第4节光电效应光电探测器的噪声和特性

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第4章光电探测器及其校正技术

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4.2 光电导器件 1. 光电导器件的基本参数
(1) 光敏器件的光特性光敏器件的光特性是表征光照下光敏器件的输出量，如电阻、电压或电流等量与入射辐射之间的关系； (2) 光敏器件的灵敏度灵敏度又称响应度。它表示器件将光辐射能转换为电能的能力。具体定义为：器件产生的输出电信号与引起该信号的输入光辐射通量之比。输出电信号由器件及偏置电路的特性决定，既可以是电流，也可以是电压，如电流表示的光灵敏度
3
4
(2) 内光电效应某些物质在光子作用下，使物质导电特性发生变化，这种现象叫做内光电效应。利用内光电效应材料制成的光电探测器主要是各种类型的光敏电阻。
5
(3) 障层光电效应
在不同材料的接触面上，由于它们电学特性不同而产生障层。
利用障层光电效应制成的光电探测器主要有各种类型的光电池和光电二极管、光电三极管等。
21
(5) 光电倍增管的不稳定性管子工作的不稳定性主要表现在以下三个方面: ①由于光谱响应随时间缓慢地不可逆地变化
②在几分钟或几小时内,由于可逆的疲劳所构成的漂移
③滞后作用造成阳极输出的不稳定 (6) 暗电流
在无光输入时，由阳极输出的电流叫做暗电流。暗电流的主要来源有热发射、漏电流、管内电子散射引起泡壳荧光反馈阴极引起的发射电流、残余气体电离和宇宙射线等。
31
(7)光敏器件的探测率D
该特性也是光敏器件探测极限水平的表示形式,它是噪声等效功率的倒数。 (8)光敏器件的归一化探测率D* 该特性表示单位面积的器件，在放大器带宽为1Hz条件下的探 1 1 测率 1 1 2 2 1 D* D A 2 f 2 ( NEP) A f 式中 A为器件光敏面的有效面积；∆f为所用放大器的带宽； (9)光敏器件的频率特性该特性表示器件惰性的大小。常以比探测率下降到1/2时，或信号电压下降到1/2^0.5时所对应的频率，叫做截止频率。指导我们选用探测器调制频率范围。

光电探测器噪声特性分析

件，能够在单个光电子脉冲下工作，也可以用于对光
子撞击光电阴极速率的测量。光电探测器输出信号
的真实性和稳定性是衡量其工作性能的重要指标ｌ。分析光电探测器输出信号噪声对提高器件工－５］
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
载流子统计数目有一定的随机涨落。单位时间内达到光敏表面的光子数和由它激励形成的光电子数是
一
生载流子流动的不连续性和随机性而形成载流子起伏变化引起的，统计过程服从泊松分布。散粒噪声
一
般包括以下三类：
收稿日期：２０ —０ —１０８４１基金项目：西安理工大学科技研究计划项目基金（０ — １０）１２０９８４作者简介：解光勇（８一）男，１２，硕士，９西安理工大学应用物理系教师，主要从事光电器件与技术研究。
为进一步研究光电探测器的噪声特征打下了一定的基础。关键词：光电探测器；噪声；涨落；噪声电流
Ｎｏｓｎｌｓｓｆｒｏｔｅｅｔｏｉｅｅｔｒｉｅａａｙｉｏｐｏｌｃｒｎｃｄｔｃｏ
Ⅺ ＥａｇｙｎＧｕｎ．ｏｇ
阴极的热离子发射（电流）管子里残留气体电离，暗，
内部的光反馈，外界磁场作用影响，以及由管子内部
材料的自发发射所引起的随机离子发射。因而，需
装置、精同步控制和高灵敏检测器等方面有着广泛的应用＿４。作为探测器件的光电器件具有高灵敏１】Ｉ
度、高实用性等优点一直倍受人们关注。例如：电光

光电探测器原理

光电探测器原理光电探测器是一种能够将光信号转换为电信号的器件，它在光通信、光测量、光学成像等领域有着广泛的应用。

光电探测器的原理是基于光电效应和半导体器件的特性，通过光的照射使半导体器件产生电荷载流子，从而实现光信号到电信号的转换。

本文将介绍光电探测器的工作原理、结构特点及应用领域。

光电探测器的工作原理主要基于光电效应，即当光线照射到半导体材料表面时，光子能量被半导体吸收，激发出电子和空穴对。

在外加电场的作用下，电子和空穴被分离，从而产生电流。

这种光电效应是光电探测器能够将光信号转换为电信号的基础。

另外，光电探测器还利用了半导体器件的PN结构，通过光的照射改变PN结的导电特性，从而实现对光信号的探测和转换。

光电探测器的结构特点主要包括光电转换元件、信号放大电路和输出接口。

光电转换元件是光电探测器的核心部件，它通常采用硅、锗、InGaAs等半导体材料制成，具有高灵敏度和快速响应的特点。

信号放大电路用于放大光电转换元件产生的微弱电信号，以提高信噪比和传输距离。

输出接口将放大后的电信号转换为可用的电压或电流信号，以便接入到其他电子设备中进行信号处理和传输。

光电探测器在光通信、光测量、光学成像等领域有着广泛的应用。

在光通信系统中，光电探测器用于接收光信号并转换为电信号，实现光信号的调制和解调。

在光测量领域，光电探测器可以用于测量光强、光功率和光谱等参数，实现对光信号的精确测量和分析。

在光学成像系统中，光电探测器可以将光信号转换为图像信号，实现对光学图像的采集和处理。

总之，光电探测器是一种能够将光信号转换为电信号的重要器件，它的工作原理基于光电效应和半导体器件的特性，具有灵敏度高、响应速度快的特点。

光电探测器在光通信、光测量、光学成像等领域有着广泛的应用前景，将在未来发挥越来越重要的作用。

光电探测器噪声和非线性特性的研究

光电探测器噪声和非线性特性的研究光电探测器噪声和非线性特性一直是光电领域中研究的热点问题。

噪声是影响光电探测器性能的关键因素之一，而非线性特性则影响探测器的响应精度和灵敏度。

本文将针对这两个问题展开讨论，并介绍目前的研究进展。

1. 光电探测器噪声的来源和分类光电探测器的噪声主要分为两类：热噪声和量子噪声。

热噪声是由于探测器本身的热运动和电阻产生的噪声，与工作温度有关；而量子噪声则是由于光子的自然涨落造成的噪声，与光子数有关。

除此之外，光电探测器在使用过程中还会受到其他外界因素的影响，比如电源噪声、电磁干扰等。

这些因素可能会导致探测器噪声的增加。

2. 光电探测器的非线性特性及其对性能影响光电探测器的非线性特性是指其输出信号与输入信号之间的非线性关系。

这种非线性关系可能会导致信号失真、误差积累等问题，从而影响探测器的响应精度和灵敏度。

非线性特性的产生原因主要是因为光电探测器的响应速度和输出信号随输入光信号大小变化。

当输入光信号很小时，其响应速度较快，输出信号也相应变大；当输入光信号变大时，响应速度变慢，输出信号也变得饱和或下降。

3. 光电探测器噪声和非线性特性对性能的影响和应对措施光电探测器的噪声和非线性特性都会影响其性能。

如果探测器的噪声太大，则会导致信噪比下降，从而影响探测器的灵敏度和分辨率。

对于这种情况，常用的解决方法是通过降低工作温度、优化设计、选择合适的前置放大器等手段来降低噪声。

对于非线性特性，影响探测器性能的主要是非线性失真和漂移。

非线性失真是指探测器输出信号和输入信号之间的非线性关系，导致信号失真；漂移则是指非线性特性在长时间使用后会发生的变化。

为解决这些问题，研究人员提出了不少方案，如优化探测器材料的结构和性能、采用背景校正技术、采用数字信号处理技术等。

这些方法可以提高探测器的响应精度和准确度，从而使其在各种光电应用中发挥更好的性能。

4. 光电探测器噪声和非线性特性的未来研究方向尽管光电探测器噪声和非线性特性已经得到了不少研究，但要解决这些问题仍然需要更多的研究。

光电探测器的性能测试与分析

光电探测器的性能测试与分析光电探测器是一种广泛应用于光学、光电子学、光电通信、生物医学等领域的基础元器件，具有灵敏度高、响应速度快、稳定性好、成本低等优点。

然而，光电探测器的性能测试与分析是确保其正常工作和优化设计的必要步骤。

本文将介绍光电探测器的性能测试与分析方法。

一、光电探测器的基本结构和工作原理光电探测器是一种将光信号转化为电信号的器件，其基本结构包括光敏元件、前置放大电路和输出电路。

光敏元件通常采用半导体材料，如硅、锗、InGaAs等，具有光电转换和放大作用。

前置放大电路主要起放大和滤波功能，能够放大光电信号，并去除其中的杂音和干扰。

输出电路则将放大的信号输出到外部测量仪器或其他电子设备中。

在工作原理上，光电探测器一般采用光电效应或击穿效应。

光电效应是指光子通过光敏元件后形成电子-空穴对，进而产生电流。

击穿效应则是指当光信号足够强时，光敏元件内的电荷载流子得以大量产生，从而使电流产生剧烈变化。

二、光电探测器的性能指标光电探测器的性能指标通常包括以下几个方面：1. 灵敏度：指单位光功率下探测器输出信号的大小，单位一般为安培/瓦特（A/W）。

2. 相应速度：指探测器对光信号的响应速度，单位一般为赫兹（Hz）或皮秒（ps）。

3. 噪音等效功率：指在没有光信号的情况下，探测器输出的随机噪声功率密度，单位一般为瓦特（W）或分贝（dBm）。

4. 动态范围：指探测器能够处理的最大信号与最小信号之间的比值，单位一般为分贝（dB）。

5. 波长响应范围：指探测器对光信号的波长响应区间，单位一般为纳米（nm）。

以上性能指标是评估光电探测器性能好坏的重要标准。

三、光电探测器的性能测试步骤对光电探测器进行性能测试是确保其正常工作和优化设计的必要步骤。

下面介绍典型光电探测器的性能测试步骤：1. 灵敏度测试：将探测器置于恒强光源下，通过测量输出电流和光功率计算灵敏度。

2. 噪音等效功率测试：将探测器置于黑暗环境下，测量输出电流，通过绘制功率谱密度曲线来计算噪声等效功率。

光电探测器的噪声

f
3.热噪声
1）产生原因 •热噪声是由耗散元件中电荷载流子的随机热运动引起的。任何一个处于热平衡条件下的电阻，即使没有外加电压，也都有一定量的噪声。 •AB 两极间的电阻为 R ，在绝对温度 T 时，体内的电子处于不断的热运动中，是一团毫无秩序可言的电子运动。 A B
S •从时间平均来说，这两种方向的电子数一定相等，不会有电流通过 AB 。但是如果考虑流过 S 面的电子数的均方偏差，这样在AB两端就应出现一电压涨落。
5. 温度噪声
1）产生原因热探测器通过热导G与处于恒定温度的周围环境交换热能。在无辐射存在时，尽管热探测器处于某一平均温度T0，但实际上热探测器在T0附近呈现一个小的起伏，这种温度起伏引起的热探测器输出起伏称为温度噪声。 2）度量理论推导，热探测器由于温度起伏引起的温度噪声功率为：
WT2 4GkT 2 f
• 热噪声属于白噪声频谱
4. 1/f 噪声 1）产生原因
1/f 噪声又称为闪烁或低频噪声。这种噪声是由于光敏层的微粒不均匀或不必要的微量杂质的存在，当电流流过时在微粒间发生微火花放电而引起的微电爆脉冲。几乎在所有探测器中都存在这种噪声。它主要出现在大约 1KHz以下的低频频域，而且与光辐射的调制频率f成反比，故称为低频噪声或1/f 噪声。实验发现，探测器表面的工艺状态(缺陷或不均匀等)对这种噪声的影响很大，所以有时也称为表面噪声或过剩噪声。一般说，只要限制低频端的调制频率不低于1千赫兹，这种噪声就可以防止。
2）度量 • 除了考虑载流子由于吸收光受到激发产生的载流子数的随机起伏外，还要考虑到载流子在运动过程中复合的随机性。经理论推导g—r噪声的表达式为：
2 ing r 4e I Mf

光电探测器的噪声特性分析

光电探测器的噪声特性分析哎呀，说起光电探测器的噪声特性，这可真是个有趣又有点复杂的话题。

咱们先来讲讲什么是光电探测器哈。

简单说，它就像是我们的眼睛，能“看到”光并且把光的信息转化成电信号。

但是呢，这“眼睛”可不完美，它会受到各种噪声的干扰。

比如说，有一种噪声叫热噪声。

这就好像在一个热闹的集市里，人来人往，吵吵闹闹。

热噪声就是由于电子的无规则热运动产生的，它跟温度有关系。

温度越高，这“吵闹声”就越大。

还有散粒噪声，这玩意儿就像是一群调皮的小孩子，一会儿蹦跶这儿，一会儿蹦跶那儿，毫无规律。

它是由电子的离散性造成的，电流越大，这“调皮劲”就越明显。

我给您讲个事儿啊。

有一次，我在实验室里研究光电探测器。

我把各种参数都调整得自认为很完美了，满心期待能得到理想的结果。

可结果出来的时候，我傻眼了，数据乱得一塌糊涂。

我当时就纳闷了，这是咋回事呢？后来经过仔细排查，发现就是这些噪声在捣乱。

我这才深刻体会到，要想真正搞清楚光电探测器的噪声特性，还真不是一件容易的事儿。

那怎么来分析这些噪声特性呢？这就得从它们的产生机制、频率特性、幅度分布这些方面入手。

比如说，通过测量不同温度下的噪声，就能了解热噪声是怎么随温度变化的。

在实际应用中，了解光电探测器的噪声特性可太重要了。

比如说在通信领域，如果噪声太大，那信号就可能被淹没，咱们打电话、上网就会变得断断续续，甚至根本没法用。

在天文观测中，要是噪声太大，那些微弱的天体信号可能就被掩盖了，咱们就没法发现新的天体。

总之，光电探测器的噪声特性就像是一个隐藏在幕后的小捣蛋鬼，时不时地出来给我们找麻烦。

但只要我们用心去研究它，了解它，就能想办法把它的影响降到最低，让光电探测器更好地为我们服务。

所以啊，朋友们，别小看这小小的光电探测器的噪声特性，这里面的学问可大着呢！咱们可得好好琢磨琢磨，才能让它乖乖听话，为咱们的科技发展贡献力量。

4.3 光电探测器的噪声417

Байду номын сангаас
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二、噪声的描述特征：噪声的自相关函数 g (τ ) 特征：
（1）与时间差τ有关，与时间起点t无关与时间差τ有关，与时间起点t 的增加逐渐衰减，（2）随τ的增加逐渐衰减，表示在时间）的增加逐渐衰减上相关性逐渐减少。上相关性逐渐减少。特别是对零均值噪可以证明当τ→∞时， g (τ ) →0 声，可以证明当时（3）自相关函数是偶函数： g (τ ) = g (−τ ) ）自相关函数是偶函数：表示噪声电压平方的平均值，的平均值，它有明确的物理意义物理意义：确的物理意义：噪声电压消耗在1Ω 1Ω电声电压消耗在1Ω电阻上的平均功率
T
−T
un (t +τ )un (t)dt (1 )
上式是对噪声电压进行卷积运算并求时间平均值。上式是对噪声电压进行卷积运算并求时间平均值。显然满足绝对可积条件，因而它的变换谱存在，显然满足绝对可积条件，因而它的变换谱存在，即
g(ω) = ∫
+ ∞ −∞
g( )e− jωτ dτ τ
+∞ −∞
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二、噪声的描述自相关函数自相关函数指一个随机过程在不同时刻t 自相关函数指一个随机过程在不同时刻t1及t2取值的相关性。的相关性。定义为 g xx (t1 , t2 ) = E[ xn (t1 ) xn (t2 )] 对一个随机过程，由于统计特征量与时间起点无对一个随机过程，由于统计特征量与时间起点无关，可令 t1=t，t2=t+τ，则平稳随机过程的噪声自相，，关函数为: 关函数为

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第一章
光电检测应用基础
• 噪声在实际的光电探测系统中是极其有害的。
• 由于噪声总是与有用信号混在一起，因而影响对信号特别是微弱信号的正确探测。
• 一个光电探测系统的极限探测能力往往受探测系统的噪声所限制。 • 所以在精密测量、通信、自动控制等领域，减
小和消除噪声是十分重要的问题。
第一章
pn结： 1. pp (NA) ＞＞pn ，nn (ND) ＞＞np； 2. p区和n区多子分别向对方扩散；
3. 界面p区侧留下固定离化受主负电荷， n区侧留下固定的离化施主正电荷；该正负电荷称为空间电荷，存在正负空间电荷的区域称为空间电荷区。 4.正--负电荷间产生电场，该电场称为空间电荷区自建电场；
（3）
说明：光强越大，逸出的电子数越多。
第一章
光电检测应用基础
2)物质的逸出功和红限频率
（4）
说明：存在一个红限频率或长波限。 3)半导体材料的阈值波长对于半导体材料，能够有效吸收光子的电子大多处于价带顶附近，
所以光电子发射的逸出功为：
Eg为半导体的禁带宽度,EA为电子亲合势。所以半导体材料的光电发射能量阈值为：
S(f)为调制频率为f 时的响应率;S0为调制频率为零时的响应率, 为时间常数（等于RC）
（22）时间常数决定了光电探测器频率响应的带宽
第一章
光电检测应用基础
(7)线性
〃线性度：它是描述光电探测器输出信号与输入信号保持线性关系的程度. 〃在某一范围内探测器的响应度若为常数，称这个范围为线性区非线性误差：
光电导效应
PN 结光伏效应
光电发射
热散产 1/f 温响光等比噪粒生噪度应谱效探声噪复声噪率响噪测声合声应声率噪功声率
第一章
光电检测应用基础
一、光电效应
• 光照射到物体表面上使物体发射电子、或导电率发生变化、或产生光电动势等，这种因光照而引起物体电学特性发生改变统称为光电效应 • 光电效应包括外光电效应和内光电效应，内光电效应又分为光电导效应和光生伏特效应 1、光电导效应
光电检测应用基础
(1)响应率（或响应度或称灵敏度）
是光电探测器输出信号与输入光通量(光功率)之间关系的度量。描述的是光电探测器件的光电转换效率。 --响应度是随入射光波长变化而变化的
--响应度分电压响应率和电流响应率
•பைடு நூலகம்电压响应率：光电探测器件输出电压与入射光通量(光功率)之比。
（14）
·电流响应率：光电探测器件输出电流与入射光通量(光功率)之比。
光电检测应用基础
（2）光电探测器常见的噪声
• • • • 热噪声散粒噪声产生-复合噪声 1/f噪声
第一章
光电检测应用基础
（1）热噪声
导体和半导体
温度
无规则热运动
碰撞
无规则热运动
宏观表现为电流或电压
①产生原因：载流子的无规则热运动这种由载流子的热运动引起的电流起伏或电压起 ②热噪声：伏称为热噪声。
探测器本身是阻抗元件，有电阻R和电容C
第一章
光电检测应用基础
定义：光电探测器的响应随入射光的调制频率而变化的特性称为频率响应。
(6)频率响应
由于光电探测器信号产生和消失存在着一个滞后过程，所以入射光的调制频率对光电探测器的响应会有较大的影响。〃光电探测器响应率与入射调制频率的关系：
（21）
（15）
第一章
光电检测应用基础
（2）光谱响应率(或光谱响应度)
光谱响应度：探测器在波长为λ的单色光照射下，输出电压或电流与入射的单色光通量（光功率）之比。
（16）
第一章
光电检测应用基础
（3）等效噪声功率(NEP) 定义：信号功率与噪声功率比为1（SNR=1）时，入射到探测器件上的辐射通量(单位为瓦)。这时，投射到探测器上的辐射功率所产生的输出电压（或电流）等于探测器本身的噪声电压（或电流）。（17）其中：为信噪比
第一章
光电检测应用基础
第一章光电检测应用基础
辐射度学和光度学基本概念郎伯余弦定律黑体辐射定律半导体基础知识
光电效应光电探测器的噪声和特性√
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第一章
光电检测应用基础
第 4 节光电效应光电探测器的噪声和特性
光电效应
光电探测器的噪声和特性
光电探测器噪声光电探测器特性时线间性常数
热噪声电流和电压的均方值为：（10）
热噪声存在于任何电阻中，热噪声与温度成正比，与频率无关，热噪声又称为白噪声
第一章
光电检测应用基础
（2）散粒噪声 • 散粒噪声：入射到光探测器表面的光子是随机的，光电子从光电阴极表面逸出是随机的， PN结中通过结区的载流子数也是随机的。 • 散粒噪声也是白噪声，与频率无关。 • 散粒噪声是光电探测器的固有特性，对大多数光电探测器的研究表明：散粒噪声具有支配地位。 • 例如光伏器件的PN结势垒是产生散粒噪声的主要原因。散粒噪声电流表达式：（11）
温度噪声电流均方值表达为：
（13）
第一章
光电检测应用基础
光电探测器噪声功率谱
工作区
第一章
光电检测应用基础
3、光电探测器的特性参数 • • • • • • 响应率(或响应度或灵敏度) 光谱响应率(或光谱响应度) 等效噪声功率(NEP) 探测率与比探测率(归一化探测率) 时间常数线性
第一章
（2）光生伏特效应
光生伏特效应：光照在半导体PN结或金属—半导体接触上时，会在PN结或金属—半导体接触的两侧产生光生电动势。
PN结的光生伏特效应：当用适当波长的光照射 PN结时，由于内建场的作用（不加外电场），光生电子拉向n区，光生空穴拉向p区，相当于 PN结上加一个正电压。半导体内部产生电动势（光生电压）；如将PN结短路，则会出现电流（光生电流）。
第一章
光电检测应用基础
（3）产生-复合噪声 • 半导体受光照，载流子不断产生-复合。 • 在平衡状态时，在载流子产生和复合的平均数是一定的 • 但在某一瞬间载流子的产生数和复合数是有起伏的。 • 载流子浓度的起伏引起半导体电导率的起伏。产生-复合电流均方值：（11）
第一章
光电检测应用基础
5.自建电场使空间电荷区内的电子和空穴产生与其扩散运动方向相反的漂移运动； 6. 随扩散运动的进行，空间电荷区正、负电荷量逐渐增加，空间电荷区逐渐变宽，自建电场也随之逐渐增强，同时电子和空穴的漂移运动也不断加强;
第一章
光电检测应用基础
7.电子和空穴各自的扩散（扩散流）与漂移（漂移流）相抵消时，正、负空间电荷量、正、负空间电荷区宽度、自建电场、空间电荷区内电子和空穴分布达到动态平衡，形成稳定分布。 8. 电中性决定了空间电荷区内正、负空间电荷量相等。
（5）（6）
所以长波限：
（7）
第一章
光电检测应用基础
二、光电探测器的噪声和特性
• 光电检测器件是利用物质的光电效应把光信号转换成电信号的器件. • 光电检测器件分为两大类: –光子(光电子)检测器件 –热电检测器件
第一章
光电检测应用基础
光电检测器件
光子器件
真空器件
光电管
热电器件
固体器件
第一章
光电检测应用基础
3、光电发射（外光电效应）
1)光电发射定律在光照的作用下，物体内的电子逸出物体表面向外发射的现象称为外光电效应。光子的能量：发生外光电效应时光子的能量hv与逸出功A以及逸出电子动能满足能量守恒原理:
（1）
（2）
(2)则为爱因斯坦光电效应方程或光电发射第一定律。表明：光子的动能与入射光的频率成线性关系。当一束光（多个光子）入射时，光电流与入射光通量满足：
光敏电阻光电池光电二极管光电三极管光纤传感器电荷耦合器件 CCD 热电偶/热电堆热辐射计/热敏电阻热释电探测器
光电倍增管
真空摄像管变像管
像增强管
第一章
光电检测应用基础
1、噪声特性 • 在一定波长的光照下光电探测器输出的电信号并不是平直的，而是在平均值上下随机地起伏，它实质上就是物理量围绕其平均值的涨落现象。（8） • 用均方噪声来表示噪声值大小：（9）
（4）1/f噪声 1/f噪声：这种噪声的功率谱近似的与频率成反比，故称为1/f噪声，或称闪烁噪声或低频噪声。噪声电流均方值近似表达为：（12）噪声的功率近似与频率成反比 • 多数器件的1/f噪声在200~300Hz以上已衰减到可忽略不计。
第一章
光电检测应用基础
（5）温度噪声
温度噪声：由器件本身的温度变化引起的噪声称为温度噪声。
δ
＝
Δmax / ( I2 – I1)
Δmax：实际响应曲线与拟合曲线之间的最大偏； I2 和 I1：分别为线性区中最小和最大响应值。
第一章
光电检测应用基础
4、实际应用时如何选择（1）动态范围（2）光谱匹配（3）NEP和SNR （4）响应时间和响应频率（5）线性度
第一章
光电检测应用基础
（19） D*越大，灵敏度越高； D*与探测器的敏感面积、放大器的带宽无关；
第一章
光电检测应用基础
（5）时间常数响应时间τ是描述光电探测器对入射光响应快慢的
一个参数。定义：当探测器的输出上升达到稳态值的63%所需的时间或下降达到稳态值的37%所需的时间称为时间常数。
（20）：上限截止频率,定义为幅频特性下降到最大值 0.707(3dB) 时的调制频率，也称为探测器的上限频率。