统计过程控制讲义(质量工程师考试)
spc统计过程控制培训讲义

变差对过程输出的影响
普通原因和特殊原因
普通原因:随时间推移,具有稳定的且可重
复的分布过程中变差原因。即非人为原因、共同原
因、偶然原因、一般原因。
特殊原因:造成的不是始终作用于过程的变
差原因,即当他们出现时,将造成(整个)分布的
改变。又称可避免原因、人为原因、异常原因、局
部原因等。特殊原因有些有利,有些有害。
•A
•C
•A
•C
•P
•A
•2020/4/13
•D
•C
•爱波瑞管理咨询公司
统计过程控制概述
统计过程控制的重要工具---控制图图示 如图
• 上控制线
•中线 •下控制
线
•2020/4/13
•爱波瑞管理咨询公司
统计过程控制概述
控制图解释
控制界限和规格界限
规格界限:
是用以说明品质特性之最大允许值,來 保证各个单位产品的正确性能。
控制界限:
应用于多个单位产品集体的特性,这种 特性是从多个中各个单位产品所得的观测值所 计算出來的结果。
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•爱波瑞管理咨询公司
统计过程控制概述
控制图的益处
1.供正在进行过程控制的操作者使用
2. 有助于工程在质量上和成本上能持续地,可预 测地保持下去 。
并针对原因采取措施 。
•2020/4/13
•爱波瑞管理咨询公司
有反馈的过程控制系统模型
过程的呼声
•统计方法
人 设备 材料 方法 环境
输入
•2020/4/13
•我们的工作
•方式/
•产品或
•资源的融合 •服务
•顾客
过程/系统 顾客呼声
统计过程控制

五、样本极差
极差是一组数据中最大值与最小值之差。 常用符号 R 表示,其计算公式:
R = X max - X min
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六、常用术语及解释
术语
平均值(Xbar) 极差(R) 标准差(σ) 单值 累积和 中位数 移动平均 指数加权平均 移动极差
解释
用以测量一个过程控制对象的中心趋势,监控过程/产品在整 个时间区间的变化的平均值
3
第一节 统计方法及其用途
一、 什么是统计方法 二、 统计方法的性质 三、 统计方法的用途
4
一、什么是统计方法
统计方法:是指有关收集、整理、分析和解释统计数据, 并对其所反映的问题作出一定结论的方法。
描述性统计方法: ——是对统计数据进行整理和描述的方法; ——常用曲线、表格、图形等反映统计数据和描述观测结果, 以使数据更加容易理解,例如,可将统计数据整理成折线图、 曲线图和频数直方图等。
34
二、SPC的发展
• 1950年戴明博士把SPC技术引入日本,它在日本工业 界的大量推广应用对日本产品质量的崛起起到了至关重 要的作用
• 八十年代以后,世界许多大公司纷纷在自己内部推广和 应用SPC,同时对其供应商也提出了相应的要求
• SPC为质量管理五大核心工具之一
• 五大手册(核心工具)包括:
如果从总体中抽取一个样本,得到一批数据X 1,X 2,X 3….X n,
则样本的平均值
_
x
1 n
n i 1
xi
:样本的算术平均值
n :样本大小
25
二、样本中位数
把收集到的统计数据X 1,X 2,X 3….X n,按大小顺序重新排
列,排在正中间的那个数就叫作中位数,用符号
统计过程控制SPC培训教材课件

表一 泄漏调查表(人员分类)
操作人员 甲 乙 丙
合计
泄漏(次数) 6 3 10 19
不泄漏(次数) 13 16 9 31
发生比率 0.32 0.25 0.5配件厂商分类)
配件厂家
泄漏(次数) 不泄漏(次数)
A
9
14
B
10
17
合计
19
31
发生比率
0.39 0.37 0.38
计划和 确定项目
产品设计 和开发
过程设计 和开发
产品和 过程确定
反馈、评定 和纠正措施
样件制作
试生产
批量生产
2021/5/12
二、质量管理七大统计工具:
1. 检查表(Check Sheet或Cheek List;亦称点检表或查检表): 指使用简单易于了解的标准化表格或图形,只需填入规定的检查 记录,再加以统计汇整其数据,即可提供量化分析或比对检查用 的统计分析的图表称为检查表。
2021/5/12
6、标准差:过程输出的分布宽度或从过程中统计抽样值(例如:子组均值) 的分布宽度的量度,用希腊字母或字母s(用于样本标准差)表示。
7、σ(Sigmaó):用于代表标准差的希腊字母。 8、中心线:控制图上的一条线,代表所给数据平均值。 9、连续的:连续生产的产品单元,是选择子组样本的基础。 10、控制限:控制图上的一条线(或几条线),作为制定一个过程是否稳定
顾客要求和公司确定的产品和过程特殊特性。
5、 SPC 与 APQP/CP、FMEA、PPAP 和 MSA 的关系:
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DFMEA 样件CP
PFMEA 试生产CP
PPAP
MSA
SPC
SPC
统计过程控制教程

(1)收集数据,要求至少要收集50个以上数据,记为N。
(2)将数据分组,如果以K表示组数,则组数
数据数N
K=1+3.23logN 一般常采用以下经验分组数表:
50~100 100~250
>250
组数K
6~7 7~8 8~10
SPC统计过程控制教程
(3)找出数据的最大值L和最小值S,计算出全距R。(R=L-S)
(8)绘直方图:以横轴表示数据测量值,纵轴表示数据出现的次数。
(9)对绘出的直方图进行分析。
我们可以在课堂上作一个小游戏“家有几口”,通过这个游戏可以定性的演 示直方图的形状。
SPC统计过程控制教程
2.3 直方图实例练习
● 实例
某罐头厂生产罐头,罐头容量规格为310±8g,今抽验50罐数据如下:
308
SPC统计过程控制教程
2.2 次数分配表、直方图的作法
● 次数分配表
获得一组数据,把数据存在的区间分成若干小区间,统计数据落在各 个小区间内的数目排列成的表称为次数分配表。 ● 直方图
以数据的测量值为横轴,以各区间的测量值为底边,以该区间数据出现的次数为 高度作出直方柱,这些直方柱组成的图形称为直方图。
质量检验作为一道独立的工序从制造中分离出来,出现了固定的检 验机构和专职检验人员。他们的工作主要内容是进行产品的事后检 验,控制结果,一旦出现不良品判定其返修或报废。
(2) 控制与预防 应用数理统计方法进行生产过程的控制。基本
思想是根据过程的情况,预测将来的趋势与变化,从而进行过程控 制,使过程在受控中进行,预防不良品的发生。所以说SPC的特征 是控制过程,防患于未然。
(1)检验、控制和预防在过程中的作用; 检验——容忍浪费(提高成本) 控制——避免浪费(降低成本) (2)采用SPC的目的——对过程进行控制; (3)过程变异的两种类型以及含义; (4)如何寻找控制的质量特性; (5)建立统计过程控制的实施步骤。
统计过程控制(1)

极差控制图主要用于判断生产过程的标准 差是否处于或保持在所要求的统计控制状态。
两张图一起用,称为均值-极差控制图。
统计过程控制(1)
1. 控制界限:
为制订控制界限,首先要收集k个子组数 据(即k个样本),每一组的大小(即样本容 量)为 n,第 i 组的数据记为xij,并对每一样 本计算样本均值与样本极差。
的费用要高,但是使用计量值控制图时,每
一个样本的容量(也称子组大小)较小,一般
仅取n=4或5,这样便于缩短抽样间隔,可
以较及时发现异常
统计过程控制(1)
计量值控制图基于正态分布,正态分布有两 个参数:
均值与标准差 因此需要两张图,分别控制均值与标准差。
统计过程控制(1)
(一)均值-极差控制图( -R图)
当Cp大Cpk小的时候,可以减少过程中心 与规范中心的偏离ε
当Cp小的时候应该减少标准差
统计过程控制(1)
2)长期的过程能力指数: (1) 潜在的过程性能指数Pp : 这是对双边规范来讲的,设规范要求特性 值的下限与上限分别为LSL与USL,那么
其中 是长期的标准差的估计,可以用
估计
统计过程控制(1)
Prediction
统计过程控制(1)
注意:
从某种意义上讲,各种过程能力指数是将 “顾客的呼声”与“过程的呼声”进行比较, 努力使两者一致是我们的努力方向。
对i=1,2, …,k有: ,Ri ,再计算它们的平 均值:
用极差控制图时要求n<10
统计过程控制(1)
由于
因此均值-极差控制图的中心线分别是 上下控制界限分别是
统计过程控制(1)
控制图讲义统计过程控制(SPC)

spc
统计过程分析
控制界限的构成
11
Edited by Mr. jose lee
spc
统计过程分析
普 通 原 因(偶因) 与 特 殊 原 因(异因) 之变异
随机变异: 过程中变异因素是始终存在,且不易识别的原因造成的, 并假定为过程所固有。
普通原因
偶然原因(偶因) 一般 原因
结果为: 在统计的控制状态下, 其产品之特性有固定(典型)的分配(布)。
24
Edited by Mr. jose lee
spc
统计过程分析
X R 绘图步骤
4.求控制界限 (1) 控制X 图 CL= X = 50.16
UCL= X+A2 R= 50.16+(0.58) (4.8)= 52.93 LCL= X-A2R = 50.16-(0.58) (4.8)= 47.39
CL = R
2.实例:
UCL = D4 R LCL = D3 R
某工厂制造一批紫铜管,应用 X-R控制图来控制其内径,尺寸
单位为m/m,利用下页数据表之资料,求得其控制界限并绘图。
(n = 5)
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Edited by Mr. jose lee
spc
统计过程分析
X-R控制图用数据表
产品名称:紫铜管
机械号码:XXX
1. 柏拉图(决定控制重点) 2. 统计检定 3. 控制图 4. 抽样计划 5. 变异数分析/回归分析
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Edited by Mr. jose lee
spc
统计过程分析
过程控制系统
过程中对策 绩 效 报 告 成 品 改 善
过程中对策 人员 设备 材料 成 方法 环境
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品
SPC统计过程控制173页PPT培训教材

当图表有异常信号时, 通 过根本原因分析采取正确 的行动以预防问题的再次 发生
YES
NO NO NO NO
15
YES
YES NO NO NO
YES
YES YES YES YES
为什么我们会关注统计控制?
第一个原因是福特PFMEA流程中要求需要对CC, SC和过程HIC采取 特殊控制, SPC就是其中的一种.
24
控制过程变差 无法控制的
随机的, 不可预知的变差, 影响到每个零件
例如: 普通原因
减少变差需要过程或系统的改变
25
控制过程变差 可控制的
变差是随时间而定的 可以被测量或补偿, 是可预知的 变差的减少通过作业水平的补偿就可以
26
数据类型
计数型
不通过
通过
失败
通过
电子的线路
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计量型
卡尺
时间
温度
过程是统计受控的 过程是可预测的
稳定的过程状态
22
两种过程状态:普通原因和特殊原因
存在变差的特殊原因
分布不稳定,偏离典型分布
过程是不受控的
如果存在特殊原因,过程输 出随时间将不稳定,同时也 不可预测。
过程是不可预测的 控制图可检出
不稳定的过程状态
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变差的普通原因和特殊原因
休哈特的贡献就在于发现了:虽然产生变差的来 源包括人、机、料、法、环等各种原因,但可分 为普通原因及特殊原因,后者(特殊原因)在控制 图上有信号,因此,可用来对过程进行控制。
5
引言
当过程超出控制 (Out-of-Control) 或生产了问题零 件的时候应该怎么办?
如何运用平均运行长度 (ARL-Average Run Length) 即 基于变量数据的围堵策略, 包括怎样识别损失函数. 如何采取永久的系统性的纠正措施用于预防问题永远 不再发生.
统计过程控制SPC培训讲义PPT课件

——当数据以百分率表示时,要判断它是计量数据还是计数数据, 应取决于给出数据的计算公式的分子。
12
第二讲:控制图
13
统计过程控制的实施过程
经由制程中去收集资料,而加以统计分 析,并从分析中发觉制程的变异,并经 由问题分析以找出异常原因,立即采取 改善措施,使制程恢复正常。再借由制 程能力分析与标准化,以不断提高制程 能力。
P(x)
0
1
2
3
4
5
6
μ μ+σ
9
关于正态分布
固定标准差σ时,不同的均值,如μ1 <μ2,对应的正态曲线的形状完 全相同,仅位置不同。
N(μ1,σ2)
N(μ2,σ2)
固定均值μ时,不同的标准差,如σ1< σ2,对应的正态曲线的位置相同, 但形状(高低与胖瘦)不同。
N(μ1,σ2)
N(μ2,σ2)
0
不合格品率 (PPM) 317300
45500 2700 63 0.57 0.002
11
二、计数数据
——凡是不能连续取值的,或者说即使使用测量工具也得不到小数 点以下数值,而只能得到0或1,2,3•••等自然数的这类数据。
——计数数据还可细分为记件数据和记点数据。记件数据是指按件 计数的数据,如不合格品数、彩色电视机台数、质量检测项目数等;记点 数据是指按缺项点(项)计数的数据,如疵点数、砂眼数、气泡数、单位 (产品)缺陷数等。
很多质量特性X随机取值的统计规律性。 • 如:一个班级中学生的身高、体重、成绩;加工一批轴的外
径尺寸等。 • 正态分布的图形是对称的钟形曲线,称为正态曲线。 • 正态分布含有两个参数μ和σ,其中μ为正态分布的均值,它
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统计过程控制(复习题)1.下述中适合使用常规控制图的是( ).A.提高车间生产能力B.检测不合格品或不合格批C.消除过程中存在的异常因素D.监控并预警工序中存在的变异2.控制图的描点员按规定时间在短期内抽取4件产品组成一个子组进行检测,并将测得的每个产品的特性值在X图上描了4个点,发现其中有1个点出界. 则( ).A.查找出界原因,并尽快消除异常B.剔除出界的点,继续描点C.不能作出判断,作图不正确D.生产过程出现异常,必须停产3.用20个样本绘制X—R控制图,每个样本(子组)样本量5, 已计算得X=33.6, R=6.2, A2=0.577, D4=2.115, D3=0. 今在加工过程中采集了一个样本,观测值为38, 43, 37, 36, 25. 则该样本的( )在控制限内.A.均值和极差都B.极差C.极差不D.均值不4.合理子组原则要求在尽可能短的时间内收集一个子组的样品,主要因为( ).A.尽快计算不合格品率B.尽量缩小组内差异C.希望节省取样时间D.尽快绘制出控制图5.常规控制图的理论基础是( ).A.小概率原理B.试验设计C.指数分布的性质D.对数正态分布的性质E.正态分布的性质6.常规控制图适用于( )的控制.A.批量为25的一批产品的生产B.成批连续生产零件C.车间大批量生产零件D.连续生产流程性材料7.一生产企业要利用控制图对生产过程进行监控,下述中正确的做法是( ).A.选择欲控指标B.收集数据计算过程能力指数,判断过程是否稳定C.根据欲控质量特性的数据,选取控制图D.确定子组数目和抽取子组的时间间隔及其抽取方式E.按生产顺序从加工的产品中随机抽取子组绘制控制图8.用均值作控制图监控生产过程变化的主要原因是( ).A.多数质量特性值为计量值数据B.可以扩大控制限的范围C.均值可以使部分偶然因素相抵消,从而缩小上、下控制限的距离D.可以判断产品质量特性的平均值是否合格E.提高对异常波动监控的灵敏度9.过程能力指数C pk的公式是( ).A.(UCL-μ)/3σB.(T U-μ)/3σC.(T L-μ)/3σD.(μ-T L)/3σE.(1-k)T/3R10.在何种情形下,控制图需要重新制定?().A.人员和设备均变动B.改变工艺参数或采用新工艺C.环境改变D.更换供应商或更换原材料、零部件E.点子出界11.选择常规控制图依据的主要因素是( ).A.工艺方法B.设备C.控制关键指标的个数D.使用方便E.控制对象的数据性质12.从工程上提高C p的途径有( ).A.减小σB.增大UCLC.由技术决定是否适当加大公差D.减小LCLE.减小偏离度k13.当所考察的质量特性为某企业月工伤事故数时.应选用( )控制图.A.p图B.u图C.X—R图D.X—s图14.合理子组原则包含的内容有( ).A.组内差异由异因(可查明因素)造成B.组间差异主要由偶因(偶然因素)造成C.组内差异既由偶因也由异因造成D.组间差异主要由异因造成15.控制图中控制限的作用有( ).A.区分合格与不合格B.区分偶然波动与异常波动C.点子落在控制限内,判断过程处于统计控制状态D.点子落在控制限外,判断过程未处于统计控制状态16.过程处于统计控制状态, 则( ).A.表示过程稳定,可预测B.点子无趋势和其他模式C.点子在控制限内随机分布D.过程中存在可查明原因17.某生物制药厂半成品指标的检验时间很长,对它的控制宜采用( ).A.均值—极差控制图B.不合格品率控制图C.单值—移动极差控制图D.不合格品数控制图18.在过程不变的情况下,若控制图中上、下控制限的间隔距离增加, 则( ).A.α减小,β增大B.α增大,β减小C.α增大,β增大D.α减小,β减小19.过程保持在统计控制状态下的好处是( ).A.能及时发现异常因素的影响B.可以使过程能力保持相对稳定C.能将产品的质量特性值保持在公差范围内D.可以使过程的变异保持相对稳定20.若人员和设备已固定,在( )的情况下,控制图需要重新制定.A.现有控制图已经使用很长时间B.工艺参数改变C.环境改变D.上级下达更高指标E.更换了供应商21.在分析控制图阶段,利用X—R图对过程进行分析,该过程输出的质量特性值X服从N(210.5, 1.12). 质量改进小组为进一步改进质量,从明确分析用控制图的主要作用开始,一步一步深入地改进质量,具体如下:(1)分析用控制图阶段主要分析( ).A.是否需要继续抽取样本(子组)B.过程是否处于统计控制状态C.过程的过程能力指数是否处于技术控制状态D.是否要扩大规范限(2)若过程的规范上、下限为210±3mm, 则C p=( ).A.0.91B.0.99C.1.33D.0.67(3)若将该过程的标准差1.1减小为0.7, 则新的C p=( ).A.1.67B.1.49C.1.43D.1.30(4)(新的)偏移度k=( ).A.3/8B.2/9C.1/6D.0(5)新的C pk=( ).A.1.40B.1.33C.1.25D.1.19(6)若经过调整,过程中心μ已从210.5mm与规范中心M=210mm重合, 则这时C pk=( ).A.1.43B.1.53C.1.67D.1.80(7)下述中正确的说法是( ).A.此时过程处于技术控制状态B.此时过程尚未处于统计控制状态C.此时过程可运用控制图进行控制D.此时过程能力仍不足22.某种钢管内径X的规格为210±5mm,生产过程稳定,X服从正态分布N(210, 2.492).(1)过程能力指数C p=( ).A.0.38B.0.61C.0.67D.1.03(2)过程的不合格品率p=( ).A.0.3237B.0.0455C.0.027D.0.00058(3)若过程中心发生偏移,过程中心移至212,但标准差仍为2.49, 则此时过程能力指数C pk=( ).A.0.40B.0.76C.1.08D.0.98(4)经技术革新,使分布中心与公差中心重合,且标准差降为1.25, 则此时过程能力指数C pk=( ).A.1.33B.1.77C.1.22D.1.48(5)经过质量改进和技术革新后, 过程的不合格品率为( ).A.0.063B.0.0063C.0.00063D.0.00006323.某生产车间对轴的外径进行控制,规范限为T U=54mm, T L=46mm, 25个子组,子组样本量为5,计算得X=50.5mm, s=2.5mm, A=0.577, A3=1.427, B4=2.809, D4=2.115, B3=0, D3=0, C4=0.94, d2=0.4299. 则:2(1)X图的上、下控制限分别为( ).A.54.07, 46.93B.50.92, 48.80C.51.94, 49.06D.53.01, 50.55(2)过程能力为( ). A.15.96 B.15 C.31.92 D.12(3) s图上、下控制限分别为( ). A.5.22, 0 B.3.58, 0 C.1.44, 0 D.5.56, 0(4)过程能力指数C pk=( ). A.0.64 B.0.30 C.0.40 D.0.44(5)若收集了3组数据,其平均值分别为51.24, 47.32, 46.93, 则( ).A.可以认为点子在界内随机排列B.点子出界, 判异C.点子在界内非随机排列D.点子均在界内,但无法判断其随机性24.假定电阻合格下限为95Ω, 合格上限为105Ω.(1)一批电阻阻值取自均值100Ω,标准差2Ω的正态总体.Φ(x)为N(0, 1)的分布函数.则合格品率为( ).A.2Φ(2.5)-1B.2Φ(2.5)C.Φ(2.5)D.Φ(2.5)+Φ(-2.5)(2)过程能力指数C p=( ). A.3/5 B.6/5 C.5/6 D.5/3(3)假定电阻合格上、下限不变,另一批电阻阻值取自均值101Ω,标准差1Ω的正态总体. 则C pk=( ).A.4/3B.2/3C.1D.2.33(4)在此状态下说明技术管理能力( ). A.较勉强 B.很差 C.过高 D.很好25.某企业有4个车间,第一车间是手工生产,工艺复杂,属于单件生产车间; 第二车间生产品种相对稳定,但产品质量波动较大,主要因为设备精度达不到要求,企业又无法对设备精度进行改进; 第三车间产量大,生产相对稳定; 第四车间品种单一,产量大,生产质量较为均匀,但检测所需时间长.有关此案例的分析如下:(1)适宜使用常规控制图的车间是( ).A.第一车间B.第二车间C.第三车间D.第四车间(2)若使用均值—极差控制图,更适宜在( )使用.A.第一车间B.第二车间C.第三车间D.第四车间(3)在此车间利用均值—极差控制图对过程进行监控,在确定控制的质量指标时更适宜选择( ).A.对成本影响较大的性能指标B.技术要求高的质量性能指标C.不重要的质量性能指标D.工艺结构不断发生变化的质量性能指标(4)在抽样过程中,应尽可能做到( ).A.取得的子组数目应在25组以上B.抽取产品越少越好C.过程稳定时可以多抽取样本D.尽可能在较短的时间段内获得子组观测值(5)若绘制的控制图,发现有点子出界, 应( ).A.立即停止生产B.立即查找点子出界的原因C.立即重新绘制控制图D.延长控制界线,将分析用控制图转化为控制用控制图26.在解释C p和C pk的关系时,正确的表述是( ).A.规格中心与分布中心重合时,C p=C pkB.C pk总是大于或等于C pC.C p和C pk之间没有关系D.C pk总是小于C p27.在X图上,如果连续5个点中,有4个点落在中心线同一侧的C区以外,则可能的原因是( ).A.μ变大B.μ变小C.σ变大D.σ变小E.μ和σ不变28.X—R s控制图与X—s控制图相比,下述论断正确的是( ).A.R s图计算简单B.R s图计算复杂C.用R s估计σ的效率较高D.用R s估计σ的效率较低E.X图比X图反应过程波动更灵敏29.p控制图的n=25,UCL=0.28,Cl=0.10,LCL=—. 若n改为100, 则( ).A.UCL=0.19B.UCL=0.145C.UCL=—D.LCL=0.01E.CL=0.00130.轴的直径为2.0±0.01mm, 用X—R图对其直径进行监控,子组大小为5,下列情况中显示过程异常的是( ). A.有一根轴直径大于2.01 B.有一根轴直径小于1.99C.有一子组的均值大于上控制限D.有一子组均值小于公差下限E.控制图上有7个点子连续递增31.下列数据中可以绘制控制图的是( ). A.连续加工过程的巡检数据B.连续加工过程的批验收记录C.从多个供应商处采购的批验收记录D.从某个检验批中抽取100件产品的检验记录E.某个供应商的各类需部件的特性数据32.均值—标准差控制图和其他计量控制图相比,( ).A.均值—标准差图更适用于抽样困难、检验成本大的场合B.标准差图更准确地反映过程波动的变化C.当子组大小大于10时不适于使用标准差控制图D.均值图分析过程中心的波动较单值图更灵敏E.均值—极差图的子组大小应大于均值—标准差图的子组大小33.下列异常现象中可能是由于数据分层不够造成的是( ).A.一点落在A区以外B.连续6点递增或递减C.连续14点相邻点上下交替D.连续8点在中心线两侧,但无一在C区E.连续15点落在C区内34.设一个电子产品由17个同等复杂且同等重要的部件串联组成,如果该电子产品的C p要求达到0.67, 则;(1)要求产品不合格品率p不能大于( ). A.4.6% B.2.3% C.0.27% D.1.35%(2)当对此要求选用抽样方案时,选用的AQL(%)为( ). A.4.0 B.6.5 C.0.4 D.0.65(3)部件的不合格品率p要求不高于( ). A.4.6% B.2.3% C.0.27% D.1.35%(4)当对部件的质量要求选用抽样方案时,选用的AQL(%)为( ).A.0.040B.0.065C.0.25D.0.004035.企业欲用控制图对某零件的生产过程进行监控,需要进行的工作主要有:(1)确定控制图的使用场合和控制对象,须分析( ).A.产品的质量特性和重要程度B.各工序的加工特点和对关键特性的影响程度C.工序的质量状况和加工的规律性D.绘制控制图的人员(2)选择控制图,应考虑( ).A.质量特性数据的性质B.控制图保管的方便性C.控制图的检出力D.检验的成本和取样的难易程度(3)如果选择使用均值—极差控制图,那么,子组大小最好为( ).A.4~5B.10以上C.1D.越多越好(4)在抽取子组时应做到( ).A.过程稳定性好,子组间间隔可以扩大B.过程稳定性差,子组内产品的抽取间隔加大C.子组内产品抽取应尽可能在短时间内完成D.子组内产品抽取间隔与子组间间隔尽可能相同(5)在均值图上应使用( )打点.A.每个产品的测量值B.子组均值C.子组标准差D.子组极差36.加工一种轴承, 其规格为10±0.08mm. 要求C pk≥1. 收集25组数据绘制分析用控制图, 未显示异常.计算得到: μ≈10.04mm, σ≈0.02mm.(1)下列论述正确的是( ).A.过程处于统计控制状态和技术控制状态B.过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态(2)比较经济的改进措施为( ). A.同时调整μ,σ B.调整μ C.调整σ D.μ和σ都无需调整(3)如果只调整μ, 则μ调整为( ),即可满足要求.A.10.00B.10.01C.10.02D.10.03(4)如果只调整σ, 则σ调整为( ),即可满足要求.A.0.010B.0.0133C.0.0150D.0.016737.过程处于统计控制状态,意味着( ).A.生产出来的产品都合格B.该过程的过程能力指数C p大于1C .生产出来的产品大部份都落在控制图的控制限内D.过程中只存在偶然因素E.控制图上没有点出界和异常排列38.若控制图中有一点出界,下列判断中正确的是( ).A.过程可能存在异常因素B.过程存在偶然因素C.过程可能不稳定D.过程没有异常E.过程处于统计控制状态39.要求子组大小相同的计数控制图是( ).A.p图B.np图C.单值—移动极差图D.u图E.c图40.利用过程能力指数可以( ).A.实时监控过程随时间的波动状况B.计算过程的不合格品率C.分析不稳定过程的加工质量D.衡量稳定过程满足技术要求的能力E.分析过程的异常因素41.单值—移动极差控制图更适用于( ).A.产品均匀的场合B.大批量且需对过程变化作出灵敏判断的场合C.需要取得信息多,判断准确的场合D.检验成本较大,检验时间较长的过程E.控制对象为计数值的情况42.检验员用一次抽样方案(80, 0)对连续产品批进行验收,并记录了样本中不合格项和不合格品数,利用这些数据可以绘制( ).A.np图和p图B.单值—移动极差图C.均值—极差图D.c图和u图E.排列图43.下列现象中判定过程异常的是( ).A.一点落在A区以外B.连续6点递增或递减C.连续15点相邻点上下交替D.连续8点在中心线两侧E.连续14点落在C区内44.利用均值—极差图控制过程,得到X=65,R=2.0,查表得A2=0.577,D4=2.115,D3=0. 从现场采集一组数据, X=67.1,R=5. 可以得到的结论是( ). A .X在控制限内 B.X在控制限外C. R在控制限内D. R在控制限外E.无法判断45.计量控制图与p图相比,下述叙述正确的有( ).A.计量控制图子组大小要求较大B.计量控制图子组大小要求较小C.p图更为灵敏D.计量控制图对测量器具的精度要求较高E.计量控制图对测量器具的精度要求较低46.在统计过程控制中,偶然因素的特点是( ).A.过程固有的B.非过程固有的C.始终存在的D.对质量影响大E.可以通过质量改进完全除去47.加工一种轴承,其规格为10±0.08mm,要求过程能力指数C pk≥1. 收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常. 计算得到: μ≈10.04mm, σ≈0.02mm.(1).C p为( ). A.2/3 B.4/3 C.1 D.1.5(2)C pk为( ). A.2/3 B.4/3 C.1 D.1.5(3)根据上述计算结果,判断过程( ).A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态48.依技术标准,某工艺环节的水份含量为20~22(%). 该厂采用均值—标准差(X—s)控制图对水份含量进行控制.在统计控制状态下,计算得X=21.12, s=0.25,子组大小为5,查表得B4=2.089,A3=1.427.(1)关于对技术标准的以下解释,正确的有( ).A.公差上限为22B.公差为21C.公差下限为0D.公差下限为20(2) s图的上控制限为( ). A.5.28 B.0.357 C.0.522 D.0.250(3)X图的下控制限为( ). A.21.642 B.21.477 C.20.763 D.20.598 (完)。