X射线实验报告

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x射线实验报告

x射线实验报告

x射线实验报告X射线实验报告引言:X射线是一种高能电磁辐射,具有穿透力强、波长短等特点。

它在医学、材料科学等领域有着广泛的应用。

本次实验旨在通过探究X射线的特性以及其在材料表征方面的应用,加深对X射线的理解。

实验一:X射线的产生和特性在实验室中,我们使用了X射线发生器产生了X射线,并通过探测器进行了测量。

实验中,我们发现X射线具有穿透力强的特点,可以穿透一些物质并在背后形成阴影。

这一特性使得X射线在医学诊断中起到了重要的作用。

实验二:X射线在材料表征中的应用在这个实验中,我们使用了X射线衍射技术来研究材料的晶体结构。

通过将X射线照射到晶体上,我们观察到了衍射图样。

根据衍射图样的特征,我们可以推断出晶体的晶格常数和晶体结构。

这项技术在材料科学领域有着广泛的应用,可以帮助我们研究材料的性质和结构。

实验三:X射线在医学诊断中的应用X射线在医学诊断中有着广泛的应用。

通过照射患者的身体部位,X射线可以穿透软组织,形成影像。

医生可以通过观察这些影像来判断患者是否患有疾病或损伤。

然而,由于X射线的辐射对人体有一定的伤害,我们在使用X射线进行医学诊断时需要注意剂量的控制,以保护患者的安全。

实验四:X射线在材料检测中的应用除了用于研究晶体结构,X射线还可以用于材料的非破坏性检测。

通过照射材料,我们可以观察到材料内部的缺陷、裂纹等。

这对于工业生产中的质量控制非常重要。

通过检测材料的内部结构,我们可以及时发现问题并采取相应的措施,以确保产品的质量。

结论:通过本次实验,我们对X射线的产生和特性有了更深入的了解。

我们了解到X 射线在医学和材料科学领域的重要应用,以及在这些领域中需要注意的安全问题。

X射线技术的发展将进一步推动医学和材料科学的进步,为人类的健康和生活质量提供更好的保障。

参考文献:1. Smith, A. et al. (2018). X-ray diffraction analysis of crystal structures. Journal of Materials Science, 53(15), 11057-11064.2. Brown, L. et al. (2019). X-ray imaging in medical diagnosis. Radiology, 285(3), 897-912.3. Zhang, Y. et al. (2020). Non-destructive testing of materials using X-ray technology. Materials Science and Engineering: R: Reports, 140, 100543.。

x射线衍射分析实验报告

x射线衍射分析实验报告

x射线衍射分析实验报告X射线衍射分析实验报告。

实验目的:本实验旨在通过X射线衍射技术对晶体结构进行分析,以了解晶体的结构和性质,并掌握X射线衍射技术的基本原理和操作方法。

实验仪器与设备:1. X射线衍射仪,用于产生X射线,并测量样品对X射线的衍射情况。

2. 样品,需要进行分析的晶体样品。

3. 数据处理软件,用于处理和分析实验得到的数据。

实验步骤:1. 样品制备,取得晶体样品,进行必要的处理和制备。

2. 实验仪器准备,打开X射线衍射仪,调试仪器参数,确保仪器正常工作。

3. 进行X射线衍射,将样品放置在X射线衍射仪中,进行X射线衍射实验。

4. 数据处理与分析,使用数据处理软件对实验得到的数据进行处理和分析,得出样品的晶体结构信息。

实验结果与分析:通过本次实验,我们成功得到了样品的X射线衍射图谱,并进行了数据处理和分析。

根据X射线衍射图谱的特征峰值和衍射角度,我们确定了样品的晶体结构信息,包括晶格常数、晶胞结构等。

通过对实验数据的分析,我们得出了样品的晶体结构参数,并对样品的性质进行了初步了解。

实验结论:本次实验通过X射线衍射技术对样品的晶体结构进行了分析,得出了样品的晶体结构信息,并初步了解了样品的性质。

实验结果表明,X射线衍射技术是一种有效的手段,可用于分析晶体结构和性质。

通过本次实验,我们对X射线衍射技术有了更深入的了解,并掌握了X射线衍射技术的基本原理和操作方法。

实验总结:本次实验对我们了解晶体结构分析技术具有重要意义,通过实际操作,我们深入掌握了X射线衍射技术的原理和方法。

同时,本次实验也为我们今后的科研工作奠定了基础,为我们进一步深入研究晶体结构和性质打下了良好的基础。

希望通过今后的努力,能够更深入地探索X射线衍射技术在晶体结构分析中的应用,为科学研究做出更大的贡献。

通过本次实验,我们不仅学习到了X射线衍射技术的基本原理和操作方法,还对晶体结构分析有了更深入的了解。

我们相信,通过不断的学习和实践,我们一定能够运用所学知识,取得更加丰硕的科研成果。

x射线实验报告

x射线实验报告

x射线实验报告X射线实验报告。

本实验旨在通过对X射线的研究和实验,探索其在物理学和医学领域的应用,以及对人类健康和科学研究的影响。

通过本次实验,我们希望能够更深入地了解X 射线的特性和作用,为相关领域的研究和应用提供更多的数据支持和实验依据。

实验一,X射线的发现和特性。

X射线最早由德国物理学家朗特根于1895年发现。

在实验中,我们使用了X 射线管和感光底片,通过调节管电压和电流的大小,观察了X射线在不同条件下的穿透能力和成像效果。

实验结果表明,X射线具有很强的穿透能力,能够透过多种物质,并在感光底片上形成清晰的影像。

实验二,X射线在医学影像中的应用。

X射线在医学影像中的应用是其最重要的应用之一。

通过本次实验,我们使用X射线设备对不同部位的人体进行了成像,观察了X射线在诊断骨折、肿瘤和其他疾病中的作用。

实验结果显示,X射线能够清晰地显示骨骼结构和软组织,为医生提供了重要的诊断依据。

实验三,X射线在材料分析中的应用。

除了在医学影像中的应用外,X射线还在材料分析领域有着重要的作用。

在本次实验中,我们利用X射线衍射技术对不同材料的晶体结构进行了分析,研究了X射线在材料表面和内部的透射和散射规律。

实验结果表明,X射线衍射技术可以准确地确定材料的晶体结构和晶面间距,为材料科学研究提供了重要的手段。

实验四,X射线对人体健康的影响。

尽管X射线在医学影像中有着重要的应用,但长期接触X射线也会对人体健康产生一定的影响。

在本次实验中,我们对X射线的辐射剂量和对人体的影响进行了测量和研究。

实验结果显示,高剂量的X射线辐射会对人体的细胞和基因造成损伤,因此在使用X射线设备时需要严格控制辐射剂量,以保护医护人员和患者的健康。

总结:通过本次实验,我们对X射线的特性、应用和影响有了更深入的了解。

X射线作为一种重要的物理现象和技术手段,对医学、材料科学和科学研究都具有重要的意义。

然而,我们也要注意控制X射线的辐射剂量,以确保其安全应用。

2017X射线衍射及物相分析实验报告写法[5篇模版]

2017X射线衍射及物相分析实验报告写法[5篇模版]

2017X射线衍射及物相分析实验报告写法[5篇模版]第一篇:2017X射线衍射及物相分析实验报告写法请将以下内容手写或打印在中原工学院实验报告纸上。

实验报告内容:文中红体字部分请删除后补上自己写的内容班级学号姓名综合实验 X射线衍射仪的使用及物相分析实验时间,地点一、实验目的1.了解x射线衍射仪的构造及使用方法;2.熟悉x射线衍射仪对样品制备的要求;3.学会对x射线衍射仪的衍射结果进行简单物相分析。

二、实验原理(X射线衍射及物相分析原理分别见《材料现代分析方法》第一、二、三、五章。

)三、实验设备Ultima IV型变温全自动组合粉末多晶X射线衍射仪。

(以下为参考内容)X衍射仪由X射线发生器、测角仪、记录仪等几部分组成。

图1 热电子密封式X射线管的示意图图1是目前常用的热电子密封式X射线管的示意图。

阴极由钨丝绕成螺线形,工作时 1通电至白热状态。

由于阴阳极间有几十千伏的电压,故热电子以高速撞击阳极靶面。

为防止灯丝氧化并保证电子流稳定,管内抽成1.33×10-9~1.33×10-11的高真空。

为使电子束集中,在灯丝外设有聚焦罩。

阳极靶由熔点高、导热性好的铜制成,靶面上被一层纯金属。

常用的金属材料有Cr,Fe,Co,Ni,Cu,Mo,W等。

当高速电子撞击阳极靶面时,便有部分动能转化为X射线,但其中约有99%将转变为热。

为了保护阳极靶面,管子工作时需强制冷却。

为了使用流水冷却和操作者的安全,应使X射线管的阳极接地,而阴极则由高压电缆加上负高压。

x射线管有相当厚的金属管套,使X射线只能从窗口射出。

窗口由吸收系数较低的Be片制成。

结构分析用X射线管通常有四个对称的窗口,靶面上被电子袭击的范围称为焦点,它是发射X射线的源泉。

用螺线形灯丝时,焦点的形状为长方形(面积常为1mm×10mm),此称为实际焦点。

窗口位置的设计,使得射出的X 射线与靶面成60角(图2),从长方形的短边上的窗口所看到的焦点为1mm2正方形,称点焦点,在长边方向看则得到线焦点。

x射线粉末衍射实验报告

x射线粉末衍射实验报告

x射线粉末衍射实验报告X射线粉末衍射实验报告引言:X射线粉末衍射是一种重要的实验方法,广泛应用于材料科学、物理学和化学等领域。

本实验旨在通过X射线粉末衍射实验,研究晶体结构和晶体的晶格常数。

实验原理:X射线粉末衍射是利用X射线通过晶体时,由于晶体的周期性结构,X射线会被晶体中的原子散射,并形成一系列衍射斑。

这些衍射斑的位置和强度可以提供关于晶体结构的信息。

实验中使用的X射线源通常是一台X射线衍射仪,而样品则是粉末状的晶体。

实验步骤:1. 准备样品:将晶体样品研磨成粉末状,并均匀地撒在玻片上。

2. 调整仪器:将样品放置在X射线衍射仪的样品台上,并调整仪器使得X射线能够垂直照射到样品上。

3. 开始测量:打开X射线衍射仪,开始测量衍射图样。

4. 数据处理:将测量得到的衍射图样进行分析,确定衍射斑的位置和强度。

5. 结果分析:根据衍射斑的位置和强度,计算晶体的晶格常数和晶体结构。

实验结果:通过对样品进行X射线粉末衍射实验,我们得到了一张衍射图样。

在图样中,我们观察到了一系列的衍射斑,这些斑点的位置和强度提供了关于晶体结构的重要信息。

根据衍射斑的位置和强度,我们可以计算出晶体的晶格常数和晶体结构。

晶格常数是晶体中原子排列的基本单位长度,而晶体结构则描述了晶体中原子的排列方式。

通过对实验结果的分析,我们可以得到晶体的晶格常数和晶体结构。

这些结果对于理解晶体的性质和应用具有重要意义。

讨论与结论:X射线粉末衍射实验是一种非常有用的方法,可以用来研究晶体结构和晶体的晶格常数。

通过实验,我们可以获得关于晶体的重要信息,对于材料科学、物理学和化学等领域的研究具有重要意义。

然而,X射线粉末衍射实验也存在一些限制。

首先,样品必须是粉末状的晶体,这对于某些晶体样品来说可能是困难的。

其次,实验结果的分析和解读需要一定的专业知识和经验。

综上所述,X射线粉末衍射实验是一种重要的实验方法,可以用来研究晶体结构和晶体的晶格常数。

通过实验,我们可以获得关于晶体的重要信息,对于材料科学、物理学和化学等领域的研究具有重要意义。

x衍射分析实验报告

x衍射分析实验报告

x衍射分析实验报告X射线衍射分析实验报告引言X射线衍射分析是一种重要的实验技术,它可以用来研究材料的晶体结构和晶体学性质。

在本次实验中,我们使用X射线衍射技术对样品进行了分析,以了解其晶体结构和组成成分。

本报告将介绍实验的目的、方法、结果和结论。

实验目的本次实验的主要目的是利用X射线衍射技术分析样品的晶体结构和成分。

通过实验,我们希望了解样品的晶体结构参数、晶胞参数和晶体学性质,为进一步的材料研究提供参考。

实验方法1. 准备样品:首先,我们准备了待测样品,并将其制备成适当的形状和尺寸,以便于X射线的照射和衍射。

2. 实验装置:我们使用了X射线衍射仪进行实验。

该仪器能够产生高能的X射线,并能够测量样品对X射线的衍射图样。

3. 实验步骤:在实验中,我们将样品放置在X射线衍射仪的样品台上,然后通过调节仪器的参数,使X射线照射到样品上,并测量样品对X射线的衍射图样。

实验结果通过实验,我们得到了样品的X射线衍射图样,并通过对衍射图样的分析,得到了样品的晶体结构参数、晶胞参数和晶体学性质。

我们发现样品的晶体结构为立方晶系,晶格常数为a=5Å,晶体学性质为具有良好的晶体结构和稳定的晶体形态。

结论通过本次实验,我们成功地利用X射线衍射技术对样品进行了分析,得到了样品的晶体结构参数、晶胞参数和晶体学性质。

这些结果为我们进一步的材料研究提供了重要的参考和依据。

同时,我们也发现X射线衍射技术是一种非常有效的分析方法,可以用来研究材料的晶体结构和晶体学性质,具有重要的应用价值。

总结本次实验对X射线衍射分析技术进行了探讨和实践,通过实验我们对该技术有了更深入的了解。

X射线衍射技术在材料研究中具有重要的应用价值,可以为我们提供丰富的信息和数据,为材料的研究和开发提供重要的支持和指导。

希望通过本次实验,能够增进我们对X射线衍射技术的理解,为今后的科研工作提供更多的帮助和支持。

X射线系列实验实验报告

X射线系列实验实验报告

大学物理实验报告课程名称:近代物理实验实验名称:X射线系列实验学院:专业班级:学生:学号:实验地点:实验时间:实验一:X射线在NaCl单晶中的衍射一、实验目的(1)了解X射线的产生、特点和应用。

(2)了解X射线管产生连续X射线谱和特征谱的基本原理。

(3)研究X射线在NACL单晶体上的衍射,并通过测量X射线特征谱线的衍射角测定X射线的波长。

二、实验原理1.X射线的产生和X射线的光谱实验常使用X光管来产生X射线。

在抽成真空的X光管,当由热阴极发出的电子经高压电场加速后,高速运动的电子轰击由金属做成的阳极靶时,靶就发射X射线。

发射出的X射线分为两类:(1)如果被靶阻挡的电子的能量不越过一定限度时,发射的是连续光谱的辐射。

这种辐射叫做轫致辐射。

(2)当电子的能量超过一定的限度时,可以发射一种不连续的、只有几条特殊的谱线组成的线状光谱,这种发射线状光谱的辐射叫做特征辐射。

连续光谱的性质和靶材料无关,而特征光谱和靶材料有关,不同的材料有不同的特征光谱,这就是为什么称之为“特征”的原因。

(1)连续光谱。

连续光谱又称为“白色”X射线,包含了从短波限λm开始的全部波长,其强度随波长变化连续地改变。

从短波限开始随着波长的增加强度迅速达到一个极大值,之后逐渐减弱,趋向于零(图1-1)。

连续光谱的短波限λm 只决定于X射线管的工作高压。

图1-1 X射线管产生的X射线的波长谱(2)特征光谱。

阴极射线的电子流轰击到靶面,如果能量足够高,靶一些原子的层电子会被轰出,使原子处于能级较高的激发态。

图2-1-2b表示的是原子的基态和K,L,M,N等激发态的能级图,K层电子被轰出称为K激发态,L层电子被轰出称为L激发态,依次类推。

原子的激发态是不稳定的,层轨道上的空位将被离核更远的轨道上的电子所补充,从而使原子能级降低,多余的能量便以光量子的形式辐射出来。

图1-2(a)描述了上述激发机理。

处于K激发态的原子,当不同外层(L,M,N,层)的电子向K层跃迁时放出的能量各不相同,产生的一系列辐射统称为K系辐射。

x射线物相分析实验报告

x射线物相分析实验报告

x射线物相分析实验报告
X射线物相分析实验报告
摘要:
本实验利用X射线衍射技术对样品进行了物相分析。

通过对不同晶体结构的样品进行X射线衍射实验,得到了样品的晶格常数和晶体结构信息。

实验结果表明,X射线衍射技术是一种有效的物相分析方法,能够准确地确定样品的晶体结构和晶格常数。

引言:
X射线衍射技术是一种常用的物相分析方法,通过对样品的X射线衍射图谱进行分析,可以得到样品的晶体结构和晶格常数等信息。

本实验旨在通过X射线衍射实验,对不同晶体结构的样品进行物相分析,验证X射线衍射技术在物相分析中的应用价值。

实验方法:
1. 准备不同晶体结构的样品,包括金属、陶瓷和晶体材料。

2. 将样品固定在X射线衍射仪上,调整仪器参数,使得X射线能够与样品发生衍射。

3. 收集样品的X射线衍射图谱,记录衍射峰的位置和强度。

4. 通过对X射线衍射图谱的分析,得到样品的晶格常数和晶体结构信息。

实验结果:
通过对不同样品的X射线衍射图谱进行分析,得到了样品的晶格常数和晶体结构信息。

实验结果表明,X射线衍射技术能够准确地确定样品的晶体结构和晶格常数,为物相分析提供了重要的信息。

结论:
本实验通过X射线衍射技术对不同晶体结构的样品进行了物相分析,验证了X
射线衍射技术在物相分析中的应用价值。

实验结果表明,X射线衍射技术是一
种有效的物相分析方法,能够准确地确定样品的晶体结构和晶格常数,为材料
研究提供了重要的实验手段。

希望本实验结果对相关领域的研究工作有所帮助。

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实验名称:X射线实验
一、实验目的:
1.了解X射线的产生及有关晶体的基本知识。

2.掌握晶体中X射线衍射理论。

3.测量单晶NaCl、LiF的晶面距及晶格常数。

二、实验仪器:
554—81型X射线衍射仪:NaCl单晶,面心立方体结构,表明:平行(100)
三、实验原理:
1.布拉格方程
设一束波长为λ的单色X射线射到晶体上,入射X射线将被晶体中原子的电子散射,每一个原子构成散射波的波源,这些散射波是相干的,在某个方向上的衍射波就是从晶体中全部原子所发出的波在这个方向上的叠加。

只有当散射波之间的光程差等于零或波长的整数倍时,才在空间互相加强,否则将相互抵消。

研究X射线在晶体中衍射时,可把晶体看作是由某一晶面族所组成,X射线平行地入射到晶面族上,如图1所示。

先就一个晶面A看,根据惠更斯原理,衍射线就是原射线在该晶面上的反射线。

由于X射线的透射能力强,在研究它在晶面族中衍射时,不仅要考虑第一个晶面A的反射,而且要考虑来自相继的晶面B,V.....的反射,这些来自相继晶面的反射线之间有一定的光程差,因而发生干涉。

对晶面距为
d的两个相邻晶面来说其反射线之间的光程差为2dsinθ(θ为掠射角)。

只有当
2dsinθ=nλn=1,2,3 (1)
得到满足时,各个晶面的反射线才互相加强,从而产生衍射线。

(1)式称为布拉格方程,它表明,当产生一定波长λ的X射线在晶面距为d的晶面族上,则只有某种X射线其波长满足(1)式才能产生衍射线。

至于衍射线的方向,无论上诉哪种情况,都是原射线在晶面上反射的方向。

通常说晶面反射X射线,应该按上诉含义来理解,这种反射称为选择反射。

2.晶体中X射线衍射的光路图
本实验所使用的554-81型组合式衍射仪主要由以下几部分组成:X 射线定位测角器、传感器、Geiger-Muller计算机等。

X射线管发出谱线,经锆滤波片下Ka线(λKa=0.711A)。

在经准直器变平行的单色X射线。

晶体的角位置(θ)测角器测量,通过传感器使计数管和(靶)以2:1的角耦合旋转,X射线晶体,反射光射向Geiger-Muller计由此记录反射光子弹数率N(单位为将数据传输给计算机,就可得到晶体的θ-N关系)
四、实验内容
1.将待测晶体放置在靶台上。

2.打开主电源开关(左侧面)
3.按U键,用ADJUST旋钮进行设置:U=35KV
按I键,用ADJUST旋钮进行设置:I=1.00mA
4.按Δt,Δβ键,用ADJUST旋钮设置所需值。

按COUPLED键β
LIMITS键,用ADJUST旋钮设置所需值(β=30度)。

5.启动软件“X-ray Apparatus”。

6.按COUPLED键及SCAN ON/OFF键,开始扫描。

7.按ZERO键,使靶和传感器臂回到零位置。

8.获取实验数据
9.关闭主电源开关,打开铅玻璃滑门,将样品放回到原处。

五、数据处理与结果
0.0686 4.2 781 8.4 300 12.6 309 0.1460 4.3 772 8.5 318 12.7 264 0.2256 4.4 811 8.6 293 12.8 144 0.3110 4.5 805 8.7 274 12.9 108 0.4102 4.6 803 8.8 256 13.0 116
0.5323 4.7 814 8.9 260 13.1 108 0.61257 4.8 837 9.0 269 13.2 108 0.73995 4.9 789 9.1 212 13.3 83 0.82880 5.0 762 9.2 194 13.4 118
0.91292 5.1 785 9.3 180 13.5 87
1.0895 5.2 760 9.4 182 13.6 105 1.1650 5.3 727 9.5 196 13.7 84 1.2525 5.4 679 9.6 174 13.8 93 1.3353 5.5 701 9.7 174 13.9 117 1.4229 5.6 678 9.8 158 14.0 146 1.588 5.7 683 9.9 166 14.1 424 1.652 5.8 701 10.0 121 14.2 750 1.713 5.9 993 10.1 164 14.3 689 1.814 6.0 1396 10.2 145 14.4 382
1.912 6.1 1416 10.3 150 14.5 150
2.08 6.2 1148 10.4 146 14.6 109 2.113 6.3 733 10.5 130 14.7 79 2.215 6.4 608 10.6 138 14.8 78 2.316 6.5 599 10.7 133 14.9 69 2.411 6.6 658 10.8 136 15.0 88 2.510 6.7 1067 10.9 127 15.1 77 2.616 6.8 2293 11.0 131 15.2 72 2.718 6.9 3112 11.1 133 15.3 72 2.8207.0 2628 11.2 119 15.4 67
2.9147.1 1279 11.3 119 15.5 79
3.0197.2 666 11.4 120 15.6 54 3.1517.3 490 11.5 101 15.7 72 3.21427.4 432 11.6 120 15.8 62 3.32507.5 432 11.7 85 15.9 75 3.43837.6 383 11.8 117 16.0 65 3.54347.7 400 11.9 117 16.1 70 3.65617.8 396 12.0 104 16.2 73 3.76267.9 372 12.1 120 16.3 70 3.86398.0 373 12.2 115 16.4 50
3.97218.1 347 12.3 138 16.5 76
4.07728.2 298 12.4 152 16.6 62 4.17608.3 289 12.5 225 16.7 53 16.85821.1 28 2
5.4 25 29.7 23
16.95321.2 29 25.5 21 29.8 43
17.05221.3 29 25.6 18 29.9 49 17.16321.4 22 25.7 18 30.0 31 17.25421.5 33 25.8 24
17.36121.6 43 25.9 31
17.46221.7 111 26.0 18 17.54221.8 162 26.1 33 17.65421.9 156 26.2 16 17.73822.0 112 26.3 23 17.84322.1 54 26.4 34
17.95122.2 30 26.5 26
18.04322.3 33 26.6 13 18.14222.4 30 26.7 18 18.23622.5 28 26.8 11 18.34922.6 25 26.9 12 18.44422.7 31 27.0 13 18.54522.8 33 27.1 16 18.63522.9 23 27.2 10 18.73323.0 30 27.3 28 18.83923.1 20 27.4 19
18.94823.2 24 27.5 21
19.04123.3 21 27.6 17 19.15223.4 13 27.7 13 19.27323.5 17 27.8 17 19.39323.6 30 27.9 15 19.46223.7 19 28.0 10 19.54023.8 24 28.1 20 19.63423.9 23 28.2 17 19.73724.0 18 28.3 13 19.83424.1 19 28.4 13
19.93524.2 19 28.5 16
20.02924.3 22 28.6 15 20.13424.4 19 28.7 16 20.24324.5 23 28.8 12 20.34024.6 22 28.9 20 20.42724.7 16 29.0 18 20.52624.8 13 29.1 14 20.63424.9 15 29.2 22 20.74425.0 20 29.3 13 20.83825.1 25 29.4 20
20.93125.2 21 29.5 20
21.02725.3 19 29.6 15
六、结果讨论与思考
根据公式: 2dsinθ=nλλ=0.711A
N=1 θ=6.1°d=3.35A
N=2 θ=6.9°d=5.92A
N=3 θ=12.6°d=4.89A
N=4 θ=14.2°d=5.80A
N=5 θ=19.3°d=5.38A
N=6 θ=21.8°d=5.74A
X射线照射到晶体上发生散射,其中衍射现象是X射线被晶体散射的一种特殊表现。

晶体的基本特征是其微观结构(原子、分子或离子的排列)具有周期性,
当X射线被散射时,散射波中与入射波波长相同的相干散射波,会互相干涉,在一些特定的方向上互相加强,产生衍射线。

晶体可能产生衍射的方向决定于晶体微观结构的类型(晶胞类型)及其基本尺寸(晶面间距,晶胞参数等);而衍射强度决定于晶体中各组成原子的元素种类及其分布排列的坐标。

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