杂系统的故障诊断及容错控制

然而,对于复杂系统的故障诊断及容错控制仍然存在许多挑战,如多变量耦合、非线性特性等问题。因 此,需要进一步深入研究以提高技术的可靠性和实用性。
02
复杂系统概述
复杂系统的定义与特点
定义
复杂系统是由大量相互作用的元素组成的系统,这些元素之间的相互作用具有 非线性和不确定性。
故障定义
01
故障是指系统在正常运行过程中出现的不符合预期运行状态的
现象。
故障类型
02
故障可划分为硬件故障、软件故障、外部环境故障等多种类型
。
故障影响
03
故障可能对系统的性能、安全、可靠性产生不同程度的负面影
响。
故障诊断的方法与流程
基于数学模型的诊断方法
建立系统数学模型,通过比较实际输出与预期输 出的差异,推断出故障类型及位置。
VS
挑战
复杂系统的研究面临着许多挑战,如如何 建立系统的数学模型、如何进行系统的仿 真和预测、如何设计有效的控制策略等。 此外,由于复杂系统的非线性和不确定性 ,其研究还面临着许多理论和技术上的难 题。因此,我们需要不断探索新的方法和 技术,以更好地理解和控制复杂系统的行 为。
03
故障诊断技术
故障诊断的基本概念
特点
复杂系统具有高度非线性和不确定性,其行为难以预测和控制。此外,复杂系 统还具有自组织和适应性,能够根据环境的变化自动调整自身的结构和行为。
复杂系统的分类与实例
分类
复杂系统可以根据不同的标准进行分类,如根据系统的规模、组成元素的数量和种类、相互作用的方式等。常见 的复杂系统包括生态系统、社会系统、经济系统、交通系统等。
可测性设计_经典讲解

9. 可测性设计随着片上系统(SoC:System on Chip)的集成度越来越高,其测试可行性、测试时间和测试功耗越来越受到人们的关注。
本章介绍有关测试和可测性设计的一些基本概念。
其中,可测性设计包括存储器的内建自测,扫描测试,处理器核的测试和边界扫描测试等,并且通过具体的应用让读者加深对可测性设计的理解。
9.1. 集成电路(IC:Integrated Circuit)测试概述9.1.1. 测试的概念和原理集成电路测试是IC产业链中的重要一环,而且是不可或缺的一环,它贯穿于从产品设计开始到完成加工的全过程。
目前所指的测试通常是指芯片流片后的测试。
其定义为对被测电路施加已知的测试矢量,观察其输出结果,并于已知正确输出结果进行比较而判断芯片功能、性能、结构好坏的过程。
下图说明了测试原理,就其概念而言,测试包含了三方面内容:已知的测试矢量、确定的电路结构和已知正确的输出结果。
图9-1 测试原理随着芯片集成度的越来越高,如今的IC测试面临着前所未有的挑战:●测试时间越来越长,百万门级的SoC测试可能需要几个月的时间甚至更长。
●测试矢量的数目越来越多,覆盖率却难以提高,人们不知道究竟要用多少测试矢量才能覆盖到所有的器件。
●测试设备的使用成本越来越高,直接影响的芯片的成本。
9.1.2. 测试以及测试矢量的分类根据测试的目的不同,可以把集成电路测试分为四种类型:(1)验证测试(Verification Testing,也称作Design Validation)当一款新的芯片第一次被设计并生产出来,首先接受验证测试。
在这一阶段,将会进行功能测试,以及全面的AC、DC参数的测试。
通过验证测试,我们可以诊断和修改设计错误,为最终规范(产品手册)测量出芯片的各种电气参数,并开发出测试流程。
(2)生产测试(Manufacturing Testing)当芯片的设计方案通过了验证测试,进入量产阶段之后,将利用前一阶段调试好的流程进行生产测试。
《测控仪器设计(第)》课后习题答案浦昭邦王宝光

封面作者:Pan Hongliang仅供个人学习测控仪器则是利用测量和控制的理论,采用机、电、光各种计量测试原理及控制系统与计算机相结合的一种范围广泛的测量仪器。
仪器仪表的用途和重要性—遍及国民经济各个部门,深入到人民生活的各个角落,仪器仪表中的计量测试仪器与控制仪器统称为测控仪器,可以说测控仪器的水平是科学技术现代化的重要标志。
仪器仪表的用途:在机械制造业中:对产品的静态与动态性能测试;加工过程的控制与监测;设备运行中的故障诊断等。
在电力、化工、石油工业中:对压力、流量、温度、成分、尺寸等参数的检测和控制;对压力容器泄漏和裂纹的检测等。
在航天、航空工业中:对发动机转速、转矩、振动、噪声、动力特性、喷油压力、管道流量的测量;对构件的应力、刚度、强度的测量;对控制系统的电流、电压、绝缘强度的测量等。
发展趋势:高精度与高可靠性、高效率、智能化、多样化与多维化(1)高精度与高可靠性随着科学技术的发展,对测控仪器的精度提出更高的要求,如几何量nm精度测量,力学量的mg精度测量等。
同时对仪器的可靠性要求也日益增高,尤其是航空、航天用的测控仪器,其可靠性尤为重要。
(2)高效率大批量产品生产节奏,要求测量仪器具有高效率,因此非接触测量、在线检测、自适应控制、模糊控制、操作与控制的自动化、多点检测、机光电算一体化是必然的趋势。
(3)高智能化在信息拾取与转换、信息测量、判断和处理及控制方面大量采用微处理器和微计算机,显示与控制系统向三维形象化发展,操作向自动化发展,并且具有多种人工智能从学习机向人工智能机发展是必然的趋势。
(4)多维化、多功能化(5)开发新原理(6)动态测量现代设计方法的特点:(1)程式性强调设计、生产与销售的一体化。
(2)创造性突出人的创造性,开发创新性产品。
(3)系统性用系统工程思想处理技术系统问题。
力求系统整体最优,同时要考虑人-机-环境的大系统关系。
(4)优化性通过优化理论及技术,以获得功能全、性能良好、成本低、性能价格比高的产品。
高可靠性通信系统在电力配网中的设计与评估

高可靠性通信系统在电力配网中的设计与评估摘要:本文研究了电力配网中高可靠性通信系统的设计与评估。
介绍了设计原则、关键技术、评估方法,并通过案例研究展示了应用。
高可靠性通信系统在确保电力供应可靠性和安全性方面发挥重要作用,为电力配网行业提供了重要支持。
关键字:高可靠性通信系统、电力配网一、引言:电力配网是现代社会不可或缺的基础设施之一,它承担着将电能从发电站输送到终端用户的关键任务。
电力的可靠供应对社会的正常生活、工业生产和经济发展至关重要。
电力配网在其运行过程中面临着各种挑战,如自然灾害、设备故障、恶劣天气条件和人为干扰等。
为了确保电力配网的稳定运行,高可靠性通信系统成为不可或缺的组成部分,它用于监控、控制和维护配电设备,以及实时传输电网状态信息。
二、高可靠性通信系统的设计原则在电力配网中,高可靠性通信系统的设计必须遵循一系列关键原则,以确保在面对各种挑战时仍能保持通信的稳定性和可靠性。
1.冗余性:冗余性是高可靠性通信系统的基本原则之一。
它涉及使用多个备份通信通道和设备,以应对设备故障、线路中断或其他不可预测的问题。
冗余性可以分为硬件冗余和路径冗余。
硬件冗余包括备份设备和电源,而路径冗余涉及使用多个通信路径,如有线通信和无线通信。
2.多路径通信:采用多路径通信可以提高通信的可靠性。
通过同时使用多个通信路径,如光纤、微波、卫星和移动网络等,可以降低单一故障点对通信系统的影响。
当一个路径出现问题时,系统可以自动切换到备用路径,保持通信的连续性。
3.自动切换和恢复:高可靠性通信系统应具备自动切换和恢复功能,以减少人工干预的需求。
当系统检测到故障或通信中断时,它应能够迅速切换到备用路径或设备,并在问题解决后自动恢复正常通信。
4.安全性:通信系统的安全性至关重要,特别是在电力配网中,因为恶意攻击可能会对电力供应造成严重威胁。
高可靠性通信系统应采取强化的安全措施,包括数据加密、身份验证、访问控制和防火墙等,以保护通信数据和系统免受潜在威胁。
可用性设计:提高系统的可用性,减少故障率和影响

可用性设计:提高系统的可用性,减少故障率和影响第一章:引言1.1 研究背景1.2 研究目的1.3 文章结构第二章:什么是可用性设计2.1 可用性设计的定义2.2 可用性设计的重要性2.3 可用性设计的原则第三章:提高系统的可用性3.1 硬件层面的可用性设计3.1.1 使用可靠的硬件设备3.1.2 配备适当的备用设备3.1.3 考虑硬件的故障率和寿命3.2 软件层面的可用性设计3.2.1 使用稳定的软件平台3.2.2 编写健壮的代码3.2.3 实施合适的错误处理机制3.3 网络层面的可用性设计3.3.1 建立冗余网络架构3.3.2 优化网络带宽和延迟3.3.3 实施网络监控和故障诊断工具第四章:减少故障率和影响4.1 定期维护和检查4.2 及时修复软硬件故障4.3 数据备份和恢复4.4 安全措施和防御机制4.5 培训和技术支持第五章:用户体验与可用性设计5.1 用户调研和需求分析5.2 用户界面设计5.3 用户测试和反馈第六章:可用性评估和改进6.1 可用性评估方法6.2 根据评估结果进行改进6.3 持续改进的策略第七章:案例分析7.1 案例一:电子商务网站的可用性设计7.2 案例二:智能手机应用的可用性设计第八章:结论8.1 研究总结8.2 对未来研究的展望引言:可用性设计是指设计和开发系统或产品时,关注用户体验和用户需求,以提高系统的易用性和可操作性,减少故障率和故障对用户的影响。
在当今信息化社会中,系统的可用性设计越来越受到关注,因为一个可用性良好的系统能够提高用户满意度和效率,降低用户的学习和使用成本,从而带来商业上的竞争优势。
本文将探讨提高系统的可用性以及减少故障率和影响的方法和策略,并通过案例分析展示可用性设计的实际应用和效果。
第二章:什么是可用性设计2.1 可用性设计的定义可用性设计是指将用户的需求和期望纳入系统的设计和开发过程中,以提供一个易于学习、易于操作、高效和愉悦的用户体验的系统或产品。
电子电路分析与设计

阅读感受
阅读感受
《电子电路分析与设计》是一本深入浅出、系统全面地介绍电子电路的书籍, 它涵盖了模拟电子技术和数字电子技术的基础知识。这本书对于想要了解电子电 路的读者来说,无疑是一本非常有价值的参考书。
阅读感受
在阅读这本书的过程中,我深深地感受到了作者在编写时的用心和细心。每 个章节的内容都紧扣主题,从最基本的电路元件开始,逐步引导读者理解电路的 基本原理和设计方法。对于初学者来说,这本书的内容非常友好,它不会让人感 到晦涩难懂,而是能够让人在轻松愉悦的氛围中逐渐掌握电子电路的知识。
目录分析
我们来看这本书的目录结构。本书共分为八章,每章都有明确的主题和内容 概述。第一章为引言,主要介绍了电子电路的基本概念、发展历程和应用领域。 第二章至第七章分别介绍了电子器件、放大器、振荡器、电源、数字电路和模拟 电路等主题,每一章都详细地介绍了相关电路的基本原理、设计和分析方法。第 八章为总结,对全书的内容进行了概括和总结,强调了电子电路在现代化社会中 的重要性和应用价值。
第九章对电子电路的测试与实验进行了详细介绍,包括电子测量技术的基础知识、电子元件参数 的测量方法、电子电路性能的测试方法等内容。作者还通过实验案例的方式,引导读者进行实际 操作,加深对电子电路分析与设计的理解与应用能力。
《电子电路分析与设计》这本书是一本全面介绍电子电路原理、分析与设计的经典著作。通过本 书的学习,读者可以系统地掌握电子电路的基本知识、分析方法和设计技能,为后续的学习和实 践打下坚实的基础。
精彩摘录
“在设计和开发电子设备时,我们需要使用许多不同的工具和技术,例如模 拟电路设计软件、数字电路设计软件、PCB设计软件等。这些工具和技术可以帮 助我们快速、准确地设计和开发电子设备。”
4研究生课程—容错控制

水 箱 液 位 (cm)
(a) 30
主动容错控制下系统输出曲线 40
20
水 箱 液 位 (cm)
10 0 0 250 500
h1set 750
h1
衰减故障 h3 1000
30 20 10 0 h1set 0 250 500 750 时 间 (秒 ) h1 h3 1000 h2 1250 h2set 1500
2.2主动容错控制研究例子
第三层: 监督管理层 人机监控管理界面 调节 第二层:FDT 智能调节控制器 故障 在线故障诊断 与估计 未知故障
历史故障容错 补偿调节库 FTC 1 FTC 2 … FTC N 故障调节 正常模型
历史故障诊断库 Fault 1 历史故障 Fault 2 模型库 …… Fault N + 故障检测模块 _
2.2主动容错控制
主动容错控制是目前国内外研究的热点,它包含了故障检测/ 诊断、隔离和故障适应与容错控制等研究内容。
控制器重组 /重构单元 + 故障检测/ 诊断单元
故障
控制器
执行器
故障
系统
传感器
主动容错控制结构图
2.2主动容错控制
一般控制策略是:
先利用故障检测/诊断单元检测、诊断或分离出故障;
1.4、容错控制有哪些设计方法?
被动 容错 控制 容 错 控 制
有是 否 含
可靠镇定
联立镇定
控制器 失效 被控对 象故障 传感器、执 行器故障 按照容错控制对 象来分类
完整性设计 控制律重新调度 控制律在线重 构/重组设计 自适应容错控制 智能容错控制 器的设计
主动 容错 控制
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2016年3月20日
2
一、传统提高复杂对象可靠性的途径
1. 回顾:可靠性
复杂系统的可靠性是指: 其产品在规定的条件下和规定的时间内,完成规定功能的能力。
随着系统设备向结构复 杂化、功能多样化方向发展。 对其可靠性的要求也越来越 高。特别是军工、航天领域 的系统设备。一旦出现故障, 可能会导致严重的后果。 卫星在太空出现故障,如何 才能让卫星产生“自我意识”, 及能够自发解决故障的问题?
18
五、DFT与DFFT融合研究应用展望
1. 融合研究实例──容错扫描触发器
a. 容错扫描触发器的由来
> 随着纳米工艺的逐渐成熟,低电压技术开始在集成电路设计 中广泛得到使用。
* 低电压技术却增加了晶体管对辐射粒子的敏感性,在辐射环境中极 易发生软错误。 具有容错功能的扫描触发器就此提出,以满足电路可靠性的要求。
RHBD锁存器电路原理
20
五、DFT与DFFT融合研究应用展望
1. 融合研究实例──容错扫描触发器
d. 融合可测性设计和故障容错设计的容错扫描触发器产生
> 通过对扫描触发器结构复用而得到,既使芯片测试变得简易, 又能满足电路较高的可靠性要求。 e. 容错扫描触发器的应用 > 在大量复杂系统电路中可以将原有触发器替换成容错扫描触发 器,以提高复杂系统的可靠性。 > 基于目前大量复杂系统更趋向于数字化,容错扫描触发器的应 用前景是非常广阔的。
b.“可测性设计与故障容错设计进行融合”是一种有价值的新方法
> 这两种设计技术各自已有较为成熟的解决方案。
> 这两种设计技术同时融入于一个复杂系统理论上是可行的。
可测性设计与故障容错设计技术的融合 极有可能使复杂系统的可靠性提升到一个新的高度。 值得投入足够的财力与物理进行深入研究
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三、DFT与DFFT融合研究不可避免
3
一、传统提高复杂对象可靠性的途径
2. 回顾:目前提高可靠性的主要方式
a. 故障隔离 > 故障隔离是为了把故障限制在局部,防止影响系统的其他部分。
* 通过故障隔离技术将产生故障的因素不传播到所在模块的错一般是采用冗余方法以消除故障影响。
* 主要有硬件冗余、软件冗余、时间冗余和信息冗余等。
* 航天技术的高速发展,低成本小卫星逐渐成为空间系统的重要组成。
为了提高空间系统的可靠性,保证卫星在发生故障时仍能顺利 完成既定任务,可测性设计和容错设计必然可以大有作为。
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五、DFT与DFFT融合研究应用展望
2. 融合研究可应用前景展望
c. 组合导航领域中的应用与应对 > 舰船在航行、操纵、定位、避碰等方面所遇到的自动化和系 统化新课题,急盼新颖的组合导航技术来实现与改善。
1. 两种设计融合研究必要性
a. 有效提高复杂系统(对象)的可靠性
> 可测性设计的引入
* 将使复杂系统具备高测量精度、高测试覆盖率等优点,同时也可改善 传统测试成本高、资源浪费、维护和操作不便等问题。
> 故障容错设计的引入
* 将运用冗余技术为复杂系统提供部件(模块)的容错功能,以屏蔽故 障产生的影响,使系统保持正常运行。
学者提出的一个重大挑战。
7
二、DFT与DFFT融合研究的迫切性
1. 现有的可靠性研究是否已经足够了?
d. 从电子商务的角度来看
> 在网络电子商务时代,企业的关键计算业务要求能够 365天,每 天24小时不停运转。如发生宕机,则将会导致重大损失。
* 著名电子交易网站的一次宕机故障,将使其销售业务平 均每分钟损失25,000美元。
b. 从智能电表的角度来看
* 能否保证几亿个智能 电表的可靠性?
* 能否定量评估外界各
种因素对智能电表可 靠性的影响? * 能否在智能电表出现 故障时,及时自我检
随着国家电网公司智能电网 思路的提出,智能电表开始走向
测,并自我容错?
千家万户。
将国家损失降到到最低 !
6
二、DFT与DFFT融合研究的迫切性
2. 两种设计融合研究的意义
使复杂系统同时具备故障检测与故障恢复的功能,能够最 大化地提高复杂系统的可靠性,产生“1+1>2”的效果。
尤其是避 免与减少 灾难性事 故的发生。
防止故障 和事故发 生。
降低产品 的总费用。
增加产品前 期费用, 降低产品后 期费用。
减少停机 时间,提 高产品的 可用率。
提高产品
* 除直接经济损失外,关键业务的宕机可能还会导致企业客户群流失、 信誉降低、股票下跌、竞争力下降等其它更为严重的问题。
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二、DFT与DFFT融合研究的迫切性
2. 新的方法“蓄势待发”
a. 继续寻找新的方法
从诸多由可靠性不足而引发的案例来看,当前对复杂系 统的可靠性研究还存在不足,因此还需要寻找提高复杂系统 可靠性的新方式。
* 其关键可靠性指标达到5~9个或更多。
* 对于竞争无比激烈的智能手机行业来说,一旦发生故障,会引起客户 严重的不满。理论上是不允许的。 * 但是,当前智能手机产品仍时不时会发生卡机,死机等状况。
可靠性以成为 智能手机生命 力的代名词。
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二、DFT与DFFT融合研究的迫切性
1. 现有的可靠性研究是否已经足够了?
“性价比”
> 对于复杂系统产品来说,不仅要保证产品的可用性,更要满足 规定的产品性能指标。
* 通常情况下,提高系统性能和增加系统可靠性是相互矛盾的目标。
b. DFT与DFFT的引入,会对系统性能指标造成较大的影响 > 复杂系统产品性能因素已成为制约DFT与DFFT技术应用的关 键问题。
> 在确保系统总体性能不变情况下,进行DFT与DFFT融合研究。
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四、DFT与DFFT融合研究将遭遇的主要问题
4. DFT与DFFT融合研究主要问题小结
针对这两种设计融合研究产生的 主要问题,在进行复杂系统设计时, 需要采用合适的技术,对系统可靠性、 性能指标和成本核算等诸方面作一个
全面的评估和平衡。
综合考虑,目前可采用可测性设计和故障容错设计技术融合的领 域还是在国防军事、航空航天、人造卫星、银行储蓄以及其他对可靠 性有着特别要求的情况中。 随着相关技术研究的深入与进步,其应用领域必将全面拓展!
b. 扫描路径法完善触发器电路的可测性设计 > 扫描路径法是一种非常重要的时序电路可测性设计方法。
* 将容错扫描触发器组成扫描链,以获得电路的可控性和可观性。
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五、DFT与DFFT融合研究应用展望
1. 融合研究实例──容错扫描触发器
c. 冗余设计完善触发器电路的容错设计
> 触发器常见的加固技术包括:
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五、DFT与DFFT融合研究应用展望
2. 融合研究可应用前景展望
a. 核电领域中的应用与应对
* 1986.4.26日乌克兰切尔诺贝利核电厂发生爆炸。 * 大量放射性物质泄漏,15年内有6-8万人死亡。 * 方圆30公里地区的11.5万多民众被迫疏散。
> 针对核电站可靠性问题更要作一个充分完整的设计,而 DFT与 DFFT融合在复杂核电站系统中无疑是可行的一种方式。
> 在DFT与DFFT融合研究与实施过程中,可展开系统性能优化 设计方面的研究。
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四、DFT与DFFT融合研究将遭遇的主要问题
3. 复杂系统产品功耗方面的问题
a. 以VLSI为代表的复杂系统产品,对功耗的要求更为苛刻
> 随着集成电路设计技术的迅猛发展,原先已经接近临界点的 功耗指标,再次由于DFT与DFFT的引入而告急。
产品总费用
前期费用
后期费用
> 虽然两种设计融合在一个复杂系统上,能够显著提升复杂系统 可靠性,但是其所增加的成本,也是需要重点考虑的关键问题。
* 两种设计相关成本问题将在第九章中着重介绍,这里不在赘述。
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四、DFT与DFFT融合研究将遭遇的主要问题
2. 复杂系统产品性能方面的问题
a. 产品性能问题是技术发展的焦点
* 功耗的不断增加,不仅使芯片易于发热,更会致其工作失效与使用 寿命缩短。 * 降低功耗成为集成电路设计需要考虑的非常重要的技术问题。
b. 功耗问题不解决,DFT与DFFT融合也会受到极大的制约
> 在复杂系统融合可测性设计与故障容错设计的同时,也要融入 低功耗设计。
* 要避免盲目地一味追求系统的可靠性指标。
第八章 可测性设计技术与故障 容错设计技术的融合研究
上海大学 通信与信息工程学院 2016年03月 张金艺
2016年3月20日
1
提要
一、传统提高复杂对象可靠性的途径 二、DFT与DFFT融合研究的迫切性 三、DFT与DFFT融合研究不可避免 四、DFT与DFFT融合研究将遭遇的主要问题 五、DFT与DFFT融合研究应用展望
* 这将大大增加延缓故障容错实施的时间。
* 对一些可靠性要求特别高的复杂系统来说,越快检测到故障,就能越 快实施故障容错,同时也可以最大限度地减少故障所造成的损失。
可测性在故障容错系统设计中是一个非常重要的指标, 如果我法对某个系统进行测试,又如何知道其有故障呢?
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三、DFT与DFFT融合研究不可避免
* 实践证明:若产品寿命周期为5年,产品开发周期 每延长6个月,利润将损失1/3。
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四、DFT与DFFT融合研究将遭遇的主要问题
1. 开发周期与成本方面的问题
b. 复杂系统产品前期费用显著增加
> 可测性设计和故障容错设计的融入,需要增加额外的软硬件, 这必然会增加产品的前期费用。
研发 制造 试验 销售 使用 维护