霍尔效应法测量螺线管磁场分布

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霍尔效应测量螺线管磁场实验报告

霍尔效应测量螺线管磁场实验报告

霍尔效应测量螺线管磁场实验报告霍尔效应测量螺线管磁场实验报告引言:霍尔效应是一种基于电磁学原理的重要现象,它在工业和科学研究中有着广泛的应用。

本实验旨在通过测量霍尔效应来研究螺线管磁场的特性。

实验步骤:1. 实验器材准备:螺线管、直流电源、霍尔元件、电流表、电压表和万用表。

2. 搭建实验电路:将螺线管连接到直流电源,通过电流表测量电流大小。

将霍尔元件连接到电压表和万用表,以测量霍尔电压和磁场强度。

3. 测量电流:调节直流电源,使电流通过螺线管,记录电流值。

4. 测量霍尔电压:将万用表调至电压测量档,将霍尔元件放置在螺线管附近,记录霍尔电压值。

5. 改变电流方向:改变直流电源的极性,重复步骤3和4,记录数据。

6. 分析数据:根据测得的电流和霍尔电压数据,计算磁场强度。

实验结果:通过实验测得的数据,我们可以得出以下结论:1. 霍尔电压与电流成正比:根据实验数据,霍尔电压与电流之间存在线性关系。

当电流增大时,霍尔电压也随之增大。

2. 霍尔电压与磁场强度成正比:实验结果表明,霍尔电压与磁场强度之间存在线性关系。

当磁场强度增大时,霍尔电压也随之增大。

3. 霍尔电压的正负与电流方向有关:当电流方向改变时,霍尔电压的正负也会随之改变。

讨论与分析:霍尔效应的测量原理是基于洛伦兹力的作用。

当电流通过螺线管时,螺线管周围会产生一个磁场。

霍尔元件中的电荷受到磁场的作用力,导致电荷在元件两侧产生电势差,即霍尔电压。

根据霍尔电压的大小可以推算出磁场的强度。

实验中我们观察到了霍尔电压与电流、磁场强度之间的关系。

这与霍尔效应的理论预测相符。

实验结果的线性关系表明,霍尔效应是一个可靠且精确的测量手段。

然而,在实际应用中,霍尔效应的测量也存在一些局限性。

例如,霍尔元件的位置和方向对测量结果有影响,因此需要仔细调整实验装置。

此外,霍尔元件的灵敏度也会影响测量的准确性,因此需要选择合适的霍尔元件。

结论:本实验通过测量霍尔效应,研究了螺线管磁场的特性。

用霍尔元件测螺线管轴线磁场分布21页PPT

用霍尔元件测螺线管轴线磁场分布21页PPT
用霍尔元件测螺线管轴线磁场分布
1、 舟 遥 遥 以 轻飏, 风飘飘 而吹衣 。 2、 秋 菊 有 佳 色,裛 露掇其 英。 3、 日 月 掷 人 去,有 志不获 骋。 4、 未 言 心 相 醉,不 再接杯 酒。 5、 黄 发 垂 髫 ,并怡 然自乐 。
用霍尔效应测螺线管轴向磁场分布
华中农业大学理学院应用物理系 物理实验教学中心
工作电流.
B(V2.50 ) 0V'
K HIS
K HIS
V为霍尔传感器输出电压
V’是用2.500V外接电压补偿后的
输出值.
实验内容:仪器调节
一. 需连接以下电路:
✓连接给螺线管提供励磁电流的电路. ✓连接给霍尔元件提供工作电流(IS)的电路. ✓连接输出霍尔电压的电路. ✓连接外接补偿电压(2.500V)的电路.
方法:霍尔元件位置固定(置于螺线管的中央),改变 励磁电流.
➢ 霍尔元件置于螺线管中央,改变励磁电流IM (0-500mA) ,测 量V’-IM 关系(测10组数据).
✓注意区分IS 与IM
V '
➢绘制V’-IM关系曲线,计算斜率 I M .
➢ 螺线管中央处磁感应强度与励磁电流的关系 :
B0
N L2D2
集成霍耳元件
外接2.500V
位置读数
V_
3 2
V+
1
VOUT
Vout和V- :输 出霍尔电压
补偿电压
注意:V+、V-不能接反,否则将损坏元件.
实验内容:仪器调节 调节外接2.500V 调节霍尔元
补偿电压
显示励磁电流大小 FD-ICH-II 新型螺线管磁场测定仪—电 源
件工作电流
数字电流表 mA

霍尔法测螺线管磁场实验报告

霍尔法测螺线管磁场实验报告
霍尔元件的线性范围
在一定磁场强度范围内,霍尔元件的输出电压与磁场强度呈线性关 系。
03 实验步骤
搭建实验装置
准备实验器材
01
螺线管、霍尔元件、电源、测量仪表等。
搭建实验装置
02
将螺线管放置在测量台上,将霍尔元件与测量仪表连接,并将
电源接入螺线管。
检查装置
03
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
确保所有连接正确无误,电源正常工作,测量仪表处于校准状
误差来源
实验中可能存在的误差来源包括测量 设备的精度问题、环境因素等。
误差分析
我们对误差来源进行了详细分析,并 计算了误差对实验结果的影响程度。 结果显示,误差对实验结果的影响较 小,实验结果可靠。
05 实验结论与建议
实验结论
01
霍尔效应法能够准确测量螺线管磁场强度,测量结果与理论值 基本一致。
掌握霍尔元件的使用方法
霍尔元件的安装
将霍尔元件放置在螺线管内部 导体上,确保连接牢固,避免
接触不良。
霍尔元件的校准
在测量前需要对霍尔元件进行 校准,以确保测量结果的准确 性。
霍尔元件的读数
根据霍尔元件的输出电压,可 以计算出磁场强度的大小。
注意事项
使用霍尔元件时要避免过载和 高温,以免损坏元件。
02 实验原理
磁场方向与电流方向的关系: 右手定则,即四指环绕电流方 向,大拇指指向即为磁场方向。
磁场强度与电流大小的关系: 电流越大,磁场强度越大。
霍尔元件的工作原理
霍尔元件的构造
通常由半导体材料制成,具有两个平行的电极,当电流通过时, 在电极之间产生电势差。
霍尔元件的输出信号
当霍尔元件处于磁场中时,由于霍尔效应产生的电势差会使得电极 之间产生电压输出。

用霍尔元件测螺线管磁场实验报告

用霍尔元件测螺线管磁场实验报告

实验三十 用霍尔元件测螺旋磁场【实验目的】1. 学习用霍尔效应测量磁场的原理和方法。

2. 学习用霍尔元件测绘长直螺线管的轴向磁场分布。

【实验仪器】TH —H 型霍尔效应实验组合仪。

【实验原理】 1. 霍尔效应霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛伦兹力作用而引起的偏转。

当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场方向上产生正负电荷的聚积,从而形成附加的横向电场,即霍尔电场H E 。

如图3-31-1所示的半导体试样,若在X 方向通以电流S I ,在Z 方向加磁场B ,则在Y 方向即试样'-A A 电极两侧就开始聚集异号电荷而产生相应的附加电场。

电场的指向 取决于式样的导电类型。

对于图3-31-1(a)所示的N 型试样,霍尔元件逆Y 方向,图3-31-1(b)的P 型试样则沿Y 方向。

即有 )(0)()(0)(型型P Y E N Y E h h ⇒<⇒<*(注 (a )载流子为电子)(型N (b ) 载流子为空穴)(型P )显然,霍尔电场H E 是阻止载流电子继续向侧面偏移,当载流电子所受的横向电场力H eE 与洛伦兹力B v e 相等时,样品两侧电荷的积累就达到动态平衡,故有B v e eE H =( 3-31-1)图 3-31-1 霍尔效应实验原理示意图式中,H E 为霍尔电场;v 是载流电子在电流方向上的平均漂流速度。

设试样的宽为b ,厚度d ,载流子浓度为n ,则bd v ne I S =( 3-31-2)由式(3-31-1)、式(3-31-2)可得dB I R d BI ne b E V S H S H H ===1( 3-31-3)即霍尔电压H V ('A A 、电极之间的电压)与B I S 乘积成正比与试样厚度d 成反比。

比例系数neR H 1=称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数。

只要测出H V )V (以及知道)()Gs B A I S 、(和)(cm d ,可按下式计算)/(3C cm R H810⨯=BI dV R S H H ( 3-31-4)上式中的810是由于磁感应强度B 用电磁单位高斯)(Gs ,d 用厘米)(cm 单位,而其他各量均采用国际制单位引入。

用霍尔效应测量螺线管磁场

用霍尔效应测量螺线管磁场

用霍尔效应测量螺线管磁场
在物理学中,霍尔效应是一种重要的电学现象,它是由当电流通过一条带电体时在该体内部磁场的作用下产生的电压差所引起的。

此现象可用于精确测量磁场及用于测量导电性的材料的电子和空穴浓度。

在实际应用中,霍尔效应的测量原理可以被应用在测量螺线管磁场中。

螺线管被用于创建强磁场,通常用于 MRI、医学诊断和其他磁性物质的研究。

霍尔效应可通过测量设备中的磁场,确定螺线管的磁场大小。

在霍尔效应的测量中,一个带有霍尔元件的电路用于测量电压差。

电路通过螺线管并测量其中的磁场。

在此过程中,载流子被引导进入螺线管并在霍尔元件中产生电压差。

电压差取决于电路之间的磁场强度和载流子的密度。

在霍尔元件中,电流在由霍尔靴子和蓝宝石芯片构成的三维结构中流动。

当电流通过靴子时,在霍尔晶片上形成一个单独的电场强度,与磁场垂直。

在磁场和电场耦合的情况下,电子和空穴的流动方向相反,从而产生一个电压信号。

通过测量霍尔元件中的电压差,可以确定磁场的大小。

霍尔元件的电压大小仅取决于电流和磁场的强度,因此可以用于精确测量螺线管的磁场大小。

然而,在霍尔效应测量的实际应用中,存在一些问题。

例如,《美国物理学会》指出,电子和空穴浓度的变化、体积效应和噪音会影响测量结果的准确性。

另外,虽然霍尔效应可以用于测量静态磁场,但对于快速变化的磁场,该方法并不适用。

总的来说,霍尔效应是精确测量螺线管磁场的一种有效方法。

通过了解霍尔效应的基本原理和其应用,可以更好地理解螺线管和磁场的特性。

大学物理实验报告螺线管磁场的测量

大学物理实验报告螺线管磁场的测量

⼤学物理实验报告螺线管磁场的测量实验报告螺线管磁场得测量霍尔效应就就是导电材料中得电流与磁场相互作⽤⽽产⽣电动势得效应。

1879年美国霍普⾦斯⼤学研究⽣霍尔在研究⾦属导电机理时发现了这种电磁现象,故称霍尔效应。

后来曾有⼈利⽤霍尔效应制成测量磁场得磁传感器,但因⾦属得霍尔效应太弱⽽未能得到实际应⽤。

随着半导体材料与制造⼯艺得发展,⼈们⼜利⽤半导体材料制成霍尔元件,由于它得霍尔效应显著⽽得到实⽤与发展,现在⼴泛⽤于⾮电量得测量、电动控制、电磁测量与计算装置⽅⾯。

在电流体中得霍尔效应也就就是⽬前在研究中得“磁流体发电”得理论基础。

近年来,霍尔效应实验不断有新发现。

1980年原西德物理学家冯·克利青研究⼆维电⼦⽓系统得输运特性,在低温与强磁场下发现了量⼦霍尔效应,这就就是凝聚态物理领域最重要得发现之⼀。

⽬前对量⼦霍尔效应正在进⾏深⼊研究,并取得了重要应⽤,例如⽤于确定电阻得⾃然基准,可以极为精确地测量光谱精细结构常数等。

在磁场、磁路等磁现象得研究与应⽤中,霍尔效应及其元件就就是不可缺少得,利⽤它观测磁场直观、⼲扰⼩、灵敏度⾼、效果明显。

本实验采取电放⼤法,应⽤霍尔效应对螺线管磁场进⾏测量。

关键词:霍尔效应;霍尔元件;电磁场;磁场⼀、实验⽬得1、了解螺线管磁场产⽣原理。

2、学习霍尔元件⽤于测量磁场得基本知识。

3、学习⽤“对称测量法”消除副效应得影响,测量霍尔⽚得UH -IS(霍尔电压与⼯作电流关系)曲线与UH -IM,B-IM(螺线管磁场分布)曲线。

⼆、实验原理霍尔效应从本质上讲,就就是运动得带电粒⼦在磁场中受洛伦兹⼒得作⽤⽽引起得偏转。

当带电粒⼦(电⼦或空⽳)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流与磁场得⽅向上产⽣正负电荷在不同侧得聚积,从⽽形成附加得横向电场。

如图所⽰,磁场B位于Z轴得正向,与之垂直得半导体薄⽚上沿X轴正向通以电流IS(称为⼯作电流),假设载流⼦为电⼦(N型半导体材料),它沿着与电流IS相反得X轴负向运动。

700223霍尔效应法测螺线管磁场(实验23)

700223霍尔效应法测螺线管磁场(实验23)

700223霍尔效应法测螺线管磁场(实验23)霍⽿效应法测螺线管磁场实验报告【⼀】实验⽬的及实验仪器实验⽬的1.了解和熟悉霍尔效应的重要物理规律2.熟悉集成霍尔传感器的特性和应⽤,掌握测试霍尔效应器件的⼯作特性3.学习⽤霍尔效应测量磁场的原理和⽅法4.学习⽤霍尔器件测绘长直螺线管的轴向磁场分布实验仪器FD-ICH-II 新型螺线管磁场测定仪【⼆】实验原理及过程简述霍尔元件如图4-23-1所⽰。

若电流I流过厚度为d的半导体薄⽚,且磁场B垂直于该半导体,于是电⼦流⽅向由洛伦磁⼒作⽤⽽发⽣改变,在薄⽚两个横向⾯a,b之间应产⽣电势差,这种现象称为霍尔效应。

在与电流I、磁场B垂直⽅向上产⽣的电势差称为霍尔电势差,通常⽤UH 表⽰。

霍尔效应的数学表达式为:随着科技的发展,新的集成元件不断被研制成功。

本实验采⽤的SS95A型集成霍尔传感器,是⼀种⾼灵敏度集成化传感器,它由霍尔元件放⼤器和薄膜电阻剩余电压补偿组成,测量时输出信号⼤,并且剩余电压的影响已被消除。

SS95A型集成霍尔传感器,他的⼯作电流已设定被称为标准,⼯作电流使⽤传感器时,必须使⼯作电流处在该标准状态,在实验室只要在磁感应强度为零条件下调节v+v-所接的电源电压是输出电压为2.500伏,则传感器就可处在标准⼯作状态之下。

当螺线管内有磁场且集成霍尔传感器的标准⼯作电流时螺线管是由绕在圆柱⾯上的导线构成的,对于密绕的螺线管可以看成是⼀列有共同轴线的圆形线圈的并列组合,因此⼀个载流长直螺线管轴线上某点的磁感应强度,可以从对各圆电流在轴线上该点所产⽣的磁感应强度进⾏积分求和得到,对于⼀限长的螺线管,在距离两端等远的中⼼点磁感应强度为最⼤,且等于过程简述1.装置接线2.断开开关K2,调节使集成霍尔传感器达到标准化⼯作状态。

3.测量霍尔传感器的灵敏度4.测量通电螺线管中的磁场分布【三】实验数据处理及误差计算:5让风吹1.根据实验所测,描绘螺线管中间位置霍尔电势差与螺线管通电电流的关系;2.求出K/ 和r以及K;∴K’=0.4169V/Ar=13.计算通电螺线管内各处的磁感应强度(见数据记录纸);4.描绘通电螺线管内磁感应强度B-x分布图;5.⽐较实验值与书上提供的技术指标,计算误差;【四】实验结果表达:对测量及计算的最终结果做出定量(定性)的总结,并回答书中对应思考题的问题。

霍尔效应法测定螺线管.pdf

霍尔效应法测定螺线管.pdf
1
TH-S 型螺线管磁场测定实验组合仪
3.学习用霍尔元件测绘长直螺线管的轴向磁场分布。 二、实验原理 1.霍尔效应法测量磁场原理 霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转。当带电粒 子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负 电荷的聚积,从而形成附加的横向电场,即霍尔电场。对于图(1) (a)所示的 N 型半导体试 样,若在 X 方向的电极 D、E 上通以电流 Is,在 Z 方向加磁场 B,试样中载流子(电子)将受 洛仑兹力
件在单位工作电流和单位磁感应强度下输出的霍尔电压。I s 称为控制电流。H 为mV,则K H 的单位为mV/(mA·KGS)
RH 1 = 称为霍尔元件灵敏度(其值由制造厂家给出) ,它表示该器 d ned
K H 越大,霍尔电压V H 越大,霍尔效应越明显。从应用上讲,K H 愈大愈好。K H 与载流子浓 度n成反比, 半导体的载流子浓度远比金属的载流子浓度小, 因此用半导体材料制成的霍尔元件, 霍尔效应明显,灵敏度较高,这也是一般霍尔元件不用金属导体而用半导体制成的原因。另外, K H 还与d成反比, ,因此霍尔元件一般都很薄。本实验所用的霍尔元件就是用N型半导体硅单晶 切薄片制成的。 由于霍尔效应的建立所需时间很短(约 10-12—10-14s) ,因此使用霍尔元件时用直流电或交 流电均可。只是使用交流电时,所得的霍尔电压也是交变的,此时,式(7)中的I s 和V H 应理解 为有效值。 根据 (7)式, 因K H 已知, 而Is由实验给出,所以只要测出V H 就可以求得未知磁感应强度B。
-7
(10)
其中μ O 为真空磁导率,μ O =4π×10 亨利/米,N为螺线管 单位长度的线圈匝数,I M 为线圈的励磁电流,β 1 、β 2 分别为点 P 到螺线管两端径失与轴线夹角,如图(2)所示。
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霍尔效应法测量螺线管磁场分布1879年美国霍普金斯大学研究生霍尔在研究载流导体在磁场中受力性质时发现了一种电磁现象,此现象称为霍尔效应,半个多世纪以后,人们发现半导体也有霍尔效应,而且半导体霍尔效应比金属强得多。

近30多年来,由高电子迁移率的半导体制成的霍尔传感器已广泛用于磁场测量和半导体材料的研究。

用于制作霍尔传感器的材料有多种:单晶半导体材料有锗,硅;化合物半导体有锑化铟,砷化铟和砷化镓等。

在科学技术发展中,磁的应用越来越被人们重视。

目前霍尔传感器典型的应用有:磁感应强度测量仪(又称特斯拉计),霍尔位置检测器,无接点开关,霍尔转速测定仪,100A-2000A 大电流测量仪,电功率测量仪等。

在电流体中的霍尔效应也是目前在研究中的“磁流体发电”的理论基础。

近年来,霍尔效应实验不断有新发现。

1980年德国冯·克利青教授在低温和强磁场下发现了量子霍尔效应,这是近年来凝聚态物理领域最重要发现之一。

目前对量子霍尔效应正在进行更深入研究,并取得了重要应用。

例如用于确定电阻的自然基准,可以极为精确地测定光谱精细结构常数等。

通过本实验学会消除霍尔元件副效应的实验测量方法,用霍尔传感器测量通电螺线管内激励电流与霍尔输出电压之间关系,证明霍尔电势差与螺线管内磁感应强度成正比;了解和熟悉霍尔效应重要物理规律,证明霍尔电势差与霍尔电流成正比;用通电长直通电螺线管轴线上磁感应强度的理论计算值作为标准值来校准或测定霍尔传感器的灵敏度,熟悉霍尔传感器的特性和应用;用该霍尔传感器测量通电螺线管内的磁感应强度与螺线管轴线位置刻度之间的关系,作磁感应强度与位置刻线的关系图,学会用霍尔元件测量磁感应强度的方法.实验原理1.霍尔效应 霍尔元件的作用如图1所示.若电流I 流过厚度为d 的半导体薄片,且磁场B 垂直作用于该半导体,则电子流方向由于洛伦茨力作用而发生改变,该现象称为霍尔效应,在薄片两个横向面a 、b 之间与电流I ,磁场B 垂直方向产生的电势差称为霍尔电势差.霍尔电势差是这样产生的:当电流I H 通过霍尔元件(假设为P 型)时,空穴有一定的漂移速度v ,垂直磁场对运动电荷产生一个洛仑兹力)(B v q F B ⨯= (1) 式中q 为电子电荷,洛仑兹力使电荷产生横向的偏转,由于样品有边界,所以偏转的载流子将在边界积累起来,产生一个横向电场E ,直到电场对载流子的作用力F E =qE 与磁场作用的洛仑兹力相抵消为止,即 qE B v q =⨯)( (2) 这时电荷在样品中流动时不再偏转,霍尔电势差就是由这个电场建立起来的。

如果是N 型样品,则横向电场与前者相反,所以N 型样品和P 型样品的霍尔电势差有不同的符号,据此可以判断霍尔元件的导电类型。

设P 型样品的载流子浓度为Р,宽度为ω,厚度为d ,通过样品电流I H =Рqv ωd ,则空穴的速度v= I H /Рq ωd 代入(2)式有dpq BI B v E H ω=⨯= (3)上式两边各乘以ω,便得到dBI R pqd B I E U H H H H ===ω (4)其中pqR H 1=称为霍尔系数,在应用中一般写成 B I K U H H H = (5)比例系数pqd d R K H H 1==称为霍尔元件的灵敏度,单位为mV/(mA ·T)。

一般要求K H愈大愈好。

K H 与载流子浓度Р成反比,半导体内载流子浓度远比金属载流子浓度小,所以都用半导体材料作为霍尔元件,K H 与材料片厚d 成反比,因此霍尔元件都做得很薄,一般所的洛仑兹力也不相等。

作圆轨道运动的轨道半径也不相等。

速率较大的将沿较大的圆轨道运动,而速率小的载流子将沿较小的轨道运动。

从而导致霍尔片一面出现快载流子多,温度高;另一面慢载流子多,温度低。

两端面之间由于温度差,于是出现温差电势U E 。

U E 的大小与IB 乘积成正比,方向随I 、B 换向而改变。

3.能斯托效应(Nernst)由于霍尔元件的电流引出线焊点的接触电阻不同,通以电流I 以后,因帕尔贴效应,一端吸热,温度升高;另一端放热,温度降低。

于是出现温度差,样品周围温度不均匀也不会引起温差,从而引起热扩散电流。

当加入磁场后会出现电势梯度,从而引起附加电势U N ,U N 的方向与磁场的方向有关,与电流的方向无关。

4.里纪-勒杜克效应(Righi-Leduc)上述热扩散电流的载流子迁移速率不尽相同,在霍尔元件放入磁场后,电压引线间同样会出现温度梯度,从而引起附加电势U RL 。

U RL 的方向与磁场的方向有关,与电流方向无关。

在霍尔元件实际应用中,一般用零磁场时采用电压补偿法消除霍尔元件的剩余电压,如图2所示。

在实验测量时,为了消除副效应的影响,分别改变I H 的方向和B 的方向,记下四组电势差数据(K 1、K 2换向开关向上为正)当I H 正向、B 正向时:U 1=U H +U 0+U E +U N +U RL 当I H 负向、B 正向时:U 2=-U H -U 0-U E +U N +U RL 当I H 负向、B 负向时:U 3=U H -U 0+U E -U N -U RL 当I H 正向、B 负向时:U 4=-U H +U 0-U E -U N -U RL作运算U 1-U 2+U 3-U 4,并取平均值,得E H U U U U U U +=-+-)(414321 由于U E 和U H 始终方向相同,所以换向法不能消除它,但U E <<U H ,故可以忽略不计,于是)(414321U U U U U H -+-=(6)温度差的建立需要较长时间,因此,如果采用交流电使它来不及建立就可以减小测量误差。

3.长直通电螺线管中心点磁感应强度理论值根据电磁学毕奥-萨伐尔(Biot-Savart)定律,长直通电螺线管轴线上中心点的磁感应强度为22DL NI B M+=μ中心 (7)螺线管轴线上两端面上的磁感应强度为222121DL NI B B M+•==μ中心端(8)式中,μ为磁介质的磁导率,真空中μ0=4π×10-7T*m/A ,N 为螺线管的总匝数,I M 为螺线管的励磁电流,L 为螺线管的长度,D 为螺线管的平均直径。

实验仪器GHL -1 通电螺线管实验装置,双刀双掷换向开关,VAA 电压测量双路恒流电源实验内容1. 螺线管实验装置励磁电流输入通过双刀换向开关K 1,与VAA 电源励磁恒流输出相接;实验装置霍尔电流输入通过双刀换向开关K 2与VAA 电源霍尔控制恒流输出相接;实验装置霍尔电压输出与VAA 电源霍尔电压输入相接。

2. 放置测量探头于螺线管轴线中央,即15cm 刻度处,调节霍尔控制恒流输出为5.00mA ,依次调节励磁电流为0、100、200、300、400、500、600、700、800、900、1000mA,测量霍尔输出电压,证明霍尔电势差与螺线管内磁感应强度成正比。

3.放置测量探头于螺线管轴线中央,即15cm刻度处,调节励磁电流1000mA,调节霍尔控制恒流输出为0、0.50、1.00、1.50、2.00、2.50、3.00、3.50、4.00、4.50、5.00mA,测量霍尔输出电压,证明霍尔电势差与霍尔电流成正比。

4.调节励磁电流500mA,调节霍尔电流为5.00mA,测量螺线管轴线上X为0.0、1.0、2.0┅┅30.0cm的霍尔电势差,找出霍尔电势差为螺线管中央一半的刻度位置。

依给出的霍尔灵敏度作磁场分布B-X图。

5.用螺线管中心点磁感应强度理论计算值,校准或测定霍尔传感器的灵敏度.注意事项1.注意实验中霍尔元件不等位效应的观测,设法消除其对测量结果的影响。

2.励磁线圈不宜长时间通电,否则线圈发热,影响测量结果。

3.霍尔元件有一定的温度系数,为了减少其自身发热对测量影响,不宜超过其额定工作电流5mA.思考题1.用简图示意,用霍尔效应法判断霍尔片是n型、p型的半导体材料?2.在利用霍尔效应测量磁场过程中,为什么要保持I H的大小不变?3.如果螺线管在绕制中,单位长度的匝数不相同或绕制不均匀,在实验中会出现什么情况?在绘制B-X分布图时,电磁学上的端面位置是否与螺线管几何端面重合?4.霍尔效应在科研中有何应用,试举例说明?霍尔效应测螺线管磁场实验报告一.目的1. 了解霍尔效应现象,掌握其测量磁场的原理。

2. 学会用霍尔效应测量长直通电螺线管轴向磁场分布的方法。

二.原理霍尔元件的作用如图1所示.若电流I 流过厚度为d 的半导体薄片,且磁场B 垂直作用于该半导体,则电子流方向由于洛伦茨力作用而发生改变,在薄片两个横向a,b 之间就产生电势差,这种现象称为霍尔效应.在与电流I, 磁场B 垂直方向产生的电势差称为霍尔电势差, 通常用U H 表示霍尔电势差.U H 的表示式为: B I K U H H H (1) 式中,K H 称为霍尔元件灵敏度,R H 是由半导体本身电子迁移率决定的物理常数,称为霍尔系数.B 为磁感应强度,I 为电流强度.四.实验方法和实验步骤1.实验接线图如图3所示.图31.放置测量探头于螺线管轴线中央,即15cm刻度处,调节霍尔控制恒流输出为5.00mA,依次调节励磁电流为0、200、400、600、800、1000mA,测量霍尔输出电压,证明霍尔电势差U H与螺线管励磁电流I M成正比,即螺线管内磁感应强度成正比。

2.放置测量探头于螺线管轴线中央,即15cm刻度处,调节励磁电流1000mA,调节霍尔控制恒流输出为0、1.00、2.00、3.00、4.00、5.00mA,测量霍尔输出电压,证明霍尔电势差U H与霍尔电流I H成正比。

3.调节励磁电流500mA,调节霍尔电流为5.00mA,测量螺线管轴线上X为0.0、1.0、2.0┅┅30.0cm的霍尔电势差,找出霍尔电势差为螺线管中央一半的刻度位置。

依给出的霍尔灵敏度作磁场分布B-X图。

.4.用螺线管中心点磁感应强度理论计算值,校准或测定霍尔传感器的灵敏度五.实验数据1.励磁电流与霍尔电势差的关系。

霍尔工作电流I H=5.00mA,霍尔传感器位于螺线管中央,即15cm处。

2.测量霍尔电势差与霍尔工作电流的关系。

螺线管通电励磁电流I M=500mA,霍尔传感器位于螺线管中央,即15cm处。

3.通电螺线管轴向磁场分布测量。

霍尔电流I H=5.00mA,螺线管通电励磁电流I M=500mA,K H=1.79mV/mA*T。

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