AD静态参数和动态参数的测试方法介绍
DAC静态参数测试
第四章 DAC 静态电参数测试本文要点：DAC 电参数义的定DAC 规静态电参数测试计常方法及算公式DAC 测试统系的典型硬件配置DAC 数规据范（Data Sheet）样例选择输码减如何入代以少DAC 测试时间的如何提高DAC 电参数测试的精度及稳定性关键词释解调误失差Eo（Offset Error）转换线实际值与值值：特性曲的起始理想起始（零）的偏差。
误增益差E G （Gain Error）转换线实际与资：特性曲的斜率理想斜率的偏差。
（在有些料误称为满误上增益差又刻度差）线误性差Er（Linearity Error）转换线与拟线间：特性曲最佳合直的最大偏差。
（NS 公司义定）或者用：准确度E A （Accuracy 转换线与转换线）：特性曲理想特性曲的最大偏差（AD 义公司定）。
线误微分性差E DL （Differential Linearity Error）值满值围内邻输：在起始到刻度的范相入数码对应拟输电压实际值与的模出之差的1LS 值简单说个理想得最大偏差。
的，就是在整转换围内范每一步距（1LSB）的最大偏差。
满围刻度范（FSR）：DAC 输电压围的出范。
最小有效位（LSB）：DAC 输变时输电压变入化一位，出的化量。
单调性（Monotonic）：DAC 输号个变时输个变的入信朝一方向化，出也向一方向化或保持常量分辨率（Resolution）：DAC 总的输数义为入位，定2n 一、 DAC 静态电参数义测试简定及介在图4.1中，Summing Junction 和 I out 连没电过电端接在一起，如果有流流阻R∑输，电压出Vout 为电压当零刻度；DAC 电过电的最大流流阻R∑输电压，出Vout 为满电压刻度。
来自DAC 运输电或算放大器入端的漏流以及放大器输调电压电压的入失使得零刻度偏值输电离典型。
出流（Iout 输）以及入基准（Vref 满电压误别）的偏差引起刻度的差。
特要注意的是DAC 输满电压时运调电压它误出刻度，算放大器的失以及其的零点差也在起着作样误用（同零点差（offset error 响间码输电压值说满输）也影着中代出）。
晶振的检测方法
晶振的检测方法晶振是一种用于产生稳定频率信号的元件，广泛应用于电子设备中。
在电子产品的设计和生产过程中，对晶振的质量和性能进行检测是非常重要的。
本文将介绍晶振的检测方法，帮助读者了解如何对晶振进行准确有效的检测。
首先，对晶振进行外观检查。
外观检查是最基本的检测方法之一，通过肉眼观察晶振的外观是否完整，有无损坏或破损。
同时，还需要检查晶振的引脚是否焊接牢固，外壳是否有裂纹或变形等情况。
外观检查可以初步判断晶振是否存在明显的质量问题。
其次，进行静态参数测试。
静态参数测试是对晶振的静态电性能进行测试，包括频率稳定性、频率偏差、谐波失真等参数的测试。
通过专业的测试仪器，可以对晶振的静态参数进行准确测量，从而判断晶振的质量和性能是否符合要求。
然后，进行动态参数测试。
动态参数测试是对晶振在实际工作条件下的性能进行测试，包括启动时间、启动电平、工作电流等参数的测试。
通过模拟实际工作环境，对晶振进行动态参数测试，可以更全面地了解晶振的性能表现，判断其是否稳定可靠。
最后，进行可靠性测试。
可靠性测试是对晶振的长期稳定性和耐久性进行测试，包括温度循环测试、湿热循环测试、振动测试等。
通过模拟各种极端环境条件下的测试，可以评估晶振的可靠性和耐久性，判断其在实际使用中是否能够长期稳定工作。
综上所述，晶振的检测方法包括外观检查、静态参数测试、动态参数测试和可靠性测试等多个方面。
通过综合运用这些检测方法，可以全面、准确地评估晶振的质量和性能，为电子产品的设计和生产提供可靠的保障。
希望本文能够帮助读者更好地了解晶振的检测方法，为实际工作提供参考和指导。
参考答案--模拟电子技术实验指导书(2012)
参考答案--模拟电子技术实验指导书(2012)实验一常用电子仪器的使用一、实验目的1．熟悉示波器，低频信号发生器和晶体管毫伏表等常用电子仪器面板，控制旋钮的名称，功能及使用方法。
2．学习使用低频信号发生器和频率计。
3．初步掌握用示波器观察波形和测量波形参数的方法。
二、实验原理在电子电路实验中，经常使用的电子仪器有示波器、低频信号发生器、直流稳压电源、交流毫伏表及频率计等。
它们和万用电表一起，可以完成对电子电路的静态和动态工作情况的测试。
实验中要对各种电子仪器进行综合使用，可按照信号流向，以连线简捷，调节顺手，观察与读数方便等原则进行合理布局，各仪器与被测实验装置之间的布局与连接如图1—1所示。
接线时应注意，为防止外界干扰，各仪器的共公接地端应连接在一起，称共地。
信号源和交流毫伏表的引线通常用屏蔽线或专用电缆线，示波器接线使用专用电缆线，直流电源的接线用普通导线。
图1—1 模拟电子电路中常用电子仪器布局图1．低频信号发生器低频信号发生器按需要输出正弦波、方波、三角波三种信号波形。
输出电压最大可达20V（峰-峰值）。
通过输出衰减开关和输出幅度调节旋钮，可使输出电压在毫伏级到伏级范围内连续调节。
低频信号发生器的输出信号频率可以通过频率分档开关进行调节。
低频信号发生器作为信号源，它的输出端不允许短路。
2．交流毫伏表交流毫伏表只能在其工作频率范围之内，用来测量正弦交流电压的有效值。
为了防止过载而损坏，测量前一般先把量程开关置于量程较大位置上，然后在测量中逐档减小量程。
3．示波器示波器是一种用途极为广泛的电子测量仪器，它能把电信号转换成可在荧光屏幕上直接观察的图象。
示波器的种类很多，通常可分通用、多踪多线、记忆存贮、逻辑专用等类。
双踪示波器可同时观测两个电信号，需要对两个信号的波形同时进行观察或比较时，选用双踪示波器比较合适。
本实验要测量正弦波和方波脉冲电压的波形参数，正弦信号的波形参数是幅值U m 、周期T （或频率f ）和初相；脉冲信号的波形参数是幅值U m 、周期T 和脉宽T P 。
半导体测试原理
半导体测试原理
半导体测试是一种评估半导体器件性能和可靠性的方法。
它通过对半导体器件进行一系列电学和物理测试，来确定其工作状态和质量特征。
半导体测试的主要目的是确保器件能够按照设计要求进行正常工作，并且能够在预期的环境下长时间稳定运行。
半导体测试通常包括以下几个方面：
1. 电学测试：这是半导体测试的核心部分。
通过对器件进行电流、电压、功率等电学参数的测量，可以评估器件的功能性能。
例如，通过测试电流特性，可以确定器件的静态和动态功耗；通过测试电压特性，可以了解器件的工作电压范围等。
2. 功能测试：这种测试主要是为了验证器件是否按照设计要求实现了各项功能。
这些功能可能包括逻辑门、存储器单元、模拟电路等。
通过输入特定的电信号，并观察输出信号，以确定器件是否正确执行了所需的功能。
3. 可靠性测试：这种测试用于评估器件在长时间使用和不同环境下的可靠性。
常见的可靠性测试包括温度循环测试、湿度测试、电热老化等。
通过模拟器件在实际使用中可能遇到的各种环境，可以预测其寿命和性能退化情况。
4. 外观检查：这是一种对器件外观进行检查和评估的测试。
通过目视检查、显微镜观察等方法，可以确定器件是否存在裂纹、磨损、划痕等表面缺陷。
这对于一些对外观要求较高的应用，
如汽车电子、消费电子等领域非常重要。
半导体测试原理基于电学和物理测试技术，通过对器件进行多种测试手段的组合，以全面评估器件的性能和可靠性。
测试结果将被用于判定器件是否合格，并进行进一步的工艺改进和性能调优。
最终目标是确保半导体器件的质量和可靠性，以满足不同领域应用的需求。
AD转换器
利用A/D转换设计一个室温温度计摘要当今社会，温度测量系统被广泛的应用于社会生产、生活的各个领域。
在工业、环境检测、医疗、庭等多方面均有应用。
在这个信息爆发的时代，计算机技术的高速发展和广泛应用，而A/D转换器作为计算机与被处理物理信息之间的联系通道也被广泛应用，特别是在数字信号处理、雷达信号分析、医用成像设备、高速数据采集等应用方面，对ADC的速度要求很高。
由于ADC的发展及应用的深入，其静态参数已不足以表征ADC的全部性能。
在输入信号是时间的函数时，ADC所表现出来的性能称为动态性能。
而在和数字信号处理一起工作的ADC、一些音频应用的ADC以及用于视频应用的ADC（称为采样型ADC）中，动态性能尤为重要。
因此，分析、测试ADC的动态性能是非常重要的。
本课题是利用A/D 转换设计一个室温温度计，当用计算机来构成数据采集系统时，利用温度传感器的敏感特性，去检测展示的温度，所经采集的温度信号是连续变化的模拟量，而计算机能处理不连续的数字量，因此，我们必须用模数转换器即A/D 转换器把模拟信号转换成数字信号后才能送入计算机进行处理，再利用显示电路把转换后的数字信号显示出来。
整个流程先通过单片机的 P3.3 口对温度传感器进行操作，实现数字温度采集；在转换的过程中用到芯片 ADC0809；最后通过发光二极管显示出所测温度。
本文将讲述80C51芯片，温度传感器LM35及ADC0809芯片的基本原理和特点，并介绍了基于单片机的A/D转换电路的设计，对硬件部分和软件部分的设计进行了详细的介绍。
关键词：ADC0809、LM35、A/D转换器、80C51、发光二极管目录1 绪论 11.1 课题描述 11.2 基本工作原理及框图 12 相关芯片及硬件电路设计 22.1 ADC0809芯片 22.1.1 ADC0809外部特性（引脚功能） 22.1.2 ADC0809 引脚图以及主要功能 22.1.3 ADC0809内部结构 32.1.4 ADC0809典型应用及系统硬件原理图 3 2.2 LM35芯片 42.2.1 LM35介绍 42.2.2 LM35的主要性能参数 52.2.3 LM35各引脚介绍及电路原理图 62.3 80C51芯片 62.3.1 80C51芯片的介绍及引脚图 62.3.2 80C51的功能特性 72.3.3 80C51的主要性能参数 72.4 A/D转换电路 82.4.1 A/D转换电路定义 82.4.2 A/D转换器的的分类 92.5 主要电路的电路图及原理 92.5.1 温度采集电路 92.5.2 放大电路 103 系统软件设计 10总结 15致谢 16参考文献 171 绪论1.1 课题描述电子技术，特别是大规模集成电路的技术的飞速发展，人类生活发生了根本性的改变，如果说微型计算机的出现使现代科学技术研究的当了质的飞跃，那么可以毫不夸张地说，单片机技术的出现则是给现代工业测控领域带来了一次新的技术。
Stata面板数据回归分析中的动态面板模型比较
Stata面板数据回归分析中的动态面板模型比较面板数据回归分析是经济学和社会科学研究中常用的一种统计分析方法，尤其在分析经济增长、贸易模式和社会发展等领域具有重要应用。
在面板数据回归分析中，动态面板模型是一种相对较新的方法，它与传统的静态面板模型相比具有一定的优势。
本文将对Stata软件中的动态面板模型进行比较分析。
一、动态面板模型简介动态面板模型是基于面板数据的经济学分析方法之一，特点是将时间维度引入模型中，考虑了变量的滞后效应。
动态面板模型的基本形式是：Y_it = α + ρY_i,t-1 + βX_it + ε_it其中，Y_it表示因变量，α是常数项，Y_i,t-1是因变量的滞后值，X_it表示解释变量，β是解释变量的系数，ε_it是误差项。
ρ参数则表示了时间维度的滞后效应。
二、动态面板模型与静态面板模型的比较动态面板模型与静态面板模型相比，主要有以下几点不同之处：1. 考虑了时间维度：动态面板模型引入了时间维度，可以捕捉变量随时间变化的趋势和动态调整过程。
2. 控制了滞后效应：采用动态面板模型可以控制变量的滞后效应，更准确地分析变量之间的关系。
3. 处理了内生性问题：动态面板模型可以解决静态面板模型中常常出现的内生性问题，提高了模型的估计效率。
三、动态面板模型的Stata实现Stata软件是众多研究者进行面板数据回归分析的常用工具之一。
在Stata中进行动态面板模型估计可以使用xtabond2命令，该命令可以同时进行一阶和二阶差分估计。
具体使用方法如下：. xtabond2 Y X1 X2 X3, gmm(L) iv(X4)其中，Y是因变量，X1、X2、X3是解释变量，gmm(L)表示进行一阶或二阶差分估计，iv(X4)表示使用变量X4作为工具变量进行估计。
四、动态面板模型实证研究为了比较动态面板模型和静态面板模型的效果，我们使用一个示例数据集进行实证研究。
数据集包含了多个国家的GDP和人口数据，我们以GDP作为因变量，人口数量和劳动力作为解释变量，并将时间维度纳入模型。
基于Catalyst-200的串行DAC静态参数测试研究
北 京 １ ０ ５ ） ０ ８ ４ （ 国航 天 科 工 集 团第 二研 究 院 二 。 一 所 中
摘
要
文章基于大规模数模混 合测试设备 Ｃ ｔｌｓ ２０ 采用 最佳 拟合直线法 ， ａａｙｔ ０ ， 一 对串行数模转换器 的测试方法进行研
究， 并以 ＡＤ ３ ７为例 ， ５１ 进行其静态参 数差 分非线性和积分非 线性 的测试 ， 过合理设 计数字 ｐ ｔ ｒ 控 制 串行模数 转换器 通 ａｔ ｎ ｅ 的控制字 和数 据输 入 ， 同时对 转换 控制信号进行 时序 分析 ， 最终得 到相应 的测试 曲线和测试值 ， 明 了测试 方法 的正确性 。 证 文章 的研究成 果为开展其它 串行数模 混合信号集成 电路 的测试 研究奠定 了基础 。 关键 词 Ｃ ｔｌｓ ２ ０ ａａ ｔ ０ ；最佳 拟合直线 ；串行 ； ｙ－ 数模 转换器
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ｏ ａ ａｙ ｔ ２ ０ ｎ Ｃ ｔ ｌ ｓ一 ０ ．Ｄｉ ｅ ｅ ｃ ｏ ｌ ｅ ｒ ａ ｄ ｉ ｔ ｇ ａ ｎ ｎ ｉ ｅ ｒ ｙ ｏ ｆ ｒ ｎ ｅ ｎ ｎ ｉ ａ ｎ ｎ ｅ ｒ ｌ ｏ ｌ ａ ｉ ｆ ＡＤ５ １ ｓ ｔ ｓ ｅ ｙ ｃ ｎ ｒ ｌ ｎ ｈ ａ ａ ｉ ｐ ｔ ｏ ｅ ｉｌ ｆ ｎ ｎ ｔ ３ ７ ｉ ｅ ｔ ｄ ｂ ｏ ｔｏ ｌ ｇ ｔ ｅ ｄ ｔ ｎ ｕ ｆ ｓ ｒ ｉ ａ ＤＡＣ ｓｎ ｅ ｉｎ ｎ ｉ ｉ ｌ ａ ｔ ｒ ｅ ｓ ｎ ｂ ｙ ｕ ｉ ｇ ｄ ｓｇ ｉ ｇ ｄ ｇ ｔ ｔｅ ｎ ｒ ａ ｏ ａ ｌ ．ＡＴ ｈ ａ ｉ ，ｔ ｓ ｉ ｇ ｃ ｒ ｅ ｎ ａ ｕ ｓ ａ ｅ ｇ ｔｂ ｅ ｕ ｎ ｅ ａ ａ ｙ ｉ ， ａｐ ｔ ｅ ｓ ｍｅ ｔｍｅ ｅ ｔｎ ｕ ｖ ｓ ａ ｄ ｖ ｌ ｅ ｒ ｏ ｙ ｓ ｑ ｅ ｃ ｎ ｌ ｓ ｓ
静态工作点
静态工作点所谓静态工作点就是输入信号为零时，电路处于直流工作状态，这些直流电流、电压的数值在三极管特性曲线上表示为一个确定的点，设置静态工作点的目的就是要保证在被放大的交流信号加入电路时,不论是正半周还是负半周都能满足发射结正向偏置，集电结反向偏置的三极管放大状态.可以通过改变电路参数来改变静态工作点，这就可以设置静态工作点.若静态工作点设置的不合适,在对交流信号放大时就可能会出现饱和失真(静态工作点偏高)或截止失真（静态工作点偏低）. 所谓静态工作点，是指当放大电路处于静态时，电路所处的工作状态。
在Ic/UCE 图上表现为一个点,即当确定的UCC、RB、RC和晶体管状态下产生的电路工作状态。
当其中一项改变时引起IB变化而引起Q点沿着直流负载线上下移动。
设计任务(一）目的：1。
了解单极共基极放大电路的基本工作原理;2.学会运用软件模拟设计电路、应用各种仪器。
了解电路在不同状态下的变化特点，学会对电路的变化分析;3。
了解设置静态工作点分析的必要性4.熟悉静态工作点与动态参数的估算5.了解稳定静态工作点的措施（二）原理：1.共基极放大电路中，输入信号是由三极管的发射极与基极两端输入的，再由三极管的集电极与基极两端获得输出信号因为基极是共同接地端，所以称为共基极放大电路。
2.共基极放大电路具有以下特性：(1)、输入信号与输出信号同相；（2）、电压增益高；(3）、电流增益低（≤1）；(4)、功率增益高；(5）、适用于高频电路. 共基极放大电路的最大优点是频带宽，因而常用于无线电通信方面.3设计电路（一）单级共基极放大电路图图3—1 单级共基极放大电路图（二） 放大器静态工作点的测量与调试 由于电子器件性能的分散性比较大，因此在设计和制作晶体管放大电路时，离不开测量和调试技术术在技术前应测量所用元器件的参数，为电路设计提供必要的依据，在完成设计和转被以后，还必须测量和调试放大器的静态工作点和各项性能指标.一个优质放大器，必定是理论设计和实验调试相结合的产物.因此,除了学会放大器的理论知识和设计方法外，还必须掌握必要的测量和调试技术.放大器的测量和调试一般包括：放大器静态工作点的测量与调试，消除干扰与自激震荡及放大器各项动态参数的测量与调试等。
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AD 静态参数和动态参数的测试方法介绍
模数转换器即A/D 转换器，或简称ADC，通常是指一个将模拟信号转变为数字信号的电子元件。
通常的模数转换器是将一个输入电压信号转换为一个输出的数字信号。
由于数字信号本身不具有实际意义，仅仅表示一个相对大小。
它广泛地应用在信号采集和处理、通信、自动检测和多媒体技术等领域。
本文介绍AD 静态参数和动态参数的测试方法。
模数转换器的性能参数
静态参数的定义
图1，差分非线性DNL 定义为实际转移的台阶电压与理想台阶之差。
式中，N 为转换器位数，D 为转换器输出的数字码，VD 为输出数字码D 对应的最小输入电压，VLSB-IDEAL 为理想情况下使AD 的输出变化一位的最小输入电压。
通常（1）式中的最大值被定义为整个模数转换器的差分非线性误差，即：
积分非线性INL：定义为模数转换器的实际转移曲线与理想转移曲线的偏差，公式表达为：。