光学制图标准(GB13323-91)

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光学仪器标准精选(最新)

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l1239.1-2005手术显微镜第1部分:要求和试验方法》G12085.1《GB/T12085.1-2010光学和光学仪器环境试验方法第1部分:术语、试验范围》G12085.2《GB/T12085.2-2010光学和光学仪器环境试验方法第2部分:低温、高温、湿热》G12085.3《GB/T12085.3-2010光学和光学仪器环境试验方法第3部分:机械作用力》G12085.4《GB/T12085.4-2010光学和光学仪器环境试验方法第4部分:盐雾》G12085.5《GB/T12085.5-2010光学和光学仪器环境试验方法第5部分:低温、低气压综合试验》G12085.6《GB/T12085.6-2010光学和光学仪器环境试验方法第6部分:砂尘》G12085.7《GB/T12085.7-2010光学和光学仪器环境试验方法第7部分:滴水、淋雨》G12085.8《GB/T12085.8-2010光学和光学仪器环境试验方法第8部分:高压、低压、浸没》G12085.9《GB/T12085.9-2010光学和光学仪器环境试验方法第9部分:太阳辐射》G12085.10《GB/T12085.10-2010光学和光学仪器环境试验方法第10部分:振动(正弦)与高温、低温综合试验》G12085.11《GB/T12085.11-2010光学和光学仪器环境试验方法第11部分:长霉》G12085.12《GB/T12085.12-2010光学和光学仪器环境试验方法第12部分:污染》G12085.13《GB/T12085.13-2010光学和光学仪器环境试验方法第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验》G12085.14《GB/T12085.14-2010光学和光学仪器环境试验方法第14部分:露、霜、冰》G12085.15《GB/T12085.15-2010光学和光学仪器环境试验方法第15部分:宽带随机振动(数字控制)与高温、低温综合试验》G12085.16《GB/T12085.16-2010光学和光学仪器环境试验方法第16部分:弹跳或恒加速度与高温、低温综合试验》G13323《GB/T13323-2009光学制图》G13742《GB/T13742-2009光学传递函数测量准确度》G13962《GB/T13962-2009光学仪器术语》G15488《GB/T15488-2010滤光玻璃》G15489.6《GB/T15489.6-2010滤光玻璃测试方法第6部分:荧光特性》G16492《GB/T16492-1996光学和光学仪器环境要求》G16863《GB/T16863-1997晶体折射率的试验方法》G16864《GB/T16864-1997低温下晶体透射率的试验方法》G17117《GB/T17117-1997棱镜式双目望远镜》G17118《GB/T17118-1997伽利略式双目望远镜》G17341《GB17341-1998光学和光学仪器:焦度计》G18312《G18312-2001双目望远镜检验规则》G19863《GB/T19863-2005体视显微镜试验方法》G19864.1《GB/T19864.1-2005体视显微镜第1部分普及型体视显微镜》G19864.2《GB/T19864.2-2005体视显微镜第2部分高性能体视显微镜》G20732《GB/T20732-2006纤维直径光学分析仪》G22055.1《GB/T22055.1-2008显微镜物镜螺纹:RMS型物镜螺纹(4/5in×1/36in)》G22055.2《GB/T22055.2-2008显微镜物镜螺纹:M25×0.75mm型物镜螺纹》G22056《GB/T22056-2008显微镜物镜和目镜的标志》G22057.1《GB/T22057.1-2008显微镜相对机械参考平面的成像距离:筒长160mm》G22057.2《GB/T22057.2-2008显微镜相对机械参考平面的成像距离:无限远校正光学系统》G22058《GB/T22058-2008显微镜体视显微镜的标志》G22059《GB/T22059-2008显微镜放大率》G22060《GB/T22060-2008显微镜镜筒滑块和镜筒槽的连接尺寸》G22061《GB/T22061-2008显微镜偏光显微术的参考系统》G22062《GB/T22062-2008显微镜目镜分划板》G22063《GB/T22063-2008显微镜C型接口》G22064《GB/T22064-2008显微镜35mm单反照相机镜头的接口》G22132《GB/T22132-2008显微镜可换目镜的直径》G24665《GB/T24665-2009偏光显微镜》G26331《GB/T26331-2010光学薄膜元件环境适应性试验方法》G26332.1《GB/T26332.1-2010光学和光学仪器光学薄膜第1部分:定义》G26596《GB/T26596-2011光学和光学仪器大地测量仪器术语》G26598《GB/T26598-2011光学仪器用透明导电薄膜规范》G26600《GB/T26600-2011显微镜光学显微术用浸液》G26601《GB/T26601-2011显微镜光谱滤光片》G27581《GB/T27581-2011电磁屏蔽膜化学镀铜溶液镍离子和铜离子含量测定方法》G27582《GB/T27582-2011光学功能薄膜等离子电视用电磁波屏蔽膜屏蔽效能测定方法》G27583《GB/T27583-2011光学功能薄膜反射眩光性能测试方法》G27584《GB/T27584-2011光学功能薄膜聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜受热后尺寸变化测定方法》G27663《GB/T27663-2011全站仪》GJ369A《GJB369A-1998军用光学仪器通用规范》GJ587A《GJB587A-2005光学仪器用非硫化硅橡胶密封腻子规范》GJ3288《GJB3288-1998军用光学仪器试验方法》GJ5250《GJB5250-2004动态目标光学特性测量通用要求》GJ5251《GJB5251-2004静态目标光学特性测量通用要求》GJ5463《GJB/J5463-2005K光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程》GJ5477《GJB5477-2005K微光夜视眼镜通用规范》GJ5490《GJB5490-2005K军用光纤瞄准镜通用规范》GJ5695《GJB5695-2006Z微光夜视观察镜通用规范》GJ5892K《GJB5892-2006K红外辐射率测量方法》WJ648《WJ648-1995光学仪器用有色合金压铸件规范》WJ649《WJ649-1995光学仪器用熔摩铸件规范》WJ650《WJ650-1995光学仪器用有色合金砂型铸件规范》WJ651《WJ651-1995光学仪器用有色合金金属型铸件规范》WJ741(合)《WJ741~751-1994光学仪器用胶试验方法》WJ741-1994光学仪器用胶清洁度试验方法WJ742-1994光学仪器用胶透过率试验方法WJ743-1994光学仪器用胶应力试验方法WJ744-1994光学仪器用胶拉伸强度试验方法WJ745-1994光学仪器用胶压缩剪切强度试验方法WJ746-1994光学仪器用胶冲击试验方法WJ747-1994光学仪器用胶高温试验方法WJ748-1994光学仪器用胶低温试验方法WJ749-1994光学仪器用胶浸水、低温、高温高湿试验方法WJ750-1994光学仪器用胶收缩率试验方法WJ751-1994光学仪器用胶耐溶剂试验方法WJ1065《WJ1065-2007光学测试仪器物镜系列》WJ1066《WJ1066-2007光学测试仪器目镜系列》WJ1068《WJ1068-2004平行光管系列》WJ1069《WJ1069-2004前置镜系列》WJ2694《WJ2694-2008光学仪器浸透处理铸件规范》J5450《JB/T5450-2007光学仪器用短牙螺纹》J5479《JB/T5479-1999荧光生物显微镜》J6178《JB/T6178-1992焦距仪》J6179《JB/T6179-1992光学零件镀膜分类符号及标注》J8226《JB/T8226.1~8-1999光学零件镀膜》J8231《JB/T8231-1999平面光栅摄谱仪基本参数系列》J8238《JB/T8238-1999光学仪器用齿纹》J8240《JB/T8240-1999光学仪器用目镜螺纹》J9311《JB/T9311-1999光学仪器产品型号命名方法》J9312《JB/T9312-1999光学零件包装》J9314《JB/T9314-1999大地测量仪器的包装》J9315《JB/T9315-1999大地测量仪器水准标尺》J9316《JB/T9316-1999大地测量仪器强制中心机构配合尺寸》J9318《JB/T9318-1999大地测量仪器目视读数的度盘分划》J9325《JB/T9325-1999分光光度计系列及其基本参数》J9333《JB/T9333-1999显微镜光学显微术通用浸油》J9334《JB/T9334-1999显微镜光谱滤光片基本规格》J9336《JB/T9336-1999大地测量仪器分划板》J9339《JB/T9339-1999测量显微镜》J9343《JB/T9346-1999测角仪(分光计)基本参数》》J9348.1《JB/T9348.1-1999光学仪器防霉、防雾、防锈试验方法》J9348.2《JB/T9348.2-1999光学仪器防霉、防雾、防锈技术要求》J9485《JB/T9485-2010光学加工机床型号编制方法》J9495.1《JB/T9495.1-1999光学晶体》J9495.4《JB/T9495.4-1999光学晶体应力双折射测量方法》J9495.6《JB/T9495.6-1999光学晶体光吸收系数测量方法》J9495.7《JB/T9495.7-1999光学晶体光学均匀性测量方法》J10077《JB/T10077-1999金相显微镜》J10556《JB/T10556-2006纤维直径光学分析仪》J10677《JB/T10677-2006投影机光源》SJ20830《SJ20830-2002铂硅红外焦平面探测器杜瓦组件通用规范》SJ20831《SJ20831-20024N红外焦平面探测器杜瓦组件参数测试方法》SJ20873《SJ20873-2003倾斜仪、水平仪通用规范》SJ20873/1《SJ20873/1-2003CW-14型高精度水平仪详细规范》Q2506《QB/T2506-2001光学树脂眼镜片》Y0065《YY0065-2007眼科仪器裂隙灯显微镜》Y0067《YY0067-2007微循环显微镜》JJG56《JJG56-2000工具显微镜》JJG77《JJG77-2006干涉显微镜》JJG191《JJG191-2002水平仪检定器》JJG211《JJG211-2005亮度计》JJG212《JJG212-2003色温表》JJG213《JJG213-2003分布(颜色)温度标准灯》JJG245《JJG245-2005光照度计》JJG246《JJG246-2005发光强度标准灯》JJG383《JJG383-2002光谱辐射亮度标准灯》JJG384《JJG384-2002光谱辐射照度标准灯》JJG414《JJG414-2003光学经纬仪》JJG425《JJG425-2003水准仪》JJG452《JJG452-2006黑白密度片》JJG453《JJG453-2002标准色板》JJG512《JJG512-2002白度计》JJG536《JJG536-1998旋光仪及旋光糖量计》JJG571《JJG571-2004读数、测量显微镜》JJG580《JJG580-2005焦度计》JJG595《JJG595-2002测色色差计》JJG625《JJG625-2001阿贝折射仪》JJG696《JJG696-2002镜向光泽度计和光择度板》JJG703《JJG703-2003光电测距仪》JJG754《JJG754-2005光学传递函数测量装置》JJG827《JJG827-1993分辨力板》JJG863《JJG863-2005V棱镜折射仪》JJG864《JJG864-1994旋光标准石英管》JJG866《JJG866-1994顶焦度标准镜片》JJG867《JJG867-1994光谱测色仪》JJG879《JJG879-2002紫外辐射照度计》JJG892《JJG892-2005验光机》JJG904《JJG904-1996读数显微镜》JJG920《JJG920-1996漫透射视觉密度计》JJG949《JJG949-2011经纬仪检定装置》JJG955《JJG955-2000光谱分析用测微密度计》JJG960《JJG960-2001水准仪检定装置》JJG976《JJG976-2010透射式烟度计检定规程》JJG981《JJG981-2003阿贝折射仪标准块》JJG1034《JJG1034-2008光谱光度计标准滤光器》JJG1064《JJG1064-2000坐标测量机校准规范》JJG2029《JJG2029-2006色度计量器具检定系统表》JJG2090《JJG2090-1994顶焦度计量器具》JJF1032《JJF1032-2005光学辐射计量名词及其定义》JJF1077《JJF1077-2002测微准直望远镜校准规范》JJF1078《JJF1078-2002光学测角比较仪》JJF1081《JJF1081-2002垂准仪校准规范》JJF1082《JJF1082-2002平板仪校准规范》JJF1092《JJF1092-2002光切显微镜校准规范》JJF1093《JJF1093-2002投影仪校准规范》JJF1150《JJF1150-2006光电探测器相对光谱响应度校准规范》JJF1302《JJF1302-2011光学经纬仪型式评价大纲》JJF1313《JJF1313-2011手持式测距仪型式评价大纲》JJF1322《JJF1322-2011水准仪型式评价大纲》JJF1323《JJF1323-2011电子经纬仪型式评价大纲》JJF1324《JJF1324-2011脉冲激光测距仪校准规范》JJF1402《JJF1402-2013生物显微镜校准规范》JJF2032《JJF2032-2005光照度计量器具》JJF2034《JJF2034-2005发光强度计量器具》JJF2069《JJF2069-2005镜向光泽度计量器具》JJF2083《JJF2083-2005光谱辐射亮度、光谱辐射照度计量器具》。

光学外观标准

光学外观标准

50/2*0.1; 2表示膜层允许有2个表面瑕疵等级数为0.1的缺陷
0.1表示表面质量瑕疵等级级数
G表示膜层灰斑瑕疵的符号
G2*0.25; 2表示膜层瑕疵允许的个数
0.25表示膜层瑕疵的等级级数
C表示膜层色斑瑕疵的符号
C2*0.25 2表示膜层瑕疵允许的个数
0.25表示膜层瑕疵的等级级数
表示镜片表面允许有2个宽度为 0.004mm划伤,长度不限.可用等面积 折算成小划痕,保证总面积不变.
光学零件外观标准总结
1 ISO 10110外观标准解读
1.1 ISO 10110标准中外观要求示例:
例:5/2*0.1;C2*1.6;L1*0.01;E0.3
5/表示表面质量瑕疵的符号
5/2*0.1;
2表示外观允许有2个表面瑕疵等级数为0.1的缺陷
表示镜片表面最大允许有2个瑕疵 等级为0.1的缺陷
4
2.5
1.6
1
6/12
2 DIN 3140外观标准解读
2.1 德国标准DIN3140中外观标准解读
例:5/2*0.1;K2*0.004;R0.1 50/2*0.1;G2*0.25;C2*0.25
5/表示非镀膜表面质量瑕疵要求的符号 5/2*0.1; 2表示外观允许有2个表面瑕疵等级数为0.1的缺陷
透过反射可以看见的东西如果轮廓清晰可见的话ng其他参照限度样本纹理歪斜材料不良透过目视可见不可其他参照限度样本此外针对没有包含在以上各项目中的不足点或者是判断不明的东西在协议的基础上放置限度样品来自顾客对合格品德承认是由必要的对于企业标准请按所述要求判定不建议根据等面积法做转化因为其中由最大尺寸限制故转化后不能满足原标准要求
要求检测它的散射。 以上要求均针对通光区域,通光区域之外表面质量应为80-50,除非另有要求。

国家教委关于发布《光具盘》等19个行业标准的通知-教备[1991]95号

国家教委关于发布《光具盘》等19个行业标准的通知-教备[1991]95号

国家教委关于发布《光具盘》等19个行业标准的通知
正文:
---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 国家教委关于发布《光具盘》等19个行业标准的通知
(教备[1991]95号1991年11月28日)
《光具盘》等19个行业标准,经全国教学仪器标准化技术委员会审核通过,现予以发布,其编号和名称如下:
JY0033—91光具盘;JY0307—91长方体棱长与表面积演示器;JY0308—91小学几何形体模型技术条件;JY0309—91梯形坝与水渠模型;JY0310—91白光的色散与合成演示器技术条件;JY0311—91河蚌解剖模型技术条件;JY0312—91牛胃解剖模型技术条件;JY0313—91始祖鸟化石及复原模型技术条件;JY0314—91蚯蚓解剖模型技术条件;JY0315—91皮肤结构模型技术条件;JY0316—91淋巴结放大模型;JY0317—91细胞膜结构放大模型技术条件;JY0318—91脊椎骨放大模型;JY0319—91肾、肾单位、肾小体放大模型技术条件;JY0320—91菜粉蝶生活史标本技术条件;JY0321—91内耳模型技术条件;JY0322—91脊髓与椎骨部分模型技术条件;JY0323—91肝、胰、十二指肠模型技术条件;JY0324—91脑干模型技术条件。

上述行业标准自1992年5月1日起实施。

原国家教委标准(部标)JY33——79光具盘同时停止执行。

附件:《光具盘》等19个行业标准(略)——结束——。

第1章国家标准和技术制图的有关规定

第1章国家标准和技术制图的有关规定

尺寸线成为轮廓线的延长线
尺寸线成为中心线的延长线
尺寸线与中心线重合 尺寸线与轮廓线重合
(1) 尺寸线不能用其它图线代替,一般也不得与其它图线重合或画在其延长线上。 (2) 标注线性尺寸时,尺寸线必须与所标注的线段平行。
5. 同一张图上,数字及箭头的大小应保持一致
数字与箭头太小
数字与箭头太大
数字要采用标准字体,且书写工整,不得潦草。在同一张 图上,数字及箭头的大小应保持一致。
二、 分规的用法
用分规连续截取等长线段
返回
绘图工具和仪器的使用方法
三、 圆规的用法
圆规的用法
返回
绘图工具和仪器的使用方法
四、 曲线板的用法
曲线板的用法
返回
绘图工具和仪器的使用方法
五、 比例尺的用法
比例尺
返回
绘图工具和仪器的使用方法
六、 铅笔的削法
铅笔的削法
返回
第三节
几何作图
1、等分已知线段 2、等分两已知平行直线间的距离
汉字书写的要点在于横平竖直,注意起落,结构均匀, 填满方格。
(2)字母、数字书写示例
五、尺寸注法
(一) 基本规定
(二) 尺寸的组成
(三) 尺寸标注示例
(一) 基本规定
25 100 25 25
55
55
25 40
不以mm为单位 需注出单位符号
40
10cm
1. 机件的真实大小应以图上所注尺寸数值为依据,与图形的大小及绘图的准确度无关。 2. 图样中所标注的尺寸,为该图样所示机件的最后完工尺寸,否则应另加说明。 3. 机件的每一尺寸,一般只标注一次,并应标注在反映该结构最清晰的图形上。 4. 图样中的尺寸,以mm为单位时,不需标注计量单位的代号或名称,如采用其它单位, 则必须注明相应的计量单位的代号或名称。

2019新制图标准

2019新制图标准

23.04.2021
制图新标准宣贯培训
12
一、概论----目前制造业标准的颁布概况
11 图形符号 11.1 GB/T 16900-2008 图形符号表示规则 总则 11.2 GB/T 1182-2008 产品几何技术规范(GPS)几何公差 形状、方向、位置和跳动公差标注 11.3 GB/T 17773-1999 形状和位置公差 延伸公差带及其表示法 11.4 GB/T 131-2006 产品几何技术规范(GPS) 技术产品文件中表面结构的表示法 11.5 GB/T 4460-1984 机械制图 机构运动简图符号 11.6 GB/T 324-2008 焊缝符号表示法 11.7 GB/T 5185-2005 焊接及相关工艺方法代号
机械制图适用于手工制图,也适用于计算机
绘图,而CAD制图只适用于计算机制图。
机械制图可独立存在,而CAD制图要依赖机
械制图相关内容才能成为体系。
23.04.2021
制图新标准宣贯培训
7
一、概论----目前制造业标准的颁布概况
2、目前制造业标准的颁布概况
与制造业有关的技术产品文件标准可分为4个部分:技 术制图篇、机械制图篇、CAD制图篇、CAD文件管理篇。
2 投影法 2.1 GB/T 16948-1997 技术制图 投影法术语 2.2 GB/T 14692-2008 技术制图 投影法
3 通用规定 3.1 GB/T 10609.1-2008 技术制图 标题栏 3.2 GB/T 10609.2-1989 技术制图 明细栏 3.3 GB/T 10609.3-1989 技术制图 复制图的折叠方法 3.4 GB/T 10609.4-1989 技术制图 缩微复制原件的要求
12 特殊画法 12.1 GB/T 4459.6-1996 机械制图 动密封圈表示法 12.2 GB/T 4459.7-1996 机械制图 滚动轴承表示法 12.3 GB/T 4656-2008 技术制图 棒料、型材及其断面的简化表示法

06版GBT131表面结构要求标注方法新标准

06版GBT131表面结构要求标注方法新标准

新手上路]06版GB/T131表面结构要求标注方法新标准《现代模具》2008年1月刊来源:《现代模具》时间:2008-2-25 16:07:21表面结构要求包括粗糙度、波纹度、原始轮廓等参数。

其表示方法的标准是模具设计不可缺少的常用标准。

作为规定表面结构标注方法重要基础性国家标准的GB/T131-1993《机械制图、表面粗糙度符号、代号及其标注》国家标准于2006年被修订为GB/T131-2006《产品几何技术规范(GPS)技术产品文件中表面结构的表示法》。

新版标准采用ISO 1302:2002《产品几何技术规范(GPS)技术产品文件中表面结构的表示法》(英文版),共有11章及10个附录,分别对技术产品文件中表面结构的表示方法作出了规定,适用于所有产品对表面结构有要求的标注。

与原1993年版旧标准相比,技术内容发生了很大变化。

因此,贯彻标准时需要加以注意。

1注意表面结构表示法所属标准化领域的变化本次修订,将表面结构表示法从机械制图领域划归为产品几何技术规范领域。

因此,标准名称由原来的《机械制图、表面粗糙度符号、代号及其标注》修改为《产品几何技术规范(GPS)技术产品文件中表面结构的表示法》。

将表面结构表示法所属标准化领域加以捋顺,有利于标准之间的相互协调。

2注意表面结构符号分类的变化新版标准对表面结构图形符号的规定没有变化,但对表面结构图形符号的分类作了调整。

1993年版对表面结构表示有粗糙度符号和粗糙度代号之称。

其中,表示粗糙度的图形称为粗糙度符号;而粗糙度的符号和数字则统称为粗糙度代号。

而新标准则一律称为表面结构的图形符号。

此外,新标准还对表面结构的图形符号进一步做了分类。

分为基本图形符号、扩展图形符号、完整图形符号三种,并分别给出了各自的定义。

其中,基本图形符号即1993版中所称的基本符号。

新标准将原来的表示表面可以用任何方法获得的符号称为基本图形符号,将原来的表示表面可以用去除材料的方法获得粗糙度的符号以及不允许用去除材料的方法获得表面粗糙度的符号统称为扩展图形符号。

第6章 光学零件通用技术要求(2)

第6章 光学零件通用技术要求(2)

D0
技术要求:
0.4 0 1.5 0 0.5 D01= 26, D02= 37×26
0.3
1. 2. 3.
GB 1316/1.1,λ0=520nm。 GB 1316/1.1,λ0=520nm。
面涂黑漆
西安工业大学
作业:
n
1. 用样板检验球面光学零件时,若被 检表面的公称曲率半径为R,检验所用的 光波波长为λ ,检验得到的光圈数为N, 被检光圈范围的直径为D,试推导零件表 面曲率半径偏差与光圈数的关系。
第六章 光学零件通用技术要求
徐均琪 西安工业大学
对材料的要求 其余
nd vd
光学均匀性 光吸收系数 应力双折射 条纹度 气泡度 对零件的要求 N
N R
±
×45°
±
×45°
3C 3C 3 3 4 1C 2D
3 0.5 A 1 3×0.063
χ B θⅠ
θⅡ d f Lf Lf 倒二面角 倒三面角 D0
六、表面疵病
n
n
n
表面疵病主要是标注擦痕、麻点及破边 一般标注是对其允许的个数和最大面积 (mm2) 做出限制,标志为 B/G×J G代表允许的表面疵病数目; J代表表面疵病的面积。 比如B/3×0.25;C2×0.01;P 0.5
七、抗激光破坏阈值
n
n n
抗激光破坏阈值,一般是指镀膜后光学 零件(或玻璃元件)受到激光辐射后, 导致表面破坏概率为零的最大能量密度 或功率密度 。 脉冲激光 连续激光
除了光圈、局部光圈、样板精度等级、粗糙度、表面疵病和气泡度外,对棱 镜还有其他要求。
对棱镜的要求
• • • • •
ΔR N ΔN B q
对棱镜的其他要求

光学仪器标准精选(最新)

光学仪器标准精选(最新)

光学仪器标准精选(最新)G1146《GB/T1146-2009水准泡》G1185《GB/T1185-2006光学零件表面疵病》G1224《GB/T1224-1999几何光学术语符号》G2609《GB/T2609-2006显微镜物镜》G2831《GB/T2831-2009光学零件的面形偏差》G2985《GB/T2985-2008生物显微镜》G3161《GB/T3161-2003光学经纬仪》G4315.1《GB/T4315.1-2009光学传递函数第1部分:术语、符号》G4315.2《GB/T4315.2-2009光学传递函数第2部分:测量导则》G5702《GB/T5702-2003光源显色性评价方法》G7242《GB/T7242-2010透镜中心偏差》G7661《GB/T7661-2009光学零件气泡度》G7895《GB/T7895-2008人造光学石英晶体》G7896《GB/T7896-2008人造光学石英晶体试验方法》G9246《GB/T9246-2008显微镜目镜》G9247《GB/T9247-2008显微镜聚光镜》G9917.1《GB/T9917.1-2002照相镜头第1部分:变焦距镜头》G10050《GB/T10050-2009光学和光学仪器参考波长》G10156《GB/T10156-2009水准仪》G10810.1《GB10810.1-2005眼镜片第一部分:单光和多焦点镜片》G10810.2《GB10810.2-2006眼镜镜片第2部分:渐变焦镜片》G10810.3《GB10810.3-2006眼镜镜片及相关眼镜产品透射比规范及测量方法》G10987《GB/T10987-2009光学系统参数的测定》G10988《GB/T10988-2009光学系统杂(散)光测量方法》G11162《GB/T11162-2009光学分划零件通用技术条件》G11168《GB/T11168-2009光学系统像质测试方法》G11239.1《GB l1239.1-2005手术显微镜第1部分:要求和试验方法》G12085.1《GB/T12085.1-2010光学和光学仪器环境试验方法第1部分:术语、试验范围》G12085.2《GB/T12085.2-2010光学和光学仪器环境试验方法第2部分:低温、高温、湿热》G12085.3《GB/T12085.3-2010光学和光学仪器环境试验方法第3部分:机械作用力》G12085.4《GB/T12085.4-2010光学和光学仪器环境试验方法第4部分:盐雾》G12085.5《GB/T12085.5-2010光学和光学仪器环境试验方法第5部分:低温、低气压综合试验》G12085.6《GB/T12085.6-2010光学和光学仪器环境试验方法第6部分:砂尘》G12085.7《GB/T12085.7-2010光学和光学仪器环境试验方法第7部分:滴水、淋雨》G12085.8《GB/T12085.8-2010光学和光学仪器环境试验方法第8部分:高压、低压、浸没》G12085.9《GB/T12085.9-2010光学和光学仪器环境试验方法第9部分:太阳辐射》G12085.10《GB/T12085.10-2010光学和光学仪器环境试验方法第10部分:振动(正弦)与高温、低温综合试验》G12085.11《GB/T12085.11-2010光学和光学仪器环境试验方法第11部分:长霉》G12085.12《GB/T12085.12-2010光学和光学仪器环境试验方法第12部分:污染》G12085.13《GB/T12085.13-2010光学和光学仪器环境试验方法第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验》G12085.14《GB/T12085.14-2010光学和光学仪器环境试验方法第14部分:露、霜、冰》G12085.15《GB/T12085.15-2010光学和光学仪器环境试验方法第15部分:宽带随机振动(数字控制)与高温、低温综合试验》G12085.16《GB/T12085.16-2010光学和光学仪器环境试验方法第16部分:弹跳或恒加速度与高温、低温综合试验》G13323《GB/T13323-2009光学制图》G13742《GB/T13742-2009光学传递函数测量准确度》G13962《GB/T13962-2009光学仪器术语》G15488《GB/T15488-2010滤光玻璃》G15489.6《GB/T15489.6-2010滤光玻璃测试方法第6部分:荧光特性》G16492《GB/T16492-1996光学和光学仪器环境要求》G16863《GB/T16863-1997晶体折射率的试验方法》G16864《GB/T16864-1997低温下晶体透射率的试验方法》G17117《GB/T17117-1997棱镜式双目望远镜》G17118《GB/T17118-1997伽利略式双目望远镜》G17341《GB17341-1998光学和光学仪器:焦度计》G18312《G18312-2001双目望远镜检验规则》G19863《GB/T19863-2005体视显微镜试验方法》G19864.1《GB/T19864.1-2005体视显微镜第1部分普及型体视显微镜》G19864.2《GB/T19864.2-2005体视显微镜第2部分高性能体视显微镜》G20732《GB/T20732-2006纤维直径光学分析仪》G22055.1《GB/T22055.1-2008显微镜物镜螺纹:RMS型物镜螺纹(4/5in×1/36in)》G22055.2《GB/T22055.2-2008显微镜物镜螺纹:M25×0.75mm型物镜螺纹》G22056《GB/T22056-2008显微镜物镜和目镜的标志》G22057.1《GB/T22057.1-2008显微镜相对机械参考平面的成像距离:筒长160mm》G22057.2《GB/T22057.2-2008显微镜相对机械参考平面的成像距离:无限远校正光学系统》G22058《GB/T22058-2008显微镜体视显微镜的标志》G22059《GB/T22059-2008显微镜放大率》G22060《GB/T22060-2008显微镜镜筒滑块和镜筒槽的连接尺寸》G22061《GB/T22061-2008显微镜偏光显微术的参考系统》G22062《GB/T22062-2008显微镜目镜分划板》G22063《GB/T22063-2008显微镜C型接口》G22064《GB/T22064-2008显微镜35mm单反照相机镜头的接口》G22132《GB/T22132-2008显微镜可换目镜的直径》G24665《GB/T24665-2009偏光显微镜》G26331《GB/T26331-2010光学薄膜元件环境适应性试验方法》G26332.1《GB/T26332.1-2010光学和光学仪器光学薄膜第1部分:定义》G26596《GB/T26596-2011光学和光学仪器大地测量仪器术语》G26598《GB/T26598-2011光学仪器用透明导电薄膜规范》G26600《GB/T26600-2011显微镜光学显微术用浸液》G26601《GB/T26601-2011显微镜光谱滤光片》G27581《GB/T27581-2011电磁屏蔽膜化学镀铜溶液镍离子和铜离子含量测定方法》G27582《GB/T27582-2011光学功能薄膜等离子电视用电磁波屏蔽膜屏蔽效能测定方法》G27583《GB/T27583-2011光学功能薄膜反射眩光性能测试方法》G27584《GB/T27584-2011光学功能薄膜聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜受热后尺寸变化测定方法》G27663《GB/T27663-2011全站仪》GJ369A《GJB369A-1998军用光学仪器通用规范》GJ587A《GJB587A-2005光学仪器用非硫化硅橡胶密封腻子规范》GJ3288《GJB3288-1998军用光学仪器试验方法》GJ5250《GJB5250-2004动态目标光学特性测量通用要求》GJ5251《GJB5251-2004静态目标光学特性测量通用要求》GJ5463《GJB/J5463-2005K光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程》GJ5477《GJB5477-2005K微光夜视眼镜通用规范》GJ5490《GJB5490-2005K军用光纤瞄准镜通用规范》GJ5695《GJB5695-2006Z微光夜视观察镜通用规范》GJ5892K《GJB5892-2006K红外辐射率测量方法》WJ648《WJ648-1995光学仪器用有色合金压铸件规范》WJ649《WJ649-1995光学仪器用熔摩铸件规范》WJ650《WJ650-1995光学仪器用有色合金砂型铸件规范》WJ651《WJ651-1995光学仪器用有色合金金属型铸件规范》WJ741(合)《WJ741~751-1994光学仪器用胶试验方法》WJ741-1994光学仪器用胶清洁度试验方法WJ742-1994光学仪器用胶透过率试验方法WJ743-1994光学仪器用胶应力试验方法WJ744-1994光学仪器用胶拉伸强度试验方法WJ745-1994光学仪器用胶压缩剪切强度试验方法WJ746-1994光学仪器用胶冲击试验方法WJ747-1994光学仪器用胶高温试验方法WJ748-1994光学仪器用胶低温试验方法WJ749-1994光学仪器用胶浸水、低温、高温高湿试验方法WJ750-1994光学仪器用胶收缩率试验方法WJ751-1994光学仪器用胶耐溶剂试验方法WJ1065《WJ1065-2007光学测试仪器物镜系列》WJ1066《WJ1066-2007光学测试仪器目镜系列》WJ1068《WJ1068-2004平行光管系列》WJ1069《WJ1069-2004前置镜系列》WJ2694《WJ2694-2008光学仪器浸透处理铸件规范》J5450《JB/T5450-2007光学仪器用短牙螺纹》J5479《JB/T5479-1999荧光生物显微镜》J6178《JB/T6178-1992焦距仪》J6179《JB/T6179-1992光学零件镀膜分类符号及标注》J8226《JB/T8226.1~8-1999光学零件镀膜》J8231《JB/T8231-1999平面光栅摄谱仪基本参数系列》J8238《JB/T8238-1999光学仪器用齿纹》J8240《JB/T8240-1999光学仪器用目镜螺纹》J9311《JB/T9311-1999光学仪器产品型号命名方法》J9312《JB/T9312-1999光学零件包装》J9314《JB/T9314-1999大地测量仪器的包装》J9315《JB/T9315-1999大地测量仪器水准标尺》J9316《JB/T9316-1999大地测量仪器强制中心机构配合尺寸》J9318《JB/T9318-1999大地测量仪器目视读数的度盘分划》J9325《JB/T9325-1999分光光度计系列及其基本参数》J9333《JB/T9333-1999显微镜光学显微术通用浸油》J9334《JB/T9334-1999显微镜光谱滤光片基本规格》J9336《JB/T9336-1999大地测量仪器分划板》J9339《JB/T9339-1999测量显微镜》J9343《JB/T9346-1999测角仪(分光计)基本参数》》J9348.1《JB/T9348.1-1999光学仪器防霉、防雾、防锈试验方法》J9348.2《JB/T9348.2-1999光学仪器防霉、防雾、防锈技术要求》J9485《JB/T9485-2010光学加工机床型号编制方法》J9495.1《JB/T9495.1-1999光学晶体》J9495.4《JB/T9495.4-1999光学晶体应力双折射测量方法》J9495.6《JB/T9495.6-1999光学晶体光吸收系数测量方法》J9495.7《JB/T9495.7-1999光学晶体光学均匀性测量方法》J10077《JB/T10077-1999金相显微镜》J10556《JB/T10556-2006纤维直径光学分析仪》J10677《JB/T10677-2006投影机光源》SJ20830《SJ20830-2002铂硅红外焦平面探测器杜瓦组件通用规范》SJ20831《SJ20831-20024N红外焦平面探测器杜瓦组件参数测试方法》SJ20873《SJ20873-2003倾斜仪、水平仪通用规范》SJ20873/1《SJ20873/1-2003CW-14型高精度水平仪详细规范》Q2506《QB/T2506-2001光学树脂眼镜片》Y0065《YY0065-2007眼科仪器裂隙灯显微镜》Y0067《YY0067-2007微循环显微镜》JJG56《JJG56-2000工具显微镜》JJG77《JJG77-2006干涉显微镜》JJG191《JJG191-2002水平仪检定器》JJG211《JJG211-2005亮度计》JJG212《JJG212-2003色温表》JJG213《JJG213-2003分布(颜色)温度标准灯》JJG245《JJG245-2005光照度计》JJG246《JJG246-2005发光强度标准灯》JJG383《JJG383-2002光谱辐射亮度标准灯》JJG384《JJG384-2002光谱辐射照度标准灯》JJG414《JJG414-2003光学经纬仪》JJG425《JJG425-2003水准仪》JJG452《JJG452-2006黑白密度片》JJG453《JJG453-2002标准色板》JJG512《JJG512-2002白度计》JJG536《JJG536-1998旋光仪及旋光糖量计》JJG571《JJG571-2004读数、测量显微镜》JJG580《JJG580-2005焦度计》JJG595《JJG595-2002测色色差计》JJG625《JJG625-2001阿贝折射仪》JJG696《JJG696-2002镜向光泽度计和光择度板》JJG703《JJG703-2003光电测距仪》JJG754《JJG754-2005光学传递函数测量装置》JJG827《JJG827-1993分辨力板》JJG863《JJG863-2005V棱镜折射仪》JJG864《JJG864-1994旋光标准石英管》JJG866《JJG866-1994顶焦度标准镜片》JJG867《JJG867-1994光谱测色仪》JJG879《JJG879-2002紫外辐射照度计》JJG892《JJG892-2005验光机》JJG904《JJG904-1996读数显微镜》JJG920《JJG920-1996漫透射视觉密度计》JJG949《JJG949-2011经纬仪检定装置》JJG955《JJG955-2000光谱分析用测微密度计》JJG960《JJG960-2001水准仪检定装置》JJG976《JJG976-2010透射式烟度计检定规程》JJG981《JJG981-2003阿贝折射仪标准块》JJG1034《JJG1034-2008光谱光度计标准滤光器》JJG1064《JJG1064-2000坐标测量机校准规范》JJG2029《JJG2029-2006色度计量器具检定系统表》JJG2090《JJG2090-1994顶焦度计量器具》JJF1032《JJF1032-2005光学辐射计量名词及其定义》JJF1077《JJF1077-2002测微准直望远镜校准规范》JJF1078《JJF1078-2002光学测角比较仪》JJF1081《JJF1081-2002垂准仪校准规范》JJF1082《JJF1082-2002平板仪校准规范》JJF1092《JJF1092-2002光切显微镜校准规范》JJF1093《JJF1093-2002投影仪校准规范》JJF1150《JJF1150-2006光电探测器相对光谱响应度校准规范》JJF1302《JJF1302-2011光学经纬仪型式评价大纲》JJF1313《JJF1313-2011手持式测距仪型式评价大纲》JJF1322《JJF1322-2011水准仪型式评价大纲》JJF1323《JJF1323-2011电子经纬仪型式评价大纲》JJF1324《JJF1324-2011脉冲激光测距仪校准规范》JJF1402《JJF1402-2013生物显微镜校准规范》JJF2032《JJF2032-2005光照度计量器具》JJF2034《JJF2034-2005发光强度计量器具》JJF2069《JJF2069-2005镜向光泽度计量器具》JJF2083《JJF2083-2005光谱辐射亮度、光谱辐射照度计量器具》。

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10.2 光学制图(GB13323-91)标准的主要内容
本节内容主要是介绍《光学制图》(GB13323-91)标准。

该标准规定了光学制图的一般规定,图纸类型及各种图纸类型的应用举例,它适用于在图纸上对光学零件、部件和系统绘制的技术要求。

10.2.1 一般规定
(1)除本标准规定外,光学图样的幅面、比例、字体、图线、剖面符号、图样画法、尺寸、尺寸公差与配合及表面粗糙度的注法等,应按GB4457~4460和GB131的规定执行,而倒角按GB1204的规定执行。

(2)在光学图样上光轴用细点划线,光轴中断线用双波浪线。

(3)在光学图样上,零件的有效孔径应在所列表格的“D0”栏内标明。

圆形注:“φ直径”,例“φ30”;方形注:“□10”;矩形注:“□长×宽”,例“□30×20”;椭圆形:
(4)光学零件表面上需要标明有特殊要求的范围,用细实线或涂色画出其范围,并予以说明(见图10-4标明有特殊要求范围的标注法)
(5)光学纤维件的剖面画法,见图10-5光学纤维的剖面。

图10-4 标明有特殊要求范围的标注法 图10-5 光学纤维的剖面
(6)光学晶体的剖面和光轴(C轴)的画法,见图10-6光学晶体的剖面和光轴。

(7)光源、光阑和镀膜等符合规定,见表10-6。

(8)标题栏和明细表分别参照GB10609.1和GB10609.2。

10.2.2 图样要求
1.1.光学系统图光学系统图光学系统图
(1)光学系统图的示例见图10-7。

一般按光路前进方向自左到右、自下而上缓制也可根据仪器工作位置绘制。

(2)光学系统图中零件或部件的序号应沿光路半时方向编排,置换使用的零件或部件序号应连续编排(见图10-7中序号4,5);重复出现的相同零件或部件均标注第一次编排的序号(图10-7中序号16),附件序号最后编排。

(3)光学系统图中应标注整个光学系统中的所有零件或部件的相对位置尺寸,必要时应标注公差。

(4)光学系统图中标注光阑、光瞳及狭缝的大小、位置和狭缝和方向。

(5)光学系统图中有分划元件(如分划板、度盘、标尺)在视场中成像时,可将像面上的视见情况绘出示意图,并注出“视见示意图”字样,此图的比例可不与整个图样一致,细节允许夸大(见图10-7)
(6)光学系统图上需要标注的光学结构参数及矢高,见表10-7(a)和表10-7(b)
(7)在光学系统图中可增绘光学系统轴测示意图,画法应符合GB4458.3的要求。

光学部件图
2.光学部件图
光学部件图的示例见图10-8、图10-9。

(1)应标注整个部件图中所有零件(零件和胶合件)之间的相对位置。

(2)胶合件图的右上角应列出“对胶合件的要求”专用表格(附图框粗实线外其余用细线),格式内容及尺寸按表10-8要求。

(3)胶合件图中必须标注技术要求。

3.光学零件图
光学零件图示例如图10-10、图10-11所示。

(1)光学零件图右上角应列出“对材料的要求”与“对零件的要求”的专用表格(除图框用粗实线外,其余用细实线),格式内容及尺寸按表10-9要求,示例见表10-10,表10-11。

(2)曲率半径过大时,其曲率允许夸大绘制,如图10-12中的R1028;透镜表
R。

面为平面时,应标注∞
(3)光学零件图上一般用图形和文字表明倒角要求见图10-13(a )、图10-13(b )。

若倒角尺寸在图形上小于2㎜,可不绘制倒角图形,只需在倒角处引出细实线,标注倒角尺寸见图10-13(c)或用文字说明。

不允许倒角的棱应用细实线引出,并注明“尖棱”字样见图10-13(d)。

(4)光学零件图上轴对称非球面,可用近似球面绘制,并注明“非球面”字样
在图样上,并应列出曲线方程式,见图10-14。

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