一种基于横向PNP管的低失调CMOS带隙基准源

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低压CMOS带隙基准电压源设计

低压CMOS带隙基准电压源设计

低压CMOS带隙基准电压源设计宁江华;王基石;杨发顺;丁召【摘要】基准源是模拟集成电路中的基本单元之一,它在高精度ADC,DAC,SoC等电路中起着重要作用,基准源的精度直接控制着这些电路的精度.阐述一个基于带隙基准结构的Sub-1 V、低功耗、低温度系数、高电源抑制比的CMOS基准电压源.并基于CSMC 0.5 μm Double Poly Mix Process对电路进行了仿真,得到理想的设计结果.【期刊名称】《现代电子技术》【年(卷),期】2010(033)007【总页数】3页(P115-117)【关键词】CMOS基准电压源;低功耗;Sub-1 V;高电源抑制比【作者】宁江华;王基石;杨发顺;丁召【作者单位】贵州大学,理学院,贵州,贵阳,550025;贵州大学,理学院,贵州,贵阳,550025;贵州大学,理学院,贵州,贵阳,550025;贵州省微纳电子与软件技术重点实验室,贵州,贵阳,550025;贵州大学,理学院,贵州,贵阳,550025;贵州省微纳电子与软件技术重点实验室,贵州,贵阳,550025【正文语种】中文【中图分类】TM130 引言基准电压源广泛应用于电源调节器、A/D和D/A转换器、数据采集系统,以及各种测量设备中。

近年来,随着微电子技术的迅速发展,低压低功耗已成为当今电路设计的重要标准之一。

比如,在一些使用电池的系统中,要求电源电压在3 V以下。

因此, 作为电源调节器、A/D和D/A转换器等电路核心功能模块之一的电压基准源,必然要求在低电源电压下工作。

在传统的带隙基准源设计中[1,2],输出电压常在1.25 V左右,这就限制了最小电源电压。

另一方面,共集电极的寄生BJT和运算放大器的共模输入电压,也限制了PTAT电流生成环路的低压设计。

近年来,一些文献力图解决这方面的问题[3-5] 。

归纳起来,前一问题可以通过合适的电阻分压来实现[6,7];第二个问题可以通过BiCMOS 工艺来实现[8],或通过低阈值电压的MOS 器件来实现[3,9],但工艺上的难度以及设计成本将上升。

一种极低功耗的CMOS带隙基准源

一种极低功耗的CMOS带隙基准源

二 电路原理
这一部分主要介绍亚阈值带隙基准的原理。当
MOS 管的栅源电压小于阈值电压,但是足够在硅表
面形成耗尽区时,MOS 管工作在亚阈值区。MOS 管
的亚阈值漏电流与栅源电压 VGS 和漏源电压 VDS
成指数函数关系,关系式如下[3]:
! " ! ! "" ID = LWIt exp
VGS - VTH ηVT
CIC 中国集成电路 China lntegrated Circult
设计
一种极低功耗的 C MO S 带隙基准源 *
徐冠南,贾晨,陈虹,张春 (清华大学微电子学研究所)
摘要:随着 SoC在便携产品中应用的迅猛发展,低功耗技术变得越来越重要。本文采用了 0. 18um 的标 准 CMOS 工艺来,设计了一种无电阻、工作在亚阈值区的低功耗、小面积的 CMOS 电压基准源。这个带隙 基准可以灵活运用于极低功耗的 SoC系统中。这个电路的电源电流大约为 150nA,可以在 1. 5V~3. 3V 之间的电源电压下工作,基准源的输出电压的线性度为 44. 4ppm/ V。当电源电压为 1. 5V,室温下带隙基 准电路的输出电压为 1. 1126V,100Hz 频率下的电源抑制比为 - 66dB,当温度在 - 20 ℃与 80 ℃之间变 化时,输出电压的温度系数是 55ppm/ ℃。整个带隙基准的芯片面积是 0. 011 mm2。 关键词:带隙基准、低功耗、亚阈值、SoC
CIC 中国集成电路
China lntegrated Circult
图 6 芯片核心部分的版图照片
图 4 室温下,输出电压与电源电压的关系曲线
图 7 整个芯片的版图照片
与其它结构的带隙基准进行了比较。

一种新型CMOS带隙基准电压源

一种新型CMOS带隙基准电压源

一种新型CMOS带隙基准电压源吴旭;陈迪平;黄嵩人;季惠才;王镇道【期刊名称】《电子与封装》【年(卷),期】2012(012)004【摘要】传统带隙基准源电路采用PNP型三极管来产生ΔVbe,此结构使运放输入失调电压直接影响输出电压的精度。

文章在对传统CMOS带隙电压基准源电路原理的分析基础上,提出了一种综合了一阶温度补偿和双极型带隙基准电路结构优点的高性能带隙基准电压源。

采用NPN型三极管产生ΔVbe,消除了运放失调电压影响。

该电路结构简洁,电源抑制比高。

整个电路采用SMIC 0.18μmCMOS工艺实现。

通过Cadence模拟软件进行仿真,带隙基准的输出电压为1.24V,在-40℃~120℃温度范围内其温度系数为30×10-6/℃,电源抑制比(PSRR)为-88 dB,电压拉偏特性为31.2×10-6/V。

%The normal band-gap low voltage reference circuit always adopt PNP to produce ΔVbe,however the offset voltage of the OPA directly influences the precision of the output voltage reference.The design of a 30×10-6/℃ CMOS bandgap voltage reference with low power supply voltage in temperature compensation and with the NPN to produce ΔVbe technology is described.The band-gap reference is implemen ted in SMIC 0.18μm CMOS process leading to an output voltage of about 1.24V.Simulation shows the average temperature coefficient is 30×10-6/℃ in the range from-40℃ to +120℃,PSRR is-88dB at 27℃ and voltage level bias characteristic is 31.2×10-6/ V.【总页数】4页(P16-19)【作者】吴旭;陈迪平;黄嵩人;季惠才;王镇道【作者单位】湖南大学物理与微电子科学学院,长沙410082;湖南大学物理与微电子科学学院,长沙410082;中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214035;中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214035;湖南大学物理与微电子科学学院,长沙410082【正文语种】中文【中图分类】TN402【相关文献】1.一种低功耗CMOS带隙基准电压源设计 [J], 汤知日;周孝斌;杨若婷2.新型结构的高性能CMOS带隙基准电压源 [J], 胡洪平;冯勇建3.一种新型高精度低压CMOS带隙基准电压源 [J], 陈迪平;吴旭;黄嵩人;季惠才;王镇道4.一种低功耗亚阈值CMOS带隙基准电压源 [J], 邢小明;李建成;郑礼辉5.一种新型的BiCMOS带隙基准电压源 [J], 陈友福;李平;刘银;罗和平因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买。

一种高性能的低压CMOS带隙基准电压源的设计

一种高性能的低压CMOS带隙基准电压源的设计

一种高性能的低压CMOS带隙基准电压源的设计安胜彪;侯洁;魏月婷;陈书旺;文环明【摘要】提出一种新型的芯片内基准电压源的设计方案,基准电压源是当代数模混合集成电路以及射频集成电路中极为重要的组成部分.为满足大规模低压CMOS集成电路中高精度比较器、数模转换器、高灵敏RF等电路对基准电压源的苛刻需要,芯片内部基准电压源大部分采用基准带隙电压源.研究并设计了一种低功耗、超低温度系数和较高的电源抑制比的高性能低压CMOS带隙基准电压源.其综合了一级温度补偿、电流反馈技术、偏置电路温度补偿技术、RC相位裕度补偿技术.该电路采用台积电(TSMC)0.18 μm工艺,并利用Specture进行仿真,仿真结果表明了该设计方案的合理性以及可行性,适用于在低电压下电源抑制比较高的低功耗领域应用.%This article proposed a new design of a chip benchmark power sourse, which is a very important component of mixed signal IC and RF integrated circuit. To meet the requirement of low voltage and large-scale integrated CMOS circuit of high-precision, the use of reference source is rigors forA/D and D/A converter, high sensitive RF circuits and so on. Most parts of the benchmark source employ benchmark bandgap voltage source on chip, so a low power consumption, low temperature coefficient and high performance low pressure CMOS bandgap benchmark voltage source with higher PSRR is designed. It uses one level temperature compensation, current feedback technology, offset circuit temperature compensation technology and RC phase margin compensation technology. This circuit adopts the 0. 18 urn process of TSMC, and uses the Specture to simulate. The simulation result verifies the feasibility and rationality of the design.The circuit can be uesd for low voltage and tow power consumption with higher PSRR.【期刊名称】《河北科技大学学报》【年(卷),期】2012(033)004【总页数】5页(P325-329)【关键词】带隙;基准电压源;低温度系数;高电源电压抑制比【作者】安胜彪;侯洁;魏月婷;陈书旺;文环明【作者单位】河北科技大学信息科学与工程学院,河北石家庄050018;河北科技大学信息科学与工程学院,河北石家庄050018;河北科技大学信息科学与工程学院,河北石家庄050018;河北科技大学信息科学与工程学院,河北石家庄050018;河北科技大学信息科学与工程学院,河北石家庄050018【正文语种】中文【中图分类】TN45集成电路技术和半导体工艺发展至今,特别是在深亚微米和超深亚微米CMOS技术的支持下,在数据接收系统、数模转换器、电压控制器、各种芯片的驱动以及各种测量设备中的基准带隙电压源应用都非常广泛。

一种新型高精度低压CMOS带隙基准电压源

一种新型高精度低压CMOS带隙基准电压源

工 艺实现 , 新型低 压 带隙基 准源设 计输 出电压 为 0 5V, 该 . 温度 系数 为 8p m/ , p ℃ 电源抑 制
比 达 到 一 1 0d 并 成 功 运 用 于 1 3 B, 6位 高 速 AD 芯 片 中. C
关键 词 : 隙基 准 电压源 ; 压 ; 温度 系数 ; 带 低 正 负温度 系数 ; 电源抑制 比
i . s 0 5 V.Th ic i h sb e u c s f l p l d a i h s e d,1 i e cr ut a e n s c e s u l a p i ta h g p e y e 6 b tADC. Ke r s ba d p v la e e e e;l w o t g p ii e y wo d : n ga o t ge r f r nc o v la e; ostve t mpe a ur oe fce ; e a i e t mp r — r t e c fi int n g tv e e a
d c o v la e b nd a e e e c . Th ic i s d sgn d i I 0 1 £ CM g p r f r n e e cr u ti e i e n SM C . t 8 m r c s .Thet mp r t r e e a u e
t r o fiin ;p we u p yrj cin r t u e c efce t o rs p l ee to ai o
在模/ 数转换 器 和数/ 转换器 等集 成 电路设计 模
的 电流 求 和 型 以 及 文 献 [ ] 用 的 D 5采 TMOS技 术 . 其 中电流求 和型 和二次 分压结 构 受运算 放大 器 的失 配影 响大 , 较难 达 到较 高 的 电源抑 制 比 ; MOS 且 DT

一种CMOS带隙基准电压源设计

一种CMOS带隙基准电压源设计

一种CMOS带隙基准电压源设计作者:王峰闫卫平来源:《现代电子技术》2008年第04期摘要:为了满足IC设计中对基准电源低功耗、低温度系数、高电源抑制比的要求,设计一种带隙基准电压源电路。

在对传统带隙基准结构分析的基础上,该电路重点改善基准源中运算放大器的性能,采用台积电0.35μm CMOS工艺库设计并绘制版图。

仿真结果表明,温度在0~100℃之间变化时,该电路输出电压的温度系数小于10 ppm/℃,并且具有低功耗、高电源抑制比的特性。

关键词:CMOS带隙基准;低温度系数;电源抑制比中图分类号:TN710文献标识码:B文章编号:1004—373X(2008)04—004—021 引言基准电压源广泛应用于电源调节器、A/D和D/A转换器、数据采集系统,以及各种测量设备,其精度和稳定性直接影响整个电路系统的精度和稳定性。

基准源有很多种,其中,带隙基准源凭借其低温度系数、高电源抑制比、低基准电压,以及长期稳定等优点,得到了广泛的应用。

近年来,模拟集成电路设计技术随着工艺技术一起得到了飞速的发展,电路系统结构进一步复杂化。

这对模拟电路基本模块的电压、功耗、精度和速度等,提出了更高的要求。

传统的带隙基准源电路结构逐渐难以适应设计需求。

本文在分析传统带隙基准原理基础上,基于传统的带隙基准结构,重点改善基准源中运算放大器的性能,并对基准绝对数值进行补偿,设计了一种低温漂、高电源抑制比的基准电压源电路。

该电路带有启动电路和电流补偿电路,采用差分放大器作为基准源的负反馈运放,放大器的偏置电流由放大器自身的输出产生,提高了电源抑制比,直接对基准输出做温度补偿和电流漂移补偿,静态电流约为10μA,温度在0~100℃之间变化时温度漂移不超过10 ppm/℃。

图2为传统带隙基准源的基本结构,这种结构对放大器精度和对称性要求较高,另外运放的失调电压会影响基准源的精度。

失调电压与温度和电源电压有关,是基准源理论值与实际值之间误差的主要来源。

一种低压高精度CMOS带隙基准

源。
路结构 , 重点提供了高精度的基准电压, 同时使电力 具备 电流源 的功 能 , 省 了芯片 面积 和功耗 。 节
3 高性能低压带隙基准工作原理与电路
度变化的精度 问题。仿真结果表明, 该电路可提供低至 50 V 的低压, 0m 实现 了高阶电流补偿, 在

4 ̄ 0C~+ 0  ̄ 温度范围内其温漂系数仅为 37 p / 在芯片主要工作温度 范围内, 10C .pm  ̄ C, 输出基准
关键词 : 压 带 隙基 准 ; 低 电源抑 制 比; 阶补偿 高
第 5期
21 0 1年 l O月




No 5 . Oc .. 0 1 t 2 1
MI R0PROC S C ES ORS

大 规模 集 成 电路 设 计 、 造 与 应 用 ・ 制

种低 压高精度 C O M S带隙基准
王洪全 , 龚 敏
( 四川大 学 物理 科 学 与技 术 学院微 电子技术 四川省 重点实验 室, I 成都 6 06 ) 104 摘 要 : 计 了一种 改进 的 带隙基准 电压源 , 过采 用分 段 电流补 偿 的方 法 , 设 通 实现 了低 压 高精 度供 电。研 究基 于 T M .5x MO V工艺基 础 , 点考虑 主 要工 作 温度 区域输 出电压 随温 S C03 1 C S3 m 重
t si g,t s cr u tc n p o i e5 0mV e e e c otg tla t n hetmp r t r o f c e ti p t e tn hi ic i a r v d 0 r fr n ev la e a e s ,a d t e e au e c e in su o i 3. p 7p m/ ̄ o e h 一4 ( ~ + 1 0 ̄ t mp r t r r n e n h ma n e C v rte 0 ̄ 2 0 C e e au e a g .I t e i tmpea u e a e.t e r t r rng h Ma x de i t n o o tg sl s h n 8 va i fv la e i e st a V , nd t e PS o a h RR n o l 一7 dB. i n y 0 Ke r y wo ds: o —v la e b nd a ee e e; SRR ; g Lw ot g a g p r f rnc P Hi h—l v lc mp ns t n e e o e a i o

一种低温漂CMOS带隙基准电压源的设计

作者: 梁焰 吴玉广
作者机构: 西安电子科技大学微电子所,陕西西安,710071 西安电子科技大学微电子所,陕西西安,710071
出版物刊名: 科技资讯
页码: 68-69页
主题词: 带隙参考电压源 温度补偿 电源抑制比
摘要:在A/D和D/A转换器、数据采集系统以及各种测量设备中,都需要高精度、高稳定性的基准电压源,并且基准电压源的精度和稳定性决定了整个系统的工作性能.电压基准源主要有基于正向VBE的电压基准、基于齐纳二极管反向击穿特性的电压基准、带隙电压基准等多种实现方式,其中带隙基准电压源具有低温度系数、高电源抑制比、低基准电压等优点,因而得到了广泛的应用.本文设计了一个高精度、输出可调的带隙基准电压源,并在SMIC0.25μmCMOS工艺条件下对电路进行了模拟和仿真.。

一种无运放低压低功耗CMOS带隙基准电压源的设计

一种无运放低压低功耗CMOS带隙基准电压源的设计
杨帆;邓婉玲;黄君凯
【期刊名称】《固体电子学研究与进展》
【年(卷),期】2011(31)2
【摘要】采用无运放电路结构,通过改进反馈环路和调整电阻的方法,设计了一种低电压低功耗的带隙基准电压源。

相比传统有运放结构,电路芯片面积更小和具有更低的电流损耗,并且大部分电流损耗都用于产生输出电压。

基于CSMC 0.5μm CMOS工艺对所研制带隙基准电压源进行流片,测试结果表明,当电源电压大于0.85 V时,能够产生稳定的输出电压;在1 V电源电压下,-20~100°C温度范围内的温度系数为16.7×10-6/°C;当电源电压在0.86~2 V之间变化时,输出电压的偏差为1.46 mV,电源调整率为1.28 mV/V;1 V电源电压下电流损耗仅为2.4μA。

【总页数】5页(P208-212)
【关键词】带隙基准电压源;运放;低电压;低功耗
【作者】杨帆;邓婉玲;黄君凯
【作者单位】暨南大学信息科学技术学院电子工程系
【正文语种】中文
【中图分类】TN432
【相关文献】
1.一种10-ppm/℃低压CMOS带隙电压基准源设计 [J], 朱樟明;杨银堂
2.一种无运放输出可调的带隙基准电压源设计 [J], 杜士才;方芳;李娟
3.一种低功耗无运放的带隙基准电压源设计 [J], 邹勤丽;汤晔
4.一种低功耗CMOS带隙基准电压源设计 [J], 汤知日;周孝斌;杨若婷
5.一种高性能的低压CMOS带隙基准电压源的设计 [J], 安胜彪;侯洁;魏月婷;陈书旺;文环明
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一种基于斩波调制的低压高精度CMOS带隙基准源

一种基于斩波调制的低压高精度CMOS带隙基准源刘帘曦;杨银堂;朱樟明【期刊名称】《固体电子学研究与进展》【年(卷),期】2005(25)3【摘要】实现了一种适用于SOC的低压高精度带隙基准电压源设计。

利用斩波调制技术有效地减小了带隙基准源中运放的失调电压所引起的误差,从而提高了基准源的精度。

考虑负载电流镜和差分输入对各2%的失配时,该基准源的输出电压波动峰峰值为0.31 mV。

与传统带隙基准源相比,相对精度提高了86倍。

在室温下,斩波频率为100 kH z时,基准源提供0.768 V的输出电压。

当电源电压在0.8 V到1.6 V变化时,该基准源输出电压波动小于0.05 mV;当温度在0°C到80°C变化时,其温度系数小于12 ppm/°C。

该基准源的最大功耗小于7.2μW,采用0.25μm 2P 5M CM O S工艺实现的版图面积为0.3 mm×0.4 mm。

【总页数】6页(P369-374)【关键词】带隙电压基准源;低压;斩波运放;失调;不匹配【作者】刘帘曦;杨银堂;朱樟明【作者单位】西安电子科技大学微电子研究所【正文语种】中文【中图分类】TN402【相关文献】1.一种基于斩波调制的带隙基准电压源 [J], 李龙弟;邝小飞2.斩波调制的1.25V CMOS带隙基准电压源 [J], 黄灿灿3.一种新型高精度低压CMOS带隙基准电压源 [J], 陈迪平;吴旭;黄嵩人;季惠才;王镇道4.一种采用斩波调制技术的高精度带隙基准源 [J], 刘家楠;黄鲁5.一种采用斩波调制的高精度带隙基准源的设计 [J], 杨晓春;于奇;宋文青;董铸祥;郑志威因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买。

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另一方面, 由于电压阈值失配, 沟道调制效应 等, 带隙中镜像电流匹配精度有限, 引起基准电压
收稿日期: 2006- 07- 23
精度下降[5, 6]。采用长沟道器件或共源共栅电流镜可 以提高镜像电流的匹配精度。
为减少运放 VOS 及电流失配对带隙基准源的影 响, 基于横向寄生 PNP 管, 文中提出了一种低失调 的高精度 CMOS 带隙基准源。一方面, 该带隙能够 以较小的面积代价将运放 VOS 误差降 低 约 50%, 且 不增加功耗; 另一方面, 它能够有效抑制镜像电流 失配带来的误差。
Vt 的温度系数为+0.086mV /℃, 选择合适的 kln( N)
( ≈23) , 就能获得零温度系数的电压基准。
但实际上, 由于运放失调及电流失配, 基准电
压精度将下降。设运放失调为 VOS, 电流失配为 !, 即 VB=VA+VOS, I2=I1 ( 1+!) 。 得 与 绝 对 温 度 成 正 比 的
PTAT电流和基准电压分别为
IPATA=( Vt lnN+Vt !) / R1
( 2)
Vref=kVt lnN+kVos +kVt !
( 3)
k= R2 /R1 为电阻比例因子。可见, 运放 VOS 和电
流失配 ! 将导制带隙电压精度下降。由于 VOS 倍乘
以 k, 且 kln( N) ≈23 近似为常数, 提高 N 值, 减少 k
I1={ Vtl n (
IE2 AE2
IE3 AE3
AE1 IE1
AE4 IE4
) +VOS3} / R1
( 5)
注意到 IE1=IE3=I1, IE2=IE4=I2, 尽管 I1~I2 存在失配, IE1~
IE4 仍能从式( 5) 相互抵消, 进一步导出:
I1=[ Vt ln( N×N) VOS3] / R1
可见, 在不显著增加功耗前提下, 提出带隙基 准源的核心电路能够以近似一倍的芯片面积代价, 明显降低运放失调电压导制的误差, 并自动抑制电 流失配引入的温漂, 从而实现了低失调, 低温漂的 高精度带隙基准源。
4 电路实现 基 于 0.35 !m 标 准 CMOS 工 艺 实 现 了 基 于 横
向寄生 PNP 管实现的新结构低失调带隙基准源, 全 电路如图 3 所示, 它由带隙主体、运放电路、偏置电 路和启动电路 4 部分组成。
Q1, Q2, Q5, M1~M3 和 R1~R2 为带隙主体部分, Q1~Q4 和 R1 是低 失 调 带 隙 的 核 心 部 分 , Q3~Q4 集 电极和基极分别交叉连接, 且 Q3~Q4 采用环形窄基 区 的 横 向 寄 生 PNP, 以 增 大 集 电 级 的 电 流 收 集 能 力, 抑制纵向寄生效应的影响。M4~M11 和 Cc 为运 放电路, M4~M5 适当放宽设计尺寸, 并采用共中心 版图布局, 以减少输入端失调电压。运放采用两级 结构, 其中 M9 为电平位移管, 设计结果为电压增益 为 75dB, PSRR 为 75dB, 相位裕度为 700。由于交叉 连接引入局部正反馈, 运放已预留足够相位裕度以 避免环路振荡。MB1~MB6 及 R3, 构成与电源电压无 关的偏置电路, 设计合适的 R3, 可确定偏置电路 和 运放电路的功耗。
Vref=VEB1+k1Vtln( N×N) +k1Vos1+k1Vtln( !1+!2) ( 4) k1= R2 /R1, 零 温 度 系 数 补 偿 条 件 变 为 k1ln( N·N) ≈ 23, 同样以 N=8 为例, k1=5.5, 运放 VOS1=±5mV 导制 基准电压失调 !Vref=±27.5mV, 与带隙 1 失调±55mV 相比, 误差下降 50%, 而芯片面积仅增加约 1 倍, 相
MS1~MS5 为启动电路部分, 当电路处于零电流 状态时, MS1 导通, D 点为高电平, MS3 导通使 C 点 电位被拉低, MS5 导通对偏置电路充电, 电路摆脱 零电流简并点, 启动完成后, MS2 导通, 把 D 点电位 拉低, 使 MS3, MS5 截止。 设计 MS1 的 W /L 小而 MS2 的 W /L 较大, 启动电路静态电流很小。
2 典型带隙基准源
图 1 为传统 CMOS 带隙基准源 ( 简称带隙 1) 。
理想情况下, 参照文献[ 3] 推导, 得基准电压为
Vref=VEB1+
R R
2 1
Vt ln( N) +VEB1+kVt ln( N)
( 1)
VEB1 的 温 度 系 数 为 - 2mV /℃( @27℃, VEB1=650mV) ,
Abstr act: Based on the parasitical lateral PNP, a novel CMOS bandgap voltage reference with low offset is presented. The errors caused by the input- offset voltage of the OP- AMP and the mismatch of current mirror can be minimized in the proposed architecture. Simulation shows that, the output voltage is 1.228 0V at 27℃, the total variation of output voltage is less than 2.7mV and the temperature coefficient is 13.9ppm/℃ over - 40℃ ̄125℃. Specially, the proposed bandgap has improved stability to process condition. In all process corner, the reference voltage changes less than ± 25.3mV. The relative accuracy is increased by 3.3 times compared with traditional bandgap reference . At last, a com- plete bandgap reference is designed based on 0.35 !m CMOS process. Key wor ds: bandgap reference; lateral PNP; offset voltage; current mismatch
值, 能够降低 VOS 对带隙的影响。不失一般性, 设 N= 8, 则 k=11, 运放失调 VOS=±5mV 将引起基准偏差 !Vref=±55mV, 要将基准偏差!Vref 降低一倍, 需 要 将 N 增加到 64, 意味着芯片面积增加约 7 倍, 因此, 对
于带隙 1, 增加芯片面积去降低运放 VOS 的代价较 大。考虑电流失配, 同样以 N=8, k=11 为例, 电流失
中图分类号: TN4
文献标识码: A
文章编号: 1000- 7180( 2007) 07- 0156- 04
A Low- Offset CMOS Bandgap Refer ence with Later al PNP
CAI Wei, LU Tie-jun, WANG Zong-min
( Beijing Microelectronics Technology Institute, Beijing 100076, China)
由于工艺容差, 带隙中作电压镜像的运放必然 存在输入失调电压 VOS。一般来说, 运放 VOS 是带隙 中 最 主 要 的 误 差 来 源 , 文 献 [ 1, 2] 中 指 出 , 1mV 的 VOS 引入约 26ppm /℃的基准偏差。采用开关运放[1] 可以消除 VOS, 但需要时钟控制, 应用领域受限且设 计 困 难 , 并 不 通 用 ; 采 用 级 联 VBE [3, 4] 能 减 小 VOS, 但 需额外的两个 PNP 晶体管及两路电流, 面积和功耗 都显著增加。
当于带隙 1 面积增加约 7 倍达到的性能。 然而, 带
隙 2 核心电路功耗比带隙 1 增加约一倍, 且电流失
配导制的温漂比带隙 1 略大。
可见, 带隙 2 是以较为合理的面积和功耗的双
设运放失调电压为 VOS3, I1~I2 电流失配为 !3, 则 VA=VB+VOS3, I2=I1( 1+!3) , 设 N=AE4 /AE3=AE1 /AE2, 推导 出 PTAT 电流:
1 引言 CMOS 带 隙 基 准 源 是 SOC 芯 片 中 的 一 个 关 键
功能模块, 广泛应用 在 各 类 模 数 转 换 器 、电 源 管 理 等芯片中。其设计难点在于降低带隙的偏差和温度 系数, 提高带隙随工艺条件、温度变化的稳定性。例 如, 对于一个输入范围为 1- V 的 10 位 ADC, 要求带 隙的偏差小于 1mV。在不采用修正技术前提下, 如 果能够降低运放失调电压和镜像电流失配对输出 的影响, 可以得到低失调的带隙基准源。
品率。
典型低失调带隙 ( 简称带隙 2) 通常采用级联
VBE 的 方 法 来 降 低 运 放 VOS 的 影 响 [3, 4], 具 体 电 路 见 同 文 献 [ 3] 。 设 VX=VY +VOS1, I2=I1( 1+!1) , I4=I3( 1+ !2) 和 N=AE3 /AE4 =AE1 /AE2, 推导出基准电压为
( 6)
可见, 电路能够自动抵消了电流失配 !3 对 PTAT 电
流的影响, 这是由 Q3, Q4 的 E, B 结的连接关系决定
的。
基准电压为
Vref =VEB1+k2Vt ln( N×N) +k2Vos3
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
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可见, 基准电压只受运放输入失调影响, 不再受到
电流镜失配的影响。
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