数字电路实验讲义
数字电子技术实验讲义
实验一示波器与数字电路实验箱的使用及门电路逻辑功能测试、变换（验证）一、实验目的：1、熟悉示波器及数字电路实验箱的使用2、验证门电路的逻辑功能3、掌握门电路的逻辑变换二、实验仪器及器材1、Vp—5225A—12、数字电路实验箱3、器件：74LS00（二输入与非门）、74LS02（或非门）、74LS86（异或门）说明：1）以上三个门电路中的V CC接电源电压，GND接地。
2）A、B为输入端，Y为输出端，指示灯亮为高电平，灯灭为低电平。
3）实验时，检查导线是否折断，方法：一端接电源，一端接指示灯。
三、实验内容：1、熟悉示波器各旋钮的功能作用并学会正确使用。
2、熟悉数字电路实验箱并正确使用。
3、时钟波形参数的测量1）测量脉冲波形的低电平和高电平。
（取f=1KHZ）2）测量脉冲的幅度（V OM），脉宽（T P），周期（T）。
（取f=1KHZ）3）用示波器调出频率f=2KHZ的波形图，并画出波形图。
4、门电路逻辑功能测试74LS00（二输入与非门）、74LS02（或非门）、74LS86（异或门）5、用与非门（74LS00）实现其它门电路的逻辑功能1）实现或门逻辑功能：写出转换表达式，画出电路图并验证功能。
2）实现异或门逻辑功能：写出转换表达式，画出电路图并验证功能四、数据记录及处理：1、脉冲波形参数的测量1）V H=？V L=？2）V OM=？T P=？T=？3）画出频率f=2KHZ的波形图2、门电路逻辑功能测试74LS00 与非门74LS02 或非门74LS86 异或门1）写出逻辑表达式的变换A+B=2）画出电路图3）功能测试4、用与非门74LS00实现异或门的逻辑功能1）写出逻辑表达式的变换A B=2）画出电路图3）功能测试五、注意事项：1、示波器的辉度不要太亮。
2、V/DIN衰减开关档应打得合适。
3、插入芯片时，应注意缺口相对，否则就错了。
4、接线时，注意检查电源、地线是否接正确。
六、思考题：在给定的器件中，自己选择一个器件并设计电路，使输入波形与输出波形反相，用示波器观察。
《数字电路》实验讲义
一、实验目的
1．掌握寄存器的工作原理、逻辑功能及应用；
2．掌握异步计数器的工作原理及输出波形；
3．掌握中规模集成电路计数器接成任意进制计数器的方法
二、实验设备及器件
1．SAC-DS数字逻辑实验箱一台；
⑶用一片74LS153和一片74LS00接成一位全加器
⑷设计一个有A、B、C三位代码输入的密码锁（假设密码是011），当输入密码正确时，锁被打开（Y1=1），如果密码不符，电路发出报警信号（Y2=1）。
以上四个小设计任做一个，多做不限。
实验三触发器及触发器之间的转换
一、实验目的
1．掌握D触发器和JK触发器的逻辑功能及触发方式；
输入
输出
A
B
C
D
Y
0
0
0
0
1
0
0
0
1
1
0
0
1
1
1
0
1
1
1
1
1
1
1
1
0
4.异或门逻辑功能的测试
⑴按图1-4接好电路。
⑵按表1-4的要求测试，将结果填入表1-4中。
输入
输出
A
B
Y
0
0
0
0
1
1
1
0
1
1
1
0
5.设计实验
⑴用一片74LS00实现Y = A+B的逻辑功能；
⑵用一片74LS86设计一个四位奇偶校验电路；
以上两个小设计必做一个，多做不限。
四、思考题
1.与非门一个输入端接连续脉冲，其余端是何状态时允许脉冲通过，是何状态时禁止脉冲通过？
2.为什么异或门又称为可控反相门？
(整理)数字电路实验讲义
数字电路实验讲义课题：实验一门电路逻辑功能及测试课型：验证性实验教学目标：熟悉门电路逻辑功能，熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法重点：熟悉门电路逻辑功能。
难点：用与非门组成其它门电路教学手段、方法：演示及讲授实验仪器：1、示波器；2、实验用元器件74LS00 二输入端四与非门 2 片74LS20 四输入端双与非门 1 片74LS86 二输入端四异或门 1 片74LS04 六反相器 1 片实验内容：1、测试门电路逻辑功能（1）选用双四输入与非门74LS20 一只，插入面包板（注意集成电路应摆正放平），按图1.1接线，输入端接S1～S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口)，输出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口D1～D8 中的任意一个。
（2）将逻辑电平开关按表1.1 状态转换，测出输出逻辑状态值及电压值填表。
2、逻辑电路的逻辑关系（1）用74LS00 双输入四与非门电路，按图1.2、图1.3 接线，将输入输出逻辑关系分别填入表1.2，表1.3 中。
（2）写出两个电路的逻辑表达式。
3、利用与非门控制输出用一片74LS00 按图1.4 接线。
S 分别接高、低电平开关，用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。
4、用与非门组成其它门电路并测试验证。
（1）组成或非门：用一片二输入端四与非门组成或非门B+=，画出电路图，测试并填=AABY∙表1.4。
（2）组成异或门：①将异或门表达式转化为与非门表达式；②画出逻辑电路图；③测试并填表1.5。
5、异或门逻辑功能测试（1）选二输入四异或门电路74LS86，按图1.5 接线，输入端1、2、4、5 接电平开关输出插口，输出端A、B、Y 接电平显示发光二极管。
（2）将电平开关按表1.6 的状态转换，将结果填入表中。
6、逻辑门传输延迟时间的测量用六反相器74LS04 逻辑电路按图1.6 接线，输入200Hz 连续脉冲（实验箱脉冲源），将输入脉冲和输出脉冲分别接入双踪示波器Y1、Y2 轴，观察输入、输出相位差。
数电实验讲义讲解
实验一 门电路逻辑功能测试及逻辑变换一、实验目的：1．掌握TTL 与非门、或非门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。
2．熟悉TTL 中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。
3. 熟悉逻辑功能的变换。
二、实验仪器及器件：1．数字电路实验箱 1台 2．二输入四与非门74LS00 1片 3. 二输入四或非门74LS28 1片 4. 二输入四异或门74LS86 1片 5．数字万用表 1块三、实验预习：1．复习各种门电路的逻辑符号、逻辑函数式、真值表。
2．查出实验所用集成电路的外引脚线排列图，熟悉其引脚线位置及各引脚线用途。
四、实验原理：1．测试门电路的逻辑功能⑴ 与非门的逻辑功能：有0出1，全1出0。
与非门的逻辑函数式：Y=AB74LS00为二输入四与非门, 即在一块集成块内含有四个互相独立的与非门,每个与非门有2个输入端。
如下图所示。
⑵ 或非门的逻辑功能：有1出0，全0出1。
或非门的逻辑函数式：Y=A+B74LS28为二输入四或非门, 即在一块集成块内含有四个互相独立的或非门,每个或非门有2个输入端。
Vcc 4B 4A 4Y 3B 3A 3Y1A1B1Y2A2B2YGND00 四2输入与非门V DDA4B4Y4Y3B3A3A1B1Y1Y2B2A2V SS4001 四2入或非门⑶异或门的逻辑功能：相同出0，相反出1。
异或门的逻辑函数式：Y=A⊕B=AB+AB74LS86为二输入四异或门，即在一块集成块内含有四个互相独立的异或门,每个异或门有2个输入端。
如图（c）所示。
2．门电路的逻辑变换：就是用与非门等组成其它门电路。
方法：先对其它门电路的函数式用摩根定理等公式变换成与非式，再画出相应逻辑图，然后用与非门实现之。
五、实验内容：实验前先检查实验箱电源是否正常，然后选择实验用的集成电路，按接线图连线。
特别注意V cc及地线不能接错。
线接好后经指导教师检查无误方可通电。
实验中改动接线必须先断开电源，接好线后再通电实验。
数字电子技术实验讲义
预备实验门电路逻辑功能及测试一、实验目的1.熟悉门电路逻辑功能。
2.熟悉示波器使用方法。
二、实验仪器及材料双踪示波器74LS00 四2输入与非门 2片74LS20 二4输入与非门 1片74LS86 四2输入异或门 1片三、预习要求1.复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。
2.熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。
3.了解双踪示波器使用方法。
实验前先检查电源是否正常，然后选择实验用的集成电路，按自己的实验接线图接好连线，特别注意Vcc及地线不能接错。
先接好后经实验指导教师检查无误后可通电实验。
实验中改动接线须先断开电源，接好线后再通电实验。
1.测试门电路逻辑功能1)选用74LS20按图0-1接线输入端接S1-S4（电平开关输出插口），输出端接电平显示发光二极管（D1-D8任意一个）。
2)将电平开关按表0-1置位，分别测出电压及逻辑状态。
表0-12. 异或门逻辑功能测试1) 选74LS86按图0-2接线输入端1、2、4、5接电平开关，输出端A 、B 、Y 接电平显示发光二极管。
2) 将电平开关按表0-2置位，将结果填入表中。
表0-23.逻辑电路的逻辑关系1) 用74LS00按图 0-3，0-4接线，将输入输出逻辑关系分别填入表0-3，0-4中。
2) 写出上面两个电路逻辑表达式。
表0-3表0-4图0-2图 0-3图 0-44. 利用与非门控制输出用74LS00按图0-5接线，S 接任一电平开关用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。
5.用与非门组成其它门电路并测试验证1) 组成或非门：用一片四2输入与非门组成或非门，画出电路图，测试并填表0-5。
2) 组成异或门：将异或门表达式转化为与非门表达式后，画出逻辑电路图，测试并填表0-6。
表0-5五、 实验报告1. 按各步骤要求填表并画出逻辑图。
2.思考题1) 怎样判断门电路逻辑功能是否正常？2) 与非门的一个输入接连续脉冲，其余端什么状态时允许脉冲通过？什么状态时禁止脉冲通过？ 3) 异或门又称可控反相门，为什么？表0-6图 0-5实验一TTL与非门主要参数测试一、实验目的掌握TTL与非门电路主要参数的意义及测试方法。
数字电路实验讲义--09物理学
目录实验一逻辑门电路的逻辑功能与性能参数测试 (2)实验二组合逻辑电路的功能测试 (9)实验三锁存器和触发器的逻辑功能及相互转换 (15)实验四计数、译码、显示电路 (20)实验五寄存器及其应用 (26)实验六随机存取存储器的应用 (30)实验七D/A、A/D转换器 (42)实验八智力竞赛抢答装置的设计 (49)实验一 逻辑门电路的逻辑功能与性能参数测试一、实验目的1．熟悉数字万用表、示波器和数字电路基础实验箱的使用； 2．掌握TTL 和CMOS 与门主要参数的测试方法； 3．了解门电路的电压传输特性的测试方法；4．掌握74LS00与非门、74LS02或非门、74136异或门、74LS125三态门和CC4011门电路的逻辑功能；5．掌握三态门的逻辑功能。
二、预习要求1．了解TTL 和CMOS 与非门主要参数的定义和意义。
2．熟悉各测试电路，了解测试原理及测试方法。
3．熟悉74LS00、74LS02、74136、74LS125和CC4011的外引线排列。
4．画实验电路和实验数据表格。
三、实验原理与参考电路1、TTL 与非门的主要参数TTL 与非门具有较高的工作速度、较强的抗干扰能力、较大的输出幅度和负载能力等优点烟而得到了广泛的应用。
（1）输出高电平OH V ：输出高电平是指与非门有一个以上输入端接地或接低电平时的输出电平值。
空载时，OH V 必须大于标准高电平（V V SH 4.2 ），接有拉电流负载时，OH V 将下降。
测试OH V 的电路如图1.1所示。
（2）输出低电平OL V ： 输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电平值。
空载时，图1.1 V OH 的测试电路图1.2 V OL 的测试电路OLV 必须低于标准电平（V V SL 4.0=），接有灌电流负载时，OL V 将上升。
测试OL V 的电路如图1.2所示。
（3）输入短路电流IS I ：输入短路电流IS I 是指被测输入端接地，其余输入端悬空时，由被测输入端流出的电流。
数字电路课内实验讲义201004
数字电路实验讲义杭州电子科技大学2010.04实验1 数据选择器的应用1 实验目的1.了解数据选择器的电路结构和特点。
2.掌握数据选择器的逻辑功能和测试方法。
3.掌握数据选择器的基本应用。
2 实验仪器与器件3 实验原理数据选择器又称为多路开关，是一种重要的组合逻辑部件。
它是一个多路输入、单路输出的组合电路，能在通道选择信号（或称地址码）的控制下，从多路数据传输中选择任何一路信号输出。
在数字系统中，经常利用数据选择器将多条传输线上的不同数字信号，按要求选择其中之一送到公共数据线上。
另外，数据选择器还可以完成其它的逻辑功能，例如函数发生器、桶形移位器、并串转换器、波形产生器等。
（一）用门电路设计四选一数据选择器四选一数据选择器表达式为301201101001d A A d A A d A A d A A Y +++=，由表达式可以得到当A 1A 0=00时，Y=d 0；A 1A 0=01时，Y=d 1； A 1A 0=10时，Y=d 2；A 1A 0=11时，Y=d 3，这样就起到数据选择的作用。
同时由表达式可以直接用门电路设计出数据选择器电路，该电路如图2.4.1所示。
（二）双四选一数据选择器74LS153的应用74LS153数据选择器集成了两个四选一数据选择器，外形为双列直插，引脚排列如图2.4.2所示，逻辑符号如图2.4.3所示，其中D 0、D 1、D 2、D 3为数据输入端，Q 为输出端，A 0、A 1为数据选择器的控制端（地址码），同时控制两个数据选择器的输出，S 为工作状态控制端（使能端），74LS153的功能表见表2.4.1。
用数据选择器74LS153实现组合逻辑函数设计举例：当变量数等于地址端的数目时，则直接可以用数据选择器来实现逻辑函数。
现设逻辑函数F （X ，Y ）=∑m （1，2），则可用一个四选一完成，根据数据选择器的定义：30120110100101D A A D A A D A A D A A )A ,Q(A +++=，令A 1=X ，A 0=Y ，1S =0（使能信号，低电平有效），1D 0=1D 3=0，1D 1=1D 2=1，那么输出Q=F 。
数字电路实验讲义
数字电路实验讲义2008年5月目录实验1 TTL集成逻辑门功能测试 (1)实验2 组合逻辑电路 (6)实验3 加法器 (9)实验4 触发器逻辑功能测试 (13)实验5 译码器及数据选择器的应用 (17)实验6 同步计数器 (23)实验7 集成单元异步计数器 (27)实验8 移位寄存器的功能测试及应用 (33)实验9 555 集成定时器的应用 (36)实验1 TTL集成逻辑门功能测试一、实验目的1．掌握TTL与非门、或非门、异或门的逻辑功能。
了解三态门的主要特性及使用方法。
2．掌握TTL门电路电压传输特性的测试方法。
二、实验仪器1．数字电路实验箱一台2．万用表一块3．集成芯片74LS00 四2输入与非门74LS55 4输入与或非门74LS86 四2输入异或门74LS125 四2输入三态门三、实验原理TTL与非门的电压传输特性：电压传输特性表示与非门的输出电压U0与输入电压U i 之间的关系，由该曲线可以得到以下参数：U0H（输出高电平）；U0L（输出低电平）；阈值电压U TH（转折区中点对应的输入电压）。
三态门的特点：三态门的输出除0态和1态外，还可以呈现高阻状态，或称为开路状态。
利用三态门可以实现总线结构，还可以实现数据的双向传输。
四、实验内容及步骤1. 测试TTL与非门（74LS00）的逻辑功能1）集成电路的管脚见图1所示，管脚标“V CC”接电源+5V，管脚标“GND”接电源“地”，集成电路才能正常工作。
门电路的输入端接入高电平（逻辑1态）或低电平（逻辑0态），可由实验箱逻辑电平开关K提供，门电路的输入端接逻辑电平指示灯L，由L灯的亮或灭来判断输出电平的高、低。
74LS00 二输入与非门74LS55 与或非门74LS86 二输入异或门74LS125 四路三态缓冲门图1 集成电路管脚图2）实验线路如图2所示，与非门的输入端A、B分别接实验箱中逻辑电平开关K1、K2，扳动开关即可输入0态或者1态。
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数字电路实验讲义目录1 数字电路实验箱简介2 实验一基本门电路和触发器的逻辑功能测试3 实验二常用集成组合逻辑电路（MSI）的功能测试及应用4 实验三常用中规模集成时序逻辑电路的功能及应用5 实验四组合逻辑电路的设计6 实验五时序逻辑电路的设计7 实验六综合设计实验8 附录功能常用芯片引脚图数字电路实验箱简介TPE系列数字电路实验箱是清华大学科教仪器厂的产品，该实验箱提供了数字电路实验所必需的基本条件。
如电源，集成电路接线板，逻辑电平产生电路，单脉冲产生电路和逻辑电平测量显示电路，实验箱还为复杂实验提供了一些其他功能。
下面以JK触发器测试为例说明最典型的测试电路，图1为74LS112双JK触发器的测试电路。
其中Sd、Rd 、J、K为电平有效的较入信号，由实验箱的逻辑电平产生电路提供。
CP为边沿有效的触发信号，由单脉冲产生电路提供。
Q和为电路的输出，接至逻辑电平测量显示电路，改变不同输入的组合和触发条件，记录对应的输出，即可测试该触发器的功能。
逻辑电平测量显示图1. JK触发器测试电路实验一 基本门电路和触发器的逻辑功能测试一、 实验目的1、掌握集成芯片管脚识别方法。
2、掌握门电路逻辑功能的测试方法。
3、掌握RS 触发器、JK 触发器的工作原理和功能测试方法。
二、实验设备与器件 1、数字电路实验箱 2、万用表 3、双列直插式组件 74LS00：四—2输入与非门 74LS86：四—2输入异或门 74LS112：双J-K 触发器三、实验原理与内容 1、测试与非门的逻辑功能74LS00为四—2输入与非门，在一个双列直插14引脚的芯片里封装了四个2输入与非门，引脚图见附录。
14脚为电源端，工作时接5V,7脚为接地端，1A ，113和1Y 组成一个与非门，B A Y 111⋅=。
剩余三个与非门类似。
按图1—1连接实验电路。
改变输信号，测量对应输出，填入表1—1中，验证其逻辑功能。
测 量 显示逻 辑 电平图1—1 74LS00测试电路2、测试基本RS 触发器功能两个与非门相接可构成基本RS 触发器，R 、S 为触发器的清0和置1输入端。
输入低电平有效。
R 、S 同时为1时，清0置1都无效，维持原状。
当R 、S 同时为0时。
Q Q 和端都输出1，并没有不确定输出，但不满足互补的关系。
当R ，S 同时由0变成1以后，Q 端和Q 的输出满足互补条件，但Q 端可能有不确定的输出产生。
基本RS 触发器的测试电路如图1—2所示。
QQS逻辑 电平测 量 显示图1—2 基本RS 触发器测试电路（1）按表1—2的顺序在R 和S 端输入信号，观察并记录Q Q ,端输出，并说明触发器执行的是什么操作。
1（2）重新连接电路将R 和S 并联，按表1—3控制输入信号即控制R 和S 同时由0变成1，多次重复，观察R 和S 为1时Q 和Q 端的状态，是否有不同的组合，以正确理解不定状态的含义。
3、JK 触发器功能测试74LS112为双JK 触发器，该器件为16脚芯片，16脚为电源端，8脚为接地端，标号带1的信号端组成一个JK 触发器，剩余为另一个JK 触发器。
例如：1CP 、1J 、1K 为第一个JK 触发器的CP 端J 端和K 端。
相应输出为1Q 和1Q ，1Rd 和1Sd 分别是其直接清0和直接置1端，JK 触发器的特性方程是n n n Q K J Q +=+1，图1—3是其测试电路，按表1—4顺序测试其功能。
逻辑电平测量显示图1—3 74LS112测试电路4、自行安排测试电路。
测试74LS86四—2输入异或门的功能。
74LS86的原理和引脚请参阅附录。
四、实验报告要求1、按照实验内容的要求记录其对应的结果，画出其逻辑图，写出其对应表达式。
并且解释实验结果。
2、简要说明测试过程的注意事项。
3、回答思考题。
五、思考题1、如何判别你所测试的逻辑门电路的功能是否正确？2、如果测试的逻辑门电路的功能不对，你如何查找原因？实验二 常用集成组合逻辑电路（MSI ）的功能测试及应用一、实验目的1、掌握常用中规模集成组合逻辑电路的功能。
2、掌握常用中规模集成组合逻辑电路的测试方法。
3、掌握常用中规模集成组合逻辑电路的应用。
二、实验设备与器件 1、数字电路实验箱 2、万用表 3、双列直插式组件74LS138三线一八线译码器一片 74LS151八选一数据选择器一片 74LS20二一4输入与非门三、实验原理及内容 1、译码器基本功能的测试74LS138为三线八线二进制译码器。
C 、B 、A 为代码输入端，C 是高位，G 1、G 2A 、G 2B 为使能端，当G 1为高G 2A 、G 2B 为低时，使能有效。
C 、B 、A 三位代码的每种组合有相应的Y i 译码输出。
例如CBA 为110时，Y6有效输出0。
其余Y i 无效输出1.对应值为输出Y i 的逻辑式为：i B A i m G G G Y ⋅=221，m i 是变量C ，B ，A 的最小项。
按图2—1连接测试电路。
并按表2—1测试其基本功能。
逻 辑 电平测 量 显示图2—1 74LS138测试电路表2—1 74LS138功能测试表2、数据选择器的功能测试74LS151为八选一数据选择器，C ，B ，A 为通道信号，G 为低有效的使能端，D 0—D 7为数据输入端，Y 为输出端，Y 是其互补输出，当G 为低时器件根据C ，B ，A 的值从D 0—D 7中选择一个送到Y 端输出。
例如，CBA 为011时，Y=D 3，Y 的逻辑式为：∑==7i iiD m Y 式中i m 为CBA 的最小项。
表2—2是74LS151的功能表。
自行安排实验电路和数据表格测试其基本功能。
3、图2—2是以74LS138为基础构成的组合电路，连接电路并测试和记录其输入、输出关系。
说明实现了何种逻辑功能。
图2—2 74LS138应用电路4、图2—3是以74LS151为基础构成的组合电路。
连接电路并测试和记录，其输入输出关系。
并说明实现了何种功能。
图2—3 74LS151应用电路四、实验报告要求1、按实验步骤记录所要求的数据，完成各功能表，解释实验结果。
2、简要说明译码器和数据选择器的逻辑功能测试方法。
3、若发生故障，试给出原因分析。
4、回答思考题。
五、思考题1、中规模集成芯片的使能端具有什么作用？举例说明。
2、什么是低电平有效？举例说明。
3、三线八线译码器能实现几个输入变量、几个输出变量的逻辑函数？4、八选一数据选择器能实现几个输入变量、几个输出变量的逻辑函数？实验三常用中规模集成时序逻辑电路的功能及应用一、实验目的1、掌握常用中规模集成时序逻辑电路的测试方法。
2、掌握常用中规模集成计数器，寄存器的逻辑功能。
3、掌握常用中规模集成时序逻辑电路的应用及功能扩展。
二、实验设备与器件1、数字电路实验箱。
2、万用表。
3、双列直插式组件74LS194四位双向移位寄存器一片74LS161同步四位二进制加法计数器一片74LS90异步二一五一十进制计数器一片74LS00四—2输入与非门一片三、实验原理和内容1、二进制计数器功能测试74LS161是四位二进制同步加法计数器，带有异步清零和同步预置及使能功能Rd为异前清0输入端，LD为同步预置输入端S1，S2为使能端。
D3—D0为预置输入数据端。
Q3—Q0为计数输出，C为进位输出端。
表3—1为74LS161的功能表。
图3—1 74LS161基本测试电路按图3—1连接测试电路，并按以下步骤进行测量。
（1）Rd=0，测量其输出C Q Q Q Q 及0123 ，说明其功能。
（2）Rd=1,LD=0,CP ↑；测量输出，说明其功能。
（3）Rd=1,LD=1,EP=1,ET=O,CP ↑；测量输出，说明其功能。
（4）Rd=1,LD=1,EP=0,ET=1,CP ↑；测量输出，说明其功能。
（5）Rd=1,LD=1,EP=1,ET=1,CP ↑；测量输出，并画出状态转换图，说明其功能。
2、十进制计数器的功能测试74LS90为二五十进制计数器，S 9（1），S 9（2）为置九输入端，R 0（1），R 0（2）为清零输入端，CP 0为二进制数器输入端，对应输出为Q 0，CP 1为五进制计数器的输入端，对应的输入为Q 3，Q 2，Q 1。
表3—2是74LS90的功能表。
自行安排测试电路，测试其置九、清零和二进制，五进制及十进制计数功能。
3、任意进制计数器图3—2为74LS161加上反馈清零后构成的十二进制计数器。
（1）连接电路测试其计数状态转换关系。
（2）自行修改电路用反馈预置实现相同状态转换关系。
图3—2 74LS161应用电路4、移位寄存器功能测试逻辑电平测量显示单脉冲74LS194为四位双向移位寄存器，Rd 为异步清定输入端，S1，S0为功能控制端，配合CP 正沿可实现保持、左移、右移和并行输入的功能。
表3—3 74LS194的功能表。
自行设计测试电路，测试其功能。
四、实验报告要求1、按实验内容要求记录实验数据，说明其逻辑功能。
2、若发生故障，试给出原因分析。
3、总结中规模集成计数器构成任意进制计数器的方法。
4、回答思考题。
五、思考题1、同步预置与异步预置，在设计应用电路时有何不同。
5V CP实验四组合逻辑电路的设计一、实验目的1、掌握组合逻辑电路的一般设计方法。
2、掌握MSI实现组合逻辑电路的方法。
2、掌握MSI的功能扩展。
二、设计要求1、设计一个全减器，设A i、B i、C i-1分别为某位的被减数、减数低一位的借位，S i和C i分别为该位的差和向高一位的借位，要求用MSI实现。
2、设计三个开关控制一个灯的电路，要求任一开关都可随意控制灯的亮与灭，试用两种不同的方法（SSI，MSI）实现。
3、试用两片并行加法器（74LS283）和必要的门电路设计一个BCD码加法器。
根据BCD 的运算规则，当两数之和小于或等于9（1001）时，所得结果即为输出；当所得结果大于9（1010—1111）或有进位时，则应加6（0110），这样一方面给出进位输出信号，同时得到一个小于9的输出结果。
4、试用两片八线一三线优先编码器（74LS148）设计一个十六线一四线优先编码器，要求输入低电平有效，输出高电平有效。
三、实验报告要求1、要求有详细的设计过程及设计原理电路图。
2、要求列出详细的设备及元器件清单。
3、要求拟定实验测试方法，步骤及数据测试表格。
4、要求画出电路接线图，列出电路测试数据表。
5、回答思考题。
四、思考题1、总结用MSI和SSI设计组合逻辑电路的方法与两种方法的异同。
2、完成同一逻辑功能是否用MSI器件一定比用SSI器件简单？举例说明。
3、你在设计电路与实验调试电路中遇到哪些问题？你是如何分析和解决这些问题的？实验五时序逻辑电路的设计一、实验目的1、掌握时序逻辑电路的一般设计方法。