阵列探测器在成像光谱偏振探测技术中的应用
分焦平面偏振成像关键技术

分焦平面偏振成像关键技术罗海波;刘燕德;兰乐佳;叶双辉【摘要】偏振成像是一项具有巨大应用价值的前沿技术,近年得到了业内人士的广泛关注.文章介绍了偏振成像的原理、特点、应用以及国内外研究现状,还介绍了几种常用的实现方法及其优缺点,最后对当前偏振成像的主流方法——分焦平面法的关键技术进行了讨论.%Polarization imaging is an advanced technology with increasing applications and it has attracted wide atlention in recent years. In this paper, theories, characteristics, applications and the research status of polarization imaging are introduced. The implementation of several common methods and their advantages and disadvan-tages are also explored. Finally, the key technologies of division of focal plane polarimeters which is the current mainstream method of polarization imaging are analyzed.【期刊名称】《华东交通大学学报》【年(卷),期】2017(034)001【总页数】6页(P8-13)【关键词】成像;偏振成像;分焦平面法;插值;非均匀性校正【作者】罗海波;刘燕德;兰乐佳;叶双辉【作者单位】中国科学院沈阳自动化研究所,辽宁沈阳 110016;华东交通大学机电与车辆工程学院,江西南昌 330013;华东交通大学机电与车辆工程学院,江西南昌330013;华东交通大学机电与车辆工程学院,江西南昌 330013【正文语种】中文【中图分类】TP391偏振是光波的基本属性之一,其中蕴含着被测物的众多特征信息。
光学选修课结课论文:高光谱成像系统

高光谱成像系统人眼是人类认识外部世界的重要器官,它给我们带了很多的方便。
但是,它并非完美。
有些它本身的局限,如它对外部世界的描述相当于一个积分器,是一个整体的感知。
不能够对各波段光的分布情况显示。
现实生活中,我们恰恰需要对某件物品或者某个整体进行光谱分析从而研究其各部分的理化性质。
那么,多光谱成像仪和高光谱成像仪便应运而生。
多光谱成像技术和高光谱成像技术是有较大区别的。
高光谱和多光谱实质上的差别就是:高光谱的波段较多,谱带较窄。
多光谱相对波段较少。
这里就浅显地介绍高光谱成像系统。
高光谱成像技术是基于非常多窄波段的影像数据技术,它将成像技术与光谱技术相结合,探测目标的二维几何空间及一维光谱信息,获取高光谱分辨率的连续、窄波段的图像数据。
所谓高光谱图像就是在光谱维度上进行了细致的分割,不仅仅是传统所谓的黑、白或者R、G、B的区别,而是在光谱维度上也有N个通道,例如:我们可以把400nm-1000nm分为300个通道。
因此,通过高光谱设备获取到的是一个数据立方,不仅有图像的信息,并且在光谱维度上进行展开,结果不仅可以获得图像上每个点的光谱数据,还可以获得任一个谱段的影像信息。
高光谱成像技术是基于非常多窄波段的影像数据技术,它将成像技术与光谱技术相结合,探测目标的二维几何空间及一维光谱信息,获取高光谱分辨率的连续、窄波段的图像数据。
目前高光谱成像技术发展迅速,常见的包括光栅分光、声光可调谐滤波分光、棱镜分光、芯片镀膜等。
下面将分条介绍。
一、光栅分光原理。
在经典物理学中,光波穿过狭缝、小孔或者圆盘之类的障碍物时,不同波长的光会产生不同程度的弯散传播,再通过光栅进行衍射分光,形成一条条谱带。
也就是说:空间中的一维信息通过镜头和狭缝后,不同波长的光按照不同程度的弯散传播,这一维图像上的每个点,再通过光栅进行衍射分光,形成一个谱带,照射到探测器上,探测器上的每个像素位置和强度表征光谱和强度。
一个点对应一个谱段,一条线就对应一个谱面,因此探测器每次成像是空间一条线上的光谱信息,为了获得空间二维图像再通过机械推扫,完成整个平面的图像和光谱数据采集。
正交偏振光谱成像技术在镜面光学元件表面缺陷检测中的应用

正交偏振光谱成像技术在镜面光学元件表面缺陷检测中有着广泛的应用。
该技术通过利用正交偏振光在不同方向上的反射特性,可以有效地检测和分析镜面光学元件表面的微小缺陷。
正交偏振光谱成像技术的原理是利用光的偏振现象。
当线偏振光照射到表面时,如果表面存在缺陷或者微小结构,会导致光的偏振状态发生改变。
通过使用两个正交方向的偏振光源,可以同时获取两个方向上的反射光谱,进而对比分析不同方向上的偏振光在表面上的反射情况。
通过分析正交偏振光谱成像技术获取的光谱信息,可以得到以下几个方面的信息:
1. 缺陷检测:通过对比分析两个正交方向上的反射光谱,可以检测出表面的微小缺陷,如划痕、气泡、污染等。
2. 缺陷定位:通过对不同位置上的光谱进行分析,可以确定缺陷的具体位置,帮助进行后续修复或调整。
3. 缺陷分类:根据不同的光谱特征,可以对缺陷进行分类和鉴别,有助于进一步了解缺陷的性质和原因。
4. 表面质量评估:通过分析光谱图像,可以评估镜面光学元件的表面质量,判断是否符合相关的要求和标准。
正交偏振光谱成像技术在镜面光学元件的生产和质量控制过程中具有重要的应用价值。
它可以实现非接触、高效、精确地检测和评估光学元件的表面缺陷,提高产品的质量和可靠性。
干涉成像光谱技术

干涉成像光谱技术摘要: 干涉成像光谱技术是当今可见光和红外遥感器探测技术的前沿科学,是当今成像技术与光谱技术的有机结合,目前它已成为人们研究和获取目标三维信息(二维空间信息和一维光谱信息)的重要手段和前沿学科。
成像光谱仪把成像技术和光谱技术融为一体,可以在空间以及光谱两个方向上对目标进行识别分析。
关键词: 干涉干涉成像光谱技术傅利叶光学干涉仪1 、前言干涉成像光谱技术始源于干涉光谱学的发展。
1880 年,迈克耳逊发明了以他的名字命名的干涉仪。
1887 年,迈克耳逊与莫雷进行了旨在检验以太风的著名实验: 迈克耳逊一莫雷实验。
这一实验的零结果否定了绝对惯性系以太的存在,确立了后来爱因斯坦创立狭义相对论两条基本假设之一的光速不变原理,迈克耳逊一莫雷实验比爱因斯坦早18 年提出了物质世界的这一基本规律。
20 世纪前半叶,航天技术得到了前所未有的高速发展,为空间探测和地表探测创造了条件,同时也为空间探测技术提出了更多的需求。
人们希望得到的不只是单纯的目标光谱或目标形影信息,而希望能够同时得到目标的形影信息和光谱信息。
这一极大的社会需求导致了成像仪与光谱仪的结合以及成像光谱技术的产生。
成像光谱技术从原理上讲分为色散型和干涉型两大类: 色散型成像光谱仪是利用色散元件(光栅或棱镜等)将复色光色散分成序列谱线, 然后再用探测器测量每一谱线元的强度。
而干涉型成像光谱仪是同时测量所有谱线元的干涉强度, 对干涉图进行逆傅里叶变换将得到目标的光谱图。
2、干涉成像光谱仪的原理图 1 是基于迈克耳逊干涉仪基础上的时间调制干涉成像光谱仪原理图。
下面我们将通过迈氏干涉仪的双光束干涉机理产生的干涉图的定量分析及处理来阐明干涉成像光谱技术的基本原理。
设从光源发出的单色光经前置光学系统后成为一束电矢量振幅为 E 。
( c 为波数)的准直光束射入迈克耳逊干涉仪,任一时刻 t ,位置坐标为z 处的光波表达 式为此光波到达分束板后,被分割成一束透射光和一束反射光, 经M 、MZ 反射后 又返回分束板,分别经透射和反射到达探测器。
利用变偏振光谱技术实现显微成像深度选择

中图分类号 : TH7 4 4
偏振态的思想相结合 , 构 建了基 于变偏 振光谱技术 的微循环
引 言
微循 环是直接参与组织细胞新陈代谢 和物 质交 换的体液 的流动 。微循环研究 的黄金标 准是活体 显微镜 技术 ,但 因其 有创 、手术复杂繁琐 、需要荧光剂等 缺点不 适合人 体微循 环
检测口 ] 。毛细管显微术是 最早 的无创 微血 管成像 方 法 , 但
检测系统 。 在 照明光路 中加入 由线偏 振片和 / 4波片组成 的 起偏 器 , 在探测器前加入相 同光学元件 的检偏器 。同时调节 起、 检偏器 两组光学元件 的相 对角度 ,即可 实现偏振 态 的控
床 医学上得 到了广泛的应用 ] 。然 而 OP S技 术 的缺陷在 于 只能进行血 管的二维形态 学探 测 ,但不 能获 知探测 目标 ( 如 血管 ) 在组织 内的具体深度 L 1 “ ] 。 Mo r g a n等[ 1 ] 提 出了改变光 的偏振态 ,再利 用图像相减 的方法 可以对组 织 进行 深度 方 向的选 层 。由于偏 振记 忆 效
应 ,圆偏 振光的探 测深 度要 大 于线偏 振 光。S i l v a等L l 3 ] 进一 步证 明了椭 圆偏 振光的探测深度介 于 圆、线偏 光之 间。该 团
队尝试 了将变 偏振 态 的思想 应用 在血 管 探测_ 1 ,但 由于 系 统结构本身 的限制 , 无法达到微血管 的探测 精度 。 为 了实现对 微血管在深度方 向的选择性 探测 ,并充分利
制冷型及非制冷型红外探测器性能对比、应用领域分析

1 用于军事和科研领域的制冷型红外探测器发展情况适用于制冷型红外单色探测器的主流材料是InSb和碲镉汞。
InSb中波红外探测器技术相对成熟,比较容易做成低成本、大面积、均匀性好、高性能的探测器阵列。
但它也存在如工作温度不能提高等一些缺点。
适用于多波长探测的低温红外探测器的材料一般有三种,包括碲镉汞(HgCdTe)、量子阱(QWIPs)和Ⅱ类超晶格。
表6:制冷型红外探测器敏感材料对比敏感材料技术特点锑化铟技术成熟,成本较低,只能用于单色制冷红外探测器,军民大量应用,尤其以红外空空导弹为多。
碲镉汞通过改变镉的组份,可以精确的控制碲镉汞材料的禁带宽度,覆盖短波、中波和长波红外。
但是由于微小的组分偏差就会引起很大的带隙变化,其材料的稳定性、抗辐射特性和均匀性都相对较差,所以成品率较低,成本非常高。
量子阱生长技术成熟,并且生长面型均匀,受控性好;价格低廉、产量大、热稳定性高。
但其结构特殊性使得正入射光无法很好地被探测器吸收,致使量子阱探测器的量子效率并不理想。
Ⅱ类超晶格拥有较高的探测灵敏度,几乎可以与碲镉汞相媲美。
隧穿电流和暗电流均较小,对工作温度的要求相对宽松。
提高性能、缩小体积和降低成本是目前碲镉汞探测器的三大研究方向。
国内研究碲镉汞红外探测器的单位主要包括昆明物理研究所、高德红外。
昆明物理所从2006年就开始着手碲镉汞中波红外探测器的研发工作,并于2010年实现了量产。
2015年,昆明物理研究所量产的640×512中波红外探测器实现了在温度为110K,NETD为19.7mK,有效像元率为99.33%的技术指标,标志着我国中波探测器性能指标基本达到同一时期发达国家的技术水平。
据高德红外子公司高芯科技官网显示,该公司研制了国内最新款制冷型碲镉汞中波红外探测器CB12M MWIR,其面阵规格为1280×1024,像元尺寸为12μm,NETD小于20Mk(F2/F4)。
技术指标达到国内外顶尖水平。
椭圆偏振光谱测量技术及其在薄膜材料研究中的应用

椭偏的概念首先由德国科学家 PaulDrude在 19世纪末提出,1887年他使用 Fresnel公式解释 了以布儒斯特角射入水中的偏振光,反射得到的 p偏振光反射率不趋于 0的问题[5]。Drude不仅 仅给出了椭偏分析的理论基础,1890年他还使用
第 6期
朱绪丹,等:椭圆偏振光谱测量技术及其在薄膜材料研究中的应用
(复旦大学 信息科学与工程学院光科学与工程系,上海 200433)
摘要:椭圆偏振光谱测量技术通过测量线偏振光经材料表面反射后光的相对振幅与相位改变量计算得到椭偏参数,再通 过椭偏参数的拟合获取样品光学性质。由于其具有非接触、高灵敏度、非破坏性等优势,广泛应用于物理、化学、材料科 学和微电子等方面,是一种不可或缺的光学测量手段。本文首先简要回顾了该技术的发展历程,接着阐述了传统椭偏仪 的基本原理,按照测量原理的不同可将椭偏仪分为消光式和光度式。随后,本文简单介绍了一些常用椭偏仪的基本架 构、测量原理和相关应用,并比较了他们的优缺点,重点展示了复旦大学研制的双重傅立叶变换红外椭偏光谱系统。然 后按照椭偏参数处理的基本步骤:测量、建模与拟合 3个方面,阐述了其过程,详细剖析了参数拟合所使用的各种光学色 散模型,同时通过应用实例介绍了各色散模型的应用情况。最后,对未来椭偏技术的发展方向进行了展望。 关 键 词:椭偏技术;椭偏仪;椭偏参数拟合;光学色散模型;材料光学特性 中图分类号:O484.5;O433.1 文献标识码:A doi:10.3788/CO.20191206.1195
光学测量的一项重要内容是薄膜特性———例 如厚度和光学性质。常用的光学测量技术根据其 原理可分为:光吸收法、干涉监控法、偏振光分析 法等[23]。其中偏振光分析法就是本文介绍的椭 圆偏振光 谱 测 量 技 术 (后 文 中 简 称 为 椭 偏,本 文 介绍的椭偏仪 /椭偏技术均采用反射式),该方法 是利用偏振光在材料表面反射后,相应偏振态的 改变来测量该材料的光学性质。通过椭偏测试, 可以获得材料的折射率、消光系数和复介电函数 等光学性质,还可以进一步计算得到包括材料反 射率、吸收率、透射率、光学带隙在内的相关光学 特性。同时,椭偏技术还可用于获取材料组分、界 面层性质和粗糙度等综合信息。
光纤传感器原理及应用ppt课件

• 1977年,美国海军研究所(NRL-National Novel Research Laboratory)开始执行光 纤传感器系统计划
光纤传感器问世
• 1983年起,国际光纤传感器会议定期召开, 光纤传感器的研究成为世界研究热点
• 各个发达国家都做了大量的研究工作,具 体如下:
美国
FOSS(Fiber Optic Sensor System) —光纤传感器系统:水声器、磁强计和 其它有关的水下检测设备
• 灵敏度高,抗电磁干扰,耐腐蚀,防爆。 • 无源器件,不干扰被测场。 • 结构简单,体积小,重量轻。 • 便于和计算机连接,可以实现分布式传感和遥测
技术:在整个光纤长度上能连续的获得被测量的响 应,传统的几百个点传感器阵列可以用一条光纤 取代。 • 频带宽,动态范围大。 • 几何形状具有多方面的适用性,便于组合系统, 可以组成任意形状的FOS或FOS阵列,并且可与计 算机连接,实现多功能及智能化。
光纤传感器的基本构成
外界参量
光 光纤 信号 光纤 光探
源
调制
测器
信号 处理
光源:LD,LED,白炽灯,激光器等 信号调制:待测参量引起光信号强度、波长、频率、
相位或偏振态的变化。 光探测器:PIN,APD,CCD,光电池等。 信号处理:电路、计算机、单片机,计算机系统等。
2.光纤传感器的分类
• 按照传感原理进行划分
2.传感器系统
• 从单一传感器的研究进入到传感器系 统的研究,并与微处理机相结合形成 光纤遥测系统。
3.提高可靠性和稳定性
• 降低成本。 • 特殊光纤:根据实际需要选用新的
材料,设计特殊结构的专用光纤。 • 对基础技作。
• non-resonant wavelengths are transmitted through the device without loss.
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阵列探测器在成像光谱偏振探测技术中的应用 李芮;李晓;王志斌;黄艳飞;王耀利;张瑞 【摘 要】In order to apply near-infrared focal plane array detectors in imaging spectrometer polarization instruments to get the high-quality image information , a new type of imaging spectrometer detection techniques on basis of near -infrared focal plane array detectors was proposed combining with a photo-elastic modulator-based imaging spectro-polarimeter ( PEM-ISP) .A FPA-640 ×512 InGaAs focal plane array detector was used as an optical detector receiving element and a high -speed field-programmable gate array ( FPGA ) was used as the signal processing unit to get fast acquisition and parallel processing of the optical signal and meet the other requirements of the high-speed, real-time signal transmission and processing .The data collected by the high-speed A/D was storaged in the expanding outside SRAM of the FPGA in order to ensure the data integrity .And then, the data was ultimately transmitted to the host computer via USB for image restoration . The experimental results show that the system can be applied to PEM-ISP, achieve accurate detection and acquisition of the measurement signals and get complete image information .%为了在成像光谱偏振仪中应用近红外焦平面阵列探测器,得到高质量图像信息,结合新型弹光调制型成像光谱偏振探测技术( PEM-ISP),提出了一种基于近红外焦平面阵列探测器的成像光谱偏振探测技术。系统采用FPA-640×512 InGaAs焦平面阵列探测器作为光学探测接收元件,采用高速现场可编程门阵列( FPGA)作为信号处理单元,做到对光学信号的快速采集与并行处理,满足高速、实时的信号传输与处理技术等要求。将经高速A/D采集得到的数据存储到FPGA外扩的静态随机存储器中,以保证数据的完整性。数据最终通过通用串行总线传至上位机,上位机通过LabVIEW实现图像还原。结果表明,该系统可以应用于PEM-ISP中,实现对测量信号的精确探测与采集,并得到完整的图像信息。
【期刊名称】《激光技术》 【年(卷),期】2014(000)006 【总页数】4页(P822-825) 【关键词】成像系统;三弹光调制器;成像光谱偏振探测技术;现场可编程门阵列 【作 者】李芮;李晓;王志斌;黄艳飞;王耀利;张瑞 【作者单位】中北大学山西省光电信息与仪器工程技术研究中心,太原030051;中北大学山西省光电信息与仪器工程技术研究中心,太原030051;中北大学山西省光电信息与仪器工程技术研究中心,太原030051;中北大学山西省光电信息与仪器工程技术研究中心,太原030051;中北大学山西省光电信息与仪器工程技术研究中心,太原030051;中北大学山西省光电信息与仪器工程技术研究中心,太原030051
【正文语种】中 文 【中图分类】TN215;O436.3 成像光谱仪和成像偏振仪是近些年来发展起来的两类光电传感器,成像光谱仪能够获得测量目标的图像信息以及光谱信息,成像偏振仪能够获得测量目标的图像信息以及偏振信息,将光谱探测功能和偏振探测功能集成到一个成像仪中则可以得到一类新的光电传感器,即成像光谱偏振仪[1]。这种成像光谱偏振仪在生物医学、测量、工农业、环境监测、天文学、军事科学等领域均具有较高的应用价值[2]。2013年中北大学WANG等人提出三弹光差频调制偏振测量技术,是将3个弹光调制器(photoelastic modulator,PEM)分别工作在不同的频率上,以实现对被测光的差频调制,与传统的弹光调制偏振测量技术相比,该方法在保留其原有优点的同时,大大减小了调制后的光电流频率,使其可与普通面阵探测器实现很好的匹配[3]。本系统在实现目标探测功能中使用的高分辨率近红外焦平面阵探测器,可使整个系统具有较高的探测率和精确度[4]。由于现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)采用并行方式处理数字信息,使用FPGA实现探测器的时序控制,可满足系统高精度的要求,且设计灵活,程序和模块可移植性强[5-7]。因此,本文中结合弹光调制型成像光谱偏振探测(photo-elastic modulator-based imaging spectro-polarimeter,PEMISP)技术,提出了一种基于FPA-640×512 InGaAs焦平面阵列探测器,以FPGA作为信号处理单元的成像光谱偏振探测技术,以得到近红外区域光源的图像信息、光谱信息以及偏振信息。 PEM-ISP系统图如图1所示。本系统中采用反射式光学成像系统,此成像方法光路简单、波长范围大、色差小,可以很好地降低系统本身对偏振光测量产生的影响;三弹光差频调制部分由3组弹光调制器PEM1,PEM2,PEM3构成,3组弹光调制器分别工作在数值略有差异的3个频率ω1,ω2和ω3上,其中PEM2与PEM3放置在PEM1前,PEM3与PEM1平行,PEM2与PEM1成45°,以实现对偏振光的差频调制,并产生载有被测目标偏振信息的低频调制分量(0;ω1-ω2;2ω1-2ω3),再通过相应的锁相放大技术,以弹光调制器的驱动信号作为参考信号,就可以从探测器的输出信号中一次测量获得Stokes矢量中的S=(s1,s2,s3);声光可调滤光片(acousto-optic tunable filter,AOTF)是利用声光衍射原理制成滤光片,用于成像,这里通过同步控制技术,使AOTF在一次调制周期内固定在某一个探测波段,当AOTF完成一次全波段调谐后,系统即完成对目标的图像、光谱以及偏振信息的测量[1,3,8-9]。 本系统采用FPA-640×512 InGaAs焦平面阵列探测器作为光学信号探测接收元件,采用高速FPGA作为信号处理单元,做到对光学信号的快速采集与并行处理,采用高速A/D将FPGA控制探测器时序得到的模拟信号转换为数字信号,并存储到FPGA外扩的静态随机存储器(static RAM,SRAM)中,数据最终通过通用串行总线(universal serial bus,USB)传至上位机,上位机通过LabVIEW实现图像还原。系统整体设计图如图2、图3所示。 2.1 探测器外围电路设计 FPA-640×512 InGaAs焦平面阵列探测器波长范围为0.9μm~1.7μm,输出电压范围为1.6V~4.8V,640×512的像素点使其具有较高的分辨率和精度。探测器共28个引脚,其中RESET_B,CLK,LSYNC,FSYNC,DATA,FIELD引脚引出,接到FPGA的I/O口上,便于对探测器进行时序控制;TEC-以及TEC+引脚引出,便于对探测器进行温度控制,确保探测器工作于较为安全的温度环境;VOUTREF引脚为探测器输出参考电压引脚,通过滑动变阻器实现外接1.6V电压输入;VOS引脚为略读控制电压引脚,电压输入范围为1.6V~5.5V,应与探测器寄存器中OE-EN位配合使用,这里通过滑动变阻器实现3.6V电压输入;VDETCOM引脚为探测器基准电压引脚,电压输入范围为2.7V~5.5V,VREF引脚为CTIA放大器参考电压引脚,电压输入范围为2.2V~3.2V,这两个电压共同作用决定探测器偏置电压,这里分别通过滑动变阻器实现3.2V以及2.6V电压输入;探测器可选1路、2路、4路信号输出,这里选用1路输出模式,由OUTA引脚输出,其它输出引脚悬空。具体电路图如图4所示。 2.2 A/D模块电路设计 A/D模块采用了ADI公司生产的12位高速A/D转换器AD9220,其最高采样速率可达10MHz, AD9220有直流耦合和交流耦合两种输入方式,系统设计采用直流耦合、0V~5V电压的输入方式,采用内部2.5V参考电压,由于系统垂直分辨率只需255级,故采用AD9220的高8位[10]。具体电路图如图5所示。 FPA-640×512 InGaAs探测器有默认模式以及控制模式两种工作模式,在默认模式下,设备为标准的640×512格式成像、1路输出、全帧隔行扫描、正常扫描顺序;在控制模式下,FPGA通过设备内部的串行控制寄存器,将一系列命令发送到设备中,此时允许访问设备所有高级功能,可选窗大小、输出模式、扫描顺序等。这里选用控制模式,并通过FPGA控制探测器DATA引脚,在每个帧信号上升沿后3个时钟周期,向探测器中写入一系列命令,将探测器设置为标准640×512成像格式、1路输出、非隔行扫描、正常扫描顺序等。RESET_B信号用于控制探测器复位,应在power up时使其保持低电平,power up后将其拉高。FIELD信号用于全帧隔行扫描模式下,控制奇数场以及偶数场扫描,本系统中采用非隔行扫描模式,故使其保持低电平即可。CLK,LSYNC,FSYNC信号根据帧时间Tf以及行时间Tl计算公式进行控制: 式中,M为行数,N为列数,Ta为模拟设置时间。通过quartus II对上述时序控制工程进行仿真,截取其中部分仿真图如图6所示。 系统中采用256kbyte×16高速SRAM芯片IS61LV25616,并在数据前后分别插入两个字节的标识符,便于LabVIEW取得完整的1帧数据。在Lab-VIEW程序中,首先通过while循环从USB读取2帧大小的数据,以确保所读取数据中含有完整的1帧;通过查找的方式找到帧头和帧尾标识符后,将数据排列成数组,并在前面板进行图像还原。在这里做了相关的成像实验,获得的图像如图7、图8所示。 通过图像可以看出,FPA-640×512 InGaAs焦平面阵列探测器成像效果良好、分