LDS传感器高低温测试报告

深圳市微航磁电技术有限公司

记录编号﹕RLR1508005

LDS传感器高低温测试报告

测试项目﹕高低温测试

产品名称﹕产品编号：GP158060客戶﹕

样板数量﹕2pcs样板来源﹕工程部送样部门﹕工程部

样板状况﹕工程样板试产量产附件其它附件供应商﹕N/A

接收样板日期:2015-08-20幵始测试日期:2015-08-20测试完成日期:2015-08-21

测试条件：

1.高温：85℃，湿度：95%；

2.低温：-40℃；

3.高温测试12小时；低温测试12小时；高低温循环每周期为30分钟；

测试方法﹕1.取2PCS测试样板，检

查外观无异常；

2.将恒温恒湿测试机设至温度85℃，湿度：95%；

3.将恒温恒湿测试机设至低温：-40℃；

4.高温测试12小时；低温测试12小时，高低温循环每周期为30分钟；

5.测试完成后，在常温放置2小时后，再检查；

测试图片﹕

低温测试高温测试测试后无变形等不良现象检查标准：

1.按常规外观标准检验。

2.外观无变形等不良现象。

供参考

测试结果：合格不合格

备注﹕

测试员﹕陈品端审核﹕蔡肇康批准﹕蔡肇康

表格编号：V-ON-FOR-Q021-A1