收发组件测试技术研究

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V波段收发组件研制

V波段收发组件研制

V波段收发组件研制
周晨
【期刊名称】《现代信息科技》
【年(卷),期】2017(001)001
【摘要】本文主要介绍了V波段收发组件的研制,包括波导到微带的转换、微带滤波器的设计、V波段电路的设计等内容,制作了V波段收发组件.
【总页数】3页(P79-80,83)
【作者】周晨
【作者单位】中国电子科技集团公司第55研究所,江苏南京 210016
【正文语种】中文
【中图分类】TN957.52
【相关文献】
1.一种C波段收发组件的研制 [J], 王海涛;杨斐;雷国忠
2.Ku波段收发组件研制 [J], 蔡昱;任晓婕;王海波;任缅;钱兴成
3.Ka波段全相参雷达收发射频前端系统组件研制 [J], 蔡竟业;夏蓉;刘镰斧;杨远望
4.V波段收发组件研制 [J], 周晨;
5.基于嵌入式技术的Ku波段收发组件功率检测系统的设计 [J], 崔建弘;林海霞;沈娴;杨俊岩
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高频通道元件及收发信机的测试方法

高频通道元件及收发信机的测试方法

高频通道元件及收发信机的测试方法湖南省电力公司科学研究院继电保护所高频通道元件及收发信机的测试方法一、高频阻波器1.试验接线阻波器图中: R1为去谐电阻;阻值1.5~3K ΩR2为无感电阻;阻值100ΩP 为选频电平表2.阻抗特性试验按上图接线,振荡器输出阻抗选择“0”Ω,输出电平“0”dB 。

选频表输入阻抗选择“∞”。

从84(或60、70)kHZ ~500kHZ 测试若干个点,振荡器每改变一次频率,选频表就测试一次P1、P2值。

然后按下式计算阻抗值。

阻抗计算公式:2)21(05.0)110(R Z p p ⨯-=-要求:在84kHZ ~500kHZ 的范围内,阻抗值不小于570Ω(厂家出厂标准)。

补充知识:1、如果是相相偶合的,那么一个通道需要两相线路用来载波,那么就要两相都装.如果是两通道合用三相(一般B 相公用),那么三相都要装。

2、如果是相地偶合,那么一个通道只需要一相线路用来载波,那么就只要一相安装.3、有的地区为了频率分区,需要全阻塞,那么相关线路(甚至该线路没有高频保护)三相都要装,此时不需结合设备。

二、结合滤波器(常规试验做线路侧和电缆侧的)*工作衰耗的定义:RR ’(a ) (b )工作衰耗为当负载阻抗R 与电源阻抗R S 相等并直接相连时,如图所示,负载 R 所获得的最大接收功率P max 与经过四端网络后负载R’上所获得功率P 2,取Pmax 与P 2之比常用对数的10倍称为工作衰耗,即:max 210lg W P b P = 对于四端口网络当看进去的输入阻抗与电源阻抗相等即匹配时,输入阻抗上获得的功率最大。

用电压表测量:R2因为是测量工作衰耗,所以,结合滤波器的输入阻抗与电阻R1相等。

因此结合滤波器电缆侧输入端的功率为:1211214)2(R U R U P M == 结合滤波器线路侧负载阻抗R2所得到的功率为:222U P R = 工作衰耗为:10=g b ㏒211222()210log 10M U P R U PR ==㏒212210U U +㏒124R R 112222110.77520log 10log 20log 10log 440.775W U U R R b U U R R =+=+ 1120log 0.775U P =,2220log 0.775U P =212110log4W R b P P R =-+ 1.电缆侧工作衰耗测试(要求<1.3dB )试验接线: R1CR2振荡器图中: R1 75Ω无感电阻,模拟高频电缆输出阻抗R2 300Ω无感电阻,模拟线路输入阻抗。

宽频带TR组件测试系统校准技术研究

宽频带TR组件测试系统校准技术研究

宽频带 TR组件测试系统校准技术研究摘要:随着社会的不断发展,各类技术也是愈加成熟,宽频带TR组件测试系统校准技术作为一种保证TR组件参数精准度的技术,对于相关行业更是有着极其重要的影响,因此本文将从宽频带TR组件测试系统校准技术相关概念、发展现状以及参数标准选择、定标方法、不确定度分量等几个方面对其进行具体的研究分析,希望能够为宽频带TR组件测试系统校准技术未来更好的发展贡献自己的一份力量。

关键字:TR组件测试系统校准技术一、宽频带TR组件测试系统校准技术概述1.1宽频带TR组件TR组件指的是一种无线收发组件,其与天线和频带处理单元便能够构成一个无线收发系统,来对信号进行放大、移相、衰减等功能的实现。

TR组件一般由本振、上下变频、滤波器以及低噪声放大器、功率放大器等基础零件组成,而且宽频带TR组件还是雷达中必不可少的组成部分,雷达之所以能够实现信号探测等功能,就是因为其内部拥有着众多数量的TR组件。

1.2TR组件测试系统TR组件测试系统主要由矢量网络分析仪、功率计、信号发生器、示波器、电源、噪声系数仪和微波幵关阵列等组成。

TR组件需要测量的参数也是比较多的,不仅包括了发射通道内的输出功率、功率调节范围、发射波形参数、驻波比以及发射电流等众多参数,还包括了接收道的接收增益、相位精度、衰减度精度以及噪声系数等参数。

1.3宽频带TR组件测试系统校准技术发展现状我国大多数企业在以往对TR组件测试系统进行校准时通常采用的都是传统的校准方式,一般情况下都是对单个设备进行单独的计量校准或者是检查维修其硬件设施,这样不仅效率低下,而且还无法保证校准结果的可靠性。

而随着相关技术的不断成熟,宽频带TR测试系统也拥有了更新的校准技术,不仅不需要浪费太多的人力资源,还能够在保证校准结果可靠性的基础上提高校准效率,对于TR组件测试系统相关行业有着重要的推动作用。

二、宽频带TR组件测试系统校准技术宽频带TR组件测试系统校准技术不仅可以对TR测试系统中的脉冲峰值功率、连续波和脉冲状态下的相位、驻波、幅度等参数进行校准,还可以对噪声系数和波形参数等进行校准,能够从根本上确保TR组件各个参数的精准性,为TR组件投入应用中提供了可靠的安全保证。

Ku波段多通道收发组件设计

Ku波段多通道收发组件设计

Ku波段多通道收发组件设计徐森锋;吴亮亮【摘要】阐述了一种包含四路接收通道和一路发射通道的Ku波段收发组件的工作原理,并对组成的单元电路和关键技术进行了分析.试验结果表明,在2 GHz带宽和-55~+85℃温度下,发射通道输出功率为(31±1)dBm,带内功率平坦度≤±0.5 dB,开关隔离度≥90 dB;接收通道增益为(30±1)dB,噪声系数≤5.0 dB,通道隔离度≥60 dB.测试结果表明,方案切实可行,满足使用要求.【期刊名称】《电子科技》【年(卷),期】2016(029)008【总页数】3页(P36-38)【关键词】Ku波段;收发组件;多通道;发射通道;接收通道【作者】徐森锋;吴亮亮【作者单位】中国电子科技集团公司第13研究所科技处,石家庄050051;中国电子科技集团公司第13研究所科技处,石家庄050051【正文语种】中文【中图分类】TN92收发组件是现代无线通信系统中的重要组成部分。

其质量影响整个通信系统的通信效果,同时对整个系统的动态性能起到关键作用。

收发组件通常由发射通道和接收通道两部分组成。

发射通道的主要作用是将调制后的中频信号变频至射频信号,再进行放大滤波等处理,使信号达到一定功率输出。

发射通道的主要指标是发射功率、带内平坦度、三阶互调等;接收通道的主要作用是从空间接收到的电磁波中选出有用信号,变频至中频信号并放大滤波输出。

接收通道的主要指标是噪声系数、增益、动态范围、抗干扰能力等。

多路通道还必须考虑通道之间的幅相一致性、通道隔离度等指标[1-2]。

收发组件主要包括发射通道、接收通道、DC/DC电源转换和驱动电路等单元。

其中发射通道和接收通道射频电路相互独立,共用DC/DC电源转换和驱动电路。

发射通道对输入的Ku波段信号进行放大处理,电路组成包括微波开关、推动级放大器、末级功率放大器等。

接收通道[3-4]对输入的Ku波段信号进行下变频处理,包含3路主通道(1路和通道和2路差通道)和1路辅助通道。

一种层叠式宽带多功能一体化收发组件设计

一种层叠式宽带多功能一体化收发组件设计

射频信号直接产生和接收采样的能力。
2 关键技术研究
2. 1 层叠式结构布局设计
作为相控阵天线阵面的核心部件,收发组件的小
型化、轻薄化程度直接决定了天线阵面的体积重量。
— 26 —
第 20 期
2023 年 10 月
No. 20
October,2023
无线互联科技·电子通信
为了尽可能实现多功能一体化收发组件的轻薄化设
图 2 层叠式多功能一体化收发组件组成
数字收发单元主要完成宽带射频信号的直发 / 直
采、数字变频、数字滤波、幅相修正、数字延时、波束合
成及光电转换功能,是多功能一体化收发组件的控制
和处理核心。 数字收发模块采用 FPGA 加多通道高
速 AD / DA 的构架,通过高速电路仿真设计,实现宽带
用需求。
图 4 层叠式多功能一体化收发组件主冷板仿真
2. 2 射频收发通道设计
射频收发通道主要完成接收射频信号的低噪声
放大和发射射频信号的功率放大,采用表贴封装器件
的无壳体印制板设计,结合 SIP、MCM 等多功能芯片
封装技术,完成收发链路的全部功能。
针对多功能一体化综合射频系统对功率放大链
4 结语
本文针对舰载平台雷达、通信、电子战等多种功
能综合射频系统对收发组件信道不同的需求,设计了
一款基于射频直采、3D 异构、垂直互联、高效冷却等
技术的 64 通道双极化层叠式多功能宽带一体化收发
组件,介绍了具体设计和实现方法,并进行了实物测
试验证。 该收发组件具备功率、动态范围、带宽等重
第 20 期
2023 年 10 月
无线互联科技
Wireless Internet Science and Technology

X波段收发组件的设计

X波段收发组件的设计
X band transmit/receive component design
Yu Ao Liu Weijia the 55th institute of China electronic science and technology corporation, Nanjing, Jiangsu 210016 Abstract This paper introduces the design method of X band transmit/receive component, and briefly analyzes the indicators of X band transmit/receive component. Based on this, the system block diagram of X band transmit/receive component is designed. Combined with transmit/receive system block diagram and assigned indicators, designed a high performance X band transmit/receive component which achieved RF power 33dBm~35dBm and ,receive channel gain not less than 50dB. Keyword X band; Transmit/receive component; RF power; Receive channel gain
TECHNOLOGY AND INFORMATION
科技论坛
X波段收发组件的设计
余奥 刘维佳 中国电子科技集团公司第五十五研究所 江苏 南京 210016

CMOS射频收发机芯片及其关键技术的研究的开题报告

CMOS射频收发机芯片及其关键技术的研究的开题报告

CMOS射频收发机芯片及其关键技术的研究的开题报告一、选题背景近年来,随着无线通信技术的快速发展和普及,射频收发机芯片成为了无线通信的重要组成部分。

传统射频芯片由于集成度低、功耗大、稳定性差等问题,逐渐被CMOS射频芯片所代替。

CMOS射频技术因其集成度高、功耗低、特性稳定等优势,受到了广泛关注和研究。

二、研究目的和意义本课题旨在对CMOS射频收发机芯片及其关键技术进行深入研究,探索其在无线通信应用中的实际应用价值。

通过对CMOS射频收发机芯片的研究,可以为未来无线通信技术的发展提供更加先进、功耗更低、性能更稳定的射频芯片,满足人们对无线通信技术的不断需求。

三、研究内容1、CMOS射频收发机芯片的原理及架构设计2、CMOS射频收发机芯片的关键技术研究,包括射频前端设计、低噪声放大器设计、混频器设计等3、射频收发机芯片的性能测试及分析四、研究难点1、射频前端的设计和实现2、低功耗低噪声的前置放大器设计和优化3、高性能混频器的设计和实现五、研究方法1、文献调研法通过查阅大量文献,系统了解CMOS射频收发机芯片及其关键技术的理论、应用现状和发展趋势。

2、仿真模拟法运用常见的射频仿真软件,进行射频电路的仿真模拟,优化电路的设计方案和参数选取。

3、实验验证法通过实验平台,验证设计方案的正确性和性能优化效果。

六、预期结果1、CMOS射频收发机芯片的原理及架构设计2、CMOS射频收发机芯片的关键技术研究,包括射频前端设计、低噪声放大器设计、混频器设计等3、射频收发机芯片的性能测试及分析七、研究进度安排第一年:文献调研、射频前端设计与优化第二年:低噪声前置放大器设计与优化、混频器设计与优化第三年:芯片封装与测试、论文撰写并完成学位论文。

八、预算与经费1、硬件设备费用: 4万元2、软件费用: 1万元3、差旅交通费: 3万元4、论文发表和知识产权费: 2万元5、其他费用: 2万元总经费: 12万元以上为CMOS射频收发机芯片及其关键技术的研究开题报告。

APD 接收组件的特性研究

APD 接收组件的特性研究

APD+接收组件的特性研究河北工业大学硕士学位论文APD 接收组件的特性研究姓名:李艳华申请学位级别:硕士专业:物理电子学指导教师:陈国鹰2010-12河北工业大学硕士学位论文APD接收组件的特性研究摘要雪崩光电二极管组件具有内部增益、宽带宽的优点,作为接收机中的核心器件常被用在高速光纤通信系统中。

雪崩光电二极管组件的性能直接决定着接收机的性能,影响着通信距离、中继站的个数以及信号传输过程中的误码个数,因此有必要对其进行研究分析。

文章首先介绍了雪崩光电二极管(APD)光接收组件的国内外发展现况以及论文的研究意义,阐述了APD的结构、工作原理及种类,并分析说明了组件中应用的放大器种类及其优缺点;然后详细讨论了APD接收组件特征参数及其影响因素,理论上分析了直流光、暗电流对组件的灵敏度的影响,并搭建了接收组件性能测试系统,以便对接收组件性能进行测试分析;最后运用搭建的测试系统设计并进行了温度实验,老化实验以及灵敏度实验。

温度实验结果表明,温度对击穿电压的影响成线性变化,影响因子大约是0.054V/℃,对暗电流的影响成指数变化。

老化实验结果表明,器件在老化前后的电参数和光参数没有明显变化,器件的可靠性高。

通过灵敏度实验我们得出,暗电流越小,组件的灵敏度值越小。

经实验测得当负载电阻在49.8?时实现了输出电阻和传输线的匹配,灵敏度值为-32.01dBm,组件能探测到的光功率值为0.63uw。

关键词:雪崩光电二极管,灵敏度,温度,噪声iAPD接收组件的特性研究ANALYSIS OF THE CHARACTERISTICS OF APDRECEIVING ASSEMBLYABSTRACTAPD receiving assembly is often used as a key device of the receiver in high-speed optical fiber communication systems due to its advantages of internal gain and wide bandwidth. Performances of APD directly determine the performances of the receiver, such as the length of the communication distance, the number of relay stations and the size of the bit error rate of signal transmission. Thus the analysis of the characteristic of APD receiving assembly is necessary. Firstly, the current development situation of APD optical receiver assembly at home and abroad was introduced, as well as the background and significance of this study. The structures, working-principle and types of APD were described, and the advantages and disadvantages of different trans-impedance amplifiers were analyzed too; Secondly, the specific parameters and their influence factors of the APD receiving assembly werediscussed in detail. The influence of irradiance and dark current on the sensitivity of APD was analyzed theoretically. Furthermore, we designed and built the testing system for testing the characteristics of the receiving assembly. Finally, the temperature test, accelerated aging test and sensitivity test were carried out base on the testing system. The results of temperature test showed that the influence of temperature on the breakdown voltage was linear with an influence factor of about 0.054V/℃, whereas the influence of temperature on the dark current presented exponential relation. The result of accelerated aging test showed that the electrical and optical parameters of the device presented no significant changes before and after the aging test, thus the reliability of the device was very good. Through the sensitivity test, we found that the smaller the dark current, the lower the value of sensitivity. The results of the sensitivity test showed that the single-ended output resistance matching the transmission line resistance when the load resistance was 49.8?, the value of the sensitivity of device is -32.01dBm, and the light-power that could be detected was 0.63uw.KEY WORDS: avalanche photodiode, sensitivity, temperature, noiseii河北工业大学硕士学位论文第一章绪论§1-1光纤通信的发展用光导纤维来传递载有信号的光波系统便是光纤通信,根据光通信的分类,其属于有线通信的范围,具有传输频带宽,抗干扰能力强以及传输量大的优点,可用于大容量国防干线通信和野战通信。

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摘 要 : 对有 源相 控 阵 雷达 系统 研 制 生产 中 大量 的收 发 组 件 测试 工 作 , 出 了一 种 改 进 的 收 发 组 件 针 提
的 测试 方 法 。针 对 不 同的 应 用 需求 , 别介 绍 了典 型 的 收发 组 件 测 试 系 统 及 改 进 型 的 测 试 系统 。在 改 进 型 分
t onfg ai n o e tn yse as d o t i e t a ontolb r sp e e e he c iur to ft si g s tm b e n h sc n r lc r oa d i r s nt d.whih c n r a iehi u— c a e lz gh a t a ia in, hih e s tlt n e f c ot c in i het s i g p oc s . T h e tng s s e ,w hih i o om tz to g v r aiiy a d p r e tpr e to n t e tn r e s etsi y tm c s c n—
ar i r du e or dfe e t r qu r m e t o p iato . I he i p o e e tn s tm , a c nt a o r e nto c d f ifr n e ie n s f a plc ins n t m r v d t s i g yse e r lc ntol
有 完善 保 护 。该 方案 组 建 的 测 试 系统 , 有 测试 效 率 高 、 工 操 作 少及 组 建 成 本低 等优 点 。 具 人 关 键 词 :雷 达 ; 发 组 件 ;测试 技 术 ;单 片 机 收
中 图分 类号 : TN9 7 5 文献标识码 : A 文 章 编 号 : 6 22 3 ( 0 2 0 — 3 40 17 —3 72 1) 302 —4
r ton. ai
Ke r s rd r ywod : a a ;T/ mo ue etn e h oo y R d l;tsig tc n lg ;M ir— o tolrUntM CU) co C n rl i( e
特征有 可能会 被 外方 知 悉 , 泄 密 隐 患 , 有 因此很 有
b ad b s do o r a e n MCU sa o tdt r tc h o rs p l n p rtn e u n eo R mo ue . Th n i d p e O p oe tt ep we u py a d o ea ig s q e c fT/ d 测试 技 术 随着 有 源相 控 阵 雷 达 的发
必 要 自主研 制 收发组件 的测 试 系统 。
收发组 件 工 作 时 , 要 外 部 提 供 电源 、 序 、 需 时
控制 指令 等信 号 , 试 过 程 中 , 测 测试 系统 需 要 根 据
测试 状态对 收 发 组件 进 行 相 应 控 制 , 拟 收 发 组 模
Su yo / d l T s n eh o g td f R Mo ue et gT c n l y T i o
LV u — n Ch n mi g
( . 8Ree rh I si t o ET No 3 sa c n t ue f C C,He t
2 0 8 ,C ia 3 0 8 hn )
展, 逐渐 受 到 重 视 。一 部 相 控 阵 雷 达 有 少 则 数 百
个、 多则 上万个 收 发组 件 , 每个 收发 组 件 均有 数 且
件 在 相 控 阵 雷 达 系 统 中 的 工 作 状 态 , 过 测 量 通 仪 表 进 行 测 量 才 能 完 成 测 试 过 程 , 调 收 发 组 协
第 3 期
2 1 年 6月 O2
雷 达 科 学 与 技 术
R adar S cl ence and T echno1 ogy
Vo . 0 NO 3 11 .
J n 0 2 u e2 1
收 发 组 件 测 试 技 术 研 究
吕春 明
( 国 电子 科 技 集 团公 司 第 三 十 八 研 究 所 , 徽 合 肥 2 0 8 ) 中 安 3 0 8
s r c e y t i meh d,h s t ea v n a e u h a i h efce c tu t d b h s to a h d a t g s s c sh g fi in y,l t e s n e a d l w o to o fg — i l p ro n l n te o c s fc n i u
测 试 系统 中 , 用 了一 种基 于 单 片机 的核 心控 制 板 对 收发 组 件 的 电源 和 工 作 时 序 进 行 保 护 。 并 提 出 了一 种 采 基 于核 心控 制 板 的收 发 组 件 测 试 系统 组 建 方 案 , 测 试 系统 方 案 自动 化 程 度 高 、 用性 强 并 对 测 试 过 程 具 该 通
Ab ta t An i r v d tsig meh df rt eT/ mo ue sp ee td sr c: mp o e etn to o h R d lsi r sn e ,whc r i d a h s ih a eame tt emas tsig wo ko R mo ue nt eAES etn r fT/ d lsi h A.Th y ia n h rv dtsig s se ft eT/ d ls etpc l dt ei o e e t y tmso h R mo ue a mp n
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