扫描器光学系统
扫描仪的工作原理
扫描仪的工作原理扫描仪是一种数字化设备，可将纸质文件、照片或其他实体物体转换为数字化形式。
其工作原理与复印机类似，但又有一定区别。
下面将详细介绍扫描仪的工作原理。
1.光学系统：扫描仪的光学系统是其最重要的组成部分，用于捕捉图像并将其转换为数字形式。
光学系统包括光源、镜头、传感器和滚筒。
-光源：扫描仪中常用的光源是冷阴极荧光灯，它能提供均匀而稳定的光线用于照亮待扫描物体。
当光源打开时，它将照亮整个扫描区域。
-镜头：镜头位于光源和传感器之间，其作用是聚焦光线，使其尽可能地汇聚到传感器上。
透镜通常使用高质量玻璃制成，以提供清晰的图像。
-传感器：传感器是扫描仪的核心部件，用于转换光信号为电信号。
常用的传感器有两种类型：CCD（电荷耦合器件）和CIS（连续感光式传感器）。
它们将图像分成多个像素，并将每个像素的光强度转换为数字信号。
-滚筒：滚筒是位于光源和传感器之间的旋转部件。
它通过逐行扫描的方式将整个图像转换为数字信号。
滚筒将光源发出的线性光束反射到传感器上，并逐渐在整个扫描区域移动。
2.信号处理：扫描仪将传感器采集到的电信号转换为数字信号，然后对其进行处理。
信号处理包括放大、去噪、增强对比度、调整亮度等操作，以提高图像的质量。
-放大：传感器输出的电信号通常比较弱，需要进行放大，以增加信号强度。
放大可以通过电子放大器来实现。
-去噪：扫描过程中可能会受到噪声的干扰，如背景灰尘、图像模糊等。
去噪操作可以通过滤波器来实现，滤除图像中的杂质，提高图像的清晰度。
-增强对比度：扫描仪可能需要通过调整图像的对比度来改善图像的可视度。
常用的对比度增强方法包括直方图均衡化和拉伸。
-调整亮度：扫描仪可以通过调整图像的亮度来改变其显示效果。
调整亮度可以通过增加或减少图像的亮度级别来实现。
3.数字化处理：信号处理后，扫描仪将图像转换为数字形式。
图像数据以二进制形式存储在计算机中，可以通过图像处理软件进行后续操作，如裁剪、旋转、缩放和保存为不同的图像文件格式等。
眼科光学相干断层扫描仪 原理
眼科光学相干断层扫描仪的基本原理眼科光学相干断层扫描仪（Optical Coherence Tomography，OCT）是一种非侵入性的成像技术，常用于眼科领域。
它利用光的干涉原理和计算机图像处理技术，能够产生高分辨率、高对比度的视网膜断层图像。
1. 光的干涉原理光的干涉是指两束或多束光波在空间中叠加形成干涉条纹的现象。
当两束或多束光波有相同频率、相同方向和相同偏振状态时，它们会发生干涉。
根据光的波动理论，当两束光波叠加时，它们的电场强度按照矢量叠加原理求和。
在OCT中，使用一束称为参考光束（Reference Beam）和一束称为探测光束（Sample Beam）进行干涉。
参考光束经过一个分束器（Beam Splitter）后分成两部分：一部分直接射向探测器（Detector），另一部分射向一个可移动的反射镜。
反射镜将参考光束反射回来与探测光束进行干涉。
干涉后的光信号被探测器接收并转换为电信号。
2. 光学相干断层扫描仪的基本结构光学相干断层扫描仪由以下几个主要部分组成：2.1 光源光源是OCT系统中产生光束的部分。
常用的光源有激光二极管（LD）或超连续激光（Superluminescent Diode，SLD）。
这些光源具有高亮度、窄带宽和长相干长度等优点。
2.2 共焦点透镜共焦点透镜用于调整参考光束和探测光束的焦距，使其在扫描区域内能够聚焦到同一点上。
共焦点透镜通常由两个球面透镜组成。
2.3 分束器分束器将参考光束和探测光束分开，并将它们引导到不同的路径上。
分束器通常采用半透明镜或波导等材料制成。
2.4 扫描系统扫描系统用于控制探测器的移动，以获取不同位置的光信号。
扫描系统通常由一个或多个反射镜和一个扫描镜组成。
反射镜用于改变光束的传播方向，扫描镜用于扫描光束在样本上的位置。
2.5 探测器探测器用于接收干涉后的光信号，并将其转换为电信号。
常用的探测器有光电二极管（Photodiode）和光电倍增管（Photomultiplier Tube，PMT）。
光学三维扫描仪原理
光学三维扫描仪原理
光学三维扫描仪是一种通过光学原理实现物体三维信息获取的设备。
其原理基于光学测量和图像处理技术，使用扫描仪内部的激光器发射一束光线照射到待测物体表面，然后通过一组镜头或光学系统对反射回来的光线进行捕捉和记录。
光学扫描仪通过改变光线的入射角度和位置，以及记录物体表面的反射光线信息，来获取物体表面的形状和纹理细节。
通过扫描仪的高速数据捕捉功能，能够准确地获取物体表面的坐标位置和颜色信息。
在光学扫描过程中，激光器发射的光束会在物体表面发生折射、反射和散射。
扫描仪会采集反射回来的光线，并通过镜头或光学系统将光线聚焦到光电探测器上。
光电探测器会将反射光线转化为电信号，并传输给计算机系统进行处理。
通过对多个不同角度和位置的光线进行捕捉和记录，光学三维扫描仪可以获取整个物体表面的三维坐标信息。
计算机系统会根据捕捉到的数据点，生成物体的三维模型或点云，并进行后续的数据处理和分析。
除了获取物体的形状信息，光学三维扫描仪还可以获取物体表面的纹理细节。
通过记录光线与物体表面的散射情况，扫描仪可以获取物体表面的纹理图像，用于精确还原物体的外观特征。
在实际应用中，光学三维扫描仪具有高精度、高效率和非接触等优点，已广泛应用于制造业、工艺设计、文化遗产保护等领
域。
通过光学原理的应用，光学三维扫描仪能够准确获取物体的三维信息，为多个领域的研究和应用提供了强大的技术支持。
条形码扫描仪简介
1 绪论条码扫描器，又称为条码阅读器、条码扫描枪、条形码扫描器、条形码扫描枪及条形码阅读器。
它是用于读取条码所包含信息的阅读设备，利用光学原理，把条形码的内容解码后通过数据线或者无线的方式传输到电脑或者别的设备。
广泛应用于超市、物流快递、图书馆等扫描商品、单据的条码。
条码扫描器通常也被人们称为条码扫描枪/阅读器，是用于读取条码所包含信息的设备，可分为一维、二维条码扫描器。
条码扫描器的结构通常为以下几部分：光源、接收装置、光电转换部件、译码电路、计算机接口。
扫描枪的基本工作原理为：由光源发出的光线经过光学系统照射到条码符号上面，被反射回来的光经过光学系统成像在光电转换器上，经译码器解释为计算机可以直接接受的数字信号。
除一、二维条码扫描器分类，还可分类为：CCD、全角度激光和激光手持式条码扫描器。
普通的条码阅读器通常采用以下四种技术：光笔、CCD、激光、影像型红光。
光笔的工作原理光笔是最先出现的一种手持接触式条码阅读器，它也是最为经济的一种条码阅读器。
使用时，操作者需将光笔接触到条码表面，通过光笔的镜头发出一个很小的光点，当这个光点从左到右划过条码时，在“空”部分，光线被反射，“条”的部分，光线将被吸收，因此在光笔内部产生一个变化的电压，这个电压通过放大、整形后用于译码。
光笔的优点主要是：与条码接触阅读，能够明确哪一个是被阅读的条码；阅读条码的长度可以不受限制；与其它的阅读器相比成本较低；内部没有移动部件，比较坚固；体积小，重量轻。
缺点：使用光笔会受到各种限制，比如在有一些场合不适合接触阅读条码；另外只有在比较平坦的表面上阅读指定密度的、打印质量较好的条码时，光笔才能发挥它的作用；而且操作人员需要经过一定的训练才能使用，如阅读速度、阅读角度、以及使用的压力不当都会影响它的阅读性能；最后，因为它必须接触阅读，当条码在因保存不当而产生损坏，或者上面有一层保护膜时，光笔都不能使用；光笔的首读成功率低及误码率较高。
线扫描相机工作原理
线扫描相机工作原理
线扫描相机是一种广泛应用于工业检测和图像采集领域的设备，其工作原理主要包括光学成像和信号处理两个部分。
首先是光学成像部分。
线扫描相机通过一个光学系统将待检测的物体或场景成像到相机的感光器件上。
光学系统通常由透镜、光学过滤器和光学传感器构成。
透镜用于调节光线的聚焦，使得光线能够准确地投射到感光器件上。
光学过滤器则根据需要对光线进行颜色过滤，去除或选择特定的波长范围的光。
感光器件通常采用CCD（电荷耦合器件）或CMOS（互补金属氧
化物半导体）技术，能够将光线转化为电信号。
其次是信号处理部分。
感光器件将成像的光线转化为电信号后，线扫描相机会对这些信号进行处理。
首先，信号经过放大电路，将弱信号增强到较大的幅度。
然后，信号经过模数转换器（ADC）将其转换为数字信号，便于后续的数字信号处理。
在数字信号处理阶段，可以进行图像滤波、增强、压缩等处理，以获取更清晰、更稳定或更适合存储和传输的图像结果。
最后，处理后的图像可以通过显示器或存储设备进行展示或存储。
综上所述，线扫描相机通过光学成像和信号处理两个部分的相互配合，能够将物体或场景的图像信息转化为数字信号，从而实现图像的采集和处理。
这种工作原理使得线扫描相机在工业检测、机器视觉、医学影像等领域具有广泛的应用前景。
条码扫描器原理之系统组成
条码扫描器原理之系统组成条码符号是图形化的编码符号，对条码符号的识读就是要借助一定的专用设备，将条码符号中含有的编码信息转换成计算机可识别的数字信息。
从系统结构和功能上讲，条码扫描器原理之系统由扫描器系统、信号整形、译码三部分组成。
●扫描系统由光学系统及探测器即光电转换器件组成，它完成对条码符号的光学扫描，并通过光电探测器，将条码条空图案的光信号转换成为电信号。
●信号整形部分由信号放大、滤波、波形整形组成，它的功能在于将条码的光电扫描信号处理成为标准电位的矩形波信号，其高低电平的宽度和条码符号的条空尺寸相对应●译码部分一般由嵌入式微处理器组成，它的功能就是对条码的矩形波信号进行译码，其结果通过接口电路输出到条码应用系统中的数据终端2.1 光源对于一般的条码应用系统，条码符号在制作时，条码符号的条空反差均针对630nm附件的红光而言，所以条码扫描器的扫描光源应该含有较大的红光部分。
扫描器所选用的光源种类很多，主要有半导体光源、激光光源。
2.1.1 半导体发光二极管半导体发光二极管又称为发光二极管，它实际上就是一个由P型半导体和N型半导体组合而成的二极管。
当在P-N结上施加正向电压时发光二极管就发出光来。
2.1.2 激光器半导体激光器功率一般在3～5nm，与其它光源相比，有独特的性质：●有很强的方向性●单色性和相干性极好●可获得极高的光强度，激光条码扫描器采用的都是低功率的激光二极管2.2 光电转换接收器接收到的光信号需要经光电转换器转换成电信号。
扫描器的信号频率为几十千赫到几百千赫，一般采用硅光电池、光电二极管、光电三极管作为光电转换器件。
2.3 放大、整形与计数为了得到较高的信噪比，通常都采用低噪声的分立元件组成前置放大电路来低噪声地放大信号。
由于条码条码印刷时的边缘模糊性，更主要是因为扫描光斑的有限大小和电子线路的低通特性，将使得到的信号边缘模糊，通常称为“模拟电信号”，这种信号还须经整形电路尽可能准备地将边缘恢复出来，变成通常所说的“数字信号”。
二维码扫描器工作原理
二维码扫描器工作原理
二维码扫描器是一种能够解析和读取二维码信息的设备。
它的工作原理如下：
1. 光学系统：二维码扫描器内置了一个光学系统，通常由一个光源和一个光敏元件组成。
光源可以是一个红外线激光器或LED，用于照亮二维码。
光敏元件可以是一个光电二极管或CCD（电荷耦合器件）传感器，用于捕捉反射光信号。
2. 扫描过程：当二维码扫描器对准二维码时，光源会发出光线照射在二维码上。
二维码通常由一系列黑色和白色模块组成，光线照射在黑白模块上时会有不同的反射情况。
光敏元件会接收到这些反射光信号。
3. 信号解析：通过处理和解析接收到的反射光信号，二维码扫描器可以识别出二维码上的信息。
具体的解析算法会识别黑白模块的形状和排列方式，从而确定二维码的信息。
解析算法可以使用不同的编码标准，如QR码、Data Matrix等。
4. 数据输出：一旦二维码扫描器成功解析了二维码信息，它会通过与计算机或移动设备的连接，将数据传输到相应的应用程序或系统中。
这样，用户就能够获取到二维码所代表的内容，如网址、产品信息等。
总的来说，二维码扫描器通过光学系统和信号解析算法，将二维码上的信息转换成数字数据，并将其输出到相应的设备中。
这样就实现了快速识别和读取二维码的功能。
扫描电镜工作原理
扫描电镜工作原理扫描电镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种高分辨率的显微镜，利用电子束与样品相互作用来获取样品表面形貌和成分信息。
它在材料科学、生物科学、纳米科学等领域具有广泛的应用。
一、扫描电镜的基本原理扫描电镜主要由电子光学系统、扫描系统和检测系统三部分组成。
1. 电子光学系统电子光学系统是扫描电镜的核心部分，它由电子枪、准直系统和透镜系统组成。
电子枪产生高能电子束，准直系统用于将电子束聚焦成细束，透镜系统用于将聚焦的电子束聚焦到样品表面。
2. 扫描系统扫描系统由扫描线圈和样品台组成。
扫描线圈通过控制电子束的扫描轨迹，使其在样品表面上进行扫描。
样品台用于支撑和定位样品。
3. 检测系统检测系统用于探测样品表面反射、散射的电子信号，并将其转化为图像。
常用的检测器包括二次电子检测器和反射电子检测器。
二、扫描电镜的工作过程扫描电镜的工作过程可以分为样品制备、样品加载、参数设置、扫描和图像获取等步骤。
1. 样品制备样品制备是扫描电镜观察的前提，样品需要具备一定的导电性和稳定性。
常用的样品制备方法包括金属镀膜、碳膜覆盖、冷冻断裂、离子切割等。
2. 样品加载样品加载是将待观察的样品放置在样品台上，并通过样品夹具或者导电胶固定。
加载过程需要注意避免样品表面的污染和损伤。
3. 参数设置在进行观察之前，需要设置扫描电镜的工作参数，包括加速电压、放大倍数、扫描速度等。
这些参数的选择会影响到观察的分辨率和深度。
4. 扫描和图像获取设置好参数后，开始进行扫描和图像获取。
电子束在样品表面进行扫描，扫描线圈控制电子束的移动轨迹。
同时，检测器会探测样品表面反射、散射的电子信号，并将其转化为图像。
三、扫描电镜的应用领域扫描电镜在材料科学、生物科学、纳米科学等领域有着广泛的应用。
1. 材料科学扫描电镜可以用于材料表面形貌的观察和分析，例如金属的晶体结构、陶瓷的微观结构等。
同时，扫描电镜还可以用于材料成分的分析，通过能谱仪可以获取样品的元素组成信息。
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掃描器光學系統講師：張榮喬、周明德1. 掃描器光學系統簡介(a) 透鏡光學成像之用(b) 反射鏡正面鏡(c) 光源冷陰極管(CCFL)(d) 光感測器CCD(Charge couple device), CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) , CIS(Contact Image Sensor)掃描器光學結構以Carriage來組合所有光學元件2. 元件特性(a) Lens(透鏡)何謂透鏡﹖簡單來說，就是一個使得光線可以改變其前進方向的成像系統，而當我們使用一個透鏡元件時，有一些特性是我們應該去注意了解的：a. 光程總長(Total Track)T.T.在設計光路時是一個相當重要的參數，它可以讓決定整個光路系統的大致上的大小，並且可以決定整個光路系統中他的光程應該設計為多少時，可以得到最佳結果。
b. 有效焦距長(Effect Focal Length)EFL為一個透鏡元件之有效焦距長，其定義為從透鏡的主點面至焦點之長。
此為透鏡元件之重要參數。
c. FNO (F-Number)FNO 為一個透鏡元件之重要參數之一，此參數的定義為EFL/孔徑直徑，此參數在光路設計中扮演一個重要角色，就是它可以決定此光路系統之進入光量大小，FNO愈大，就代表可以進入的光量愈少，而得到的影像會較暗。
而FNO也分為兩種，分別為Infinite和Working Distance，這兩個的不同處在於Infinite FNO 為平行光系統使用的FNO，而Working Distance FNO為當T.T.距離系統時使用的FNO。
d. 物件大小(Object Size)此為一個光路系統中，當符合T.T.時，可以放的物件大小。
e. 放大/縮小率(Magnification/Reduction)放大縮小率為當物件的光經過一個透鏡元件時，最後到成像面(Image)時的大小比率，其公式為Image size/Object size，但是另外有個方法可以較輕易計算出大約的放大/縮小率，其公式為像距/物距。
f. 光源(Light Source)光源為一透鏡元件適用之範圍，而不同的光源範圍就需要使用不同的透鏡元件材料。
g. Spot SizeLens聚光時的像點大小，為配合CCD的pixel size，其影像面上的spot size 必須小於pixel size。
h. 主面位置(Position of Principle Plane)一個透鏡元件均會有兩個主面，分為首主面和次主面，而主面便是由各個主點連接起來的面，而主點便是當一個透鏡系統不管內部如何折射，而將平行入射光線及往焦點方向的光面作延長線，此兩條延長線相交之處變是其主點，而將每條光線均利用此方法找出其主點，而將這些主點連接起來，就成為主面。
i. 入射光瞳及出射光瞳(Entrance and Exit Pupil)在透鏡系統中，都會有所謂的孔徑或是光闌(Aperture Stop)，而這些會將光線阻擋的結構，在透鏡中扮演相當重要的角色，因為它可以阻擋所謂雜散光的進入，而所謂入射光瞳和出射光瞳，分別是指當我從物件面和成像面去看光闌時其呈現出來的光闌孔徑大小。
另外主光線(Chief Ray) 決定入射光瞳與出射光瞳的位置，而主光線通常為物件的光線會通過光閘中心點的那條光線，而入射光瞳及出射光瞳位置分別為此線之延長線與光軸相交之位置。
j. 相對亮度(Relative Illuminance)相對亮度主要是指中心與邊緣的相對亮度而言，在一個成像系統裡，中心的cos比例的衰減，所以相對亮度直就是要提醒我們中心亮度與兩旁的亮度會有 4及兩旁的亮度值不同，若要成像面整體亮度均勻，就需要將物件面上作補光或削光的動作。
k. 變形(Distortion)變形在透鏡成像系統中是屬於像差的一種，而此種像差會造成在成像面上使得影像扭曲變形，最主要是因為當斜向入射時，其波為斜向前進，而產生傾斜波面，而造成成像面上的像有所扭曲，而這種情況，若進入至透鏡的光線的角度愈大，其扭曲率愈高。
l. 半場角(Half-Field Angle)此為一個透鏡系統中之收斂角度，也就是說，一個透鏡系統的光瞳所能夠接受的最大角度入射光，因為通常一個透鏡系統習慣是一個對稱系統，所以通常都只取一半做為定義，所以在此所謂半場角便是光瞳可容許之最大角度的一半。
m. 鍍膜(Coating)在光學系統中，可以根據不同的需求，而鍍上不同類型的模層。
n. MTF(Modulation Transfer Function)MTF 在評估一個透鏡系統時是一個相當重要的參數，而透鏡系統的MTF 值，主要受到下面幾個因素影響：(1)、孔徑大小(2)、像差(3)、光源波長(4)、入射角度所謂MTF ，其實就是透鏡的轉換函數，最簡單的MTF 的表示方式為：m i nm a x m i n m a x )(I I I I v M T F +-= 其中I max 和I min 分別為影像強度的極大值與極小值。
而MTF 都會有一個截止頻率，如果在理想情況時，MTF 的截止頻率為：)(10FNO f λ= 就MTF 而言，當空間頻率為零時，其MTF 值為最大，其值為1，而之後隨著頻率增加而下降，當降至截止頻率時，其MTF 值正好為零。
而此條曲線在理想狀況時會呈現一條近似直線的曲線下降，但是當有像差時，MTF 值受到像差這項的影響相當大，其MTF 的曲線將會下降的相當快速，很有可能還未到截止頻率時就下降為零。
在透鏡系統中，當遇到斜向入射時，通常都會根據斜向角度的軸分為逕向(Saggital)和切向(Tangental)，通常簡寫為S 和T 方向，而這兩個方向的MTF 值會不同，就一般而言，S 的MTF 值會優於T 的MTF 值。
(b) Mirror(反射鏡)反射鏡一般分成正面鏡和反面鏡，依據不同的反射材質可用來反射不同波長的光線。
選擇反射鏡的性質如下：a. 正面鏡使用鍍膜層的正面，必須對反射膜外層加上一層保護膜，一般正面鏡的鍍膜需用到5～6層，成本較高，用於光學系統。
b. 反面鏡使用鍍膜層的反面，因此不須對反射膜外層加上保護膜，成本較低，用於一般日常生活的反射成像，由於會經過一個玻璃介質，因此在傾斜角度時會有鬼影(多重影像)，反射次數越多則鬼影越多，故不使用於光學系統。
c. 入射角由於鍍膜一般對於不同的入射角其反射率並不同，因此對於在光學系統中盡量不操作於入射角大於45度。
d. 鍍膜材質反射面都使用金屬膜，當我們使用不同材質的金屬膜時，其反射率隨著不同的波長而改變。
在可見光範圍中大多使用較便宜的鋁材質，它的反射率在可見光波長範圍大約為90%以上。
e. 表面粗糙度雖然鋁鍍膜於可見光的反射率為90%，但若反射的表面不平坦就會造成反射率下降，因此我們使用表面較容易製成平坦的玻璃材質作為鍍膜的基板。
(c) Lamp(燈管)在光學系統中，光源是相當重要的主體，一個光學系統若是沒有光源就無法作用了，而在Scanner的光學系統裡，主要的光源來源為冷陰極管(CCFL)，下面就是冷陰極管的特性及發光原理。
CCFL為低壓水銀放電燈，在螢光燈中封入少量水銀蒸氣，當電壓加大時，水銀蒸氣會被電子衝擊而產生253.7nm的紫外線，而經過螢光體後可轉換成可見光，而不同氣體與不同的螢光體組合便可改變其發光顏色，而CCFL的亮度對於周圍環境溫度也有相關特性，當周圍溫度低時，因為燈管內水銀蒸氣壓力也降低，所以減少與封入惰性氣體的效果及紫外線輸出，使得啟動電壓上升及降低可見光輸出，而當溫度過高時，因為內部水銀蒸氣壓力過高，而使得光輸出減少，另外，CCFL的點燈的穩定時間為3-5分鐘，點燈時的瞬間光輸出為穩定時的70%，30秒後達到90%。
而CCFL的特點如下：(1)、電器及光學特性安定(2)、壽命長(約15000Hr)(3)、耐點滅特性(10萬次以上)(4)、小型量輕(5)、低發熱量(6)、低消耗電力在照明學上，有一些術語是光學系統中常用的，現在就如下面敘述：a. 光通量(Luminous flux,Φ)單位：流明(lumen, Lm)簡述：由一光源所發射並被感知之所有輻射能稱之為光通量。
b. 光強度(Luminous Intensity, I)單位：坎德拉或燭光(candela, Cd)簡述：光源在某一方向立體角內之光通量大小一般而言，光源會向不同方向以不同之強度放射出光通量，在特定方向所放出的可見光輻射強度稱為光強度。
c. Lambertian Distribution簡述：光源的光強度與表面成θ角時，其光強度會成θθcos )(0I I =，其中I 0為正射光強度。
d. 照度(Illuminance, E)單位：勒克斯(Lux, Lx)簡述：照度是光通量與被照面之比值。
1 Lux 之照度為1 lumen 之光通量均勻分布在面積為一平方米之區域。
e. 輝度(Luminance, L)單位：坎德拉每米平方(Cd/m 2)簡述：一光源或一被照面之輝度指其單位表面上在某一方向上的光強度密度，也可說是人眼所感知此光源或被照面之明亮程度。
f. 發光效率(Luminous Efficacy, η)單位：流明每瓦(Lm/W)簡述：代表光源將所消耗之電能轉換成光之效率。
g. 色溫(Color Temperature)單位：絕對溫度(Kelvin, K)簡述：一個光源的色溫被定義為與其具有相同光色之”標準黑體(Black Body Radiator)”本身之絕對溫度值，此溫度可以在色度圖上之普朗克軌跡上找到其對應點。
標準黑體之溫度愈高，其輻射出之光線光譜中藍色成分愈多，紅色成分也就相對的愈少。
h. 光色(Light Color)一個燈的光色可以簡單的以色溫來表示。
光色可分為三大類：暖色：<3300K中間色：3300至5000K晝光色：>5000K即使光色相同，燈種間也可能因為發出的光線的光譜組成不同而有很大的演色性表現差異。
i. 演色性(Color Rendering)一般認為人造光源應讓人眼正確感知色彩，就如同再太陽光下看東西一樣，當然這需要視應用場合及目的而有不同之要求程度。
此準據就是光源之演色特性，稱之為”平均演色性指數(General Color Rendering Index, Ra)”。
平均演色性指數為物件在某光源照射下顯示之顏色與其在參考光源照射下之顏色兩者之相對差異。
其數直之評定法為分別以參考光源與待測光源照在DIN(德國工業標準)所規定之八個色樣上逐一做比較並量化其差異性，差異性愈小，代表待測光源之演色性愈好，平均演色性指數Ra為100之光源可以讓各種顏色呈現出如同被參考光源所照色之顏色。