数字电路实验讲义(2015_8实验 2选做实验)汇总
数字电路实验讲义(2015_8实验 2选做实验)汇总
《数字电子技术基础》实验指导手册首都师范大学信息工程学院2015年8月目录第一章数字电路实验基本知识第二章基本实验实验一基本逻辑门特性实验二逻辑门电路的功能实验三基本触发器实验四译码器和多路数据选择器实验五全加器设计与实现实验六简单时序电路实验七减法计数器的设计与实现实验八集成计数器第三章选作实验选做实验一组合逻辑中的竞争冒险选做实验二秒计时显示器的制作第一章 数字电路实验基本知识一、数字集成电路芯片：中，小规模数字IC 中最常用的是TTL （晶体三极管逻辑）电路和CMOS （互补场效应管逻辑）电路，TTL 器件型号以74（或54）作为前缀，称为74/54系列，如74LS10，74F181，54S86等。
中，小规模CMOS 数字集成电路主要是4XXX/45XX （X 代表0—9的数字）系列；高速CMOS 电路为74HC/HCT 系列。
TTL 电路与CMOS 电路各有优缺点，一般来说TTL 电路速度快，驱动能力强；CMOS 电路功耗小，电源范围大，输入阻抗高。
由于TTL 在世界范围内应用极广，在数字电路教学实验中主要使用TTL 电路的74系列作为实验用器件，采用单一的+5V 作为供电电源。
1. 字表示引脚号。
双列直插封装的IC 引脚有8、14、16、20、24、28等若干种。
2. 双列直插封装器件有两种引脚。
引脚之间的间距是2.54毫米。
两列引脚之间的距离有宽（15.24毫米）有窄（7.62毫米）两种。
将器件插入实验台相应的插座中去或从插座中拔出时要小心，不要将器件的引脚搞弯或折断。
通常要借助小起子进行操作。
特别注意：不要带电插拔器件！插拔器件只能在关断+5V 电源的情况下进行。
二、数字电路测试及故障查找、排除：1. 数字电路测试数字电路测试大体分为静态测试和动态测试两部分。
静态测试指的是：给定数字电路若干组静态输入值，测试其输出值是否正确。
在静态测试的基础上按设计要求在输入端加动态脉冲信号，观察输出端波形是否符合设计要求，这是动态测试。
《数字电路》实验讲义
一、实验目的
1．掌握寄存器的工作原理、逻辑功能及应用；
2．掌握异步计数器的工作原理及输出波形；
3．掌握中规模集成电路计数器接成任意进制计数器的方法
二、实验设备及器件
1．SAC-DS数字逻辑实验箱一台；
⑶用一片74LS153和一片74LS00接成一位全加器
⑷设计一个有A、B、C三位代码输入的密码锁（假设密码是011），当输入密码正确时，锁被打开（Y1=1），如果密码不符，电路发出报警信号（Y2=1）。
以上四个小设计任做一个，多做不限。
实验三触发器及触发器之间的转换
一、实验目的
1．掌握D触发器和JK触发器的逻辑功能及触发方式；
输入
输出
A
B
C
D
Y
0
0
0
0
1
0
0
0
1
1
0
0
1
1
1
0
1
1
1
1
1
1
1
1
0
4.异或门逻辑功能的测试
⑴按图1-4接好电路。
⑵按表1-4的要求测试，将结果填入表1-4中。
输入
输出
A
B
Y
0
0
0
0
1
1
1
0
1
1
1
0
5.设计实验
⑴用一片74LS00实现Y = A+B的逻辑功能；
⑵用一片74LS86设计一个四位奇偶校验电路；
以上两个小设计必做一个，多做不限。
四、思考题
1.与非门一个输入端接连续脉冲，其余端是何状态时允许脉冲通过，是何状态时禁止脉冲通过？
2.为什么异或门又称为可控反相门？
(整理)数字电路实验讲义
数字电路实验讲义课题：实验一门电路逻辑功能及测试课型：验证性实验教学目标：熟悉门电路逻辑功能，熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法重点：熟悉门电路逻辑功能。
难点：用与非门组成其它门电路教学手段、方法：演示及讲授实验仪器：1、示波器；2、实验用元器件74LS00 二输入端四与非门 2 片74LS20 四输入端双与非门 1 片74LS86 二输入端四异或门 1 片74LS04 六反相器 1 片实验内容：1、测试门电路逻辑功能（1）选用双四输入与非门74LS20 一只，插入面包板（注意集成电路应摆正放平），按图1.1接线，输入端接S1～S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口)，输出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口D1～D8 中的任意一个。
（2）将逻辑电平开关按表1.1 状态转换，测出输出逻辑状态值及电压值填表。
2、逻辑电路的逻辑关系（1）用74LS00 双输入四与非门电路，按图1.2、图1.3 接线，将输入输出逻辑关系分别填入表1.2，表1.3 中。
（2）写出两个电路的逻辑表达式。
3、利用与非门控制输出用一片74LS00 按图1.4 接线。
S 分别接高、低电平开关，用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。
4、用与非门组成其它门电路并测试验证。
（1）组成或非门：用一片二输入端四与非门组成或非门B+=，画出电路图，测试并填=AABY∙表1.4。
（2）组成异或门：①将异或门表达式转化为与非门表达式；②画出逻辑电路图；③测试并填表1.5。
5、异或门逻辑功能测试（1）选二输入四异或门电路74LS86，按图1.5 接线，输入端1、2、4、5 接电平开关输出插口，输出端A、B、Y 接电平显示发光二极管。
（2）将电平开关按表1.6 的状态转换，将结果填入表中。
6、逻辑门传输延迟时间的测量用六反相器74LS04 逻辑电路按图1.6 接线，输入200Hz 连续脉冲（实验箱脉冲源），将输入脉冲和输出脉冲分别接入双踪示波器Y1、Y2 轴，观察输入、输出相位差。
数电实验讲义讲解
实验一 门电路逻辑功能测试及逻辑变换一、实验目的：1．掌握TTL 与非门、或非门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。
2．熟悉TTL 中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。
3. 熟悉逻辑功能的变换。
二、实验仪器及器件：1．数字电路实验箱 1台 2．二输入四与非门74LS00 1片 3. 二输入四或非门74LS28 1片 4. 二输入四异或门74LS86 1片 5．数字万用表 1块三、实验预习：1．复习各种门电路的逻辑符号、逻辑函数式、真值表。
2．查出实验所用集成电路的外引脚线排列图，熟悉其引脚线位置及各引脚线用途。
四、实验原理：1．测试门电路的逻辑功能⑴ 与非门的逻辑功能：有0出1，全1出0。
与非门的逻辑函数式：Y=AB74LS00为二输入四与非门, 即在一块集成块内含有四个互相独立的与非门,每个与非门有2个输入端。
如下图所示。
⑵ 或非门的逻辑功能：有1出0，全0出1。
或非门的逻辑函数式：Y=A+B74LS28为二输入四或非门, 即在一块集成块内含有四个互相独立的或非门,每个或非门有2个输入端。
Vcc 4B 4A 4Y 3B 3A 3Y1A1B1Y2A2B2YGND00 四2输入与非门V DDA4B4Y4Y3B3A3A1B1Y1Y2B2A2V SS4001 四2入或非门⑶异或门的逻辑功能：相同出0，相反出1。
异或门的逻辑函数式：Y=A⊕B=AB+AB74LS86为二输入四异或门，即在一块集成块内含有四个互相独立的异或门,每个异或门有2个输入端。
如图（c）所示。
2．门电路的逻辑变换：就是用与非门等组成其它门电路。
方法：先对其它门电路的函数式用摩根定理等公式变换成与非式，再画出相应逻辑图，然后用与非门实现之。
五、实验内容：实验前先检查实验箱电源是否正常，然后选择实验用的集成电路，按接线图连线。
特别注意V cc及地线不能接错。
线接好后经指导教师检查无误方可通电。
实验中改动接线必须先断开电源，接好线后再通电实验。
《数字电路实验》课件
体管数量越来越多。
02
低功耗设计
随着便携式电子设备的普及，低功耗设计成为数字电路发展的重要趋势
。
03
可编程逻辑器件的应用
可编程逻辑器件（PLD）如现场可编程门阵列（FPGA）和复杂可编程
逻辑器件（CPLD）的应用越来越广泛，使得数字电路设计更加灵活和
高效。
THANKS
感谢观看
03
认真观察实验现象，记录实验数据。
04
分析实验结果，总结实验经验，撰写实验 报告。
02
CATALOGUE
数字电路基础知识
数字电路概述
数字电路的定义
01
数字电路是处理离散信号的电路，其输入和输出信号通常为二
进制形式。
数字电路的特点
02
数字电路具有稳定性、可靠性、可重复性、易于大规模集成等
优点。
数字电路的应用
实验结果对比与分析
实验结果对比
将实验结果与理论值或预期结果进行 对比，找出差异和符合之处。
结果分析
对实验结果进行深入分析，探讨可能 的原因和影响因素，为实验总结提供 依据。
实验总结与建议
实验总结
根据实验过程和结果分析，总结实验的主要发现和结论，指出实验的局限性和不足之处 。
实验建议
针对实验中存在的问题和不足，提出改进和优化的建议，为后续的实验提供参考和借鉴 。
05
CATALOGUE
数字电路实验拓展
数字电路应用实例
01
02
03
数字钟
通过数字电路技术实现时 钟显示，包括时、分、秒 的计数和显示。
数字存储器
用于存储数据，如随机存 取存储器（RAM）、只读 存储器（ROM）等。
数字电路实验报告 实验2
实验二 译码器及其应用一、 实验目的1、掌握译码器的测试方法。
2、了解中规模集成译码器的管脚分布，掌握其逻辑功能。
3、掌握用译码器构成组合电路的方法。
4、学习译码器的扩展。
二、 实验设备及器件1、数字逻辑电路实验板1块 2、74HC(LS)20（二四输入与非门） 1片 3、74HC(LS)138（3-8译码器）2片三、 实验原理74HC(LS)138是集成3线-8线译码器，在数字系统中应用比较广泛。
下图是其引脚排列，其中A 2、A 1、A 0为地址输入端，Y ̅0~Y ̅7为译码输出端，S 1、S ̅2、S ̅3为使能端。
下表为74HC(LS)138功能表。
74HC(LS)138工作原理为：当S 1=1，S ̅2+S ̅3=0时，电路完成译码功能，输出低电平有效。
其中：Y ̅0=A ̅2A ̅1A ̅0̅̅̅̅̅̅̅̅̅̅ Y ̅4=A 2A ̅1A ̅0̅̅̅̅̅̅̅̅̅̅ Y ̅1=A ̅2A ̅1A 0̅̅̅̅̅̅̅̅̅̅ Y ̅5=A 2A ̅1A 0̅̅̅̅̅̅̅̅̅̅ Y ̅2=A ̅2A 1A ̅0̅̅̅̅̅̅̅̅̅̅ Y ̅6=A 2A 1A ̅0̅̅̅̅̅̅̅̅̅̅ Y ̅3=A ̅2A 1A 0̅̅̅̅̅̅̅̅̅̅Y ̅7=A 2A 1A 0̅̅̅̅̅̅̅̅̅̅因为74HC(LS)138的输出包括了三变量数字信号的全部八种组合，每一个输出端表示一个最小项（的非），因此可以利用八条输出线组合构成三变量的任意组合电路。
实验用器件管脚介绍：1、74HC(LS)20（二四输入与非门）管脚如下图所示。
2、74HC(LS)138（3-8译码器）管脚如下图所示。
四、实验内容与步骤（四学时）1、逻辑功能测试（基本命题）m。
验证74HC(LS)138的逻辑功能，说明其输出确为最小项i注：将Y̅0~Y̅7输出端接到LED指示灯上，因低电平有效，所以当输入为000时，Y̅0所接的LED指示灯亮，其他同理。
数字电路实验讲义
数字电路实验讲义目录1 数字电路实验箱简介2 实验一基本门电路和触发器的逻辑功能测试3 实验二常用集成组合逻辑电路（MSI）的功能测试及应用4 实验三常用中规模集成时序逻辑电路的功能及应用5 实验四组合逻辑电路的设计6 实验五时序逻辑电路的设计7 实验六综合设计实验8 附录功能常用芯片引脚图数字电路实验箱简介TPE系列数字电路实验箱是清华大学科教仪器厂的产品，该实验箱提供了数字电路实验所必需的基本条件。
如电源，集成电路接线板，逻辑电平产生电路，单脉冲产生电路和逻辑电平测量显示电路，实验箱还为复杂实验提供了一些其他功能。
下面以JK触发器测试为例说明最典型的测试电路，图1为74LS112双JK触发器的测试电路。
其中Sd、Rd 、J、K为电平有效的较入信号，由实验箱的逻辑电平产生电路提供。
CP为边沿有效的触发信号，由单脉冲产生电路提供。
Q和为电路的输出，接至逻辑电平测量显示电路，改变不同输入的组合和触发条件，记录对应的输出，即可测试该触发器的功能。
逻辑电平测量显示图1. JK触发器测试电路实验一 基本门电路和触发器的逻辑功能测试一、 实验目的1、掌握集成芯片管脚识别方法。
2、掌握门电路逻辑功能的测试方法。
3、掌握RS 触发器、JK 触发器的工作原理和功能测试方法。
二、实验设备与器件 1、数字电路实验箱 2、万用表 3、双列直插式组件 74LS00：四—2输入与非门 74LS86：四—2输入异或门 74LS112：双J-K 触发器三、实验原理与内容 1、测试与非门的逻辑功能74LS00为四—2输入与非门，在一个双列直插14引脚的芯片里封装了四个2输入与非门，引脚图见附录。
14脚为电源端，工作时接5V,7脚为接地端，1A ，113和1Y 组成一个与非门，B A Y 111⋅=。
剩余三个与非门类似。
按图1—1连接实验电路。
改变输信号，测量对应输出，填入表1—1中，验证其逻辑功能。
测 量 显示逻 辑 电平图1—1 74LS00测试电路2、测试基本RS 触发器功能两个与非门相接可构成基本RS 触发器，R 、S 为触发器的清0和置1输入端。
2015电子电路综合实验讲义(全)
目录实验选题一：烟雾报警器的设计实现 (2)实验选题二：单极性可调精密直流稳压电源的设计实现 (4)实验选题三：红外遥控开关的设计实现 (5)实验选题四：便携式电子秤的设计 (7)实验选题五：数字式小电阻/电容测量仪设计实现 (9)实验选题六：高效率音频功率放大器的设计 (11)实验选题七：波形发生器 (13)实验选题八：8路巡回检测、报警系统的设计与实现 (15)实验选题九：基于PWM技术的直流电机控制系统 (17)实验选题十：基于PS2接口的音乐发生器的设计实现 (19)实验选题十一：多功能交通信号机 (22)实验选题十二：家用电热水器控制器 (25)实验选题十三：数字式光照强度检测仪的设计实现 (28)实验选题十四：信号波形发生与合成 (30)实验选题十五：温度测量数显控制仪的设计实现 (34)实验选题十六：晶体管输出特性测试电路设计与实现 (36)实验选题十七：利用晶体管设计实现简单运算放大器 (38)实验选题一：烟雾报警器的设计实现一、设计任务烟雾报警有很多应用的地方，一些特定的地方对烟雾浓度也有一定限制，比如厨房、天然气存储的地方，还有吸烟的场所。
现在要设计的课题就是需要监测指定环境内的烟雾浓度，并显示浓度的等级，系统根据不同的等级选择是否开启排风机，改善室内空气质量，并对高等级的烟雾浓度进行报警。
二、设计要求及其指标要对浓度分级显示，并根据等级选择开启排风扇，对最高浓度报警。
具体的要求就是：1.能够检测指定环境内烟雾浓度并将烟雾浓度分为三级加以显示。
2.当浓度超过第二等级时系统自动开启风扇排风。
3.当浓度超过最高等级时系统发出声音警报。
4.当浓度超过最高等级时系统发出语音提示警报。
三、设计思路1、浓度等级就是利用QM-N5讲烟雾浓度转化为模拟电压信号；2、然后将模电信号转化为数字信号，这样就能进行等级划分，将不同浓度划分为三个等级；3、并用数码管显示出来；4、烟雾浓度大于或等于2级时，控制风扇排风；5、三级浓度时控制蜂鸣器报警；6、语音录放芯片录音，并在三级烟雾浓度时，控制其放音。
数字电路实验讲义电科)
实验一：集成逻辑门电路的测试与使用一． 实验目的：1．学会检测常用集成门电路的好坏的简易方法；2．掌握TTL 与非门逻辑功能和主要参数的测试方法； 3．掌握TTL 门电路与CMOS 门电路的主要区别； 4．掌握三态门的特点及应用。
二． 实验仪器与器件：1．实验仪器：稳压电源、万用表、数字逻辑实验测试台。
2．元器件：74LS20、74LS00（TTL 门电路）、4011（CMOS 门电路）、74LS125、74LS04；它们的管脚排列如下： （1）74LS20（4输入端双与非门）：Y= ABCDV2A 2B N 2C 2D 2Y1A 1B N C 1C 1D 1Y GNDV CC ：表示电源正极、GND ：表示电源负极、N C ：表示空脚。
（2） 74LS00（2输入端4与非门）：Y= AB V 4A 4B 4Y 3A 3B 3Y1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND（3） 4011（2输入端4与非门）： Y= ABV4A 4B 4Y 3Y 3B 3A1A 1B 1Y 2Y 2B 2A GND（4）74LS125（三态缓冲器）：Y=A （C=0）、Y 为高阻（C=1）V CC 4C 4A 4Y 3C 3A 3Y（5）74LS04（非门）： Y= A1A 1Y 2A 2Y 3A 3Y GND集成门电路管脚的识别方法：将集成门电路的文字标注正对着自己，左下角为1，然后逆时针方向数管脚。
三． 实验原理：1．TTL 与非门的主要参数有：导通电源电流I CCL 、低电平输入电流I IL 、高电平输入电流I IH 、输出高电平V OH 、输出低电平V OL 、阈值电压V TH 等。
注意：不同型号的集成门电路其测试条件及规范值是不同的。
2．检测集成门电路的好坏的简易方法：（1）在未加电源时，利用万用表的电阻档检查各管脚之间是否有短路现象；（2）加电源：利用万用表的电压档首先检查集成电路上是否有电，然后再利用门电路的逻辑功能检查电路。
数电实验讲义汇总
实验一 门电路逻辑功能测试及逻辑变换一、实验目的：1．掌握TTL 与非门、或非门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。
2．熟悉TTL 中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。
3. 熟悉逻辑功能的变换。
二、实验仪器及器件：1．数字电路实验箱 1台 2．二输入四与非门74LS00 1片 3. 二输入四或非门74LS28 1片 4. 二输入四异或门74LS86 1片 5．数字万用表 1块三、实验预习：1．复习各种门电路的逻辑符号、逻辑函数式、真值表。
2．查出实验所用集成电路的外引脚线排列图，熟悉其引脚线位置及各引脚线用途。
四、实验原理：1．测试门电路的逻辑功能⑴ 与非门的逻辑功能：有0出1，全1出0。
与非门的逻辑函数式：Y=AB74LS00为二输入四与非门, 即在一块集成块内含有四个互相独立的与非门,每个与非门有2个输入端。
如下图所示。
⑵ 或非门的逻辑功能：有1出0，全0出1。
或非门的逻辑函数式：Y=A+B74LS28为二输入四或非门, 即在一块集成块内含有四个互相独立的或非门,每个或非门有2个输入端。
Vcc 4B 4A 4Y 3B 3A 3Y1A1B1Y2A2B2YGND00 四2输入与非门V A4B4Y4Y3B3A3A1B1Y1Y2B2A2V 4001 四2入或非门⑶异或门的逻辑功能：相同出0，相反出1。
异或门的逻辑函数式：Y=A⊕B=AB+AB74LS86为二输入四异或门，即在一块集成块内含有四个互相独立的异或门,每个异或门有2个输入端。
如图（c）所示。
2．门电路的逻辑变换：就是用与非门等组成其它门电路。
方法：先对其它门电路的函数式用摩根定理等公式变换成与非式，再画出相应逻辑图，然后用与非门实现之。
五、实验内容：实验前先检查实验箱电源是否正常，然后选择实验用的集成电路，按接线图连线。
特别注意V cc及地线不能接错。
线接好后经指导教师检查无误方可通电。
实验中改动接线必须先断开电源，接好线后再通电实验。
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《数字电子技术基础》实验指导手册首都师范大学信息工程学院2015年8月目录第一章数字电路实验基本知识第二章基本实验实验一基本逻辑门特性实验二逻辑门电路的功能实验三基本触发器实验四译码器和多路数据选择器实验五全加器设计与实现实验六简单时序电路实验七减法计数器的设计与实现实验八集成计数器第三章选作实验选做实验一组合逻辑中的竞争冒险选做实验二秒计时显示器的制作第一章 数字电路实验基本知识一、数字集成电路芯片：中，小规模数字IC 中最常用的是TTL （晶体三极管逻辑）电路和CMOS （互补场效应管逻辑）电路，TTL 器件型号以74（或54）作为前缀，称为74/54系列，如74LS10，74F181，54S86等。
中，小规模CMOS 数字集成电路主要是4XXX/45XX （X 代表0—9的数字）系列；高速CMOS 电路为74HC/HCT 系列。
TTL 电路与CMOS 电路各有优缺点，一般来说TTL 电路速度快，驱动能力强；CMOS 电路功耗小，电源范围大，输入阻抗高。
由于TTL 在世界范围内应用极广，在数字电路教学实验中主要使用TTL 电路的74系列作为实验用器件，采用单一的+5V 作为供电电源。
1. 字表示引脚号。
双列直插封装的IC 引脚有8、14、16、20、24、28等若干种。
2. 双列直插封装器件有两种引脚。
引脚之间的间距是2.54毫米。
两列引脚之间的距离有宽（15.24毫米）有窄（7.62毫米）两种。
将器件插入实验台相应的插座中去或从插座中拔出时要小心，不要将器件的引脚搞弯或折断。
通常要借助小起子进行操作。
特别注意：不要带电插拔器件！插拔器件只能在关断+5V 电源的情况下进行。
二、数字电路测试及故障查找、排除：1. 数字电路测试数字电路测试大体分为静态测试和动态测试两部分。
静态测试指的是：给定数字电路若干组静态输入值，测试其输出值是否正确。
在静态测试的基础上按设计要求在输入端加动态脉冲信号，观察输出端波形是否符合设计要求，这是动态测试。
有些数字电路只需进行静态测试即可，有些数字电路则必须进行动态测试。
一般来说，时序电路应进行动态测试。
2. 数字电路故障查找和排除在数字电路实验中，出现问题是难免的。
重要的是分析问题，找出出现问题的原因，从而解决它。
一般来说，有四方面的原因产生问题：器件故障；接线错误；设计错误；测试方法不正确。
当实验中发现结果与预期不一致时，千万不要慌乱，应仔细观测现象，冷静思考问题所在。
首先仪器仪表的使用是否正确。
在正确使用仪器仪表的前提下，按逻辑图和接线图逐级查找问题出现在何处。
通常从发现的地方，一级一级向前测试，直到找出故障的初始发生位置。
在故障的初始位置处，首先检查连线是否正确。
实验故障大部分是由于接线错误引起的，因此一定要认真、仔细。
确认接线无误后，检查器件引脚是否全部正确插进插座中，有无引脚折断、弯曲、错插问题。
确认若无上述问题，可取下器件测试，以检查器件好坏，或直接更换一个新的器件。
如果器件和接线都正确，则需考虑电路的设计是否有问题。
三、TDS数字电路实验台简介：TDS-1数字电路实验系统是一种通用的实验设备。
在这个设备上既能够使用中小规模器件做简单数字电路实验，又可以用PLD、CPLD或ISPLD器件做较为复杂的数字系统实验。
图1－1是TDS-2数字电路实验系统布局图。
下面介绍它的基本组成部分。
1.电源TDS数字电路实验系统自备一路+5V、1A电源。
2.双列直插芯片插座为了适应数字电路实验不同阶段的要求，实验台上安排了11个双列直插芯片插座（14芯4个、16芯2个、20芯2个、24芯2个、28芯1个）3.时钟源TDS-2数字电路实验系统提供5路时钟（10MHz、5MHz、1MHz、500KHz、100KHz）和1路可调频率的时钟（从1KHz～100KHz的可调方波信号）。
4.单脉冲及相位滞后脉冲TDS-2数字电路实验系统安排了4个单脉冲按钮（AK1、AK2、AK3、AK4），可分别可产生4路脉冲信号，按键上方的上排插孔连续输出1～4个窄脉冲，下排插孔输出一个宽脉冲。
按AK1产生4个窄脉冲和一个宽脉冲，AK2产生3个和一个宽脉冲，……，按AK4产生1个窄脉冲和一个宽脉冲，见图1－2所示。
5.逻辑电平开关及发光二极管LED逻辑电平开关由12个拨动开关组成，（向上为1，向下为0）。
12只发光二极管LED用来指示信号电平的高低（接高电平时亮，接低电平时灭）。
6.数码管及驱动电路实验系统上安装了6个共阳极数码管。
每个数码管由1片BCD七段显示译码器（74LS47）驱动。
只需在各数码管的4个输入插孔（D为高位，A为低位）图1－1是TDS-2数字电路实验系统布局图接入BCD码，数码管就能显示出相应的数字。
当TEST接低电平时，所有数码管显示“8”。
图1－2 宽脉冲和四个窄脉冲7.喇叭及驱动电路（说明省略）可用于发声，时钟报时、音乐发声装置。
8.EPROM和GAL编程器（说明省略）9.ISP器件下载及实验电路（说明省略）第二章基本实验实验一（一）基本逻辑门的逻辑特性一、实验目的1.掌握TTL与非门、与或非门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。
2.熟悉TTL中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。
3.熟悉数字逻辑实验台的操作方法二、实验所用器件和仪表1．二输入四与非门74LS00 1片2．二输入四或非门74LS02（28）1片3．二输入四异或门74LS86 1片4．数字万用表，镊子等三、实验内容1．测试二输入四与非门74LS00一个与非门的输入和输出之间的逻辑关系。
2．测试二输入四或非门74LS02一个或非门的输入和输出之间的逻辑关系。
3．测试二输入四异或门74LS86一个异或门的输入和输出之间的逻辑关系。
四、预习要求1．复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。
2．熟悉所用集成电路的引脚位置和用途。
3．准备好实验报告纸，预先写好实验内容、实验步骤。
五、实验提示1．选择实验用的芯片，确定其引脚个数后插在实验板上合适的位置，通常芯片的半圆缺口朝左。
2．查阅附录，了解所用芯片引脚的排列及输入输出定义。
3．将被测器件插入实验台上的14芯插座中。
插拔集成电路芯片时要仔细认真，管脚一定要对准插座孔，正确无误地插入，避免管脚插歪引起管脚折断。
4．将器件的引脚7与实验台的“地（GND）”连接，将器件的引脚14与实验台的+5V 连接。
注意不要接反，否则芯片会烧毁损坏。
5．用实验台的电平开关输出作为被测器件的信号输入。
拨动开关向上，输出高电平，向下则输出低电平。
6．将被测器件的输出引脚与实验台上的电平指示灯（LED）连接，LED由非门驱动，当输入端接高电平时LED灯亮，即指示灯亮表示被测电路输出为1（高电平），指示灯灭表示被测电路输出为0（低电平）。
7．实验电路的连线全部接好并检查无误，并仔细检查后，方可打开电源开关。
8．若有不确定或不明白之处请问实验指导教师。
六、实验接线图74LS00中包含4个二与非门，74LS02（28）中包含4个二或非门，74LS86中包含4个异或门，下面各画出测试第一个逻辑门逻辑关系的接线图。
测试其他逻辑门时的接线图与之类似。
测试时各器件的引脚7接地，引脚14接+5V。
图中的K1、K2是电平开关输出，LED0是电平指示灯。
1． 测试74LS00的逻辑关系接线图 2．测试74LS02（28）的逻辑关系接线图3. 测试74LS86的逻辑关系接线图参考：74LS00 74LS28 74LS86引脚定义与非门74LS00 或非门74LS02(28) 异或门74LS864． 分别测试上述逻辑电路（00，02，86）的逻辑关系，将测试输出结果填入下面的表格中。
七、 实验报告要求：1． 实验名称（题目），班级、学号、姓名 2． 实验目的 3． 实验仪器 4． 实验内容（1） 画出三个实验的接线图。
（2） 用真值表表示出实验结果。
LED0LED0K2K1 K1K2 K1 K2LED0实验一（二） 逻辑门电路的功能一、 实验目的1． 熟悉门电路的逻辑功能 2． 学习逻辑门电路的应用二、 实验所用器件和仪表1． 根据实验要求在74LS00，74LS02，74LS04，74LS86中选择可用的芯片 2． 示波器三、 实验内容1． 用与非门组成或非门并测试验证：（或者用非门加与非门）画出电路图，连线，测试并填写真值表 2． 利用与非、或非门控制输出⑴或非门一输入端接500KHZ 信号源，另一端接电平控制开关K1，输出端接示波器，观察K1对输出脉冲的控制作用并列写实验结果。
⑵将或非门换成与非门，重复实验步骤⑴。
四、 实验预习要求1． 正确选择实验用芯片，2． 根据实验要求画出完整的逻辑电路图，标注出引脚编号3． 准备好实验报告纸，完成实验预习报告（实验目的，实验仪器、材料，实验原理图、表格等）五、 实验报告1． 按测试步骤和内容要求列写实验结果，填写相应表格； 2． 用理论分析实验内容2的实验结果。
参考：74LS00、74LS28、74LS86的管脚定义参考实验一。
下图是74LS04的管脚定义。
74LS04（六反相器）BA B A B A Y ∙=∙=+=实验二TTL、HC和HCT器件的电压传输特性一、实验目的掌握TTL、HC和HCT器件的传输特性。
二、实验所用器件和仪表1．六反相器74LS04 1片2．六反相器74HC04 1片3．六反相器74HCT04 1片4．数字万用表等三、实验说明与非门的输出电压V O与输入电压V I的关系V O=f（V I）叫做电压传输特性，也称电压转移特性。
它可以用一条曲线表示，叫做电压传输特性曲线。
从传输特性曲线可以求出非门的下列有用参数：●输入高电平（V IH），输入低电平（V IL）●输出高电平（V OH），输出低电平（V OL）●门槛电压（V T）四、实验内容1．测试TTL器件74LS04一个非门的传输特性。
2．测试HC器件74HC04一个非门的传输特性。
3．测试HCT器件74HCT04一个非门的传输特性（选做实验）。
五、实验提示1．注意被测器件的引脚7和引脚14分别接地和+5V。
2．将实验台上4.7K电位器的一端接地，另一端接+5V。
电位器的中端接非门输入端，作为被测非门的输入电压。
旋转电位器可改变电压值。
3．万用表放在测电压挡，接好连线，确认无误后，打开电源开关。
4．从输入电压为0V开始测量，电位器旋转要缓慢。
曲线变化较慢的地方按步长0.5V，变化较大的地方按0.05V调整非门输入电压。
先用万用表监测非门的输入电压，调好以后，再用万用表测量非门的输出电压，并记录下来。
5．重复步骤4，直到测至输入电压为5V。
六、实验接线图及实验结果1．实验接线图由于74LS04、74HC04和74HCT04的逻辑功能相同，因此三个实验的接线图是一样的。