2006年度特种设备无损检测UTⅢ级专业理论模拟题(闭卷)
{设备管理}某年特种设备无损检测Ⅲ级专业应用知识模拟题
{设备管理}某年特种设备无损检测Ⅲ级专业应用知识模拟题一.是非题（正确划“O”，错误划“×”，每题2分，共30分）1.JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定：当采用未列入JB/T4730规定的检测方法对金属结构件进行检测时，使用该技术进行检测的单位应向全国压力容器标准化技术委员会提交有关技术资料，经评审形成标准案例。
（×）2.JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定：承压设备的制造、安装和在用检验中，超声波检测的检测时机及抽检率的选择等应按相关法规、标准及有关技术文件的规定。
（×）3.JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定：系统校正应在标准试块上进行，校准中应使探头主声束垂直对准反射体的反射面，以获得稳定和最大的反射信号。
（O）4.JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定：对厚600mm锻件超声波探伤，大平底B1和B2回波高分别为满幅的80%和30%，则其材质衰减系数不应考虑修正。
（O）5.根据JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定:对焊缝进行C级检测时，若斜探头扫查母材区用直探头检测缺陷波高比无缺陷处第二次底波低10dB,则应在工件表面作出标记，并予以记录。
（O）6.对δ=16mm的铝焊缝进行检测，发现缺陷A波高为φ2mm-10dB,缺陷指示长度为8mm,缺陷B波高为φ2mm-8dB，指示长度为12mm,该两缺陷在一直线上，其间距为6mm,则按JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定评定，该焊缝中缺陷指示长度为20mm,应评为Ⅲ级。
（×）7.对φ114×10mm高压无缝钢管进行横波检测，检测灵敏度按JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定调节，检测中发现一缺陷波高等于人工缺陷的基准回波高度，则该钢管为不合格。
（O）8.根据JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定，对焊缝超声波探伤缺陷类型的识别就是确定缺陷的实际性质。
2005年度特种设备无损检测试卷
2005年度特种设备无损检测UT专业Ⅲ级人员理论模拟试卷（闭卷）一.是非题（正确划“0”，错误划“X”，每题2分共36分）1.探头晶片接受超声波时产生受迫振动和阻尼振动，符合机械能守恒。
（X）2.薄板上下表面作振动相位相反的椭圆形振动，中心质点作纵向振动的波称S波，可同时检测板表面和板中心的缺陷。
（O）3.由于信噪比高，衰减小的特点，采用K1纵波斜探头可以有效检测奥氏体不锈钢焊缝单面焊根部未焊透。
（X）4.金属工件的晶粒在-10℃~30℃范围内一般是不变的，故在这一温度范围内，对同一种材质的工件，衰减系数也不变。
（X）5.探测带中心孔的轴类锻钢件时，如果轴类锻件外径不变，则中心孔直径增加时，低波将升高。
（O）6.利用聚焦探头检测较厚工件时，为了获得较大焦距且聚焦效果较好的聚焦探头，往往采用直径较小的晶片。
（X）7.增大探伤发射强度可以提高探伤灵敏度，因此实际探伤时，应使发射强度置最大位置。
（X）8.利用双晶探头探测近表面缺陷时，探测深度越深，则入射角度就越小。
（O）9.探头的回收频率常用频谱分析仪测试，也可用示波器测试，实际探伤时也可用横孔试块测试。
（X）10.探头晶片的机械品质因子Qm大，发射强度大，始脉冲宽度大，始脉冲宽度大小将影响盲区的大小。
（O）11.移动探头测得的缺陷显示长度总是小于或等于缺陷的实际长度。
（X）12.利用当量法测得的缺陷当量总是大于或等于缺陷的实际尺寸。
（X）13.当量计算法不需要任何试块。
（X）14.工件中存在压缩应力时，如果应力方向和声波传播方向一致，将使声速增加。
（O）15.板波在薄板中传播时，遇到端部或缺陷或表面油污等均会产生反射并产生波形转换。
(O)16.大口径管周向探伤时，为了实现良好的耦合，常将探头修磨成与管材曲率半径相同的曲面，此时探头折射角将增大。
(X) 17.小径管对接焊缝超声波检测时，发现用二次波检测到缺陷，且位于探头一侧焊缝区，在探头另一侧探测不到，则此缺陷可判为未熔合。
2005年度特种设备无损检测试卷
2005年度特种设备无损检测UT专业Ⅲ级人员理论模拟试卷（闭卷）一.是非题（正确划“0”，错误划“X”，每题2分共36分）1.探头晶片接受超声波时产生受迫振动和阻尼振动，符合机械能守恒。
（X）2.薄板上下表面作振动相位相反的椭圆形振动，中心质点作纵向振动的波称S波，可同时检测板表面和板中心的缺陷。
（O）3.由于信噪比高，衰减小的特点，采用K1纵波斜探头可以有效检测奥氏体不锈钢焊缝单面焊根部未焊透。
（X）4.金属工件的晶粒在-10℃~30℃范围内一般是不变的，故在这一温度范围内，对同一种材质的工件，衰减系数也不变。
（X）5.探测带中心孔的轴类锻钢件时，如果轴类锻件外径不变，则中心孔直径增加时，低波将升高。
（O）6.利用聚焦探头检测较厚工件时，为了获得较大焦距且聚焦效果较好的聚焦探头，往往采用直径较小的晶片。
（X）7.增大探伤发射强度可以提高探伤灵敏度，因此实际探伤时，应使发射强度置最大位置。
（X）8.利用双晶探头探测近表面缺陷时，探测深度越深，则入射角度就越小。
（O）9.探头的回收频率常用频谱分析仪测试，也可用示波器测试，实际探伤时也可用横孔试块测试。
（X）10.探头晶片的机械品质因子Qm大，发射强度大，始脉冲宽度大，始脉冲宽度大小将影响盲区的大小。
（O）11.移动探头测得的缺陷显示长度总是小于或等于缺陷的实际长度。
（X）12.利用当量法测得的缺陷当量总是大于或等于缺陷的实际尺寸。
（X）13.当量计算法不需要任何试块。
（X）14.工件中存在压缩应力时，如果应力方向和声波传播方向一致，将使声速增加。
（O）15.板波在薄板中传播时，遇到端部或缺陷或表面油污等均会产生反射并产生波形转换。
(O)16.大口径管周向探伤时，为了实现良好的耦合，常将探头修磨成与管材曲率半径相同的曲面，此时探头折射角将增大。
(X) 17.小径管对接焊缝超声波检测时，发现用二次波检测到缺陷，且位于探头一侧焊缝区，在探头另一侧探测不到，则此缺陷可判为未熔合。
2007年度特种设备无损检测UT专业III级人员理论补考模拟题(闭卷)
2007年度特种设备无损检测UT专业Ⅲ级人员理论补考模拟卷（闭卷）一.是非题（在括号内正确的划“O”，错误的划“×”，每题2分，共40分）1.透声斜楔的作用是实现波形转换，使被探工件中只存在折射横波。
（×）2. 短横孔回波声压与短横孔的长度成正比，与短横孔直径的平方根成正比，与距离的平方成反比。
（O）3. 超声波在介质中传播时，单位体积元中动能和势能同时最大，同时为零，总能量周期性变化。
（O）4. 超声波探头发出的超声波可视为球面波，示波屏上各次底面反射波的高度之比近似符合1:1/3:1/5: （×）5. 直探头探测钢工件时，当工件中声程等于二分之一近场长度时，由于声束轴线声压为零，此处的缺陷将探测不到。
（×） 6. 斜探头入射点到假想波源的距离一般比入射点到实际波源的距离小。
（O）7. 利用声透镜制作的聚焦探头，要求声透镜中声速大于透声楔块中声速。
（O）8. 调节探伤仪抑制旋钮，会改变仪器的垂直线性和动态线性范围，抑制作用越大，仪器动态范围越大。
（×）9. 频率常数表示晶片的厚度与固有频率乘积，是一个常数，在数值上等于该晶片的声速。
（×）10. 用有机玻璃制作水浸聚焦探头进行水浸探伤时，当温度升高时，焦距变大。
（O）11. 测定斜探头K值或β时，反射体声程应大于近场区长度，原因是在近场区以外时，声压最高点不一定在声束轴线上。
（×）12. 端点峰值法测得的缺陷指示长度比端点6dB法测得的指示长度要小一些。
（O）13. 随着温度升高，斜探头K值将增大。
（O）14. 当从母材侧探测复合钢时，荧光屏上只有始波和另一个回波，该回波的声程与母材厚度相当，则说明该复合材料无脱接。
（×） 15. 在水浸法板波探伤中，要选择含横波成分较少波型，即板波的群速度应尽量接近纵波速度。
（O）16. 斜探头作圆周方向探测时，为了实现良好的声耦合，常将探头修磨成与圆周曲率半径相同的曲面，经修磨后，斜探头的K值将变大。
某年特种设备无损检测UTⅢ级专业应用知识模拟题
某年特种设备无损检测UTⅢ级专业应用知识模拟题一、选择题1.下列关于特种设备无损检测UTⅢ级的说法正确的是： A. UTⅢ级是无损检测中最高级别的技术要求 B. UTⅢ级是针对特种设备的无损检测要求 C.UTⅢ级是专门针对声波检测的要求 D. UTⅢ级是对X射线检测技术的要求2.特种设备无损检测UTⅢ级的主要应用范围是： A. 电力设备检测 B.压力容器检测 C. 建筑结构检测 D. 特种设备的制造与维修3.UTⅢ级无损检测方法中，以下哪种方法是应用最广泛的？ A. 声发射检测 B. 超声波检测 C. 磁性检测 D. X射线检测4.UTⅢ级无损检测方法中，以下哪种方法可以检测到材料内部的缺陷？A. 声发射检测B. 超声波检测C. 磁性检测D. X射线检测5.在特种设备无损检测UTⅢ级中，以下哪种检测方法适用于检测金属材料的厚度变化？ A. 声发射检测 B. 超声波检测 C. 磁性检测 D. X射线检测二、填空题6.特种设备无损检测UTⅢ级是对特种设备的检测要求。
7.声发射检测是一种通过检测材料传递的超声波信号来判断材料内部可能存在的缺陷的无损检测方法。
8.特种设备无损检测UTⅢ级的主要应用范围是特种设备的制造与维修。
9.超声波检测是一种利用超声波在材料中传播的特性来检测材料中存在的缺陷或损伤的无损检测方法。
10.磁性检测是一种利用材料的磁性建构来检测材料中存在的缺陷的无损检测方法。
三、简答题11.请简要介绍特种设备无损检测UTⅢ级的主要特点。
特种设备无损检测UTⅢ级是针对特种设备制造与维修过程中的无损检测要求制定的。
它要求检测人员具备较高的专业知识和技能，能够熟练运用各种无损检测方法，准确判断和评估特种设备中存在的缺陷和损伤。
该级别的无损检测要求更加严格，注重对设备的性能和安全性的检测，以确保特种设备在使用过程中的可靠性和稳定性。
12.请简要介绍声发射检测的原理及其主要应用。
声发射检测是一种通过检测材料传递的超声波信号来判断材料内部可能存在的缺陷的无损检测方法。
2008年度特种设备无损检测UT专业理论模拟题(闭卷)2008 10 21
2008年度特种设备无损检测UT专业Ⅲ级人员理论补考模拟题(闭卷)一、是非题（在括号内正确的划“○”错误的划“×”，每题2分，共40分）1. 液体不能承受拉伸应力，故不能传播横波。
（×）2. 超声波探头中压电晶体在发射和接受超声波时，同时作受迫振动和阻尼振动。
（○）3. 超声脉冲越短，频带越宽。
（○）4. 当聚焦探头的焦距F＜N（N为探头近场长度）时没有聚焦作用。
（×）5. 探头的脉冲宽度越窄，峰数越少，则探头阻尼效果越好，分辨力越好。
（○）6. 表面波可检测表面裂纹，由于裂纹对超声波有较强反射，实际采用表面波检测时，只需在一个方向检测。
（×）7. 利用端部最大回波法测量缺陷自身高度时，当缺陷上端点距表面距离小于5mm时误差较大。
（○）8. 超声检测脉冲重复频率的周期至少为超声波在工件中传播时间的3倍。
（○）9. 超声检测复合材料时，如底波高度≥5％满刻度，且有明显未结合缺陷反射波，缺陷反射波高≤5％，该部位为未接合面。
（×）10. 对无缝钢管进行水浸检测时，要求水层厚度大于钢管中横波全声程的二分之一。
（○）11. 为满足高分辨力检测要求和实现对较小尺寸缺陷检测的目的，对锻件中检测可将检测频率提高到10MHz。
（○）12. 对铸件超声波探伤进行透声性测试时，如测得的底波B1与B2的dB差愈小，则说明透声性愈差。
（×）13. 对奥氏体焊缝进行超声检测，要求检测信噪比＞10dB。
（○）14. 采用纵波双晶直探头从堆焊层侧检测堆焊层内缺陷和堆焊层层下再热裂纹。
（×）15. 当采用K＝1.5～2.0的斜探头检测单面焊根部未焊透时，回波较高。
（×）16. 盲区的大小与探伤仪的始脉冲宽度和阻塞时间有关。
（○）17. 超声波探伤时，向工件发射超声波的频率主要取决于探伤仪发生电路的频率。
（×）18. 厚度均为400mm的两个饼类锻件，表面粗糙度相同，材质衰减系数不同，采用深200mm的Φ2平底孔试块调节好Φ2平底孔检测灵敏度，在检测时发现均在深200mm处有缺陷波，缺陷波高均比基准波高的dB数相同，则材质衰减大的锻件中缺陷当量小。
06版 特种设备无损检测 RT-Ⅲ级人员专业理论补考试卷 (闭卷)(答案)
2006RT（闭卷）(参考答案)成绩：全国锅炉压力容器无损检测人员资格鉴定考核委员会2006年10月26日天津一、是非题（在括号内，正确的画“○”，错误的画“×”，每题1.5分，共计30分）1、α射线和β射线一般不用于工业无损检测，是因为这两种射线对人体辐射伤害太大。
（×）2、随着穿透厚度的增加，连续X射线的衰减系数逐渐减小，半价层逐渐增大。
（○）3、提高X射线机的工作频率，可以减轻X射线机的重量。
（○）4、直通道型γ射线机比“S”通道型γ射线机的机体轻，体积也小。
（○）5、对有余高的焊缝照相，应尽量选择较低能量的射线，以保证焊缝区域有较高的对比度。
（○）6、铺设γ射线机输源管时应注意弯曲半径不得过小，否则会导致其变形或折断。
（×）7、γ衰变总是伴随着α衰变或β衰变一起发生，因此在使用γ射线时，必须采取专门措施控制α射线或β射线带来的不利影响。
（×）8、只是在存在透照厚度差的情况下，才会有“边蚀散射”发生。
（○）9、黑度影响胶片梯度，进而影响胶片梯噪比。
（○）10、增大透照厚度宽容度最常用的办法是适当提高射线能量（×）11、对比度修正系数σ值与缺陷的截面形状有关，由于裂纹的截面形状与象质计金属丝不同，两者的σ值也不同。
（○）12、无论采用哪一种透照方式，一次透照长度都随着焦距的增大而增大。
（×）13、在暗室处理过程中，胶片在显影液中静止不动，则底片上将出现不均匀的黑色斑点。
（×）14、辐射损伤的随机性效应不存在剂量阈值，它的发生几率随着剂量的增加而增加。
（○）15、射线透照时选择过小的焦距，会使小裂纹漏检的可能性大大增加。
（×）16、数字平板直接成像技术与胶片或CR的处理过程不同，在两次照射期间，不必更换胶片或存储荧光板。
（○）17、照射量适用于描述不带电粒子与物质的相互作用，比释动能适用于描述带电粒子与物质的相互作用。
射线检测III级考试2006年闭卷
2006成绩：2006年6月16日北京全国特种设备无损检测人员资格考核委员会一、是非题（对着画“○”错者画“×”每题1.5分，共计30分）1．原子核的总质量总是大于它的组成部分的质量和。
（）2．γ衰变是放射性衰变的主要模式之一。
（）3．连续谱的最短波长λmin，不但与靶的材料有关，而且与外加管电压有关。
（）4．衰变常数λ反映了放射性物质的固有特性，λ值越大说明该物质越不稳定，衰变得越快。
（）5．对窄束单色X射线，衰减系数μ是一常量，而对多色宽束X射线，衰减系数μ是一变量。
（）6．放射性活度大的源其辐射的γ射线强度也必然大。
（）7．阳极罩的主要作用是吸收二次电子和部分散乱射线。
（）8．对锥靶周向X射线管一般采用旋转阳极自然冷却方式。
（）9．一般情况下，胶片感光速度越高，射线照相影像的颗粒性就越不明显。
（）10．定影液老化和水洗不彻底都会导致底片长期保存后出现泛黄的现象。
（）11．从非增感型胶片的特性曲线上可以看到曝光迟钝区、曝光不足区、曝光正常区，但无法看到曝光过度区。
（）12．胶片的感光速度与卤化银的颗粒度和射线的强度有关，与射线的能量无关。
（）13.当管电压较高时，增感系数随增感屏金属材料的原子序数的增大而减小。
（）14.当采用Ir192射线照像时，可以在工件和胶片暗盒之间加厚度为0.1mm左右的滤板，这样做的目的是过滤工件中产生的低能散射线。
（）15．当裂纹横向尺寸大大小于焦点尺寸时，裂纹截面的面积大小对其影像对比度有很大影响。
（）16．当使用X射线照相时，射线底片上各点的Ug值是不相同的。
（）17．几何修正系数σ值越小，意味着几何条件对底片上小缺陷影像对比度的影响越大。
（）18．主因对比度增大并不能使胶片梯噪比提高。
（）19．显影液的pH值不仅影响显影的速度而且还影响影像的颗粒度。
（）20．辐射防护中随机性效应是指发生几率与剂量无关而严重程度与剂量有关的辐射效应。
（）二、选择题（将唯一正确答案的序号填入括号内，每题2分，共计30分）1、X射线管的阳极特性是指（）A、X射线管的管电流与灯丝电流的关系B、X射线管的管电压与外接电压的关系C、X射线管的管电压与管电流的关系D、X射线管的管电流与灯丝温度的关系2、下面是关于瑞利散射的叙述，正确的是( )A、瑞利散射是康普顿散射在低能范围的特殊表现形式B、瑞利散射不仅改变光子的能量，也改变光子的运动方向C、瑞利散射发生的几率随原子序数的增大而减小D、瑞利散射发生的几率随光子能量的减小而急剧减小3、下面是关于宽容度的叙述，错误的是（）A、宽容度的大小与射线能量有关B、宽容度的大小与底片黑度范围有关C、宽容度的大小与胶片梯度有关D、宽容度的大小与底片信噪比有关4、胶片卤化银粒度一般不会影响（B）A、感光度B、对比度C、分辨率D、信噪比5、下面哪一条不是影响胶片对比度的重要因素?（）A、胶片的种类B、底片的黑度C、增感方式D、显影条件6、决定点状小缺陷影像对比度的最主要因素是（）A、小缺陷高度B、小缺陷截面积C、小缺陷体积D、以上都是7、胶片放入显影液之前，一般应在清水中预浸一下，这样做的主要目的是（）A、清除胶片表面的尘埃防止显影时划伤底片B、使胶片表面润湿，避免胶片表面有气泡造成显影不均匀C、可以避免干燥后的底片出现水迹D、以上都是8、对大厚度比试件透照时，采用的特殊技术措施一般包括( )A、适当提高管电压技术B、双胶片技术C、补偿技术D、以上都是9、下面关于颗粒性的叙述，错误的是（）A、颗粒性随感光速度的增大而增大B、颗粒性随射线能量的增大而减小C、颗粒性随曝光量的增大而减小D、颗粒性随底片黑度的增大而减小10、下面关于数字平板照相技术特点的叙述，错误的是（）A、数字平板照相所需曝光时间比胶片照相短B、数字平板照相的图象质量比胶片照相好C、数字平板照相的成本比胶片照相高D、数字平板照相受温度影响比胶片照相大11、下面是关于安放式接管管座焊缝射线照相技术要点的叙述，正确的是( )A、为获得最小Ug值，胶片的各个部位应尽量与焊缝紧贴B、为增大透照厚度宽容度，可采用双胶片照相技术C、可适当提高管电压，必要时从不同方向进行透照D、以上都是12、影响高能射线照相清晰度的主要因素是（）A、几何不清晰度B、固有不清晰度C、散射比D、以上都是13、某组织受到X射线的照射，如在30s内当量剂量的增量为0.8mSv,该组织的当量剂量率是（）A、2.7mSv·s－1B、0.27mSv·s－1C、0.027mSv·s－1D、0.0027mSv·s－114、W′与以下哪一因素无关？（）A、缺陷到胶片距离L2 B、焦点到缺陷距离L1C、缺陷宽度wD、焦点尺寸df15、为确保射线检测新技术、新工艺的可靠性，应采取的主要措施是（）A、必须采用高类别的胶片B、必须采用最佳的透照布置C、必须通过必要的工艺评定和鉴定D、以上都是三、问答题（每题5分，共计25分）1、什么叫连续X射线的有效能量？为什么连续X射线穿透物质后有效能量会增加？答：（1）如果某一单能射线的吸收系数与连续X射线在特定厚度范围内平均吸收系数相等，便可用此单能射线的能量来表示连续X射线的平均能量，称作有效能量。
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2006年度特种设备无损检测UTⅢ级专业理论模拟题（闭卷）一是非题（正确划“O”，错误划“×”，每题2分，共40分）1.两列频率相同，振动方向相反，位相差恒定或位相相同的波相遇时，在介质中会产生干涉现象。
（×）2.当超声波传播的固体介质中拉伸应力增大时，声速随应力增大而减小。
（O）3.声压的幅值与介质的密度、波速和频率的乘积成正比。
（O）4.对奥氏体不锈钢对接焊缝根部未熔合采用K1斜探头检测最合适。
（×）5.当缺陷声程X=N/2(N为探头晶片近场长度)时，由于此时主声束处声压为零，故无法检测。
（×）6.聚焦探头的焦点是一个聚焦区，焦柱长度与焦柱直径之比为常数，等于焦距与声源直径之比的4倍。
（O）7.机械品质因子Q m越小，则脉冲宽度越小，分辨率就越高。
（O）8.双晶直探头的探测区为表面下的菱形区，菱形区的中心离表面距离随入射角增大而增大。
（×）9.现有甲、乙两台超声波探伤仪，某一探头与甲组合灵敏度余量为52dB，与乙组合后的灵敏度余量为48dB，则甲探伤仪与该探头组合灵敏度比乙探伤仪与该探头组合灵敏度高。
（×）10.当耦合层厚度为耦合剂波长的四分之一时，透声效果差，耦合效果不好，反射波低。
（×）11.当被检测工件材质晶粒尺寸＞1/10波长时，由于超声散射会影响超声检测试验效果。
（O）12.钢焊缝中存在直径为φ3mm的两个缺陷，一个为气孔，一个为夹渣，用2.5MH Z横波斜探头检测，则该两缺陷的反射指向性基本相同。
（O）13.缺陷波总是位于底波之前。
（×）14.由于窄脉冲探头的脉冲宽度小，故纵向分辨率高。
（O）15.在固体材料中纵波速度大于横波速度，横波速度大于表面波速度。
（×）16.对管节点焊缝进行超声波探伤时，只要选择合适的探头K值，对该类焊缝各部位的缺陷均可检测出。
（×）17.用斜探头在翼板上对T型焊缝检测时，探头可在3600方向上任意探测，对T型焊缝中各个方向缺陷均能检测出来，故不必在腹板上检测。
（×）18.当斜探头垂直于焊缝，对整条插入式管座角焊缝进行100%超声检测时，如扫描线比例用CSK-ⅢA试块按深度1：1调节，则缺陷回波位置的显示值与实际值之差的最大值位于探头的探测方向与筒体轴线垂直方向处。
（O）19.当直探头在空心圆柱工件外圆探测时，其内孔反射回波随内孔直径增大而升高。
（×）20.对奥氏体对接焊缝进行检测，不能用反射波检测。
（O）二.单项选择题（将答案填写与括号内，每题2分，共30分）1.斜探头K值随温度升高而增大的原因：（A）A.有机玻璃斜锲中声速比工件材料中声速下降快。
B.有机玻璃斜锲与工件材料中声速按相同比例降低。
C.有机玻璃斜锲中声速比工件中声速增加快。
D.有机玻璃斜锲中声速比工件中声速增加慢。
2.爬波检测时，工件中第一波瓣幅度最大值所对应的折射角θ与入射角α、频率f和晶片直径D有关，为探测不同深度中缺陷一般用下列方式确定θ：（C）A.改变α获得不同值的θ。
B.固定α和f，改变晶片直径D。
C.固定α和D,改变频率f。
D.固定D，改变f〃α值。
3.下面关于声振动的叙述正确的是：（B）A.阻尼振动的振幅不断减少，周期却不断增大。
B.声波在工件中传播作振动，其振幅不断减少，周期却不断增大。
C.声波在工件中传播作阻尼振动，其振幅不断减少，周期不变。
D.声波在工件中传播作阻尼振动，其振幅和周期不断减少。
4.下面有关声阻抗的叙述正确的是：（B）A.声阻抗随应力增大而减少。
B.一般材料随温度升高，声阻抗降低。
C.声阻抗增加时，质点振动速度下降。
D.声学中定义介质的密度与波速的乘积为声阻抗。
5.圆柱形轴类锻件探伤出现游动信号是因为：（B）A.只有轴类锻件存在中心缺陷。
B.轴类锻件存在偏离中心的缺陷。
C.波束中心射至缺陷回波高、声程大。
D.灵敏度高时检测到周向缺陷。
6.为获得较高的频率，对探头晶片应满足下列要求：（B）A.K t应较大；B.N t应较大，ε应较小；C.Q m应较小；D.d33何g33应较大。
7.对复合板材进行超声波探伤，下列情况缺陷较易识别：（B）A.两种材料的声速相同或相近；B.两种材料的声阻抗相同或相近；C.两种材料的声速相差较大；D.两种材料的声阻抗相差较大。
8.板波的衰减与下列因素无关：（A）A.群速度B.相速度C.类型D.板表面清洁程度9.超声波在工件中传播时改变方向的原因有：（B）A.遇到声速有差异的异质界面或内应力。
B.遇到声阻抗有差异的异质界面或内应力。
C.遇到密度有差异的异质界面或内应力。
D.遇到散射线有差异的异质界面或缺陷。
10.用水浸聚焦探头探测小径管，应使探头焦点落在与声速轴线垂直的管中心线上，这是应为：（C）A.可获得纯横波探伤。
B.是水钢界面第二次回波位于管壁内外缺陷波之后，有利于判伤。
C.使管壁中横波声速基本成平行波速。
D.使管内壁反射波最高。
11.对铸钢件超声波探伤进行透声性测试的目的是：（C）A.为了调节检测灵敏度。
B.为了作距离-波幅曲线。
C.为了确定探伤适宜性。
D.为了进行耦合补偿。
12.奥氏体钢焊缝超声波探伤应选择：（B）A.纵波窄脉冲直探头。
B.纵波窄脉冲斜探头。
C.横波窄脉冲斜探头。
D.爬波窄脉冲斜探头。
13.铝合金焊缝的探伤特点为：（A）A.铝焊缝衰减系数较小，宜选用较高频率检测。
B.铝焊缝衰减系数较小，宜选用较低频率检测。
C.铝焊缝横波声速较小，宜选用K1探头检测。
D.铝焊缝纵波声速较大，宜选用大K值探头检测。
14.安放式管座角焊缝超声波探伤宜采用（B）A.斜探头在筒体外壁检测，直探头在管子外壁检测。
B.斜探头在管子内、外壁检测，直探头在筒体内壁检测。
C.斜探头在管子内壁检测，直探头在筒体外壁检测。
D.斜探头在筒体内壁检测，直探头在管子内壁检测。
15.工件表面粗糙，引起声波分叉的条件：（C）A.表面凹槽深度为λ/4。
B.表面凹槽深度为λ/4的奇数倍。
C.表面凹槽深度为λ/2。
D.表面凹槽深度为λ。
16.利用散射波法或衍射法对缺陷测高，下列叙述正确的是：（B）A.利用缺陷回波高度确定缺陷高度。
B.利用缺陷回波时间确定缺陷高度。
C.利用缺陷端部最大回波确定缺陷高度。
D.利用缺陷端部最大回波时间确定缺陷高度。
二.问答题（每题4分，共16分）1.板波探伤如何选择板波类型和如何调节灵敏度？答：①选择波型的原则：a.信噪比高，端面反射波幅高而清晰；b.衰减小，传播距离大；c.所激发的波型比较单一，没有其它类型的波；d.群速度快，使反射变型波位于主波之后，有利于识别缺陷。
②调节灵敏度方法：a.利用试块或工件端面反射波调节；b.利用试块上人工缺陷调节。
2.锻件探伤，常用什么方法测定材质衰减系数？影响测试精度因素有哪些？答：测试方法：常用无缺陷处大平底的第n次底波和第m次底波高的分贝差来测定材质的衰减系数，其计算式为：α=[(B n-B m)-6]/(m-n)T,式中：α—衰减系数dB/mm(单程)B n-B m—B n次底波与B m次底波高度衰减器读数之差dBT—工件检测厚度mm当T≥3N(N为探头近场长度)时，取n=1,m=2;T ＜3N 时，取n ≥2,m=2n影响测试精度因素：底面应平行于探测面，形状为大平底或大圆柱面，测试处工件内应无缺陷，应测试三次取平均值。
底面声波反射处应光滑洁净，确保声波100%反回。
3. 钢板探伤中有哪些情况可引起底波消失？答：表面氧化皮与钢板结合不好；近表面有大面积的缺陷；钢板存在疏松或密集小夹层等吸收性缺陷，且面积较大；钢板中有倾斜的大缺陷。
4. 对粗晶材料通常采用哪些对策提高检测效果？答：①降低检测频率；②采用纵波；③加大仪器发射功率；④采用宽频带窄脉冲探头；⑤采用聚焦探头或双晶探头；⑥采用高频探头。
四.计算题（共14分，第一题第二题每题5分，第三题4分）1. 用2.5PK 2斜探头探测板厚40mm 的在用压力容器钢焊缝。
在20℃时，由CSK-ⅢA 试块测得探头K 值为2.10，并将扫描线比例按深度1：1调节。
现场探测在用压力容器时壁温65℃，探头斜锲温度50℃，探测中发现焊缝中有一缺陷，其回波在扫描线上第6个出现，则该缺陷在焊缝中深度为多少？（设探头斜锲内声速变化引起仪器零点偏移不计，在20℃时，试块中横波声速为C S1=3230米/秒，在容器钢中横波声速为C S2=3180米/秒，斜探头有机玻璃中声速为C L1=2670米/秒，在用容器钢中声速随温度变化系数为-0.4米/摄氏度，有机玻璃中声速随温度变化系数为-4米/摄氏度）解：20℃时探头折射角β1=tg -12.1=64.5°则 探头入射角α=Sin -1[(C L1/ C S1)Sin β1]=Sin -1[(2670/3230)Sin64.5]°=48.27°有机玻璃中在50℃时声速C L2=2670-4×(50-20)=2550米/秒在用容器中65℃时声速 C S3=C S2-0.4×(65-20)=3180-0.4×(65-20)=3162米/秒现场探伤时在用容器中探头折射角β2为：β2=Sin -1[(C S3/C L2)Sin α]=Sin -1[(3160/2550)Sin48.27°]=67.65°（注：设探头入射角α不随温度变化而改变）现场探伤时探头K 值为K ’=tg -1β2=2.43探伤仪扫描线按K=2.1,深度1：1调节时第六格显示声程为：S=6×21K +=6×21.21+=14实际探伤时探头K 值为K ’=2.43，扫描线第6格显示深度为h ，其声程S ’=h ×2'1K +=h ×243.21+=2.63h因S=tCs 1,S ’=tCs 3,t 为缺陷回波所需时间，则S=S ’Cs 1/Cs 3,则得 h=63.2'S =63.2S ×13Cs Cs =3230316263.214⨯=5.21 则此缺陷由反射波探测到，缺陷实际深度h X 为：h X =2T-h=2×40-5.21×10=27.9mm2. 用2.5MH Z φ20mm 直探头探测外径φ1000mm ，内径φ150mm 锻钢件，材质衰减系数0.02dB/mm 钢中纵波声速为5900米/秒，问：a.如何用底波调节检测灵敏度？（要求检测灵敏度为φ2mm ）b. 在检测中发现一缺陷，回波高度为20dB,深度为300mm,求该缺陷的当量。
解：a:钢中波长λ=5.9/2.5=2.36mm,P B =R r P X2P φ2=P X ()r R -λπφ422 dB=20lg 2φP P B =20 lg ()22πφλr R - =20 lg ()2214.37550036.22⨯-⨯⨯50075=35.8dB 将底波调节基准波高再提高35.8dB 灵敏度。