HP-A30全智能多次脉冲电缆故障测试仪
MPI TS3500-HP 高压高电流测量仪数据表说明书
Dedicated designed for High Voltage and High Current application• On waf er high power device measurement up to 10 kV/600 A• Gold plated chuck surf ace f or minimum contact re-sistance and vacuum holes optimized f or thin waf er handling down to 50 µm • Taiko wafer chuck option•Dedicated high voltage and high current probes • Anti-arcing solutionsWaferWallet ® Option• Designed with five individual trays for manual, ergono-mic loading of 150, 200, or 300 mm “modeling” wafers • Fully-automated tests with up to five identical wafers at multiple temperatures• Unique capability to load/unload wafers at any tem-perature MPI ShieldEnvironment™ for Accurate Measurements • Designed for Advanced EMI / RFI / Light-Tight Shielding • fA low-leakage capabilities• Ready for temperature range -60 °C to 300 °CErgonomic Design and Options• Easy wafer or single DUT loading from the front • Integrated active vibration isolation• Completely integrated prober control for faster, safer and convenient system and test operation• The Safety Test Management (STM™) with automated dew point control• Reduced footprint due to smart integration of the chiller • Instrument shelf option f or shorter RF cables provi-ding the highest measurement dynamicMPI TS3500-HP | 300 mm Automated Probe SystemFor accurate and reliable High Power measurementsFEATURES / BENEFITSWAFERWALLET ® SPECIFICATIONSSTAGE SPECIFICATIONSChuck Theta Stage (Programmable)Travel range± 5.0°Resolution 0.0001° (0.24 µm @ 300mm edge)Accuracy < 2.0 µm (measured at the edge of the 300 mm chuck)Repeatabilty < 1.0 µmTheta stage driveHigh resolution stepper motor with linear encoder feedback systemPROBE PLATENLarge Probe Platen supporting up to 8x DC or 4x DC + 4x RF MicroPositioners or standard 4.5” probe card holderSTAGE SPECIFICATIONSChuck XY Stage (Programmable)Travel range 305 mm x 520 mm (12.0 x 20.5 in)Resolution 0.5 µmAccuracy ± 2.0 µm (0.08 mils)Repeatability ± 1.0 µmXY stage drive Closed-loop high precision stepper motors Speed*Slowest: 10 µm / sec | Fastest: 50 mm / secChuck Z Stage (Programmable)Travel range 30 mm (1.18 in)Resolution 0.2 µm Accuracy ± 2.0 µm Repeatability ± 1.0 µmZ stage drive Closed-loop high precision stepper motor Speed*Slowest: 10 µm / sec | Fastest: 20 mm / sec GuiderPrecision ball bearings*The speed is instantaneous speed, not average speed. There is accelerate and decelerate time when moving.ShielDEnvironment™MPI ShielDEnvironment™ is a high performance local environmental chamber providing excellent EMI- and light-tight shielded test environment for ultra-low noise, low capacitance measurements.MPI ShielDEnvironment™ allows for testing with up to 4-port RF or up to 8-ports DC/Kelvin or a combination of those configurations. MPI ShielDCap™ provides easy reconfiguration of measurement setup as well as EMI/noise shielding - These all makes a great difference to conventional systems, especially in a day-to-day operation.ShielDEnvironment™ Electrical Specifications*EMI shielding> 30 dB (typical) @ 1 kHz to 1 MHzLight attenuation≥ 130 dBSpectral noise floor≤ -180 dBVrms/rtHz (≤ 1 MHz)System AC noise≤ 5 mVp-p (≤ 1 GHz)*Including 4 MicroPositioners.MPI NoiseShield™ Option for 1/f (Flicker) & RTN MeasurementsMPI’s exclusive NoiseShield™ offers in combination with MPI ShielDEnvironment™ for unsurpassed active EMI-Shielding of DUT and the measurement instrument (such as pre-amplifier unit). In addition, it provides all cables and connectors close to DUT.The NoiseShield™ option provides shortest possible cable lengths to reduce parasitic capacitance and to maximize test system roll-off frequency. It reduces external magnetic field influences on the measurement results and makes the 1/f, RTN Setup more robust and test lab location less independent.Low impedance cables (for DC or RF pad design), excellent low-impedance system’s grounding and ferrite cores on the unique MPI Kelvin probes are part of the delivery in order to make the probe station completely “invisible” and the measurement results to reach the limit of the instrumentation.SAFETY MANAGEMENTLight CurtainLight Curtain Interlock protects user f rom accidental high voltage shock by shutting down the instrument through interlock system. The interlock system at rear doors provides safety, easy and convenient initial mea-surement set-up.WAFER LOADINGLoading or unloading of 150, 200 or 300 mm wafers or substrates is straight forward and intuitive. Special design of the chuck provides easy loading of a single IC of wafer fragments from the system front. SmartVacuum TM tech-nology automatically recognizes size of the wafer on single IC. It also protects the wafer from unexpected release of vacuum due to inexperienced operation when the wafer is located in the IceFreeEnvironment TM .Easy access to the AUX chucks serves for quick exchange of RF calibration substrates, probe cleaning and plana-rization accessories.Probe Hover Control™MPI Probe Hover Control PHC™ allows easy ma-nual control of probe contact and separation to wafer. Separation distance can accurately control with micrometer feedback for probe to wafer/pad positioning. Ease of use guarantees the saf est operation by minimizing error during critical set-up and probe change operations.THERMAL CHILLER INTEGRATIONPicture is courteously provided by ERS.Minimized CDA ConsumptionThe CDA consumption is reduced by as much as 50% by purging IceFreeEnvironment TM with the re-used cold air of the chiller. Additional automated valve enables purge by Nitrogen*.Additionally, recycled CDA cools the system probe platen and the probe card.*ERS patented technology.Thermal chuck touchscreen control display is an alternative way of interaction with the thermal system. Its ergo-nomic location supports an operator when keying commands and monitoring system status. The fully integrated intelligent hardware control panel is design for intuitive and safe system control and operation. All these signifi-cantly increase the speed and improve convenience of the system interaction work flow.The keyboard and mouse are placed on the sliding tray right below the system control panel. Both can control test instrumentation, if required.USB port is also in front of the system. It removes any hassles when exchanging data.INTEGRATED CONTROLSUnique and revolutionary multi-touch operation soft-ware SENTIO® controls MPI automated engineering pro-be systems. Its simple and intuitive operation concept signif icantly saves operator training time. Scroll, Zoon, and Move functions mimic modern smart mobile device interface. Switching between applications is just a mat-ter of a simple finger swipe.SENTIO® makes everyone the system operation expert in just minutes.SOFTWARE SOLUTIONHigh Voltage Probes (HVP)Low leakage probes specially designed to withstand high voltage up to 10 kV (coaxial) and 3 kV (triaxial). Choice of various connectors options such as Keysight Triax/UHV, Keithley Triax/UHV, SHV or Banana.HIGH POWER PROBESHigh Current Probe (HCP)High performance probes specially designed for on wa-f er measurement of high current up to 200 A (pulse). MPI multi-fingers high current probes are single piece consturction to efficiently handle high current and pro-vide low contact resistance.HIGH POWER PROBES - SELECTION GUIDE[2]Keysight or Keithley [3]Banana: 100 A max, 1 ms max PW, 1% max PLC [4]BNC: 40 A max, 1 ms max PW, 1% Max PLCUltra High Power Probe (UHP)Designed f or Ultra high voltage and current on waf er measurement up to 10 kV/600 A (pulse). MPI replaceable multi-fingers probes tips and probe arms are design for low contact resistance for ultra-high current measure-ment and to support ultra-high voltage of up to 10 KV, without having to change probes for high voltage and current application.UL TRA HIGH POWER PROBES - SELECTION GUIDEUL TRA HIGH POWER PROBESHigh current probeDIMENSIONSUltra High Power probeOptional Anti-Arcing Probe CardIn addition, MPI is offering optional temperature controlof the pressurized air in a range of 20 to 200 °C, whichcorrelate direct with the chuck set temperature.High-voltage testing without arcing at higher tempera-tures are possible now.ANTI-ARCING SOLUTIONSOptional Anti-Arcing LiquidTray™Specially designed anti-arcing LiquidTray™ can be used for arcing suppressing by simply place on the high power chuck surface. Wafers can be safely placed inside the tray to submerge in the liquid for arcing free high voltage test.MICROSCOPE MOVEMENTXYZ ProgrammableXY - Travel range*50 x 50 mm / 300 x 300 mmResolution 1 µm (0.04 mils)Repeatability≤ 2 µm (0.08 mils)Accuracy≤ 5 µm (0.2 mils)Z - Travel range140 mmResolution0.05 µm (0.002 mils)Repeatability≤ 2 µm (0.08 mils)Accuracy≤ 4 µm (0.16 mils)*In case of ShielDEnvironment™ X x Y: 25 mm x 25 mmWafer Chuck Standard Triaxial Connectivity Coax BNC (f)Kelvin Triax (f)Diameter 310 mm with 2 integrated AUX areasMaterial Nickel plated aluminum (flat with 0.5 mm holes)Chuck surfacePlanar with 0.5 mm diameter holes in centric sections Vacuum holes sections (diameter)4, 24, 48, 72, 96, 120, 144, 168, 192, 216, 240, 264, 288 mm SmartVacuum™ distribution In front for single DUT 4x4 mm (4 holes) and 75 mm (3 in)In center for 150, 200, 300 mm (6, 8, 12 in)Surface planarity ≤± 5 µm**Rigidity< 15 µm / 10 N @edge*Single DUT testing requires higher vacuum conditions dependent upon testing application.**By using SENTIO® topographyTriaxial RF Wafer Chuck Connectivity Kelvin Triax (f)Diameter 310 mm with 2 integrated AUX chucksMaterial Nickel plated aluminum (flat with 0.5 mm holes)Chuck surfacePlanar with 0.5 mm diameter holes in centric sections Vacuum holes sections (diameter)4, 24, 48, 72, 96, 120, 144, 168, 192, 216, 240, 264, 288 mm SmartVacuum™ distribution In front for single DUT 4x4 mm (4 holes) and 75 mm (3 in)In center for 150, 200, 300 mm (6, 8, 12 in)Surface planarity ≤± 5 µm**Rigidity< 15 µm / 10 N @edge*Single DUT testing requires higher vacuum conditions dependent upon testing application.**By using SENTIO® topographyAuxiliary Chuck Quantity 2 AUX chucksPositionIntegrated to front side of main chuck Substrate size (W x L)Max. 25 x 25 mm (1 x 1 in)Material Ceramic, RF absorbing material for accurate calibration Surface planarity ≤± 5 µmVacuum controlControlled independently, separate from chucksElectrical Specification (Triax)NON-THERMAL CHUCKSHIGH POWER THERMAL CHUCKSCooling rates** (faster w. -60°C chiller)25 to -10 °C< 15 min / <28 min< 17 min / < 30 min< 20 min25 to -40 °C< 35 min / < 55 min< 40 min / < 65 min< 60 min20 to -60 °C< 40 min< 45 min< 90 min200 to 35 °C< 28 min< 30 min< 40 min200 to 25 °C< 28 min< 30 min< 40 min300 to 35 °C N/A N/A< 50 min300 to 25 °C N/A N/A< 60 min Leakage@ Voltage and:10 V 1.1 kV10 V 3 kV10 V 3 kV10 kV @ -60 °C< 2 pA< 220 pA< 300 fA< 100 pA< 30 fA< 10 pA < 6 nA @ 25 °C< 1 pA< 110 pA< 150 fA< 50 pA< 15 fA< 5 pA < 6 nA @ 200 °C< 1 nA< 110 nA< 300 fA< 150 pA< 30 fA< 10 pA < 15 nA @ 300 °C N/A N/A N/A N/A< 50 fA< 15 pA < 40 nACapacitanceForce-to-Guard < 1600 pF < 600 pF < 600 pF Guard-to-Shield< 2000 pF < 2000 pF < 2000 pF Residual CapacitanceN/A≤ 2.5 pF≤ 2.5 pF* Taiko-wafer support is optional available, please contact M PI local technical support.** Typical values, depends on chiller type and facility supply, please check MPI FPS for the certain chuck and system.TYPICAL TRANSITION TIME102030405060708090100-100-50050100150200250300350time [min]t e m p e r a t u r e [°C ]MPI & ERS AirCool PRIME RF Chuck -60°C to +300°CMPI & ERS AirCool PRIME RF Chuck +20°C to +300°C5101520253035404550556065050100150200250300350time [min]t e m p e r a t u r e [°C ]102030405060708090100110-100-50050100150200250300350t e m p e r a t u r e [°C ]time [min]MPI & ERS AirCool PRIME Ultra Low Noise Chuck -60°C to +300°C510152025303540050100150200250300350t e m p e r a t u r e [°C ]time [min]MPI & ERS AirCool PRIME Ultra Low Noise Chuck +20°C to +300°CERS AirCool ® (patented) ControllerIntegrated Chiller -60 °C ERS AirCool ® (patented) ControllerIntegrated Chiller -40 °CERS and MPI’s joint product AirCool® PRIME Chuck won “Electronics Industry Awards 2018” in the category, “Test, Measurement and Inspection Product of the year”.REGULATORY COMPLIANCE3rd party, TÜV tested according to• IEC 61010-1: 2010 + A1:2016; EN 61010-1: 2010; IEC/EN 61010-2-010: 2014; IEC/EN 61010-2-081: 2015; EN ISO 12100: 2010; UL 61010-1: 2012/R: 2016-04; UL 61010-2-010: 2015; CAN/CSA-C22.2 No. 61010-1: 2012/U2: 2016-04; CAN/CSA-C22.2 No. 61010-2-010:2015and certified for CE and US/Canada (NRTL), SEMI S2 and S8.Copies of certificates are available on requestWARRANTY• Warranty*: 12 months• Extended service contract: contact MPI Corporation for more information*See MPI Corporation‘s Terms and Conditions of Sale for more details.FACILITY REQUIREMENTSSYSTEM CONTROLLER SPECIFICATIONSGeneral Probe System Power 100-240 V AC nominal ; 50/60 Hz Vacuum -0.9 bar Compressed air6.0 barCPU Intel® Core TM i7-7700, 3.6 GHz, 8M Cache, 14nm, 65W TDP, LGA1151(4C/8T)RAMDDR4 2400 MHz 16 GB x 164 bit operating system Windows 10 Professional (English)Power 460 W Storage SSD 500 GBLAN One internal and one external TCP/IP ports USB Ports Internal (on PC) x3, external x1GPIB interfaceOptionalSUPPORTED SOFTWARE PLATFORMSDriversWaferPro / IC-CAP & EasyEXPERT from Keysight, BSIMPro & NoisePro from ProPlus, ACS from KeithleyEmulation modeAvailable for various prober control software** Please contact your local support for more details.TS3500-HPSystem dimensions (W x D x H) 1400 x 1505 x 1730 mm (55.1 x 59.3 x 68.1 in)Weight1150 kgPHYSICAL DIMENSIONS*Can increase depends on operator manual adjustment or interaction.MPI Global PresenceDirect contact:Asiaregion:****************************EMEAregion:******************************Americaregion:********************************MPI global presence: for your local support, please find the right contact here:/ast/support/local-support-worldwide© 2023 Copyright MPI Corporation. All rights reserved.WaferWallet ®System dimensions (W x D x H) 500 x 1270 x 980 mm (19.7 x 50.0 x 38.6 in)Weight200 kg*Can increase depends on operator manual adjustment or interaction.TS3500-HP with WaferWallet ®。
HPA30全智能多次脉冲电缆故障测试仪
储备方式：固定移动两最短测试距离DC12V（7AHHPA30全智能多次脉冲电缆故障测试仪1、 产品介绍：HP-A30全智能参次脉冲电缆故障测试仪是迎合工业级电力行业方案和IT 时代的快速进展，将原先电缆故障 测试仪的局限性用工控嵌入式运算机平台系统、网络服务业务、USB 通信技术系统化，极人提高了仪器的使用 功能和利用价值以及便利的现场环境操作。
专门关于日益增多的地埋电缆资料提供了 •套独有的治理软件。
整 套系统满足中华人民共和国电力行业标准《DL/T849.1〜DL/T849.3-2004》电力设备专用测试仪器通用技术条 件，该系统测试由系统主机、参次脉冲产生器、故障定位仪和电缆路径仪四部分组成，用于电力电缆各类故障 的测试，电缆路径、电缆埋设深度的寻测和电缆档案资料的日常爱护治理。
以及铁路机场信号操纵电缆和路灯 电缆故障的精确测试。
2、 产品特性：♦国内首家釆纳工控嵌入式运算机平台系统，匚业级使用环境，实现极强稳固性。
锂电供电、方便现场测试。
♦国内首家采纳12.1英寸大屏幕触摸系统，全电脑XP 操作平台集成化软件，完全辞别电缆仪单片机时代， 并配有电缆故障测试软件和电缆资料治理软件。
♦采纳最新的USB 通信接口，采集信号稳固，配•款笔记本电脑可实现欢控或显，主机可自动选择最低 6.25MHz 、最高达100MHz 五种采样频率.能满足不同长度电缆的测试要求，减少了粗测误差。
♦软件实现故障自动搜索，距离H 动显示，误卡自动报警功能，双游标移动可精确到0・1米，波形可任意压 缩、扩展，重叠，同屏随机显示十个低压脉冲波形供您选择叠加定位，捉高测试精度，减少误差。
♦多次脉冲法产生器•次放电，十次低压脉冲，短路波形直观叠加，容易分析，多次脉冲产生器体积小，重量 仅为5KG.真正实现全套设备轻便化。
♦支持最新开通的3G 通信终端或无线上网卡，专用3G 软件可实现专家远程现场实时测试技术服务，专家远 程操控用户主机，给用户现场测试提供及时、准确波形分析和交流指导，使您无忧工作。
GD-4133 多次脉冲电缆故障测试仪技术规范书
产品技术规范书设备名称: 多次脉冲电缆故障测试仪型号: GD-4133一、概述GD-4133电力电缆多次脉冲故障测距仪，用于电力电缆故障点的距离测量，具有波形易于识别、分辨率高、界面友好、同时支持触摸按键和机械按键、易于操作等特点。
GD-4133在低压脉冲方式下可以独立使用；在脉冲电流方式下需要和GD-2131H一体化直流高压电源装置配合使用；在多次脉冲方式下还须和GD-4133S 电缆测试多次脉冲耦合装置配合；在测距完成后须使用GD-4132数字式多功能电缆故障定点仪进行精确定点。
他们共同组成一套高性能的，能提供多种创新特性的电缆故障查找系统。
二、主要功能特点1．多种测距方法：a. 低压脉冲法：适用于低阻、短路、断线故障的精确测距，还可用于电缆全长及中间接头、T型接头、终端头的测量，以及波速度的校正。
b. 脉冲电流法：适用于高阻、闪络型故障的测距，使用电流耦合器从测试地线上采集信号，与高压部分完全隔离，安全可靠。
c. 多次脉冲法：世界上最先进的测距方法，是二次脉冲法的改进。
波形明确易于识别，测距精度高。
2．200MHz实时采样：a. 国内同类仪器最高采样频率，与国际最高水平接轨。
b. 提供最高0.4m的测距分辨率，测量盲区小，对近端故障和短电缆特别有效。
3．触摸操作和机械按键两种操作方式a. 触摸按键，操作更加灵活，具有手势操作功能。
b. 可以对光标进行拖拽，双击操作，定位更加简单、方便。
c. 兼容机械按键操作，五向按键，操作更加人性化。
4．LED大屏幕彩色液晶显示，界面友好：a. 波形清晰，尤其在多次脉冲测试中，多个波形以不同颜色同时显示，更易于识别。
b. 7寸大屏幕液晶，160°可视角度，显示内容丰富、直观。
c. 功能菜单简单实用，功能强大。
5．画中画暂存显示功能a. 界面显示采用画中画方式，由一个主窗口和三个暂存窗口组成，可同时查看三个暂存波形，使波形比较功能更加简单、直观、方便。
AT9220系列综合安规测试仪用户手册
Rev.A 2.0固件说明：适用于主程序Rev.A 2.0及以上的版本AT9220系列综合安规测试仪ACW额定输出: 5kV / 20mADCW额定输出: 6kV / 10mAIR额定输出:1kV / 10GΩ直流快速放电、触电保护和电弧侦测功能999.9秒内任意设定的电压上升时间、测试时间、下降时间可存储、编辑10组测试组，每组16步HANDLER ( PLC ) 接口RS-232C接口& % 安柏®是常州安柏精密仪器有限公司的商标或注册商标。
安全须知当你发现有以下不正常情形发生,请立即终止操作并断开电源线。
立刻与安柏科技销售部联系维修。
否则将会引起火灾或对操作者有潜在的触电危险。
●仪器操作异常。
●操作中仪器产生反常噪音、异味、烟或闪光。
●操作过程中，仪器产生高温或电击。
●电源线、电源开关或电源插座损坏。
●杂质或液体流入仪器。
安全信息为避免可能的电击和人身安全，请遵循以下指南进行操作。
免责声明用户在开始使用仪器前请仔细阅读以下安全信息，对于用户由于未遵守下列条款而造成的人身安全和财产损失，安柏科技将不承担任何责任。
仪器接地为防止电击危险，请连接好电源地线。
不可在爆炸性气体环境使用仪器不可在易燃易爆气体、蒸汽或多灰尘的环境下使用仪器。
在此类环境使用任何电子设备，都是对人身安全的冒险。
不可打开仪器外壳非专业维护人员不可打开仪器外壳，以试图维修仪器。
仪器在关机后一段时间内仍存在未释放干净的电荷，这可能对人身造成电击危险。
不可在有强烈磁场或者电场的地方使用该仪器，电磁脉冲会引起仪器故障产生火灾。
在强烈磁场环境使用该仪器不要如果在本仪器的附近使用这些设备，被测件失效击穿产生的噪声也许会影响这些设备。
在敏感的测试设备和超过3kV的测试电压，测试线间的电场会电离空气产生电晕，在测试线之间产生大量接受设备附近使用该仪器的射频带宽的干扰。
为了减少这种影响，确保测试线之间的距离足够远。
另外，保持测试线远离导电表面（特别是尖鋭的金属末端）。
IDM30系列智能测控仪表
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概
述
IDM30 系列智能测控仪表是针对电力系统、工矿企业、石油化工、钢铁冶金、轨道 交通、公用设施、智能建筑等自动化水平要求较高的电力监控需求而设计的。采用最现 代的微处理器和数字信号处理技术，集合全面的三相电量测量/ 显示、能量累计、电力 品质分析、故障报警、数字输入/ 输出与网络通讯等多功能于一身。
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安
装
IDM30 系列智能测控仪表一般被安装于开关柜盘面之上， 可用四只安装卡子直接固 定。自动调整显示及一键式菜单，使其成为真正使用方便的装置。
外观
正视图
侧视图
扩展模块及安装夹子
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开孔尺寸
为了正确安装本装置，必须严格按照下方给出的开孔图来做
90+0.5mm
90+0.5mm
开孔
作法更让您在短时间内轻松掌握。
安全性好、可靠性高
采用多种隔离及抗干扰措施，可以可靠的在高干扰环境中运行，产品通过CE认证 和IEC标准的电磁兼容测试。
功能与配置
IDM30 的主要功能如下表所示。型号有 IDM30、IDM30H、IDM30C、IDM30HC 四种， 其主要区别在有无谐波测量、通讯功能；扩展模块有 M31、M32 和 M33 三种。
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打开包装，请检查以下几项 ： 运输中产品未被损坏 产品编号与订货相符 IDM30仪表 一台 安装附件四个(已经卡装在仪表上） M31扩展模块及10 PIN端子 一套（可选） M32扩展模块及10 PIN端子 一套（可选） M33扩展模块及10 PIN端子 一套（可选） 使用说明书 一本
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环境要求
为保证仪表的良性运转，推荐使用工作条件为-10℃～55℃，相对湿度在0％至95 ％（不结露）。本仪表实际使用中可以承受-25℃或70℃的环境。
(电缆故障测试仪)说明书
目 录第一节HP-A30全智能多次脉冲电缆故障测试仪功能介绍 (1)一、产品介绍 (1)二、产品特性 (1)三、测试指标 (2)四、仪器的系统组成和工作原理 (2)五、H P-A30多次脉冲电缆故障测试仪区别常规电缆测试仪的区别 (3)六、测试仪面板 (4)第二节电缆测试系统软件介绍 (5)一、电缆测试系统主机 (5)二、测试系统控制面板介绍 (6)第三节电缆故障的测试程序 (9)第四节电缆故障测试方法介绍 (10)一、电缆故障测试原理 (10)二、低压脉冲方式 (10)三、用多次脉冲法测试电缆的高阻泄漏故障 (13)四、冲闪电流测试方法 (16)五、直闪电流测试方法 (18)六、高压闪络测试注意事项 (19)第五节远程测控软件使用说明 (20)第六节H P-A30全智能多次脉冲电缆故障测试仪附件介绍 (24)第七节声磁数显同步定点仪介绍 (25)第八节数显同步定点仪的操作技巧 (28)第九节电缆路径仪功能介绍 (30)第十节电缆路径探测原理及方法 (32)注意：欢迎您选择本公司仪器设备，本机为高度集成精密仪器，具有笔记本电脑一样的功能，请勿在非测试电缆故障时上网使用，以免中病毒给你的测试工作和设备维护带来不便。
建议专人保管，专人使用，半年未用请充电一次，不得随意打开主机箱。
重要提示：本套设备测试电缆高阻故障时，采用冲闪法故障点须放电且有明火现象，测试时请注意严禁在高瓦斯，高浓度易燃气体环境中测试。
如遇此状况，请与厂家联系，采取其它办法测试。
如遇因此发生的安全事故与设备生产商无关！第一节 HP-A30全智能多次脉冲电缆故障测试仪功能介绍一、产品介绍：HP-A30全智能多次脉冲电缆故障测试仪是我公司为了迎合电力工业电力时代的到来，在集成了电缆故障测试行业的诸多精品方案，以IT时代的快速发展为契机,将单片机及笔记本式的电缆故障测试仪彻底摒弃，在嵌入式计算机平台的基础上打造出适合电缆故障测试行业自身特点的网络化电缆故障测试服务平台，并且系统化得集成了USB通信技术,触摸屏技术，3G通信技术，极大提高了仪器的使用功能和利用价值以及便捷的现场环境操作。
脉冲电流法-电力电缆故障测试仪
第四章脉冲电流法§4-1 脉冲电流法与线性电流耦合器电缆的高阻与闪络性故障由于故障点电阻较大（大于10倍的电缆波阻抗），低压脉冲在故障点没有明显的反射（反射脉冲幅度小于5%），故不能用低压脉冲反射法测距。
脉冲电流法是将电缆故障点用高电压击穿，使用仪器采集并记录下故障点击穿产生的电流行波信号，通过分析判断电流行波信号在测量端与故障点往返一趟的时间来计算故障距离。
脉冲电流法采用线性电流耦合器采集电缆中的电流行波信号。
图4.1 线性电流耦合器应用示意图图4.1是冲击高压闪络测试的接线示意图，线性电流耦合器L放置在储能电容C接电缆外皮的接地引线旁。
L实际上是一个空心线圈，与地线中电流产生的磁场相匝链。
设时间t2与t1时电流分别为i2与i1,t1小于t2但接近t2,根据电磁感应定律求出线圈的输出电压：V＝K(i2－i1)/(t2－t1)＝KΔi/Δt (4.1) 其中参数K是一取决于线圈匝数、形状及与地线相对位置的常数，电流变化量:47Δi＝i2－i1，时间变化量:Δt＝t2－t1。
式（4.1）说明，线性电流耦合器的输出电压与地线电流的变化率成正比，而不是与地线中电流本身成正比。
(a)(b)图4.2 a.地线中的电流b. 线性电流耦合器的输出图4.2给出了地线中的电流与对应的线性电流耦合器的输出，可以看出线性电流耦合器在地线中电流开始上升时，输出是一个尖脉冲，而在地线中电流趋于平稳后，输出为零。
因此，在故障点击穿产生的电流行波到达后，线性电流耦合器输出一脉冲信号，可以从线性电流耦合器有无脉冲信号输出，判断测量点是否有电流行波出现。
与脉冲电压法使用电阻、电容分压器进行电压取样48不同，脉冲电流法使用的线性电流耦合器平行地放置在低压侧地线旁，与高压回路无直接的电气连接，对记录仪器与操作人员来说，特别安全、方便。
脉冲电流分直流高压闪络与冲击高压闪络两种测试方法，下面将分别予以介绍。
§4-2 直流高压闪络测试法1. 应用范围直流高压闪络测试法（简称直闪法）用于测量闪络击穿性故障，即故障点电阻极高，在用高压试验设备把电压升到一定值时就产生闪络击穿的故障。
(整理)dgca多次脉冲电缆故障测试仪使用说明书.
目录常规安全概述前言第一章DGC-2010A多脉冲智能电缆故障测试仪第一节主要技术性能指标第二节仪器面板及操作功能第三节电缆故障一般测试步骤及测试方式选择第二章多脉冲测试法第一节多脉冲测试法基本原理第二节多脉冲测试连线与操作步骤第三节多脉冲测试波形与故障距离计算第三章低压脉冲测试法第一节低压脉冲测试法基本原理第二节低压脉冲测试法测全长第三节低压脉冲测试法测故障第四节低压脉冲测试法测速度第四章冲击高压闪测法第一节冲击高压闪测法基本原理第二节电流取样冲闪法第五章高压闪测法注意事项常规安全概述请查看下列安全防范措施以避免受伤害并防止对本产品或任何与其连接的产品造成损伤。
为了避免潜在的危险，请仅按详细说明来使用本产品。
避免火灾或个人受伤使用正确的电源线。
请仅使用为本产品所指定并由国家鉴定过的电源线。
正确地连接和断开。
在将仪器连接到测试电缆之前，先要连接好仪器的保护地线，测量结束后，先进行放电处理，然后再断开测试连接线。
请勿开盖操作。
面板打开时请勿操作本产品。
远离外露的电路。
电源接通后请勿接触外露的接头和元件。
请勿在潮湿环境下操作。
请勿在爆燃性空气环境中操作。
请保持产品表面清洁干燥。
提供适当的通风。
怀疑产品出现故障时，请勿进行操作。
如果怀疑此产品已损坏，可请合格的维修人员进行检查。
精品文档第一章DGC-2010A多脉冲智能电缆故障测试仪简介DGC-2010A多脉冲智能电缆故障测试仪用于检测各种动力电缆的高阻泄漏故障、闪络性故障、低阻接地和断路故障。
由于本仪器采用目前国际上最先进的“多次脉冲法”技术，应用自主开发的测试技术和高频高压数据信号处理装置，使其具有最好的电缆故障波形判断能力和最简单方便的操作系统。
多脉冲法的先进之处在于使现场测得的故障波形得到大大简化，将复杂的高压冲击闪络波形变成了非常容易判读的类似于低压脉冲法的短路故障波形。
降低了对操作人员的技术要求和经验要求。
所以，大大提高了现场故障的判断准确率。
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HP－A３0全智能多次脉冲电缆故障测试仪
1、产品介绍:
HP－A30全智能多次脉冲电缆故障测试仪是迎合工业级电力行业方案和IT时代的快速发展,将原来电缆故障测试仪的局限性用工控嵌入式计算机平台系统、网络服务业务、ＵSB通信技术系统化，极大提高了仪器的使用功能和利用价值以及便捷的现场环境操作。
特别对于日益增多的地埋电缆资料提供了一套独有的管理软件。
整套系统满足中华人民共和国电力行业标准《DL/T8４9．1～DL／Ｔ84９．3-2０0４》电力设备专用测试仪器通用技术条件，该系统测试由系统主机、多次脉冲产生器、故障定位仪和电缆路径仪四部分组成，用于电力电缆各类故障的测试，电缆路径、电缆埋设深度的寻测和电缆档案资料的日常维护管理。
以及铁路机场信号控制电缆和路灯电缆故障的精确测试。
2、产品特性：
◆国内首家采用工控嵌入式计算机平台系统，工业级使用环境，实现极强稳定性。
锂电供电、方便现场测试。
◆国内首家采用１2.１英寸大屏幕触摸系统,全电脑XP操作平台集成化软件,彻底告别电缆仪单片机时代，并配有电缆故障测试软件和电缆资料管理软件。
ﻫ◆采用最新的ＵＳB通信接口，采集信号稳定,配一款笔记本电脑可实现双控双显，主机可自动选择最低6.2５MHz、最高达1００MHz五种采样频率,能满足不同长度电缆的测试要求,减少了粗测误差。
◆软件实现故障自动搜索，距离自动显示，误卡自动报警功能，双游标移动可精确到0．１米,波形可任意压缩、扩展,重叠，同屏随机显示十个低压脉冲波形供您选择叠加定位，提高测试精度，减少误差。
ﻫ◆多次脉冲法产生器一次放电,十次低压脉冲,短路波形直观叠加，容易分析，多次脉冲产生器体积小，重量仅为5KＧ，真正实现全套设备轻便化。
◆支持最新开通的3G通信终端或无线上网卡，专用3G软件可实现专家远程现场实时测试技术服务,专家远程操控用户主机，给用户现场测试提供及时、准确波形分析和交流指导,使您无忧工作。
可选择３G上网卡或３G通讯手机实现此功能。
ﻫ◆20G～80Ｇ(可选)内存多类现场波形和现场实物接线图，轻轻一点即可使用,电缆资料管理软件可做完善的电缆档案管理,为电缆的维护工作和精确定位提供参考和帮助。
ﻫ◆关键的精确定点仪部分，直接数字显示测试者离故障点距离,是国内同类定点技术的又一次创新，为快速准确查找电缆故障,减少停电损失提供了有力保障。
◆高压放电部分三种可供用户选择，国内首创最新HP－Ｇ35高频高压电源8．4ｋg替换65ｋg试验变压器和操作箱,填补国内一项空白。
3、产品指标：
（１）、可测试各种35KV以下不同电压等级、不同截面、不同介质及各种材质的电力电缆的各类故障,包括:开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。
（2）、可测试铁路通信控制电缆、路灯电缆、机场信号电缆的各类故障。
（３）、可测量长度已知的任何电缆中电波传播的速度。
（4）、可测试电力电缆埋设路径及埋设深度。
ﻫ显示方式：1２.1英寸工业级液晶触摸屏(XP操作平台) 存储方式：固定移动两方式2０G/2Gﻫ测试方法:低压脉冲法、冲闪电流法、多次脉冲法ﻫ操作方式:双操作,触摸笔兼触控鼠标操作
测试距离:不小于3０km 最短测试距离(盲区)：0-5米ﻫ精确定点误差：±0.２m 测试误差：系统误差小于±1%ﻫ多次脉冲产生器：冲击电压≤４0KＶ
分辨率：V/fm;V为传波速度ｍ／μｓ；软件游标0.10米。
ﻫ仪器采样频率：6．25MHz、10MHz、25MＨz、50MHｚ、100MHｚ、(自适应脉宽）ﻫ电源与功耗:ＡC2２０Ｖ±1０％不大于1５W ＤC1２V(７AH)不大于20W
待机时间：可连续使用４小时左右。
工作条件:温度-20℃～﹢40℃,相对湿度８0%。
ﻫ管理：电缆埋设路径分布示意图.用户管理区域内所有电缆的资料的详细档案：包括电缆分布图、编号、起始位置、埋设深度及时间、电缆介质、接头位置、维修记录、故障产生原因、技术试验报告、电缆测试记录
等信息。
ﻫ路径仪技术指标：ﻫ信号频率：15KHz正弦波输出功率:Pomaｘ≥100W
输出阻抗:Ｚo=Zc(电缆特性阻率) 震荡方式:断续
主机重量：9.8ｋｇ环境温度：－10℃～＋40℃ﻫ外形尺寸:１8０mm×３0０mm×400mm 相对湿度：RH≤８5%（25℃）
4、HＰ-Ａ30多次脉冲电缆故障测试仪区别常规电缆测试仪的优势:
（1）、多次脉冲法彻底改变了传统的测试方式，使得原来较难解决的高阻故障波形问题从根本上得以解决，经过多次脉冲产生器可以将任何复杂的高阻波形转化为非常熟悉又便于识别的低压脉冲短路故障波形，经过软件处理并与好相的全长开路波形相叠加,拐点明显,使得故障点的距离位置一目了然。
彻底解决了长期以来用户不会识别复杂高阻故障波形的瓶颈,使关键的粗测步骤得以质的跨越。
（2）、最新升级的软件部分,在wｉndow-xp操作界面下，功能更加强大，能从多次脉冲产生器发出的十次脉冲里优选出最佳波形进行处理，使得波形更加标准,易于识别，操作也更加简单，并且增加了波形误卡位自动报警的功能,拒绝误定位,让电缆故障测试彻底摒弃了依靠经验才能测试的依赖性,真正做到了自动、准确、便携等智能化操作。
（3）、随着性能近一步的提升，全套设备同时还具有传统的低压脉冲法和冲击高压闪络法，多次脉冲法使得在单次脉冲法常见的难题都一一解决,该设备特别对占故障70%的较短电缆和近始端故障的波形畸变、难卡位的问题找到了答案，能快速准确的测试并精确定位。
(4)、HＰ-A３0多次脉冲电缆故障和HP-G３5电缆故障测试专用高压高频电源搭档，使得电缆故障的测试更加的轻便、快捷，真正的实现了故障测试过程的便携化、智能化,大大减轻了测试人员的工作强度和测试难度,为电缆故障的测试引领了新技术、开创了新方法，使得电缆故障测试技术真正赶超了世界同类先进技术水平。
5、ＨＰ-Ｇ35电缆测试专用高频高压发生器的优点:
H P－G35电缆测试专用高频高压发生器是我公司在长期从事电缆故障测试研究方面最新开发的创新型换代产品，国内领先。
满足《中华人民共和果电力行业标准，高压试验装置通用技术条件》。
主要用于对35ＫV及以下电缆故障测试时做冲击放电试验、也可用于电缆、电容器、电机、瓷瓶等的耐压试验,是工频高压电源的换代产品。
ﻫ本机采用开关电源原理，重量轻,输出电压高是它的最大特点,整台仪器约8.４公斤,大大提高了现场使用的便携性，告别了现场繁重的移动。
特别是对于电缆故障测试及精确定点时提供了前所未有的高压电源,替代了需要用６５余公斤的试验变压器和操作箱，同时也解决了测试电缆时烦琐的现场接线。
在电缆故障测试方面能如此高频率输出３５KV的高电压，填补国内一项空白。
测试功能:
（1）、可用于做３５KV及以下的直流耐压试验，外加电容器后可作储能冲击放电试验。
(2）、有电压调节及自动稳压功能。
(3）、具有开路、短路自动保护功能。
（4)、输出电压值用液晶数字表直接显示。
产品特点:
（1)、功能完善可靠，箱体采用采用绝缘材料,操作绝对安全。
(2)、体积小（36０×2８０×250ｍm3)，重量轻（8.4kg)。
(3）、可连续工作4小时。
技术参数：
最高工作电压：≮35KV 最大工作电流：≮3０ｍA
显示电压值误差:＜±２％放电能量:≮2450Ｊ/3.5S
最小放电周期:３.2秒最大功耗：＜1.５KＶA
工作环境：输入电流：220V±10% 50Hz±2Ｈz
工作湿度(相对):≤８0% 工作温度:-10℃－5０℃海拔高度:1００0米以下
6、产品报价及图片:
HP-A３0全智能多次脉冲电缆故障测试仪常规配置全套报价
序号设备名称规格型号数量单位
1 全智能多次脉冲电缆故障测试仪
HP－A3０1 台
２多次脉冲产生器１台
3 高压试验操作箱3KＶA/50KV 1 台
4 交直流高压试验变压器3KVA/５0KV 1 台
5 脉冲电容器2微发/３５KV １台
HＰ-A30全智能多次脉冲电缆故障测试高端配置全套报价序号设备名称规格型号数量单位
1 全智能多次脉冲电缆故障测试仪
HP-A30 1 台
2 多次脉冲产生器 1 台
3 电缆测试专用高频高压发生器ＨP-Ｇ3５ 1 台
4 脉冲电容器２微发／３5KＶ１台。