晶硅组件检测与分析

合集下载

晶体硅光伏组件EL测试的缺陷分析

晶体硅光伏组件EL测试的缺陷分析

晶体硅光伏组件EL测试的缺陷分析随着光伏技术的发展,晶体硅光伏组件已成为主流的光伏发电设备之一、在光伏组件生产过程中,常常会进行电致发光(EL)测试,通过对组件的EL图像进行分析,可以有效地检测出组件的缺陷。

本文将结合实际情况,介绍晶体硅光伏组件EL测试的缺陷分析。

首先,晶体硅光伏组件EL测试是一种非破坏性测试方法,通过在组件背面施加电压,使组件辐射出可见光,然后使用相机拍摄组件的照片。

通过分析照片中出现的亮点、暗点等特征,可以判断出组件是否存在缺陷。

在EL测试中,常见的缺陷包括细小裂纹、污染、气泡、焊点问题等。

细小裂纹是由于光伏组件在生产过程中产生的温度应力和机械应力引起的。

在EL图像中,细小裂纹会呈现为条状或弧状的亮线,通常与电池片之间的连接有关。

污染是指组件表面存在的杂质,如灰尘、油渍等。

在EL图像中,污染会呈现为不规则的暗斑点,通常分布在整个组件表面。

气泡是由于生产工艺不当或材料质量问题导致的。

在EL图像中,气泡通常呈现为圆形或半圆形的亮斑点。

焊点问题主要包括焊接不良、焊点开路等。

在EL图像中,焊接不良的区域会显示为不规则形状的亮斑,而焊点开路则没有亮斑。

针对这些常见的缺陷,可以采取一些措施进行分析和修复。

对于细小裂纹,可以通过改善工艺和材料选择来减轻温度和机械应力,同时加强的胶水的粘合度。

对于污染问题,可以通过增加清洗步骤或改进清洗工艺来减少。

对于气泡问题,可以通过改进生产工艺和选择更好的材料来避免气泡形成。

对于焊接问题,可以通过调整焊接参数、提高焊接工艺的稳定性来改善。

需要注意的是,EL测试虽然能够有效地检测出组件的缺陷,但并不能判断缺陷对组件性能的具体影响。

因此,在EL测试结果出现异常时,需要进一步进行其他测试来评估组件的性能和质量。

总之,晶体硅光伏组件EL测试是一种重要的缺陷分析方法,通过对EL图像的分析,可以有效地检测出组件的缺陷,为组件生产和质量控制提供有力的支持。

通过对常见的缺陷进行分析和修复措施的探讨,可以进一步提高光伏组件的质量和性能。

晶体硅电池组件EL缺陷汇总及分析报告课件

晶体硅电池组件EL缺陷汇总及分析报告课件

学习交流PPT
10
缺陷种类九:过焊片
电池片过焊一般是在焊接工序产生的,过焊会造成电 池部分电流的收集障碍,该缺陷发生在主栅线的旁边。 成像特点是在EL图像下,黑色阴影部分从主栅线边缘延 副栅线方向整齐延伸。栅线外侧区域,一般为全黑阴影。 栅线之间一种是全黑 阴影,一种是由深至 浅的过渡阴影。我们 通过计算黑色区域的 面积来判定缺陷的级 别。
学习交流PPT
2
缺陷种类一:黑心片
EL照片中黑心片是反映在通电情况下电池片中心一圈 呈现黑色区域,该部分没有发出1150nm的红外光,故 红外相片中反映出黑心,此类发光现象和硅衬底少数载 流子浓度有关。这种电池片中心部位的电阻率偏高。
学习交流PPT
3
缺陷种类二:黑团片
多晶电池片黑团主要是由于硅片供应商一再缩短晶体 定向凝固时间,熔体潜热释放与热场温度梯度失配导致 硅片内部位错缺陷。
学习交流PPT
24
其他原因
8.组件扒皮返修过程中人员用力按压电池片也极易造 成破片。 9.层叠工序5S较差时异物吸附到组件内经过层压机层 压产生破片。 10.层压件堆放在托盘上超过规定数量或是运输过程中 颠簸均有可能导致电池片隐裂纹。 11.摔组件更是导致隐裂纹的罪魁祸首
学习交流PPT
25
总结
对于我们组件制造环节来讲EL不良总体可以分为两 大类即来料原因和后期人为原因。虽然电池片的好坏 我们无法掌控,但是我们每个工序都可以做到及时发 现及时反馈,不让不良电池片流入下一道工序,同时 将不良电池片退回供应商以减少我们的损失。
晶体硅电池组件EL缺陷汇总及 原因分析报告
学习交流PPT
1
EL检测原理
EL检测仪,又称太阳能组件电致发光缺陷检测仪,是 跟据硅材料的电致发光原理对组件进行缺陷检测及生产 工艺监控的专用测试设备。给晶体硅电池组件正向通入 1-1.5倍Isc的电流后硅片会发出1000-1100nm的红外光, 测试仪下方的摄像头可以捕捉到这个波长的光并成像于 电脑上。因为通 电发的光与PN结中离 子浓度有很大的关系, 因此可以根据图像来 判断硅片内部的状况。

光伏组件的检验测试(终检)

光伏组件的检验测试(终检)

光伏组件的检验测试(终检)一、终检的内容根据国家标准《地面用晶体硅光伏组件的设计鉴定和定型》(GB/t9535-1998)和《海上用太阳能电池组件通用规范》(GB/t14008-1992)的规定,光伏组件需要检查和测试的基本项目如下:1.电气性能测试;2.电气绝缘性能试验;3.热循环试验;4.湿热湿冷实验;5.机械负荷试验;6.冰雹试验;7.老化试验。

二、光伏组件的电性能参数1.光伏组件的输出特性光伏组件的性能主要是它的“电流-电压”特性,即光伏组件的输出特性。

它能够反应出组件的光电转换能力。

反映光伏组件(在一定照明条件下)输出电压、输出电流和输出功率之间关系的曲线称为输出特性曲线,即“电流-电压”特性曲线,也可以表示为I-V特性曲线。

在光伏组件的i-v特性曲线上,有三个具有重要意义的点:开路电压、开路电流和峰值功率。

2.光伏组件的电气性能参数光伏组件的电性能参数主要有:短路电流、开路电压、峰值电流、峰值电压、峰值功率、填充因子和转换效率等。

(1)短路电流(ISC):当光伏组件的正负极短路时,u?0,此时的电流为元件短路电流,短路电流的单位是a(安培),短路电流随着光强的变化而变化。

(2)开路电压(UOC):当光伏组件的正负极未连接到负载时,组件正负极之间的电压为开路电压,开路电压的单位为V(伏特)。

光伏组件的开路电压随串联电池数量的增加或减少而变化。

串联36个电池的模块的开路电压约为21V。

⑶峰值电流(im):峰值电流也叫最大工作电流或最佳工作电流,是指光伏组件输出最大功率时的工作电流。

(4)峰值电压(UM):峰值电压也称为最大工作电压或最佳工作电压,指太阳能电池输出最大功率时的工作电压。

峰值电压的单位也是v(伏特)。

模块的峰值电压随串联电池芯数的增加或减少而变化。

例如,串联36个电池芯的模块的峰值电压为17~17.5V。

⑸峰值功率(pm):峰值功率也叫最大输出功率或最佳输出功率,是指光伏组件在正常工作或测试条件下的最大输出功率,也就是峰值电流与峰值电压的乘积:pm=im?um。

地面用晶体硅光伏组件设计鉴定和定型

地面用晶体硅光伏组件设计鉴定和定型

地面用晶体硅光伏组件设计鉴定和定型摘要地面用晶体硅光伏组件是一种广泛应用于太阳能光伏发电系统中的重要组成部分。

本文主要介绍了地面用晶体硅光伏组件的设计、鉴定和定型的相关内容。

首先介绍了光伏组件的基本结构和工作原理,然后详细讨论了地面用晶体硅光伏组件的设计原则和注意事项。

接下来,介绍了光伏组件的鉴定方法和标准,包括性能参数测试、质量控制和可靠性评估。

最后,介绍了光伏组件的定型方法和流程,包括组件的封装、安装和接线等方面的技术要点。

希望通过本文的介绍,可以帮助读者对地面用晶体硅光伏组件的设计、鉴定和定型有一个全面的了解。

1. 引言地面用晶体硅光伏组件是太阳能光伏发电系统中的核心组件之一,其性能的优劣直接影响着整个光伏系统的发电效率和经济效益。

因此,地面用晶体硅光伏组件的设计、鉴定和定型显得尤为重要。

2. 光伏组件的基本结构和工作原理地面用晶体硅光伏组件由若干个光伏电池组成,电池之间通过连线和电连接件连接起来。

光伏电池常采用晶体硅材料,通过光照产生电能。

光伏组件的基本结构主要包括玻璃罩、背板、边框以及密封胶等组件。

工作原理是当太阳光照射到光伏电池上时,光子的能量被电池中的材料吸收,产生电子和空穴,从而形成光生电效应。

3. 地面用晶体硅光伏组件的设计原则和注意事项在设计地面用晶体硅光伏组件时,需要考虑以下几个主要原则和注意事项:3.1 光电转化效率地面用晶体硅光伏组件的设计目标是尽可能提高光电转化效率,以提高发电能力。

通过优化光伏电池的结构和材料,提高光伏组件的光吸收能力和电子收集效率,可以有效提高光电转化效率。

3.2 结构设计地面用晶体硅光伏组件的结构设计需要考虑组件的机械强度和稳定性。

合理选择玻璃罩、背板和边框的材料和结构,可以保证组件在户外环境下的长期稳定运行。

3.3 温度控制地面用晶体硅光伏组件在工作过程中会产生一定的热量,在高温条件下,组件的发电效率会下降。

因此,需要合理设计散热系统,控制组件的工作温度。

晶体硅光伏组件认证测试耐候性项目失效分析

晶体硅光伏组件认证测试耐候性项目失效分析

晶体硅光伏组件认证测试耐候性项目失效分析I. 介绍- 光伏组件的耐候性测试的重要性- 对晶体硅光伏组件耐候性测试项目的简要介绍II. 实验设计- 实验样品的选择及制备- 耐候性测试条件设置- 数据采集方法和处理III. 实验结果- 耐候性测试后的光伏组件性能表现- 失效数据统计和分析IV. 失效原因分析- 分析不同条件下组件失效的原因- 探讨失效可能对光伏组件的使用和市场产生的影响V. 结论- 总结耐候性测试的结果- 提出进一步完善晶体硅光伏组件的耐候性测试方法的建议注:以上仅为提纲,具体内容可根据实际情况和要求进行编写。

I. 介绍光伏组件的耐候性测试是光伏行业中非常重要的研究方向之一。

通过进行耐候性测试,可以评估光伏组件在复杂环境下的耐受能力,了解光伏组件效能随时间变化的情况,并对光伏组件的设计、制造和应用提供参考。

晶体硅光伏组件是目前应用比较广泛的光伏组件之一,其耐候性测试也备受关注。

本论文主要对晶体硅光伏组件的耐候性测试项目失效分析进行探讨和研究。

首先,我们将简要介绍光伏组件的耐候性测试项目和其中的重要性。

然后会针对晶体硅光伏组件耐候性测试项目中失效分析这一研究方向进行研究,并在实验中考察不同的参数对光伏组件性能的影响。

最终,本文将总结耐候性测试的结果并提出一些建议,旨在进一步完善晶体硅光伏组件的耐候性测试方法,提高光伏组件的性能和寿命。

II. 实验设计光伏组件耐候性测试是一项复杂的实验,需要考虑多方面的因素。

本文中,我们选取了晶体硅光伏组件,在实验中考察其耐候性。

实验设计包括实验样品的选择及制备、耐候性测试条件设置、数据采集方法和处理等方面。

1. 实验样品的选择及制备在本实验中,我们选择的是晶体硅光伏组件作为研究样品。

首先,我们选择了多种不同型号的晶体硅光伏组件,并在实验前进行多次模拟实验和预实验,筛选出初始性能稳定、外观完整的样品进行研究。

在制备上,克服了晶体硅光伏组件制作过程中的影响因素,精心制作出了符合实验原则和数据分析的产品。

晶体硅光伏组件认证测试耐候性项目失效分析的研究报告

晶体硅光伏组件认证测试耐候性项目失效分析的研究报告

晶体硅光伏组件认证测试耐候性项目失效分析的研究报告晶体硅光伏组件是太阳能光伏系统的重要组成部分,用于将太阳能转化为可使用的电能。

然而,由于光伏组件长期暴露在复杂的气候条件下,耐久性成为组件性能评估的一个重要指标。

因此,本研究旨在进行晶体硅光伏组件的耐候性测试和失效分析。

1.测试方法本研究采用了国际电工委员会(IEC)发布的IEC61215标准,对晶体硅光伏组件进行了耐候性测试,测试时间为1000小时。

测试过程采用蒸馏水雾化、高温高湿和低温循环等方式进行模拟气候环境,测试后对性能进行评估。

2.测试结果测试结果表明,晶体硅光伏组件经过1000小时的耐候性测试后,其性能指标出现了一定程度的下降。

特别是在高温高湿环境下,组件的输出电压、电流和功率均出现了不同程度的下降。

同时,组件的输出特性也发生了变化,出现了比较明显的损失。

3.失效分析从实验结果来看,晶体硅光伏组件的耐久性下降主要表现在以下几个方面:(1)光伏单元损失。

组件在高温高湿环境中容易引起光伏单元的损失,尤其是在高温条件下,单元的导电性能会大幅度下降,从而降低组件的输出能力。

(2)漏电导致的损失。

组件在经过1000小时的高湿环境测试后易产生漏电现象,漏电会导致组件内部产生热能,破坏组件内部结构从而导致失效。

(3)表面腐蚀。

组件在高温高湿和蒸馏水雾化的环境下易产生表面腐蚀,使组件表面光洁度降低,降低了组件的光吸收效率。

4.结论综合测试结果及失效分析,可以得出晶体硅光伏组件的耐久性存在失效的可能性,各种气候条件下对组件的影响有所不同。

因此,在使用晶体硅光伏组件时,需要注意其使用环境,定期对组件进行检测和维护,及时更换失效的组件。

同时,研究和改进组件的防潮、防晒等性能,提高组件的稳定性和可靠性,对于推广和应用光伏发电技术具有重要意义。

数据分析是研究报告中很重要的一部分,下面针对晶体硅光伏组件认证测试耐候性项目的数据进行分析。

根据测试,晶体硅光伏组件在1000小时的耐候性测试中出现了一定程度的下降。

多(单)晶硅太阳能电池组件,层压过程常见不良现象原因及分析

多(单)晶硅太阳能电池组件,层压过程常见不良现象原因及分析

多(单)晶硅太阳能电池组件,层压过程常见不良现象原因及分析下面是实际生产中经常遇到的一些问题。

提出问题:1、组件中有碎片。

2、组件中有气泡。

3、组件中有毛发及垃圾。

4、汇流条向内弯曲。

5、组件背膜凹凸不平。

问题分析:1、组件中有碎片,可能造成的原因:1、由于在焊接过程中没有焊接平整,有堆锡或锡渣,在抽真空时将电池片压碎。

2、本来电池片都已经有暗伤,再加上层压过早,EVA 还具有很良好的流动性。

3、在抬组件的时候,手势不合理,双手已压到电池片。

2、组件中有气泡,可能造成的原因:1、EVA 已裁剪,放置时间过长,它已吸潮。

2、EVA 材料本身不纯。

3、抽真空过短,加压已不能把气泡赶出。

4、层压的压力不够。

5、加热板温度不均,使局部提前固化。

6、层压时间过长或温度过高,使有机过氧化物分解,产出氧气。

7、有异物存在,而湿润角又大于90°,使异物旁边有气体存在。

3、组件中有毛发及垃圾,可能造成的原因:1、由于EVA、DNP、小车子有静电的存在,把飘着空的头发,灰尘及一些小垃圾吸到表面。

2、叠成时,身体在组件上方作业,而又不能保证身体没有毛发及垃圾的存在。

3、一些小飞虫子死命的往组件中钻。

4、汇流条向内弯曲,可能造成的原因:1、在层压中,汇流条位置会聚集比较多的气体。

胶板往下压,把气体从组件中压出,而那一部分空隙就要由流动性比较好EVA 来填补。

EVA 的这种流动,就把原本直的汇流条压弯。

2、EVA 的收缩。

5、组件背膜凹凸不平,可能造成的原因:1、多余的EVA 会粘到高温布和胶板上。

问题解决:1、组件中有碎片:①、首先要在焊接区对焊接质量进行把关,并对员工进行一些针对性的培训,使焊接一次成型。

②、调整层压工艺,增加抽真空时间,并减小层压压力(通过层压时间来调整)。

③、控制好各个环节,优化层压人员的抬板的手势。

2、组件中有气泡:①、控制好每天所用的EVA 的数量,要让每个员工了解每天的生产任务。

②、材料是由厂家所决定的,所以尽量选择较好的材料。

组件质量检测标准

组件质量检测标准

组件质量检测标准EV A检验标准晶体硅太阳电池囊封材料是EV A,它乙烯与醋酸乙烯脂的共聚物,化学式结构如下(CH2—CH2)—(CH—CH2)|O|O — O — CH2EV A是一种热融胶粘剂,常温下无粘性而具抗粘性,以便操作,经过一定条件热压便发生熔融粘接与交联固化,并变的完全透明,长期的实践证明:它在太阳电池封装与户外使用均获得相当满意的效果。

固化后的EV A能承受大气变化且具有弹性,它将晶体硅片组“上盖下垫”,将硅晶片组包封,并和上层保护材料玻璃,下层保护材料TPT(聚氟乙烯复合膜),利用真空层压技术粘合为一体。

另一方面,它和玻璃粘合后能提高玻璃的透光率,起着增透的作用,并对太阳电池组件的输出有增益作用。

EV A厚度在0.4mm~0.6mm之间,表面平整,厚度均匀,内含交联剂,能在150℃固化温度下交联,采用挤压成型工艺形成稳定胶层。

EV A主要有两种:①快速固化②常规固化,不同的EV A层压过程有所不同采用加有抗紫外剂、抗氧化剂和固化剂的厚度为0.4mm的EV A膜层作为太阳电池的密封剂,使它和玻璃、TPT之间密封粘接。

用于封装硅太阳能电池组件的EV A,主要根据透光性能和耐侯性能进行选择。

1. 原理EV A具有优良的柔韧性,耐冲击性,弹性,光学透明性,低温绕曲性,黏着性,耐环境应力,开裂性,耐侯性,耐化学药品性,热密封性。

EV A的性能主要取决于分子量(用熔融指数MI表示)和醋酸乙烯脂(以V A表示)的含量。

当MI一定时,V A的弹性,柔软性,粘结性,相溶性和透明性提高,V A的含量降低,则接近聚乙烯的性能。

当V A含量一定时,MI降低则软化点下降,而加工性和表面光泽改善,但是强度降低,分子量增大,可提高耐冲击性和应力开裂性。

不同的温度对EV A的胶联度有比较大的影响,EV A的胶联度直接影响到组件的性能以及使用寿命。

在熔融状态下,EV A与晶体硅太阳电池片,玻璃,TPT产生粘合,在这过程中既有物理也有化学的键合。

  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

晶硅组件检测与分析This model paper was revised by the Standardization Office on December 10, 2020光伏电站晶硅组件如何检测与分析光伏电站的质量问题由来已久,几年前,一家权威认证机构对国内已经在运行的多座大型晶硅组件光伏电站进行了质量检测,调查发现光伏组件普遍存在各种质量问题,如热斑、隐裂和功率衰减等,对电站的发电量、KPI指标、电站收益及日常运行维护带来严重影响。

电站建成后,随着时间的推移,组件本身首年光致衰减及逐年衰减率和其他衰减因素都客观存在、不可避免,因此实际的装机容量会逐年减少,那么基于原始装机容量进行理论发电量或理论功率输出计算的发电性能指标如PR、CPR和EPI等,其中包含的光伏电池板自身损耗部分会逐年增加,而且实际装机容量的不确定性将对次年各个电站的计划发电量的制定带来一定影响。

因此文中基于现实存在的客观情况,着重探讨已并网电站的户外组件电性能测试及功率修正方法、组件热斑现象和原因分析以及晶硅组件PID功率衰减的快速甄别方法,由于篇幅有限,其他质量问题的检测将另起他文探讨。

通过相关的测试和分析手段,可对自有电站的实际情况有清楚的了解,如组件的衰减情况、热斑组件的分布比例及是否存在PID 组件等等。

一、组件(方阵)I-V测试及功率修正方法笔者曾在某西部多家地面电站进行考察,发现在某一随机时段各个逆变器的发电量存在较大差异。

如图1所示,通过对电站逐级逐段分析,排除了逆变器本身及对应方阵故障、设备停机等因素,发现电量差异的主要来源为各个组串工作电流的波动性,整体离散率较高,有的甚至超过20%。

逆变器发电量的差异和组件的功率输出情况有密切关联,因此有必要从汇流箱侧去查找低功率的组串或组件,一般的,户外组件或方阵组串的电性能测试使用便携式I-V测试仪,本部分首先介绍便携I-V测试仪的原理、配套辐照度计量仪的类型和特点,接着介绍现场组件功率测试的一次修正和二次修正方法。

图1 某地面电站某一时段各个逆变器的发电对比1.1便携式I-V测试仪分类与测试原理据调研目前市场上常用的便携式I-V测试仪主要有可变电子负载式和动态电容式两种,如图2和图3所示,可变电子负载式是仪器自身内置了电子负载,当电阻从0变到无穷大的时候,仪器通过采集上百个负载点所对应的工作电流和工作电压值来构成整条I-V曲线,并通过算法寻找到最大功率点。

电容式I-V测试仪以充电式动态电容作为光伏组件的动态负载,实际测试时,光伏组件因有光生电流对电容充电,电容在开始充电时,阻抗很低几乎为零,充电回路相当于短路,当充电结束,阻抗非常高,充电回路相当于开路,那么在电容的充电过程中,电容的阻抗从0变到无穷大,相当于光伏组件或阵列的负载电阻从0变化到无穷大,然后对电压电流进行采样,这些采样点构成了光伏组件的I-V特性曲线。

和可变电子负载式相比,动态电容式测试方法的优点是虽然测试速度较快,精度较高,但需要复杂的控制电路,而对于阵列型的I-V测试仪,就需要比较大的电容器,那么体积和重量就会增加,所以带到户外进行测试会比较笨重。

图2 可变电子负载式图3 动态电容式太阳辐照数据采集介绍便携式I-V测试仪在测试过程中需要对实时的辐照数据进行采集,辐照采集目前常用的仪器是总辐射表,它分为热电型(Thermopile Pyranometers)和光电型(Silicon Pyranometers)两种,如图4所示为热电型,图5为光电型。

热电型一般为两层玻璃罩结构,由玻璃罩下黑色感应面与内部的热电堆等感应器件组成。

一般感应元件表面涂有高吸收率的黑色涂层,感应元件的热接点在感应面上,而冷接点位于仪器的机体内,双层石英玻璃罩结构的作用是防止热接点单方向通过玻璃罩与环境进行热交换,提高测量精度。

同时为了避免太阳辐射对冷接点的影响,增加了一个白色防辐射盘用来反射阳光的热辐射。

它的原理很简单,当太阳辐射透过玻璃罩到达热电表感应面时,冷热结点会产生温差,由此产生温差电动势,将光信号转换为电信号输出,那么这个输出信号与感应面上所接收到的太阳辐照度成正比(在线性误差范围内),根据毫伏表或电位差计测出的热电势就可以进行读数。

目前光电型辐照计一般使用硅光电二极管传感器,也有使用标准太阳电池(Reference cells)作为辐照度传感器件,它的原理是利用其短路电流与投射在电池片上的太阳辐照度的线性关系来测定太阳辐照度,分为电压输出型和电流输出型两种,对于电流输出型,一般可在电路设计上增加小的负载电阻,通过测量负载电阻之间的电压来间接得到短路电流。

图4 热电表(热电堆型)2图5 光电型辐照计(晶硅电池片式)当前我国的太阳辐射观测网所选用的总辐射表大部分都是热电型,热电型总辐射表的光谱范围较宽,一般大致为太阳全谱段的280nm至3000 nm(参考图6,来源于荷兰Kipp&Zonen公司),响应时间一般小于60s,价格较高。

而光电型总辐射表的光谱范围大致为400nm至1100nm,响应时间一般小于 10μs,其光谱响应范围与太阳能电池板的工作光谱范围十分接近,且主要特点是其响应时间快、价格低廉。

因此光电表的光谱选择性完全取决于其自身的光电感应器件硅光电二极管(含标准电池),具有一定的光谱选择特性,而热电表中的热电堆,属于中性宽带感应器件,并没有明显的光谱选择性。

图6 光谱响应曲线(蓝色:太阳辐射光谱绿色:晶硅电池片的光谱响应红色:热电表的光谱响应)表1为两者的特点对比,其中温度特性是环境温度发生改变后,表的灵敏度所发生的变化。

光电表一般都没有温度补偿电路,因此需要在实际使用中确定光电表观测数据的温度系数进行补偿。

由于在测量过程中的温度变化引入的测量偏差较大,热电型则拥有质量更高的玻璃罩,对温度变化所做的温度修正精度也更高。

一般来说,热电型总辐射表主要用来测量水平面太阳总辐射,也可用来测量入射到方阵斜面上的太阳总辐射,因此在评价电站的PR能效比和EPI一般采用热电表来计量方阵斜面总辐射量(POA),而由于光电表的光谱响应和电池的光谱响应较为接近,所以光伏组件或方阵的实时输出功率测试可使用光电表。

但是电池片型光电表也存在一些问题,如电池片的衰减特性、易受环境污染和温度影响、余弦误差和方向误差偏高、校准难度大、以及测量精度和电池片封装玻璃的透射率都有关系等,特别是光电表的温度修正、余弦误差和方位误差的测量和控制在校准的时候需要注意的。

表1 两种辐射表的特点对比组件背板温度采集组件背板温度数据的采集操作有下面两种,图7为胶带粘接式测试,其探头分为金属或者环氧树脂探头,图8为吸盘式。

一般情况下,若温度数据的采集精度不够,还需使用高精度IR热成像仪进行辅助测试以确定实际的组件背板温度,需要注意的一点是很多厂家将背板温度当成电池片的结温,这是不正确的,根据美国Sandia实验室的经验值,一般地面电站上的晶硅电池片结温在组件背板温度值的基础上再加上2℃-3℃。

或者也可以根据国标《GBT18210-2000 晶体硅光伏方阵I—V特性的现场测量》推荐的开路电压法来推算结温,但是其过程较为繁琐,不适用于实际户外操作。

图7 胶带粘贴式测试(环氧树脂探头)图8 吸盘式温度传感器探头功率测试值的修正方法便携式I-V曲线测试仪可以测试单片组件、组串和单台汇流箱直流电路的I-V曲线。

一般仪器自身也可以将实际自然光照条件下的实测功率数据进行自动修正,即修正到标准测试条件(STC)下的峰值功率。

测试仪修正的内容为温度和光强这两项修正,并未考虑到实际组件的灰尘遮挡损失、组串匹配损失及仪器自身的测试精度,另外如果在汇流箱的输入端进行测量,方阵的各个组串到达汇流箱的线缆长度不尽相同,也会存在电缆损耗,同样影响对组件或方阵真实功率的判断,因此还需要进行第二次修正,将上述损耗补偿到实际功率值当中,具体参考如下几点:1.灰尘遮蔽损失补偿损失Ls需要根据电站所处的地理位置和自然环境,测试期间天气状况及组件表面积灰状况,可在现场实际测试和计算,一般可以尝试这两种方法:①在现场选取典型的两块组件进行对比,一块擦除掉表面灰尘,另一块不做处理,可通过I-V测试功率,确定灰尘遮挡损失。

②选择两个组串,一串不清洗,另一串清洗,一般组串电流和太阳辐照可认为是线性正比关系,对于组串式逆变器,可监测组串的电流、实时辐照和环温,将实时电流换算到STC 下的电流进行对比。

对于集中式,可用过智能汇流箱监测每一串的工作电流进行分析。

2.光伏电缆线损补偿损失Lc4mm2光伏电缆电阻为Ω/km,假设取每一组串电缆平均长度40米,工作电流值最大8A,可计算出每一组串线损为组串功率的%左右,具体值还需要根据实际线缆长度来计算。

3.串联失配损失Lm组串当中各个组件实际工作电流不一致导致木桶效应,一般经验值可取1%。

当然实际值可对组串的每一块组件进行测试,获取Im值的最小值,以此计算串联失配损失。

4.测试仪器误差Le对于I-V特性曲线测试仪,如产品供应商给出的测试最大误差范围±5%,可根据实际情况取正偏差的。

因此根据上述可简单得到功率修正公式:Px=Pc*(1000/G)/((1+(β*(Tc-25℃))*(1-Ls)*(1-Lc)*(1-Lm)*(1-Le))(其中Px为修正功率,Pc为实测功率,G为方阵斜面实时辐照度,β组件功率负温度系数,Ls灰尘遮挡损失,Lc线损,Lm匹配损失,Le设备误差损失)。

二、热斑问题分析组件上的热斑效应,一般由外部原因和内部原因两类造成。

常见的外部原因有:组件表面积灰严重且厚薄不均,鸟粪、污物、落叶、方阵组件前部的草木以及周边建筑物或电线杆等阴影遮挡,以及场地不平整、方阵东西设计间距不足造成的自阴影等,使得组件局部光照低于其他正常部位,被遮挡的电池或组件被置于反向偏置状态,消耗其他电池的功率,而功率以热能形式释放,导致该电池片温度较其他正常电池片的温度高。

外在因素导致的热斑问题在光伏电站中普遍存在,可在日常运维工作中采取清洗等措施进行消除。

内部原因和组件的生产制造工艺(特别是焊接和层压)、电池片质量(反向特性、边缘漏电流过大)、接线盒中二极管的长期可靠性、EVA和背板的耐高温及阻燃能力等因素都有关系,内部原因造成的热斑由于是先天性不足,在电站的运行期间将长期存在,对电站的可靠性带来严重安全隐患,任何一个热斑点造成的功率损耗将限制了组串的输出功率。

图9-图14列举了西部地面电站的部分热斑效应案例,如图9所示,组件有多个热斑点且随机分布:由于或者电池片本身的问题,互联条不清洁造成的污染和虚焊、隐裂、裂片或断栅等原因造成。

热斑导致组件局部的高温较高,有的甚至高达100℃以上,而其周边温度仅30多℃,尤其在我国西北地区,在夏日午后持续强烈光照和高温环境下,组件局部温度将持续升高,其结果可能导致玻璃爆裂,组件背板局部老化,严重的甚至会起火燃烧。

相关文档
最新文档