Pocket-Surfix膜厚仪说明书
膜厚测试仪操作规范
膜厚测试仪操作规范膜厚测试仪是一种用于测量材料表面膜层或薄膜的厚度的仪器设备，广泛应用于电子、化工、包装等行业。
为确保测试结果的准确性和可靠性，使用膜厚测试仪时需要遵守一定的操作规范。
以下是膜厚测试仪操作规范的详细内容：1.设备准备1.1确保膜厚测试仪处于良好的工作状态，检查仪器主体及相关附件是否完好，如有损坏或异常应及时维修或更换。
1.2准备好所需的测试样品及校准标准，将其放置在干净、无尘的工作台上。
1.3打开膜厚测试仪的电源开关，待仪器自检完成后方可进行操作。
2.校准操作2.1使用之前需要对膜厚测试仪进行校准，保证测试结果的准确性。
2.2选择适当的校准标准样品，根据仪器说明书进行校准操作，调整仪器的相关参数至合适的数值。
2.3校准完成后，进行零位调整，确保仪器零位偏差在规定范围内。
3.测试操作3.1将待测样品放置在仪器的测量台上，确保样品与测量台稳定接触。
3.2调整仪器的测试范围和测试速度，根据待测样品的特性选择合适的测试参数。
3.3启动仪器进行测试，记录测试结果。
4.数据处理4.1测试完成后，将仪器显示屏上的数据记录下来，确保测试数据的准确性。
4.2对测试数据进行合理的处理和分析，如平均数、标准差等统计指标的计算。
4.3将测试结果与规定的膜厚要求进行对比，判断样品是否合格。
5.仪器维护5.1使用完毕后及时清理膜厚测试仪的测量台和相关部件，保持仪器的清洁，并避免灰尘或杂质对测试结果的影响。
5.2定期进行仪器的维护和保养，包括清洁、校准、零点调整等工作，确保仪器的长期稳定运行。
5.3对出现故障或异常的膜厚测试仪进行及时维修或更换，以免影响测试结果的准确性和可靠性。
6.安全注意事项6.1在操作膜厚测试仪时，应注意自身的安全，避免发生意外事故。
6.2使用时应佩戴适当的防护设备，如手套、护目镜等。
6.3严禁使用过期或损坏的测试标准样品进行测试，以免影响测试结果的准确性。
6.4禁止在湿度较高的环境中使用膜厚测试仪，以防止损坏设备或影响测试结果。
膜厚仪的使用方法和标准
膜厚仪的使用方法和标准
使用方法：
1.首先，将膜厚仪置于测量表面上，确保膜厚仪与测量表面之
间没有空气层或其他杂物；
2.然后，将膜厚仪的表面滑动到测量表面上，并将膜厚仪的表
头放置在测量表面的一侧，并将膜厚仪的表头拉伸到另一侧；
3.最后，将膜厚仪的表头释放，并观察膜厚仪的表头上的数字，以获取膜厚的数值。
膜厚仪的标准：
1.膜厚仪的精度应符合国家标准规定；
2.膜厚仪的精度应该精确到0.01mm；
3.膜厚仪的测量范围应该满足实际需要；
4.膜厚仪的表头应该具有良好的操作性和耐用性；
5.膜厚仪的操作按钮应该明显，方便操作；
6.膜厚仪的表头应该能够清晰的显示测量的数值。
最新厚度仪使用SOP
修订表1.0目的规范膜厚测试仪的操作，确保测量结果准确可靠。
2.0范围非亚铁金属或非金属绝缘物质的膜厚。
3.0职责3.1吹瓶线品控员负责此仪器的使用和维护保养；3.2品控主管对仪器的检测结果有效性负责。
4.0定义无5.0程序5.1操作方法5.1.1开机：按ON键。
5.1.2清零：按”Zero”键，屏幕闪烁”Zero”，把适当量程”置中量筒”套于探头上，并将相应的钢珠置于此”置中量程”中心，再按一次” Zero”确定。
为了提高精确性，可多清零几次。
5.1.3两点校准：按”CAL”键，把”红色校正量筒”套到探头上，再将适用的标准校准片平稳放置于此”红色校正套筒”中心，再把相应大小的钢珠放在标准片上，显示屏会显示数据，然后按向上键或向下键调至标准片上标示的数据，再按一次”CAL”键确定。
5.1.4测量：把钢珠放入测试样品瓶内，使瓶身贴近探头，开始测量。
显示屏会显示测量数据。
测量完毕可按”STATS”查看测量数据，包括号平均值、最大值、最小值等。
5.1.5根据附表选用相应的钢珠和标准片5.2保养与注意事项.5.2.1仪器是精密机件，请小心爱惜使用，避免淋雨或掉落地上5.2.2探头电线线丝很细，避免让它打折或扭旋5.2.3标的钢珠，很容易生锈，请避免受潮。
用后，请将表面上沾著的汗湿擦干净。
如果长期不使用可在其表面涂上薄薄的防锈油。
生了锈请用细砂纸轻轻地将锈抹去，并涂上防锈油。
5.2.4标的钢珠使用日久，会微带磁性，不必消磁，也不会影响准确性5.2.5仪器表壳，请勿用化学清洁济擦拭6.0参考文献6.1厚度仪使用说明书7.0附件/记录7.1附件：7.2。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书1. 简介膜厚仪是一种用于测量材料表面膜层厚度的仪器。
本作业指导书旨在提供膜厚仪的正确使用方法，以确保准确测量和数据记录。
2. 仪器准备2.1 确保膜厚仪处于稳定的工作环境中，远离振动和干扰源。
2.2 检查仪器的电源和连接线是否正常，确保仪器处于正常工作状态。
2.3 检查测量探头的清洁程度，如有污垢应及时清洁，以免影响测量结果。
3. 校准3.1 打开膜厚仪的电源，并等待仪器的初始化完成。
3.2 使用已知厚度的标准样品进行校准。
将标准样品放置在测量台上，并按照仪器说明书的指引进行校准操作。
3.3 校准完成后，检查校准结果是否符合要求，如有误差应重新进行校准。
4. 测量操作4.1 将待测样品放置在测量台上，并确保样品与测量台接触良好。
4.2 打开膜厚仪的测量程序，并根据需要选择合适的测量参数，如测量范围和测量速度等。
4.3 将探头轻轻贴近样品表面，确保与样品接触良好，并启动测量程序。
4.4 等待测量结果稳定后，记录测量数值，并进行必要的数据处理。
5. 数据记录与分析5.1 将测量结果记录在指定的数据表格或文件中，包括样品编号、测量日期、测量参数和测量数值等。
5.2 对测量结果进行必要的数据分析，如计算平均值、标准偏差等统计量，并根据需要绘制相应的图表。
6. 仪器维护6.1 每次使用结束后，及时清洁仪器和探头，避免污垢积累影响测量精度。
6.2 定期检查仪器的电源和连接线，确保其正常工作。
6.3 根据仪器说明书的要求，进行定期的校准和维护操作，以保证仪器的准确性和稳定性。
7. 安全注意事项7.1 在使用膜厚仪时，应注意避免直接接触探头和样品，以免造成伤害。
7.2 使用过程中应注意避免碰撞和摔落，以免损坏仪器。
7.3 在清洁仪器时，应使用柔软的清洁布或棉签，避免使用有腐蚀性的溶剂。
7.4 如发现仪器存在异常情况或故障，应及时停止使用并联系维修人员进行检修。
以上为膜厚仪的作业指导书，通过正确的操作和维护，可以确保膜厚仪的准确测量和可靠性。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书一、引言膜厚仪是一种用于测量薄膜或者涂层厚度的仪器，广泛应用于材料科学、电子工程、化学工业等领域。
本作业指导书旨在提供详细的操作指南，以确保用户正确、安全地使用膜厚仪进行测量。
二、设备准备1. 确保膜厚仪处于稳定的工作环境，远离振动和强磁场等干扰源。
2. 检查膜厚仪的电源线是否正常连接，电源是否稳定。
3. 确保膜厚仪所需的标准样品和测试样品已准备齐全。
三、操作步骤1. 打开膜厚仪电源，待其自检完成后进入工作状态。
2. 选择合适的测试模式和参数设置，如测量范围、测量时间等。
根据具体需要，可以选择单点测量或者连续测量模式。
3. 将标准样品放置在膜厚仪的测量台上，并调整其位置，确保与探测器的光束对齐。
4. 按下“测量”按钮，膜厚仪将开始测量并显示结果。
记录测量值，并与标准样品的厚度进行比较，以验证膜厚仪的准确性。
5. 将待测样品放置在测量台上，按下“测量”按钮，膜厚仪将对待测样品进行测量，并显示结果。
记录测量值，并与标准要求进行比较，以评估样品的质量。
6. 如需连续测量多个样品，重复步骤4和步骤5，直至所有样品测量完成。
7. 关闭膜厚仪电源，清理测量台和探测器，确保设备处于良好的工作状态。
四、注意事项1. 在操作膜厚仪之前，请子细阅读并理解操作手册，确保熟悉设备的使用方法和安全注意事项。
2. 在操作过程中，应佩戴适当的个人防护装备，如手套和护目镜，以防止意外伤害。
3. 避免将膜厚仪暴露在潮湿、高温或者恶劣的环境中，以免影响其性能和寿命。
4. 定期对膜厚仪进行校准和维护，以确保其测量结果的准确性和可靠性。
5. 如发现膜厚仪存在故障或者异常情况，请即将住手使用，并联系专业技术人员进行维修。
五、常见问题解答1. 为什么膜厚仪的测量结果与标准样品的厚度不一致？可能是由于膜厚仪的校准不许确或者标准样品的厚度有误差。
请重新校准膜厚仪，并使用准确的标准样品进行比对。
2. 如何选择合适的测量模式和参数设置？根据待测样品的特性和要求，选择适当的测量模式和参数设置。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书一、引言膜厚仪是一种用于测量材料表面薄膜厚度的仪器。
它广泛应用于材料科学、纳米技术、涂层工艺等领域。
本作业指导书旨在提供膜厚仪的操作指南，帮助操作人员正确、准确地使用膜厚仪进行测量。
二、膜厚仪的基本原理膜厚仪通过测量入射光线经过材料表面后的反射光线，根据光的干涉原理来计算薄膜的厚度。
膜厚仪通常由光源、探测器、光学系统和计算机控制系统组成。
三、膜厚仪的准备工作1. 确保膜厚仪处于稳定的工作环境中，避免强烈的光线、振动和温度变化。
2. 检查膜厚仪的电源是否正常连接，确保电源稳定。
3. 清洁膜厚仪的探测器和光学系统，避免灰尘和污垢对测量结果的影响。
4. 校准膜厚仪，确保其准确性和稳定性。
四、膜厚仪的操作步骤1. 打开膜厚仪的电源开关，等待仪器启动。
2. 设置测量参数，包括入射角度、波长范围等。
根据需要选择合适的参数。
3. 将待测样品放置在膜厚仪的测量台上，确保样品表面光洁平整。
4. 调整膜厚仪的焦距和焦平面，使得光线能够准确地照射到样品表面。
5. 点击开始测量按钮，膜厚仪开始进行测量。
根据仪器显示的实时数据，可以观察到薄膜厚度的变化。
6. 等待测量完成后，保存测量数据，并进行必要的数据处理和分析。
五、膜厚仪的注意事项1. 在操作膜厚仪之前，应仔细阅读并理解膜厚仪的操作手册，熟悉仪器的使用方法和注意事项。
2. 在进行测量之前，应先进行样品的预处理，确保样品表面干净、光滑。
3. 在测量过程中，应注意避免外界干扰，如强光、震动等，以确保测量结果的准确性。
4. 定期对膜厚仪进行校准，以保证测量结果的准确性和稳定性。
5. 注意膜厚仪的维护保养，定期清洁仪器的探测器和光学系统，确保其正常工作。
六、膜厚仪的应用案例1. 纳米材料研究：膜厚仪可用于测量纳米材料的薄膜厚度，帮助研究人员了解纳米材料的生长和性质。
2. 涂层工艺控制：膜厚仪可用于测量涂层的厚度，帮助生产工艺控制和质量检测。
3. 光学薄膜设计：膜厚仪可用于测量光学薄膜的厚度，帮助光学薄膜的设计和优化。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书一、概述膜厚仪是一种用于测量薄膜或涂层厚度的仪器。
本作业指导书旨在提供使用膜厚仪的详细步骤和操作要点，以确保准确测量膜厚。
二、仪器准备1. 确保膜厚仪处于稳定的工作状态，检查仪器外观是否完好无损。
2. 将膜厚仪连接到电源，并确保电源稳定。
3. 检查仪器是否校准正确，如有需要，进行校准操作。
三、样品准备1. 准备待测膜样品，并确保其表面干净、平整。
2. 根据样品的特性和要求，选择合适的测量模式（如单点测量、扫描测量等）。
3. 根据样品的大小和形状，选择合适的测量位置和测量范围。
四、测量操作1. 打开膜厚仪软件，并选择相应的测量模式。
2. 将样品放置在膜厚仪的测量台上，并确保与测量头接触良好。
3. 调整仪器参数，如测量速度、测量范围等。
4. 点击开始测量按钮，开始进行膜厚测量。
5. 在测量过程中，保持样品稳定不动，并避免外部干扰。
6. 等待测量结果稳定后，记录测量数值，并保存数据。
五、数据分析1. 根据测量结果，进行数据分析和处理。
2. 针对不同样品和要求，可以进行膜厚的平均值、最大值、最小值等统计。
3. 将数据导出为Excel或其他格式，以便进一步分析和报告。
六、仪器维护1. 使用完毕后，及时关闭膜厚仪软件和电源。
2. 清洁仪器表面和测量台，确保无灰尘和污物。
3. 定期检查仪器的校准状态，并根据需要进行校准操作。
4. 如遇到故障或异常情况，及时联系维修人员进行维修。
七、安全注意事项1. 在操作膜厚仪时，应佩戴适当的个人防护装备，如手套、护目镜等。
2. 避免将手指或其他物体接触到测量头，以防受伤或损坏仪器。
3. 在使用电源时，注意电源线的安全使用，避免触电事故。
八、总结膜厚仪是一种非常重要的测量仪器，能够提供薄膜或涂层的厚度信息。
通过本作业指导书，您可以了解到膜厚仪的使用步骤和操作要点，以确保准确测量膜厚。
在操作过程中，请务必遵守安全注意事项，并及时进行仪器维护，以保证仪器的正常运行和测量结果的准确性。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书一、背景介绍膜厚仪是一种用于测量材料表面膜层厚度的仪器，广泛应用于电子、光学、涂料等行业。
为了确保膜厚仪的正确使用和操作，本作业指导书旨在提供详细的操作步骤和注意事项，以确保用户能够准确测量膜层厚度并获得可靠的结果。
二、设备准备1. 膜厚仪：确保膜厚仪处于正常工作状态，并进行必要的校准。
2. 校准样品：根据需要选择适当的校准样品，确保其表面膜层厚度已知准确并符合要求。
3. 清洁布：用于清洁膜厚仪的探头和样品表面。
三、操作步骤1. 打开膜厚仪电源，并等待其启动完成。
2. 校准膜厚仪：将校准样品放置在膜厚仪的测量台上，按照仪器说明书的指导进行校准操作。
校准完成后，记录校准结果并确保其准确性。
3. 清洁样品表面：使用清洁布轻轻擦拭待测样品表面，确保其干净无尘。
4. 放置样品：将待测样品放置在膜厚仪的测量台上，并确保其与测量台接触良好。
5. 测量膜层厚度：按下膜厚仪上的测量按钮，仪器将自动测量样品表面的膜层厚度。
待测量完成后，记录测量结果。
6. 重复测量：如有需要，可对同一样品进行多次测量，以确保结果的准确性和可靠性。
7. 结束操作：完成测量后，关闭膜厚仪电源，并将设备归位。
四、注意事项1. 在操作膜厚仪之前，确保已经阅读并理解了膜厚仪的使用说明书，并按照说明书的要求进行操作。
2. 在校准膜厚仪之前，务必检查校准样品的膜层厚度是否符合要求，并确保校准过程准确无误。
3. 在清洁样品表面时，使用干净的清洁布，避免使用有损伤或杂质的布料，以免影响测量结果。
4. 在放置样品时，确保样品与测量台接触良好，避免产生误差。
5. 在测量膜层厚度时，尽量避免外界干扰，如电磁场、震动等，以确保测量结果的准确性。
6. 如有需要，可对同一样品进行多次测量，以获得更加可靠的结果。
7. 在操作完成后，及时关闭膜厚仪电源，并将设备归位，以确保设备的安全和延长其使用寿命。
五、常见问题及解决方法1. 问题：测量结果与预期不符。
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简介涂层测厚仪Pocket-Surfix®/Pocket-Surfix® （统计型）根据1994年3月颁布的DIN EN 61 010第一部分（电子测量、控制与实验室设备的安全性要求）进行设计和测试，出厂时确保所有技术指标安全可靠。
该仪器符合下列有关涂层测厚的标准：电磁感应原理：D IN EN ISO 2178、DIN 50 981、DIN 50 982电涡流原理：DIN ISO 2360有关此说明书菜单技术已被广泛应用于手机行业，但这是首次应用于涂层测厚仪上。
此说明书将指导您如何一步步地正确操作Pocket-Surfix®测厚仪。
根据这些步骤，您可以在几分钟之后掌握其操作方法。
仪器基本操作典型应用Pocket-Surfix®无损涂层测厚仪可用于：●钢铁基体上的所有非导磁覆层，如涂料、油漆、陶瓷、镀锌、镀铬、镀铜等（电磁感应原理，即F型）和/或●有色金属和奥氏体钢铁基体上的所有绝缘覆层，如涂料、油漆、氧化层等（电涡流原理，即N型）。
Pocket-Surfix®/Pocket-Surfix®（基本型）各有三种型号：FN型：两用型，可在钢铁和有色金属基体上测量。
F型：可在钢铁基体上测量。
N型：可在有色金属基体上测量。
Pocket-Surfix®（基本型）功能略少，有关章节会注明基本型不适用。
测量前的准备工作Pocket-Surfix®使用两节AAA 1.5V碱性电池或两节AAA 1.2V可充电电池。
干电池电压不足时屏幕上会显示电池标记在闪烁。
但是使用可充电电池时，因为电池本身电压的原因电池标记会一直闪烁。
另外可以在菜单中选择选项/电源/可充电电池，这时如果可充电电池已充足电，电池标记将不再闪烁。
要更换电池时，先卸下仪器背面的螺丝，然后用附带的螺丝刀轻轻撬开仪器上端盒盖的夹缝，将仪器分成上下两部分。
注意不可用蛮力。
装好电池之后，将仪器上下两部分对好位置后压紧，并装好螺丝。
注意：安装新的电池时请注意不要装反极性。
更换电池请于20秒内完成，否则仪器存储的校准和测量数据会丢失。
仪器用⊙键开关机。
如果仪器处于自动关机模式，仪器会在最后一次操作或测量的1.5分钟后自动关机。
菜单结构菜单本身带有指导性。
根据菜单，您可以象使用大多数手机一样操作该仪器。
要激活某一功能，您只须快速查找该功能所属之主菜单和子菜单并进入此菜单即可。
主菜单包括4大项：校准功能、统计功能、设置极限值和选项。
所有其他功能和项目均分配给这四大项。
需采取之步骤会显示在屏幕上，如“Place probe on the Cal foil（将探头放在校准箔上）”。
步骤完成之后仪器会给出确认，如“Calibration is complete （校准已完成）”。
校准与测量（主菜单第一项）Pocket-Surfix®出厂时已经过校准。
如果希望达到更高的测量精度，可根据下述方法对仪器进行校准。
在无涂层的被测物上进行零校准，可以消除被测物表面形状（如平整或弯曲表面）所导致的测量误差。
完成校准之后，下次开机时如果要进行同样的测量，不需要再次进行同样的校准。
如果被测表面是平整的而且大于35mm X 35mm，也可以使用仪器附带的不锈钢板或铝板进行零校准。
根据不同的情况可进行三种校准方法：出厂校准（用于平整的而且大于35mm X 35mm的表面）删除当前的校准值即可激活出厂校准值。
此项校准不需校准标准或无涂层的被测物。
步骤如下，也可参考菜单结构：1．按一下上下键，屏幕上显示Calibration（校准功能）。
2．按OK键，屏幕上显示Zero setting（零校准）。
3．连续按上下键，直至屏幕上显示Delete calibration（删除校准值）。
4．按OK键，屏幕上显示Works calibration activated（已激活出厂校准），然后显示四条横线“- - - -”。
现在开始测量即可。
单点校准（零校准）进行零校准您需要一块无涂层的被测物，此物的大小形状和材料特性应与有涂层的被测物相似。
步骤如下，也可参考菜单结构：1．按一下上下键，屏幕上显示Calibration（校准功能）。
2．按OK键，屏幕上显示Zero setting（零校准）。
3．将探头垂直放在无涂层的被测物上测量数次。
4．按OK键，屏幕上短暂显示Zero has been set（已完成零校准），然后显示四条横线“- - - -”。
现在开始测量即可。
两点校准（使用校准箔进行校准）同零校准一样，您需要一块无涂层的被测物，此物的大小形状和材料特性应与有涂层的被测物相似。
然后选择一片与预计涂层厚度最接近的标准箔。
做完该校准之后，仪器的测量可以保证达到技术数据所规定的精度。
步骤如下，也可参考菜单结构：1．先按照上述方法完成单点校准。
2．按一下上下键，屏幕上显示Calibration（校准功能）。
3．按OK键，屏幕上显示Zero setting（零校准）。
4．再按上下键，屏幕上显示Foil calibration（用标准箔进行校准）。
5．按OK键，屏幕上显示Put probe on foil Standard（将探头放在标准箔上进行测量）。
6．将标准箔放在无涂层的被测物上，在标准箔上进行数次测量。
7．根据标准箔上标注的厚度，使用上下键调整显示读值直至标准厚度。
8．按OK键，屏幕上短暂显示Calibration has been set（已完成校准），然后显示四条横线“- - - -”。
现在开始测量即可。
设定零位补偿值（基本型不适用）您可以设置一个正/负常数。
在您进行每次测量之后，仪器会自动在测量值上加上/减去该常数，显示的是计算后的数值。
而且屏幕上会显示步骤如下，也可参考菜单结构：1.按一下上下键，屏幕上显示Calibration（校准功能）。
2.按OK键，屏幕上显示Zero setting（零校准）。
3.再按上下键，直至屏幕上显示Zero Offset（零位补偿）。
4.按OK键，屏幕上显示Offset（补偿值）。
5.再按OK键，屏幕上显示Set Offset Value（设定补偿值）。
6.使用上下键调整读值直至显示所需补偿常数。
7.按OK键，屏幕上短暂显示Offset value is set（已完成设定），然后显示四条横线“- - - -”。
测量Pocket-Surfix®F型仪器可在钢铁基体上进行测量，屏幕显示Ferr（钢铁）。
Pocket-Surfix®N型仪器可在铜铝基体上进行测量，屏幕显示Non-Ferr（有色金属）。
Pocket-Surfix®FN型仪器在两种基体上均可进行测量，出厂时设置为Automatic FN recognition（自动识别FN），屏幕显示Auto FN。
在Auto FN的模式下，当探头放在被测物上时，仪器会自动识别基体金属为钢铁或铜铝，并自动激活相应的测量原理，即电磁感应（F）或电涡流（N）。
但是在某些情况下，比如钢铁上涂清漆或镀锌，建议预先选定一种测量原理。
如果在钢铁上测量，请选择F（Ferr）；而在铜铝上则使用N（Non-Ferr）。
步骤如下，也可参考菜单结构：1．按上下键直至显示Options（选项）。
2．按OK键，屏幕上显示Measuring unit（测量单位）。
3．连续按上下键，直至屏幕上显示Measuring mode（测量模式）。
4．按OK键，屏幕上显示Auto FN identification（自动识别FN）。
5．连续按上下键，直至屏幕上显示所需的Ferrous（F），Non-Ferrous（N）或是Auto FN 。
6．按OK键，确认所选的测量模式，屏幕上显示AUTO FN ，Ferr或Non-Ferr。
统计功能（主菜单第二项）Pocket-Surfix®配备在线统计功能，即在每次测量之后，仪器均会对统计值进行重新计算并显示在屏幕的下边。
Pocket-Surfix®的统计数值包括：N：测量次数X：所有测量值的平均值s：标准偏差Max：所有测量值的最大值Min：所有测量值的最小值注意：对于Pocket-Surfix® FN型，F模式和N模式一共可存储80个读值。
打印统计值如果有红外线适配器，一组5个统计值可打印出来或传输入PC。
（IR红外适配器和打印机是选购件。
）步骤如下，也可参考菜单结构：1．按上下键直至显示Statistics（统计功能）。
2．按OK键，屏幕上显示Printout of statistics（打印统计值）。
3．将Pocket-Surfix®仪器的红外发射器（顶端面）朝向红外适配器，距离应在30cm到50cm左右，然后4．按OK键进行数据传输，屏幕上短暂显示Printing…（打印中），然后显示四条横线“- - - -”。
打印单个测量值仪器中存储的所有测量值和5个统计值均可通过外围设备进行传输打印，如同统计值的打印．步骤如下，也可参考菜单结构：1．按上下键直至显示Statistics（统计功能）。
2．按OK键，屏幕上显示Printout of statistics（打印统计值）。
3．按上下键直至显示Printout of single values（打印单个测量值）。
4．将Pocket-Surfix®仪器的红外发射器（顶端面）朝向红外适配器，距离应在30cm到50cm左右，然后5．按OK键进行数据传输，屏幕上短暂显示Printing…（打印中），然后显示四条横线“- - - -”。
显示统计值存储的5个统计值可随时调出显示．步骤如下，也可参考菜单结构：1．按上下键直至显示Statistics（统计功能）。
2．按OK键，屏幕上显示Printout of statistics（打印统计值）。
3．按上下键直至显示Display of statistics（显示统计值）。
4．按OK键，屏幕上显示N（测量次数）、x（平均值）和s（标准偏差）；再按OK键，显示N（测量次数）、Max（最大值）和Min（最小值）；再按OK键又回到Display of statistics（显示统计值）；在这三个显示之间转换。
如果想继续测量，请连续按ESC（退出），直至屏幕显示四条横线“- - - -”。
显示单个测量值存储的单个测量值也可随时调出显示．步骤如下，也可参考菜单结构：1.按上下键直至显示Statistics（统计功能）。
2.按OK键，屏幕上显示Printout of statistics（打印统计值）。
3.按上下键直至显示Display of single values（显示单个测量值）。
4.按OK键，屏幕上显示第一个测量值。