材料测试技术基础概述 共62页
材料成型测试技术概述.ppt

1.1 测试技术的地位和作用
工业生产倍增器 测试技术是带动国民经济增长的一个 关键领
域 在美国:检测技术占4%,拉动经济增长66%
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1.1测试技术的地位和作用
检测技术在工业生产领域的应用
在线检测:零件尺寸、产品缺陷、装配定位….
10
11
1.1测试技术的作用和地位
检测技术在工业生产领域的应用
• 物料流 • 能流 • 信息流
客观世界
5
1.1 测试技术的地位和作用
信息获取是信息流的一环
…
信息流
获取 传输 处理 控制
信息流组成
6
1.1 测试技术的地位和作用
• 获取信息是仪器科学的基本任务
• 仪器仪表是信息产业的重要组成部
分
• 仪器仪表是信息工业的源头
7
1.1 测试技术的地位和作用
• 3 测试仪器仪表的作用 工业生产 倍增器 科学研究 先行官 军 事 战斗力 社 会 物化法官
测量也就是将被测量与同种性质的标准量进行比较确定被测
量对标准量的倍数。 它可由下式表示:
x nu
(1-1)
或
n x
u
式中 : x——被测量值;
u ——标准量, 即测量单位;
n——比值(纯数), 含有测量误差。
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(1-2)
1.2 测试技术的基本概念
二、标准——真值
• 真值:被测量在一定条件下客观地存在的数值,或者与被测量 比较的标准量的数值。
离线检测:零件参数、 尺寸与形位公差、 品质参数
作 用:现代工程装备中, 检测环节的成本约占 50~70%
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1.1测试技术的作用和地位
测试技术在汽车中的应用日新月异
[课件]材料结构和性能的测试技术简介PPT
![[课件]材料结构和性能的测试技术简介PPT](https://img.taocdn.com/s3/m/02d9865a168884868762d6e1.png)
• 图 XAFS原理示意图 • (a)光电子岀射波与散射波位相 相同 • (b)光电子岀射波与散射波位相 相反
技术的特点
虔诚治学,豁达处世,修剪自我,耀我六班。
近三十年来,EXAFS谱技术被广泛应用于 研究各种物质的原子近邻结构,其独到之 处弥补了其他实验方法的不足.归纳起来 ,EXAFS谱方法具有如下特点: (1)EXAFS的局域性
虔诚治学,豁达处世,修剪自我,耀我六班。
(2)EXAFS的元素选择性 由于不同元素吸收边的位置不同,因此 通过调节入射X射 线的能量,可以分别 测量不同元素的K或L吸收边,从而可以 选择性地研究多元样品中不同元素的近 邻环境.另外,由于不同元素背散射振 幅的差别,原则上可以用来区分背散射 原子的种类。
虔诚治学,豁达处世,修剪自我,耀我六班。
EXAFS的主要应用
EXAFS技术不仅仅是对于材料表面的结 构的显微分析,它还能测试出材料表面的 成分。它涉及到各类物质的结构和性能检 测,包括:晶体、非晶、单晶、高分子物 质表面以及复合材料表面的结构和性能特 点,甚至是液体表面的结构、状态和性能 都能测试。
虔诚治学,豁达处世,修剪自我,耀我六班。
上图为硫化钼的表面结构源自虔诚治学,豁达处世,修剪自我,耀我六班。
未来主要发展方向:
1.
2.
要尽快找到以实验精确修订热无序的办 法,从而实现较高温度乃至反应条件下 的原位EXAFS 实现全谱的采集,由此实现EXAFS的动 态检测或时间分辨
虔诚治学,豁达处世,修剪自我,耀我六班。
虔诚治学,豁达处世,修剪自我,耀我六班。
(5)EXAFS的广泛性
EXAFS技术作为一种探测原子近邻结构的手段 已被广泛地应用于多学科的结构研究。既可用 以研究固态、液态、气态、熔态的表面状态, 又可用于研究非晶、多晶,单晶及准晶等各类 物质的表面结构和性能.既可以研究稀薄样品 、浓聚物质,又可以研究表面结构.结合各种 EXAFS技术,原则上可以测量周期表中各种元 素,用表面EXAFS技术已可以获得C、O等轻 元素的K吸收近边谱。
材料测试技术资料

热分析——进行定性、定量分析1、热分析——在程序控制温度下,测量物质的物理性质随温度变化的一类技术。
(程序控制温度:指用固定的速率加热或冷却。
物理性质:包括物质的质量、温度、热焓、尺寸、机械、声学、电学及磁学性质等。
)2、热分析的四大支柱差热分析:程序温度下,测物质和参比物的温度差与温度关系的技术差示扫描量热分析:程序温度下,测量物质和参比物的能量差与温度或时间的技术热重分析:程序温度下,测量物质的质量与温度关系的技术机械热分析:3、参比物:在测定条件下不产生任何热效应的惰性物质差热分析DTA差热分析仪构成:由加热炉、试样容器、热电偶、温度控制系统及放大、记录系统等部分组成。
4、差热分析DT A的基本原理差热分析是在程序控制温度下测定物质和参比物之间的温度差和温度关系的一种技术。
由于物质在加热或冷却过程中的某一特定温度下,往往会发生伴随有吸热或放热效应的物理、化学变化。
将差热电偶的一个热端插在被测试试样中,另一个热端插在待测温度区间内不发生热效应的参比物中,试样和参比物同时升温,测定升温过程中两者的温度差,就构成了热分析的基本原理。
DT A曲线:纵坐标代表温度差ΔT,吸热过程显示一根向下的峰,放热过程显示一根向上的峰。
横坐标代表时间或温度,从左到右表示增加。
5、应用(1)定性分析:定性表征和鉴别物质,依据:峰温、形状和峰数目方法:将实测样品DTA曲线与各种化合物的标准(参考)DTA曲线对照。
标准卡片有:萨特勒(Sadtler)研究室出版的卡片约2000张和麦肯齐(Mackenzie)制作的卡片1662张(分为矿物、无机物与有机物三部分)。
(2)定量分析依据:峰面积。
因为峰面积反映了物质的热效应(热焓),可用来定量计算参与反应的物质的量或测定热化学参数。
(3)借助标准物质,可以说明曲线的面积与化学反应、转变、聚合、熔化等热效应的关系。
6、缺点:定性分析,灵敏度不高7、试样要求:(1)热容量和热导率的变化应选择热容量及热导率和试样相近的作为参比物反应前基线低于反应后基线,表明反应后试样热容减小.反应前基线高于反应后基线,表明反应后试样热容增大.(2)试样的颗粒度——试样颗粒越大,峰形趋于扁而宽.反之,颗粒越小,热效应温度偏低,峰形变小.——颗粒度要求:100目-300目(0.04-0.15mm)(3)试样的结晶度,纯度和离子取代——结晶度好,峰形尖锐;结晶度不好,则峰面积要小.——纯度,离子取代同样会影响DTA曲线.(4)试样的用量——试样用量多,热效应大,峰顶温度滞后,容易掩盖邻近小峰谷.——以少为原则. ——硅酸盐试样用量:0.2-0.3克(5)试样的装填:装填要求:薄而均匀。
材料测试技术

材料测试技术X射线衍射分析的基本应⽤▲物相定性分析(这是XRD最基本、最常见的应⽤。
其原理是和国际标准委员会出版的标准物质的PDF卡⽚对⽐分析);▲物相定量分析;▲晶胞参数的测定(也叫点阵参数的测定);▲固溶体类型的测定和固溶体固溶度的测定;▲结晶度的测定;▲晶粒度和嵌镶块尺度的测定;▲薄膜样品的测定(适⽤于膜厚⼩于10 m的情况);▲残余应⼒的测量等。
⼀、单晶体的研究⽅法说明:利⽤反射球讨论晶体衍射的⽅法及原理。
在具体的衍射⼯作中,⼊射光的⽅向是固定不变的,如果晶体不动,⽽⼊射光⼜是单⾊,则落在反射球上的倒格点实际上很少,晶体的衍射强度⼩,要增加衍射强度,对于单晶体采⽤两种⽅法1、劳厄法:晶体固定不动,射线为连续谱线。
2、转晶法:转动晶体,采⽤单⾊特征标识谱线注:如果转动晶体,⼜⽤未经过滤的多⾊⼊射线,则照⽚上的斑点过多,不便于分析,⼀般不采⽤。
劳厄法的应⽤1、测晶体的取向;2、测晶体的对称性;3、鉴定物质是晶态或⾮晶态;4、粗略地观察晶体的完整性。
转晶法的应⽤:1、测定单晶样品的晶胞常数;2、观察晶体的系统消光规律,以确定晶体的空间群。
研究多晶体⼀般采⽤单⾊X射线来进⾏衍射,多晶体的衍射⽅法有两种,即:1、粉末照相法:⽤照相底⽚记录衍射图。
可分为德拜—谢乐法(简称德拜法)、聚焦法和针孔法,其中德拜法应⽤最普遍,照相法⼀般均指德拜法。
2、衍射仪法:⽤计数器记录衍射图。
衍射仪法粉末平板试样的制备:制备试样时,可以把粉末试样倾⼊⽤玻璃或塑料板制成的盛放板中,将粉末轻轻压紧,不加粘结剂,然后削去多余粉末,压⼒不能过⼤,否则容易产⽣择优取向。
所⽤样品需要⼀定的细度。
如试样的数量少时,需⽤如加拿⼤树胶液,涂于玻璃⽚上。
X射线物相分析物相定性分析物相定性分析⽤粉末照相法和衍射仪法均可进⾏,其程序是:先制样并获得该样品的衍射花样;然后测定各衍射线条的衍射⾓并将其换算成晶⾯间距d;再测出各条衍射线的相对强度;最后和各种结晶物质的标准衍射花样进⾏对⽐鉴定。
《材料分析测试技术》课件

在生物学领域,材料分析测试技术用于研 究生物大分子的结构和功能,以及生物材 料的性能和生物相容性。
医学领域
环境科学领域
在医学领域,材料分析测试技术用于药物 研发、医疗器械性能评价以及人体组织与 器官的生理和病理研究。
在环境科学领域,材料分析测试技术用于 环境污染物检测、生态系统中物质循环的 研究以及环保材料的性能评估。
反射光谱测试技术
通过测量材料对不同波长光的反射率,分 析材料的表面特性、光学常数和光学性能 。
发光光谱测试技术
研究材料在受到激发后发射出的光的性质 ,包括荧光、磷光和热辐射等,以了解材 料的发光性能和光谱特性。
透射光谱测试技术
通过测量材料对不同波长光的透射率,分 析材料的透光性能、光谱特性和光学常数 。
磁粉检测技术
总结词
通过磁粉与材料相互作用,检测其表面和近表面缺陷。
详细描述
磁粉检测技术利用磁粉与被检测材料的相互作用,通过观察磁粉的分布和排列,检测材 料表面和近表面的裂纹、折叠等缺陷。该技术广泛应用于钢铁、有色金属等材料的检测
。
涡流检测技术
总结词
通过电磁感应在材料中产生涡流,检测其表 面和近表面缺陷。
《材料分析测试技术》ppt课件
目录
• 材料分析测试技术概述 • 材料物理性能测试技术 • 材料化学性能测试技术 • 材料力学性能测试技术 • 材料无损检测技术 • 材料分析测试技术的应用与展望
01
材料分析测试技术概述
Chapter
定义与目的
定义
材料分析测试技术是指通过一系列实验手段对材料 进行物理、化学、机械等性能检测,以获取材料组 成、结构、性能等方面的信息。
电学性能测试技术
电容率测试技术
材料测试技术

X射线探测器的工作原理
1. 正比计数器和盖革计数器都是以气体电离为基础。 利用“雪崩效应”进行信息放大。
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正比计数器的工作原理
• 正比计数器以辐射光子对气体电离为基础。 • 当一个X射线光子进入计数器时,使气体电离,在电场作用下,电离后的电
子和正离子分别向两极运动,电子运动过程中获更高的动能,引起气体分子 进一步的电离,产生大量的电子涌到阳极,发生一次电子“雪崩效应”。
• 50年代X射线衍射仪得到了普及应用。
• 随着科学技术的发展,衍射仪向高稳定、高
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衍射与照相粉末图比较
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德拜相机→衍射仪器
须解决几个技术问题:1)X射线接收装置——计数管;2)衍射强度必须加大,为此 可使用平板试样;3)相同的(hkl)晶面是全方位散射的,所以要聚焦;4)计数管 的移动要满足布拉格条件。
数率仪的作用就是将不规则的脉冲通过一个特殊的电路变成平缓的稳定电流, 电流的大小和计数管内发生的脉冲平均发生率成正比。 计数率仪的核心部分是电阻R和电容器C组成的积分电路。时间常数=RC, RC越大滞后越严重,但对输入脉冲的平均性越强。
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§4-4 衍射仪的测量方法与实验参数
一、计数测量方法
4.三种计数器的脉冲分布
第32页/共57页
三、X射线测量中的主要电路
1.定标器及计数统计 定标器测量平均脉冲速率有两种方法: 1)定时计数法 2)定数计数法 由于误差取决于所测定的脉冲数目,定数计数
法不管采用高速率或者底速率,其误差相同,因此 定数计数法比定时计数法更为合理。
第33页/共57页
• 2. 计数率仪 计数和计时的组合,是一种能够连续测量平均脉冲计数速率的装置。计
材料分析测试技术课件
PDF卡片的内容(3)
*
晶体学数据:Sys.—晶系;S.G—空间群;a0、b0、c0,α、β、γ—晶胞参数;A= a0/b0 ,C= c0 / b0 ;Z—晶胞中原子或分子的数目; Ref—参考资料。
光学性质: εα、nωβ、εγ—折射率;Sign—光性正负;2V—光轴夹角;D—密度;mp—熔点;Color—颜色; Ref—参考资料。
表面上看起来 dhkl 好象与有关, 实际上它是产生主要反射线的晶面间的距离. 由晶体的决定的, 与入射波长无关.
这套数据就好象人的指纹一样, 可以用来确定相应的结晶物相. 现在内容最丰富的多晶衍射数据是由JCPDS ( Joint Committee on Powder Diffraction Standards)编的PDF卡, 即粉末衍射卡.
矿物检索手册等品种。
Fink无机索引;
有机相检索手册;
Hanawalt无机物检索手册;
无机相字母索引;
*
Hanawalt无机相数值索引
索引的编排方法是:每个相作为一个条目,在索引中占一横行。每个条目中的内容包括: 衍射花样中八条强线的面间距和相对强度,按相对强度递减顺序列在前面,随后,依次排列着,化学式,卡片编号,参比强度(I/Ic)。 索引示例 索引说明
*
New format – data rearranged in tabular sections with point and click interfaces
Still have “card” option
PDF Card – new format
*
PDF试样图
*
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PDF卡片结构图
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一、基本原理
*
任何一种结晶物质都具有特定的晶体结构,在一定波长的X射线照射下,每种晶体物质都给出自己特有的衍射花样。每一种晶体物质和它的衍射花样都是一一对应的。多相试样的衍射花样是由它和所含物质的衍射花样机械叠加而成。
材料成型测试技术概述
由于0.105不是标准化精度等级值,因此该仪器需 要就近套用标准化精度等级值。0.105位于0.1级和0.2 级之间,尽管该值与0.1更为接近,但按选大不选小的 原则该数字电压表的精度等级G应为0.2级。
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四、准确度、精密度、精度及精度等级
仪表精度等级的数字愈小,仪表的精度愈高。如0.5级的 仪表精度优于1.0级仪表,而劣于0.2级仪表。 值得注意的是:精度等级高低仅说明该检测仪表的引用 误差最大值的大小,它决不意味着该仪表某次实际测量中出 现的具体误差值是多少。 实际测量时,精度等级并不单纯由精确度决定,还需选 择合理的量程范围。使仪表的测量限制在容许误差内。
技术条件》规定,测量指示仪表的精度等级G分为0.1、0.2、0.5、
超过其量程的±1%。
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四、准确度、精密度、精度及精度等级
•通过最大引用误差确定仪表的精度等级
例: 量程为0~1000 V的数字电压表,如果其
整个量程中最大绝对误差为1.05V,则有
Dmax 1.05 100% 100% 0.105% L 1000
13
底
14
1.1测试技术的作用和地位
测试技术在日常生活中的应用与日俱增
家用电器: 数码相机、数码摄像机:自动对焦---红外测距传感器 自动感应灯:亮度检测---光敏电阻 空调、冰箱、电饭煲:温度检测---热敏电阻、热电偶 电话、麦克风:话音转换---驻极电容传感器 遥控接收:红外检测---光敏二极管、光敏三极管 可视对讲、可视电话:图像获取---面阵CCD 扫描仪:文档扫描---线阵CCD 红外传输数据:红外检测---光敏二极管、光敏三极管 数字体温计:接触式---热敏电阻,非接触式---红外传感器 电子血压计:血压检测 --- 压力传感器 血糖测试仪、胆固醇检测仪 --- 离子传感器
材料测试技术知识点讲解
材料测试技术知识点讲解1.产生X 射线的条件:①产生自由电子②使电子作定向高速运动③在其运动的路径上设置一个障碍物,使电子突然减速2.X 射线的性质:沿直线传播;经过电场或磁场不发生偏转;具有很强的穿透力;通过物质时可以被吸收使其强度衰减,还能杀伤生物细胞,具有波粒二象性。
3.连续X 射线谱产生机理:当高速电子流轰击阳极表面时,电子运动突然受到阻击,产生极大的负加速度,一个带有负电荷的电子在受到这样一种加速度时,电子周围的电磁场发生急剧的变化,必然要产生一个电磁波,该电磁波具有一定的波长,而数量极大的电子流射到阳极靶上时,由于到达靶面上的时间和被减速的情况各不相同,因此产生的电磁波将具有连续的各种波长,形成连续X 射线谱。
4.特征X 射线谱产生机理:当X 射线管电压加大到某一临界值V K 时高速运动的电子动能足以将阳极物质原子的K 层电子给激发出来。
于是在低能级上出现空位,原子系统能量升高,处于不稳定状态,随后高能级电子跃迁到K 层空位,使原子系统能量降低重新趋于稳定,在这个过程中,原子系统内电子从高能级向低能级的这种跃迁,多余的能量将以光子的形式辐射出特征X 射线。
5.请按波长由短到长的顺序对X 射线,可见光,红外线,紫外线进行排练:X 射线<紫外线<可见光<红外线。
6.X 射线本质上是一种电磁波。
7.波可以绕过障碍物继续传播,这种现象叫做波的衍射。
8.相对于波长而言,障碍物的尺寸越大,衍射现象越不明显。
9.系统消光包括点阵消光和结构消光。
10.X 射线衍射分析时,晶胞的形状和尺寸与衍射线的分布规律有关;原子的种类及其在晶胞中的位置与衍射线的强度有关。
11.X 射线衍射分析时,衍射线的低角度线和高角度线中比较重要的是低角度线,强线和弱线更重要的是强线。
12.在扫描电镜中,可以利用会聚透镜和电磁透镜两种透镜对电子进行会聚。
13.在波谱仪和能谱仪中,能同时测量所有元素的是能谱仪,定量分析准确度高的是波谱仪。
材料测试技术基础概述
对称型国 际符号中 三个位所 代表的方 向
晶系 等轴 四方 六方 三方 斜方
Ⅰ
ⅡLeabharlann Ⅲca+b+c a+b
c
a
a+b
c
a
2a+b
c
a
a
b
c
单斜
b
三斜 c(或任意)
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测试基础
6 晶体结构描述 (2)
如 金刚石(diamond):
立方: 第一个位置:c
空间群:Fd3m 第二个位置:a+b+c 对应的点群 m3m 第三个位置:a+b
体心:
1
Z=4
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测试基础 5 晶胞中的原子个数及晶胞体积 (3)
3) 晶胞体积的计算
40
测试基础
6 晶体结构描述 (1)
1) 空间群:晶体内部对称要素的组合。 空间格子类型+内部对称要素
a) 空间格子类型:P,I,F,A(B,C),R,H b) 内部对称要素 对称轴:1,2,3,4,6,-1,-2,-3,-4,-6 (螺旋轴) 21,31,32,41,42,43,61,62,63,64,65 对称面:m (滑移面)a,b,c,d,n 对称中心:c
1 晶体结构基本特点(3)
2) 单位晶胞 (unit cell)
单位晶胞用平行六面体的三个轴长 a,b,c和 三个轴角α,β,表示,这六个参数即称为晶胞 参数。
6
测试基础
1 晶体结构基本特点(4)
各晶系独立的晶胞参数
7
测试基础
2 空间格子(1)
在空间格子中分布有对应于晶体中原子的 点,称之为结点。
若二者的基本对应关系为
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晶向指数:
空间格子的格点可看成 是分列在一系列平行、 等距的直线系上,这些 直线系称为晶列。 一个无穷大的空间格子,可有无穷多种晶列。
晶向指数:从该晶列通过轴矢坐标系原点的直 线上任取一格点,把该格点指数化为互质整数, 称为晶向指数,表示为[h,k,l]。
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晶向指数:从该晶列通过轴矢坐标系原点的直 线上任取一格点,把该格点指数化为互质整数, 称为晶向指数,表示为[h,k,l]。
[(n1,n2,n3)].9试基础2 空间格子(2)
原始格子(Primitive) (P) 结点坐标:0 0 0
10
测试基础
2 空间格子(3)
体心格子(Body-Centered) (I) 结点坐标:0 0 0; ½ ½ ½
11
测试基础
2 空间格子(4)
底心格子(End-Centered) (A,B,or C) 结点坐标:0 0 0;½ ½ 0 (C心)
1
绪言 测试基础
2
测试基础
晶体学基础(一) 正格子
正格子---即通常所说的空间格子或空间点阵 1 晶体结构基本特点 2 空间格子 3 面网及面网的表示 4 面网间距 5 晶胞中的原子个数及晶胞体积 6 晶体结构描述 7 晶体结构化学式的计算
3
测试基础
1 晶体结构基本特点(1)
1) 空间格子 (space lattice)
12
测试基础
2 空间格子(5)
面心格子(Face-Centered) (F) 结点坐标:0 0 0; 0 ½ ½ ; ½ ½ 0;
½ 0½
13
测试基础
2 空间格子(6)
每一个晶系都应该有四种类型的空间格子, 但由于有的格子类型不符合所在晶系的对称 要求,有的格子类型可以转化成另一种类型, 因此总共只有14种空间格子,称之为14种布 拉维空间格子(Bravais Lattices)。
结点可以分布在格子中的角顶、晶棱、晶 胞面、及晶胞内部。对各个不同晶系的空间 格子,按结点的分布可以抽象出不同类型的 空间格子:
8
格点指数:
以任一格点为原点,以轴矢a, b,c为单位矢, 则任一格点的坐标为:
n1a,n2b,n3c,表示为[(n1,n2,n3)]. 若n为负值,则在其上部打一横杠表示, 例如, n1=-2,n2=1,n3=-3,表示为
晶体在三维空间周期性重复排列。表示 其规律性重复的几何图案即为空间格子。
空间格子四要素?
结点、行列、面网、平行 六面体
4
测试基础
1 晶体结构基本特点(2)
2) 单位晶胞 (unit cell)
空间格子中的最小重复单元(平行六面体) 即为单位晶胞,单位晶胞在三维空间的无限重 复排列即构成晶体。
5
测试基础
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3)面网符号3与面晶网面符及面网的表示 (6)
号的差异:
a) 晶面符号总是 化为最简单的整数,而 面网符号则不能;
b) 平行的晶面符 号相同,而平行的面网 符号则不一定相同;
c) 面网符号代表的 是一组互相平行的, 并且等间距的一组平 面。
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测试基础
4 面网间距 (distance of nets)
1 晶体结构基本特点(3)
2) 单位晶胞 (unit cell)
单位晶胞用平行六面体的三个轴长 a,b,c和 三个轴角α,β,表示,这六个参数即称为晶胞 参数。
6
测试基础
1 晶体结构基本特点(4)
各晶系独立的晶胞参数
7
测试基础
2 空间格子(1)
在空间格子中分布有对应于晶体中原子的 点,称之为结点。
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测试基础
2 空间格子(7)
等轴 P(1)、I(2) 、F(3) 四方 P(4) 、I(5) 斜方 P(6) 、I(7) 、
C (8) 、F (9) 单斜 P(10) 、C(11) 三斜 P(12) 六方 H(13) 三方 R(14)
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测试基础
2 空间格子(8)
16
测试基础
2 空间格子(9)
三个结晶轴分数截距的倒数。
如右图所示的面,
截距:1 1 ½
倒数:1 1 2
面网符号(112)
即(112)代表互相
平行、并且等间距的
一组面网。
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测试基础
3 面网及面网的表示 (4)
表示面网的通用符号为 (hkl)。
以下为几例特殊面网:
010)
(020)
(030)
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测试基础
3 面网及面网的表示 (5)
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测试基础
2 空间格子(11)
自然界的物质分晶体和非晶体两大类,只 要属于晶体,则必然可以归为14种Bravais空 间格子中的一种。
关于准晶体(semi-crystal):介于晶 体和非晶体之间,具有短程有序而无长程有 序。
超导材料(super-conductor)即为一种具 有准晶体结构。
19
这些等间距的面网是物质结构解析的基础, 无论是X射线衍射、电子衍射、中子衍射、质 子衍射等等,都是直接地和这些等间距的面网 相联系起来的。
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测试基础
3 面网及面网的表示 (3)
2) 面网的表示:描述一组互相平行的、等间
距的面网,用这一组面网中,最靠近原点、但由
不通过原点的平面的米氏符号来表示,即该面在
四方C心格子=原始格子图示
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测试基础
2 空间格子(10)
六方格子(H)和三方格子(R)在描述的 时候可以互相转化,但并非完全意义上的等 同。一般情况下,在结构描述的时候,都按 六方格子来描述。
但三方格子在转化成六方格子时,其六方 晶胞的形状虽然完全等同于六方格子,但其 中结点的分布与真正的六方有一定差异。
d010=b;
d020=b/2; d030=b/3。
测试基础
3 面网及面网的表示 (1)
1) 定义: 表示在晶体结构中分布在一个平 面上的结点。如下图所示:
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测试基础
3 面网及面网的表示 (2)
但实际上,要把面网理解为一组互相平行的,
并且等间距的一组平面(其中有一个平面通过 原点 0,0,0)。之所以在晶体结构中存在这 些等间距的面网组,这是由晶体的特性决定的 (三维周期性地、等间距的无限重复)。
1) 定义: 指一组面网之间的垂直距离。实际上,根据
面网符号的定义可知,面网间距等于用来描述 面网符号的那个平面到原点之间的垂直距离。
对于符号为(hkl)的面网,其面网间距记为 dhkl .如对于(010),为d010.
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4 面网间距(2)
面网间距与晶胞参数之间有一定的对应关系。
如,当 α=β==90度时,