第七章 原子发射光谱分析
第七章++原子发射光谱分析
朗克公式
电磁波可用以下波参数来表征
周期(T)：相邻两个波峰或波谷通过空间某一 固定点所需要的时间间隔。 单位：S(秒) 频率(ν)：单位时间内通过传播方向上某一点 的波峰或波谷的数目，即单位时间内电磁场振 动的次数。单位：Hz （赫兹） 波长(λ)：相邻两个波峰或波谷间的直线距离。 单位：米、埃、纳米等。 波数(σ)：每厘米长度内含有的波的数目，即 波长的倒数。单位：K (Kayser)
光(一次光)
能量
原子,离 激发 原子*, 离 子*,分子* 子,分子
基态 激发态 发射 荧光（二次光）
产生的辐射通称为发射光谱，以 辐射能对辐射频率或波长作图可得到 发射光谱图
原子、离 子、分子
基态
（四）吸收光谱
M h 吸收辐射能量 M * 基态 光 激发态
吸收光谱
当辐射通过气态、液态或透明的固态物质时，物 质的原子、离子或分子将吸收与其内能变化相对 应的频率辐射，由低能态或基态过渡到较高的能 态。这种由于物质对辐射的选择性吸收而得到的 光谱，称为吸收光谱，常为一些暗线或暗带。
电磁 辐射
热 原子、离 吸收 原子*、离 原子、离 子、分子 子*、分子* 或荧光 子、分子 能量 基态 激发态 基态 光
干涉：当频率相同、振动相同、周相相等或周相 差保持恒定的波源所发射的相干波互相叠加时， 会产生波的干涉现象。通过干涉现象，可以得到 明暗相间的条纹。
衍射：光波绕过障碍物而弯曲地向它后面传播的 现象。 3、描述参数： 波长λ、频率ν、速度，三 者的关系为 C(cm/s) = λ(cm)ν（Hz）
电磁波的粒子性 光是由“光微粒子”（光量子或光子）所 组成，光量子的能量与波长有关
第七章原子发射光谱分析法
光学分析概论：
光学分析法主要根据物质发射、吸收电磁辐射以及物 质与电磁辐射的相互作用来进行分析的。
光学分析法分类： 光学分析法可分为光谱法和非光谱法两大类。
1854年，阿尔特提出光谱定性分析的概念。
焰色反应及离子的鉴定： Cu2+Ba2+ Sr2+ 猩红
辐射跃迁：
X * X E(h ) : 光谱的记录
E＝E2 E1 h h c 或＝ hc
E
h 为普朗克常数（6.626×10-34 J.s） c 为光速(2.997925×1010cm/s)
① 量子化———— 线光谱 ② 光谱选律———— 元素的特征性
第七章原子发射光谱分析法
二、发射光谱分析的过程
方法：（1）看谱分析法 （2） 摄谱分析法 （3）光电直读光谱法
第七章原子发射光谱分析法
4、仪器装置
光谱分析仪组成：激发光源、（分光系统）摄谱仪、检测系 统。
第七章原子发射光谱分析法
一、光源
1、光源的作用：提供能量，使试样蒸发、解离、原子化和 激发跃迁而产生电磁辐射。
2、对光源的要求：光源常常对光谱分析的检出限、灵敏度 及准确度有很大影响，因此，光源必须满足如下要求： A、有足够的激发温度，适合不同含量的元素分析。高灵敏 度的保证； B、有良好的稳定性和重现性。准确度的保证； C、光谱背景浅，构造简单、操作方便，安全耐用，适应性 强。
第七章原子发射光谱分析法
二、 分析过程
1、 样品的蒸发（原子化）与激发 2、 光谱的获得和记录 （1)分光: 将激发态原子所产生的光辐射经过色散，得到
按波长排列的光谱。 （2) 摄谱: 将获得的光谱记录在相谱上。 3、 光谱的检测
第七章 原子发射光谱分析 (Atomic Emission Spectrometry知识分享
Ei—激发电位（J或eV)。
Iij
gi g0
AijhijN0ekEiT
原子发射光谱 法定量的依据
基态原子密度（N0）：Iij正比于N0，N0正比于浓度。
激发电位(Excitation potential)
谱线强度与激发电位成负指数关系。在温度一定时，激发 电位越高，处于该能量状态的原子数越少，谱线强度越小。 激发电位最低的共振线通常是强度最大的线。
目前常用的光源有直流电弧(DC arc)、交流电 弧(AC arc)、高压火花(electric spark)及电感耦合等离 子体（ICP）。
1. 直流电弧
优点：电极头温度相对比较高（4000至7000K，与 其它光源比），蒸发能力强、绝对灵敏度高、背景小；
缺点：放电不稳定，且弧较厚，自吸现象严重，故 不适宜用于高含量定量分析，但可很好地应用于矿石 等的定性、半定量及痕量元素的定量分析。
微波光谱法
4×10-7~4×10-10 核磁共振波谱法
高能辐射区
γ射线 能量最高，核能级跃迁 X射线 内层电子能级的跃迁
光学光谱区
(10nm-1000 μm)
紫外光 可见光
原子和分子外层电子能级的跃迁
红外光 分子振动能级和转动能级的跃迁
波谱区
微波 分子转动能级及电子自旋能级跃迁 无线电波 原子核自旋能级的跃迁
2．电磁波谱：电磁辐射按波长顺序排列就称光谱。
光谱区域 γ射线 X射线 远紫外光 近紫外光
光 可见光 学 近红外光 区 中红外光
远红外光
微波
无线电波
波长 5～140pm 10-3～10nm 10～200nm 200～380nm 380～780nm 0.78～2.5μm 2.5～50μm
第7章 原子发射光谱分析
光栅的参数
光栅的特性可用色散率和分辨率来表征。
光栅的角色散率可通过对光栅公式求导得到：
d n d d cos
其中dθ/dλ：入射角对波长的变化率，即光栅的角色散率； d：光栅常数； n：光谱级数。
当θ很小且变化不大时，cosθ≈1，光栅的角色散率决定于
光栅常数d和光谱级数n，为常数。因此光栅光谱是均排光
凹面光栅与罗兰圆
多道型光电直读光度仪多采用凹面光栅。凹面光栅既具有
色散作用也起聚焦作用(凹面反射镜将色散后的光聚焦)。
罗兰圆：Rowland发现在曲率半
径为R 的凹面反射光栅上存在着 一个直径为R的圆，不同波长的
光都成像在圆上，即在圆上形成 一个光谱带. 因此，将直读光谱 仪的出射狭缝做在凹面光栅的罗 兰圆上。
达到一定值时，放电盘G1击穿；G1-C1-L1构成振荡回路，产 生高频振荡；
(2) 振荡电压经B2的次级线圈升压到10kV，通过电容器C2 将电极间隙G的空气击穿，产生高频振荡放电；
(3) 当G被击穿时，电源的低压部
分沿着已造成的电离气体通道，通
过G进行电弧放电；
(4) 在放电的短暂瞬间，电压降
低直至电弧熄灭，在下半周高频再
ICP-AES
光电直读是利用光电法直接测定光谱线的强度。 两种类型：多道固定狭缝式和单道扫描式。
单道扫描式是转动光栅进行 扫描，在不同时间检测不同 谱线； 多道固定狭缝式则是安装多 个出射狭缝和光电倍增管， 同时测定多个元素的谱线； 全谱直读光谱仪可同时测定 试样中165-800nm波长范围 内的元素的所有谱线，对其 进行分析。
(3) 光电流∝原子光谱的强度，与基态原子浓度成正比。
7.4 光谱定性分析 定性依据： E = hν = h c /λ
第七章 原子发射光谱分析(2007级)
带状光谱
连续光谱
四、光学分析过程:
(1) 能源提供能量
(2) 能量与被测物质相互作用
(3) 产生被检测的讯号 (4) 讯号的检测 围绕着四个过程及仪器组成部件的作用原理来学习。 （光源、分光系统、吸收池、光电转换器、记录系统）
原子发射光谱分析
atomic emission spectrometry，AES
（1）灵敏度较差，噪音较大，不适
合痕量分析；
（2）电火花仅射击在电极的一个小 点上，仅适合于组成均匀的试样。
（四） 等离子体
等离子体指电离了的但在宏观上呈电中性的物质。
1、等离子体光源的形成类型
(1)直流等离子体 (direct currut plasmajet，DCP) 弧焰温度高 8000-10000K，稳定性好，精密度接近ICP；
定性分析 定量分析
识别元素的特征光谱 利用谱线的强度来测 定元素含量
第三节 原子发射光谱分析仪器
一、仪器设备 二、光源
三、光谱仪
四、检测系统
一、
仪器设备
原子发射光谱仪组成： 光源、分光系统（光谱仪、摄谱仪）、观测系统；
二、光源
作用：为试样的气化原子化及激发提供能源； • 直流电弧 • 交流电弧 • 高压电火花 • 等离子体 电弧发射光谱仪 电火花发射光谱仪 等离子体发射光谱仪
基态
激发态
受外界能量作用，原子与高 速运动的气态粒子和电子相 互碰撞而获得能量，使原子 中外层的电子从基态跃迁到 更高的能级
原子处于稳定状态， 它的能量最低
基态
10-8s
激发态
E 原子从较高能级跃迁到基态或其他较低的能级
的过程，将释放出多余的能量，这种能量以一定波
仪器分析 第7章 原子发射光谱分析
摄谱法原理 ⑴ 摄谱步骤
安装感光板在摄谱仪的焦面上
激发试样，产生光谱而感光
显影，定影，制成谱板 特征波长—定性分析 特征波长下的谱线强度—定量分析
⑵ 感光板 玻璃板为支持体，涂抹感光乳剂(AgBr+明胶+增感剂) 感光：
2AgX+2hυ→ Ag(形成潜影中心)+X2
OH
O
显影： 对苯二酚
乳剂特性曲线：
感光板的反衬度
以黑度S与曝光量的对数lgH作图 在正常曝光部分：
γ
S lg H lg H i lg H i
α
乳 剂 特 性 曲 线
S lg( It ) i
Hi为感光板的惰延量
谱线黑度与辐射强度的关系：
S lg( It ) i
定量分析中，更主要是采用 内标法，测量分析线对的相 对强度
磁辐射，通过测定其波长或强度进行分析的方法
不涉及能级跃迁，物质与辐射作用，使其传播方 向等物理性质发生变化，利用这些改变进行分析 的方法
光分析法
非光谱分析法
光谱分析法
圆 折 二 射 色 法 性 法
X 射 干 线 涉 衍 法 射 法
原子光谱分析法 旋 光 法
X 射 线 荧 光 光 谱
分子光谱分析法
分 子 荧 光 光 谱 法 分 子 磷 光 光 谱 法 核 磁 共 振 波 谱 法
e. 波长尽可能靠近
（3） 摄谱法中的内标法基本关系式
• 摄谱法中谱线黑度S与辐射强度、浓度、曝光时间 、感光板的乳剂性质及显影条件有关，固定其他 条件不变，则感光板上谱线的黑度仅与照射在感 光板上的辐射强度有关
i0 S lg i
i0 未曝光部分的透光强度 i 曝光部分的透光强度
第7章 原子发射光谱分析(AES)
离子线
离子外层电子从激发态跃迁回基态 时发射的谱线称为离子线。 通常用Ⅰ表示原子线，用Ⅱ表 示一次电离的离子线，用Ⅲ表示二 次电离的离子线。
离 子 线 实 例
Na Ⅰ 589.592nm表示钠原子 的谱线； Mg Ⅱ 280.270nm表示一次 电离镁离子的谱线。
二、原子发射谱线的产生
由于被电、热能激 发而处在激发态的 原子极不稳定，很 快跃迁回较低能态， 若以光的形式释放 多余的能量，宏观 表现就是发射一定 频率的电磁波谱， 称为发射光谱。
常用的光源
直流电弧 交流电弧
高压火花
电感耦合高频等离子体（ICP）焰炬
1、直流电弧：分析间隙(放电间隙)一般以两个碳
电极作为阴阳两极，试样装在下电极的凹孔内。直流
电不能击穿两电极，故要先通过两个电极接触来点弧。
直流电弧特点：
a）产生的谱线主要是原子谱线；
b）优点：绝对灵敏度高，背景小，宜于进行定性分 析及低含量杂质的测定； c）缺点：电弧不稳—分析重现性差；弧层厚，自吸 严重；电极头温度较高，不宜于定量分析及低熔点 元素的分析。
电磁波可用下列波参数来描述：
d.波数σ—每厘米内波的数目，即单位距离中 极大值的数目。它等于以厘米为单位的真空 中波长的倒数， σ＝1/ λ，单位为cm-1。 e.传播速度V—波在一秒钟内通过的距离。由于 波每秒有ν次振动，而每次振动通过的距离 为λ，所以V ＝ λν
电磁辐射（电磁波）的频率只决定于辐射源， 而与介质无关。无论辐射通过什么介质 ，其频率保 持不变，与此相反，传播速度V和波长λ则与介质有 关，随着辐射通过不同的介质而不同。
1.电磁辐射的波动性 经典物理的观点认为：电磁波是具有相同位 相的两个互相垂直的振动矢量——电场矢量和磁 场矢量。电磁辐射为正弦波
第七章 原子发射光谱分析
2、电磁辐射的性质：具有波、粒二象性
（1)波动性
（2)粒子性
c
E h h
c
c：光速；：波长；ν：频率；E ：能量； h：普朗克常数 （6.6262×10-34 J ·s） 3、电磁波谱：电磁辐射按波长的顺序排列
3．光谱法与非光谱法的区别：
光谱法：内部能级发生变化 原子吸收/发射光谱法：原子外层电子能级跃迁 分子吸收/发射光谱法：分子外层电子能级跃迁 非光谱法：内部能级不发生变化 仅测定电磁辐射性质改变
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仪器分析-原子发射光谱分析
§ 7-2 原子发射光谱分析的基本原理
一、定义 根据待测物质的气态原子或离子受激发后所发射的
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仪器分析-原子发射光谱分析
三、摄谱法的观测设备
1、光谱投影仪（映谱仪）——放大投影谱片 光谱定性分析，一般放大倍数为20倍 2、测微光度计（黑度计）——测量感光板上所记录的谱线的 黑度，用于光谱定量分析
(1)感光板
玻璃板为支持体，涂抹感光乳剂 （AgBr+明胶+增感剂）。
激发态
基态
光
（3）散射：丁铎尔散射、拉曼散射 （4）折射和反射 （5）干涉和衍射 根据特征光谱的波长可进行定 性分析；根据光谱峰的强弱与 物质含量的关系进行定量分析。
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仪器分析-原子发射光谱分析
三、光学分析法分类
1、光谱法：
光谱法与非光谱法
利用物质与电磁辐射作用时，物质内部发生量子化能级跃迁而 产生的吸收、发射或散射辐射等电磁辐射的强度随波长变化的 定性、定量分析方法。
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第七章 原子发射光谱分析(习题参考答案)1．从棱镜摄谱仪摄取的光谱上获得下面的数据，从参考点至波长为324.754nm 、 326.233nm 和327.396nm 的谱线的距离依次为0.50,6.42和11.00mm ，参考点至未知谱线的距离为8.51mm ，求未知谱线的波长。
解：λθελd d sin d d ⋅=f l：o参考点0.50324.754nm 326.233nm 327.396nmx已知b a xλλλλ-=-212，于是 ba xx ⨯--=λλλλ22764.326)51.800.11(46.600.11233.326396.327396.327=-⨯---=nm2．一台光谱仪配有6cm 的光栅，光栅刻线数为每厘米6 250条，当用其第一级光谱时，理论分辨率是多少？理论上需要第几级光谱才能将铁的双线309.990nm 和309.997nm 分辨开？解：分辨率R =λd λ=Nm (1)m =1, R =6×6250=37500(2)8.44284)990.309997.309(2997.309990.309=-⨯+==λλd R18.1375008.44284===N R m因此，理论上需二级光谱才能将铁的双线分开．（1（2）由校正曲线估计溶液A 、B 和C 的铅浓度。
解：(1)下图为R ~c 的关系图(2)依条件，lg R A =0.246, lg R B =0.133, lg R C =0.0570 于是得到c A =0.237 mg·mL -1,c B =0.324 mg·mL -1, c C =0.401mg·mL -14．某一含铅的锡合金试样用电弧光源激发时，摄谱仪的狭缝前放置一旋转阶梯扇板，扇板的每一阶梯所张的角度之比为1:2:4:8:16:32。
光谱底片经显影定影干燥后，用测微光度计测量一适当锡谱线的每一阶梯的黑度，由各阶梯所得i 0/i 值为1.05，1.66，4.68，13.18，37.15和52.5。
绘制感光板的乳剂特性曲线，求出反衬度值。
T 1 2 4 8 16 32i 0/i1.05 1.66 4.68 13.18 37.15 52.5 lg T 0 0.301 0.602 0.903 1.204 1.505 S =lg i 0/i0.02 0.22 0.671.12 1.57 1.72中间四点线性非常好，其回归方程为：S =1.5lg T –0.23, R 2=1 所以反衬度为γ=1.55．几个锡合金标准样品中的铅含量已由化学分析法测得，将这些锡合金做成电极，拍试样编号%Pb S 锡线 S 铅线 1 0.126 1.567 0.259 2 0.316 1.571 1.013 3 0.708 1.443 1.546 41.3340.8251.4270.11lgR=-0.2701-0.8246lgc r=0.99c R-0.9-0.8-0.7-0.6-0.5-0.4-0.3-0.10.00.10.20.30.4r=-0.99第3题lg R =-0.8246lg c -0.2701l g RlgcPb Sn 一个未知的锡合金试样用标准试样相同的方法处理。
从底片上测得276.1nm 锡线的黑度为0.920，而283.3nm 铅线的黑度为0.669，问未知试样中铅的百分含量为多少？ 解：S Sn –S Pb = –1.8737 lgPb% –0.3784, R 2=1样品ΔS=S Sn –S Pb =0.251, 依回归方程计算得到样品中Pb 的含量为Pb%=0.460 （注：lg(I Pb /I Sn )=lg(I Pb /I o ·I o I Sn )=S Sn –S Pb =ΔS ）6．已知Zn I 213.856 nm 及Zn I 307.590 nm 。
其激发能分别为5.77 eV 和4.03 eV ，自发发射跃迁几率分别为6⨯108 s -1，激发态与基态统计权重的比值（g i ／g 0）均为3，试计算并讨论：（1）T ＝5 000 K 时，二激发态的原子密度（N 1及N 2）与基态原子密度（N 0）的比值； （2）T ＝2 500K ，5 000K 及10 000 K 时，该二谱线强度比（I 1/I 2）； （3）根据这个计算能得到什么结论？解：玻尔兹曼公式为：kTEi i ieg g N N -⋅=00，30=g g i(1)T =5000K650001038.110602.177.5011064.432319-⨯⨯⨯⨯-⨯=⨯=--e N N450001038.110602.103.4021062.232319-⨯⨯⨯⨯-⨯=⨯=--e N NT =10000K, N 1/N 0=0.0037, N 1/N 2=0.028通常情况下，等离子体中基态粒子数N 0是该种离子总数的绝大部分． (2) I ij = A ij N i hv ij = A ij N i hc /λij , N i =N i /N 0×N 0, A 1=A 2=6×108skTE E e N N hc N A hc N A I I /)(1212212*********//-⋅===λλλλλλ(ⅰ)T =2500K4250010380.110602.1)77.503.4(211051.4856.213590.3072319-⨯⨯⨯⨯-⨯=⨯=--eI I(ⅱ) T =5000K2500010380.110602.1)77.503.4(211055.2856.213590.3072319-⨯⨯⨯⨯-⨯=⨯=--e I I或利用(1)的结果：2046211055.21062.21064.4856.213590.307---⨯=⨯⨯⨯⨯⨯=N N I I(ⅲ) T =10000K191.0856.213590.3071000010380.110602.1)77.503.4(212319=⨯=⨯⨯⨯⨯---e I I(3)通常激发温度下，基态原子数占绝大部分；在激发温度恒定时，处于低能态的原子数大于高能态的原子数；随温度增加，I 1/I 2增大，N /N 0也增大． 7．解释下列名词电极温度 电弧温度 灵敏线 最后线 共振线 第一共振线 自吸 自蚀 分析线 内标线 均称线对 黑度 黑度换值 反衬度 惰延量 展度 雾翳黑度 答：电极温度――即蒸发温度 电弧温度――即激发温度灵敏线――元素的灵敏线一般是指强度较大的谱线，通常具有较低的激发电位和较大的跃迁几率。
最后线――由于谱线的强度与样品中元素的浓度有关，因而当元素浓度逐渐减小时，谱线数目相应减少，最后消失的谱线，称为最后线，最后线一般就是最灵敏的谱线。
共振线――由任何激发态跃迁到基态的谱线称为共振线．第一共振线――而相应于最低激发态与基态之间跃迁产生的辐射称为第一共振线。
自吸――大多数光源的中心部分的温度较高，外层的温度较低，中心部分原子所发射的谱线，会被外层处于基态的同类原子所吸收，结果谱线强度减弱。
这种现象称为谱线的自吸收。
自蚀――原子浓度增加有自吸发生时，谱线中心较强处的吸收比边缘部分更显著，这是因为吸收线的宽度比发射线小的缘故，吸收严重时中心的辐射有可能完全被吸收。
这是自吸的极端情况，称自蚀。
分析线――在分析元素的谱线中选一根谱线，称为分析线．内标线――从内标元素的谱线中选一条谱线称为内标线，这两条谱线组成分析线对。
均称线对――分析线和内标线组成分析线对。
激发电位和电离电位相等的分析线对称为均称线对．黑度――谱线变黑的程度简称为黑度，黑度用S 表示。
谱线的黑度用测微光度计测量，是利用还原银愈多愈不透明的光学性质而测量的。
黑度换值――采用与黑度有关的其他黑度换值代替黑度，使乳剂特性曲线的直线部分向下延长，以扩大曲线的便于利用的直线范围。
反衬度――乳剂特性曲线正常曝光部分，S = γ（lg H –lg H i ）= γ lg H –i ，式中i 为常数项，γ＝tg α是乳剂特性曲线中间直线部分的斜率，表示当曝光量改变时黑度变化的快慢，称为感光板的反衬度．惰延量――1g H i 为直线部分延长线在横轴上的截距；H i 称为感光板的惰延量，惰延量的倒数决定了感光板的灵敏度．展度――乳剂特性曲线所在横轴上的投影b 称为感光板的展度，它决定了在定量分析时用这种感光板能分析含量的线性范围的大小．雾翳黑度――乳剂特性曲线曲线下部与纵轴相交的黑度S 0，称为雾翳黑度。
8.光谱分析仪由哪几部分组成，各部分的主要功能是什么？ 解：光谱分析仪由光源、分光仪和检测器三部分组成．光源――提供能量，使物质蒸发和激发．(要求：具有高的灵敏度和好的稳定性) 分光仪――把复合光分解为单色光，即起分光作用． 检测器――进行光谱信号检测，常用检测方法有摄谱法和光电法．摄谱法是用感光板记录光谱信号，光电法是用光电倍增管等元件检测光信号．9.常用光源有哪几种，它们各有什么特点，在实际工作中应怎样正确选择。
答：火焰、直流电弧、交流电弧、高压电容火花、电感耦合等离子体炬光源. 火焰：最简单的激发光源，至今仍被广泛用于激发电位较低的元素． 直流电弧光源特点：(1)阳极斑点，使电极头温度高，有利于试样蒸发，龙适用于难挥发元素；(2)阴极层效应增强微量元素的谱线强度，提高测定灵敏度；(3)弧焰温度较低，激发能力较差，不利于激发电离电位高的元素；(4)弧光游移不定，分析结果的再现性差；(5)弧层较厚，容易产生自吸现象，不适合于高含量定量分析．直流电弧主要用于矿物和纯物质中痕量杂质的定性、定量分析，不宜用于高含量定量分析和金属、合金分析．交流电弧光源特点：(1)弧焰温度比直流电弧稍高，有利于元素的激发；(2)电极头温度比直流电弧低，不利于难挥发元素的蒸发；(3)电弧放电稳定，分析结果再现性好；(4)弧层稍厚，也易产生自吸现象．交流电弧光源适用于金属、合金定性、定量分析．高压电容火花光源特点：(1)电极瞬间温度很高，激发能量大，可激发电离电位高的元素；(2)电极头温度低，不利于元素的蒸发；(3)稳定性好，再现性好；(4)自吸现象小，适用于高含量元素分析．电火花光源适用于低熔点金属、合金的分析，高含量元素的分析，难激发元素的分析．电等离子体源（ICP）的优点：(1)检出限低，可达10-3~10-4µg·g-1；(2)精密度高，可达≤1%；(3)基体和第三元素影响小，准确度高；(4)工作曲线线性范围宽，可达4~5个数量级；(5)光谱背景一般较小，多元素同时测定．电感耦合等离子体焰光源(ICP)是原子发射光谱分析理想的激发光源．ICP原子发射光谱分析(ICP-AES)的应用十分广泛，并已成为当今环境科学、材料科学及生命科学等重要领域中各种材料的元素分析的有效方法之一．另外，ICP与其他分析技术的联用也引人注目．比如，ICP为原子化器与原子吸收、原子荧光分析联用(ICP-AAS或ICP-AFS)，ICP为离子源与质谱联用(ICP-MS)和ICP-AES为检测器与色谱(气相、液相)联用等．是分析液体试样的最佳光源。