第7章-哈工大-第三版-材料分析测试-周玉
第7章-哈工大-第三版-材料分析测试-周玉讲解

15
图7-12 多晶铝的衍射图 a) 铝粉 b) 冷轧铝板
第二节 织构的种类和表示方法
一、极图 织构可用极图、反极图和取向分布函数3种方法表示,极 图常用于描述板织构 多晶体中某晶面001法向,在空间分布的极射赤面投影图称 001极图, 板织构取轧面为宏 观坐标面的投影面,而丝织构取 与丝轴平行或垂直的平面 图7-10是轧制纯铝板以轧面为投 影面的极图,用不同级别的等密 度线表示极点密度的分布
2 1 2 1 2 1 2 2 2 2 2 2
与点
阵常数无关,标准投影图对于不同点阵常数的立方晶体普 遍适用;因立方晶系同名的晶面和晶向垂直,其标准投影 图同时可用于晶面和晶向 非立方晶系的晶面间夹角与点阵常数有关,故无法制作普 遍适用的标准衍射图 12
第一节 极射赤面投影法
三、单晶体的标准投影图 图7-9为立方晶系标准投影图,落在同一大圆弧和直线上的极 点对应的晶面法线在同一平面上, 此平面的法线为这些晶面 的交线。相交于同一直线的晶面属于同一晶带, 其交线称为 晶带轴,用[uvw]表示,晶面指数(hkl)和[uvw]满足晶带定律
图7-7 极点绕倾斜轴转动
10
第一节 极射赤面投影法
二、乌氏网 5) 投影面的转换 在乌氏网上将极点绕确定轴转动到新位置
如图7-8, K、P、Q是以 O 为
投影面的极点, 将K转到投影 面基圆中心, P、Q 随之作相 同的转动,沿其各自的纬线到 达新位置 P1、Q1,这就是 P、
Q点以K为新投影面的位置
h : k : l a sin cos : b sin sin : c cos
冷压磷钢 板的ODF截面图
21
第三节 丝织构指数的测定
材料现代分析测试方法

材料现代分析方法深圳大学材料学院主讲:李均钦材料现代分析方法主要参考书:1. 周玉主编,材料分析方法,哈工大出版社2007年版。
2. 黄新民、解挺编,材料分析测试方法,国防工业出版社2006年版。
3. 王富耻主编材料现代分析测试方法,北京理工大学出版社2006年版。
4. 梁敬魁编,粉末衍射法测定晶体结构,科学出版社2003年版。
绪论能源人类文明的三大支柱{{信息材料结构材料功能材料材料:用以制造有用构件、器件或其它物品的物质结构材料: 耐高温、耐高压、高强度材料等功能材料: 磁性材料、半导体材料、超导体材料化学成分材料的性能主要取决于{结构组织形态为了了解所获材料的化学组成、物相组成、结构、组织形态及各种研究技术对材料性能的影响,需要采用相应的分析表征方法。
材料现代分析方法是一门技术性实验方法性的课程。
绪论材料现代分析测试方法的含义:广义:技术路线、实验技术、数据分析狭义:测试组成和结构的仪器方法如:X射线衍射分析电子显微分析表面分析热分析光谱分析(光谱和色谱-高分子方向单独开)绪论化学成分材料的性能主要取决于{结构组织形态本课程主要介绍研究材料化学组成、物相组成、结构、组织形态的现代分析方法。
本课程的内容主要有:1、X射线粉末衍射分析(XRD:X-ray diffraction)主要用于物相分析和晶体结构的测定。
它所获取的所有信息都基于材料的结构。
绪论本课程的内容主要有:1、X射线粉末衍射分析(XRD:X-ray diffraction)主要用于物相分析和晶体结构的测定。
它所获取的所有信息都基于材料的结构。
绪论本课程的内容主要有:2、透射电子显微镜(TEM)(transition electron microscope)电子束透过薄膜样品,用于观察样品的形态,通过电子衍射测定材料的结构,从而确定材料的物相。
分辨率:0.34nm● 加速电压:75kV-200kV;放大倍数:25万倍● 能谱仪:EDAX -9100;扫描附件:S7010 透射电镜绪论本课程的内容主要有:3)扫描电子显微镜(SEM)电子束在样品表面扫描,用于观察样品的形貌(具有立体感);通过电子束激发样品的特征X射线获取样品的成分信息。
第5章-哈工大-第三版-材料分析测试-周玉

Rad. CuK1 1.540598 Filter Ge Mono. D-sp Guinier Cut off 3.9 Int. Densitometer I / Icor . 3.44 Ref. Wang, P. Shanghai Inst. Of Ceramics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, china, ICDD Grant-in-Aid, (1994)
Ij = C wj
(5-3)
其中C为新比例系数。如果试样为纯 j 相,则wj = 100% =1,
用(Ij)0表示纯 j 相某衍射线强度,因此可得
Ij (I j )0
Cwj C
wj
(5-4)
13
第二节 定量分析
一、单线条法 式(5-4)表明,混合样品中j 相某衍射线与纯 j 相同一衍射
线强度之比,等于 j 相的质量分数 定量分析时: 纯样品和被测样品要在相同的实验条件进行测定 一般选用最强线 用步进扫描得到整个衍射峰,扣除背底后测量积分强度 单线条法比较简单,但准确性稍差,且仅能用于各相吸收系 数相同的混合物。绘制定标曲线可提高测量的可靠性,定标 曲线法也可用于吸收系数不同的两相混合物的定量分析
JCPDF/ICDD 4) 1992 年后的卡片统一由ICDD出版,至 1997年已有卡片47
组,包括有机、无机物相约67,000个 图5-1为1996年出版的第46组PDF(ICDD)卡片,卡片中各栏 的内容见图5-2的说明
4
第一节 定性分析
一、粉末衍射卡片(PDF)
46-394
SmAlO3 Aluminum Samarium Oxide
的X射线衍射分析
2
哈工大博士研究生考试科目参考书目录

哈尔滨工业大学博士生入学考试科目参考书目录EDA技术[2217]半导体器件物理[2218]微波技术曼着;《小波分析与分数傅里叶变换及应用》,国防工业岀版社,冉启文,谭立英着;《分数傅里叶光学导论》,科学出版社,冉启文,谭立英着;[2216]《超大规模集成电路设计方法学导论》,清华大学岀版社,杨之廉;《数字专用集成电路的设计与验证》杨宗凯黄建杜旭编着电子工业出版社;《数字集成电路——电路、系统与设计(第二版)» Jan M. Rabaey, A. Chandrakasan, B. Nikolic ,周润德等译,电子工业岀版社; [2217]《半导体器件物理》,科学岀版社,王家骅;《现代半导体器件物理》,科学出版社, [2218]《微波技术》,哈工大岀版社,2006年版,吴群主编;《微波工程技术》,吴群主编,哈工大岀版社,2008年修订版。
025化工学院[2071]高分子化学与物理[2072]物理化学[2073]高等生物化学[2071]《高聚物的结构与性能》,科学岀版社,马德柱、何平笙;[2072]《物理化学》(上册,下册),高等教育出版社,南京大学物理化学教研室,傅献彩,沈文霞,姚天扬编;[2073]《生物化学》,清华大学岀版社,王希成。
027市政环境工程学院[2271]高等流体力学[2272]污染控制微生物学[2273]水分析化学[2274]水力学[2275]微生物学[2276]生物化学[2277]高等传热[2278]物理化学[2279]化工原理[2271]《流体力学基础》(上、下册),机械岀版社1982,潘文全主编;《流体力学》(第二版)上、下册、2000,高等教育岀版社,周光垧等编着;[2272]《污染控制微生物学》(第三版),哈工大岀版社2004 (2007.2重印),任南琪马放等编着;《环境污染防治中的生物技术》,北京化学工业出版社 2004,任南琪李建政主编;《环境工程微生物学》,北京化学工业出版社2004,李建政主编;[2273]《水分析化学》(第三版),中国建筑工业出版社,黄君礼[2274]《水力学》(上、下册),高等教育岀版社1995董曾南主编;《流体力学》(第二版)上、下册、2000,高等教育岀版社,周光垧等编着;[2275]《微生物学教程》(第2版),高等教育岀版社2002,周德瑞,《环境污染防治中的生物技术》,化学工业岀版社2004,任南琪,李建政主编;《污染控制微生物生态学》,哈尔滨工业大学出版社2005,李建政任南琪主编; [2276]《生物化学》(第三版)上、下册,高等教育出版社,王镜岩等;[2277]《高等传热学》(第二版),上海交通大学出版社,2004,杨强生等编着;,《工程传热传质学》,航空工业岀版社,1989,朱谷君主编;《工程传热传质学(上册)》,科学岀版社,1998,王补宣着;,《传热与传质分析》,科学岀版社, 1983,等着,航青译;《对流传热传质分析》,西安交通大学岀版社,1991,王启杰;《热传导理论》,高等教育出版社,1992,张洪济;《对流传热与传质》第四版中文版,高等教育岀版社,2007,凯斯等编着,赵镇南译;《对流换热》,高等教育出版社,1995,任泽霈。
材料分析方法 第3版 教学课件 ppt 作者 周玉 部分课后习题答案 部分课后习题答案

第一章X射线物理学基础2、若X射线管的额定功率为1.5KW,在管电压为35KV时,容许的最大电流是多少?答:1.5KW/35KV=0.043A。
4、为使Cu靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6,求滤波片的厚度。
答:因X光管是Cu靶,故选择Ni为滤片材料。
查表得:μmα=49.03cm2/g,μmβ=290cm2/g,有公式,,,故:,解得:t=8.35um t6、欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射,所需施加的最低管电压是多少?激发出的荧光辐射的波长是多少?答:eVk=hc/λVk=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv)λ0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm)其中h为普郎克常数,其值等于6.626×10-34e为电子电荷,等于1.602×10-19c故需加的最低管电压应≥17.46(kv),所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。
7、名词解释:相干散射、不相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应答:⑴当χ射线通过物质时,物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动,受迫振动产生交变电磁场,其频率与入射线的频率相同,这种由于散射线与入射线的波长和频率一致,位相固定,在相同方向上各散射波符合相干条件,故称为相干散射。
⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后,可以得到波长比入射χ射线长的χ射线,且波长随散射方向不同而改变,这种散射现象称为非相干散射。
⑶一个具有足够能量的χ射线光子从原子内部打出一个K电子,当外层电子来填充K空位时,将向外辐射K系χ射线,这种由χ射线光子激发原子所发生的辐射过程,称荧光辐射。
或二次荧光。
⑷指χ射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量,如入射光子的能量必须等于或大于将K电子从无穷远移至K层时所作的功W,称此时的光子波长λ称为K系的吸收限。
材料分析方法 周玉主编 绪论

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2.化学分析
功能:分析试样的平均化学成分。 缺点:不能分析微区成分。 而往往微区成分会造成微观结构的不均匀 性,导致微观区域性能的不均匀性,这种不均 匀性对材料的宏观性能有很重要的影响作用。
• 4 宏观结构:人眼(或借助放大镜)可分
纯铁的室温平衡组织
铁素体
45钢的室温平衡组织 铁素体+珠 光体 T8钢的室温平衡组织 珠光体
• 五 研究方法的种类 • 图像分析方法 • • • •
光学显微镜 透射电子显微镜 扫描电子显微镜 场离子显微镜 原子力显微镜 扫描隧道显微镜
• X射线衍射 • 衍射法 电子衍射 • 中子衍射 • 非图像分析方法 光谱分析 • 能谱分析 • 成分谱分析 热谱分析 • 色谱分析
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七.本课程主要学习的分析方法 1:X射线衍射
功能:主要用来鉴定物相结构,分析晶体 结构,晶格参数(点阵常数,不同结构相的含 量及内 应力的方法。 这种方法主要利用X—ray在晶体中的衍射 花样不同,通过分析衍射花样来确定晶体结构。 貌.
不足:X—ray衍射不能直观地观察测试形
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2:电子显微镜 电子显微镜与光学显微镜最根本的区别用 高能电子束来作光源,用磁场作透镜(磁透镜) 对电子来进行聚焦放大等,因而放大倍数和分辨 率远高于光学显微镜(可见光、玻璃透镜)。 1)透射电子显微镜(TEM) TEM是用电子束透过薄膜样品成像(薄膜样品 的厚度在5~500nm之间)。 功能: a.组织形貌及微观结构观察,比如位错、孪晶 等都可在透射电镜下观察到(光镜做不到)。 b.晶体结构鉴定(同位分析),通过电子衍射 花样分析材料晶体结构。 放大倍数——106倍,分辨率----10-1nm
第1章绪论材料分析方法哈工大

第二节 X射线的产生及X射线谱
连续X射线和特征X射线
图1-2 X射线管结构示意图
图1-2所示的X射线管是产生 X射线的装置
主要由阴极 (W灯丝) 和用 (Cu, Cr,Fe,Mo) 等纯金属制 成的阳极(靶)组成
阴极通电加热,在阴、阳 极之间加以直流高压 (约数 万伏)
阴极发射的大量电子高速飞 向阳极,与阳极碰撞产生X 射线
绪论
2. 化学分析
给出平均成分,可以达到很高的精度; 实际上,材料中的成分分布存在不均匀性,
导致微观组织结构的不均匀性, 进而造成材料微观区域性能的不均匀性, 对材料的宏观性能产生影响。
不能给出所含元素的分布
10
绪论
四、X射线衍射与电子显微镜
1. X射线衍射(XRD, X-Ray Diffraction) XRD是利用X射线在晶体中的衍射现象来分析材料的 相组成、晶体结构、晶格参数、晶体缺陷(位错等)、 不同结构相的含量以及内应力的方法。
材料分析方法
第3版
主 编 哈尔滨工业大学 周 玉 参 编 漆 璿 范 雄 宋晓平
孟庆昌 饶建存 魏大庆 主 审 刘文西 崔约贤
获2002年全国普通高等学校优秀教材一等奖
1
本教材主要内容
绪论 第一篇 材料X射线衍射分析
第一章 X射线物理学基础 第二章 X射线衍射方向 第三章 X射线衍射强度 第四章 多晶体分析方法 第五章 物相分析及点阵参数精确测定 第六章 宏观残余应力的测定 第七章 多晶体织构的测定
28
第二节 X射线的产生及X射线谱
一、连续X射线谱 强度随波长连续变化的谱线称连续X射线谱,见图1-3
图1-3 管电压、管电流和阳极靶原子序数对连续谱的影响 a) 管电压的影响 b) 管电流的影响 c)阳极靶原子序数的影响 29
第1章.绪论-哈工大-第三版-材料分析测试-周玉

谱线的激发电压见表1-1
18
第二节 X射线的产生及X射线谱
二、特征(标识)X射线谱
表1-1 几种阳极靶材及其特征谱参数
靶 材
Z
K系列特征谱波长/0.1nm
K1
K2
K
K
K 吸收限 UK K/0.1nm /kV
U适宜 /kV
20
第三节 X射线与物质的相互作用
一、衰减规律和吸收系数
如图1-6,强度为I0的X射线照射厚度为t的均匀物质上, 穿过深度为x处的dx厚度时的强度衰减量dIx/Ix与dx成正比,
dI x Ix
l
dx
(1-11)
式中,l 是常数,称线吸收系数
I I0 elt
(1-12)
图1-6 X射线通过物质 后的衰减
I I 0emt I 0emm
(1-14)
图1-7 X射线强度随透入 深度的变化
m为单位面积厚度为 t 的体积中物质
的质量。因此 ,m 的物理意义是X射
线通过单位面积单位质量物质的强度 衰减量 它避开了密度的影响,可以作为反映 物质本身对X射线吸收性质的物理量
22
第三节 X射线与物质的相互作用
材料分析方法
第3版
主 编 哈尔滨工业大学 周 玉 参 编 漆 璿 范 雄 宋晓平
孟庆昌 饶建存 魏大庆 主 审 刘文西 崔约贤
获2002年全国普通高等学校优秀教材一等奖
1
本教材主要内容
绪论 第一篇 材料X射线衍射分析
第一章 X射线物理学基础 第二章 X射线衍射方向 第三章 X射线衍射强度 第四章 多晶体分析方法 第五章 物相分析及点阵参数精确测定 第六章 宏观残余应力的测定 第七章 多晶体织构的测定
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3
第一节 极射赤面投影法
一、极射赤面投影法的特点
极射赤面投影法用以表达晶向、晶面的方位,见图7-1
1) 被投影晶体置于参考球球心O,假定晶体的所有晶向、晶 面均通过球心
2) 投射点B为球面上一点的射线,投影 面是与过B点直径垂直的任一平面,平 行于投影面且通过球心的平面与球交成 一大圆, B点向大圆上各点的投影线在 投影面上的交点构成基圆(NESW)
利用极图可确定织构的类型和指 图7-13 冷轧纯铝板的001极图 数,并判断择优取向的程度 16
第二节 织构的种类和表示方法
二、反极图
反极图表示某一宏观坐标(如丝轴、轧向、轧面法向等)相 对于微观晶轴的取向分布, 反极图常取单位投影三角形, 如 图7-14中的阴影区。
图7-15 是多晶体中各晶粒坐标(实线) 相对某宏观坐标(虚线)的 取向。 反极图表示某宏观坐标轴密度相对晶体坐标的分布, 无序多晶体,轴密度分布均匀;择优取向时,分布不均匀
三、三维取向分布函数(ODF)
ODF图是三维的,通常给出一组恒 截
面图,如图7-20所示。图中可显示取向 密度及对应织构组分的漫散程度
由w(、、 )可计算相应的织构指数,
uvw hkl,如正交晶系
u : v : w u(c:ovs:wcos(cocsoscossincossins)in/ a:sin) / a :
图7-16 挤压铝棒的轴向反极图
RD
ND
图7-17 冷轧黄铜板的反极图 18
第二节 织构的种类和表示方法
三、三维取向分布函数(ODF)
ODF用3个参数在三维空间定量表达多晶材料的晶粒取向
分布。设OABC为宏观坐标系,通常对于板材,取RD为OA,
TD为OB,ND为OC; OXYZ是晶粒坐标系, 对正交等晶系, [100]为OX,[010]为OY,[001]为OZ。多晶体中晶粒相对于宏
第一篇 材料X射线衍射分析
第一章 X射线物理学基础 第二章 X射线衍射方向 第三章 X射线衍射强度 第四章 多晶体分析方法 第五章 物相分析及点阵参数精确测定 第六章 宏观残余应力的测定 第七章 多晶体织构的测定
1
第七章 多晶体织构的测定
本章主要内容 第一节 极射赤面投影法 第二节 织构的种类和表示方法 第三节 丝织构指数的测定 第四节 极图的测定 第五节 反极图的测定
图7-8 投影面的转换
11
第一节 极射赤面投影法
三、单晶体的标准投影图
极射赤面投影可以用一个点简明方便地表示晶体中一组晶 向和晶面
对于某种点阵结构的单晶体,选择某一低指数的重要晶面 作为投影面,将各晶面向其投影,即可得到单晶体的标准
衍射图
立方晶系的晶面间夹角 cos
h1h2 k1k2 l1l2
( cos co(scossincossinsincoss)in/b :cos) / b :
(sin cos(s)in/c cos ) / c h : k : l asin cos : bsin sin : c cos
图7-20 冷压磷钢板 的ODF截面图
21
第三节 丝织构指数的测定
平板针孔法
并确定织构指数uvw;用峰半高宽(Wi)总和计算取向度A
A 360 Wi 100% 360
(7-7)
图7-22 衍射仪法测定丝织构
a) 光路图 b) 衍射谱示意图
23
第四节 极图的测定
测试原理及衍射几何布令试样作全方位
转动,记录衍射强度的变化,根据试样转动规律得出极点密 度的分布,以反映织构引起的极点密度变化
图7-3 极点间夹角的测量
7
第一节 极射赤面投影法
二、乌氏网
3) 与已知极点成等夹角点的轨迹如图7-4所示。首先转动投影 图中已知极点P 位于乌氏网的赤道线上
在P点两侧定出 2 个等角距离点(如Q、R),以Q、R连线中点 P为圆心作圆,此小圆即为与P 点成等角点的轨迹;
在过P 的经线大圆上及赤道线上
a) 铝粉 b) 冷轧铝板
平板针孔相
15
第二节 织构的种类和表示方法
一、极图
织构可用极图、反极图和取向分布函数3种方法表示,极 图常用于描述板织构
多晶体中某晶面001法向,在空间分布的极射赤面投影图称 001极图, 板织构取轧面为宏 观坐标面的投影面,而丝织构取 与丝轴平行或垂直的平面
图7-10是轧制纯铝板以轧面为投 影面的极图,用不同级别的等密 度线表示极点密度的分布
图7-14 反极图所取的单位投影三角形 a) 立方晶系 b) 六方晶系 c) 正交晶系
图7-15 反极图投 影关系示意图 17
第二节 织构的种类和表示方法
二、反极图
如图7-16, 在001和111极点处有较高的轴密度, 说明铝 棒各晶粒的111或 001趋向与棒轴平行,存在111、 001 双织构。确定板织构至少需要2张反极图 (如图7-17),冷轧黄 铜板的RD和ND反极图各有2个高轴密度区,可确定其织构指 数为, 112 110、 001 110和112 111
3) 晶向或晶面法线与球面交点称露出点,
投影线与投影面的交点即为晶向或晶面
的投影点,称极点
图7-1 极射赤面投影法
4
第一节 极射赤面投影法
二、乌氏网
如图7-2a,为确定极点在极射赤面投影面上的位置,以及 测量各极点间的夹角,需在参考球上建立坐标网
取参考球的一直径NS作为南北极,过球心O且垂直于NS的大 圆称为赤道,平行于赤道大圆的一系 列等角距离平面与参考球交成纬线, 通过NS轴的等角距离平面与球面交成 经线
6
第一节 极射赤面投影法
二、乌氏网
乌氏网是确定晶体方位及测量夹角的工具,应用时注意
1) 晶体投影图基圆的直径与乌氏网相同,使用时将二者中心 重合
2) 测定二极点间夹角时,转动投 影图,使二极点位于同一经线大 圆(包括基圆)或赤道上, 二点间 的纬度差或经度差极为二极点间 夹角,见图7-3。 如A、B极点间 夹角为120, C、D极点间夹角 为20, E、F 极点间夹角为20
cos = cos cos (7-6)
理想丝织构
实际丝织构
在底片上测 和 ,并标
定衍射指数hkl,由上式
即可求出 角
图7-21 丝织构的倒易点阵图解
22
第三节 丝织构指数的测定
衍射仪法
如图7-22,将丝状试样平行于衍射仪轴放置,X射线垂直于
丝轴入射,计数管固定于2hkl处,试样以X射线为轴转动过 程中连续记录衍射强度的变化。由衍射峰值求角而计算,
图7-9为立方晶系标准投影图,落在同一大圆弧和直线上的极 点对应的晶面法线在同一平面上, 此平面的法线为这些晶面 的交线。相交于同一直线的晶面属于同一晶带, 其交线称为 晶带轴,用[uvw]表示,晶面指数(hkl)和[uvw]满足晶带定律
hu + kv + lw = 0
(7-1)
(001)
(011)
图7-7 极点绕倾斜轴转动
10
第一节 极射赤面投影法
二、乌氏网
5) 投影面的转换 在乌氏网上将极点绕确定轴转动到新位置
如图7-8, K、P、Q是以 O 为 投影面的极点, 将K转到投影 面基圆中心, P、Q 随之作相 同的转动,沿其各自的纬线到 达新位置 P1、Q1,这就是 P、 Q点以K为新投影面的位置
动 角到达P 点
转轴平行于投影面:如图7-6, 轴的投影为基圆直径,转动投 影图使转轴与乌氏网 NS重合, 使极点沿
其纬线转动 角。如
A1→A2; 若转至投
影图背面,用不同符
图7-5 极点绕垂直于 投影面的轴转动
图7-6 极点绕平行于 投影面的轴转动
号标明(如B1→B1)
9
第一节 极射赤面投影法
二、乌氏网
各晶粒某晶向uvw与轧向(RD)平行,各晶粒某晶面hkl与轧 面平行,用uvw hkl表示板织构指数
图7-10c 是轧面为投影面, 立方织构材
料的001极图示意图。 材料中存在织
构时,将影响倒易
球面上倒易阵点的
分布,亦影响各晶
面衍射强度的相对
变化,见图7-11和
图7-12 多晶铝的衍射图 图7-11 冷轧铝丝的 图7-12
拍摄平板针孔相是最简单的方法, 图7-21是其反射球图解。 存在丝织构时,某 hkl 倒易阵点以丝轴FA为轴,旋转对称分 布在其倒易球面上而构成环带,衍射花样呈点状;实际织构 材料晶粒取向存在一定漫散,衍射花样呈圆弧状
由图7-21的几何关系,可求出hkl面法线与丝轴的夹角, 由
此求出与丝轴平行的晶 向指数uvw
4) 极点的转动 在乌氏网上可将极点绕确定轴转动到新位置
转轴与投影面成任意夹角:如图7-7,转轴的投影为B1点,使 A1点绕B1轴顺时针转动40的步骤为,① 将B1 置于赤道线上;
② 将A1和B1同时绕NS轴转动至B1 到达基圆圆心,称为B2, A1点在 其纬线上到达A2; ③ A2 绕B2按预 定方向转40到达A3; ④ B2绕 NS 轴转至原位B1, A3沿其纬线相应 转至A4, A4即为A1点绕 B1轴顺时 针转动40后的新位置
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图7-9 立方晶系标准投影图
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第二节 织构的种类和表示方法
织构按择优取向分布特点分类
1) 丝织构 是一种晶粒取向为轴对称分布的织构
存在于拉、轧或挤压成形的丝、棒材和表面镀层中。 特点是 各晶粒某取向uvw与丝轴或镀层表面法线平行,用uvw表示 丝织构指数; 也可采用极射赤面投影表示晶粒取向的分布, 称为晶向或晶面的极图, 以说明某一晶向或晶面在宏观坐标
与点
(h12 k12 l12 )(h22 k22 l22 )