等离子体原子发射光谱分析
电感耦合等离子体原子发射光谱分析-2

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但超声雾化器也有缺点: 换能器易受试液中酸、碱的腐蚀。 稳定性不如气动雾化器好,测定精度略差。 记忆效应严重,清洗时间较长,连续、自动进样 较困难。 结构复杂,制造和维修成本较高。 4.1.2.3 氢化物发生装置 只要在测定前与某些试 剂发生化学反应生成气体,并被载气带走的元素都 可用这种方式进样。能生成氢化物的元素主要有 As,Bi,Ge,Pb,Sb,Se,Sn,Tb,Zn,Cd,Hg等十一种元素 。
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水平观测窗口
尾焰切割
垂直观测 窗口
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感耦等离子体原子发射光谱分析
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感耦等离子体原子发射光谱分析
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4.2分光系统
4.2.1光栅的闪耀特性 光栅的闪耀特性是指光栅的闪耀波长和集光效率。 光栅的闪耀波长是指衍射光能量最大的波长b。衍 射光能量集中在以b为中心的波长范围内。这是发 射光栅的闪耀作用。普通光栅(理想光栅)的最大弱 点就是光强最强处为零级衍射(即没有衍射光程差) ,然后很快以正负一级衍射、二级衍射依次减弱, 光能量被分散到各个衍射光斑上,以至于在刚出现 光栅时人们还难以接受。但如果对光栅刻痕进行某 种控制,就可以使衍射光强集中于某一角度范围内 ,也就是说,从某一角度观察光栅时,可以看到光
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在结构上,超声雾化器无毛细管,不会堵塞。 可产生高密度的气溶胶,且比气动雾化器的雾 粒更细更均匀。实践证明,超声雾化器的雾化 效率可达70 %以上。 在结构 上,超声 雾化器无 毛细管, 不会堵塞。
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感耦等离子体原子发射光谱分析
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电感耦合等离子体原子发射光谱分析

电感耦合等离子体原子发射光谱分析简介
ICP-AES基本原理
利用电感耦合等离子体作为激发光源,使样 品中的原子或离子被激发并发射出特征光谱 ,通过对光谱的分析确定元素的种类和含量 。
ICP-AES仪器组成
仪器操作与实验过程
仪器准备
检查仪器状态,确保各 部件正常运行。开启仪 器,进行预热和校准。
样品引入
将制备好的样品引入等 离子体焰炬中,注意控
制引入速度和量。
光谱采集
设置合适的观测参数, 如波长范围、扫描速度
等,采集光谱信号。
数据处理与分析
对采集的光谱信号进行背景 校正、干扰元素校正等处理
,得到准确的分析结果。
生物医学材料研究
ICP-AES可分析生物医学材料(如生物陶瓷、生物降解塑料等)中的 元素组成和含量,为材料设计和性能优化提供数据支持。
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光谱仪
包括光栅或棱镜分光系统、光电 倍增管或固态检测器等,用于分 散和检测发射出的特征光谱。
工作气体
通常使用氩气作为工作气体, 用于维持等离子体的稳定性和 激发样品中的原子或离子。
环境条件
需要保持实验室的清洁、干燥和恒 温等环境条件,以确保仪器设备的
正常运行和实验结果的准确性。
样品前处理技术
样品消解
电感耦合等离子体原子发射光谱分 析
contents
目录
• 引言 • 实验原理与技术 • 实验方法与步骤 • 结果分析与讨论 • 应用领域与案例
01 引言
背景与意义
电感耦合等离子体原子发射光谱分析(ICP-AES)是一种广泛应用于元素分析的技 术。
等离子的光谱检测

等离子的光谱检测
等离子体发射光谱分析是一种基于原子发射光谱的分析方法,通过研究物质中气态原子在激发态返回基态时发射的特征辐射能,来确定物质的化学组成。
等离子体发射光谱仪(ICP-OES)是用于进行这种分析的仪器。
以下是等离子体光谱检测的详细步骤:
1. 标准溶液配制:精确配制待测元素的标准溶液,通常分为
2.0、5.0、10.0、20.0ug/ml 等不同浓度。
2. 样品溶液制备:精确称取待测试样 2.0g,放入 100ml 烧杯中溶解,完全溶解后转移至 100ml 容量瓶中定容,即得到测试样品。
3. 建立分析方法:根据实验需求,设定等离子体发射光谱仪的分析参数,如灯光功率、观测高度、气体流量等。
4. 光谱检测:将待测样品引入等离子体光源中,通过高温激发(炎炬温度达到 10000 摄氏度,样品区温度超过 6000 摄氏度),使原子处于激发态。
当原子返回基态时,会发射出特征谱线。
通过检测这些谱线,可以分析出样品中元素的种类和含量。
5. 数据处理:通过谱线匹配和定量分析方法,如标准曲线法、最小二乘法等,计算出样品中各元素的浓度。
6. 结果报告:根据分析结果,撰写分析报告,包括元素种类、浓度、检测限等信息。
等离子体发射光谱检测具有灵敏度高、检出限低(ppb 级)、动态线性范围宽、多元素同时分析等优点,广泛应用于金属材料、化工、
环境监测等行业。
等离子体-原子发射光谱分析

自吸:由弧焰中心发射出来的辐射光,被外围 的基态原子所吸收,从而降低了谱线的强度。 此现象叫自吸。
自蚀:自吸严重时,中心部分的谱线 这个现象叫自蚀 。
将被吸收
很多,从而使原来的一条谱线分裂成两条谱线,
2. 定性方法 标准试样光谱比较法
铁光谱比较法:最常用的方法,以铁谱作为标准(波长标尺)。
I1 = a1 c1b1
I2 = a2 c2b2 相对强度 R = I1/I2 = A c1b1
lgR=b1lgc+lgA
A为其他三项合并后的常数项,内标法定量的基本关系式。
内标元素及内标线的选择原则: 内标元素 1)外加内标元素在分析试样品中应不存在或含量极微;如样 品基体元素的含量较稳时,亦可用该基体元素作内标。 2)内标元素与待测元素应有相近的特性(蒸发特性)。 3)同族元素,具相近的电离能。 内标线 1)激发能应尽量相近的分析线对,不可选一离子线和一原 子线作为分析线对(温度T对两种线的强度影响相反); 2)所选线对的波长及强度接近; 3)无自吸现象且不受其它元素干扰;
六、 原子发射光谱分析法特点与应用
1. 特点 优点: (1)可多元素同时检测 (2)分析速度快
(3)选择性高
(4)检出限较低 10~0.1gg-1(一般光源);ngg-1(ICP) (5)准确度较高 相对误差 5%~10% (一般光源); <1% (ICP)
缺点:影响谱线强度的因素较多;含量(浓度)较大时,准
几个概念 激发电位(或激发能):原子由基态跃迁到激发态时 所需要的能量 。 电离:当外加的能量足够大时,原子中的电子脱离原子 核的束缚力,使原子成为离子,这种过程称为电离。 一级电离电位:原子失去一个电子成为离子时所需要的 能量称为一级电离电位。
等离子体-原子发射光谱总结

2、谱线呈现法
谱线强度与元素的含量有关。元素含量低时,
仅出现少数灵敏线,随元素含量增加,谱线随之出 现。可编成一张谱线出现与含量关系表,依此估计 试样中该元素的大致含量。
例如,铅的光谱 Pb含量(%) 谱线λ(nm) 0.001 0.003 0.01 0.1 1.0 3 10 283.3069清晰可见,261.4178和280.200很弱 283.306、261.4178增强,280.200清晰 上述谱线增强,另增266.317和278.332,但 不太明显。 上述谱线增强,无新谱线出现 上述谱线增强,214.095、244.383、244.62出 现,241.77模糊 上述谱线增强,出现322.05、233.242模糊可见 上述谱线增强,242.664和239.960模糊可见
特征谱线检验,称其为分析线。一般是灵敏线或最后线。
自吸:由弧焰中心发射出来的辐射光,被外围 的基态原子所吸收,从而降低了谱线的强度。 此现象叫自吸。
自蚀:自吸严重时,中心部分的谱线 这个现象叫自蚀 。
将被吸收
很多,从而使原来的一条谱线分裂成两条谱线,
2. 定性方法 标准试样光谱比较法
铁光谱比较法:最常用的方法,以铁谱作为标准(波长标尺)。
将上式取对数,得:
lgI=lga+blgc 谱线强度的对数与被测元素浓度的对数具有线性关系。
2. 内标法基本关系式
影响谱线强度因素较多,直接测定谱线绝对强度计算难以 获得准确结果,实际工作多采用内标法(相对强度法)。 在被测元素的光谱中选择一条作为分析线 ( 强度 I1) ,再选 择内标物的一条谱线(强度I2),组成分析线对。则:
第五章 等离子体-原子发射光谱
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原子发射光谱分析法
电感耦合等离子体原子发射光谱法

电感耦合等离子体原子发射光谱法电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)是以等离子体为激发光源的原子发射光谱分析方法,可进行多元素的同时测定。
样品由载气(氩气)引入雾化系统进行雾化后,以气溶胶形式进入等离子体的轴向通道,在高温和惰性气氛中被充分蒸发、原子化、电离和激发,发射出所含元素的特征谱线。
根据特征谱线的存在与否,鉴别样品中是否含有某种元素(定性分析);根据特征谱线强度确定样品中相应元素的含量(定量分析)。
本法适用于各类药品中从痕量到常量的元素分析,尤其是矿物类中药、营养补充剂等药品中的元素定性定量测定。
1、对仪器的一般要求电感耦合等离子体原子发射光谱仪由样品引入系统、电感耦合等离子体(ICP)光源、分光系统、检测系统等构成,另有计算机控制及数据处理系统,冷却系统、气体控制系统等。
样品引入系统按样品状态不同可以分为以液体、气体或固体进样,通常采用液体进样方式。
样品引入系统由两个主要部分组成:样品提升部分和雾化部分。
样品提升部分一般为蠕动泵,也可使用自提升雾化器。
要求蠕动泵转速稳定,泵管弹性良好,使样品溶液匀速地泵入,废液顺畅地排出。
雾化部分包括雾化器和雾化室。
样品以泵入方式或自提升方式进入雾化器后,在载气作用下形成小雾滴并进入雾化室,大雾滴碰到雾化室壁后被排除,只有小雾滴可进入等离子体源。
要求雾化器雾化效率高,雾化稳定性高,记忆效应小,耐腐蚀;雾化室应保持稳定的低温环境,并需经常清洗。
常用的溶液型雾化器有同心雾化器、交叉型雾化器等;常见的雾化室有双通路型和旋流型。
实际应用中宜根据样品基质,待测元素,灵敏度等因素选择合适的雾化器和雾化室。
电感耦合等离子体(ICP)光源电感耦合等离子体光源的“点燃”,需具备持续稳定的高纯氩气流,炬管、感应圈、高频发生器,冷却系统等条件。
样品气溶胶被引入等离子体源后,在6,000K~10,000K的高温下,发生去溶剂、蒸发、离解、激发、电离、发射谱线。
根据光路采光方向,可分为水平观察ICP源和垂直观察ICP源;双向观察ICP 光源可实现垂直/水平双向观察。
等离子体发射光谱法

等离子体发射光谱法等离子体发射光谱法,又称原子发射光谱法,是一种广泛应用的光谱分析技术。
它基于原子或分子内部能态的电子跃迁过程,利用激发能将样品中原子或分子中的电子激发到高电子能态,再由高电子能态跃迁到低电子能态时所释放的光能进行分析。
该技术具有高分辨率、灵敏度高、适用范围广、无需前处理等优点,广泛应用于材料检测、环境监测、医学诊断等领域。
等离子体发射光谱分析主要分为电弧放电、射频感应等离子体、电感耦合等离子体(ICP)发射光谱法。
电弧放电法是最早应用的等离子体发射光谱法之一。
该方法将样品放置在一对电极间,通过电弧放电的方式激发样品原子,利用分析样品所产生的光谱来确定其中元素的存在和含量。
该方法简便易行,但存在容易形成烟雾、易污染仪器的缺点。
射频感应等离子体法是一种非接触式等离子体发射光谱法,它通过射频电磁场在样品中产生等离子体,使样品原子或分子激发并发射光谱信号。
该方法具有射频感应器简单、样品可以传送等优点,但对于高浓度盐类或有机物质等强吸收样品存在分析复杂度较高的缺点。
电感耦合等离子体发射光谱法是目前广泛应用的一种光谱分析技术,该方法使用射频辐射场激励样品,将样品原子或分子离子化,形成等离子体,由此提供较高的分辨率和灵敏度,同时可以扩展到更广泛的化学元素范围,并具有较低的背景信号和较高的重现性等优点。
ICP还可以与质谱仪结合,形成ICP-MS系统,进一步提高检测的极限和精度。
在等离子体发射光谱分析中,还经常使用样品前处理技术来提高检测结果的准确性。
如氧化、还原、燃烧、溶解、虑滤等处理方法,以及结合色谱和电化学分析等技术。
等离子体发射光谱法是一种重要的光谱分析技术,具有广泛应用的前景,在工业检测、环境检测、医药等行业的研究中发挥着重要作用。
在环境监测领域,等离子体发射光谱法可以用于测定地下水、土壤和大气中各种元素的含量,以评估环境污染状况。
利用ICP-OES测定土壤中的重金属含量,可以确定污染源和污染程度,为环境治理决策提供了有力的数据支持。
材料科学研究-电感耦合等离子体原子发射光谱

一、电感耦合等离子体原子发射光谱
H
He
Li Be
ICP能分析的元素
B C N O F Ne
Na Mg
Al Si P S Cl Ar
K Ca Sc Ti V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Ga Ge As Se Br Kr
Rb Sr Y Zr Nb Me I Xe
材料研究方法
电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)
课程内容
一 电感耦合等离子体原子发射光谱
二
应用实例
一、电感耦合等离子体原子发射光谱
原子发射光谱分析(Atomic Emission Spectrometry, AES)是光谱分析技术中发展最早的一种方 法,在建立原子结构理论的过程中,提供了大量的最直接的数据。其原理是利用物质在热激发或电 激发下,由基态跃迁到激发态,在返回基态时每种元素的原子或离子发射特征光谱(线状光谱)来 判断物质的组成,而进行元素的定性与定量分析的。
Cs Ba L Hf Ta W Re Os Ir Pt Au Hg Tl Pb Bi Po At Rn
Fr Ra A
L La Ce Pr Nd Pm Sm Eu Gd Tb Dy Ho Er Tm Yb Lu
A
Ac Th Pa
U
Np Pu
A m
C m
Bk
Cf
Es
Fm
M d
No
Lr
二、应用实例
一、电感耦合等离子体原子发射光谱
电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES):是以电感耦合等离子矩为激发光源的光谱分析方法, 具有准确度高和精密度高、检出限低、测定快速、线性范围宽、可同时测定多种元素等优点,国外已 广泛用于环境样品及岩石、矿物、金属等样品中数十种元素的测定。
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为什么选铁谱? (1)谱线多:在210~660nm范围内有约4600条谱线; (2)谱线间距离分配均匀:容易对比,适用面广; (3)定位准确:已准确测量了铁谱每一条谱线的波长。 标准谱图:将其他元素的分析线标记在铁谱上,铁谱起 到标尺的作用。 谱线检查:将试样与纯铁在完全相同条件下摄谱,将两谱片 在映谱器(放大器)上对齐、放大20倍,检查待测元素的分析 线是否存在,并与标准谱图对比确定。可同时进行多元素测 定。
例如,铅的光谱
Pb含量(%) 谱线λ(nm)
0.001
283.3069清晰可见,261.4178和280.200很弱
0.003
283.306、261.4178增强,280.200清晰
0.01
上述谱线增强,另增266.317和278.332,但
不太明显。
0.1
上述谱线增强,无新谱线出现
1.0
上述谱线增强,214.095、244.383、244.62出
四、光谱半定量分析
测量试样中元素的大致含量、浓度范围。 应用:钢材、合金等的分类、矿石品位分级等大批 量试样的快速测定。 方法:谱线呈现法、谱线强度比较法、均称线对法。
1、谱线强度比较法
采用摄谱法中的比较黑度法,配制一个基体与试样组成 近似的被测元素的标准系列(如,1%,0.1%,0.01%, 0.001%)。在相同条件下,在同一块感光板上标准系列与 试样并列摄谱,然后在映谱仪上用目视法直接比较被测试样 与标样光谱中分析线黑度,若黑度相等,样品中欲测元素的 含量近似等于该标准样品中该元素的含量。
例如,分析矿石中的铅,即找出试样中灵敏线283.3nm, 再以标准系列中的铅283.3nm线相比较,如果试样中的铅线 的黑度介于0.01% ~ 0.001%之间,并接近于0.01%,则可表 示为0.0法
谱线强度与元素的含量有关。元素含量低时, 仅出现少数灵敏线,随元素含量增加,谱线随之出 现。可编成一张谱线出现与含量关系表,依此估计 试样中该元素的大致含量。
第五章 等离子体-原子发射光谱
1 原子发射光谱分析法 2 等离子体发射光谱分析法 3 ICP-AES仪器 4 ICP-AES应用
第一节 原子发射光谱分析法
(Atomic Emissive Spectrometry,AES) 一、原子发射光谱的原理 在正常状态下,元素处于基态,元素在受到热(火焰) 或电(电火花)激发时,由基态跃迁到激发态,返回到基态 时,发射出特征光谱(线状光谱)。
式中:E2为终止能级的能量; E1为起始能级的能量; h为普朗克常数(6.626×10-34J·s);
λ为谱线的波长; ν为谱线的频率;
c为光速(3×1010cm/s)
发射光谱分析的过程
1.蒸发、原子化和激发。 2.分光,按波长顺序记录在感光板上。 3.定性或定量分析。
二、原子发射光谱分析仪器 原子发射光谱仪通常由三部分构成:光源、分光、检测。
现,241.77模糊
3
上述谱线增强,出现322.05、233.242模糊可见
10
上述谱线增强,242.664和239.960模糊可见
30
上述谱线增强,311.890和269.750出现
3.均称线对法
以测定低合金钢中的钒为例。合金钢中,铁为主要成分,
其谱线强度变化不大,可认为恒定。钒的谱线强度与铁有如
自吸:由弧焰中心发射出来的辐射光,被外围 的基态原子所吸收,从而降低了谱线的强度。 此现象叫自吸。
自蚀:自吸严重时,中心部分的谱线 将被吸收 很多,从而使原来的一条谱线分裂成两条谱线, 这个现象叫自蚀 。
2. 定性方法 标准试样光谱比较法 铁光谱比较法:最常用的方法,以铁谱作为标准(波长标尺)。
原子的共振线与离子的电离线
• 主共振线:具有最低激发电位的谱线叫主共振线。主 共振线一般是由最低激发态回到基态时发射的谱线。
• 原子线:原子外层电子的跃迁所发射的谱线,以I表示, 如Mg Ⅰ285.21nm为原子线。
• 离子线:离子的外层电子跃迁发射的谱线。以II,III, IV等表示。如MgⅡ280.27nm为一次电离离子线。
热能、电能
基态元素M
E
激发态M*
特征辐射
几个概念
激发电位(或激发能):原子由基态跃迁到激发态时 所需要的能量 。 电离:当外加的能量足够大时,原子中的电子脱离原子 核的束缚力,使原子成为离子,这种过程称为电离。 一级电离电位:原子失去一个电子成为离子时所需要的 能量称为一级电离电位。 离子的激发电位:离子中的外层电子也能被激发,其所 需的能量即为相应离子的激发电位。
检测系统:
常用的检测记录光谱的方法 摄谱法:用来测量感光板上所记录的谱线黑度。测微光 度计(黑度计)主要用于光谱定量分析,光谱投影仪 (映谱仪), 用于定性和半定量分析。 光电直读法:利用光电倍增管、阵列检测器将光强度转 换成电信号来检测谱线强度的方法。
三、光谱定性分析 定性依据:元素不同→电子结构不同→光谱不同→特征光谱 1. 元素的分析线、最后线、灵敏线 共振线:由激发态直接回到基态所产生的谱线,第一共振线 通常也是最灵敏线、最后线。 灵敏线:最易激发的能级所产生的谱线,每种元素都有一条 或几条谱线最强的线,即灵敏线,多是一些共振线。 最后线:浓度逐渐减小,谱线强度减小,最后消失的谱线。 分析线:复杂元素的谱线可能多至数千条,只选择其中几条 特征谱线检验,称其为分析线。一般是灵敏线或最后线。
下关系:
钒含量(%)
钒谱线强度与铁谱线强度的关系
0.2
V438.997=Fe437.593nm
0.3
V439.523=Fe437.593nm
0.4
V437.924=Fe437.593nm
0.6
V439.523>Fe437.593nm
这些线都是均称线对,即激发电位接近。用目视观察既可
光源
作用:提供试样的蒸发、原子化和激发所需能量; 要求:有较高的灵敏度,稳定性和再现性强,背景低, 干扰少,操作简便。 常用的光源:直流电弧、交流电弧、电火花及电 感耦合高频等离子体。
分光系统
作用:将原子发射出的辐射分光后观察其光谱。 按接受光谱方式分:看谱法、摄谱法、光电法。 按仪器分光系统分:棱镜光谱仪、光栅光谱仪。