晶振来料检验

美 途 科 技 （深 圳） 有 限 公 司
M2LECTRON TECHNOLOGY (SHENZHEN) INC.

工 作 指 示
Working Instruction
文 件 编 号： Document No.: WI-IQA-008 文 件 版 本：
Version No.:
A

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共 2 页

文 件 主 题：
Document Subject:
晶振来料检验指导书

版本号 Rev.No 变更内容叙述 Description/Changes 更新日期 Date 修订人
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A 新发行 2003/02/10

受文部门：□ 工程部 □ 制造部 □ 品质部 □ 资材部
□ 管理部 □ 商务部 □ 财务部 □ 其它
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□工程部 □资材部

□制造部 □商务部
□品质部 □管理部
□财务部
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Document No.: WI-IQA-008
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Subject: 晶振来料检验指导书

1． 目的
指导IQC检验员有关晶振来料检验。
2． 适用范围
晶振的来料检验。
3． 参考文件
3.1 《抽样计划作业准则》WI-QA-020
3.2 《来料检验控制程序》COP-008
3.3 《不合格品控制程序》COP-014
4． 使用工具
游标卡尺、小锡炉、频率计、105D晶体测试仪
5． 抽样方法
5.1参照《来料检验控制程序》与《抽样计划作业准则》。
5.2 AQL：CR：0，MA：0.25，MI：1.0
6． 检验项目
项目 程序 方法或工具 规 格 要 求 描 述 等级缺陷
核对送货
单
1-1 目视 检验送货单内容描述与来货实物相符 MA

外
观

2-1 目视 丝印不清，模糊可以辨认 MI
2-2 目视 丝印错误、漏印，晶振上丝印的频率与实物频率不相符合 MA
2-3 目视 外壳不可破损、划伤、裂纹、污渍或生锈 MA
2-4 目视 端子脚不可有变色氧化 MA

2-5 目视 OSC型晶振四角其中有一个角有黑点代表晶振的方向 MA
尺寸 3-1 游标卡尺 按相应规格书图纸对实物进行测量主要尺寸要符全要求（抽测10PCS） Ac=0
Re=1

上锡性测试 4-1 小锡炉/ 回流焊 将晶振端子脚浸入230℃±5℃锡溶液中经3-5秒取出,最少90%浸入锡溶液的上锡面上锡良好 Ac=0
Re=1

频率测试 5-1 150D晶体测试仪 或频率计 采取频率计测量晶振频率与符合要求(抽测20PCS) Ac=0
Re=1
破坏性测试 6-1 150D晶体测试仪 或频率计 把晶振从30cm高度自由落下至地面三次后,测量晶振频率要符合要求(抽测5PCS) Ac=0
Re=1
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注：被做破坏性测试的晶振需标识当不良品处理。

7． IQC检验员按检验项目逐项检查，并将检验结果作原始记录。
8． 发现不合格品将其隔离贴上不合格标签，并将不良原因记录，交呈组长以上人员审核。若为不合
格的，依据《来料检验控制程序》和《不合格品控制程序》执行。
9． 根据检验结果填写《来料接收检验报告》与《供应商交货履历表》相应栏中，呈交主管审核。