涂镀层厚度检测方法
pcba涂覆厚度测量标准
PCBA涂覆厚度的测量标准
PCBA涂覆厚度的测量标准如下：
测量方法：可以采用直接测量法和等效测量法进行测量。
直接测量法适用于布有大面积的铜箔且元器件密度比较低的PCBA，等效测量法适用于元器件密度较高，铜箔开放面积小于1平方厘米的PCBA。
测量工具：可以使用漆膜测厚仪进行测量。
测量位置：在喷涂三防漆前先测量此区域涂层厚度（多次测量取均值），喷涂三防漆指干后，再次测量此区域厚度（多次测量取均值），通过计算即可得出三防漆漆膜厚度值。
涂层厚度要求：不同的涂层材料具有不同的厚度要求。
例如，丙烯酸树脂的涂层厚度为0.03~0.13mm，环氧树脂的涂层厚度为0.03~0.13mm，聚氨脂的涂层厚度为0.03~0.13mm，有机硅树脂的涂层厚度为0.05~0.21mm等。
测量环境：应确保测量环境干燥、无尘、无风，且温度和湿度适宜，以避免对测量结果产生影响。
重复测量：为了获得更准确的测量结果，建议在不同的位置和角度进行多次测量，并取平均值。
记录和报告：应记录测量的位置、涂层厚度、测量工具和测量结果等信息，并编写相应的报告。
报告中还应包括任何不符合标准的情况，并分析原因和提出相应的解决措施。
需要注意的是，具体的涂覆厚度标准可能会因不同的生
产商和应用领域而有所差异。
因此，在实际应用中，应参考相关标准和规范，并结合实际情况进行测量和评估。
金属表面漆膜厚度检测方法
金属表面漆膜厚度检测方法在金属表面处理时，涂装是非常重要的一环。
对于涂装质量的检测，漆膜厚度是一个非常重要的指标。
因为只有掌握合适的涂装方法和膜厚，并且能够及时检测漆膜厚度是否合格，才能保证涂装质量和耐久性。
下面我们将会介绍几种常见的金属表面漆膜厚度检测方法。
磁感应式涂层厚度计磁感应式涂层厚度计是一种非破坏性的检测方法。
其原理是通过感应搭载磁场的金属表面产生的信号，推断目标金属表面涂层厚度的技术。
我们可以通过选择涂层厚度计使用不同的峰值，以便将其放在不同的涂层材料。
这种方法需要我们在金属表面进行制备程序，如必要时应事先磨砂、粗化或化学反应活动，以便得到合适的信号。
X光荧光涂层厚度计X光荧光涂层厚度计也是一种常见的非破坏性检测方法。
它是在已有的涂层表面，使用一种特殊的荧光体系，并放射X光进行检测。
荧光体系反应时，可以计算出金属表面涂层的厚度，得出最终的测试结果。
这种方法具有较高的可靠性和准确性。
毛细管涂层厚度计毛细管涂层厚度计是一种常见的手动检测方法。
它利用毛细管的吸湿性，浸入涂层后，测量湿的部分的深度，得出涂层厚度。
这种方法简单易行，使用最为广泛。
缺点是需要在涂层表面制备一个小凸点，以便毛细管涂层厚度计的读数。
原子吸收涂层厚度计原子吸收涂层厚度计是一种基于吸收原理的涂层厚度计。
在测量前需要将测试的金属表面经过制备程序，然后在表面喷射微量金属溶液。
使用原子吸收涂层厚度计，可以通过检测样品的特征线位置和强度来得出涂层的厚度。
这种方法可以实现高精度和高重复性的检测效果。
综上所述，金属表面漆膜厚度检测方法有多种，其中有一些方法是相对容易掌握的，也有一些是需要专业技术的。
因此，不同的控制要求下需要不同的检测方法。
这就需要涂装行业从业人员不断提高自己的技术水平，了解不同的检测方法和涂装设备，来保证金属表面涂层的质量和耐久性。
镀层测厚的方法
镀层测厚的方法概述镀层测厚是一种用于测量金属镀层厚度的方法。
金属镀层广泛应用于各个行业，如电子、汽车、航空航天等。
测量镀层的厚度对于确保产品质量、控制生产工艺以及满足相关标准非常重要。
本文将介绍几种常用的镀层测厚方法，包括磁感应法、X射线荧光法、涡流法和超声波测厚法。
每种方法都有其优缺点，选择适合的方法取决于具体的应用场景和要求。
磁感应法磁感应法是一种常用的非破坏性测量金属镀层厚度的方法。
它利用磁感应原理，通过测量金属基体和镀层之间的磁场变化来确定镀层的厚度。
具体步骤如下：1.准备工作：选择合适的磁感应仪器，确保其精度和准确性。
清洁待测表面，确保没有杂质和污垢。
2.安装传感器：将磁感应传感器固定在待测表面上，并确保与表面紧密接触。
3.测量：启动磁感应仪器，将传感器移动到待测区域，并记录磁感应仪器显示的数值。
4.数据处理：根据磁感应仪器的测量结果，结合标定曲线或者标准样品，计算出镀层的厚度。
磁感应法的优点是测量速度快，适用于大面积、复杂形状的工件。
然而，它对于非磁性基体和非磁性镀层的测量效果较差。
X射线荧光法X射线荧光法是一种常用的非破坏性测量金属镀层厚度的方法。
它利用材料在X射线照射下产生的荧光特性来确定镀层的厚度。
具体步骤如下：1.准备工作：选择合适的X射线荧光仪器，确保其精度和准确性。
清洁待测表面，确保没有杂质和污垢。
2.安装样品：将待测样品固定在X射线荧光仪器上，并调整仪器使得X射线能够照射到待测区域。
3.测量：启动X射线荧光仪器，照射待测区域，并记录荧光光谱。
根据荧光光谱中的峰值位置和强度，计算出镀层的厚度。
X射线荧光法的优点是适用于各种基体和镀层材料，测量精度较高。
然而，它需要专用仪器和辐射源，且操作相对复杂。
涡流法涡流法是一种常用的非破坏性测量金属镀层厚度的方法。
它利用涡流感应原理，通过测量涡流感应信号来确定镀层的厚度。
具体步骤如下：1.准备工作：选择合适的涡流测厚仪器，确保其精度和准确性。
涂镀层厚度检测方法
涂镀层厚度检测方法
1.电磁涂层厚度计：电磁涂层厚度计是一种常用的非接触式涂层测量设备。
该仪器基于电磁感应原理，通过测量涂层表面的感应电流强度和感应磁场大小来确定涂层厚度。
电磁涂层厚度计广泛应用于汽车工业、航空航天、建筑工程等领域，准确度高，操作简单。
2.超声波涂层厚度计：超声波涂层厚度计利用超声波在材料中的传播速度和强度的变化，测量涂层厚度。
通过将传感器紧贴于被测物表面，发射和接收超声波信号，可以得到涂层厚度的测量结果。
超声波涂层厚度计适用于对涂层厚度进行快速、准确测量的场合。
3.X射线荧光光谱仪：X射线荧光光谱仪是一种能够非破坏性地检测涂层厚度的设备。
它通过射入样品表面的X射线激发样品表面的元素产生荧光，再通过检测荧光光谱来分析样品中元素的组成和涂层厚度。
X射线荧光光谱仪在材料分析、质量控制等领域有广泛的应用。
5.刮刀法：刮刀法适用于较厚的涂层厚度测量。
测量方法是用一把刮刀刮取样品表面的部分涂层，然后使用显微镜或影像测量仪测量涂层和基材分离的位置，根据分离的位置判断涂层的厚度。
由于需要刮取一部分涂层，所以该方法不适用于一些对涂层完整性有要求的情况。
这些涂镀层厚度检测方法各有特点，适用于不同的场景和材料。
根据具体需求，选择合适的方法进行涂镀层厚度的测量，将有助于提高产品质量和工艺控制。
镀层测厚法简介
镀层测厚法简介简介镀了锌的工件，是可以有几种方法来断定镀层的重量或厚度的。
很多时候，选用哪种方法来进行测试是会受制于测试工件的大小、形状及数量多少等因素。
一些测试方法是不损工件，但有一些方法却是具破坏性的，因为这些方法可能需要剥掉锌层的一部份，也可能要把覆料切片。
(一) 磁性测厚法 (Magnetic Thickness Measurements)镀层的厚度是可以用合乎 ASTM E 376 的磁性测厚仪测量法( Magnetic Thickness Gauge Measurements ) 来断定的。
每一个试样( Specimen ) 最少要取五个读数 ( Readings ) 。
每一个试样的平均厚度数值是要有不少于特定规格 ( Appropriate specification ) 内所列出的次一级镀层厚度 ( Coating Thickness ) 的数值。
如这些重量测试是从有不同钢厚度 ( Thickness of Steel ) 的工件中取样的话，每种钢厚度的测量都需要符合其个别特定规格的指定数值。
1 电磁线圈2 能量转换组件3 仪表( 二 ) 剥层秤重量度法 ( Stripping and Weighing Method )锌层的平均厚度是可以用合乎 ASTM A 90 的剥层秤重量度法来断定的。
又或者把有代表性的部份抽出数块锌层试样 --- 每片的可量度镀层面积须最少有 10 平方吋 ( 64.5 平方厘米 ) --- 来断定其平均镀层重量。
从距离元件的两端约 4 吋 ( 100 毫米 ) 左右各抽出一个试样，而在该元件的中央位置再抽取另一试样，各试样的镀层重量应不少于特定规格( Appropriate specification ) 内所列出的镀层厚度 ( Coating Thickness ) 数值。
该工件的平均镀层重量就是那三个试样的平均值，亦不应少于特定规格 ( Appropriate specification ) 内所列出的镀层厚度( Coating Thickness ) 数值。
电镀镀层检测方法
电镀镀层检测方法
电镀镀层是一种在金属表面形成的薄膜，用于提供保护、装饰和改善金属表面性能。
为了确保电镀镀层的质量，需要进行检测。
以下是几种常见的电镀镀层检测方法：
1. 厚度测量：电镀镀层的厚度是评估其质量的重要指标。
常用的测量方法包括X 射线荧光光谱法、涂层电阻法和毫米波测量法等。
2. 膜质检测：膜质指电镀镀层的组成和结构特征。
常用的检测方法包括X射线衍射分析、扫描电镜和透射电镜等。
3. 耐蚀性检测：电镀镀层的耐蚀性是其保护金属表面的重要性能。
常用的检测方法包括盐雾试验、湿热试验和导通腐蚀试验等。
4. 结合力测试：电镀镀层与基材的结合力也是评估其质量的重要指标。
常用的测试方法包括拉力测试、冲击测试和压痕测试等。
5. 几何形状检测：电镀镀层在形状方面需要满足设计要求。
常用的检测方法包括光学测量和三维测量等。
以上是常见的电镀镀层检测方法，不同的检测方法适用于不同的具体情况，检测前需要根据实际需要选择合适的方法。
镀层厚度测试方法
镀层厚度测试方法镀层厚度是指通过电镀等工艺在被镀基材上形成的一层覆盖物的厚度。
测量镀层厚度的准确性对于产品的质量和性能非常重要。
下面将介绍几种常见的镀层厚度测试方法。
1.直接测量法：直接测量法是最常见的一种方法，通过使用显微镜或投影仪等设备，测量镀层厚度的方法。
这种方法非常准确，但需要专业的测量设备和操作技巧。
首先，需要将被测样品进行切割或打磨，使得镀层的横截面暴露出来。
然后，使用显微镜或投影仪等设备对镀层进行观察，并通过测量仪器测量镀层的厚度。
由于这种方法需要对样品进行破坏性处理，因此适用于质检等需要破坏性测试的情况。
2.非破坏性测量法：非破坏性测量法是在不破坏样品的情况下，测量镀层厚度的方法。
这种方法通常使用电磁感应、超声波或X射线等技术。
其中，电磁感应方法通过感应被测物体中感应电流的变化来推断镀层的厚度。
超声波方法则是利用超声波在材料中传播的速度来测量镀层的厚度。
最后，X射线方法是通过测量X射线的吸收程度来间接测量镀层的厚度。
与直接测量法相比，非破坏性测量法具有速度快、精度高、适用于各种形状和尺寸的样品等优点，因此在实际应用中被广泛采用。
3.X射线荧光光谱法：X射线荧光光谱法是一种准确测量镀层厚度的方法，广泛应用于金属镀层的测量。
该方法通过测量光谱中的特定能谱线来确定镀层中的元素成分，并进而间接推断镀层的厚度。
这种方法不需要直接接触或破坏样品，因此适用于各种形状和尺寸的样品。
但是，该方法需要专业的设备和复杂的数据处理，因此对于普通实验室来说要求较高。
以上是几种常见的镀层厚度测试方法，每种方法都有其适用的场景和限制。
在实际应用中，需要根据具体的要求选择合适的测量方法，并在操作过程中保证准确性和可重复性。
镀层厚度测试方法及标准
镀层厚度测试方法及标准镀层是指为了好看或储藏而涂在某些物品上的金属表面涂上一层塑料，或者一层稀薄的金属或为仿造某种贵重金属，在普通金属的表面镀上这种贵重金属的薄层。
镀层起到提高抗腐蚀性、增加硬度、防止磨损及美观等作用。
镀层厚度测试方法一般有：金相法、库仑法或X-ray方法。
1、金相法利用金相显微镜原理，对镀层厚度进行放大，以便准确的观测及测量。
2、库仑法利用适当的电解液阳极溶解精确限定面积的覆盖层，电解池电压的急剧变化表明覆盖层实质上完全溶解，经过所耗的电量计算出覆盖层的厚度。
因阳极溶解的方法不同，被测量覆盖层的厚度所耗的电量也不同。
用恒定电流密度溶解时，可由试验开始到试验终止的时间计算；用非恒定电流密度溶解时，由累积所耗电量计算，累积所耗电量由电量计累计显示。
3、X-ray 方法X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。
此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。
覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在一定的关系。
该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。
若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。
部分参考标准：金属覆盖层覆盖层厚度测量轮廓仪法GB/T 11378-2005金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则GB/T 12334-2001真空金属镀层厚度测试方法电阻法GB/T 15717-1995金属覆盖层覆盖层厚度测量X射线光谱方法GB/T 16921-2005金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法GB/T 17722-1999金属与非金属覆盖层覆盖层厚度测量β射线背散射法GB/T 20018-2005金属和非金属基体上非磁性金属覆盖层覆盖层厚度测量相敏涡流法GB/T 31554-2015金属覆盖层厚度测量扫描电镜法GB/T 31563-2015贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法GB/T 38783-2020金属覆盖层覆盖层厚度测量阳极溶解库仑法GB/T 4955-2005金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法GB/T 6462-2005内容来源网络，如有侵权请与我们联系，我们将及时删除！如有错误，请告知我们修改！。
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涂镀层厚度检测方法
目前采用的涂镀层厚度测量方法主要有电量法、电解法、磁性/涡流测厚法、X射线测厚法、超声波测厚法以及光学测厚法等。
按有无破坏性，表面涂镀层厚度测试方法可分为有损检测和无损检测。
有损检测方法主要有计时液流测厚法、溶解法、电解测厚法等，这种方法一般比较繁琐，主要用于实验室。
目前也有便携式测厚仪，适合在现场使用。
常用的无损检测方法有库仑-电荷法、磁性测厚法、涡流测厚法、超声波测厚法和放射测厚法等，各种无损测厚法均有成型的仪器设备，使用起来方便简单，且无需对表面涂镀层进行破坏。
因此，该方法已得到了广泛的应用。
1电量法测厚
镀层电量法测厚的根本原理是根据1838年建立的法拉第定律测量，即通过安培小时计测量刷镀过程中的电量，然后在假设所有通过电量均用于镀层沉积的条件下计算镀层的厚度。
但是，采用该方法进行镀层厚度测量时，一般认为耗电系数是恒定的，因而导致了测量结果的系统误差。
2电解法(库仑法)测厚
电解法的原理是在镀层表面的已知面积上，以恒定的直流电流在适当的溶液中溶解镀层金属。
当镀层金属溶解完毕，裸露基体金属或中间层镀层时，电解池电压发生跃变，即指示测量已达终点。
镀层的厚度根据溶解镀层金属消耗的电量、镀层被溶解的面积、镀层金属的电化当量、密度及阳极溶解的电流效率计算确定。
根据电解法设计的电解测厚仪的测厚过程类似于电镀，但化学反应的方向正好相反，即通过对被测部分的金属镀层进行局部阳极溶解，通过阳极溶解镀层达到基体时的电位变化及所需时间来进行镀层厚度的测量。
电解测厚仪具有测量准确、不受基体材料影响、重现性好和使用简便等优点，在国内外电镀行业得到了广泛应用。
与其他测厚仪相比，电解测厚仪还具有一个突出的优点就是能够测量多镍镀层中每层镍的厚度及各镀层之间的电化学电位差。
3磁性测厚
磁性测厚法可分为2种：磁吸力测厚法和磁感应测厚法。
磁吸力测厚法的测厚原理：永久磁铁(测头)与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。
利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。
测厚仪基本结构由磁钢、接力簧、标尺及自停机构组成。
磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。
当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。
新型的产品可以自动完成这一记录过程。
磁感应测厚法的基本原理：利用基体上的非铁磁性涂覆层在测量磁回路中形成非铁磁间隙，使线圈的磁感应强度减弱;当测量的是非铁磁性基体上的磁性涂镀层厚度时，则随着涂镀层厚度的增加，其磁感应强度也会增加。
利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以测量导磁基体上的非导磁覆层厚度，一般要求基材导磁率在500H/m以上。
如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。
早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。
近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等新技术，利用磁阻来调制测量信号。
还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。
现代的磁感应测厚仪分
辨率达到μm，允许误差1%，量程10mm。
磁性原理测厚仪可用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层以及化工石油行业的各种防腐蚀涂层。
其特点是操作简便、坚固耐用、不用电源、测量前无须校准、价格较低，适合车间做现场质量控制。
4电涡流测厚
涡流测厚仪是根据涂镀层与基体材料的导电性有足够的差异来进行金属基材上涂覆层的物性膜厚来测量的。
该方法实质上也属于电磁感应原理，但能否采用该方法进行厚度测定，与基体及涂镀层材料的导电性有关，而与其是否为磁性材料无关。
其工作原理为：高频交流信号会在测头线圈中产生电磁场，当测头靠近导体时，就在其中形成涡流。
测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。
这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。
由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。
非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其他新材料。
与磁感应原理比较，主要区别是不同的测头、不同的信号频率和大小及不同的标度关系。
与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0。
1μm、允许误差1%、量程10mm的高水平。
目前已有研究表明[5]，采用电涡流传感器在多频率多参数下可以实现钢材表面涂镀层厚度的在线测量。
采用电涡流原理的测厚仪，主要是对导电体上的非导电体覆层厚度的测量，但当覆层材料有一定的导电性时，通过校准也同样可以测量，只是要求两者的导电率之比至少相差3~5倍(如铜上镀铬)。
磁性/涡流测厚磁性测厚和涡流测厚均有缺点，为此，很多厂家将两者综合在一起进行测定，采用的探头有3种：F型、N型和FN型。
其中F型探头采用磁感应原理，可用于钢铁上的非磁性涂镀层，如油漆、塑料、搪瓷、铬和锌等;N型探头采用涡流原理，用于有色金属(如铜、铝、奥氏体不锈钢)上的绝缘层，如阳极氧化膜、油漆和涂料等;而FN型探头同时具有F和N型探头的功能，利用这种两用型探头，可实现在磁性和非磁性基体上自动转换测量。
6 X射线荧光测厚
X射线荧光测厚法原理：利用低能光子源发出的低能光子激发镀层物质或基底材料，根据激发出的荧光能量和强度(或基底材料荧光在镀层中的衰减)来确定被测物质元素及其厚度。
另外，还有一种采用X射线测量镀层厚度方法，是目前较为通用的方法[8]。
测量原理如下：首先使凸面状的摇臂顶端与基体金属的表面镀层形成相接触的状态，然后由摇臂的轴心部位向镀层照射X射线，通过镀层反向散射，先测出来自基体金属(即镀层的里面)的反射量，再换算成镀层厚度。
7超声波测厚
超声波测厚仪可用于测量多种材料的厚度，如钢、铁、塑料和玻璃等。
但是，目前国内还没有用到，国外极少数厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度测量或磁性测厚和电涡流测厚方法无法测量的场合，如德国EPK公司生产的QuintSonic型超声波测厚仪及美国DeFelsko公司生产的PosiTector100/200型超声波涂层测厚仪，对木材、塑料、玻璃、混凝土、陶瓷及金属的油漆、瓷釉和其他绝缘金属涂镀层厚度都可进行测量。
其最大的特点是，只需一次测量即可测定多层涂层的总厚度及指定的各层厚度，且精度可达到(2μm±3%)。
8光学测厚
光电法是光学法中应用较好的一种，它以光电器件为传感元件进行光电转变，通过对电信号的处理来实现厚度测量。
采用该方法还可检测出长、宽、直径、表面粗糙度、角度等其他多种几何量。
测量对象也较广，并不局限于金属或非金属，而且测量精度高、性能稳定，可实现非接触测量等，因而在几何量测量领域使用较多。
该方法的缺点是仪器对环境、振动、温湿度等较为敏感。
通常镀层厚度测量仪器按是否在测量时对镀层造成破坏进行分类，主要分为无损和有损(破坏)两类仪器。
无损类仪器主要有磁性和电涡流测厚仪、超声波测厚仪、台阶仪或轮廓仪、X射线荧光测厚仪等；有损类仪器主要有电解式测厚仪以及需要制作破坏式断面样品的金相显微镜、扫描电子显微镜等。
[1].杨华,董世运,徐滨士.涂镀层厚度检测方法的发展现状及展望[J].材料保护,2008,41(11):34-37.
[2].张欣宇. 镀层厚度测量仪器及其检定,校准方法探讨[J].计量与测试技术, 2013 (1):3-4.
[3].侯培国, 韩薇, 赵丽颖,等.基于电流检测的镀层厚度测量方法[J].计量技术, 2008
(3):23-25.
[4].李淦平. 关于电镀与精饰国家标准目录索引[J].电镀与精饰,1992,1: 027.。