数字电路实验
数字电路实验报告 实验5

实验五移存器功能测试及应用一、实验目的1、熟悉移位寄存器(移存器)的电路结构和工作原理。
2、掌握D触发器74HC(LS)74及集成移位寄存器74HC(LS)194的逻辑功能和使用方法。
二、实验设备和器件1、数字逻辑电路实验板1块2、74HC(LS)74(双D触发器)2片3、74HC(LS)194(4位双向通用移位寄存器)2片三、实验原理移位寄存器是具有移位功能的寄存器,其中所存的代码能够在移位脉冲的作用下依次左移或右移。
既能左移又能右移的称为双向移位寄存器,只需要改变左、右移的控制信号便可实现双向移位要求。
移位寄存器存取信息的方式分为:串入串出、串入并出、并入串出、并入并出四种形式。
实验用器件管脚介绍:1、74HC(LS)74(双D触发器)管脚如下图所示。
2、74HC(LS)194(4位双向通用移位寄存器)管脚如下图所示。
四、实验内容与步骤1、利用两块74HC(LS)74(四个D触发器)构成一个单向的移位寄存器(基本命题)参照用两块74HC(LS)74(四个D触发器)构成一个单向移位寄存器的实验电路图连接电路,Q输出依次接LED指示灯,加电后在移位输入端加入不同信号观察LED指示灯变化。
1.1电路图1.2实验结果LED灯依次变亮,每次间隔一个CP。
2、测试74HC(LS)194的功能(基本命题)例如,Q输出依次接LED指示灯,改变S1、S0的值配合其它输入观察LED的变化。
2.1电路图2.2实验结果:置数:LED显示状态与置数端相同。
左移:LED从下往上(QD到QA)依次变亮,每次间隔一个CP右移:LED从上往下(QA到QD)依次变亮,每次间隔一个CP3、用两片74HC(LS)194做出模16的扭环计数器(扩展命题)将两片的Q输出依次都接到LED指示灯上,加电并加CP观察LED的变化。
现象一般为八盏灯先依次变暗再依次变亮如此循环。
3.1电路图3.2计数器拓展当进行M=2n 偶数计数时,可采用扭环型,D1=Q n ̅̅̅̅,将Q n 和高电平与非后反馈至第一片的输入端。
数字电路实验报告 实验2

实验二 译码器及其应用一、 实验目的1、掌握译码器的测试方法。
2、了解中规模集成译码器的管脚分布,掌握其逻辑功能。
3、掌握用译码器构成组合电路的方法。
4、学习译码器的扩展。
二、 实验设备及器件1、数字逻辑电路实验板1块 2、74HC(LS)20(二四输入与非门) 1片 3、74HC(LS)138(3-8译码器)2片三、 实验原理74HC(LS)138是集成3线-8线译码器,在数字系统中应用比较广泛。
下图是其引脚排列,其中A 2、A 1、A 0为地址输入端,Y ̅0~Y ̅7为译码输出端,S 1、S ̅2、S ̅3为使能端。
下表为74HC(LS)138功能表。
74HC(LS)138工作原理为:当S 1=1,S ̅2+S ̅3=0时,电路完成译码功能,输出低电平有效。
其中:Y ̅0=A ̅2A ̅1A ̅0̅̅̅̅̅̅̅̅̅̅ Y ̅4=A 2A ̅1A ̅0̅̅̅̅̅̅̅̅̅̅ Y ̅1=A ̅2A ̅1A 0̅̅̅̅̅̅̅̅̅̅ Y ̅5=A 2A ̅1A 0̅̅̅̅̅̅̅̅̅̅ Y ̅2=A ̅2A 1A ̅0̅̅̅̅̅̅̅̅̅̅ Y ̅6=A 2A 1A ̅0̅̅̅̅̅̅̅̅̅̅ Y ̅3=A ̅2A 1A 0̅̅̅̅̅̅̅̅̅̅Y ̅7=A 2A 1A 0̅̅̅̅̅̅̅̅̅̅因为74HC(LS)138的输出包括了三变量数字信号的全部八种组合,每一个输出端表示一个最小项(的非),因此可以利用八条输出线组合构成三变量的任意组合电路。
实验用器件管脚介绍:1、74HC(LS)20(二四输入与非门)管脚如下图所示。
2、74HC(LS)138(3-8译码器)管脚如下图所示。
四、实验内容与步骤(四学时)1、逻辑功能测试(基本命题)m。
验证74HC(LS)138的逻辑功能,说明其输出确为最小项i注:将Y̅0~Y̅7输出端接到LED指示灯上,因低电平有效,所以当输入为000时,Y̅0所接的LED指示灯亮,其他同理。
数字电路实验

实验一基本门电路(验证型)一、实验目的(1)熟悉常用门电路的逻辑功能;(2)学会利用门电路构成简单的逻辑电路。
二、实验器材数字电路实验箱 1台;74LS00、74LS02、74LS86各一块三、实验内容及步骤1、TTL与非门逻辑功能测试(1)将四2输入与非门74LS00插入数字电路实验箱面板的IC插座上,任选其中一与非门。
输入端分别输入不同的逻辑电平(由逻辑开关控制),输出端接至LED“电平显示”输入端。
观察LED亮灭,并记录对应的逻辑状态。
按图1-1接线,检查无误方可通电。
图1-1表1-1 74LS00逻辑功能表2、TTL或非门、异或门逻辑功能测试分别选取四2输入或非门74LS02、四2输入异或门74LS86中的任一门电路,测试其逻辑功能,功能表自拟。
3、若要实现Y=A′, 74LS00、74LS02、74LS86将如何连接,分别画出其实验连线图,并验证其逻辑功能。
4、用四2输入与非门74LS00实现与或门Y=AB+CD的功能。
画出实验连线图,并验证其逻辑功能。
四、思考题1.TTL与非门输入端悬空相当于输入什么电平?2.如何处理各种门电路的多余输入端?附:集成电路引出端功能图实验二组合逻辑电路(设计型)一、实验目的熟悉简单组合电路的设计和分析过程。
二、实验器材数字电路实验箱 1台,74LS00 三块,74LS02、74LS04、74LS08各一块三、实验内容及步骤1、设计一个能比较一位二进制A与 B大小的比较电路,用X1、X2、X3分别表示三种状态:A>B时,X1=1;A<B时X2=1;A=B时X3=1。
(用74LS04、74LS08和74LS02实现)要求:(1)列出真值表;(2)写出函数逻辑表达式;(3) 画出逻辑电路图,并画出实验连线图;(4)验证电路设计的正确性。
2、测量组合电路的逻辑关系:(1)图3-2电路用3块74LS00组成。
按逻辑图接好实验电路,输入端A、B、C 分别接“逻辑电平”,输出端D、J接LED“电平显示”;图3-2 表3-2(2)按表3-2要求,将测得的输出状态和LED显示分别填入表内;(3)根据测得的逻辑电路真值表,写出电路的逻辑函数式,判断该电路的功能。
《数字电路》实验报告

《数字电路》实验报告项目一逻辑状态测试笔的制作一、项目描述本项目制作的逻辑状态测试笔,由集成门电路芯片74HC00、发光二极管、电阻等元器件组成,项目相关知识点有:基本逻辑运算、基本门电路、集成逻辑门电路等;技能训练有:集成逻辑二、项目要求用集成门电路74HC00制作简易逻辑状态测试笔。
要求测试逻辑高电平时,红色发光二极管亮,测试逻辑低电平时绿色发光二极管亮。
三、原理框图四、主要部分的实现方案当测试探针A测得高电平时,VD1导通,三级管V发射级输出高电平,经G1反相后,输出低电平,发光二级管LED1导通发红光。
又因VD2截止,相当于G1输入端开路,呈高电平,输出低电平,G3输出高电平,绿色发光二级管LED2截止而不发光。
五、实验过程中遇到的问题及解决方法(1)LED灯不能亮:检查硬件电路有无接错;LED有无接反;LED有无烧坏。
(2)不能产生中断或中断效果:检查硬件电路有无接错;程序中有无中断入口或中断子程序。
(3)输入电压没有反应:数据原理图有没有连接正确,检查显示部分电路有无接错;4011逻辑门的输入端有无浮空。
六、心得体会第一次做的数字逻辑试验是逻辑状态测试笔,那时什么都还不太了解,听老师讲解完了之后也还不知道从何下手,看到前面的人都起先着手做了,心里很焦急可就是毫无头绪。
老师说要复制一些文件协助我们做试验(例如:试验报告模板、试验操作步骤、引脚等与试验有关的文件),还让我们先画原理图。
这时,关于试验要做什么心里才有了一个模糊的框架。
看到别人在拷贝文件自己又没有U盘只好等着借别人的用,当然在等的时候我也画完了逻辑测试笔的实操图。
后面几次都没有过,但最后真的发觉试验的次数多了,娴熟了,知道自己要做的是什么,明确了目标,了解了方向,其实也没有想象中那么困难。
七、元器件一逻辑状态测试笔电路八、附实物图项目二多数表决器电路设计与制作一、项目描述本项目是以组合逻辑电路的设计方法,用基本门电路的组合来完成具有多数表决功能的电路。
数字电路实验报告

数字电路实验目录实验一组合逻辑电路分析 (1)实验二组合逻辑实验(一) (5)实验三组合逻辑实验(三) (9)实验四触发器和计数器 (16)实验五数字电路综合实验 (20)实验六555集成定时器 (22)实验七数字秒表 (25)实验一组合逻辑电路分析一、参考元件1、74LS00(四2输入与非门)2、74LS20(双4输入与非门)二、实验内容1、组合逻辑电路分析A B C DX15 V图1.1 组合逻辑电路分析电路图说明:ABCD按逻辑开关“1”表示高电平,“0”表示低电平;逻辑指示灯:灯亮表示“1”,灯不亮表示“0”。
实验表格记录如下:表1.1 实验分析:由实验逻辑电路图可知:输出X1=AB CD •=AB+CD ,同样,由真值表也能推出此方程,说明此逻辑电路具有与或功能。
2、密码锁问题:密码锁的开锁条件是:拨对密码,钥匙插入锁眼将电源接通,当两个条件同时满足时,开锁信号为“1”,将锁打开;否则,报警信号为“1”,则接通警铃。
试分析下图中密码锁的密码ABCD 是什么?X1X25 VABCD图1.2 密码锁电路分析实验真值表记录如下:表1.2 实验分析:由真值表(表1.2)可知:当ABCD 为1001时,灯X1亮,灯X2灭;其他情况下,灯X1灭,灯X2亮。
由此可见,该密码锁的密码ABCD 为1001.因而,可以得到:X1=ABCD ,X2=1X 。
实验二 组合逻辑实验(一)半加器和全加器 一、实验目的熟悉用门电路设计组合电路的原理和方法步骤。
二、预习内容1、复习用门电路设计组合逻辑电路的原理和方法步骤。
2、复习二进制数的运算①用“与非”门设计半加器的逻辑图 ②完成用“异或”门、“与或非”门、“与非”门设计全加器的逻辑图 ③完成用“异或”门设计三变量判奇电路的原理图 三、参考元件1、74LS283(集成超前4位进位加法器)2、74LS00(四2输入与非门)3、74LS51(双与或非门)4、74LS136(四2输入异或门) 四、实验内容1、用与非门组成半加器 由理论课知识可知:i S =i i A B ⊕=i i i i AB A B +=i i i i i i A B A A B B ••• i C =i i A B =i i A B根据上式,设计如下电路图:AiBi SiCi图2.1与非门设计半加器电路图得到如下实验结果:表2.1 半加器实验结果记录表格2、用异或门、与或非门、与非门组成全加器 由理论课知识可知:i S =1i i i A B C -⊕⊕ i C =1()i i i i i A B A B C -+⊕根据上式,设计如下电路:Ai BiCi-1SiCi图2.2 用异或门、与或非门、与非门设计的全加器表2.2 3、用异或门设计3变量判奇电路,要求变量中1的个数为奇数时,输出为1,否则为0. 根据题目要求可知:输出L=ABC ABC ABC ABC A B C +++=⊕⊕ 则可以设计出如下电路:74LS136NA B CL图2.3 用异或门设计的3变量判奇电路根据上图,可以得到如下实验数据表格:表2.3 4、用“74LS283”全加器逻辑功能测试U174LS283NS U M _410S U M _313S U M _14S U M _21C 49B 411A 412B 315A 314B 22A 23B 16A 15C 07图2.4 元件74LS283利用74LS283进行如下表格中的测试:表2.4 “74LS283实验三 组合逻辑实验(三)数据选择器和译码器的应用 一、实验目的熟悉数据选择器和数据分配器的逻辑功能和掌握其使用方法。
数电实验报告实验一心得

数电实验报告实验一心得引言本实验是数字电路课程的第一次实验,旨在通过实际操作和观察,加深对数字电路基础知识的理解和掌握。
本次实验主要涉及布尔代数、逻辑门、模拟开关和数字显示等内容。
在实验过程中,我对数字电路的原理和实际应用有了更深入的了解。
实验一:逻辑门电路的实验实验原理逻辑门是数字电路中的基本组件,它能够根据输入的布尔值输出相应的结果。
常见的逻辑门有与门、或门、非门等。
本次实验主要是通过搭建逻辑门电路实现布尔函数的运算。
实验过程1. 首先,我按照实验指导书上的电路图,使用示波器搭建了一个简单的与门电路。
并将输入端连接到两个开关,输出端连接到示波器,以观察电路的输入和输出信号变化。
2. 其次,我打开示波器,观察了两个开关分别为0和1时的输出结果。
当两个输入均为1时,示波器上的信号为高电平,否则为低电平。
3. 我进一步观察了两个开关都为1时的输出信号波形。
通过示波器上的脉冲信号可以清晰地看出与门的实际运行过程,验证了实验原理的正确性。
实验结果和分析通过本次实验,我成功地搭建了一个与门电路,并观察了输入和输出之间的关系。
通过示波器上的信号波形,我更加直观地了解了数字电路中布尔函数的运算过程。
根据实验结果和分析,我可以总结出:1. 逻辑门电路可以根据布尔函数进行输入信号的运算,输出相应的结果。
2. 在与门电路中,当输入信号均为1时,输出信号为1,否则为0。
3. 示例器可以实时显示电路的输入和输出信号波形,方便实验者观察和分析。
结论通过本次实验,我对数字电路的基本原理和逻辑门电路有了更深刻的理解。
我学会了如何搭建逻辑门电路,并通过示波器观察和分析输入和输出信号的变化。
这对我进一步理解数字电路的设计和应用具有重要意义。
通过实验,我还锻炼了动手操作、实际观察和分析问题的能力。
实验过程中,需要认真对待并细致观察电路的运行情况,及时发现和解决问题。
这些能力对于今后的学习和研究都非常重要。
总之,本次实验让我更好地理解了数字电路的基本原理和应用,提高了我的实验能力和观察分析能力。
数字电路实验报告-实验一[总结]
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实验一数字电路实验基础一、实验目的⑴掌握实验设备的使用和操作⑵掌握数字电路实验的一般程序⑶了解数字集成电路的基本知识二、预习要求复习数字集成电路相关知识及与非门、或非门相关知识三、实验器材⑴直流稳压电源、数字逻辑电路实验箱、万用表⑵74LS00、74LS02、74LS48四、实验内容和步骤1、实验数字集成电路的分类及特点目前,常用的中、小规模数字集成电路主要有两类。
一类是双极型的,另一类是单极型的。
各类当中又有许多不同的产品系列。
⑴双极型双极型数字集成电路以TTL电路为主,品种丰富,一般以74(民用)和54(军用)为前缀,是数字集成电路的参考标准。
其中包含的系列主要有:▪标准系列——主要产品,速度和功耗处于中等水平▪LS系列——主要产品,功耗比标准系列低▪S系列——高速型TTL、功耗大、品种少▪ALS系列——快速、低功耗、品种少▪AS系列——S系列的改进型⑵单极型单极型数字集成电路以CMOS电路为主,主要有4000/4500系列、40H系列、HC系列和HCT系列。
其显著的特点之一是静态功耗非常低,其它方面的表现也相当突出,但速度不如TTL集成电路快。
TTL产品和CMOS产品的应用都很广泛,具体产品的性能指标可以查阅TTL、CMOS集成电路各自的产品数据手册。
在本实验课程中,我们主要选用TTL数字集成电路来进行实验。
2、TTL集成电路使用注意事项⑴外形及引脚TTL集成电路的外形封装与引脚分配多种多样,如附录中所示的芯片封装形式为双列直插式(DIP)。
芯片外形封装上有一处豁口标志,在辨认引脚分配时,芯片正面(有芯片型号的一面)面对自己,将此豁口标志朝向左手侧,则芯片下方左起的第一个引脚为芯片的1号引脚,其余引脚按序号沿芯片逆时针分布。
⑵电源每片集成电路芯片均需要供电方能正常使用其逻辑功能,供电电源为+5V单电源。
电源正端(+5V)接芯片的VCC引脚,电源负端(0V)接芯片的GND引脚,两者不允许接反,否则会损坏集成电路芯片。
数字电路实验报告

数字电路实验报告实验目的本实验的目的是通过对数字电路的实际操作,加深对数字电路原理和实验操作的理解。
通过实验,理论联系实际,加深学生对数字电路设计和实现的认识和理解。
实验内容本次实验的实验内容主要包括以下几个方面:1.数码管显示电路实验2.时序电路实验3.组合电路实验实验仪器和器材本次实验所使用的仪器和器材包括:•真空发光数字数码管•通用数字逻辑芯片•实验箱•数字电路设计软件•示波器数码管显示电路实验在数码管显示电路实验中,我们将使用真空发光数字数码管和逻辑芯片来实现数字数码管的显示功能。
具体的实验步骤如下:1.按照实验箱上的电路图,将逻辑芯片及其它所需器件正确连接。
2.通过数字电路设计软件,编写和下载逻辑芯片的程序。
3.观察数码管的显示效果,检查是否符合预期要求。
时序电路实验时序电路是数字电路中非常重要的一部分,通过时序电路可以实现各种各样的功能。
在时序电路实验中,我们将通过设计一个简单的计时器电路来学习时序电路的设计和实现。
具体的实验步骤如下:1.在实验箱上按照电路图连接逻辑芯片及其它所需器件。
2.通过数字电路设计软件,编写和下载逻辑芯片的程序。
3.通过示波器观察时序电路的波形,检查是否符合设计要求。
组合电路实验组合电路是由多个逻辑门组合而成的电路,可以实现各种逻辑功能。
在组合电路实验中,我们将使用逻辑芯片和其他器件,设计并实现一个简单的闹钟电路。
具体的实验步骤如下:1.在实验箱上按照电路图连接逻辑芯片及其它所需器件。
2.通过数字电路设计软件,编写和下载逻辑芯片的程序。
3.测试闹钟电路的功能和稳定性,检查是否符合设计要求。
实验结果与分析通过以上的实验,我们成功地实现了数码管显示、时序电路和组合电路的设计和实现。
实验结果表明,在正确连接逻辑芯片和其他器件,并编写正确的程序的情况下,我们可以实现各种各样的数字电路功能。
通过实验过程中的观察和测试,我们也发现了一些问题和改进的空间。
例如,在时序电路实验中,我们发现时序电路的波形不够稳定,可能需要进一步优化。
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C.解决方法 a.熟悉器件的功能及其引脚号,知道 器件每个引脚的功能; b.器件的电源和地一定要接对、接好, 检查连线和插孔接触是否良好; c.检查有无错接、多接、漏接,检查连 线中有无断线。 重要的是连线前要画出电路连接图,按 图连接,不要凭记忆随想随接;接线时要 规范、整齐,尽量走直线、短线,以免引 起干扰。
1.2.3 实验报告 实验结束后需要撰写实验报告,这是一 项重要的基本功训练,绝不是一种形式上 的需要。通过撰写实验报告,回顾实验过 程、总结实验结果、加深对基本理论的认 识和理解。实验报告要写在规定的报告纸 上,所有的图形、表格都必须用直尺、曲 线板绘制。报告的内容主要包括以下几个 部分:
(1)首先检查仪器、仪表是否正确使用; (2)在正确使用仪器、仪表的前提下,按逻辑图 和接线图逐级查找问题所在。通常从发现问题的 地方,一级一级向前测试,测试电路的输入、输 出点的0-1状态,直到找到故障的初始发生位置; (3)在故障的初始处,首先检查连线是否正确, 确认无误后,检查器件引脚是否全部正确插进插 座中,有无引脚折断、弯曲、错插问题; (4)确认无上述问题后,取下器件测试,以检查 器件好坏,或者直接换一个好器件; (5)若器件和连线都正确,则需要考虑设计问题。
A.连线错误原因 忘记接器件的电源和地;连线与插孔接触 不良;连线经多次使用后,有可能外面塑 料包皮完好,但内部线断;连线多接、漏 接、错接;连线过长、过乱造成干扰。 B.接线错误现象 接线错误造成的现象多种多样,例如器件 的某个功能块不工作或工作不正常,器件 不工作或发热,电路中的一部分工作状态 不稳定等。
数字集成电路就是完成数字逻辑功能的集 成电路。集成电路按集成度可分为小规模 集成电路(SSI)、中规模集成电路 (MSI)、大规模集成电路(LSI)和超大 规模集成电路(VLSI)。实验中经常用的 是中、小规模集成电路,小规模集成电路 主要是一些门电路,中规模集成电路主要 是数据选择器、计数器等数字电路。中、 小规模数字电路常见的是TTL电路和CMOS 电路。实验中主要采用TTL的74系列电路 作为实验用器件。
2、布线 (1)导线要求 布线用的导线直径应和通用底板插孔直径 相一致,不宜太粗或过细;导线最好用色 线以区别不同用途。导线的剥头一般以5- 7mm为宜,剥头不允许弯曲。
(2)布线顺序 布线最好有顺序地进行,以免造成漏接。 布线时先将固定电平的端点接好,如电源 线、地线、门电路的多余端或实验过程中 始终不改变的输入端等,这些连线要尽可 能短一些;然后按信号流向顺序布线。
2片 1片
三、实验内容 1、异或门逻辑功能测试:选2输入四异或 门电路74LS86,按图接线,输入端1、2、 4、5,接电平开关,输出端A、B、Y接显 示发光二极管。
2、逻辑电路的逻辑关 系 用74LS00按图接线, 将输入输出逻辑关系 填入表内。
1、实验目的; 2、实验仪器、器件; 3、实验内容、步骤、线路,包括方框图、 状态图或真值表、文字说明逻辑图等; 4、实验数据记录; 5、实验结果分析讨论、心得体会等。
实验一 常用数字电子技术测量 仪器的使用
一、实验目的 1、熟悉DS4210C双踪示波器面板上各旋 钮的作用与测量方法。 2、熟悉数字电路实验箱的使用方法,了解 实验箱内通过实验板结构,各辅助测试功 能板的功能及其应用。
4、测量门电路的逻辑功能 1)将“与非门”74LS00插入实验箱面板 上(注意:凹口朝左),14脚接+5V,7 脚接地,并把两个输入端接实验箱的逻辑 开关D1、D2,输出端接发光二极管 (L0~L11任意一个)。 2)按照表1.1不同的输入组合,记录对应 的输出信号,结果填入表1.1。 表1.1 与非门真值表
二、实验仪器 1、爱迪克数字实验箱 2、DS4210C型双踪示波器
三、实验原理 1、爱迪克数字电路实验箱的结构: 实验箱的主体,实验箱内配有多块多孔实 验插座板,用来插集成电路和其它分立元 件; 12个逻辑开关由D0~D11输入,供作逻辑 电平“0”与“1”用; 12个发光二极管组成的12个0-1显示器, 由L0~L11输出,作为12个逻辑信息指示;
1.2.2 实验过程 一、电路的连接 1、插IC器件 (1)首先要认清方向,凹槽朝左,引脚按 逆时针排列,1脚在左侧第一个位置。注意 不要插反,否则一接电源就会烧坏IC器件。
(2)将IC器件插到底板上时要注意对准, 引脚间隔与底板插孔间隔相同,插入时用 力要轻,不要一下子插紧,待确定管脚和 插孔位置一致后,再稍用力插牢,以防IC 器件管脚弯曲或折断。
二、电路测试及其故障排除 1、数字电路测试 数字电路测试大体上分为静态测试和动态 测试两部分。静态测试是给定数字电路若 干组静态输入值,测试数字电路的输出值 是否正确。数字电路线路接好以后,把线 路的输入接电平开关输出,线路的输出接 电平指示灯,按功能表或状态表的要求, 改变输入状态,观察输入和输出之间的关 系是否符合设计要求。
四、实验内容 1、观察示波器机内较准信号频率为1KHZ, 3V的脉冲信号波形,使示波器屏幕上显示 波形,求出幅度V,脉冲宽度Tw,周期T, 用坐标纸画出波形并记录数据。 2、观察数字电路实验箱内脉冲源发出频率 为10KHZ,5V的脉冲信号波形,求幅度V, 周期T,脉冲宽度Tw, 用坐标纸画出波形并 记录数据。 3、用示波器测量数字电路实验箱的电压值 5V,用坐标纸画出波形并注明幅度。
数字IC器件有多种封装方式,为了教学方 便,在实验中所用的74系列器件封装选用 双列直插器件(DIP)。 图1.1 双列直插式封装图
双列直插封装有以下特点: (1)从左面看,器件一端有一个半圆的缺口,这是正方 向的标志。缺口下边的引脚号为1,引脚号按逆时针方向 增加,图中的数字表示引脚号。双列直插封装IC引脚个数 有14、16、20、24和28等。 (2)双列直插封装器件有两列引脚。引脚之间的间距为 2.54mm,两列引脚之间距离有宽(15.24mm)、窄 (7.62mm)两种。两列引脚之间的距离能够做较小改变, 但引脚间距不能改变。将器件插入实验台上的插座中去或 者从插座中拔出时要小心,不要将器件引脚搞弯或折断。 (3)74系列器件一般在右下角的最后一个引脚是GND, 左上角的引脚Vcc。例如,14引脚器件引脚7是GND,引 脚14是Vcc;20引脚器件引脚10是GND,引脚20是Vcc。 但也有例外的,所以使用IC时要先看清引脚图,找对电源 和地,避免因接线错误造成器件损坏。
(3)布线要求 A.布线长度不宜太长,最好贴近底板; B.避免导线相互交叉,更不要覆盖插孔, 切忌导线跨越器件的上空; C.一个插孔只能插一根导线,不允许插两 根导线; D.正确布线的底板应使电路清晰、整洁, 这样不仅会提高电路的可靠性,也便于检 查和排除故障、更换器件等;
E.在接实验电路之前,要对所有器件进行 功能验证,确保所有器件都是有效的,这 一步对实验的顺利进行至关重要,不可忽 略; F.对于大型实验,使用器件较多,这时可 以把实验分为若干独立的部分,逐一布线、 调试,最后再连接起来调试运行; G.为防止干扰,每用6个集成器件,电源 线要加接一个1~10F的旁路电容通地。
(4)测试方法不正确 若不发生前三者错误,实验一般会成功。 但测试方法不正确也会引起观察错误。例 如,一个稳定的波形,用示波器观察,而 示波器没有同步,则造成波形不稳的假象。 因此要学会正确使用仪器、仪表,尤其是 示波器的应用。 在完成布线后,对所有的连线复查一遍是 有益的。简单检查电源和地是否接好,输 入能否加到实验电路上,输出能否显示等。 当实验中发现结果与预期不一致时,应仔 细观察现象,冷静思考问题所在。
8个二-十进制七段译码显示器,其中6段 用8421输入,另外2个由abcdefg段输入; 2种脉冲信号发生器,用来产生1、2Hz、 4Hz等固定脉冲和用来产生1KHz~ 10KHz、1KHz~100KHz、1KHz~ 1MHz的可调脉冲信号; 4种单脉冲,由按钮开关控制,从P+和P输出;若干阻容元件,以供使用。 提供固定电压+5、+12、-12和接地点。
注意点:
1.不能带电拔、插器件,拔、插器件只能 在关断电源的情况下进行。
2. 注意集成电路的方向,不能插错.
3. 74系列供电电压5V,不能超过.
1.2 数字实验
随着集成电路的广泛应用,一般采用的实 验方案使用接插式通用底板和双列直插式 集成元件,通过接插的方式进行实验。
1.2.1 实验准备 实践证明,实验前的准备工作做得是否 充分,对实验能否顺利完成以及能否从实 验中有所收获有很大影响。为了体现准备 工作是否充分,一般要求实验前书写实验 预习报告。预习报告不同于正式报告,没 有规定的书写格式和要求,只要自己看得 懂就行了。要求尽可能简洁、思路清楚、 一目了然,内容以实验电路图(实验电路 图就是在逻辑图的输入输出端注上器件的 管脚排列序号)为主,附以简要的文字说 明和记录结果数据的图表。
表1.1 与非门真值表
A 0
输入
B 0
输出011011
实验板(面包板)
实验二 门电路逻辑功能与转换
一、实验目的 1、掌握门电路逻辑功能及测试方法。 2、掌握采用与非门组成其他逻辑门电路的 方法。
二、实验仪器 1、YB4325型双踪示波器 2、YB3262型数字实验箱 3、器件: 74LS00 2输入端四与非门 74LS86 2输入端四异或门