pn结结深对台面型InSb光伏型探测器性能的影响

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第04章_光伏探测器A 20141030

第04章_光伏探测器A 20141030

Cj 与负载电阻 RL 所决定的
扩散时间~10-9s
电路时间常数 τe。
漂移时间~10-11s
电路时间常数 1.5×10-9 s
光伏效应示意图
如何计算? 光敏区薄,缩短扩散时间
4.1 光伏探测器的原理和特性
(2)频率特性: 仅考虑电路时间常数
e RLCj
哪些因素决定?
1
fHC 2π e
在反向偏置状态,PN结势垒区加宽,有利于光生载
反的光生电场,其方向由P区指向N区。此电场使势垒降低,
其减小量即光生电势差,P端正,N端负。
♥ 只要光照不停止,这个光生电压将永远存在。
2021/6/24
4
这时用电压表就能测量出p区正, n区负的 开路电压un,称为光生伏特效应。如 果用一个理想电流表接通p-n结,则有 电流i0通过.称为短路电流。
2DR: N型硅为受光面
2CR:P型硅为受光面
防反射膜,同时也可以起到防 潮、防腐蚀的保护作用
(2)光电特性
伏安特性 硅光电池的伏安特性,表示输出电流和电压随负载电阻变 化的曲线。伏安特性曲线是在某一光照下,取不同的负载电 阻所测得的输出电流和电压画成的曲线。
(2)光电特性
4.2 常用光伏探测器
第四象限:光伏模式 光电池的工作区域
4.1 光伏探测器的原理和特性
PN 结无外加偏压;流过光伏探测 器的电流随着光照变化,其电流与 电压出现明显的非线性。光伏探测 器的输出电流流过外电路负载电阻 产生的压降就是它自身的正向偏压, 故称为自(生)偏压,这种工作模 式通常称为光伏模式。
伏安特性
4.1 光伏探测器的原理和特性
反向偏置之分;而结型器件因p-n结的存在, 有正向偏置、反向偏置之分,且无外加电压, 也可工作,也能实现光电转换。 • 3、光敏电阻的光电流依赖于光生载流子的产 生—复合运动,弛豫时间常数大,频率响应差。 结型器件的光电流依赖于结区部分光生载流子 的漂移运动,弛豫过程时间常数小,响应速度 快。

PN结的光伏效应

PN结的光伏效应

目录
PN结的光Байду номын сангаас伏打效应
01 02
半导体太阳能电池
2.1 半导体太阳能电池
Isc 0 开路电压VOC :输出端开路时,两端的电势差。 光 短路光电流Isc :输出短路时的电流 n
光电流I0:输出端连接负载时,通过的电流 暗电流ID: 光照使PN结势垒降低等效于外加正向偏 压,同样能引起P区空穴和N区电子向对 方注入,形成PN结正向注入电流,方向 与光生电流方向相反
2.1 半导体太阳能电池
外部短路时,短路电流在PN结内部从N区指向P区。非平衡载流子不再积累在PN 结两侧,光电压为零。能带图恢复为(a,无光照PN结情形)。 一般情况下,即使无负载,也存在等效串联电阻RS。光生载流子只有一部分积累 于PN结上,使势垒降低qV。P、N区费米能级相差qV。
与电注入相比,光生电流方向相当 于普通二极管反向电流的方向。
pn结
p
ID
负载 V
OC
2.1 半导体太阳能电池
光照下,在PN结扩散区以内产生的电子-空穴对,一旦进入PN结的空间电荷 区,就会被内建电场分离,在P(N)区边界将积累非平衡空穴(电子)。产生 一个与平衡PN结内建电场方向相反的光生电场。
开路状态下,光生载流子积累于PN结两侧。PN结两端的电位差(即开路电压) 就是光生电动势VOC 非平衡载流子的出现意味N(P)区电子(空穴)准费米能级升高(降低),二者之 间的距离等于q VOC PN结势垒高度比热平衡时下降q VOC
谢谢各位!
光生载流子的浓度梯度(丹倍效应) 光电磁效应 势垒效应(PN结):在PN结上产生电动势
1.3 PN结光生伏打效应
PN结的光生伏打效应主要涉及三个主要的物理过程: 半导体吸收一部分光能产生非平衡的电子-空穴对; 产生的非平衡电子和空穴从产生处以扩散或漂移的 方式向势场区(PN结的空间电荷区)运动,这种势 场也可以是金属-半导体的肖特基势垒或异质结的势 垒等; 进入势场区的非平衡电子和空穴在势场的作用下 向相反方向运动而分离,在P侧积累空穴,在N侧 积累电子,建立起电势差。

pn结传感器的基本原理及其他方面的应用

pn结传感器的基本原理及其他方面的应用

pn结传感器的基本原理及其他方面的应用1. pn结传感器的基本原理pn结传感器是一种常见的半导体传感器,它基于pn结的特性来实现信号检测和转换。

下面是pn结传感器的基本原理:•pn结的构成:pn结由n型半导体和p型半导体构成,通过p型区域与n型区域之间的结界来实现信号转换。

•势垒形成:当n型区域与p型区域接触时,由于不同材料的能带结构不同,形成一个势垒。

势垒的形成会导致电子向n型区域扩散,同时空穴向p型区域扩散,这种扩散现象被称为漂移。

•反向偏置和正向偏置:在正向偏置下,正电荷施加到p型区域,负电荷施加到n型区域,势垒减小,电流流动。

在反向偏置下,正电荷施加到n 型区域,负电荷施加到p型区域,势垒增大,电流不流动。

•光照引发的效应:当光照射到pn结上时,能量会激发出电子-空穴对,导致电流的增加或减小。

这种效应被应用在光敏传感器中。

•温度引发的效应:温度的变化会影响pn结的导电能力,因此可以通过测量电流的变化来检测温度。

这种效应被应用在温度传感器中。

2. pn结传感器的应用领域pn结传感器由于其简单、灵敏和易于集成的特性,在许多领域中得到广泛应用。

下面是一些常见的应用领域:•光敏传感器:光敏传感器基于光照引发电流的原理,可以用于光照强度的测量、自动亮度调节和光压测量等领域。

在摄像头、光电开关和光电二极管等设备中得到广泛应用。

•温度传感器:温度传感器是将pn结的温度特性应用于温度检测的传感器。

通过测量pn结的电流变化,可以确定环境的温度。

在温度控制系统、空调和电子设备中被广泛使用。

•压力传感器:压力传感器使用pn结物理特性来测量压力的变化。

当受到压力变化时,pn结的电流也会相应变化。

该传感器广泛应用于气体、液体和固体压力的检测和测量中。

•气体传感器:气体传感器利用pn结来检测气体的浓度变化。

当特定气体接触到pn结时,会改变pn结的导电特性。

这种传感器常用于环境监测、工业生产和燃气检测等领域。

•生物传感器:生物传感器是一类应用于生物医学领域的传感器,可以通过检测生物体内的化学物质变化来监测人体健康状况。

半导体探测器的探测原理

半导体探测器的探测原理

半导体探测器的探测原理
半导体探测器的基本结构是p-n结。

它由p型半导体和n型半导体材料组成,这两种材料通过接触形成一个结。

在p-n结中,p型的材料处于正电位,n型的材料处于负电位。

当半导体处于不受光照射时,两种材料之间会形成一个正电势差,形成电场。

当有入射光照射到半导体探测器中时,光子将撞击半导体材料中的原子。

这将导致一些电子被激发到能量较高的能级。

在p-n结的界面处,正电势差会使得被激发的电子向p型区移动,而正空穴则向n型区移动。

这些移动的电子和空穴将导致电流的变化。

这是因为电子和空穴在移动的过程中会与材料中的原子相互作用,发生电离和复合等过程。

被激发的电子和正空穴将继续与周围的离子产生相互作用,形成一系列电子空穴对。

这些电子空穴对会以电流的形式流动,形成一个电信号。

此外,半导体探测器还可以通过对电信号的时间参数进行分析来获取更多的信息。

不同入射光子的能量会导致电信号的上升时间和下降时间不同。

通过测量电流的上升和下降曲线,可以确定入射光子的能量范围和事件的时间特征。

总结起来,半导体探测器的探测原理是通过入射光子激发半导体材料中的电子空穴对,产生电信号。

该电信号的强度和时间特征可以用于确定入射光子的能量和其他信息。

这使得半导体探测器成为许多领域中不可或缺的工具。

pn结传感器的基本原理和应用

pn结传感器的基本原理和应用

pn结传感器的基本原理和应用1. 介绍pn结传感器是一种基于pn结的电子器件,通过反应和测量材料或环境的物理量来实现信号的采集和转换。

本文将介绍pn结传感器的基本原理和应用。

2. pn结的基本原理pn结是一种半导体结构,由p型半导体和n型半导体的结合组成。

在pn结中,p型半导体中的杂质主要是三价的掺杂剂,例如硼,这使得p型区域在杂质离子含量下有多余的空穴。

n型半导体中的杂质主要是五价的掺杂剂,例如磷,这使得n型区域在杂质离子含量下的杂质离子有多余的电子。

当n型和p型半导体相接触时,由于能带的结构不同,电子将从n型区域流向p型区域,空穴将从p型区域流向n型区域,从而形成一个电子亏损区和一个空穴亏损区。

这个电子亏损区和空穴亏损区形成了一个空间电荷区,也称为耗尽区。

3. pn结传感器的类型3.1 光敏传感器光敏传感器是一种常见的pn结传感器,它的导电特性会受到光照强度的影响。

当光照强度较高时,光子会激发pn结中的载流子,从而增加电流。

因此,光敏传感器可以用于光强测量、光照度控制等应用。

3.2 温度传感器温度传感器是另一种常见的pn结传感器,它的导电特性会随着温度的变化而改变。

在温度变化时,载流子的流动性也会发生变化,从而引起电流的变化。

温度传感器广泛应用于温度测量、温度控制等领域。

3.3 压力传感器压力传感器是利用pn结的应变效应来测量压力的传感器。

当压力施加在pn结上时,其结构会发生微小的变形,从而改变载流子的流动性。

通过测量电流的变化,可以得到压力的值。

压力传感器广泛应用于压力监测、气体流量测量等领域。

4. pn结传感器的优势和应用场景4.1 优势•灵敏度高:pn结传感器对于不同的物理量具有较高的灵敏度,能够精确地反映物理量的变化。

•响应快:pn结传感器的响应时间通常很快,可以实时地采集信号。

•范围广:pn结传感器可以用于测量多种不同的物理量,具有较大的应用范围。

4.2 应用场景•工业控制:pn结传感器常用于工业自动化领域,监测和控制各种物理量,如温度、压力、流量等。

光电技术 第4-3节 半导体结型光电器件

光电技术 第4-3节 半导体结型光电器件

3、光电导器件的光电效应主要依赖于 非平衡载流子中多数载流子的产生与复合 运动,驰豫时间大,响应速度慢,频率响 应性能较差。而光伏器件主要依赖于结区 非平衡载流子中少数载流子的漂移运动, 驰豫时间短,频率特性好。 4、有些器件如APD(雪崩二极管)、 光电三极管等具有很大的内增益,不仅灵 敏度高,还可以通过较大的电流。 基于上述特点,PV探测器应用非常广 泛,多用于光度测量、光开关、图象识别、 自动控制等方面。
1、光电池的结构特点
光电池核心部分是一个PN结,一般作成 面积大的薄片状,来接收更多的入射光。 在N型硅片上扩散P型杂质(如硼),受 光面是P型层 或在P型硅片上扩散N型杂质(如磷), 受光面是N型层
受光面有二氧化硅抗反射膜,起到增透作 用和保护作用。
上电极做成栅状,便于更多的光入射。 由于光子入射深度有限,为使光照到PN 结上,实际使用的光电池制成薄P型或薄N型。
§3半导体结型光电器件
半导体结型光电器件是利用半导体PN结光生伏特效应来工作的光电探测器, 简称PV(photovoltall)探测器。按照对 光的敏感“结”的种类不同,又可分为 pn结型,PIN型,金属一半导体结型(肖 特基势垒型)和异质结型,最常用的光伏 探测器有光电池、光电二极管、光电三极 管、PIN管,雪崩光电二极管等。
开关测量(开路电压输出)。
线性检测(短路电流输出)
随着负载RL的增大,线性范围将越来越小。 因此,在要求输出电流与光照度成线性关系时, 负载电阻在条件许可的情况下越小越好,并限 制在适当的光照范围内使用。
4、光电池的应用
(1)光电探测器件
利用光电池做探测器有频率响应高,光电
流随光照度线性变化等特点。
一、结型光电器件工作原理
1、平衡下的P-N结 由半导体理论可得: ①势垒高度

PIN结构GaN光电探测器性能的研究

太阳能光电工程学院《PIN结构GaN光电探测器性能的研究》课程设计报告书题目:PIN结构GaN光电探测器性能的研究*名:***专业:光伏材料加工与应用技术班级:光伏材料加工与应用技术本科班准考证号: 014411304226设计成绩:指导教师:摘要半导体光电探铡器主要分成两类,光电导型和光伏型。

光电导型原理是由于光生载流子造成电导率的变化,光伏型原理是耗尽区的电场使光生载流子产生定向运动形成电流。

常见的光伏型探测器是pn结和pin型光电二极管,另一类型是肖特基型光电二极管,其耗尽区是肖特基原理形成。

与光伏型相比,光电导型探测器有两个主要优点:具有内增益和制作简单。

然而,光电导型探测器要求加偏置,暗电流大,而且速度慢。

肖特基型光探测器被认为是速度最快的探测器,但是它的势垒较低,漏电流比pin型大。

由于耗尽区窄,而且GaN材料中耗尽区外产生的载流子扩散长度短,肖特基型光探测器量子效率较低。

所以本文选择了pin型光探测器的研究,加入i层是为了扩展耗尽区的宽度,增加对光的吸收。

关键词:氮化镓探测器 PIN 饱和电流目录绪言 (3)第一章 GaN基pin型探测器 (4)1.1 pin型探测器工作原理 (4)1.2 量子效率及光谱晌应 (6)1.3 瞬态响应 (7)1.4 GaN基pin型探测器研究现状 (8)第二章 Ga基pin型紫外探测器的研制 (10)2.1 GaN基pin型探测器分析 (10)2.1.1 GaN材料p诅紫外探测器 (10)2.1.2 pin紫外探测器分析 (10)2.2 材料生长及器件制作 (12)2.2.1 材料生长 (12)2.2.2 版图设计 (12)2.2.3 器件制备 (14)3.1 暗电流 (15)3.2 光电流 (16)第四章 GaN基pin型紫外探测器高温电气性能 (17)4.1 不同温度下I—V性能测试及分析 (17)4.1.1 测试系统的建立 (17)4.1.2 测试结果处理及分析 (18)4.2 不同温度下C-V性能测试及分析 (18)4.2.1 测试系统的建立 (18)4.2.2 测试结果处理及分析 (19)结论 (20)参考文献 (21)绪言半导体紫外探测器体积小,性能稳定,使用方便。

p-i-n InPInGaAs光电探测器的电流及电容特性研究

文章编号:1672-8785(2021)01-0001-05p-i-n In&InGaAs光电探测器的电流及电容特性研究夏少杰陈俊"(苏州大学电子信息学院,江苏苏州215006)摘要:为了实现高灵敏度探测,红外探测器需要得到优化&利用Silvaco 器件仿真工具研究了 p-i-n 型InP/Ino. 53Ga 0.47As/In 0. 53Ga °. 47A s 光电探测器的结构, 并模拟了该结构中吸收层浓度和台阶宽度对暗电流以及结电容的影响&结果表 明,随着吸收层掺杂浓度的逐渐增大,器件的暗电流逐渐减小,结电容逐渐增 大。

当台阶宽度变窄时,器件的暗电流随之减小,结电容也随之变小。

最后研 究了光强和频率对器件结电容的影响&在低光强下,器件的结电容基本不变; 当光强增大到1 W /m 2时,器件的结电容迅速增大&器件的结电容随频率的升 高而减小,其 &关键词:近红外光电探测器;InP/InGaAs ;暗电流;结电容中图分类号:TN362文献标志码:A DOI : 10.3969/j.issn.1672-8785.2021.01.001Research on Current and Capacitance Characteristicsof p-i-n In&InGaAs PhotodetectorXIA Shao-jie ,CHEN Jun **收稿日期:2020-08-28基金项目:国家自然科学基金项目(61774108)作者简介:夏少杰(1995-),男,江苏苏州人,硕士生,主要从事红外光电器件研究。

*通讯作者:E-mail : ****************.cn(.School of Electronic and Information Engineering ,Soocho2 University ,Suzhou 215006,China )Abstract : In order to achieve high sensitivity detection ,infrared detectors need to be optimized. Based on the Silvaco device simulation tool, the photoelectric characteristics of p-i-n InP/IriQ,53GaQ,47As/In 0.53GaQ,47As photode ­tector is analyzed. The effects of absorption concentration and mesa width on dark current and junction capaci ­tance in the structure are simulated. The results show that as the doping concentration of the absorption layergradua <yincreases ,thedarkcu r entofthedevicegradua <ydecreases ,andthejunctioncapacitancegradua <y increases. When the mesa width becomes narrower ,the dark current of the device decreases ,and the junctioncapacitance becomes smaller. Finally ,the effect of light intensity and frequency on the device junction capaci ­tance is studied. At low light intensity ,the device junction capacitance is basically unchanged. When the light intensityincreasesto1 W /cm 2!thedevicejunctioncapacitanceincreasesrapidly2Thedevicejunctioncapaci-tance increases with frequency decreasing. The peak is caused by defect levels.Key words:near-infrared photodetector;InP/InGaAs;dark current;junction capacitance0引言随着红外探测技术的不断发展,红外探测器作为该技术中最核心的部分也发展极为迅猛&红外探测器可将人类肉眼不可见的红外辐射能转换为可测量的能量!其研究最重要的是材料和器件结构的选择。

结型光电探测器


输出最大功率 入射光功率
5.频率特性


100 80
I(%)
RL=1kΩ 10kΩ 100kΩ
光电池作为探测器使用时,由于载流子在 PN结区内扩散、漂移、产生、复合都要有 一个时间驰豫过程,所以当光照变化很快 时,光电流就有滞后于光照变化的现象。 光电池的频率响应除了载流子运动的内在 因素外,还与材料、结构、光敏面的大小 及使用条件有关。
电子扩散运动 空穴扩散运动 内建电场 E 空穴漂移 电子漂移
外加电场 内建电场
P
N
电流方向+
+U
加电场时的 势垒宽度
e(UD-U) eUD




PN结加上外加电压,流过PN 结的电流为: Ij=I1-I0=I0(eeU/kT-1) 饱和电流 U为正,即P区电压高于N区, 即常说的正向电压,此时电流 光电流 由P区流到N区,电流为正值, 如图2-3。 U为负,即N区电压高于P区, 即通常所说的负向电压,电流 由N区流到P区,电流为负值, P 如图2-4。 PN结的电流电压特性如图2-5 中的无光照的I-U曲线。
第2章 结型光电探测器
2.1 光生伏特效应
光生伏特效应:两种半导体材料或金属/半导体相接 触形成势垒,当外界光照射时,激发光生载流子, 注入到势垒附近形成光生电压的现象。 光生伏特效应属于内光电效应。 利用光生伏特效应制成的光电探测器叫做势垒型光电 探测器.
势垒型光电探测器是对光照敏感的“结”构成的,故 也称结型光电探测器。
2.2.1 光电池的结构

结构有两种:一种是金属—半导体接触型,硒 光电池即属此类。另一种是PN结型,硅光电 池属PN结型。
硅光电池的结构形式有多种,按基底材料可分 为2DR型和2CR型。

光伏电池电性能影响因素及案例总结

KingChou
电流、电压与温度的关系
太阳电池的短路电流并不强烈地依赖温度。随着温度上升, 短路电流略有增加。这是由于半导体禁带宽度通常随温度 的上升而减小使得光吸收随之增加的缘故。电池的其他参 数,开路电压和填充因子都随着温度上升而减小。温度每 升高1℃,晶体硅太阳电池的Voc将约下降0.4%。Voc的显 著变化导致输出功率和效率随温度升高而下降,每升高 1℃,晶体硅太阳电池的输出功率将减少0.4%—0.5%。注 意事项:及时检查温度及光强是否符合要求。
Irev2
0.6270575 5.6509798 0.0067278 8.2767954 76.658877 0.175444 1.373799
0.6278948 5.6038486 0.0095929 8.9881763 74.342368 0.1689486 1.5217339
0.628503 5.6615675 0.0070195 11.85189 76.394735 0.1755708 0.9382173
烧结的关键就是欧姆接触电阻,也就是金属浆料与半导体材料接触处的电阻。 可以这样考虑,上述1.2.3.4项电阻属于固定电阻,也就是基本电阻;
5则是变量电阻烧结效果的好坏直接影响Rs的最终值; 6属于外部测试因素,也会导致Rs变化
KingChou
RS影响因素
RS偏大
检查测试机探针 是否正好压到
Some typical values
(0.5V, 0 mA) V I = 0 mW
KingChou
VOC
实物图
RS ISC
Cell RSH
RLOAD
KingChou
理想情况
RS = 0 ISC
RSH =
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pn结结深对台面型InSb光伏型探测器性能的影响摘要:基于Silvaco二维数值仿真研究了pn结结深对台面型InSb光伏型探测器串音和量子效率的影响,通过分析探测器中横向电场分布、纵向电场分布、复合速率分布等与pn结结深的相关性,揭示了pn结结深影响探测器的串音和量子效率的内在物理机制,并获得了对探测器优化设计有指导意义的研究结论。

关键词:InSb光伏型探测器;pn结结深;串音;量子效率中图分类号:TJ765.3+33;TN215 文献标识码:A 文章编号:1673-5048(2015)05-0036-05Abstract:Based on Silvaco 2D numerical simulation,the effects of pn junction depth on the crosstalk and quantum efficiency of the mesa InSb photovoltaic detector are studied. The correlation between the longitudinal electric field distribution,the transverse electric field distribution,as well as the recombination rate of detector and the pn junction depth are analyzed. The results show that the pn junction depth has a profound effect on the inherent physical mechanisms of the crosstalk and the quantum efficiency. And itis of great importance to the optimization of the mesa InSb photovoltaic detector.Key words:InSb photovoltaic detector;pn junction depth;crosstalk;quantum efficiency0引言近年来,随着光电子技术的迅速发展,红外探测系统在军事领域和民用领域得到了广泛的应用和研究[1]。

作为红外探测系统的核心部件[2-3],红外探测器的研究越来越受到重视。

InSb(锑化铟)红外探测器在3~5 μm波段响应[4],具有禁带窄、灵敏度高、光吸收能力强、探测率高以及材料生长简单等优点[1,5-6],因此是目前世界上应用极其广泛的中波段红外探测器之一。

目前关于台面型InSb光伏型探测器的研究主要集中在温度波动、激光辐照等对探测器性能的影响[1,7],以及通过添加透镜[8-9]、制作工艺[10-11]、改变器件结构参数[12]等来对探测器性能进行研究。

pn结结深是InSb光伏型探测器制备过程中一个重要的工艺参数,它对探测器量子转换效率等有着重要影响[13-15],然而,当前关于pn结结深对台面型InSb光伏型探测器性能影响的研究并不深入,还有很多机理问题有待进一步解决。

基于Silvaco二维数值仿真方法,研究了pn结结深对台面型InSb光伏型探测器的串音和量子效率性能的影响,通过剖析pn结结深对探测器中横向电场分布、纵向电场分布、复合速率分布等的影响和规律,揭示pn结结深影响探测器的串音和量子效率的内在物理机制。

1器件结构及物理模型1.1器件结构研究的InSb光伏型探测器为台面型结构,器件共有三个像元,二维结构图如图1所示。

图中yj为pn结结深位置;仿真中台面高度h为5 μm;像元尺寸L为40 μm;像元间距d为20 μm。

n型InSb,缓冲层的掺杂浓度为1×1015 cm-3;厚度t为10 μm。

p型InSb,缓冲层的掺杂浓度为1×1017 cm-3,厚度可调,通过改变p型InSb的厚度来调节pn结结深的位置。

模拟过程中,入射光采用背入射方式且只照射中心像元,即像元2,入射光波长为5.5 μm;光功率为0.000 1 W/cm2;工作温度为77 K;并采用温度为2 000 K的黑体辐射。

仿真模拟中采用的一些重要参数如表1所示。

1.2物理模型探测器的稳态数值模拟仿真基于大型商用模拟平台SilvacoAtlas展开。

光从n区一侧垂直入射,n区产生的光生载流子向材料内部进行扩散,到达pn结界面,由于空间电场的存在,电子被pn结势垒阻挡,大部分驻留在n 区,空穴则加速到p区。

基于上述物理现象,在半导体光电作用的分析中,需要求解载流子的输运方程,包括泊松方程和电子、空穴的连续方程[1,8-9,12]。

仿真中采用载流子的传输方程为漂移-扩散传输方程。

2数值模拟结果及分析2.1数值模拟结果量子效率和串音随着pn结结深的变化如图2所示。

可见,串音随着pn结结深的增加逐渐减小,说明pn结越靠近光生载流子的产生区域,串音越小;而量子效率随着pn 结结深的增加,先增加后减小,并在pn结结深为5 μm 处达到最大值。

量子效率和串音随着pn结结深的这种变化可以通过探测器内部电场和光生载流子的复合作用等来进行深入分析。

2.2结果分析pn结结深为1 μm, 5 μm和9 μm时InSb光伏型探测器中的纵向电场分布、沿着中心像元中心位置处的纵向电场分布,如图3所示。

图中,三种情况下探测器中pn结处的电场峰值近似相等,且随着pn结结深的增加,纵向电场的峰值位置越接近光入射面附近的nInSb,即光生载流子的主要产生区域。

因此随着pn结结深的增加,pn结纵向电场对光生载流子的抽取作用就越强,导致绝大部分光生载流子会被中心像元收集,而被其他像元收集的光生载流子数量会显著减少,有利于中心像元收集光生载流子,从而会减小探测器的串音。

图4中,横向电场的正负仅代表电场的方向,电场都是由n区指向p区,正值电场方向是从左指向右。

由图可见,沿着中心像元中心处的横向电场均非常小,且随pn结结深的增加有略微的增加,说明沿着中心像元中心处的横向电场对光生载流子的影响很小。

结合图3~4中的结果可知,光生载流子在入射面附近的n型InSb中产生后,首先在浓度梯度的作用下进行扩散运动,扩散到pn结空间电荷区时,主要被pn结纵向电场抽取,横向电场对其影响很小。

由图4还可以看到,当pn结结深大于5 μm时,p区和n区的接触面由原先的1个变成了3个,即除了顶部的接触面外,还形成了两个侧面的接触面,且侧面接触面处的横向电场远大于顶部。

但由于pn结空间电荷区中纵向电场远大于横向电场,因此扩散至pn结顶部附近的光生载流子主要受纵向电场的作用沿着纵向漂移。

少量扩散至中心像元pn结侧面附近的载流子,在较强的横向电场下会被收集,这在一定程度上可减小串音。

所以pn结结深为9 μm时探测器的串音明显小于pn结结深为1 μm和5 μm的情况。

pn结结深为1 μm, 5 μm和9 μm时InSb光伏型探测器中的复合速率分布、沿中心像元中心位置处的复合速率分布,如图5所示。

由图可知,最小复合率均位于pn结附近,pn结结深为1 μm的探测器,在光生载流子产生区域中的复合率高于其他两种探测器,而随着pn结结深的增加,光生载流子主要产生区域中的复合率逐渐减小,而p区内的复合率有显著增加,且高复合率区宽度不断增加。

复合率的增加会在一定程度上减少光生载流子的数量,进而会减小探测器的量子效率。

综合图3~5分析,在pn结结深为1 μm的探测器中,由于pn结远离光生载流子的主要产生区域,光生载流子的主要产生区域中的复合率很高,导致光生载流子在向p区扩散过程中会因复合的湮灭,从而量子效率较低,且由于横向扩散作用,会导致有大量光生载流子扩散至临近像元,并会被临近像元pn结在纵向电场抽取,这就增加了探测器的串音。

当pn结结深增加到5 μm时,pn结接近光生载流子的主要产生区域,光生载流子扩散到pn结空间电荷区的距离有一定减小,且由于光生载流子的主要产生区域中的复合率有所降低,会有更多的载流子扩散至pn结而被纵向电场抽取,而扩散至临近像元,被临近像元所收集的载流子数量有一定减少,因此探测器串音显著减小。

虽然相比pn结结深为1 μm的探测器,在p区内的复合率有一个数量级的增加,但由于被纵向电场所抽取的载流子的增量大于由于复合而消耗的载流子的减量,所以pn 结结深为5 μm的探测器的量子效率有所增加。

当pn结结深进一步增加到9 μm时,pn结更接近光生载流子的主要产生区域,光生载流子产生后,更容易被pn结纵向电场抽取,且由于扩散至中心像元pn结侧面附近的载流子会被强横向电场抽取,导致扩散至临近像元的载流子数量进一步减小,因此串音得到更进一步的抑制。

然而,被抽取至中心像元p区内的载流子要输运至阳极,需经历一个较长的路径,且载流子在这个过程中的运动主要以扩散主导,由图5所示的复合率结果可知,被抽取至p区内的载流子会经历一个高复合率区,且该高复合率区的范围很大,因此载流子会因复合而有明显减少,造成阳极电流减小,探测器量子效率降低。

pn结结深为1 μm, 5 μm和9 μm时InSb光伏型探测器在y=0.5 μm处中心像元沿横向的纵向总电流分布,如图6所示。

3种探测器中,像元两侧均会形成一个电流峰值,且该峰值随着pn结结深增加先增大后减小,而像元中心处电流随着pn结结深增加逐渐减小。

此外,图中每条曲线下的面积可以反映从中心像元阳极可以输出的电流大小,通过积分可以得到pn结结深为1 μm, 5 μm 和9 μm时InSb光伏型探测器的中心像元阳极输出电流分别为1.49×10-10 A, 1.51×10-10 A, 1.47×10-10 A,这验证了上述关于pn结结深对探测器的量子效率影响的分析。

3结论采用器件数值仿真方法,研究了pn结结深对台面型InSb光伏型探测器的串音和量子效率的影响。

结果表明,随着pn结结深增加,串音逐渐减小,而量子效率先增大后减小,并在pn结结深为5 μm处达到最大值。

这主要是因为,随着pn结结深增加,中心像元的纵向电场峰逐渐靠近光生载流子的主要产生区域,对载流子的抽取能力增强,且光生载流子主要产生区域中复合作用减弱,导致大量光生载流子被中心像元收集,被临近像元收集的越来很少,因此串音持续减小。

pn结结深小于台面高度5 μm 时,横向电场几乎没有影响,纵向电场占据主导地位,随着pn结结深增加,纵向电场峰逐渐靠近光生载流子的主要产生区域,对载流子抽取能力增强,量子效率增大;而当pn结结深大于5 μm时,中心像元p区内的复合作用明显增强,复合掉部分光生载流子,导致量子效率降低。

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